CN114651171A - 自动分析装置 - Google Patents

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Abstract

本发明的目的在于提供一种自动分析装置，通过将多个LED光进行合波能够在宽的波段得到稳定的光量，并且能够使各LED元件的温度特性一致。参照图3，本发明的自动分析装置构成为来自第二LED的出射光被反射，由此与来自第一LED的出射光在相同的光轴上合波，所述第一LED和所述第二LED与同一温度调整部件相接触。

Description

自动分析装置
技术领域
本发明涉及对试样中含有的成分量进行分析的自动分析装置。
背景技术
在用于对血液、尿等生物试样中包含的蛋白质、糖、脂质、酶、激素、无机离子、疾病标记物等的成分量进行分析的自动分析装置中，通常对液体容纳用容器分注检体和试剂，基于吸光、荧光、发光等光学特性的变化来对检查项目进行分析。在自动分析装置的吸光分析中使用如下方法：向试样或试样与试剂混合而成的反应溶液照射来自光源的光，通过受光元件测定经过了试样或反应溶液的单一或多个测定波长的透射光量来计算吸光度，根据吸光度与浓度的关系求出成分量。
关于吸光分析的光源，优选为了应对多个检查项目从而发光光谱宽，另外，为了进行高精度的吸光度测量，在测定波长中稳定地得到一定以上的光量的光源。因此，目前使用氙灯、卤素灯等。这些光源能够得到一定以上的光量，另一方面，到光量稳定为止的时间大约为30分钟左右比较长。并且，光量大相应地能耗也大，寿命也是有限的，例如在卤素灯的情况下需要约1，000小时进行更换，作为自动分析装置的维护频度高。
近年来，作为吸光分析的光源，正在研究可期待长寿命的发光二极管(LightEmitting Diode，以下称为LED)。例如，专利文献1记载了通过滤光片对卤素灯光和紫外光的LED光进行合波的结构。特别是在紫外光时卤素灯的光量降低显著，因此在该文献中使用紫外光的LED。该文献还尝试了在对卤素灯光与紫外光的LED光进行合波时，通过使用在滤光片进行部分反射的光来监视光量劣化，从而维持高精度的分析性能。
在使用LED作为吸光分析的光源时，担心由于点亮时的自身发热或环境温度，发光光谱和光量发生变化从而分析精度降低。为了防止这种情况，在专利文献2中，使用LED测光部与反应单元(收纳试样或反应溶液的部件)相接触的调温块。该文献通过使用LED来实现装置的紧凑化，并且将LED的发光元件固定在热容量大的部件上来进行预热温度调整。由此，不会受到外部气体温度和自身发热的影响而将LED元件保持在一定范围的温度，由此能够得到一定水平以上的光量稳定性。
自动分析装置根据作为测定对象的成分，所使用的试剂和光的波长不同，其波长范围为340nm～800nm的大范围。因此，难以用1个LED光覆盖全波段，使用多个LED。作为自动分析装置的吸光分析方法，已知有2波长测定法。该方法通过同时测定2个波长的光，从而高精度地对测定对象的浓度进行定量。在该测定方法中，以各波长的光相对于反应溶液光轴与光量分布一致为前提，在它们不一致的情况下，无法得到2波长测定法的本来的精度良好的定量效果。例如，在使用光轴或光量分布不一致的2个波长的光实施了2波长测定法时，与它们一致的情况相比，容易受到气泡等干扰的影响，精度或准确度显著降低。因此，在专利文献3中提出了如下改进：通过在光源与反应单元之间设置狭缝，使得不会产生由光量分布引起的光源图像的影响。
如以上所例示的那样，在使用LED作为自动分析装置的吸光分析的光源时，为了得到高精度的分析性能，需要在光学系统和温度调整系统中分别进行改进。
现有技术文献
专利文献
专利文献1：日本专利第6294186号
专利文献2：日本专利第3964291号
专利文献3：日本特开2018-105739号公报
发明内容
发明所要解决的课题
