CN114858414A - 屏幕缺陷检测方法、装置、测试台、计算机设备 - Google Patents

屏幕缺陷检测方法、装置、测试台、计算机设备 Download PDF

Info

Publication number
CN114858414A
CN114858414A CN202210415010.6A CN202210415010A CN114858414A CN 114858414 A CN114858414 A CN 114858414A CN 202210415010 A CN202210415010 A CN 202210415010A CN 114858414 A CN114858414 A CN 114858414A
Authority
CN
China
Prior art keywords
screen
tested
interface
defect detection
test
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
CN202210415010.6A
Other languages
English (en)
Inventor
白普亮
李�浩
张超
于方喜
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Suzhou HYC Technology Co Ltd
Original Assignee
Suzhou HYC Technology Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Suzhou HYC Technology Co Ltd filed Critical Suzhou HYC Technology Co Ltd
Priority to CN202210415010.6A priority Critical patent/CN114858414A/zh
Publication of CN114858414A publication Critical patent/CN114858414A/zh
Pending legal-status Critical Current

Links

Images

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01MTESTING STATIC OR DYNAMIC BALANCE OF MACHINES OR STRUCTURES; TESTING OF STRUCTURES OR APPARATUS, NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • G01M11/00Testing of optical apparatus; Testing structures by optical methods not otherwise provided for
    • G01M11/02Testing optical properties

Landscapes

  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Testing, Inspecting, Measuring Of Stereoscopic Televisions And Televisions (AREA)

Abstract

本公开涉及一种屏幕缺陷检测方法、装置、测试台、计算机设备。所述方法包括:读取待测屏幕的测试结果信息,根据所述测试结果信息确定是否需要进行缺陷检测;响应于需要进行缺陷检测,根据所述待测屏幕对应的载具的标识信息、设备序列号确定所述待测屏幕的对应接口、测试数据;切换至所述接口,通过所述接口将所述测试数据发送至所述待测屏幕,所述待测屏幕对应每个所述接口的通道相互独立,支持单独供电;根据所述测试数据对所述待测屏幕进行缺陷检测,输出缺陷检测结果。采用本方法能够测试多种产品、无需手动录入测试结果,提高测试效率。

