CN114839464B - 一种指数寿命型产品的快速检验方法、系统、设备及终端 - Google Patents

一种指数寿命型产品的快速检验方法、系统、设备及终端 Download PDF

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Abstract

本发明属于电子零部件寿命检测技术领域,公开了一种指数寿命型产品的快速检验方法、系统、设备及终端,从待检测的批产品中选取个n产品样本同时进行试验,在试验终点时刻检查产品样本的状态,统计试验期间发生故障的产品样本数量,记为r;以接收数Ac为判据,当r≤Ac时,认定产品合格,使用方将接收该批产品;当r>Ac时,认定产品不合格,使用方将拒收该批产品。针对指数寿命型产品,本发明提供的指数寿命型产品的快速检验方法不需配套产品状态在线监测设备,降低了相关的试验硬件条件,消除了试验完成时间的不确定性,能在计划的时间内准时完成试验,和相关标准的试验方法一样能把生产方风险和使用方风险都控制在阈值范围以内。

Description

一种指数寿命型产品的快速检验方法、系统、设备及终端
技术领域
本发明属于电子零部件寿命检测技术领域,尤其涉及一种指数寿命型产品的快速检验方法、系统、设备及终端。
背景技术
目前,一般来说,正常使用的电子零部件寿命都服从指数分布,如:印制电路板插件、电子部件、电阻、电容、集成电路等。在理论上,当产品由很多部分组成,无论这些组成部分的寿命是什么分布,只要产品的任一部分出了故障,给予修复再投入使用,则较长时间之后,产品的寿命基本上即指数分布。
目前,在一系列的国际标准、国家标准和军队标准中,介绍了一些常用的指数寿命型产品的检验方法。例如,在GJB899A-2009中,给出了常用的指数寿命型序贯试验统计方案、指数寿命型定时截尾试验统计方案和指数寿命型全数试验统计方案等。这些方案中提及的“试验时间”实际上是所有样本的累计寿命时间,因此,使用样本的寿命数据是这些试验共同的特点。这意味着必须在试验中配置产品状态在线监测设备,用于捕捉产品样本发生故障的“瞬间”,从而得到参试产品样本的寿命数据。指数寿命型序贯试验可以“串行”方式让产品样本一个接一个地进行试验,因此只要有1套产品状态在线监测设备就能开展试验,但完成试验的时间就很漫长,往往是产品平均寿命的数倍甚至数十倍,试验的时间成本也就很高。指数寿命型定时试验能以“并行”方式让所有产品样本同时进行试验,虽然能快速完成试验,但这也意味着需要配置大量的产品状态在线监测设备(用于记录每个产品样本的寿命),大量的监测设备往往意味着较为严苛的试验硬件条件。
在实际工作中,除了试验结果的准确性,试验的时间成本、试验硬件条件等也是选择何种试验时需要考虑的重要因素。针对寿命服从指数分布的产品,目前这些标准的试验方式都需要配套一定数量的产品状态在线监测设备,完成试验的时间也是不确定的,且试验完成时间和以产品状态在线监测设备为代表的试验硬件条件往往是“鱼与熊掌,不可兼得”,这也限制了相关标准提供的指数寿命型试验方法在实际工作中的应用。
通过上述分析,现有技术存在的问题及缺陷为:
(1)现有指数寿命型序贯试验的完成时间很漫长,往往是产品平均寿命的数倍甚至数十倍,试验的时间成本也就很高。
(2)现有指数寿命型定时试验需要配置大量的产品状态在线监测设备用于记录每个产品样本的寿命,而大量的监测设备需要较为严苛的试验硬件条件。
(3)针对寿命服从指数分布的产品,目前标准的试验方式都需要配套一定数量的产品状态在线监测设备,完成试验的时间也不确定,且缩短试验完成时间和降低以产品状态在线监测设备为代表的试验硬件条件不能同时满足,限制了相关标准提供的指数寿命型试验方法在实际工作中的应用。
发明内容
针对现有技术存在的问题,本发明提供了一种指数寿命型产品的快速检验方法、系统、设备及终端。
本发明是这样实现的,一种指数寿命型产品的快速检验方法,所述指数寿命型产品的快速检验方法包括:
从待检测的批产品中选取个n产品样本同时进行试验,在试验终点时刻检查产品样本的状态,统计试验期间发生故障的产品样本数量,记为r;以接收数Ac为判据,当r≤Ac时,认定产品合格,使用方将接收该批产品;当r>Ac时,认定产品不合格,使用方将拒收该批产品。
进一步,所述指数寿命型产品的快速检验方法包括以下步骤:
步骤一,初始化,输入生产方和使用方的相关参数以及试验计划耗时;
步骤二,计算样本总数量n和接收数Ac;试验结束后,失败样本数量记为r,约定:若r≤Ac,则接收该批次产品,否则拒收;
步骤三,终止计算,输出试验方案参数:样本总数量n和接收数Ac。
进一步,所述步骤一中的初始化输入的参数包括:
①生产方的相关参数:风险阈值α和良品平均寿命t0
②使用方的相关参数:风险阈值β和差品平均寿命t1
③试验计划耗时tw。
进一步,所述步骤二中的计算样本总数量n和接收数Ac;试验结束后,失败样本数量记为r,约定:若r≤Ac,则接收该批次产品,否则拒收包括:
(1)令
令n=1,Ac=0;
令At等于n-1和1.3n(1-q1)中的最小数,并对At向上取整数。
(2)计算Pa、Pb。
Pa描述了n、Ac对应的生产方风险概率;
Pb描述n、Ac对应的使用方风险概率,式中B(·)是贝塔函数,/>
(3)若Pa<α且Pb<β都成立,则样本总数量n和接收数Ac计算完毕,执行步骤三,否则执行步骤(4)。
(4)更新Ac,令Ac=Ac+1后,若Ac>At,则令n=n+1,Ac=0,并更新At。
(5)执行步骤(2)。
进一步,所述步骤(4)中的更新At包括:
令At等于n-1和1.3n(1-q1)中的最小数,并对At向上取整数。
本发明的另一目的在于提供一种执行所述指数寿命型产品的快速检验方法的应用方法,所述指数寿命型产品的快速检验方法的应用方法包括:
(1)从批产品中随机抽取n个样本,所有样本同时开始试验,计划试验时间为tw;
(2)在试验终点时刻tw,统计因出现故障而失败的样本数量r,若r≤Ac,则接收该批产品,否则拒收该批产品。
本发明的另一目的在于提供一种应用所述指数寿命型产品的快速检验方法的指数寿命型产品的快速检验系统,所述指数寿命型产品的快速检验系统包括:
初始化模块,用于输入生产方和使用方的相关参数以及试验计划耗时;
参数计算模块,用于计算样本总数量n和接收数Ac;试验结束后,失败样本数量记为r,约定:若r≤Ac,则接收该批次产品,否则拒收;
参数输出模块,用于终止计算,输出试验方案的样本总数量n和接收数Ac。
本发明的另一目的在于提供一种计算机设备,所述计算机设备包括存储器和处理器,所述存储器存储有计算机程序,所述计算机程序被所述处理器执行时,使得所述处理器执行如下步骤:
从待检测的批产品中选取个n产品样本同时进行试验,在试验终点时刻检查产品样本的状态,统计试验期间发生故障的产品样本数量,记为r;以接收数Ac为判据,当r≤Ac时,认定产品合格,使用方将接收该批产品;当r>Ac时,认定产品不合格,使用方将拒收该批产品。
本发明的另一目的在于提供一种计算机可读存储介质,存储有计算机程序,所述计算机程序被处理器执行时,使得所述处理器执行如下步骤:
从待检测的批产品中选取个n产品样本同时进行试验,在试验终点时刻检查产品样本的状态,统计试验期间发生故障的产品样本数量,记为r;以接收数Ac为判据,当r≤Ac时,认定产品合格,使用方将接收该批产品;当r>Ac时,认定产品不合格,使用方将拒收该批产品。
本发明的另一目的在于提供一种信息数据处理终端,所述信息数据处理终端用于实现所述指数寿命型产品的快速检验系统。
结合上述的技术方案和解决的技术问题,请从以下几方面分析本发明所要保护的技术方案所具备的优点及积极效果为:
第一、针对上述现有技术存在的技术问题以及解决该问题的难度,紧密结合本发明的所要保护的技术方案以及研发过程中结果和数据等,详细、深刻地分析本发明技术方案如何解决的技术问题,解决问题之后带来的一些具备创造性的技术效果。具体描述如下:
本发明方法的核心创新点是参考成败型一次性试验模式,首先把相关标准中以平均寿命作为指数寿命型产品质量水平,改为以结合了产品平均寿命和试验完成时间的可靠度为质量水平,消除了以往试验时间的不确定性。由于此时良品/差品可靠度都不是相关标准中的典型值,本发明接着通过提供基于贝塔分布的样本总数量n和Ac接收数计算方法,补齐了现有标准中只提供典型良品可靠度值q0、鉴定比D和风险阈值α、β试验方案这一短板,实现了从指数寿命型试验到成败型试验的无缝对接,能设计出针对任意质量水平值q0、鉴定比D和风险阈值α、β情况下的试验方案,解决因缺少产品状态监测设备等试验硬件条件不足而无法采用相关标准的指数寿命型试验方法的难题。
第二,把技术方案看作一个整体或者从产品的角度,本发明所要保护的技术方案具备的技术效果和优点,具体描述如下:
针对指数寿命型产品,本发明提供的指数寿命型产品的快速检验方法不需配套产品状态在线监测设备,降低了相关的试验硬件条件,消除了试验完成时间的不确定性,能在计划的时间内准时完成试验,和相关标准的试验方法一样能把生产方风险和使用方风险都控制在阈值范围以内。
第三,作为本发明的权利要求的创造性辅助证据,还体现在本发明的技术方案克服了技术偏见:一直以来,指数寿命型产品采用指数寿命型试验进行检验,成败型产品采用成败型试验进行检验,指数寿命型试验和成败型试验被视为两种不同类型的抽样检验方法,在相关标准中都只是各自提供了有限数量的典型试验方案,但指数寿命型试验典型方案中的良品t0、差品t1与成败型试验典型方案中的良品q0、差品q1不能适配,即:当此良品t0是彼良品q0时,则此差品t1一定不是彼差品q1。本发明克服了该技术偏见,实现了从指数寿命型试验到成败型试验的有效转换,所提供的试验方案,在降低试验硬件条件,消除完成试验计划时间的不确定性的同时,达到了试验双方风险都低于阈值的要求。
附图说明
为了更清楚地说明本发明实施例的技术方案,下面将对本发明实施例中所需要使用的附图做简单的介绍,显而易见地,下面所描述的附图仅仅是本发明的一些实施例,对于本领域普通技术人员来讲,在不付出创造性劳动的前提下还可以根据这些附图获得其他的附图。
图1是本发明实施例提供的指数寿命型产品的快速检验方法流程图;
图2是本发明实施例提供的指数寿命型产品的快速检验系统结构框图;
图3是本发明实施例提供的三种试验的产品接收概率仿真结果示意图;
图4是本发明实施例提供的三种试验的样本总数量仿真结果示意图;
图5是本发明实施例提供的三种试验的试验完成时间仿真结果示意图;
图6是本发明实施例提供的定时试验方案的样本总数量为40时,该方案和本发明方法试验方案(样本总数量为14)的产品检验仿真结果示意图;
图中:1、初始化模块;2、参数计算模块;3、参数输出模块。
具体实施方式
为了使本发明的目的、技术方案及优点更加清楚明白,以下结合实施例,对本发明进行进一步详细说明。应当理解,此处所描述的具体实施例仅仅用以解释本发明,并不用于限定本发明。
针对现有技术存在的问题,本发明提供了一种指数寿命型产品的快速检验方法、系统、设备及终端,下面结合附图对本发明作详细的描述。
一、解释说明实施例。为了使本领域技术人员充分了解本发明如何具体实现,该部分是对权利要求技术方案进行展开说明的解释说明实施例。
如图1所示,本发明实施例提供的指数寿命型产品的快速检验方法包括以下步骤:
S101,从待检测的批产品中选取个n产品样本同时进行试验;
S102,在试验终点时刻检查产品样本的状态,统计试验期间发生故障的产品样本数量,记为r;
S103,以接收数Ac为判据,当r≤Ac时,认定产品合格,使用方将接收该批产品;当r>Ac时,认定产品不合格,使用方将拒收该批产品。
如图2所示,本发明实施例提供的指数寿命型产品的快速检验系统包括:
初始化模块1,用于输入生产方和使用方的相关参数以及试验计划耗时;
参数计算模块2,用于计算样本总数量n和接收数Ac;试验结束后,失败样本数量记为r,约定:若r≤Ac,则接收该批次产品,否则拒收;
参数输出模块3,用于终止计算,输出试验方案的样本总数量n和接收数Ac。