在使用LED作为自动分析装置的吸光分析的光源时，为了得到高精度的分析性能，需要使多个LED光的合波光轴与光量分布一致来得到一定以上的光量。另外，为了通过2波长测定法来实施高精度的定量分析，需要使多个LED发光元件的温度特性一致。作为对多个LED光进行合波的结构，例如可以考虑基于滤光片的垂直入射。但是，当根据垂直入射来配置多个LED时，若各LED发光元件的温度控制独立，则难以使各LED的温度特性一致。
本发明是鉴于上述那样的课题而做出的，其目的在于提供一种自动分析装置，其通过对多个LED光进行合波而能够在宽的波段获得稳定的光量，并且能够使各LED元件的温度特性一致。
用于解决课题的手段
本发明的自动分析装置构成为通过来自第二LED的出射光被反射，与来自第一LED的出射光在相同的光轴上合波，所述第一LED和所述第二LED与同一温度调整部件相接触。
发明效果
根据本发明的自动分析装置，通过将第一LED和第二LED在同一光轴上合波，能够在宽的波段获得稳定的光量。另外，通过使第一LED和第二LED与相同的温度调整部件接触，能够以简易的结构使各LED的温度特性一致。通过以下的实施方式的说明，上述以外的课题、结构、效果变得清楚。
附图说明
图1是表示实施方式1的自动分析装置10的整体结构的示意图。
图2表示吸光度测定部113的结构例。
图3表示光源部301的结构例。
图4表示在同一铝基板上安装2种LED并进行温度控制时的光量变动的结果例。
图5表示二向色滤光片的光透射率的波长依赖性的例子。
图6A是实施方式2的自动分析装置10所具备的光源部301的结构例。
图6B是说明通过使用扩散板508而获得的效果的示意图。
图7是实施方式2的光源部301的另一结构例。
图8A表示控制二向色滤光片的透射率时的光谱例。
图8B说明视为卤素灯的光谱和透射后合波光的光谱近似的判断基准。
图9是表示使自动分析装置10的光量稳定的步骤的流程图。
图10是表示使自动分析装置10的光量稳定的其他步骤的流程图。
图11是光源部301的变形例。
具体实施方式
(实施方式1)
图1是表示本发明的实施方式1的自动分析装置10的整体结构的示意图。自动分析装置10通过对试样照射光来进行测定。自动分析装置10具备样本盘103、试剂盘106、反应盘109、分注机构、控制电路201、光量测定电路202、数据处理部203、输入部204以及输出部205。
分注机构使样本、试剂在盘之间移动。控制电路201控制各盘、分注机构，光量测定电路202测定反应溶液的吸光度。数据处理部203对光量测定电路202测定出的数据进行处理。输入部204和输出部205是与数据处理部203的接口。分注机构具备样本分注机构110和试剂分注机构111。
数据处理部203具备信息记录部2031和分析部2032。信息记录部2031存储控制数据、测量数据、用于数据分析的数据、分析结果数据等。数据处理部203也可以使用计算机来实现。计算机至少具备CPU(Central Processing Unit：中央处理单元)等处理器和信息记录部2031。分析部2032的处理也可以通过将与这些数据处理对应的程序代码存储在信息记录部2031，由处理器执行各程序代码来实现。
输入部204和输出部205在与信息记录部2031之间输入输出数据。输入部204能够由键盘、触摸板、数字键等信息输入装置构成。输出部205是用于自动分析装置10的用户确认分析结果的装置，例如是显示器等。
在样本盘103的圆周上配置有多个作为样本101的收容容器的样本杯102。样本101例如是血液。在试剂盘106的圆周上配置有多个试剂104的收容容器即试剂瓶105。在反应盘109的圆周上配置有多个使样本101和试剂104混合而成的反应溶液107的收容容器即反应单元108(反应容器)。
样本分注机构110是在从样本杯102向反应单元108移动一定量的样本101时使用的机构。样本分注机构110例如由以下构成：排出或吸取溶液的喷嘴、将喷嘴定位以及输送至预定位置的机器人、从喷嘴排出溶液或向喷嘴吸取溶液的泵、以及将喷嘴与泵连接的流路。
试剂分注机构111是在从试剂瓶105向反应单元108移动一定量的试剂104时使用的机构。试剂分注机构111例如也是由以下构成：排出或吸取溶液的喷嘴、将喷嘴定位以及输送至预定位置的机器人、从喷嘴排出溶液或向喷嘴吸取溶液的泵、以及将喷嘴与泵连接的流路。