Description

屏幕缺陷检测方法、装置、测试台、计算机设备
技术领域
本公开涉及工件测试技术领域,特别是涉及一种屏幕缺陷检测方法、装置、测试台、计算机设备。
背景技术
随着图像显示技术的发展,显示屏幕逐渐向大尺寸、高分辨率的方向发展。但屏幕的缺陷出现概率也随之增加,而对屏幕缺陷检测,已经成为一个重要的研究方向。
然而,目前对屏幕进行缺陷检测时,通常的测试机台仅仅支持单一的数据信息接口,并且只能够进行测试支持该数据信息接口的产品,且测试完成后需要测试人员手动录入测试结果,导致测试效率低下。
发明内容
基于此,有必要针对上述技术问题,提供一种能够测试多种产品、无需手动录入测试结果的屏幕缺陷检测方法、装置、测试台、计算机设备。
第一方面,本公开提供了一种屏幕缺陷检测方法。所述方法包括:
读取待测屏幕的测试结果信息,根据所述测试结果信息确定是否需要进行缺陷检测;
响应于需要进行缺陷检测,根据所述待测屏幕对应的载具的标识信息、设备序列号确定所述待测屏幕的对应接口、测试数据;
切换至所述接口,通过所述接口将所述测试数据发送至所述待测屏幕,所述待测屏幕对应每个所述接口的通道相互独立,支持单独供电;
根据所述测试数据对所述待测屏幕进行缺陷检测,输出缺陷检测结果。
在其中一个实施例中,所述读取待测屏幕的测试结果,之前包括:
连接所述待测屏幕,提供用于识别所述标识信息、设备序列号的电源。
在其中一个实施例中,所述根据所述标识信息、设备序列号确定所述待测屏幕的对应接口、测试数据,包括:
确定是否获取到所述标识信息、设备序列号;
响应于获取到所述标识信息、设备序列号,根据所述标识信息、设备序列号确定是否与所述待测屏幕匹配;
根据匹配结果确定所述待测屏幕的对应接口、测试数据,所述接口包括下述中的一项:显示接口、移动行业处理接口、低电压差分信号接口、RGB接口、数字视频接口;
响应于未获取到所述标识信息、设备序列号中任一项,输出错误信息。
在其中一个实施例中,所述根据匹配结果确定所述待测屏幕的对应接口、测试数据,包括:
响应于与所述待测屏幕不匹配,输出错误信息;
响应于与所述待测屏幕匹配,根据所述标识信息、设备序列号确定所述待测屏幕的对应接口、测试数据。
在其中一个实施例中,所述根据所述测试数据对所述待测屏幕进行缺陷检测,输出缺陷检测结果,包括:
通过所述待测屏幕读取所述测试数据,所述测试数据包括:待显示图片数据、刷新率数据、亮度数据、点屏初始化参数代码;
通过所述点屏初始化参数代码点亮所述待测屏幕,根据所述待测屏幕显示的待显示图片、刷新率、亮度,进行缺陷检测;
若检测到所述待测屏幕存在缺陷,则输出未通过检测结果,所述缺陷至少包括下述中的一项:闪屏、亮点、暗点、花屏;
若未检测到所述待测屏幕存在缺陷,则输出通过检测结果。
第二方面,本公开还提供了一种屏幕缺陷检测装置。所述装置包括:
读取模块,用于读取待测屏幕的测试结果信息,根据所述测试结果信息确定是否需要进行缺陷检测;
数据确定模块,用于响应于需要进行缺陷检测,根据所述待测屏幕对应的载具的标识信息、设备序列号确定所述待测屏幕的对应接口、测试数据;
数据发送模块,用于切换至所述接口,通过所述接口将所述测试数据发送至所述待测屏幕,所述待测屏幕对应每个所述接口的通道相互独立,支持单独供电;
缺陷检测模块,用于根据所述测试数据对所述待测屏幕进行缺陷检测,输出缺陷检测结果。
第三方面,本公开还提供了一种测试台,包括:
至少一个如上所述的屏幕缺陷检测装置、安装在所述屏幕缺陷检测装置上的电磁铁,以及,载具;
所述载具,用于承载待测屏幕;
所述电磁铁,用于在通电时吸附所述载具并压紧所述载具承载的所述待测屏幕,在断电时弹开所述载具。
第四方面,本公开还提供了一种计算机设备。所述计算机设备包括存储器和处理器,所述存储器存储有计算机程序,所述处理器执行所述计算机程序时实现上述方法的步骤。
第五方面,本公开还提供了一种计算机可读存储介质。所述计算机可读存储介质,其上存储有计算机程序,所述计算机程序被处理器执行时实现上述方法的步骤。
第六方面,本公开还提供了一种计算机程序产品。所述计算机程序产品,包括计算机程序,该计算机程序被处理器执行时实现上述方法的步骤。
各实施例中,通过读取测试结果信息能够确定该待测屏幕是否需要进行缺陷检测,防止重复测试。并且在需要进行缺陷测试后,根据标识信息和设备序列号确定待测屏幕对应的接口和测试数据。并且能够切换至对应的接口,而接口包括了多种类型,所以该方法能够测试不同类型的待测屏幕,测试多种产品。多个接口的通道之间互相不干扰,相互独立,不会在缺陷检测时不会产生影响。并且单独供电,灵活支持单一接口或多个不同的接口测试待测屏幕,提高了测试效率,方便后续功能集成,而对待测屏幕进行缺陷测试后,可以确定待测屏幕是否检测通过,进而输出对应的缺陷检测结果,能够准确的确定待测屏幕是否存在问题,以及该问题对应的原因。
附图说明
为了更清楚地说明本公开具体实施方式或现有技术中的技术方案,下面将对具体实施方式或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍,显而易见地,下面描述中的附图是本公开的一些实施方式,对于本领域普通技术人员来讲,在不付出创造性劳动的前提下,还可以根据这些附图获得其他的附图。
图1为一个实施例中屏幕缺陷检测方法的应用环境示意图;
图2为一个实施例中屏幕缺陷检测方法的流程示意图;
图3为一个实施例中S204步骤的流程示意图;
图4为一个实施例中S208步骤的流程示意图;
图5为另一个实施例中屏幕缺陷检测方法的流程示意图;
图6为一个实施例中屏幕缺陷检测装置的结构示意框图;
图7为一个实施例中测试台的结构示意图;
图8为一个实施例中电磁铁位置结构示意图;
图9为一个实施例中计算机设备的内部结构示意图。
具体实施方式
为了使本公开的目的、技术方案及优点更加清楚明白,以下结合附图及实施例,对本公开进行进一步详细说明。应当理解,此处描述的具体实施例仅仅用以解释本公开,并不用于限定本公开。
需要说明的是,本文的说明书和权利要求书及上述附图中的术语“第一”、“第二”等是用于区别类似的对象,而不必用于描述特定的顺序或先后次序。应该理解这样使用的数据在适当情况下可以互换,以便这里描述的本文的实施例能够以除了在这里图示或描述的那些以外的顺序实施。此外,术语“包括”和“具有”以及他们的任何变形,意图在于覆盖不排他的包含,例如,包含了一系列步骤或单元的过程、方法、装置、产品或设备不必限于清楚地列出的那些步骤或单元,而是可包括没有清楚地列出的或对于这些过程、方法、产品或设备固有的其它步骤或单元。
在本文中,术语“和/或”仅仅是一种描述关联对象的关联关系,表示可以存在三种关系。例如,A和/或B,可以表示:单独存在A,同时存在A和B,单独存在B这三种情况。另外,本文中字符“/”,一般表示前后关联对象是一种“或”的关系。