本发明约定指数分布记为exp(μ),其概率密度函数伽马分布记为Ga(A,B),其概率密度函数/>其中Γ(A)为伽马函数,/>
本发明按惯例以平均寿命t来描述可靠性质量水平。对于试验双方(产品生产方和产品使用方),由于抽样试验始终存在着样本质量偏离产品总体质量的可能性,因而必然存在两种风险:弃真风险和取伪风险。
弃真风险由生产方承担,是指抽样检验结论为“该批产品质量不合格,被拒收”,但实际上该批产品的良品率达到或甚至超过生产方的要求,该批产品质量总体合格。良品的质量水平记为t0,弃真风险通常以质量为t0的产品被拒收的概率来描述,记为Pa,生产方可接受的Pa最大值记为α。弃真风险又称为生产方风险。
取伪风险由使用方承担,是指抽样检验结论为“该批产品质量合格,可接收”,但在实际使用中发现该批产品的质量低于使用方可接受的最低质量水平t1,t1对应的产品本发明称为差品(实际上是合格品的下限)。取伪风险通常以质量为t1的产品被接收的概率来描述,记为Pb,使用方可接受的Pb最大值记为β。取伪风险又称为使用方风险。
在开展指数寿命型试验前,由生产方和使用方约定各自的风险阈值α、β,各自关注的产品质量水平t0、t1(鉴别比),并以此确定其他试验方案参数。
本发明方法的核心创新点是参考成败型一次性试验模式,首先把相关标准中以平均寿命作为指数寿命型产品质量水平,改为以结合了产品平均寿命和试验完成时间的可靠度为质量水平,消除了以往试验时间的不确定性。由于此时良品/差品可靠度都不是相关标准中的典型值,本发明接着通过提供基于贝塔分布的样本总数量n和Ac接收数计算方法,补齐了现有标准中只提供典型良品可靠度值q0、鉴定比D和风险阈值α、β试验方案这一短板,实现了从指数寿命型试验到成败型试验的无缝对接,能设计出针对任意质量水平值q0、鉴定比D和风险阈值α、β情况下的试验方案,解决因缺少产品状态监测设备等试验硬件条件不足而无法采用相关标准的指数寿命型试验方法的难题。
针对指数寿命型产品,本发明的指数寿命型产品的快速检验方法不需配套产品状态在线监测设备,降低了相关的试验硬件条件,消除了试验完成时间的不确定性,能在计划的时间内准时完成试验,和相关标准的试验方法一样能把生产方风险和使用方风险都控制在阈值范围以内。
本方法的试验模式为:从批产品中选取个n产品样本同时做试验,在试验终点时刻检查产品样本的状态,统计试验期间发生故障的产品样本数量,记为r。以接收数Ac为判据,当r≤Ac时,认定产品合格,使用方将接收该批产品;当r>Ac时,认定产品不合格,使用方将拒收该批产品。
针对试验硬件条件有限(缺少产品状态在线监测设备),且想在计划时间期限内快速完成产品抽样检验试验的需求,本发明提供了一种指数寿命型产品的检验方法,能在把生产方风险和使用方风险稳定控制在预期的阈值范围以内的前提下,不需获取参试产品的寿命数据,可在计划时间tw内完成检验试验。若希望在短时间内完成试验,建议tw等于t1。该方法的具体步骤如下:
(1)初始化,输入以下参数。
生产方的相关参数:风险阈值α和良品平均寿命t0
使用方的相关参数:风险阈值β和差品平均寿命t1
试验计划耗时tw。
(2)计算样本总数量n和接收数Ac。试验结束后,失败样本数量记为r,约定:若r≤Ac,则接收该批次产品,否则拒收。
(2.1)令
令n=1,Ac=0;
令At等于n-1和1.3n(1-q1)中的最小数,并对At向上取整数。
(2.2)计算Pa、Pb。
Pa描述了n、Ac对应的生产方风险概率;
Pb描述了n、Ac对应的使用方风险概率。式中B(·)是贝塔函数,/>
(2.3)若Pa<α且Pb<β都成立,则样本总数量n和接收数Ac计算完毕,执行步骤(3),否则执行(2.4)。
(2.4)更新Ac,令Ac=Ac+1后,若Ac>At,则令n=n+1,Ac=0,并更新At(令At等于n-1和1.3n(1-q1)中的最小数,并对At向上取整数)。
(2.5)执行(2.2)。
(3)终止计算,输出试验方案参数:样本总数量n和接收数Ac。
