CN114878364A - 一种微纳米光学薄膜研发用承压曲张检测设备 - Google Patents
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Abstract
本发明公开了薄膜生产检测设备技术领域的一种微纳米光学薄膜研发用承压曲张检测设备，包括底座和检测头，所述底座上固定连接有支撑柱，所述支撑柱上通过固定杆固定连接有检测板，所述检测板上设置有用于推动检测头的助推机构，所述检测板的正下方设置有检测台，所述检测台上设置有定位机构；所述助推机构包括设置于检测板中部的轨道槽，所述轨道槽内滑动配合有推块，所述轨道槽沿检测板的长度方向延伸。本发明通过设置助推机构，实现对检测头的推动和加速，避免震动影响检测结果，通过设置定位机构，将微纳米光学薄膜压紧定位，防止其在检测过程中偏移滑动，通过设置碰撞传感器，便于工作人员直观、快速且准确的得知冲击力度数据。
Description
技术领域
本发明涉及薄膜生产检测设备技术领域，具体为一种微纳米光学薄膜研发用承压曲张检测设备。
背景技术
微纳米光学薄膜在经济建设和发展中得到了广泛的应用，获得了科学技术工作者的日益重视，光学薄膜按应用分为反射膜、增透膜、滤光膜、光学保护膜、偏振膜、分光膜和位相膜，光学反射膜用以增加镜面反射率，常用来制造反光、折光和共振腔器件，光学增透膜沉积在光学元件表面，用以减少表面反射，增加光学系统透射，又称减反射膜。
经检索，国家专利公开号为CN113049412A公开了微纳光学薄膜研发用膜体承重曲张检测装置的实施方法，包括支撑固定机构、高压吹出机构和落块冲击机构，高压吹出机构固定安装在支撑固定机构上，且落块冲击机构活动安装在高压吹出机构上，通过高压气流将安装在连接管头上的落块冲击机构吹出，并冲击在薄膜上，完成对薄膜的冲击，无需将落块冲击机构置于特定的高度上。
然而上述方案中依然存在不足，不足之处如下：
1、该方案通过高压气泵产生高压气流，吹动落块冲击机构下落，实现对微纳米光学薄膜的承压曲张检测，然而高压气泵在工作过程中会产生较大震动，从而容易引起落块冲击机构发生震动，震动会对检测造成影响，导致检测结果不准确；
2、该方案通过调节高压气泵的输出气压，改变落块冲击机构的冲击力度，然而高压气泵的调节操作较为麻烦，降低了检测效率；
3、该方案虽然可以通过高压气泵的输出气压判断落块冲击机构的冲击力度，然而这种方式并不能直观的、快速且精确的掌握冲击力度数据，在进行多次冲击检测时，数据的记录十分不便。
发明内容
本发明的目的在于提供一种微纳米光学薄膜研发用承压曲张检测设备，以解决上述背景技术中提出的容易产生震动影响检测结果、检测效率较低和冲击力度判断不直观精确的问题。
为实现上述目的，本发明提供如下技术方案：一种微纳米光学薄膜研发用承压曲张检测设备，包括底座和检测头，所述底座上固定连接有支撑柱，所述支撑柱上通过固定杆固定连接有检测板，所述检测板上设置有用于推动检测头的助推机构，所述检测板的正下方设置有检测台，所述检测台上设置有定位机构；
所述助推机构包括设置于检测板中部的轨道槽，所述轨道槽内滑动配合有推块，所述轨道槽沿检测板的长度方向延伸，所述轨道槽的两侧均设置有侧板，所述侧板采用C字形结构，两块所述侧板固定连接于检测板上，两块所述侧板上均滑动连接有滑块，两块所述侧板上均转动连接有丝杆，所述丝杆沿侧板的长度方向延伸，所述丝杆上贯穿滑块并与滑块之间螺纹配合，两个所述滑块分别通过第一弹簧与推块弹性连接，所述推块的底部采用磁性材料制成，所述检测头上端固定连接有永磁块，所述永磁块与推块之间异极相对。