本公开实施例提供了一种屏幕缺陷检测方法,可以应用于如图1所示的应用环境中。其中,终端102通过网络与测试台104进行通信。数据存储系统可以存储屏幕缺陷检测时需要处理的数据。数据存储系统可以集成在测试台104上,也可以放在云上或其他网络服务器上。测试台104还可以和后端服务器进行通信。开始进行屏幕缺陷检测前,将待测屏幕通过载具安装在测试台104上。然后测试台104读取待测屏幕中在进行本次屏幕缺陷检测之前的测试结果信息。测试台104根据之前的测试信息确定是否需要进行缺陷检测。响应于需要进行缺陷检测。测试台104根据待测屏幕对应的载具的标识信息、待测屏幕的设备序列号确定待测屏幕的对应接口、测试数据。测试台104将与待测屏幕连接的用于显示的接口切换至确定后的对应接口。测试台104通过该切换后的接口将测试数据发送至待测屏幕中。测试台104根据测试数据对待测屏幕进行缺陷检测,输出缺陷检测结果至终端102或后端服务器中。终端102可以将测试台104测试时产生的数据发送至后端服务器。其中,终端102可以但不限于是各种个人计算机、笔记本电脑、智能手机、平板电脑等。后端服务器可以用独立的服务器或者是多个服务器组成的服务器集群来实现。需要说明的是,本方案也可单独通过测试台104进行实现。
在一个实施例中,如图2所示,提供了一种屏幕缺陷检测方法,以该方法应用于图1中的测试台104为例进行说明,包括以下步骤:
S202,读取待测屏幕的测试结果信息,根据所述测试结果信息确定是否需要进行缺陷检测。
其中,待测屏幕通常可以是需要进行屏幕缺陷的检测的屏幕。测试结果信息通常可以是待测屏幕的EEPROM(Electrically Erasable Programmable read only memory)中存储的信息。该EEPROM的指定的部分区域中可以存储测试结果信息。EEPROM通常指的是带电可擦可编程只读存储器,是一种掉电后数据不丢失的存储芯片,其可以安装在待测屏幕中。
具体地,一个屏幕从生产到合格出厂可能会存在多次不同类型的测试,每种类型的测试均要通过不同测试站点中的测试台进行测试。在经过每个测试台进行测试后,通常情况下会将对应的测试结果信息存储至EEPROM指定区域中。将测试台和待测屏幕连接。通过读取测试台上待测屏幕EEPROM指定区域中的测试结果信息。可以通过测试结果信息和客户的要求,判断是否需要进行屏幕缺陷检测。进一步的,每个测试站点都将与客户约定的测试结果信息对应的分类代号存储至EEPROM中。客户会告知哪种分类代码对应哪项测试,由此可知是否需要进行缺陷检测。若测试结果信息中存在缺陷检测对应的测试结果信息,则代表该待测屏幕之前已经进行过屏幕缺陷检测,则无需重复测试。若测试结果信息中未存在缺陷检测对应的测试结果信息,而客户要求该屏幕需要进行缺陷检测,则确定该待测屏幕需要进行缺陷检测。若测试结果信息中未存在缺陷检测对应的测试结果信息,而客户未要求进行缺陷检测,则该待测屏幕无需进行缺陷检测。还可以读取待测屏幕和测试台的固件版本信息以及测试台支持的待测屏幕类型信息。
S204,响应于需要进行缺陷检测,根据所述待测屏幕对应的载具的标识信息、设备序列号确定所述待测屏幕的对应接口、测试数据。
其中,设备序列号SN(serial number)通常可以指的是存储在待测屏幕中,是用于表示屏幕唯一性的数据。待测屏幕放置在载具上,根据待测屏幕的不同类型,相应的每个载具也不相同,对应的每个载具的标识信息也不相同。载具的标识信息和设备序列号通常情况下可以看做对应(映射)关系,可以通过载具的标识信息找到对应的支持的待测屏幕,进而确定待测屏幕的设备序列号,也可以通过设备序列号找到对应的标识信息。设备序列号一般为电子产品的全球唯一标识码,常用于防伪,最大的特点就是唯一。接口通常可以是待测屏幕的数据信息接口,能够通过数据信息接口传输数据至待测屏幕,待测屏幕根据数据执行对应的功能。相应的,待测屏幕的类型不同对应的数据信息接口也不同。测试数据可以是对待测屏幕进行缺陷检测时所涉及的数据。
具体地,若上述确定待测屏幕需要进行缺陷检测,则读取能够支持待测屏幕的载具的标识信息,读取待测屏幕的设备序列号,可以根据标识信息和设备序列号中任一项确定该待测屏幕支持哪种接口,以及测试该屏幕所需的测试数据,测试数据可以存储在后端服务器中,也可以存储在终端102中。
S206,切换至所述接口,通过所述接口将所述测试数据发送至所述待测屏幕。
具体地,上述确定该待测屏幕支持的数据信息接口后,可以控制测试台中的显示接口切换硬件,通过该显示接口切换硬件将待测屏幕的接口切换到对应的接口。然后可以通过该接口将测试数据发送至待测屏幕。在存在多个待测屏幕进行测试时,可以支持多种不同的数据信息接口,数据信息接口可以包括:显示接口、移动行业处理接口、低电压差分信号接口、RGB接口、数字视频接口等等。
在一些示例性的实施方式中,显示接口切换硬件可以连接多种接口,确定待测屏幕的接口后,将指令输入至显示接口切换硬件,进而通过显示接口切换硬件将对应的接口进行导通,可以实现切换接口的作用。
S208,根据所述测试数据对所述待测屏幕进行缺陷检测,输出缺陷检测结果。
其中,缺陷检测通常是检测屏幕是否存在闪屏、亮点、花屏等缺陷的方法。缺陷结果通常可以包括待测屏幕通过测试或者待测屏幕未通过测试。
具体地,根据测试数据点亮待测屏幕,并使待测屏幕中显示测试数据,然后对待测屏幕进行缺陷检测。若检测通过,则输出待测屏幕通过测试。若未通过检测,则确定对应的待测屏幕出现的缺陷,输出该缺陷对应的错误代码。通常情况下,一种缺陷对应一种错误代码。
在一些示例性的实施方式中,可以通过终端102转发数据至后端服务器。转发的数据包括待测屏幕的测试结果通过或未通过,测试未通过对应的代码、设备序列号,标识信息,待测屏幕的测试开始时间,待测屏幕的测试时花费的时间,测试台的ID信息等。终端102还可以和测试台104进行通信,按照后端服务器需要的数据格式,实时的将上述数据发送给后端服务器,以便客户追踪回溯测试的产品以及对应的测试结果。终端102还可以更新测试台104中的固件以及测试需要的测试数据等信息。终端102还可以设置手动调试指令,调试测试台,抓取测试台104测试过程中的测试日志等。
上述屏幕缺陷检测方法中,通过读取测试结果信息能够确定该待测屏幕是否需要进行缺陷检测,防止重复测试。并且在需要进行缺陷测试后,根据标识信息和设备序列号确定待测屏幕对应的接口和测试数据。并且能够切换至对应的接口,而接口包括了多种类型,所以该方法能够测试不同类型的待测屏幕,测试多种产品。多个接口的通道之间互相不干扰,相互独立,不会在缺陷检测时不会产生影响。并且单独供电,灵活支持单一接口或多个不同的接口测试待测屏幕,提高了测试效率,方便后续功能集成,而对待测屏幕进行缺陷测试后,可以确定待测屏幕是否检测通过,进而输出对应的缺陷检测结果,能够准确的确定待测屏幕是否存在问题,以及该问题对应的原因。
