CN114745063B - 基于网格取样与极值获取的本振泄露校准方法及系统 - Google Patents

基于网格取样与极值获取的本振泄露校准方法及系统 Download PDF

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Abstract

本申请公开了一种基于网格取样与极值获取的本振泄露校准方法及系统。首先获取信号源设备在预设输出频率下的检波电压；然后构建检波电压与对应I、Q偏置值的校准模型；其中，通过网格化建模取样来确定检波电压分别与I、Q偏置值的对应关系，从而构建校准模型；最后基于获取的检波电压得到校准模型中I、Q偏置值最优值；将I、Q偏置值最优值作为本振泄露校准值对信号源设备进行校准。本发明通过将寻求预设输出频率下的检波电压对应的最佳的I、Q偏置值的过程建模为寻找极值的过程，大幅降低了算法复杂度，减少了操作次数，实现了在较短的时间内完成校准过程的目标。

Description

基于网格取样与极值获取的本振泄露校准方法及系统
技术领域
本发明涉及信号校准领域，特别涉及一种基于网格取样与极值获取的本振泄露校准方法及系统。
背景技术
本振泄露是泄露到输出口或输入口的本振信号。在信号源设备中，由于上变频模块存在固有的直流偏置，必然会导致存在本振泄露，并从而影响到输出信号的SNR，从而导致输出信号的EVM恶化。但是本振泄露是可以通过设备出厂前的校准来加以调整和抑制的。
常规的本振泄露校准方法是对有限输出范围内的频率按照固定步进进行分隔取样，并进一步对信号的I、Q偏置按照同样的步进进行逐点取样，最终在所有获取到的结果数据样本集中找到极值点，并将此时的I、Q偏置值作为校准值。这种方法有两个明显的缺点：1，穷举法导致要检测的样点过多，导致校准效率低下，要对所有可能的频点进行一遍校准需要很长的时间；2，固定的步进导致校准精度受限于步进大小，得到的校准结果并不是最优。
发明内容
基于此，本申请实施例提供了一种基于网格取样与极值获取的本振泄露校准方法及系统，极大的提高了校准效率和校准精度。
第一方面，提供了一种基于网格取样与极值获取的本振泄露校准方法，该方法包括：
获取信号源设备在预设输出频率下的检波电压；
构建所述检波电压与对应I、Q偏置值的校准模型；其中，通过网格化建模取样来确定所述检波电压分别与I、Q偏置值的对应关系，从而构建所述校准模型；
基于获取的检波电压得到所述校准模型中I、Q偏置值最优值；将所述I、Q偏置值最优值作为本振泄露校准值对所述信号源设备进行校准。
可选地，构建所述检波电压与对应I、Q偏置值的校准模型的具体步骤包括：
S1，设定I、Q偏置值的第一变化区间以及I、Q偏置值进行变化时的第一步进值；
S2，固定初始Q偏置值，以第一步进值遍历所述第一变化区间得到多个I偏置值节点，并获取各个I偏置值节点时的输出检波电压，从而建立I偏置值节点与对应的输出检波电压的变化关系；
S3，基于所述变化关系确定当前迭代批次的最佳I偏置值；
S4，固定所述当前迭代批次的最佳I偏置值，以第一步进值遍历所述第一变化区间得到多个Q偏置值节点，并获取各个Q偏置值节点时的输出检波电压，从而建立Q偏置值节点与对应的输出检波电压的变化关系；
S5，基于所述变化关系确定当前迭代批次的最佳Q偏置值；
S6，设定I、Q偏置值的第二变化区间以及I、Q偏置值进行变化时的第二步进值，并将当前迭代批次所获取的最佳Q偏置值对前一训练批次的初始Q偏置值进行替换，进行下一轮迭代；其中，所述第二变化区间的取值范围小于所述第一变化区间，所述第二步进值小于所述第一步进值。
可选地，基于所述变化关系确定当前迭代批次的最佳I偏置值，包括：
确定I偏置值节点与对应的输出检波电压的变化曲线；
当所述变化曲线具有至少两个极大值点时，则确定输出检波电压最小时所对应的I偏置值作为当前迭代批次的最佳I偏置值；