优选的，所述定位机构包括设置于检测台上方的定位环，所述定位环的周侧壁上均布有四个安装块，所述安装块的下端固定连接有导向杆，所述导向杆贯穿并滑动连接于检测台上，所述导向杆的下端固定连接有固定板，所述导向杆上套设有第二弹簧，所述第二弹簧的两端分别与固定板和检测台连接。
优选的，所述定位环采用磁性材料制成，所述检测台上表面嵌设有与定位环共轴的环形电磁铁，所述环形电磁铁与定位环之间异极相对，所述检测板上设置有用于为环形电磁铁供电的电磁感应机构。
优选的，所述电磁感应机构包括多组导电线圈和蓄电池，多组所述导电线圈均匀嵌设于轨道槽的侧壁内，并且所述导电线圈的绕置方向沿轨道槽的长度方向延伸，所述蓄电池安装于检测板的侧壁上，所述导电线圈与蓄电池耦合连接，所述蓄电池与环形电磁铁电性连接。
优选的，所述丝杆的上端贯穿侧板并固定连接有手柄。
优选的，所述检测头的底部设置有滑槽，所述滑槽内滑动配合有滑动杆，所述滑槽的内顶面安装有碰撞传感器，所述滑动杆的下端固定连接有测压头。
优选的，所述滑槽两侧的侧壁上设置有凹槽，所述凹槽内设置有定位块，所述滑动杆的侧壁上设置有与定位块匹配的定位槽，所述定位块的一端固定连接有连接杆，所述连接杆远离定位块的一端延伸至检测头外并固定连接有翼板，所述翼板远离连接杆的一面为凸起的弧面，另一面为平面。
优选的，所述检测头内开设有通孔，所述连接杆滑动设置于通孔内。
与现有技术相比，本发明的有益效果是：
(1)本发明通过设置助推机构，可通过第一弹簧拉动推块在轨道槽内快速移动，实现对检测头的推动和加速，无需将检测头置于一定高度的位置上，相较于现有技术，避免高压气泵工作时产生的震动影响检测，导致检测结果不准确的问题发生；
并且，可通过转动丝杆调节滑块的位置，即改变第一弹簧的拉伸蓄力程度，实现对检测头的冲击力度的改变，调节快捷方便，有利于工作效率的提高。
(2)本发明通过设置定位机构，以检测头在轨道槽内的滑动为驱动力，对环形电磁铁充电，通过磁吸作用，将定位环向下吸引，并将微纳米光学薄膜压紧定位，防止其在检测过程中偏移滑动，影响检测结果的准确性，无需工作人员手动控制固定，降低检测工作时的劳动强度。
(3)本发明通过设置碰撞传感器、测压头和滑动杆，检测过程中，测压头与微纳米光学薄膜表面碰撞接触后，推挤滑动杆向滑槽内滑动，滑动杆上端与碰撞传感器接触碰撞，碰撞传感器即可检测出冲击力度，便于工作人员直观、快速且准确的得知冲击力度数据；
并且，通过设置定位块和翼板，初始时，定位块卡设于定位槽内，使得滑动杆无法在滑槽内滑动，避免碰撞传感器被误触，影响检测结果，当检测头快速向下滑动时，根据伯努利原理，翼板在气流影响下，可将定位块拉出定位槽外，则滑动杆可在滑槽内自由移动，进而可通过碰撞传感器对冲击力度进行检测。
附图说明
为了更清楚地说明本发明实施例的技术方案，下面将对实施例描述所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
图1为本发明微纳米光学薄膜研发用承压曲张检测设备的结构示意图；
图2为图1中A处放大图；
图3为本发明微纳米光学薄膜研发用承压曲张检测设备中检测板的侧面结构示意图；
图4为本发明微纳米光学薄膜研发用承压曲张检测设备中检测头的内部结构示意图。
附图中，各标号所代表的部件列表如下：