搅拌部112是在反应单元108内搅拌并混合样本101与试剂104的机构部。清洗部114是从分析处理已结束的反应单元108排出反应溶液107，然后清洗反应单元108的机构部。在清洗结束后的反应单元108中再次从样本分注机构110分注下一个样本101，从试剂分注机构111分注新的试剂104，用于其他的反应处理。
在反应盘109中，反应单元108浸泡在对温度和流量进行控制的恒温槽内的恒温流体115中。由此，反应单元108以及其中的反应溶液107在通过反应盘109进行的移动过程中，也会由控制电路201将其温度保持为恒定温度。恒温流体115例如使用水或空气。
在反应盘109的圆周上的一部分配置了用于对样本101实施吸光分析的吸光度测定部(吸光光度计)113。
图2表示吸光度测定部113的结构例。从光源部301产生的照射光沿着光轴401出射，由聚光透镜403聚光后照射到反应单元108。此时，为了使光的照射面内光量分布均匀而配置光源侧狭缝402，限制来自光源部301的出射光的宽度。
透射了反应单元108中的反应溶液107的光被分光器302中的衍射光栅3021分光，由具备多个受光器的检测器阵列3022接收。此时，未透射反应溶液107的光成为噪声，因此为了防止这样的杂散光进入分光器302而配置分光器侧狭缝404。
作为1例，检测器阵列3022所接收的测定波长有340nm、376nm、405nm、415nm、450nm、480nm、505nm、546nm、570nm、600nm、660nm、700nm、750nm、800nm等。这些受光器接收的受光信号经过光量测定电路202被发送到数据处理部203的信息记录部2031。
通过以下的步骤来实施样本101中包含的蛋白质、糖、脂质等成分量的计算。首先，控制电路201指示清洗部114清洗反应单元108。接着，控制电路201通过样本分注机构110向反应单元108分注一定量的样本杯102内的样本101。接着，控制电路201通过试剂分注机构111向反应单元108分注一定量的试剂瓶105内的试剂104。
在分注各溶液时，控制电路201通过分别对应的驱动部对样本盘103、试剂盘106、反应盘109进行旋转驱动。此时，根据分别对应的分注机构的驱动定时将样本杯102、试剂瓶105、反应单元108定位到预定的分注位置。
接着，控制电路201控制搅拌部112，对分注到反应单元108内的样本101和试剂104进行搅拌，生成反应溶液107。通过反应盘109的旋转，收容反应溶液107的反应单元108经过配置有吸光度测定部113的测定位置。每次经过测定位置时，经由吸光度测定部113测定来自反应溶液107的透射光量。将测定数据依次输出到信息记录部2031，作为反应过程数据而积蓄。
在该反应过程数据的积蓄期间，如果有需要，则通过试剂分注机构111将别的试剂104追加分注到反应单元108中，通过搅拌部112进行搅拌，并且进行一定时间的测定。由此，将以一定的时间间隔取得的反应过程数据存储在信息记录部2031中。
图3表示光源部301的结构例。在LED安装基板503上安装有第一LED501和第二LED502。LED安装基板503具有向第一LED501和第二LED502供给电力，使LED元件和温度调整部504的温度平衡化的作用。从热传导率的观点出发，LED安装基板503优选由以铝或铜之类的金属为基材的基板构成。通过将第一LED501和第二LED502安装在热传导率高的一片LED安装基板503上，能够通过温度调整部504的温度控制来获得共同的温度变动特性。将温度调整部504中设定的温度例如设为37℃。根据设置在温度调整部504内部或LED安装基板503附近的温度传感器505取得的温度来控制温度调整部504，从而将各LED元件保持在一定温度。温度传感器505例如可以由热敏电阻、热电偶、测温电阻体等构成。
