CN114833074B - 电子元件外观检测设备 - Google Patents

Abstract

本发明涉及电子元件外观检测设备技术领域，特别是涉及一种电子元件外观检测设备。该电子元件外观检测设备包括底座、供料装置、搬运装置、多工位检测装置以及收料装置。供料装置承载有待测工件；搬运装置能够对待测工件进行搬运，并能将待测工件移动至多工位检测装置分别进行多站背面外观检测、多站侧面外观检测以及多站正面外观检测；搬运装置还能将经检测后的工件移送至收料装置内进行收料作业。本发明的优点：能够实现对电子元件进行全方位立体检测，有效判别并分选出外观不良的工件，智能化程度高且效率高，提高了对电子元件立体外观检测结果的可靠性及准确性，检测效果佳。

Description

电子元件外观检测设备

技术领域

本发明涉及电子元件检测设备技术领域，特别是涉及一种电子元件外观检测设备。

背景技术

随着全球消费者对手机拍照功能的日益重视，摄像头模组等电子元件已成为手机必备功能模块，摄像头模组作为手机拍照的特征采集器，是将拍摄景物在传感器上成像的器件，故，摄像头模组的质量对手机拍照成像至关重要。

摄像头模组的生产需要经过烘烤FPC、点胶、粘贴晶圆、盖镜座、烘烤等多道工序，任何一道工序的问题都可能导致最终成品出现品质问题。所以在摄像头模组生产完成后，生产线会对成品进行各方面的检测以及时发现不良品。其中，摄像头模组等电子元件外观检测是一个非常重要的环节。摄像头模组等电子元件外观检测设备需要对电子元件的优次等级进行检测，并区分开来进行分类。

但，现有电子元件外观检测设备不能对电子元件进行全方位立体检测，并且，检测效率低，检测流程不顺畅，可靠性低，检测结果不准确。

发明内容

有鉴于此，针对上述技术问题，本申请提供如下技术方案：

一种电子元件外观检测设备，包括：

底座；

供料装置，安装于所述底座上并承载有待测工件；

搬运装置，安装于所述底座上并对所述待测工件进行搬运；

多工位检测装置，安装于所述底座上，所述搬运装置能够将所述待测工件移送至所述多工位检测装置，以对所述待测工件依次进行多站背面外观检测、多站侧面外观检测及多站正面外观检测；

收料装置，安装于所述底座上，所述搬运装置将检测后的所述待测工件移送至所述收料装置内。

在其中一个实施例中，所述多工位检测装置包括多个背检组件，在多个所述背检组件中，相邻两个所述背检组件的朝向相反。

在其中一个实施例中，所述多工位检测装置还包括侧检组件，所述侧检组件数量设置为N个，N个所述侧检组件被分成第一组和第二组，其中N≥3且N设置为自然数；

其中，第一组中的所述侧检组件数量设置为偶数个，且第一组中的所述侧检组件以两两相对的方式设置；

第二组中的所述侧检组件数量至少为1个，且第二组中的所述侧检组件与第一组中两两相对设置中的一个所述侧检组件依次布设。

在其中一个实施例中，所述多工位检测装置还包括侧检组件，所述侧检组件数量设置为N个，N≥2且N设置为偶数，N个所述侧检组件以两两相对的方式设置。

在其中一个实施例中，所述侧检组件包括：

第二调节板单元，安装于所述底座上；

斜立柱，其一端与所述第二调节板单元连接，且所述斜立柱开设有连接孔；

第一侧检单元，部分穿设于所述连接孔内并与所述斜立柱连接，且在连接孔内往复运动。

在其中一个实施例中，所述侧检组件包括：

安装座，安装于所述底座上；

光源安装单元，安装于所述安装座上；

光源调节件，与所述光源安装单元连接，并位于所述光源安装单元远离所述底座的一侧，且所述光源调节件开设有调节孔；

其中，所述光源调节件能够沿所述调节孔的延伸方向往复运动。

在其中一个实施例中，所述多工位检测装置还包括多个正检组件，在多个所述正检组件中，相邻两个所述正检组件中的其中一个所述正检组件相对凸出于另一个所述正检组件设置。

在其中一个实施例中，所述多工位检测装置包括多个背检组件、多个侧检组件及多个正检组件；多个所述侧检组件位于多个所述背检组件的一侧，多个所述正检组件位于所述侧检组件远离所述背检组件的一侧，且多个所述侧检组件与多个所述正检组件呈错位设置；

其中，多个所述背检组件沿第一方向依次设置，多个所述侧检组件与多个所述正检组件均沿第二方向依次设置，且所述第一方向与所述第二方向相互垂直。

在其中一个实施例中，所述电子元件外观检测设备还包括供料区、暂存区、背检区、侧检区、正检区、出料区及收料区；其中，所述暂存区位于所述供料区和所述背检区之间，所述暂存区设有入料料梭，所述侧检区设有贯穿所述侧检区的侧检料梭，所述正检区还设有位于正检组件下方的正检料梭，所述出料区设有出料料梭和与所述出料料梭配合的翻转装置，所述翻转装置与所述收料区对应配合；