当所述变化曲线具有只有一个极大值点时，则确定输出检波电压最大时所对应的I偏置值作为当前迭代批次的最佳I偏置值。
可选地，基于所述变化关系确定当前迭代批次的最佳Q偏置值，包括：
确定Q偏置值节点与对应的输出检波电压的变化曲线；
当所述变化曲线具有至少两个极大值点时，则确定输出检波电压最小时所对应的Q偏置值作为当前迭代批次的最佳Q偏置值；
当所述变化曲线具有只有一个极大值点时，则确定输出检波电压最大时所对应的Q偏置值作为当前迭代批次的最佳Q偏置值。
可选地，基于获取的检波电压得到所述校准模型中I、Q偏置值最优值包括：
通过功率计获取信号源设备的输出检波电压。
第二方面，提供了一种基于网格取样与极值获取的本振泄露校准系统，该系统包括：
获取模块，用于获取信号源设备在预设输出频率下的检波电压；
构建模块，用于构建所述检波电压与对应I、Q偏置值的校准模型；其中，通过网格化建模取样来确定所述检波电压分别与I、Q偏置值的对应关系，从而构建所述校准模型；
校准模块，用于基于获取的检波电压得到所述校准模型中I、Q偏置值最优值；将所述I、Q偏置值最优值作为本振泄露校准值对所述信号源设备进行校准。
可选地，所述构建模块中构建所述检波电压与对应I、Q偏置值的校准模型的具体步骤包括：
S1，设定I、Q偏置值的第一变化区间以及I、Q偏置值进行变化时的第一步进值；
S2，固定初始Q偏置值，以第一步进值遍历所述第一变化区间得到多个I偏置值节点，并获取各个I偏置值节点时的输出检波电压，从而建立I偏置值节点与对应的输出检波电压的变化关系；
S3，基于所述变化关系确定当前迭代批次的最佳I偏置值；
S4，固定所述当前迭代批次的最佳I偏置值，以第一步进值遍历所述第一变化区间得到多个Q偏置值节点，并获取各个Q偏置值节点时的输出检波电压，从而建立Q偏置值节点与对应的输出检波电压的变化关系；
S5，基于所述变化关系确定当前迭代批次的最佳Q偏置值；
S6，设定I、Q偏置值的第二变化区间以及I、Q偏置值进行变化时的第二步进值，并将当前迭代批次所获取的最佳Q偏置值对前一训练批次的初始Q偏置值进行替换，进行下一轮迭代；其中，所述第二变化区间的取值范围小于所述第一变化区间，所述第二步进值小于所述第一步进值。
可选地，所述基于所述变化关系确定当前迭代批次的最佳I偏置值，包括：
确定I偏置值节点与对应的输出检波电压的变化曲线；
当所述变化曲线具有至少两个极大值点时，则确定输出检波电压最小时所对应的I偏置值作为当前迭代批次的最佳I偏置值；
当所述变化曲线具有只有一个极大值点时，则确定输出检波电压最大时所对应的I偏置值作为当前迭代批次的最佳I偏置值。
可选地，所述基于所述变化关系确定当前迭代批次的最佳Q偏置值，包括：
确定Q偏置值节点与对应的输出检波电压的变化曲线；
当所述变化曲线具有至少两个极大值点时，则确定输出检波电压最小时所对应的Q偏置值作为当前迭代批次的最佳Q偏置值；
当所述变化曲线具有只有一个极大值点时，则确定输出检波电压最大时所对应的Q偏置值作为当前迭代批次的最佳Q偏置值。
可选地，所述校准模块中基于获取的检波电压得到所述校准模型中I、Q偏置值最优值包括：
通过功率计获取信号源设备的输出检波电压。
本申请实施例提供的技术方案中首先获取信号源设备在预设输出频率下的检波电压；然后构建检波电压与对应I、Q偏置值的校准模型；其中，通过网格化建模取样来确定检波电压分别与I、Q偏置值的对应关系，从而构建校准模型；最后基于获取的检波电压得到校准模型中I、Q偏置值最优值；将I、Q偏置值最优值作为本振泄露校准值对信号源设备进行校准。
可以看出，本发明通过将寻求预设输出频率下的检波电压对应的最佳的（I，Q）校准数据的过程建模为寻找极值的过程，大幅降低了算法复杂度，减少了操作次数，实现了在较短的时间内完成校准过程的目标。
附图说明