1、底座；2、检测头；3、支撑柱；4、固定杆；5、检测板；6、检测台；7、轨道槽；8、推块；9、侧板；10、滑块；11、丝杆；12、第一弹簧；13、永磁块；14、定位环；15、安装块；16、导向杆；17、固定板；18、第二弹簧；19、环形电磁铁；20、导电线圈；21、蓄电池；22、手柄；23、滑槽；24、碰撞传感器；25、滑动杆；26、测压头；27、定位块；28、定位槽；29、连接杆；30翼板；31、第三弹簧。
具体实施方式
为了能够更清楚地理解本发明的上述目的、特征和优点，下面结合附图和实施例对本发明做进一步说明。需要说明的是，在不冲突的情况下，本申请的实施例及实施例中的特征可以相互组合。
在下面的描述中阐述了很多具体细节以便于充分理解本发明，但是，本发明还可以采用不同于在此描述的其他方式来实施，因此，本发明并不限于下面公开说明书的具体实施例的限制。
请参阅图1-4，一种微纳米光学薄膜研发用承压曲张检测设备，包括底座1和检测头2，底座1上固定连接有支撑柱3，支撑柱3上通过固定杆4固定连接有检测板5，检测板5上设置有用于推动检测头2的助推机构，检测板5的正下方设置有检测台6，检测台6上设置有定位机构；
进一步的，助推机构包括设置于检测板5中部的轨道槽7，轨道槽7内滑动配合有推块8，轨道槽7沿检测板5的长度方向延伸，轨道槽7的两侧均设置有侧板9，侧板9采用C字形结构，两块侧板9固定连接于检测板5上，两块侧板9上均滑动连接有滑块10，两块侧板9上均转动连接有丝杆11，丝杆11的上端贯穿侧板9并固定连接有手柄22，丝杆11沿侧板9的长度方向延伸，丝杆11上贯穿滑块10并与滑块10之间螺纹配合，两个滑块分别通过第一弹簧12与推块8弹性连接，推块8的底部采用磁性材料制成，检测头2上端固定连接有永磁块13，永磁块13与推块8之间异极相对，永磁块13与推块8之间的磁吸力大于检测头2自身重力。
进一步的，定位机构包括设置于检测台6上方的定位环14，定位环14的周侧壁上均布有四个安装块15，安装块15的下端固定连接有导向杆16，导向杆16贯穿并滑动连接于检测台6上，导向杆16的下端固定连接有固定板17，导向杆16上套设有第二弹簧18，第二弹簧18的两端分别与固定板17和检测台6连接。
进一步的，定位环14采用磁性材料制成，检测台6上表面嵌设有与定位环14共轴的环形电磁铁19，环形电磁铁19与定位环14之间异极相对，检测板5上设置有用于为环形电磁铁19供电的电磁感应机构。
进一步的，电磁感应机构包括多组导电线圈20和蓄电池21，多组导电线圈20均匀嵌设于轨道槽7的侧壁内，并且导电线圈20的绕置方向沿轨道槽7的长度方向延伸，蓄电池21安装于检测板5的侧壁上，导电线圈20与蓄电池21耦合连接，蓄电池21与环形电磁铁19电性连接。
进一步的，检测头2的底部设置有滑槽23，滑槽23内滑动配合有滑动杆25，滑槽23的内顶面安装有碰撞传感器24，滑动杆25的下端固定连接有测压头26。
进一步的，滑槽23两侧的侧壁上设置有凹槽，凹槽内设置有定位块27，滑动杆25的侧壁上设置有与定位块27匹配的定位槽28，定位块27的一端固定连接有连接杆29，连接杆29远离定位块27的一端延伸至检测头2外并固定连接有翼板30，翼板30远离连接杆29的一面为凸起的弧面，另一面为平面，翼板30通过第三弹簧31与检测头2的侧壁连接。
进一步的，检测头2内开设有通孔，连接杆29滑动设置于通孔内。