该方案的具体用法如下:
(a)从批产品中随机抽取n个样本,所有样本同时开始试验,计划试验时间为tw。
(b)在试验终点时刻tw,统计因出现故障而失败的样本数量r,若r≤Ac,则接收该批产品,否则拒收该批产品。
应当注意,本发明的实施方式可以通过硬件、软件或者软件和硬件的结合来实现。硬件部分可以利用专用逻辑来实现;软件部分可以存储在存储器中,由适当的指令执行系统,例如微处理器或者专用设计硬件来执行。本领域的普通技术人员可以理解上述的设备和方法可以使用计算机可执行指令和/或包含在处理器控制代码中来实现,例如在诸如磁盘、CD或DVD-ROM的载体介质、诸如只读存储器(固件)的可编程的存储器或者诸如光学或电子信号载体的数据载体上提供了这样的代码。本发明的设备及其模块可以由诸如超大规模集成电路或门阵列、诸如逻辑芯片、晶体管等的半导体、或者诸如现场可编程门阵列、可编程逻辑设备等的可编程硬件设备的硬件电路实现,也可以用由各种类型的处理器执行的软件实现,也可以由上述硬件电路和软件的结合例如固件来实现。
二、实施例相关效果的证据。本发明实施例在研发或者使用过程中取得了一些积极效果,和现有技术相比的确具备很大的优势,下面内容结合试验过程的数据、图表等进行描述。
算例:现在需要对某批次产品进行抽样检验。已知该产品的寿命服从指数分布,生产方关注的良品平均寿命t0=300h,生产方风险阈值α=0.1;使用方关注的差品平均寿命t1=100h,使用方风险阈值β=0.1。现希望在100h内完成对该批次产品的抽样检验,请应用本发明方法,计算试验方案中的样本总数量和接收数。
解:(1)由已知可得:α=0.1,t0=300h,β=0.1,t1=100h。令试验完成时间tw=100h。
(2)计算样本总数量n和接收数Ac。
经计算,q0=0.7165,q1=0.3679。当n=14、Ac=6时,Pa=0.072、Pb=0.098,此时Pa<α且Pb<β都成立。
(3)终止计算,试验方案参数为:样本总数量n=14和接收数Ac=6。
该方案的具体用法为:
(a)从批产品中随机抽取14个样本,所有样本同时开始试验,计划试验时间为tw=100h。
(b)在试验终点时刻tw,统计因出现故障而失败的样本数量r。(假定)从试验现场得知r=7。因r≤Ac不成立,拒收该批产品。
可用仿真的方式验证本发明方法的有效性。以上述算例为例,对寿命服从指数分布、平均寿命在50h~400h范围内的产品,从产品接收概率、试验样本总数量、试验完成时间三个角度,分别模拟实现本发明方法的试验方案、GJB899A-2009的指数寿命型序贯试验方案和指数寿命型定时试验方案的抽样检验效果。其中指数寿命型序贯试验方案中的截尾时间为1169h、接收数为7。指数寿命型定时试验方案的截尾时间为927h、接收数为5,采用所有样本产品同时试验的模式,该方案的试验样本总数量为6(这也是该试验的最小样本总数量)。产品接收概率、试验样本总数量、试验完成时间仿真结果分别如图1、图2、图3。
图3表明,本发明方法的产品接收概率满足试验要求:对于平均寿命为小于100h的差品,其接收概率未超过阈值α(α=0.1);对于平均寿命大于300h的良品,其拒收概率未超过阈值β(β=0.1),达到了对试验方案的要求。在平均寿命50h~400h这个范围内,其产品接收概率和国标方案的接收概率是相似。
图4、图5表明,相比相关标准的试验方案,本发明方法的试验方案不仅消除了试验完成时间的不确定性,甚至还可能用时更短。不过,由于本发明方法没有使用样本的寿命信息,因此试验样本总数量也明显大于这两种国标试验方案,这也是为降低试验硬件条件付出的代价。
图6是国标中指数寿命型定时试验方案的样本总数量为40时,该方案和本发明方法试验方案(样本总数量为14)的产品检验仿真结果,二者的产品接收概率性能相差无几。与本发明方法试验方案相比,此时定时试验的样本总数量更大,但在大多数情况下,其试验完成时间却更长。这表明本发明方法在快速完成试验方面有着较为显著的优势。