为了更清楚地说明本发明的实施方式或现有技术中的技术方案，下面将对实施方式或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍。显而易见地，下面描述中的附图仅仅是示例性的，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据提供的附图引伸获得其它的实施附图。
图1为本申请实施例提供的一种基于网格取样与极值获取的本振泄露校准方法流程图；
图2为本申请实施例中偏置值节点与对应的输出检波电压的变化关系图；
图3为本申请实施例中另一种偏置值节点与对应的输出检波电压的变化关系图；
图4为本申请实施例中提供的算法中构建部分的流程图；
图5为本申请实施例中提供的算法中判断部分的流程图；
图6为本申请实施例中提供的算法中迭代部分的流程图；
图7为本申请实施例提供检波电压与对应I、Q偏置值的校准模型（山峰形）；
图8为本申请实施例提供检波电压与对应I、Q偏置值的校准模型（马鞍形）。
具体实施方式
为了使本申请的目的、技术方案及优点更加清楚明白，以下结合附图及实施例，对本申请进行进一步详细说明。应当理解，此处描述的具体实施例仅仅用以解释本申请，并不用于限定本申请。
在本发明的描述中，除非另有说明“多个”的含义是两个或两个以上。本发明的说明书和权利要求书及上述附图中的术语“第一”、“第二”、“第三”“第四”等（如果存在）旨在区别指代的对象。对于具有时序流程的方案，这种术语表述方式不必理解为描述特定的顺序或先后次序，对于装置结构的方案，这种术语表述方式也不存在对重要程度、位置关系的区分等。
此外，术语“包括”、“具有”以及他们的任何变形，意图在于覆盖不排他的包含，例如，包括了一系列步骤或单元的过程、方法、系统、产品或设备不必限于已明确列出的那些步骤或单元，而是还可包含虽然并未明确列出的但对于这些过程、方法、产品或设备固有的其它步骤或单元，或者基于本发明构思进一步的优化方案所增加的步骤或单元。
请参考图1，其示出了本申请实施例提供的一种基于网格取样与极值获取的本振泄露校准方法的流程图，该方法可以包括以下步骤：
步骤101，获取信号源设备在预设输出频率下的检波电压。
在本申请实施例中使用I、Q偏置与检波电压之间的关联关系来对本振泄露进行校准，最终的目的是找到在给定的输出频率下，检波电压处于最大或最小值时的I、Q偏置值，并将这些值作为该频率时的校准值，从而完成对直流偏置的补偿，改善本振泄露。用数学语言描述就是：对于函数p=f(I, Q)，在有效范围内找到一组I、Q，使得使用该组值时得到的检波电压p最大或最小。其中，检波电压p是一个实际测量出的物理值。
可见，上述过程类似于要在三维空间的一个不连续曲面上找极值。根据工程经验，这样的一个三维空间中，p值是随着I、Q的变化逐渐变化而非跳跃变化的。这就为本申请采用网格化的建模取样方法来寻找极值提供了可行性。
步骤102，构建检波电压与对应I、Q偏置值的校准模型。
其中，通过网格化建模取样来确定检波电压分别与I、Q偏置值的对应关系，从而构建校准模型。
在本申请实施例中，构建检波电压与对应I、Q偏置值的校准模型的具体构成包括了：
S1，设定I、Q偏置值的第一变化区间以及I、Q偏置值进行变化时的第一步进值。
具体地，在S1中，限定I和Q的变化区间，一般取值为-10000到10000之间，设定步进为100（即第一步进值）。
S2，固定初始Q偏置值，以第一步进值遍历第一变化区间得到多个I偏置值节点，并获取各个I偏置值节点时的输出检波电压，从而建立I偏置值节点与对应的输出检波电压的变化关系。
具体地，在S2中，固定初始Q偏置值为0，即Q=0，I则从-10000开始以步进100一直变化到10000，每给一个不同的I值，都使用功率计获取设备的输出检波电压p。这样工作200次之后，得到200个p值。此时，可以构建一个以I为横轴，以p为纵轴的坐标系，从而建立I偏置值节点与对应的输出检波电压的变化关系。