所述侧检料梭包括能往返运动的运料平台以及设置在所述运料平台上若干能自转且装载电子元件的料位，且所述侧检料梭两端延伸分别对应所述背检区和所述正检区。

在其中一个实施例中，所述搬运装置包括第一夹取组件、第二夹取组件、第三夹取组件、第四夹取组件、第五夹取组件；其中，所述第一夹取组件在所述供料区和所述暂存区之间往复运动，所述第二夹取组件在所述暂存区、所述背检区和所述侧检料梭三者之间往复运动，所述第三夹取组件在所述侧检料梭和所述正检区之间往复运动，所述第四夹取组件在所述正检区和所述出料区之间往复运动，所述第五夹取组件在所述出料区的翻转装置和所述收料区之间往复运动；

所述第二夹取组件包括能旋转运动的抓取部件，所述第二夹取组件在所述暂存区和所述背检区之间旋转，所述第二夹取组件在所述背检区和所述侧检料梭之间旋转。

与现有技术相比，本申请提供的电子元件外观检测设备，通过设置具有不同功能的各装置，并通过自动化流程来检测电子元件外观，将供料、检测、分类、收料等工序高度自动化，能够实现对电子元件进行全方位立体检测，有效判别并分选出外观不良的工件。智能化程度高且效率高，提高了对电子元件立体外观检测结果的稳定性、可靠性及准确性，检测效果佳。并且，通过设置多工位检测装置依次对待测工件进行多站背面外观检测、多站侧面外观检测及多站正面外观检测，能够分别对电子元件的不同部分进行视觉外观检测，不用调节相机焦距和位置，检测图像清晰，检测更加细致，进一步提高检测准确率和检测效率。

附图说明

图1为本发明提供的电子元件外观检测设备的示意图。

图2为本发明提供的背面检测装置一视角的结构示意图。

图3为本发明提供的背面检测装置另一视角的结构示意图。

图4为本发明提供的第二夹取组件的结构示意图。

图5为本发明提供的一实施例中的侧面检测装置的结构示意图。

图6为图1中A处的局部放大图。

图7为本发明提供的另一实施例中的侧面检测装置的结构示意图。

图8为本发明提供的侧检料梭的结构示意图。

图9为本发明提供的侧检料梭的结构示意图。

图10为本发明提供的正面检测装置一视角的结构示意图。

图11为本发明提供的正面检测装置另一视角的结构示意图。

图12为本发明提供的翻转装置的结构示意图。

图中，100、电子元件外观检测设备；101、多工位检测装置；10、底座；11、供料区；111、堆盘区；12、上料区；13、空盘区；14、暂存区；141、入料料梭；15、背检区；16、侧检区；17、正检区；18、出料区；181、出料料梭；1811、出料导轨；19、收料区；20、供料装置；30、搬运装置；31、第一夹取组件；32、第二夹取组件；321、固定座；322、抓取部件；323、第一旋转电机；324、直线电机；33、第三夹取组件；34、第四夹取组件；35、第五夹取组件；40、背面检测装置；401、背检组件；41、第一背检组件；42、第二背检组件；43、第三背检组件；431、光源安装板；432、相机安装板；433、第一光源；434、第一相机；44、第一调节板组件；441、调节板；442、第一水平滑台；443、第一竖直滑台；444、连接座；50、侧面检测装置；501、第一侧检组件；51、安装座；52、侧检组件；521、第二调节板单元；5211、支撑座；5212、高度调节块；5213、移动滑台；522、斜立柱；5221、连接孔；523、第一侧检单元；53、第二侧检组件；54、第三侧检组件；55、第四侧检组件；56、第五侧检组件；561、光源安装单元；5611、凸部；562、相机调节单元；563、第二光源；564、第二相机；58、光源调节件；581、调节孔；60、导轨；61、侧检料梭；611、第二旋转电机；612、同步带；613、料位；614、运料平台；70、正面检测装置；701、正检组件；71、第一正检组件；72、第二正检组件；73、第三正检组件；74、第四正检组件；741、光源固定件；742、相机固定件；743、第三光源；744、第三相机；75、第三调节板组件；751、第二竖直滑台；752、滑台连接板；753、滑台安装板；755、第二水平滑台；76、正检料梭；81、翻转装置；811、翻转机械手；812、翻转电机；813、顶升组件；8131、基板；8132、电机板；8133、导向单元；8134、顶升电机；814、限位块；90、收料装置。

具体实施方式

下面将结合本发明实施方式中的附图，对本发明实施方式中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施方式仅仅是本发明一部分实施方式，而不是全部的实施方式。基于本发明中的实施方式，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施方式，都属于本发明保护的范围。

需要说明的是，当组件被称为“装设于”另一个组件，它可以直接装设在另一个组件上或者也可以存在居中的组件。当一个组件被认为是“设置于”另一个组件，它可以是直接设置在另一个组件上或者可能同时存在居中组件。当一个组件被认为是“固定于”另一个组件，它可以是直接固定在另一个组件上或者可能同时存在居中组件。

除非另有定义，本文所使用的所有的技术和科学术语与属于本发明的技术领域的技术人员通常理解的含义相同。本文中在本发明的说明书中所使用的术语只是为了描述具体的实施方式的目的，不是旨在于限制本发明。本文所使用的术语“或/及”包括一个或多个相关的所列项目的任意的和所有的组合。

请参阅图1，本申请提供一种电子元件外观检测设备100，用于对电子元件的优次等级进行检测，并区分开来进行分类。

该电子元件外观检测设备100包括底座10、供料装置20、搬运装置30、多工位检测装置101以及收料装置90。其中，供料装置20、搬运装置30、多工位检测装置101以及收料装置90均安装于底座10上。供料装置20承载有待测工件；搬运装置30能够对待测工件进行搬运，并能够将待测工件移送至多工位检测装置101，以对待测工件依次进行多站背面外观检测、多站侧面外观检测及多站正面外观检测。同时，搬运装置30还能将经检测后的工件移送至收料装置90内进行收料作业。