作为温度调整部504，例如能够使用流过恒温流体的金属块、珀耳帖元件。在珀耳帖元件的情况下，通过温度传感器505的反馈控制，能够经由控制电路201将温度调整部504的LED侧(LED安装基板503的背面)控制为例如37±0.01℃左右。根据该结构，第一LED501的元件温度和第二LED502的元件温度在一定范围内相等，在自动分析装置10实施2波长测定法时能够进行高精度的定量分析。
另一方面，在对一张LED安装基板503安装第一LED501和第二LED502时，为了使2个LED的光轴一致而要求高水平的设计公差。不仅是LED的发光元件位置和LED封装在基板上的安装位置，对于将2个LED光进行合波时的滤光片和反射镜也要求设计公差。
在本实施方式1中，如图3所示，使用光量不充足的波段的LED光来作为第一LED501，使其相对于分光器302直行入射来确保光量，并且使用光量充足的波段的LED光来作为第二LED502，经过2阶段反射而入射到分光器302。在第一LED501的光路上配置以45°入射角进行入射的二向色滤光片506，并且，在第二LED502的光路上配置以45°入射角进行入射的例如反射镜之类的反射板507。
从第二LED502出射的光分别在反射板507和二向色滤光片506进行了2阶段反射后，与从第一LED501出射的光合波，并通过光轴401的路径入射到分光器302。此时，优选仅将第一LED501的光轴设计为与入射至分光器302的光轴401一致，来自第二LED502的出射光通过扩散板使光束范围扩大后入射。详细内容在实施方式2中进行说明。
图4表示在同一铝基板上安装了2种LED并进行温度控制时的光量变动的结果例。测定时间约为20分钟。作为第一LED501，使用出射从370nm波长附近至800nm波长的光的白色LED光源(以600mA电流进行驱动)，作为第二LED502，使用出射340nm波长的光的紫外光LED光源(以120mA电流进行驱动)。温度调整部504具有20mm×20mm的冷却面(通过珀耳帖元件冷却的面)，将该冷却面控制为37±0.01℃。
如图4的曲线图所示，LED的光量根据元件和环境温度而变动(在图4上段的曲线图中央存在光量变动大的部分)。通过将LED安装在热传导率高的铝制的LED安装基板503上，在340nm波长的光量变动的经时特性与480nm波长的光量变动的经时特性之间发现正相关，由此能够确认消除由气泡等干扰引起的2波长间的光量变动差(2波长差相当于在吸光度0.001Abs以内)的效果。
图5表示二向色滤光片的光透射率的波长依赖性的例子。在作为第一LED501，使用出射从370nm波长附近至800nm的光的白色LED光源，作为第二LED502，使用出射340nm波长的光的紫外光LED光源的情况下，如图5所示，二向色滤光片506优选使用反射340nm波长的光，并使370nm波长附近至800nm的长波长侧的光透射的滤光片。由此，能够得到期望的合波特性。
(实施方式1：总结)
本实施方式1的自动分析装置10使光量不充足的波段的LED光(第一LED501)相对于分析部直行入射来确保光量，并且光量充足的波段的LED光(第二LED502)能够容许一定的光量衰减，因此通过2阶段反射与第一LED501的出射光进行合波。由此，能够确保宽的波长范围并且能够确保光量，因此能够在宽范围的波长范围内维持高的分析性能。
本实施方式1的自动分析装置10将第一LED501和第二LED502安装在1片LED安装基板503上，由温度调整部504对LED安装基板503进行温度控制。由此，能够将第一LED501的温度和第二LED502的温度控制为大致相同，抑制LED间的光量变动差。因此，在自动分析装置10的有限的内部空间中，能够在抑制温度调整部504的占用空间的同时得到稳定的光量。
(实施方式2)
图6A是本发明的实施方式2的自动分析装置10所具备的光源部301的结构例。在本实施方式2中，通过使第二LED502的出射光扩散，来实现在分光器302的受光器的受光面上使第二LED502的出射光的光量分布均匀化。其他结构与实施方式1相同。