S3，基于变化关系确定当前迭代批次的最佳I偏置值。
经过S2后在实际测试中形成的曲线呈现为图2或图3两种形态。
在图2中，变化曲线呈马鞍形，即变化曲线具有至少两个极大值点时，则确定输出检波电压最小时Pmin所对应的I偏置值Ifit作为当前迭代批次的最佳I偏置值，即找到（Pmin，Ifit）。
在图3中，变化曲线呈山峰形，即变化曲线只有一个极大值点时，则确定输出检波电压最大时Pmax所对应的I偏置值Ifit作为当前迭代批次的最佳I偏置值，即找到（Pmax，Ifit）。
可选地，也可以通过人工确定极值点以得到最佳I偏置值。
S4，固定当前迭代批次的最佳I偏置值，以第一步进值遍历第一变化区间得到多个Q偏置值节点，并获取各个Q偏置值节点时的输出检波电压，从而建立Q偏置值节点与对应的输出检波电压的变化关系。
S5，基于变化关系确定当前迭代批次的最佳Q偏置值。
以S3中得到的最佳I偏置值进行固定后，与S2-S3中其余方法对应的，建立Q偏置值节点与对应的输出检波电压的变化关系，进而找到（Pmin，Ifit）或（Pmax，Ifit）。
S6，设定I、Q偏置值的第二变化区间以及I、Q偏置值进行变化时的第二步进值，并将当前迭代批次所获取的最佳Q偏置值对前一训练批次的初始Q偏置值进行替换，进行下一轮迭代；其中，第二变化区间的取值范围小于第一变化区间，第二步进值小于第一步进值。
此时已经得到了当前批次的最佳I、Q偏置值Ifit和Qfit，基于当前批次的最佳I、Q偏置值，设定第二变化区间和第二步进值，具体地第二变化区间可以为一般取值为-5000到5000之间，即Ifit±5000，Qfit±5000，设定步进为50。
然后，固定Q=Qfit，进行新一轮迭代得到新一组（p，I）曲线，下一轮迭代最佳的Ifit`；然后，固定I=Ifit`，在Qfit-5000到Qfit+5000之间经过200次的设置-读取周期，得到另外一组（p，Q）曲线，并用同样的方法找到最佳的Qfit`，即完成新一轮迭代。
最后进入如下的循环过程：步进分别为20、5、1，取值区间分别为±1000、±100、±10，使用同样的设置-读取过程，不断的缩小I、Q偏置值的取值空间，直至在步进为1时，找到最合适的一组I、Q偏置值，并记录该组数值为最终的校准值。
步骤103，基于获取的检波电压得到校准模型中I、Q偏置值最优值；将I、Q偏置值最优值作为本振泄露校准值对信号源设备进行校准。
根据步骤102模型中得到的I、Q偏置值最优值作为校准值对信号源设备进行校准。
以下给出一个具体算法过程实施例的构建部分：其中如图4，具体地：
A1，初始化变化区间的最大值和最小值EQUMin、EQUMax、以及步进值EQUStep。并设置IBias=EQUMin，初始Q偏置值QBias=0；
A2，根据本振频率，设置rfSpan为5G或8G(SLsetRFSpan)，并启动IF输出；
A3，使用(IBias, Qbias)偏置值来配置设备并启动设备输出；
A4，获取并记录检波电压P及此时的IBias到数组A中IBias+=EQUStep；
A5，对是否IBias<=EQUMax进行判断，若否则返回A3，若是则执行B1。
其中如图5为实施例的判断部分，具体地：
B1，在数组A中，根据电压-IBias曲线是马鞍形还是山峰形，确定出IBias的最佳值IBest及最小最大值IMin、IMax，IBias=IBest，QBias=EQUMin；
B2，使用(IBias, Qbias)偏置值来配置设备并启动设备输出；
B3，获取并记录检波电压P及此时的QBias到数组B中QBias+=EQUStep；
B4，判断是否QBias<=EQUMax，若否则执行B5，若是则执行B2；
B5，在数组B中，根据电压-QBias曲线是马鞍形还是山峰形，确定出QBias的最佳值QBest及最小最大值QMin、QMax；