在本申请中，通过设置具有不同功能的各装置，并通过自动化流程来检测电子元件外观，将供料、检测、分类、收料等工序高度自动化，能够实现对电子元件进行全方位立体检测，有效判别并分选出外观不良的工件。智能化程度高且效率高，提高了对电子元件立体外观检测结果的稳定性、可靠性及准确性，检测效果佳。并且，通过设置多工位检测装置101依次对待测工件进行多站背面外观检测、多站侧面外观检测及多站正面外观检测，能够分别对电子元件的不同部分进行视觉外观检测，不用调节相机焦距和位置，检测图像清晰，检测更加细致，进一步提高检测准确率和检测效率。

请参阅图1，电子元件外观检测设备100还包括供料区11、暂存区14、背检区15、侧检区16、正检区17、出料区18及收料区19。其中，暂存区14位于供料区11和背检区15之间，暂存区14设有入料料梭141，侧检区16设有贯穿侧检区16的侧检料梭61，正检区17还设有正检料梭76，出料区18设有出料料梭181和与出料料梭181配合的翻转装置81，翻转装置81与收料区19对应配合。

搬运装置30包括第一夹取组件31、第二夹取组件32、第三夹取组件33、第四夹取组件34、第五夹取组件35。其中，第一夹取组件31在供料区11和暂存区14之间往复运动，第二夹取组件32在暂存区14、背检区15和侧检料梭61三者之间往复运动，第三夹取组件33在侧检料梭61和正检区17之间往复运动，第四夹取组件34在正检区17和出料区18之间往复运动，第五夹取组件35在出料区18的翻转装置81和收料区19之间往复运动。

进一步地，供料区11还包括堆盘区111、上料区12及空盘区13，堆盘区111、上料区12及空盘区13依次布设于底座10上。第一夹取组件31能够将上料区12内的待测工件夹取至入料料梭141内。装有待测工件的料盘先被放置在堆盘区111、然后流转到上料区12、第一夹取组件31拾取待测工件后、空料盘流转至空盘区13。

请继续参阅图1，多工位检测装置101包括背面检测装置40、侧面检测装置50及正面检测装置70。背面检测装置40位于背检区15内，背面检测装置40用于对待测工件进行多站背面外观检测。侧面检测装置50位于侧检区16内，且侧面检测装置50位于侧检料梭61远离底座10的一侧；侧面检测装置50用于对通过多站背面外观检测的待测工件进行多站侧面外观检测。正面检测装置70位于正检区17内，且正面检测装置70位于正检料梭76远离底座10的一侧；正面检测装置70用于对通过多站侧面外观检测的待测工件进行多站正面外观检测。

其中，背面检测装置40、侧面检测装置50、正面检测装置70依次安装于底座10上；第二夹取组件32能够将通过背面检测装置40检测完成的工件夹取至侧检料梭61内，侧检料梭61能够将工件移送至侧面检测装置50处进行检测，检测完成后将工件移出，随后第三夹取组件33将侧检料梭61内的工件夹取至正检料梭76内，正检料梭76将工件移送至正面检测装置70进行检测，如此，以实现快速的流水线自动检测，流转费时短，智能化程度高且检测效率高。

请参阅图2及图3，背面检测装置40包括多个背检组件401，多个背检组件401在底座10上依次布设，多个背检组件401能够对电子元件进行多站检测，且多站背面外观检测分别对电子元件的不同部分进行视觉外观检测，不用调节相机焦距和位置，检测图像清晰，检测更加细致，进一步提高检测准确率和检测效率。

进一步地，在多个背检组件401中，相邻两个背检组件401的朝向相反。在本实施例中，考虑到为了使多个背检组件401可以同时工作，相邻两个背检组件401的间距需要与放置待测工件工位的间距相同。因待测工件尺寸较小，安装间距有限，而背检组件401的体积较大，若多个背检组件401的安装方向均相同，则会出现相互干涉的问题。故，本实施例中，采用反向安装，使多个背检组件401在空间上能够错开。当然，在其他实施例中，也不限于此种排布方式，可以根据需要进行任意排布，只要空间上不干涉即可。

待测工件能够被依次移送至每个背检组件401进行背面外观检测。如此，能够使背面外观检测更加方便且快速，流转费时短。并且，通过设置多个背检组件401能够分别对电子元件的不同部分依次进行视觉外观检测，不用调节相机焦距和位置，检测图像清晰，检测更加细致，进一步提高检测准确率和检测效率。

在本实施例中，背检组件401的数量为三个，分别为第一背检组件41、第二背检组件42及第三背检组件43。第一背检组件41、第二背检组件42及第三背检组件43沿底座10的宽度方向依次布设，且第二背检组件42与第一背检组件41及第三背检组件43的朝向相反。

背面检测装置40能够对多个产品的不同部位进行检测，例如第一背检组件41检测特征A，第二背检组件42检测特征B，第三背检组件43检测特征C，下述1-A指产品1的A特征，1-B指产品1的B特征，1-C指产品1的C特征,2-A指产品2的A特征，2-B指产品2的B特征，3-A指产品3的A特征,依次类推，N-C指产品N的C特征。