在将LED光源的有效发光区域设为1.0mm见方时，为了得到能够进行高精度的定量分析的光量，需要设计为仅使第一LED501的光轴与向分光器302入射的光轴401一致。但是，在该情况下，难以使第二LED502的出射光轴与向分光器302入射的光轴401一致。如此，难以使相对于反应溶液的光轴和光量分布在LED之间一致，存在2波长测定法的测定精度降低的可能性。因此，在本实施方式2中，在向反射板507入射之前，配置了用于扩大第二LED502的有效发光区域的扩散板508。
图6B是说明通过使用扩散板508而获得的效果的示意图。在分光器302的受光面302A上，来自第一LED501的出射光扩散到范围501A。在不使用扩散板508的情况下，来自第二LED502的出射光扩散到范围502A。当LED之间光轴偏离时，在受光面302A上产生与两个出射光相重叠的部分不重叠的部分(图6B左图)，在受光面302A上光量的面内分布变得不均匀。
在使用扩散板508的情况下，来自第二LED502的出射光扩散到范围502B，包含范围501A。由此，两个出射光在受光面302A上重叠，能够在受光面302A上使光量的面内分布均匀。即，优选扩散板508构成为在受光面302A上范围502B包含范围501A。
图7是本实施方式2中的光源部301的另一结构例。在图7中，代替扩散板508，对反射板507本身进行用于光扩散的表面加工，由此，能够利用光量充足的第二LED502的优点来扩大光束范围，使受光面302A上的光量分布均匀。并且，由于能够将第二LED502的光出射位置视为反射板507的位置，所以从分光器302到第一LED501的出射位置为止的距离与从分光器302到第二LED502的出射位置为止的距离(即焦距)相同，光量分布更接近，因此是理想的情况。
图8A表示控制二向色滤光片的透射率时的光谱例。目前，作为自动分析装置的吸光分析的光源，例如使用卤素灯。预想当能够再现与卤素灯相同的光谱时，分析性能的结果也接近。因此，优选使第一LED501和第二LED502的合波光的光谱尽量接近卤素灯光的光谱。在本发明中，通过调整二向色滤光片506的透射特性，能够调整任意波长下的透射率。透射率调整例如能够通过控制二向色滤光片506的膜厚来实现。
第一LED501和第二LED502的合波光例如成为图8A实线所示的光谱。通过调整二向色滤光片506的透射特性，能够如图8A虚线那样调整合波光的光谱。由此，合波光的光谱形状接近卤素灯的光谱形状(图8A的单点划线)。
若将卤素灯与透射后合波光进行比较，则透射后合波光具有光量不足的波段。温度调整部504通过降低LED元件的温度来期望LED光量增加，由此能够在整个光谱范围内增加透射后的合波光的光量，使光谱进一步接近卤素灯。例如，一般的紫外光LED在全波长下以10℃的温度变化存在约5％的光量变化。
图8B说明认为卤素灯的光谱和透射后合波光的光谱近似的判断基准。图8B上段是图8A的卤素灯的光谱，图8B下段是图8A的透射后合波光的光谱。为了光谱近似，波长间的光量比在光谱之间一致即可。使用图8B的例子进行具体说明。在图8B中，表示为在全波长区域光量比一定，但只要仅在测定中使用的波长下，波长间的光量比在光谱之间一致即可。
透射后合波光的光谱在第一波长下具有第一光量，在第二波长下具有第二光量，在第三波长下具有第三光量。卤素灯光的光谱在第一波长下具有第四光量，在第二波长下具有第五光量，在第三波长下具有第六光量。在附图中所使用的各波长和光量仅是用于说明的例示。
在第二光量相对于第一光量之比(第一比率)与第五光量相对于第四光量之比(第二比率)一致或第一比率与第二比率之间的差收敛于容许范围内的情况下，可视为在从第一波长至第二波长的波长范围内两光谱近似。
同样地，在第三光量相对于第二光量的比(第三比率)与第六光量相对于第五光量的比(第四比率)一致或者第三比率与第四比率之间的差收敛于容许范围内的情况下，能够视为在从第二波长到第三波长的波长范围内两光谱近似。该容许范围优选设为与第一比率与第二比率之间的差的容许范围相同。这是因为，优选波长间的光量比与光量的大小无关而在光谱之间相同。