B6，使得IBias=IMin，EQUStep=EQUStep/2QBias=Qbest校准计数=1；
在B6之后为迭代部分，其中具体如图6所示有：
C1，根据A的形状，在IMin和IMax之间改变IBias，读取检波电压，找到这个过程中的最大值(山峰形)或最小值(马鞍形)，并将此时的IBias记为IBest；
C2，使得QBias=QMin，IBias=IBest；
C3，根据B的形状，在QMin和QMax之间改变QBias，读取检波电压，找到这个过程中的最大值(山峰形)或最小值(马鞍形)，并将此时的QBias记为Qbest，校准计数++。
C4，校准计数==
在C4之后，本实施例分别设置了迭代第2、3、4次，其中当迭代第2次时有：
IMax=IBest+100
IMin=IBest-100
QMax=QBest+100
QMin=QBest-100
EQUStep=5
然后重新执行C1；
当迭代第3次时有：
IMax=IBest+10
IMin=IBest-10
QMax=QBest+10
QMin=QBest-10
EQUStep=1
然后重新执行C1；
当迭代第4次时有，C4完成后记录当前的IBest和QBest，算法结束。
在上述过程中，我们一共进行了2×200+2×200+2×50+2×20+2×10=960次设置I或Q并读取检波电压的过程。以每一个设置-读取过程耗时50ms计算，整个算法过程可在1分钟内结束。
上述过程实质上等同于在3D曲面上找极值并逐步提高精度以逼近最佳值的过程，如图7和图8所示，其中图7为山峰形时，检波电压与对应I、Q偏置值的校准模型；其中图8为马鞍形时，检波电压与对应I、Q偏置值的校准模型。
上述算法通过将寻求最佳的（I，Q）校准数据的过程建模为在三维空间不连续曲面上寻找极值的过程，并结合工程实践经验，将三维问题分解为多个步骤的二维曲线寻找极值的过程，大幅降低了算法复杂度，减少了操作次数，实现了在较短的时间内完成校准过程的目标。
如果使用穷举法，以I、Q取值范围为±10000，步进100为例，即使在校准误差在±100的情况下，操作次数也近似达到100×100=10000次，校准一个频点的用时要超出新的算法一个数量级。显然，新的算法无论是在效率上还是精度上，都全面超越了穷举法。
该算法不仅适用于本振泄露的校准过程。类似的信号杂散的校准等过程也可以借鉴使用该算法来实现，以使得校准过程在工程层面具备可行性，极大的提高校准效率和精度。
本申请实施例还提供的一种基于网格取样与极值获取的本振泄露校准系统。系统包括：
获取模块，用于获取信号源设备在预设输出频率下的检波电压；
构建模块，用于构建检波电压与对应I、Q偏置值的校准模型；其中，通过网格化建模取样来确定检波电压分别与I、Q偏置值的对应关系，从而构建校准模型；
校准模块，用于基于获取的检波电压得到校准模型中I、Q偏置值最优值；将I、Q偏置值最优值作为本振泄露校准值对信号源设备进行校准。
在本申请一个可选的实施例中，构建模块中构建检波电压与对应I、Q偏置值的校准模型的具体步骤包括：
S1，设定I、Q偏置值的第一变化区间以及I、Q偏置值进行变化时的第一步进值；
S2，固定初始Q偏置值，以第一步进值遍历第一变化区间得到多个I偏置值节点，并获取各个I偏置值节点时的输出检波电压，从而建立I偏置值节点与对应的输出检波电压的变化关系；
S3，基于变化关系确定当前迭代批次的最佳I偏置值；
S4，固定当前迭代批次的最佳I偏置值，以第一步进值遍历第一变化区间得到多个Q偏置值节点，并获取各个Q偏置值节点时的输出检波电压，从而建立Q偏置值节点与对应的输出检波电压的变化关系；
S5，基于变化关系确定当前迭代批次的最佳Q偏置值；
S6，设定I、Q偏置值的第二变化区间以及I、Q偏置值进行变化时的第二步进值，并将当前迭代批次所获取的最佳Q偏置值对前一训练批次的初始Q偏置值进行替换，进行下一轮迭代；其中，第二变化区间的取值范围小于第一变化区间，第二步进值小于第一步进值。