在一个实施例中,读取待测屏幕的测试结果,之前包括:
连接所述待测屏幕,提供用于识别所述标识信息、设备序列号的电源。
具体地,连接待测屏幕,仅仅提供部分电压,该部分电压支持识别和读取标识信息和设备序列号即可。若仅仅提供了识别所述标识信息、设备序列号的电压,但是并未识别到标识信息和/或设备序列号,那么无需进行后续操作,直接可以确定该待测屏幕存在问题,节省测试时间。若识别到所述标识信息和设备序列号,则可以继续提供后续步骤所需的电源,进行后续操作。
本实施例中,上述屏幕缺陷检测方法大致可分为确定接口、切换接口以及缺陷检测几个部分,每个部分根据需求逐步提供相应的电压。以及进行缺陷检测部分时会提供相应待测屏幕点屏需要的电压。测试完毕会关闭全部的电压,提示测试完成。防止带电操作,损坏待测屏幕。每个部分,提供相应的电压,也可以保护待测屏幕,降低待测屏幕因为供电电压过大导致损坏的几率。并且当存在多个需要进行缺陷检测的待测屏幕时,可以分别多每个待测屏幕进行逐步提供相应的电压。能够同时测试多个待测屏幕,不会产生干扰,提高缺陷检测的效率。
在一个实施例中,如图3所示,所述根据所述标识信息、设备序列号确定所述待测屏幕的对应接口、测试数据,包括:
S302,确定是否获取到所述标识信息、设备序列号。
S304,响应于获取到所述标识信息、设备序列号,根据所述标识信息、设备序列号确定是否与所述待测屏幕匹配。
具体地,连接待测屏幕后,首先确定是否获取到载具的标识信息、设备序列号。若标识信息和设备序列号都获取到,则根据标识信息和设备序列号判断是否和待测屏幕匹配,通常情况下标识信息和设备序列号可以看做存在对应关系。可以查看标识信息对应的设备序列号和上述获取到的设备序列号是否相同,也可以查看设备序列号对应的标识信息和上述获取到的标识信息是否相同,若相同,则证明标识信息和设备序列号与待测屏幕匹配。
S306,根据匹配结果确定所述待测屏幕的对应接口、测试数据,所述接口包括下述中的一项:显示接口、移动行业处理接口、低电压差分信号接口、RGB接口、数字视频接口。
其中,显示接口通常可以是DP(Display Port)接口的缩写是一种高清数字显示接口。可与传统接口(如HDMI和DVI)向后兼容。移动行业处理接口通常可以是MIPI(MobileIndustry Processor Interface)通常是MIPI联盟发起的为移动应用处理器制定的开放标准。低电压差分信号接口通常可以是LVDS(Low-Voltage Differential Signaling)接口。RGB接口通常可以是分三原色输入的视频接口。数字视频接口通常可以是DVI(DigitalVisual Interface)接口。
具体地,匹配结果可以包括与待测屏幕匹配和与待测屏幕不匹配。可以根据匹配结果确定所述待测屏幕的对应接口、测试数据。接口数据可以包括显示接口、移动行业处理接口、低电压差分信号接口、RGB接口、数字视频接口等。所以相应的待测屏幕支持对应的多种类型。
S308,响应于未获取到所述标识信息、设备序列号中任一项,输出错误信息。
具体地,在未获取到载具的标识信息、设备序列号中任一项时,可能会出现如下问题:待测屏幕未正确放置在测试台中。如载具上未放置待测屏幕,或者待测屏幕的位置放置不正确。如果未获取到载具的标识信息、设备序列号中任一项,则不进行测试,输出相应的错误信息,从而测试该待测屏幕的部分停止断电,停止测试该待测屏幕。
在一些示例性的实施方式中,输出的错误信息可以是提示未识别到标识信息。
在本实施例中,通过设备序列号和标识信息可以判断该屏幕是否放置正确,若不正确,则输出信息,进行提示。能够在待测屏幕放置存在问题时及时进行提示,提升缺陷检测效率。并且还可以通过设备序列号和标识信息与待测屏幕是否匹配确定待测屏幕是否存在问题,不会出现进行缺陷检测时,待测屏幕信息错误的问题,进一步提示缺陷检测效率。
在一个实施例中,所述根据匹配结果确定所述待测屏幕的对应接口、测试数据,包括:
响应于与所述待测屏幕不匹配,输出错误信息。
具体地,当确定与待测屏幕不匹配时,证明待测屏幕中录入的信息不一致,待测屏幕可能出现问题,相应的输出错误信息。
在一些示例性的实施方式中,错误信息可以是设备序列号和标识信息异常。
需要说明的是,上述错误信息仅仅用于举例说明,在本实施例中并不限制具体的错误信息,本领域技术人员能够根据错误信息确定相应问题即可。
响应于与所述待测屏幕匹配,根据所述标识信息、设备序列号确定所述待测屏幕的对应接口、测试数据。
具体地,在标识信息和设备序列号匹配的情况下,根据标识信息和/或设备序列号信息从待测屏幕厂商或者客户提供的数据信息中确定该待测屏幕的对应的接口,以及进行缺陷检测时该待测屏幕进行测试的数据。
在本实施例中,通过待测屏幕中设备序列号和标识信息是否匹配能够确定待测屏幕中信息是否正确,在正确的情况才能够确定对应接口、测试数据进而进行缺陷检测。在信息不正确时,进行输出错误信息,能够在进行缺陷检测时及时的通知技术人员,不会出现进行缺陷检测后,该待测屏幕中信息不匹配的问题,提高了测试效率。
在一个实施例中,如图4所示,所述根据所述测试数据对所述待测屏幕进行缺陷检测,输出缺陷检测结果,包括:
S402,通过所述待测屏幕读取所述测试数据,所述测试数据包括:待显示图片数据、刷新率数据、亮度数据、点屏初始化参数代码。
其中,刷新率通常是指电子束对屏幕上的图像重复扫描的次数。刷新率越高,所显示的图像(画面)稳定性就越好。屏幕亮度通常是指发光物体表面发光强弱的物理量称为亮度。待显示图片数据通常可以是待测屏幕需要显示的图片,可以为一张也可以为多张。点屏初始化参数代码通常可以是点亮待测屏幕使得待测屏幕进行初始化的代码数据或指令。
具体地,将测试数据发送至待测屏幕中,待测屏幕读取该测试数据。通常情况下在暗室中进行缺陷检测,能够更加清楚的识别待测屏幕的缺陷。
S404,通过所述点屏初始化参数代码点亮所述待测屏幕,根据所述待测屏幕显示的待显示图片、刷新率、亮度,进行缺陷检测。
具体地,对待测屏幕进行全部供电,根据待测屏幕的数量发送相应的点屏输初始化参数代码至待测屏幕。通过点屏初始化参数代码对待测屏幕进行配置,进而点亮待测屏幕。缺陷检测可以包括:观察待测屏幕中待显示图片、刷新率、亮度是否和测试数据存在差异。若通过点屏初始化参数代码点亮待测屏幕失败,则输出相应的错误信息,并停止对点亮失败的待测屏幕进行缺陷检测。可以理解的是,本实施例中还可以从不同的角度观察待测屏幕中的显示的待显示图片、刷新率、亮度,以便于更加准确全面的进行缺陷检测。
在一些示例性的实施方式中,可以通过人工检测待测屏幕中待显示图片、刷新率、亮度是否和测试数据存在差异,也可以通过视觉相机检测待测屏幕中待显示图片、刷新率、亮度是否和测试数据存在差异。