具体地，背面检测装置40的工作过程如下：

多个产品从第一背检组件41方向依次进入，首先，第一背检组件41检测工位1-A特征；然后移动预设距离，此时，第二背检组件42检测工位1-B特征，第一背检组件41检测工位2-A特征；再移动预设距离，第三背检组件43检测工位1-C特征，第二背检组件42检测工位2-B特征，第一背检组件41检测工位3-A特征，以此类推，直至第三背检组件43检测工位N-C特征。

在本实施中，背面检测装置40能够进行三站背面外观检测，并且，三个背检组件401同时拍照，从而减少拍照时间；且三个背检组件401能够分别对电子元件的不同部分依次进行视觉外观检测，不用调节相机焦距和位置，检测图像清晰，检测更加细致，进一步提高检测准确率和检测效率。

其中，第一背检组件41用于对连接器进行检测；第二背检组件42用于对工件的散热片进行检测；第三背检组件43用于对FPC和二维码进行检测。当然，在其他实施例中，背检组件401的数量也可以设置为其他个数，如将背检组件401设置为四个、五个或者六个，只要能够达到相似的检测作用即可。

进一步地，请参阅图3，每个背检组件401包括光源安装板431、相机安装板432、第一光源433及第一相机434。第一光源433安装于光源安装板431上，第一相机434安装于相机安装板432上。在本申请中，第一背检组件41中的第一相机434为连接器相机，第一光源433为无影光及碗光；第二背检组件42中的第一相机434为散热片相机，第一光源433为环形光；第三背检组件43中的第一相机434为反面排线相机，第一光源433为同轴光。

请继续参阅图3，每个背检组件401还包括第一调节板组件44，第一调节板组件44安装于底座10上。且第一调节板组件44能够对第一相机434位置及焦距进行调节。

进一步地，光源安装板431及相机安装板432均安装于第一调节板组件44上。第一调节板组件44包括调节板441、第一水平滑台442、第一竖直滑台443以及连接座444，调节板441安装于底座10上，第一水平滑台442及第一竖直滑台443安装于调节板441上，连接座444分别与第一水平滑台442及第一竖直滑台443连接。其中，第一水平滑台442及第一竖直滑台443能够分别对第一相机434沿底座10宽度方向及高度方向的移动进行调节，从而能够改变第一相机434的位置及焦距；结构简单，便于调节，更易实现对待测工件的拍摄。并且，每个第一调节板组件44能够对第一背检组件41、第二背检组件42及第三背检组件43进行独立调节，以达到各自的拍摄需求。

请参阅图4，暂存区14、背检区15及侧检区16位于上料区12的一侧，且依次布设。第二夹取组件32位于暂存区14、背检区15及侧检区16的远离底座10的一侧。第二夹取组件32包括能旋转运动的抓取部件322，第二夹取组件32在暂存区14和背检区15之间旋转，第二夹取组件32在背检区15和侧检料梭61之间旋转。第二夹取组件32的抓取部件322能够将待测工件从暂存区14的入料料梭141上夹取后旋转进入背检区15并经多个背检组件401进行背面外观检测，检测完成后，第二夹取组件32的抓取部件322将待测工件从背检区15夹取后旋转放置于侧检区16的侧检料梭61上。暂存区14的入料料梭141开始工作时是对应上料区12，待第一夹取组件31将待测工件放到入料料梭141后，入料料梭141移动到第二夹取组件32的取料位，等待第二夹取组件32开始取料。

进一步地，第二夹取组件32还包括固定座321、第一旋转电机323及直线电机324。固定座321安装于底座10上，抓取部件322安装于固定座321上，第一旋转电机323安装于固定座321上并与抓取部件322连接；直线电机324安装于固定座321上并与抓取部件322连接。其中，第一旋转电机323能够驱动抓取部件322自转，直线电机324能够驱动抓取部件322沿固定座321的长度方向运动。

在本实施例中，多个背检组件401沿第一方向依次布设，侧检料梭61沿第二方向运动至侧面检测装置50。其中，第一方向与第二方向垂直。故，当待测工件在背检区15完成检测后，抓取部件322能够夹取工件并通过第一旋转电机323的驱动将抓取部件322逆时针或顺时针旋转90°，将工件放入侧检料梭61内，使侧检料梭61沿第二方向运动至侧面检测装置50。

需要说明的是，在本申请中，第一方向指沿底座10的宽度方向，第二方向指沿底座10的长度方向。当然，在其他实施例中，第一方向与第二方向可以根据实际需求做出改变，不局限于上述方向。

具体地，第二夹取组件32包括四个抓取部件322，第二夹取组件32在作业时，能够同时夹取的四颗工件依次进行三站背面外观检测。抓取部件322包括夹抓和吸嘴，夹爪与吸嘴能能够同时夹取工件，以保证工件夹取成功率和夹取后的平整度。

在其他实施例中，可以根据实际需求设置抓取部件322的数量，不仅限于四个，如抓取部件322的数量还可以是五个、六个或者七个。

请参阅图5至图7，侧面检测装置50包括多个侧检组件52，多个侧检组件52在底座10上布设，多个侧检组件52能够分别对电子元件的不同部分进行视觉外观检测，无需调节相机焦距和位置，检测图像清晰、效率高，从而使对应相机对工件固定对应面的检测结果达到最佳效果。

在一实施例中，侧检组件52数量设置为N个，N个侧检组件52被分成第一组和第二组，其中N≥3且N设置为自然数。其中，第一组中的侧检组件52数量设置为偶数个，且第一组中的侧检组件52以两两相对的方式设置。第二组中的侧检组件52数量至少为1个，且第二组中的侧检组件52与第一组中两两相对设置中的一个侧检组件52依次布设。