在本申请一个可选的实施例中，基于变化关系确定当前迭代批次的最佳I偏置值，包括：
确定I偏置值节点与对应的输出检波电压的变化曲线；
当变化曲线具有至少两个极大值点时，则确定输出检波电压最小时所对应的I偏置值作为当前迭代批次的最佳I偏置值；
当变化曲线具有只有一个极大值点时，则确定输出检波电压最大时所对应的I偏置值作为当前迭代批次的最佳I偏置值。
在本申请一个可选的实施例中，基于变化关系确定当前迭代批次的最佳Q偏置值，包括：
确定Q偏置值节点与对应的输出检波电压的变化曲线；
当变化曲线具有至少两个极大值点时，则确定输出检波电压最小时所对应的Q偏置值作为当前迭代批次的最佳Q偏置值；
当变化曲线具有只有一个极大值点时，则确定输出检波电压最大时所对应的Q偏置值作为当前迭代批次的最佳Q偏置值。
在本申请一个可选的实施例中，校准模块中基于获取的检波电压得到校准模型中I、Q偏置值最优值包括：
通过功率计获取信号源设备的输出检波电压。
本申请实施例提供的基于网格取样与极值获取的本振泄露校准系统用于实现上述基于网格取样与极值获取的本振泄露校准方法，关于基于网格取样与极值获取的本振泄露校准系统的具体限定可以参见上文中对于基于网格取样与极值获取的本振泄露校准方法的限定，在此不再赘述。上述基于网格取样与极值获取的本振泄露校准系统中的各个部分可全部或部分通过软件、硬件及其组合来实现。上述各模块可以硬件形式内嵌于或独立于设备中的处理器中，也可以以软件形式存储于设备中的存储器中，以便于处理器调用执行以上各个模块对应的操作。
以上所述实施例的各技术特征可以进行任意的组合，为使描述简洁，未对上述实施例中的各个技术特征所有可能的组合都进行描述，然而，只要这些技术特征的组合不存在矛盾，都应当认为是本说明书记载的范围。
以上所述实施例仅表达了本申请的几种实施方式，其描述较为具体和详细，但并不能因此而理解为对申请专利范围的限制。应当指出的是，对于本领域的普通技术人员来说，在不脱离本申请构思的前提下，还可以做出若干变形和改进，这些都属于本申请的保护范围。因此，本申请专利的保护范围应以所附权利要求为准。

Claims (8)

1.一种基于网格取样与极值获取的本振泄露校准方法，其特征在于，所述方法包括：
获取信号源设备在预设输出频率下的检波电压；
构建所述检波电压与对应I、Q偏置值的校准模型；其中，通过网格化建模取样来确定所述检波电压分别与I、Q偏置值的对应关系，从而构建所述校准模型；
基于获取的检波电压得到所述校准模型中I、Q偏置值最优值；将所述I、Q偏置值最优值作为本振泄露校准值对所述信号源设备进行校准；
构建所述检波电压与对应I、Q偏置值的校准模型的具体步骤包括：
S1，设定I、Q偏置值的第一变化区间以及I、Q偏置值进行变化时的第一步进值；
S2，固定初始Q偏置值，以第一步进值遍历所述第一变化区间得到多个I偏置值节点，并获取各个I偏置值节点时的输出检波电压，从而建立I偏置值节点与对应的输出检波电压的变化关系；
S3，基于所述变化关系确定当前迭代批次的最佳I偏置值；
S4，固定所述当前迭代批次的最佳I偏置值，以第一步进值遍历所述第一变化区间得到多个Q偏置值节点，并获取各个Q偏置值节点时的输出检波电压，从而建立Q偏置值节点与对应的输出检波电压的变化关系；
S5，基于所述变化关系确定当前迭代批次的最佳Q偏置值；
S6，设定I、Q偏置值的第二变化区间以及I、Q偏置值进行变化时的第二步进值，并将当前迭代批次所获取的最佳Q偏置值对前一训练批次的初始Q偏置值进行替换，进行下一轮迭代；其中，所述第二变化区间的取值范围小于所述第一变化区间，所述第二步进值小于所述第一步进值。
2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，基于所述变化关系确定当前迭代批次的最佳I偏置值，包括：