S406,若检测到所述待测屏幕存在缺陷,则输出未通过检测结果,所述缺陷至少包括下述中的一项:闪屏、亮点、暗点、花屏。
具体地,若检测待测屏幕中待显示图片、刷新率、亮度和测试数据存在差异,或者待测屏幕存在闪屏、亮点、暗点、花屏等问题,证明该待测屏幕存在缺陷。根据对应的缺陷确定错误代码。一般是每种缺陷对应的一种错误代码,具体分类由客户或第三方提供,在本实施例中不进行限制具体的错误代码。将错误代码、未通过检测结果存储至待测屏幕的EEPROM中,可以将错误代码、未通过检测结果、设备序列号和标识信息输出至后端服务器,还可以在测试台的屏幕中输出未通过检测结果。可以理解的是,本领域技术人员还可检测到其他的缺陷,在本实施例中缺陷的形式不限于此。
S408,若未检测到所述待测屏幕存在缺陷,则输出通过检测结果。
具体地,若未检测到待测屏幕存在缺陷,则证明该待测屏幕通过缺陷检测。将通过检测结果存储至待测屏幕的EEPROM中,输出通过检测结果、设备序列号和标识信息输出至后端服务器。
在本实施例中,通过点屏初始化参数代码先对待测屏幕进行点亮,若不能点亮则进一步证明该待测屏幕存在缺陷,无需进行后续步骤。若能够正确点亮,则对待测屏幕进行缺陷检测,确定问题。进而将存在的问题输出至后端服务器中,能够在后续处理时快速的查找到对应的出现问题的屏幕以及对应的缺陷。
在另一个实施例中,本公开还提供了一种屏幕缺陷检测方法,如图5所示,所述方法包括:
S502,连接所述待测屏幕,提供用于识别所述待测屏幕对应的载具的标识信息、设备序列号的电源。
S504,读取待测屏幕的测试结果信息,根据所述测试结果信息确定是否需要进行缺陷检测。
S506,响应于需要进行缺陷检测,确定是否获取到所述标识信息、设备序列号。
S508,响应于获取到所述标识信息、设备序列号,根据所述标识信息、设备序列号确定是否与所述待测屏幕匹配。
S510,响应于与所述待测屏幕不匹配,输出错误信息。
S512,响应于与所述待测屏幕匹配,根据所述标识信息、设备序列号确定所述待测屏幕的对应接口、测试数据。
S514,响应于未获取到所述标识信息、设备序列号中任一项,输出错误信息。
S516,响应于无需进行缺陷检测,则断开所述待测屏幕的连接,取出所述待测屏幕。
S518,通过所述待测屏幕读取所述测试数据,所述测试数据包括:待显示图片数据、刷新率数据、亮度数据、点屏初始化参数代码。
S520,通过所述点屏初始化参数代码点亮所述待测屏幕,根据所述待测屏幕显示的待显示图片、刷新率、亮度,进行缺陷检测。
S522,若检测到所述待测屏幕存在缺陷,则输出未通过检测结果,所述缺陷至少包括下述中的一项:闪屏、亮点、暗点、花屏。
S524,若未检测到所述待测屏幕存在缺陷,则输出通过检测结果。
需要说明的是,本实施例具体实施方式可参见上述实施例,在此不进行重复赘述。
应该理解的是,虽然如上所述的各实施例所涉及的流程图中的各个步骤按照箭头的指示依次显示,但是这些步骤并不是必然按照箭头指示的顺序依次执行。除非本文中有明确的说明,这些步骤的执行并没有严格的顺序限制,这些步骤可以以其它的顺序执行。而且,如上所述的各实施例所涉及的流程图中的至少一部分步骤可以包括多个步骤或者多个阶段,这些步骤或者阶段并不必然是在同一时刻执行完成,而是可以在不同的时刻执行,这些步骤或者阶段的执行顺序也不必然是依次进行,而是可以与其它步骤或者其它步骤中的步骤或者阶段的至少一部分轮流或者交替地执行。
基于同样的发明构思,本公开实施例还提供了一种用于实现上述所涉及的屏幕缺陷检测方法的屏幕缺陷检测装置。该装置所提供的解决问题的实现方案与上述方法中所记载的实现方案相似,故下面所提供的一个或多个屏幕缺陷检测装置实施例中的具体限定可以参见上文中对于屏幕缺陷检测方法的限定,在此不再赘述。
在一个实施例中,如图6所示,提供了一种屏幕缺陷检测装置600,包括:读取模块602、数据确定模块604、数据发送模块606、缺陷检测模块608,其中:
读取模块602,用于读取待测屏幕的测试结果信息,根据所述测试结果信息确定是否需要进行缺陷检测;
数据确定模块604,用于响应于需要进行缺陷检测,根据所述待测屏幕对应的载具的标识信息、设备序列号确定所述待测屏幕的对应接口、测试数据;
数据发送模块606,用于切换至所述接口,通过所述接口将所述测试数据发送至所述待测屏幕,所述待测屏幕对应每个所述接口的通道相互独立,支持单独供电;
缺陷检测模块608,用于根据所述测试数据对所述待测屏幕进行缺陷检测,输出缺陷检测结果。
在所述装置的一个实施例中,所述装置还包括:限制供电模块,连接所述待测屏幕后,提供用于识别所述标识信息、设备序列号的电源。
在所述装置的一个实施例中,所述数据确定模块604,包括:判断模块、匹配模块、测试信息确定模块、错误输出模块;
所述判断模块,用于确定是否获取到所述标识信息、设备序列号。
所述匹配模块,响应于获取到所述标识信息、设备序列号,根据所述标识信息、设备序列号确定是否与所述待测屏幕匹配。
所述测试信息确定模块,用于根据匹配结果确定所述待测屏幕的对应接口、测试数据,所述接口包括下述中的一项:显示接口、移动行业处理接口、低电压差分信号接口、RGB接口、数字视频接口。
所述错误输出模块,响应于未获取到所述标识信息、设备序列号中任一项,输出错误信息。
在所述装置的一个实施例中,所述测试信息确定模块,包括:接口确定模块、测试数据确定模块;
所述接口确定模块,用于响应于与所述待测屏幕匹配,根据所述标识信息、设备序列号确定所述待测屏幕的对应接口。
所述测试数据确定模块,用于响应于与所述待测屏幕匹配,根据所述标识信息、设备序列号确定测试数据。
所述错误输出模块,还响应于与所述待测屏幕不匹配,输出错误信息。
在所述装置的一个实施例中,缺陷检测模块608,包括:测试数据读取模块、屏幕点亮模块、第一输出模块、第二输出模块;
所述测试数据读取模块,用于通过所述待测屏幕读取所述测试数据,所述测试数据包括:待显示图片数据、刷新率数据、亮度数据、点屏初始化参数代码。
所述屏幕点亮模块,用于通过所述点屏初始化参数代码点亮所述待测屏幕,根据所述待测屏幕显示的待显示图片、刷新率、亮度,进行缺陷检测。
所述第一输出模块,用于若检测到所述待测屏幕存在缺陷,则输出未通过检测结果,所述缺陷至少包括下述中的一项:闪屏、亮点、暗点、花屏。
所述第二输出模块,用于若未检测到所述待测屏幕存在缺陷,则输出通过检测结果。
上述屏幕缺陷检测装置中的各个模块可全部或部分通过软件、硬件及其组合来实现。上述各模块可以硬件形式内嵌于或独立于计算机设备中的处理器中,也可以以软件形式存储于计算机设备中的存储器中,以便于处理器调用执行以上各个模块对应的操作。
在一个实施例中,如图7所示和图8所示,提供了一种测试台700,包括:
至少一个上述实施例中所述的屏幕缺陷检测装置、安装在所述屏幕缺陷检测装置上的电磁铁704,以及,载具702;
所述载具702,用于承载待测屏幕;
所述电磁铁704,用于在通电时吸附所述载具702并压紧所述载具702承载的所述待测屏幕,在断电时弹开所述载具702。
具体地,在测试开始时,可以将测试台700和终端102进行连接。将至少一块待测屏幕装入载具702中。然后启动测试台700,电磁铁704通电,自动吸附压载具702,并紧待测屏幕。测试台700读取待测屏幕EEPROM中的测试结果信息、设备序列号、载具的标识信息。终端102读取测试台主动上报的固件版本信息、支持测试的待测屏幕类型,以及测试结果信息。若判断无需进行缺陷检测或者未读取到测试结果信息、设备序列号、载具的标识信息其中之一,则测试台700进行提示,电磁铁704断电,弹开载具702,从载具702中取出待测屏幕。
在一个实施例中,所述测试台700还可以包括:安装板706、光源708、显示屏710、调节按钮712、调节轨道714、把手716、按键板718;
所述电磁铁704安装在所述安装板706上,载具702通过电磁铁704与所述安装板706连接;
所述光源708安装在所述安装板706上,且位于所述载具702的上方;所述光源708用于在暗室环境下对所述测试台进行照明,排除自然光对缺陷检测时产生的干扰,以便于缺陷检测时更好的发现问题;以及,在暗室的环境下便于取放所述载具702。
所述显示屏710安装在所述安装板706上,且靠近所述光源708设置,所述显示屏710用于显示缺陷检测结果、提示错误信息等,本实施例中不进行限制显示屏710显示的具体信息类型。
所述调节轨道714安装在所述测试台700侧面,所述调节按钮712安装在所述调节轨道714上。调节按钮712可以包括松开状态和锁紧状态,通过向左或者向右旋转调节按钮712可以调整松开状态和锁紧状态。所述调节轨道714和所述调节按钮712用于调节所述安装板706的角度。具体地,当需要调节安装板706的角度时,可以将调节按钮712调整至松开状态,使得调节按钮712在调节轨道714上滑动,进而调整安装板706的角度,当确定安装板706的角度后,可以将调节按钮712调整至锁紧状态。
在一些实施方式中,所述安装板706的角度可以包括:0度、45度、75度等。可以理解的是,上述角度仅仅用于举例说明,实际操作过程中本领域技术人员可根据实际情况设置调节轨道714和所述调节按钮712调节的角度。
所述测试台700的两侧均安装把手716。所述按键板718安装在所述测试台700上,且位于所述安装板706下方。在一些实施方式中,按键板718的按键可以包括:通过按键、失败按键、切换按键等,在本实施例中不进行限制按键的具体类型。
进一步的,如图8所示,所述安装板706上还设有接口720,所述载具702通过所述接口720安装在所述安装板706上,所述接口720用于供电所述载具702的待测屏幕,以及传输检测待测屏幕时的测试数据。
在一个实施例中,提供了一种计算机设备,该计算机设备可以是终端,其内部结构图可以如图9所示。该计算机设备包括通过系统总线连接的处理器、存储器、通信接口、显示屏和输入装置。其中,该计算机设备的处理器用于提供计算和控制能力。该计算机设备的存储器包括非易失性存储介质、内存储器。该非易失性存储介质存储有操作系统和计算机程序。该内存储器为非易失性存储介质中的操作系统和计算机程序的运行提供环境。该计算机设备的通信接口用于与外部的终端进行有线或无线方式的通信,无线方式可通过WIFI、移动蜂窝网络、NFC(近场通信)或其他技术实现。该计算机程序被处理器执行时以实现一种屏幕缺陷检测方法。该计算机设备的显示屏可以是液晶显示屏或者电子墨水显示屏,该计算机设备的输入装置可以是显示屏上覆盖的触摸层,也可以是计算机设备外壳上设置的按键、轨迹球或触控板,还可以是外接的键盘、触控板或鼠标等。
本领域技术人员可以理解,图9中示出的结构,仅仅是与本公开方案相关的部分结构的框图,并不构成对本公开方案所应用于其上的计算机设备的限定,具体的计算机设备可以包括比图中所示更多或更少的部件,或者组合某些部件,或者具有不同的部件布置。
在一个实施例中,提供了一种计算机设备,包括存储器和处理器,存储器中存储有计算机程序,该处理器执行计算机程序时实现上述各方法实施例中的步骤。
在一个实施例中,提供了一种计算机可读存储介质,其上存储有计算机程序,计算机程序被处理器执行时实现上述各方法实施例中的步骤。
在一个实施例中,提供了一种计算机程序产品,包括计算机程序,该计算机程序被处理器执行时实现上述各方法实施例中的步骤。
本领域普通技术人员可以理解实现上述实施例方法中的全部或部分流程,是可以通过计算机程序来指令相关的硬件来完成,所述的计算机程序可存储于一非易失性计算机可读取存储介质中,该计算机程序在执行时,可包括如上述各方法的实施例的流程。其中,本公开所提供的各实施例中所使用的对存储器、数据库或其它介质的任何引用,均可包括非易失性和易失性存储器中的至少一种。非易失性存储器可包括只读存储器(Read-OnlyMemory,ROM)、磁带、软盘、闪存、光存储器、高密度嵌入式非易失性存储器、阻变存储器(ReRAM)、磁变存储器(Magnetoresistive Random Access Memory,MRAM)、铁电存储器(Ferroelectric Random Access Memory,FRAM)、相变存储器(Phase Change Memory,PCM)、石墨烯存储器等。易失性存储器可包括随机存取存储器(Random Access Memory,RAM)或外部高速缓冲存储器等。作为说明而非局限,RAM可以是多种形式,比如静态随机存取存储器(Static Random Access Memory,SRAM)或动态随机存取存储器(Dynamic RandomAccess Memory,DRAM)等。本公开所提供的各实施例中所涉及的数据库可包括关系型数据库和非关系型数据库中至少一种。非关系型数据库可包括基于区块链的分布式数据库等,不限于此。本公开所提供的各实施例中所涉及的处理器可为通用处理器、中央处理器、图形处理器、数字信号处理器、可编程逻辑器、基于量子计算的数据处理逻辑器等,不限于此。
以上实施例的各技术特征可以进行任意的组合,为使描述简洁,未对上述实施例中的各个技术特征所有可能的组合都进行描述,然而,只要这些技术特征的组合不存在矛盾,都应当认为是本说明书记载的范围。
以上所述实施例仅表达了本公开的几种实施方式,其描述较为具体和详细,但并不能因此而理解为对本公开专利范围的限制。应当指出的是,对于本领域的普通技术人员来说,在不脱离本公开构思的前提下,还可以做出若干变形和改进,这些都属于本公开的保护范围。因此,本公开的保护范围应以所附权利要求为准。