因考虑到待测工件的检测特征，刚好处于相对面，故，将侧检组件52进行相对设置，便可以满足两个侧检组件52同时进行拍摄，从而减少拍照时间。而其余侧检组件52为检测待测工件的其余特征，故依次进行排布。

具体地，举例如下：

实施例一

请参阅图5，侧检组件52的数量为5个。其中两个侧检组件52相对设置，其余三个侧检组件52与相对设置的其中一个侧检组件52位于同一侧，并在底座10上依次布设。

实施例二

请参阅图6，侧检组件52的数量为6个。其中四个侧检组件52呈两排设置，且每排侧检组件52均包括两个相对设置的侧检组件52，两组相对设置的侧检组件52的两侧分别设有一个侧检组件52。

当然，在其他实施例中，侧检组件52的数量可以根据待测工件的检测特征做出改变，只要满足检测要求即可。

因考虑到待测工件的检测特征，刚好处于相对面，故，将侧检组件52进行相对设置，便可以满足两个侧检组件52同时进行拍摄，从而减少拍照时间。

请参阅图7，在实施例三中，侧检组件52数量设置为N个，N≥2且N设置为偶数，N个侧检组件52以两两相对的方式设置。具体地，例如侧检组件52的数量为6个，6个侧检组件52呈三排布设，且每排侧检组件52均包括两个相对设置的侧检组件52。

当然，在其他实施例中，侧检组件52的数量可以根据待测工件的检测特征做出改变，只要满足检测要求即可。并且，也不限于上述这几种排布方式，因排布方式是和待测工件的检测特征相关联的，故，可以根据待测工件的不同随意进行布局，只要满足简易检测，节省工序流程和时间即可。

请参阅图5，在上述实施例一中，部分侧检组件52自身能够进行位置调节，其包括第二调节板单元521、斜立柱522及第一侧检单元523。第二调节板单元521安装于底座10上；斜立柱522的一端与第二调节板单元521连接，且斜立柱522开设有连接孔5221；第一侧检单元523部分穿设于连接孔5221内并与斜立柱522连接，且在连接孔5221内往复运动。

第二调节板单元521能够对斜立柱522的高度进行调节，第一侧检单元523能够沿连接孔5221的长度方向移动，以对第一侧检单元523的位置进行调节。如此，结构简单、调节方便，能够满足第一侧检单元523位置的调整需求。

进一步地，第二调节板单元521包括支撑座5211、高度调节块5212及移动滑台5213。支撑座5211安装于底座10上；高度调节块5212安装于支撑座5211上；移动滑台5213分别与高度调节块5212及斜立柱522连接。其中，移动滑台5213能够对斜立柱522沿底座10高度方向的运动进行调节。从而满足第一侧检单元523位置的调整需求。

在本实施例中，共有五个侧检组件52，其中一个侧检组件52能够进行位置调节。当然，能够进行位置调节的侧检组件52的数量及具体排布的位置，可以根据待测工件的具体特征来布设。

具体而言，请继续参阅图5，侧面检测装置50包括五个侧检组件52，五个侧检组件52分别为第一侧检组件501、第二侧检组件53、第三侧检组件54、第四侧检组件55及第五侧检组件56。其中，第一侧检组件501、第三侧检组件54、第四侧检组件55及第五侧检组件56依次布设于底座10上，第二侧检组件53与第一侧检组件501相对设置。

因第一侧检组件501与第二侧检组件53所拍摄到待测工件上的特征，刚好处于相对面，故，将第一侧检组件501与第二侧检组件53相对设置，可以满足第一侧检组件501与第二侧检组件53能够同时进行拍摄，从而减少拍照时间。而第一侧检组件501、第三侧检组件54、第四侧检组件55及第五侧检组件56为产品不同姿态时的检测面，故，排布于同侧。

并且，在本实施例中，第一侧检组件501自身能够进行角度调节，包括上述的第二调节板单元521、斜立柱522及第一侧检单元523，结构简单、调节方便。

如此，能够使侧面外观检测更加方便且快速，流转费时短。并且，多个侧检组件52分别对电子元件的不同部分进行视觉外观检测，无需调节相机焦距和位置，检测图像清晰、效率高，从而使对应相机对工件固定对应面的检测结果达到最佳效果。当然，在其他实施例中，侧检组件52的数量也可以设置为其他个数，如将侧检组件52设置为六个、七个或者八个，只要能够达到相同的检测效果即可。

请参阅图5和图6，在上述实施例二中，部分侧检组件52自身能够进行位置调节，其包括安装座51、光源安装单元561及光源调节件58。安装座51安装于底座10上；光源安装单元561安装于安装座51上；光源调节件58与光源安装单元561连接，并位于光源安装单元561远离底座10的一侧，且光源调节件58开设有调节孔581。

其中，光源安装单元561包括凸部5611，凸部5611能够与光源调节件58的调节孔581相互配合，使光源调节件58沿着调节孔581的延伸方向往复移动。如此，结构简单、调节方便，能够满足光源位置的调整需求。

在本实施例中，共有五个侧检组件52，其中两个侧检组件52能够进行位置调节。当然，能够进行位置调节的侧检组件52的数量及具体排布的位置，可以根据待测工件的具体特征来布设。

并且，在其他实施例中，侧检组件52可以采用实施例一中的结构来进行位置调节，也可以采用实施例二中的结构来进行位置调节，当然也可以根据待测工件的实际情况采用其他结构来进行位置调节，在此不作限制。

