CN1147927C - 智能型测试机 - Google Patents
智能型测试机Info
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- CN1147927C CN1147927C CNB011102969A CN01110296A CN1147927C CN 1147927 C CN1147927 C CN 1147927C CN B011102969 A CNB011102969 A CN B011102969A CN 01110296 A CN01110296 A CN 01110296A CN 1147927 C CN1147927 C CN 1147927C
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Abstract
一种智能型测试机，将测试机连接至探测记录器，用以记录每一个晶片样本的测试结果，本发明的智能型测试机由于可记录所有晶片样本的测试结果，在环境改变或者其它因素使得测试机的测试结果呈现不通过时，测试工程师可根据测试结果，对晶片样本进行再次的测试，用以降低由于测试机误判所造成的损失。
Description
技术领域
本发明涉及一种测试机，特别是涉及一种可记录测试样本的测试结果的智能型测试机。
背景技术
参照图1，其所示为已知TCP(Tape Carrier Package，以下简称TCP)测试机的示意图。带式传输机封装测试机，包括第一转盘10、第二转盘20、测试装置30、打孔器头40以及传输带50。
在已知的TCP测试机上，将尚未测试的晶片样本以焊接或者粘结技术固定于传输带50上，并将传输带50卷曲置于第一转盘10上，而传输带50则沿着一定的路线经过测试装置30，最后回到第二转盘20，完成整个测试的动作。
参照图2，其所示为传输带上的晶片样本的位置图。传输带50上，每个晶片样本52置于传输带50上，当传输带50上的晶片样本52到达测试装置30时，晶片样本52开始接受测试机的测试，当测试不通过时，该不通过的晶片样本52通过传输带50送至打孔器头40时会被直接打掉，即不通过的晶片样本52为损坏或者不正常的晶片，当测试通过时，该通过的晶片样本52通过传输带50可以通过打孔器头40而不会被打掉，并送至第二转盘20，所以到达第二转盘20的晶片样本52即是正常可用的晶片。
然而，当测试机受到环境的影响，或者操作上的问题，会导致测试机的误判，而测试机的误判，极有可能将许多正常的晶片样本52直接由打孔器头40打掉，造成正常晶片样本的损失。
发明内容
因此，本发明的目的在于提供一种智能型测试机，将测试机连接至探测记录器，用以记录每一个晶片样本的测试结果。
本发明的目的还在于提供一种智能型测试机，其可记录所有晶片样本的测试结果，测试工程师可根据这些测试结果，对晶片样本进行再次测试，用以降低由于测试机误判所造成的损失。
因此，根据本发明提出一种智能型测试机，包括：一带式传输机封装测试机，用以测试多个晶片样本一硬件接口，该硬件接口连接于所述带式传输机封装，通过所述带式传输机封装测试晶片样本，并获得相对应于所述各个晶片样本的多个测试结果，通过所述硬件接口送出这些测试结果；以及一个探测记录器，该探测记录器连接于所述硬件接口，用以接收并记录所述测试结果。
如上所述的智能型测试机，其中所述的每个测试结果为通过/不通过信号或为多个不通过项目的数据；所述的探测记录器为一电脑装置或为一计数器电路。
根据以上所述，测试工程师可以根据探测记录器上的编号来对应每个晶片样本，并根据测试不通过项目的数据，对晶片样本进行再次的测试，从而达到降低由于测试机误判所造成的损失，实现本发明的最主要目的。
附图说明
为使本发明的上述目的、特征和优点能更为明显易懂，下面结合附图对本发明进行详细的描述。
图1为已知TCP测试机的示意图；
图2为传输带上的晶片样本位置图；
图3为本发明智能型测试机的示意图。
具体实施方式
参照图3，其所示为本发明智能型测试机的示意图。与已知测试机的最大的差别在于本发明的测试机利用硬件接口60连接至探测记录器70，该探测记录器70可以是电脑装置或者计数器电路，当尚未测试的晶片样本52以焊接或者粘结技术固定于传输带150上后，并将传输带150卷曲置于第一转盘110上，而传输带150则沿着一定的路线通过测试装置130，最后回到第二转盘120，完成整个测试动作。
而每个晶片样本置于传输带150上，当传输带150上的第一个晶片样本到达测试装置130时，晶片样本开始接受测试机130的测试，当测试不通过时，该不通过的晶片样本52通过传输带150送至打孔器头140时会被直接打掉，而不管测试结果为通过或者不通过时，通过硬件接口60，探测记录器70赋予第一个晶片样本一个编号，并依照此编号来记录第一个晶片样本的状态，例如通过/不通过讯号，以及不通过时的所有不通过项目的数据。依此类推，每一个晶片样本都在探测记录器70上留下样本晶片的编号以及测试结果，并且测试工程师可以根据探测记录器70上的编号来对应每个晶片样本，并根据测试不通过项目的数据，对晶片样本进行再次的测试，达到降低由于测试机误判所造成的损失。
所以，当测试机受到环境的影响或者操作上的问题而导致测试机误判时，测试工程师可以根据探测记录器70上的数据来判断是否是测试机的误判，并找出影响误判的因素，并将晶片样本做再一次的测试，以减少正常晶片样本的无故损失。
因此，本发明的优点在于提出一种智能型测试机，其中将测试机连接至探测记录器，用以记录每一个晶片样本的测试结果。
本发明所提出的智能型测试机，由于可记录所有晶片样本的测试结果，测试工程师可根据测试结果，对晶片样本进行再次的测试，用以降低由于测试机误判所造成的损失。
综上所述，虽然本发明已通过最佳实施例进行了详细的描述，然而这些描述并非用以限定本发明，本领域的任何技术人员，在不脱离本发明的精神和范围的庆奎西，可对这些实施例作出各种的修改与变形，因此本发明的保护范围应由本发明权利要求书所界定。
Claims (5)
1.一种智能型测试机，其特征在于：所述智能型测试机包括：
一带式传输机封装测试机，用以测试多个晶片样本；
一硬件接口，该硬件接口连接于所述带式传输机封装，通过所述带式传输机封装测试晶片样本，并获得相对应于所述各个晶片样本的多个测试结果，通过所述硬件接口送出这些测试结果；以及
一个探测记录器，该探测记录器连接于所述硬件接口，用以接收并记录所述测试结果。
2.如权利要求1所述的智能型测试机，其特征在于：所述每一测试结果为一通过/不通过讯号。
3.如权利要求1所述的智能型测试机，其特征在于：所述每一测试结果为多个不通过项目的数据。
4.如权利要求1所述的智能型测试机，其特征在于：所述探测记录器为一电脑装置。
5.如权利要求1所述的智能型测试机，其特征在于：所述探测记录器为一计数器电路。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| CNB011102969A CN1147927C (zh) | 2001-04-06 | 2001-04-06 | 智能型测试机 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| CNB011102969A CN1147927C (zh) | 2001-04-06 | 2001-04-06 | 智能型测试机 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| CN1379456A CN1379456A (zh) | 2002-11-13 |
| CN1147927C true CN1147927C (zh) | 2004-04-28 |
Family
ID=4658486
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| CNB011102969A Expired - Fee Related CN1147927C (zh) | 2001-04-06 | 2001-04-06 | 智能型测试机 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| CN (1) | CN1147927C (zh) |
-
2001
- 2001-04-06 CN CNB011102969A patent/CN1147927C/zh not_active Expired - Fee Related
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| CN1379456A (zh) | 2002-11-13 |
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