Claims (10)

1.一种屏幕缺陷检测方法,其特征在于,所述方法包括:
读取待测屏幕的测试结果信息,根据所述测试结果信息确定是否需要进行缺陷检测;
响应于需要进行缺陷检测,根据所述待测屏幕对应的载具的标识信息、设备序列号确定所述待测屏幕的对应接口、测试数据;
切换至所述接口,通过所述接口将所述测试数据发送至所述待测屏幕,所述待测屏幕对应每个所述接口的通道相互独立,支持单独供电;
根据所述测试数据对所述待测屏幕进行缺陷检测,输出缺陷检测结果。
2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述读取待测屏幕的测试结果,之前包括:
连接所述待测屏幕,提供用于识别所述标识信息、设备序列号的电源。
3.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述根据所述标识信息、设备序列号确定所述待测屏幕的对应接口、测试数据,包括:
确定是否获取到所述标识信息、设备序列号;
响应于获取到所述标识信息、设备序列号,根据所述标识信息、设备序列号确定是否与所述待测屏幕匹配;
根据匹配结果确定所述待测屏幕的对应接口、测试数据,所述接口包括下述中的一项:显示接口、移动行业处理接口、低电压差分信号接口、RGB接口、数字视频接口;
响应于未获取到所述标识信息、设备序列号中任一项,输出错误信息。
4.根据权利要求3所述的方法,其特征在于,所述根据匹配结果确定所述待测屏幕的对应接口、测试数据,包括:
响应于与所述待测屏幕不匹配,输出错误信息;
响应于与所述待测屏幕匹配,根据所述标识信息、设备序列号确定所述待测屏幕的对应接口、测试数据。
5.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述根据所述测试数据对所述待测屏幕进行缺陷检测,输出缺陷检测结果,包括:
通过所述待测屏幕读取所述测试数据,所述测试数据包括:待显示图片数据、刷新率数据、亮度数据、点屏初始化参数代码;
通过所述点屏初始化参数代码点亮所述待测屏幕,根据所述待测屏幕显示的待显示图片、刷新率、亮度,进行缺陷检测;
若检测到所述待测屏幕存在缺陷,则输出未通过检测结果,所述缺陷至少包括下述中的一项:闪屏、亮点、暗点、花屏;
若未检测到所述待测屏幕存在缺陷,则输出通过检测结果。
6.一种屏幕缺陷检测装置,其特征在于,所述装置包括:
读取模块,用于读取待测屏幕的测试结果信息,根据所述测试结果信息确定是否需要进行缺陷检测;
数据确定模块,用于响应于需要进行缺陷检测,根据所述待测屏幕对应的载具的标识信息、设备序列号确定所述待测屏幕的对应接口、测试数据;
数据发送模块,用于切换至所述接口,通过所述接口将所述测试数据发送至所述待测屏幕,所述待测屏幕对应每个所述接口的通道相互独立,支持单独供电;
缺陷检测模块,用于根据所述测试数据对所述待测屏幕进行缺陷检测,输出缺陷检测结果。
7.一种测试台,其特征在于,包括:
至少一个如权利要求6所述的屏幕缺陷检测装置、安装在所述屏幕缺陷检测装置上的电磁铁,以及,载具;
所述载具,用于承载待测屏幕;
所述电磁铁,用于在通电时吸附所述载具并压紧所述载具承载的所述待测屏幕,在断电时弹开所述载具。
8.一种计算机设备,包括存储器和处理器,所述存储器存储有计算机程序,其特征在于,所述处理器执行所述计算机程序时实现权利要求1至5中任一项所述的方法的步骤。
9.一种计算机可读存储介质,其上存储有计算机程序,其特征在于,所述计算机程序被处理器执行时实现权利要求1至5中任一项所述的方法的步骤。
10.一种计算机程序产品,包括计算机程序,其特征在于,该计算机程序被处理器执行时实现权利要求1至5中任一项所述的方法的步骤。
CN202210415010.6A 2022-04-20 2022-04-20 屏幕缺陷检测方法、装置、测试台、计算机设备 Pending CN114858414A (zh)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN202210415010.6A CN114858414A (zh) 2022-04-20 2022-04-20 屏幕缺陷检测方法、装置、测试台、计算机设备