以上所述,仅为本发明的具体实施方式,但本发明的保护范围并不局限于此,任何熟悉本技术领域的技术人员在本发明揭露的技术范围内,凡在本发明的精神和原则之内所作的任何修改、等同替换和改进等,都应涵盖在本发明的保护范围之内。

Claims (8)

1.一种指数寿命型产品的快速检验方法,其特征在于,所述指数寿命型产品的快速检验方法包括:从待检测的批产品中选取个n产品样本同时进行试验,在试验终点时刻检查产品样本的状态,统计试验期间发生故障的产品样本数量,记为r;以接收数Ac为判据,当r≤Ac时,认定产品合格,使用方将接收该批产品;当r>Ac时,认定产品不合格,使用方将拒收该批产品;
所述指数寿命型产品的快速检验方法包括以下步骤:
步骤一,初始化,输入生产方和使用方的相关参数以及试验计划耗时;
步骤二,计算样本总数量n和接收数Ac;试验结束后,失败样本数量记为r,约定:若r≤Ac,则接收该批次产品,否则拒收;
步骤三,终止计算,输出试验方案参数:样本总数量n和接收数Ac;
所述步骤二中的计算样本总数量n和接收数Ac;试验结束后,失败样本数量记为r,约定:若r≤Ac,则接收该批次产品,否则拒收包括:
(1)令
令n=1,Ac=0;
令At等于n-1和1.3n(1-q1)中的最小数,并对At向上取整数;
(2)计算Pa、Pb;
Pa描述了n、Ac对应的生产方风险概率;
Pb描述n、Ac对应的使用方风险概率,式中B(·)是贝塔函数,/>
(3)若Pa<α且Pb<β都成立,则样本总数量n和接收数Ac计算完毕,执行步骤三,否则执行步骤(4);
(4)更新Ac,令Ac=Ac+1后,若Ac>At,则令n=n+1,Ac=0,并更新At;
(5)执行步骤(2)。
2.如权利要求1所述指数寿命型产品的快速检验方法,其特征在于,所述步骤一中的初始化输入的参数包括:
①生产方的相关参数:风险阈值α和良品平均寿命t0
②使用方的相关参数:风险阈值β和差品平均寿命t1
③试验计划耗时tw。
3.如权利要求1所述指数寿命型产品的快速检验方法,其特征在于,所述步骤(4)中的更新At包括:
令At等于n-1和1.3n(1-q1)中的最小数,并对At向上取整数。
4.一种执行如权利要求1~3任意一项所述指数寿命型产品的快速检验方法的应用方法,其特征在于,所述指数寿命型产品的快速检验方法的应用方法,包括:
(1)从批产品中随机抽取n个样本,所有样本同时开始试验,计划试验时间为tw;
(2)在试验终点时刻tw,统计因出现故障而失败的样本数量r,若r≤Ac,则接收该批产品,否则拒收该批产品。
5.一种应用如权利要求1~3任意一项所述指数寿命型产品的快速检验方法的指数寿命型产品的快速检验系统,其特征在于,所述指数寿命型产品的快速检验系统包括:
初始化模块,用于输入生产方和使用方的相关参数以及试验计划耗时;
参数计算模块,用于计算样本总数量n和接收数Ac;试验结束后,失败样本数量记为r,约定:若r≤Ac,则接收该批次产品,否则拒收;
参数输出模块,用于终止计算,输出试验方案的样本总数量n和接收数Ac。
6.一种计算机设备,其特征在于,所述计算机设备包括存储器和处理器,所述存储器存储有计算机程序,所述计算机程序被所述处理器执行时,使得所述处理器执行权利要求1~3任意一项所述指数寿命型产品的快速检验方法。
7.一种计算机可读存储介质,存储有计算机程序,所述计算机程序被处理器执行时,使得所述处理器执行权利要求1~3任意一项所述指数寿命型产品的快速检验方法。
8.一种信息数据处理终端,其特征在于,所述信息数据处理终端用于实现如权利要求5所述指数寿命型产品的快速检验系统的功能。
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指数分布下基于最低可靠寿命的抽样检验方案;时继庆;王书宁;;清华大学学报(自然科学版)(10);全文 *

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