确定I偏置值节点与对应的输出检波电压的变化曲线；
当所述变化曲线具有至少两个极大值点时，则确定输出检波电压最小时所对应的I偏置值作为当前迭代批次的最佳I偏置值；
当所述变化曲线具有只有一个极大值点时，则确定输出检波电压最大时所对应的I偏置值作为当前迭代批次的最佳I偏置值。
3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，基于所述变化关系确定当前迭代批次的最佳Q偏置值，包括：
确定Q偏置值节点与对应的输出检波电压的变化曲线；
当所述变化曲线具有至少两个极大值点时，则确定输出检波电压最小时所对应的Q偏置值作为当前迭代批次的最佳Q偏置值；
当所述变化曲线具有只有一个极大值点时，则确定输出检波电压最大时所对应的Q偏置值作为当前迭代批次的最佳Q偏置值。
4.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述基于获取的检波电压得到所述校准模型中I、Q偏置值最优值包括：
通过功率计获取信号源设备的输出检波电压。
5.一种基于网格取样与极值获取的本振泄露校准系统，其特征在于，所述系统包括：
获取模块，用于获取信号源设备在预设输出频率下的检波电压；
构建模块，用于构建所述检波电压与对应I、Q偏置值的校准模型；其中，通过网格化建模取样来确定所述检波电压分别与I、Q偏置值的对应关系，从而构建所述校准模型；
校准模块，用于基于获取的检波电压得到所述校准模型中I、Q偏置值最优值；将所述I、Q偏置值最优值作为本振泄露校准值对所述信号源设备进行校准；
所述构建模块中构建所述检波电压与对应I、Q偏置值的校准模型的具体步骤包括：
S1，设定I、Q偏置值的第一变化区间以及I、Q偏置值进行变化时的第一步进值；
S2，固定初始Q偏置值，以第一步进值遍历所述第一变化区间得到多个I偏置值节点，并获取各个I偏置值节点时的输出检波电压，从而建立I偏置值节点与对应的输出检波电压的变化关系；
S3，基于所述变化关系确定当前迭代批次的最佳I偏置值；
S4，固定所述当前迭代批次的最佳I偏置值，以第一步进值遍历所述第一变化区间得到多个Q偏置值节点，并获取各个Q偏置值节点时的输出检波电压，从而建立Q偏置值节点与对应的输出检波电压的变化关系；
S5，基于所述变化关系确定当前迭代批次的最佳Q偏置值；
S6，设定I、Q偏置值的第二变化区间以及I、Q偏置值进行变化时的第二步进值，并将当前迭代批次所获取的最佳Q偏置值对前一训练批次的初始Q偏置值进行替换，进行下一轮迭代；其中，所述第二变化区间的取值范围小于所述第一变化区间，所述第二步进值小于所述第一步进值。
6.根据权利要求5所述的系统，其特征在于，所述基于所述变化关系确定当前迭代批次的最佳I偏置值，包括：
确定I偏置值节点与对应的输出检波电压的变化曲线；
当所述变化曲线具有至少两个极大值点时，则确定输出检波电压最小时所对应的I偏置值作为当前迭代批次的最佳I偏置值；
当所述变化曲线具有只有一个极大值点时，则确定输出检波电压最大时所对应的I偏置值作为当前迭代批次的最佳I偏置值。
7.根据权利要求5所述的系统，其特征在于，所述基于所述变化关系确定当前迭代批次的最佳Q偏置值，包括：
确定Q偏置值节点与对应的输出检波电压的变化曲线；
当所述变化曲线具有至少两个极大值点时，则确定输出检波电压最小时所对应的Q偏置值作为当前迭代批次的最佳Q偏置值；
当所述变化曲线具有只有一个极大值点时，则确定输出检波电压最大时所对应的Q偏置值作为当前迭代批次的最佳Q偏置值。
8.根据权利要求5所述的系统，其特征在于，所述校准模块中基于获取的检波电压得到所述校准模型中I、Q偏置值最优值包括：
通过功率计获取信号源设备的输出检波电压。
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