CN114669510A - 适用于生产线的误触纠正系统及方法 - Google Patents

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Abstract

本发明涉及生产线检测技术领域，为了解决检测装置误触发造成的产品误剔除问题，提供了适用于生产线的误触纠正系统，包括：第一光电传感器，控制器，采集装置，检测装置。方法包括：1、待检品触发第一光电传感器后，第一光电传感器将检测信号发送至与之连接的控制器；2、控制器接收检测信号、记录检测时间t0并向采集装置下发采集指令；3、采集装置采集待检品的待测数据，并将待测数据传送至检测装置；4、步骤4、检测装置接收待测数据并获取待测数据接收时间t1，当t0与t1的时间差小于阈值时为有效触发，检测装置根据待测数据对待检品进行检测，否则为无效触发，检测装置忽略该待测数据。采用上述方式可以有效避免误触发引起的误剔除问题。

Description

适用于生产线的误触纠正系统及方法
技术领域
本发明涉及生产线检测技术领域，具体是一种适用于生产线的误触纠正系统及方法。
背景技术
在工业生产过程中，检测是保障产品出厂质量的最关键环节，自动化检测已成为智能制造改造中的关键环节，设备取代人工进行检测具备诸多优势。但是工业现场用电环境恶劣，存在诸多工业杂波，而大量运用地变频设备进一步地恶化了工业现场用电环境，给精密的检测设备，尤其是视觉相机的运行带来了极大的挑战。检测设备基本工作在触发模式下，由光电传感器感应待检物到达情况并发送12-24v区间的特定频率信号至检测数据获取设备(如工业相机)。当杂波存在时，工业相机和传感器都会偶发误触发，即杂波中包含了能够触发相机读取电路工作的电压频率分量，导致产品在不正确的位置采集了错误的数据，这些错误触发可能引发系统连锁性不良反应，干扰整个产线的正常运行。目前主要的解决办法集中在电路净化，如在电路中加入滤波器、磁环等，但并不能完全屏蔽掉干扰杂波。
发明内容
为了解决检测装置误触发造成的产品误剔除问题，本申请提供了一种适用于生产线的误触纠正系统及方法。
本发明解决上述问题所采用的技术方案是：
适用于生产线的误触纠正系统，包括：
第一光电传感器：用于检测待检品的到达，并将检测信号发送至与之连接的控制器；
控制器：用于接收检测信号、记录检测时间t0并向采集装置下发采集指令；
采集装置：用于待检品的待测数据采集，并将待测数据传送至检测装置；
检测装置：用于接收待测数据并获取待测数据接收时间t1，当t0与t1的时间差小于阈值时，根据待测数据对待检品进行检测。
进一步地，还包括剔除装置，所述控制器根据检测装置的检测结果向剔除装置下发剔除指令，剔除装置根据剔除指令完成剔除操作。
进一步地，所述剔除装置包括第二光电传感器和剔除执行单元，所述第二光电传感器用于检测待检品的到达，当待检品触发第二光电传感器时，控制器获取当前时刻T3，并根据T3及预设的Δt向剔除执行单元下发剔除指令，剔除执行单元用于根据剔除指令完成剔除操作。
进一步地，所述阈值为两个待检品最小间距情况下在当前产线速度下触发同一个光电传感器的时间间隔。
进一步地，所述采集装置为工业相机。
适用于生产线的误触纠正方法，应用于适用于生产线的误触纠正系统，包括：
步骤1、待检品触发第一光电传感器后，第一光电传感器将检测信号发送至与之连接的控制器；
步骤2、控制器接收检测信号、记录检测时间t0并向采集装置下发采集指令；
步骤3、采集装置采集待检品的待测数据，并将待测数据传送至检测装置；
步骤4、步骤4、检测装置接收待测数据并获取待测数据接收时间t1，当t0与t1的时间差小于阈值时为有效触发，检测装置根据待测数据对待检品进行检测，否则为无效触发，检测装置忽略该待测数据。
进一步地，还包括步骤5、控制器根据检测装置的检测结果向剔除装置下发剔除指令，剔除装置根据剔除指令完成剔除操作。
进一步地，所述步骤5包括：
步骤51、控制器向检测装置获取检测结果；
步骤52、控制器将该待检品的触发时间t0及对应的检测结果存入缓存空间；
步骤53、当待检品触发第二光电传感器时，控制器获取当前时刻T3，并遍历缓存空间寻找最接近T3的t0+Δt，并根据最接近的t0对应的检测结果向剔除执行单元下发剔除指令，Δt为预设值；
步骤54、剔除执行单元根据剔除指令完成剔除操作。
进一步地，Δt为待检品触发第一光电传感器到触发第二光电传感器所需的时间。
进一步地，所述阈值为两个待检品最小间距情况下在当前产线速度下触发同一个光电传感器的时间间隔。
本发明相比于现有技术具有的有益效果是：利用传感器触发控制器记录时刻，以时刻对待检物进行虚拟标记，通过时间对比可以有效避免系统的误触发，从而确保后续残次品剔除的准确性，具有系统简洁、精准度高、自我校正等特点。
附图说明
图1为适用于生产线的误触纠正系统的系统架构图；
图2为适用于生产线的误触纠正方法的流程图。
具体实施方式
为了使本发明的目的、技术方案及优点更加清楚明白，以下结合实施例，对本发明进行进一步的详细说明。应当理解，此处所描述的具体实施例仅仅用以解释本发明，并不用于限定本发明。
如图1所示，适用于生产线的误触纠正系统，包括：
第一光电传感器：用于检测待检品的到达，并将检测信号发送至与之连接的控制器；
控制器：用于接收检测信号、记录检测时间t0并向采集装置下发采集指令，如PLC；
采集装置：用于待检品的待测数据采集，并将待测数据传送至检测装置；
检测装置：用于接收待测数据并获取待测数据接收时间t1，当t0与t1的时间差小于阈值时，根据待测数据对待检品进行检测。
当t0与t1的时间差小于阈值时，表明当前触发为有效触发，否则为无效触发，根据时间差可以有效剔除误触发，对于误触发系统将不做处理，从而保证系统的正常运行。
具体的，所述阈值为两个待检品最小间距情况下在当前产线速度下触发同一个光电传感器的时间间隔，所述采集装置为工业相机。
进一步地，还包括剔除装置，所述控制器根据检测装置的检测结果向剔除装置下发剔除指令，剔除装置根据剔除指令完成剔除操作，所述剔除装置包括第二光电传感器和剔除执行单元，当待检品触发第二光电传感器时，控制器获取当前时刻T3，并根据T3及预设的Δt向剔除执行单元下发剔除指令，剔除执行单元根据剔除指令完成剔除操作。
如图2所示，适用于生产线的误触纠正方法，应用于适用于生产线的误触纠正系统，包括：
步骤1、待检品触发第一光电传感器后，第一光电传感器将检测信号发送至与之连接的控制器；
步骤2、控制器接收检测信号、记录检测时间t0并向采集装置下发采集指令；
步骤3、采集装置采集待检品的待测数据，并将待测数据传送至检测装置；
步骤4、检测装置接收待测数据并获取待测数据接收时间t1，当t0与t1的时间差小于阈值时为有效触发，检测装置根据待测数据对待检品进行检测，否则为无效触发，检测装置忽略该待测数据；所述阈值为两个待检品最小间距情况下在当前产线速度下触发同一个光电传感器的时间间隔。
进一步地，还包括步骤5、控制器根据检测装置的检测结果向剔除装置下发剔除指令，剔除装置根据剔除指令完成剔除操作。
具体的，所述步骤5包括：
步骤51、控制器向检测装置获取检测结果；
步骤52、控制器将该待检品的触发时间t0及对应的检测结果存入缓存空间；
步骤53、当待检品触发第二光电传感器时，控制器获取当前时刻T3，并遍历缓存空间寻找最接近T3的t0+Δt，并根据最接近的t0对应的检测结果向剔除执行单元下发剔除指令，Δt为预设值，具体为待检品从第一光电传感器到第二光电传感器所需的时间；
步骤54、剔除执行单元根据剔除指令完成剔除操作。