具体地，连接孔5221及调节孔581均呈弧线形，从而便于更灵活地进行调节。

侧面检测装置50的具体检测流程与背面检测装置40的相同，再此就不在赘述。侧面检测装置50能够进行五站背面外观检测，并且能够同时拍照，从而减少拍照时间。五站侧面外观检测分别对电子元件的不同部分进行视觉外观检测，无需调节相机焦距和位置，检测图像清晰、效率高，从而使对应相机对工件固定对应面的检测结果达到最佳效果。

请继续参阅图5，每个侧检组件52均包括光源安装单元561、相机调节单元562、第二光源563及第二相机564。光源安装单元561及相机调节单元562均安装于安装座51上；第二光源563安装于光源安装单元561上；第二相机564安装于相机调节单元562上，相机调节单元562能够对第二相机564的位置等进行调节。

其中，第一侧检单元523的第二相机564为相机A，第二光源563为环光；第二侧检组件53的第二相机564为相机B，第二光源563为环光；第三侧检组件54的第二相机564为相机C，第二光源563为点光、环形光及条光；第四侧检组件55的第二相机564为相机D，第二光源563为环光；第五侧检组件56的第二相机564为相机E，第二光源563为环光。

请参阅图8及图9，侧检料梭61包括导轨60、安装在导轨60上且能往返运动的运料平台614以及设置在运料平台614上若干能自转且装载电子元件的料位613，且侧检料梭61的导轨60两端延伸分别对应背检区15和正检区17。导轨60安装于底座10上且从第二夹取组件32的放料位延伸到穿过侧检组件52直至第三夹取组件33的取料位。其中，第二夹取组件32将经背检组件401检测完成的工件夹取至侧检料梭61。运料平台614能够沿导轨60的长度方向，将工件移送至侧检组件52进行检测。同时，料位613能够将工件进行旋转，以满足多个侧检组件52分别对工件的不同侧面进行检测的要求，从而提升检测效率。

请参阅图9，在一实施例中，侧检料梭61还包括第二旋转电机611及同步带612，第二旋转电机611通过同步带612与料位613连接。运料平台614沿导轨60的长度方向移动至侧面检测装置50，因多个侧检组件52需要检测工件的不同侧面，故，在首个侧检组件52检测完后，第二旋转电机611通过同步带612驱动料位613进行旋转，从而使工件方向进行旋转，以满足下一个侧检组件52对工件的不同侧面进行检测。

具体地，料位613的数量为四个，四个料位613旋转角度为0°、90°或者180°。当然，在其他实施例中，料位613的数量还可以根据实际情况设置更多个，如五个、六个或者七个。

请参阅图10及图11，正面检测装置70包括多个正检组件701，多个正检组件701在底座10上依次布设，多个正检组件701能够进行多站正面外观检测，并且能够同时拍照，从而减少拍照时间。多个正检组件701能够分别对电子元件的不同部分进行视觉外观检测，不用调节相机焦距和位置，检测图像清晰，检测更加细致，进一步提高检测准确率和检测效率。

进一步地，在多个正检组件701中，相邻两个正检组件701中的其中一个正检组件701相对凸出于另一个正检组件701设置。

具体而言，在本实施例中，正面检测装置70包括四个正检组件701，四个正检组件701分别为第一正检组件71、第二正检组件72、第三正检组件73以及第四正检组件74。其中，沿底座10的长度方向，第一正检组件71、第二正检组件72、第三正检组件73以及第四正检组件74依次分布；并且，第二正检组件72及第四正检组件74凸出于第一正检组件71与第三正检组件73的位置。

因考虑到待测工件所需检测的特征位置不同，第二正检组件72及第四正检组件74所拍特征的位置靠前，第一正检组件71与第三正检组件73所拍特征的位置靠后，故将第二正检组件72及第四正检组件74凸出于第一正检组件71与第三正检组件73设置。从而能够使正面外观检测更加方便且快速，流转费时短。当然，在其他实施例中，也不限于此种排布方式，可以根据需要进行任意排布。

当然，在其他实施例中，正检组件701的数量也可以设置为其他个数，如将正检组件701设置为三个、五个或者六个，只要能够达到相似的检测作用即可。

正面检测装置70的具体检测流程与背面检测装置40的相同，再此就不在赘述。在本实施例中，正面检测装置70能够进行四站正面外观检测，并且能够同时拍照，从而减少拍照时间。四站正面外观检测能够分别对电子元件的不同部分进行视觉外观检测，不用调节相机焦距和位置，检测图像清晰，检测更加细致，进一步提高检测准确率和检测效率。

进一步地，每个正检组件701均包括光源固定件741、相机固定件742、第三光源743以及第三相机744，第三光源743安装于光源固定件741上；第三相机744安装于相机固定件742上。其中，第一正检组件71的第三相机744为Homer检测相机，第三光源743为环光；第二正检组件72的第三相机744为补强钢片镜头，第三光源743为环光；第三正检组件73的第三相机744为二维码检测相机，第三光源743为环光；第四正检组件74的第三相机744为BVL检测镜头，第三光源743为环光。第三夹取组件33将侧检料梭61内的工件夹取至正检料梭76内，正检料梭76能够将工件移送至正面检测装置70，并依次通过四个正检组件701进行四站正面外观检测，从而提高检测准确率和检测效率。