本发明使用时，将待检测的微纳米光学薄膜放置于检测台上，然后将检测头2置于推块8下方，通过永磁块13与推块8之间的磁力，使得检测头2贴附于推块8的底部，然后沿轨道槽7向上拉动推块8至极限位置，转动手柄22带动丝杆11转动，由于丝杆11与滑块10之间螺纹配合，则可带动滑块10沿侧板9滑动，进而改变第一弹簧12的拉伸蓄力程度，实现对检测头2的冲击力度的改变，调节快捷方便，有利于工作效率的提高，调节完成后，松开推块8，通过第一弹簧12快速收缩复位，拉动推块8在轨道槽7上快速移动，并对下方微纳米光学薄膜进行撞击检测，实现对检测头向下的推动和加速，无需将检测头2置于一定高度的位置上，相较于现有技术，避免高压气泵工作时产生的震动影响检测，导致检测结果不准确的问题发生。
检测头2在轨道槽7上快速滑动时，导电线圈20持续切割永磁块13的磁感线产生感应电流，为蓄电池21充电，蓄电池21为环形电磁铁19供电，由于环形电磁铁19与定位环14之间异极相对，通过磁吸作用，将定位环14向下吸引，并将微纳米光学薄膜压紧定位于检测台6上，防止其在检测过程中偏移滑动，影响检测结果的准确性，无需工作人员手动控制固定，降低检测工作时的劳动强度。
测压头26与微纳米光学薄膜表面碰撞接触后，推挤滑动杆25向滑槽23内滑动，滑动杆25上端与碰撞传感器24接触碰撞，碰撞传感器24即可检测出冲击力度，便于工作人员直观、快速且准确的得知冲击力度数据；
需要说明的是，检测头2未开始滑动时，定位块27卡设于定位槽28内，使得滑动杆25无法在滑槽23内滑动，避免因惯性作用导致碰撞传感器24被误触，影响检测结果，当检测头2快速向下滑动过程中，根据伯努利原理，等高流动，流速越快，压力越小，则翼板30的凸起面流速较快，压力较小，气压带动翼板30向远离检测头2的方向移动，则可将定位块27拉出定位槽28外，则滑动杆25可在滑槽23内自由移动，进而可通过碰撞传感器24对冲击力度进行检测。
在本说明书的描述中，参考术语“一个实施例”、“示例”、“具体示例”等的描述意指结合该实施例或示例描述的具体特征、结构、材料或者特点包含于本发明的至少一个实施例或示例中。在本说明书中，对上述术语的示意性表述不一定指的是相同的实施例或示例。而且，描述的具体特征、结构、材料或者特点可以在任何的一个或多个实施例或示例中以合适的方式结合。
以上公开的本发明优选实施例只是用于帮助阐述本发明。优选实施例并没有详尽叙述所有的细节，也不限制该发明仅为所述的具体实施方式。显然，根据本说明书的内容，可作很多的修改和变化。本说明书选取并具体描述这些实施例，是为了更好地解释本发明的原理和实际应用，从而使所属技术领域技术人员能很好地理解和利用本发明。本发明仅受权利要求书及其全部范围和等效物的限制。
Claims (8)
1.一种微纳米光学薄膜研发用承压曲张检测设备，包括底座(1)和检测头(2)，其特征在于，所述底座(1)上固定连接有支撑柱(3)，所述支撑柱(3)上通过固定杆(4)固定连接有检测板(5)，所述检测板(5)上设置有用于推动检测头(2)的助推机构，所述检测板(5)的正下方设置有检测台(6)，所述检测台(6)上设置有定位机构；
所述助推机构包括设置于检测板(5)中部的轨道槽(7)，所述轨道槽(7)内滑动配合有推块(8)，所述轨道槽(7)沿检测板(5)的长度方向延伸，所述轨道槽(7)的两侧均设置有侧板(9)，所述侧板(9)采用C字形结构，两块所述侧板(9)固定连接于检测板(5)上，两块所述侧板(9)上均滑动连接有滑块(10)，两块所述侧板(9)上均转动连接有丝杆(11)，所述丝杆(11)沿侧板(9)的长度方向延伸，所述丝杆(11)上贯穿滑块(10)并与滑块(10)之间螺纹配合，两个所述滑块分别通过第一弹簧(12)与推块(8)弹性连接，所述推块(8)的底部采用磁性材料制成，所述检测头(2)上端固定连接有永磁块(13)，所述永磁块(13)与推块(8)之间异极相对。