Claims (10)

1.适用于生产线的误触纠正系统，其特征在于，包括：
第一光电传感器：用于检测待检品的到达，并将检测信号发送至与之连接的控制器；
控制器：用于接收检测信号、记录检测时间t0并向采集装置下发采集指令；
采集装置：用于待检品的待测数据采集，并将待测数据传送至检测装置；
检测装置：用于接收待测数据并获取待测数据接收时间t1，当t0与t1的时间差小于阈值时，根据待测数据对待检品进行检测。
2.根据权利要求1所述的适用于生产线的误触纠正系统，其特征在于，还包括剔除装置，所述控制器根据检测装置的检测结果向剔除装置下发剔除指令，剔除装置根据剔除指令完成剔除操作。
3.根据权利要求2所述的适用于生产线的误触纠正系统，其特征在于，所述剔除装置包括第二光电传感器和剔除执行单元，所述第二光电传感器用于检测待检品的到达，当待检品触发第二光电传感器时，控制器获取当前时刻T3，并根据T3及预设的Δt向剔除执行单元下发剔除指令，剔除执行单元用于根据剔除指令完成剔除操作。
4.根据权利要求1所述的适用于生产线的误触纠正系统，其特征在于，所述阈值为两个待检品最小间距情况下在当前产线速度下触发同一个光电传感器的时间间隔。
5.根据权利要求1-4任意一项所述的适用于生产线的误触纠正系统，其特征在于，所述采集装置为工业相机。
6.适用于生产线的误触纠正方法，应用于权利要求1-5任意一项所述的适用于生产线的误触纠正系统，其特征在于，包括：
步骤1、待检品触发第一光电传感器后，第一光电传感器将检测信号发送至与之连接的控制器；
步骤2、控制器接收检测信号、记录检测时间t0并向采集装置下发采集指令；
步骤3、采集装置采集待检品的待测数据，并将待测数据传送至检测装置；
步骤4、检测装置接收待测数据并获取待测数据接收时间t1，当t0与t1的时间差小于阈值时为有效触发，检测装置根据待测数据对待检品进行检测，否则为无效触发，检测装置忽略该待测数据。
7.根据权利要求6所述的适用于生产线的误触纠正方法，其特征在于，还包括步骤5、控制器根据检测装置的检测结果向剔除装置下发剔除指令，剔除装置根据剔除指令完成剔除操作。
8.根据权利要求7所述的适用于生产线的误触纠正方法，其特征在于，所述步骤5包括：
步骤51、控制器向检测装置获取检测结果；
步骤52、控制器将该待检品的触发时间t0及对应的检测结果存入缓存空间；
步骤53、当待检品触发第二光电传感器时，控制器获取当前时刻T3，并遍历缓存空间寻找最接近T3的t0+Δt，并根据最接近的t0对应的检测结果向剔除执行单元下发剔除指令，Δt为预设值；
步骤54、剔除执行单元根据剔除指令完成剔除操作。
9.根据权利要求8所述的适用于生产线的误触纠正方法，其特征在于，Δt为待检品触发第一光电传感器到触发第二光电传感器所需的时间。
10.根据权利要求6-9任意一项所述的适用于生产线的误触纠正方法，其特征在于，所述阈值为两个待检品最小间距情况下在当前产线速度下触发同一个光电传感器的时间间隔。
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