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN202210415010.6A CN114858414A (zh) 2022-04-20 2022-04-20 屏幕缺陷检测方法、装置、测试台、计算机设备

Publications (1)

Publication Number Publication Date
CN114858414A true CN114858414A (zh) 2022-08-05

Family

ID=82632288

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
CN202210415010.6A Pending CN114858414A (zh) 2022-04-20 2022-04-20 屏幕缺陷检测方法、装置、测试台、计算机设备

Country Status (1)

Country Link
CN (1) CN114858414A (zh)

Similar Documents

Publication Publication Date Title
CN111742214B (zh) 基板检查装置及丝网印刷机的缺陷类型确定方法
CN109542761B (zh) 软件质量评估方法、装置及存储介质
US7200497B2 (en) Test system and method for portable electronic apparatus
US10268666B2 (en) Industrial automation workstation and display method for scaling and displaying text destined for a target industrial automation device
CN108598013B (zh) 一种晶圆的测试方法
CN109979368A (zh) 显示系统
US20200064398A1 (en) Inspection system, wafer map display, wafer map display method, and computer program
CN107564447B (zh) 一种点灯治具、点灯测试系统及其测试方法
CN106020140A (zh) 一种电子墨水屏产品的生产线控制方法
CN114858414A (zh) 屏幕缺陷检测方法、装置、测试台、计算机设备
CN113221593A (zh) 二维码信息获取方法、电子设备和存储介质
CN105261398A (zh) 动态随机存取存储器的校准方法及装置
CN109581188B (zh) 一种主板上端子的功能检测方法、智能设备及存储介质
US20220329779A1 (en) Automatic evaluating apparatus for built-in video recording device of vehicle, system having the same, and method thereof
US7222038B2 (en) Detecting a defective area of an inspected apparatus
TW201018886A (en) Automatic test system and method thereof
WO2022172469A1 (ja) 画像検査装置、画像検査方法、及び学習済みモデル生成装置
CN115271117A (zh) 一种换流站内部设备故障诊断方法、装置、计算机设备
US20130145225A1 (en) Code checking method for a memory of a printed circuit board
CN211123144U (zh) 一种基于fpga的测试单元及其测试系统
CN112783708A (zh) Dtu硬件测试方法、终端和计算机可读存储介质
CN107818748B (zh) 显示面板检测方法与装置
TW201504621A (zh) 用於電路板檢測之光學影像檢測系統
US11892923B2 (en) Testing electronic products for determining abnormality
CN109344087B (zh) 一种设备的多端同步调试方法、系统、存储介质及处理器

Legal Events

Date Code Title Description
PB01 Publication
PB01 Publication
SE01 Entry into force of request for substantive examination
SE01 Entry into force of request for substantive examination