2.根据权利要求1所述的一种微纳米光学薄膜研发用承压曲张检测设备，其特征在于：所述定位机构包括设置于检测台(6)上方的定位环(14)，所述定位环(14)的周侧壁上均布有四个安装块(15)，所述安装块(15)的下端固定连接有导向杆(16)，所述导向杆(16)贯穿并滑动连接于检测台(6)上，所述导向杆(16)的下端固定连接有固定板(17)，所述导向杆(16)上套设有第二弹簧(18)，所述第二弹簧(18)的两端分别与固定板(17)和检测台(6)连接。
3.根据权利要求2所述的一种微纳米光学薄膜研发用承压曲张检测设备，其特征在于：所述定位环(14)采用磁性材料制成，所述检测台(6)上表面嵌设有与定位环(14)共轴的环形电磁铁(19)，所述环形电磁铁(19)与定位环(14)之间异极相对，所述检测板(5)上设置有用于为环形电磁铁(19)供电的电磁感应机构。
4.根据权利要求3所述的一种微纳米光学薄膜研发用承压曲张检测设备，其特征在于：所述电磁感应机构包括多组导电线圈(20)和蓄电池(21)，多组所述导电线圈(20)均匀嵌设于轨道槽(7)的侧壁内，并且所述导电线圈(20)的绕置方向沿轨道槽(7)的长度方向延伸，所述蓄电池(21)安装于检测板(5)的侧壁上，所述导电线圈(20)与蓄电池(21)耦合连接，所述蓄电池(21)与环形电磁铁(19)电性连接。
5.根据权利要求1所述的一种微纳米光学薄膜研发用承压曲张检测设备，其特征在于：所述丝杆(11)的上端贯穿侧板(9)并固定连接有手柄(22)。
6.根据权利要求1所述的一种微纳米光学薄膜研发用承压曲张检测设备，其特征在于：所述检测头(2)的底部设置有滑槽(23)，所述滑槽(23)内滑动配合有滑动杆(25)，所述滑槽(23)的内顶面安装有碰撞传感器(24)，所述滑动杆(25)的下端固定连接有测压头(26)。
7.根据权利要求6所述的一种微纳米光学薄膜研发用承压曲张检测设备，其特征在于：所述滑槽(23)两侧的侧壁上设置有凹槽，所述凹槽内设置有定位块(27)，所述滑动杆(25)的侧壁上设置有与定位块(27)匹配的定位槽(28)，所述定位块(27)的一端固定连接有连接杆(29)，所述连接杆(29)远离定位块(27)的一端延伸至检测头(2)外并固定连接有翼板(30)，所述翼板(30)远离连接杆(29)的一面为凸起的弧面，另一面为平面，所述翼板(30)通过第三弹簧(31)与检测头(2)的侧壁连接。
8.根据权利要求7所述的一种微纳米光学薄膜研发用承压曲张检测设备，其特征在于：所述检测头(2)内开设有通孔，所述连接杆(29)滑动设置于通孔内。
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| CN114878364A true CN114878364A (zh) | 2022-08-09 |
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ID=82669885
Family Applications (1)
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-
2022
- 2022-04-11 CN CN202210371633.8A patent/CN114878364A/zh active Pending
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