请继续参阅图11，每个正检组件701均包括第三调节板组件75及第三相机744，第三相机744与第三调节板组件75连接。第三调节板组件75能够对第三相机744位置及焦距进行调节。

第三调节板组件75包括滑台安装板753、第二水平滑台755、第二竖直滑台751及滑台连接板752。滑台安装板753安装于底座10上；第二水平滑台755及第二竖直滑台751安装于滑台安装板753上；滑台连接板752分别与第二水平滑台755及第二竖直滑台751连接。第三相机744安装于第二竖直滑台751上；其中，第二水平滑台755及第二竖直滑台751能够分别对第三相机744沿底座10宽度方向及高度方向的移动进行调节；如此，结构简单，便于调节，进而便于实现第三相机744的微调，保证检测的准确性及效率。

请参阅图2、图7及图10，在本申请中，多个侧检组件52位于多个背检组件401的一侧，多个正检组件701位于侧检组件52远离背检组件401的一侧，且多个侧检组件52与多个正检组件701呈错位设置。其中，多个背检组件401沿第一方向依次设置，多个侧检组件52与多个正检组件701均沿第二方向依次设置，且第一方向与第二方向相互垂直。

在本申请的实际运作过程中，待测工件沿第一方向移动依次经每个背检组件401进行多站背面外观检测，完成检测后，第二夹取组件32将工件夹取后旋转放置于侧检料梭61内，侧检料梭61沿第二方向将工件移送至每个侧检组件52处进行多站侧面外观检测，检测完成后，第三夹取组件33夹取工件，并沿第一方向将工件移送至正检料梭76内，正检料梭76将待测工件沿第二方向依次移送至每个正检组件701进行多站正面外观检测，如此能够实现快速的流水线自动检测，流转费时短，智能化程度高且检测效率高。

请参阅图12，出料料梭181包括出料导轨1811以及安装在出料导轨1811上且能往返运动的运料台。运料台能够沿出料导轨1811的长度方向移动至翻转装置81的下方，翻转装置81能够对运料台上的工件进行翻转，从而解决工件的出料朝向问题。

进一步地，翻转装置81包括翻转机械手811及翻转电机812。翻转电机812与翻转机械手811连接；且翻转电机812能够驱动翻转机械手811进行翻转运动。结构简单，占用空间小，便于实现工件的出料朝向问题。

进一步地，翻转装置81还包括顶升组件813，翻转机械手811安装于顶升组件813上；顶升组件813能够驱动翻转机械手811进行升降运动。具体地，顶升组件813包括基板8131、电机板8132、导向单元8133以及顶升电机8134。翻转机械手811安装于基板8131上；电机板8132与基板8131连接；导向单元8133与电机板8132连接；顶升电机8134与电机板8132连接；其中，顶升电机8134能够带动翻转机械手811沿导向单元8133的导向方向运动。

具体地，电机板8132上还设有限位块814，用于限位翻转机械手811的升降位置。

第四夹取组件34将从正检料梭76夹取的工件放至出料料梭181内，翻转装置81能够对出料料梭181中的工件的朝向进行翻转。

在本申请中，收料区19的数量为两个，两个收料区19分别分布于出料料梭181的两侧，以便于收料，使运转流程更顺畅地运行，提高整机的工作效率。

本申请提供的电子元件外观检测设备100的工作流程如下：

首先，完成整机初始化。第一夹取组件31从上料区12夹取待测工件放入暂存区14内，第二夹取组件32从暂存区14夹取待测工件，并沿第一方向将工件依次移送至每个背检组件401进行多站背面外观检测，完成检测后，第二夹取组件32将工件夹取后旋转放置于侧检料梭61内，侧检料梭61沿第二方向将工件移送至每个侧检组件52处进行多站侧面外观检测，进行检测完成后，第三夹取组件33夹取工件，并沿第一方向将工件移送至正检料梭76内，正检料梭76将待测工件沿第二方向将工件依次移送至每个正检组件701进行多站正面外观检测，检测完成后，第四夹取组件34从正检料梭76夹取待测工件并沿第二方向移送至出料料梭181内；若所需工件朝向为正面，则第五夹取组件35从出料料梭181夹取待测工件并移送至收料区19；若所需工件朝向为背面，则翻转装置81对出料料梭181内的待测工件进行翻转后，第五夹取组件35再从出料料梭181夹取待测工件并移送至收料区19，从而完成整个工作流程。

上述过程不完全是整个设备的动作流程；并且，在安全条件允许的条件下，有关动作可以同时进行，如此可提高整机工作效率。

此外，需要说明的是，使用“第一”、“第二”等词语来限定零部件，仅仅是为了便于对相应零部件进行区别，如没有另行声明，上述词语并没有特殊含义，因此不能理解为对本发明保护范围的限制。

以上实施方式的各技术特征可以进行任意的组合，为使描述简洁，未对上述实施方式中的各个技术特征所有可能的组合都进行描述，然而，只要这些技术特征的组合不存在矛盾，都应当认为是本说明书记载的范围。

本技术领域的普通技术人员应当认识到，以上的实施方式仅是用来说明本发明，而并非用作为对本发明的限定，只要在本发明的实质精神范围内，对以上实施方式所作的适当改变和变化都落在本发明要求保护的范围内。

Claims (10)

1.一种电子元件外观检测设备，其特征在于，包括：

底座(10)；

供料装置(20)，安装于所述底座(10)上并承载有待测工件；

搬运装置(30)，安装于所述底座(10)上并对所述待测工件进行搬运；

多工位检测装置(101)，安装于所述底座(10)上，所述多工位检测装置(101)包括背检组件(401)、侧检组件(52)及正检组件(701)，所述搬运装置(30)能够将所述待测工件移送至所述多工位检测装置(101)，以对所述待测工件依次通过所述背检组件(401)进行多站背面外观检测、通过所述侧检组件(52)进行多站侧面外观检测及通过正检组件(701)进行多站正面外观检测；

收料装置(90)，安装于所述底座(10)上，所述搬运装置(30)将检测后的所述待测工件移送至所述收料装置(90)内；

暂存区(14)、背检区(15)、侧检区(16)、正检区(17)和出料区(18)，所述侧检区(16)设有贯穿所述侧检区(16)的侧检料梭(61)，所述侧检料梭(61)两端延伸分别对应所述背检区(15)和所述正检区(17)，所述背检组件(401)设置于所述背检区(15)，所述侧检组件(52)设置于所述侧检区(16)，所述正检组件(701)设置于所述正检区(17)；

其中，所述搬运装置(30)包括第二夹取组件(32)和第三夹取组件(33)，所述第二夹取组件(32)在所述暂存区(14)、所述背检区(15)和所述侧检料梭(61)三者之间往复运动，所述第三夹取组件(33)在所述侧检料梭(61)和所述正检区(17)之间往复运动。

2.根据权利要求1所述的电子元件外观检测设备，其特征在于，所述背检组件(401)为多个，在多个所述背检组件(401)中，相邻两个所述背检组件(401)的朝向相反。

3.根据权利要求1所述的电子元件外观检测设备，其特征在于，所述侧检组件(52)数量设置为N个，N个所述侧检组件(52)被分成第一组和第二组，其中N≥3且N设置为自然数；

其中，第一组中的所述侧检组件(52)数量设置为偶数个，且第一组中的所述侧检组件以两两相对的方式设置；

第二组中的所述侧检组件(52)数量至少为1个，且第二组中的所述侧检组件(52)与第一组中两两相对设置中的一个所述侧检组件(52)依次布设。

4.根据权利要求1所述的电子元件外观检测设备，其特征在于，所述侧检组件(52)数量设置为N个，N≥2且N设置为偶数，N个所述侧检组件(52)以两两相对的方式设置。

5.根据权利要求3或4所述的电子元件外观检测设备，其特征在于，所述侧检组件(52)包括：

第二调节板单元(521)，安装于所述底座(10)上；

斜立柱(522)，其一端与所述第二调节板单元(521)连接，且所述斜立柱(522)开设有连接孔(5221)；

第一侧检单元(523)，部分穿设于所述连接孔(5221)内并与所述斜立柱(522)连接，且在连接孔(5221)内往复运动。

6.根据权利要求3或4所述的电子元件外观检测设备，其特征在于，所述侧检组件(52)包括：

安装座(51)，安装于所述底座(10)上；

光源安装单元(561)，安装于所述安装座(51)上；

光源调节件(58)，与所述光源安装单元(561)连接，并位于所述光源安装单元(561)远离所述底座(10)的一侧，且所述光源调节件(58)开设有调节孔(581)；

其中，所述光源调节件(58)能够沿所述调节孔(581)的延伸方向往复运动。

7.根据权利要求1所述的电子元件外观检测设备，其特征在于，所述正检组件(701)为多个，在多个所述正检组件(701)中，相邻两个所述正检组件(701)中的其中一个所述正检组件(701)相对凸出于另一个所述正检组件(701)设置。

8.根据权利要求1所述的电子元件外观检测设备，其特征在于，所述背检组件(401)、侧检组件(52)及正检组件(701)均为多个，多个所述侧检组件(52)位于多个所述背检组件(401)的一侧，多个所述正检组件(701)位于所述侧检组件(52)远离所述背检组件(401)的一侧，且多个所述侧检组件(52)与多个所述正检组件(701)呈错位设置；

其中，多个所述背检组件(401)沿第一方向依次设置，多个所述侧检组件(52)与多个所述正检组件(701)均沿第二方向依次设置，且所述第一方向与所述第二方向相互垂直。

9.根据权利要求1所述的电子元件外观检测设备，其特征在于，所述电子元件外观检测设备还包括供料区(11)和收料区(19)；所述暂存区(14)设有入料料梭(141)，所述正检区(17)还设有正检料梭(76)，所述出料区(18)设有出料料梭(181)和与所述出料料梭(181)配合的翻转装置(81)，所述翻转装置(81)与所述收料区(19)对应配合；

所述侧检料梭(61)包括能往返运动的运料平台(614)以及设置在所述运料平台(614)上若干能自转且装载电子元件的料位(613)。

10.根据权利要求9所述的电子元件外观检测设备，其特征在于，所述搬运装置(30)还包括第一夹取组件(31)、第四夹取组件(34)和第五夹取组件(35)，所述第一夹取组件(31)在所述供料区(11)和所述暂存区(14)之间往复运动，所述第四夹取组件(34)在所述正检区(17)和所述出料区(18)之间往复运动，所述第五夹取组件(35)在所述出料区(18)的翻转装置(81)和所述收料区(19)之间往复运动；

所述第二夹取组件(32)包括能旋转运动的抓取部件(322)，所述第二夹取组件(32)在所述暂存区(14)和所述背检区(15)之间旋转，所述第二夹取组件(32)在所述背检区(15)和所述侧检料梭(61)之间旋转。