在图8B中，为了便于说明，示出了在3个波长下将光量比在光谱之间进行比较的例子，比较的波长越多，两光谱越能够近似。例如，在12个波长下同样地在光谱间对光量比进行比较，若分别收敛于容许范围内，则能够视为两光谱近似。
(实施方式2：总结)
本实施方式2的自动分析装置10通过使第二LED502的出射光扩散，使得在受光面302A上范围502B包含范围501A。由此，能够在受光面302A上使各LED的光量的面内分布均匀。
在本实施方式2的自动分析装置10中，二向色滤光片506构成为合波光的光谱上的波长间的光量比与卤素灯的光谱上的相同波长间的光量比一致(或者，相同波长下的光量比间的差收敛于容许范围内)。由此，透射后合波光的光谱与卤素灯的光谱近似，因此即使在使用LED光源的情况下，也能够得到与使用卤素灯时的分析性能接近的特性。
(实施方式3)
为了稳定地得到自动分析装置10的吸光分析的分析性能，优选光源部301的光量始终恒定。作为将光量保持为恒定的手段，能够使用LED安装基板503的温度控制和LED的驱动电流控制。因此，在本发明的实施方式3中，对用于使自动分析装置10的光量稳定化的控制顺序进行说明。自动分析装置10的结构与实施方式1～2相同。
例如，作为产生340nm波长以下的紫外光的LED，使用作为化合物半导体的AlGaN晶体。在使用AlGaN晶体作为发光层的情况下，紫外LED的发光效率与一般的白色LED的发光层所使用的InGaN晶体的发光效率相比，低几分之一至十几分之一，AlGaN晶体的发光层具有所投入的电力的大部分变为热的特征。LED的使用温度越高，并且使用时间越长，越会在半导体结晶中形成缺陷，光量随着时间的推移而降低。因此，使用AlGaN晶体的LED的寿命比使用InGaN晶体的LED更容易变短。在市场出售的LED中，光量降低至70％的时间L70的规格值通常在封装下表面温度为25℃时使用的情况下确定。已知在为产生340nm波长以下的紫外光的LED时，L70为10000小时以上，但如果使用温度上升，则L70根据阿雷尼厄斯(Arrhenius)模型而变短。即，通过降低温度来使用，光量上升，能够延长寿命。另外，LED的光量也通过提高驱动电流而提高。
图9是表示使自动分析装置10的光量稳定的顺序的流程图。在启动装置(S601)使光源部301运转后(S602)，向任意的反应单元分注水(S603)。控制电路201按照从温度传感器505取得的温度数据，控制LED驱动电流和基板温度(S604)。控制电路201通过吸光度测定部113测定吸光度(S605)，从信息记录部2031取得光量测定电路202的光量数据(S606)。在判定为未得到规定范围的光量即光量降低的情况下，返回S604，通过控制LED驱动电流和LED安装基板503的温度来得到规定光量。如果得到了规定光量，则开始吸光分析(S607)。
图10是表示使自动分析装置10的光量稳定的其他顺序的流程图。本流程图可用于缩短自动分析装置10的启动时间。对与图9相同的处理赋予相同的步骤编号。控制电路201根据温度传感器505取得的温度数据，决定装置启动初期的LED驱动电流和基板温度(S701)。分析部2032从温度传感器505取得温度的经时的数据变化(S703)。控制电路201通过吸光度测定部113测定吸光度的经时变化(S704)。如果未得到规定光量，则返回S702，调整LED驱动电流和基板温度(S606)。
作为S702中的调整处理，例如在通过珀耳帖元件对LED安装基板503的温度进行PID控制时，基于温度数据来决定该PID参数。在环境温度为25℃，温度目标值设为37℃时，若将37℃设定为目标温度，则到温度稳定为止花费时间。因此，在温度的经时的数据变化缓慢(即到光量稳定为止花费时间)的情况下，将温度目标值设定为比本来的目标值高(例如42℃)。由此，能够迅速地到达目标温度。即，通过根据温度的经时变化来动态地变更目标温度，能够缩短到光量稳定为止的时间。
(关于本发明的变形例)
本发明并不限于上述实施方式，包括各种变形例。例如，上述实施例是为了容易理解地说明本发明而详细说明的例子，并不限于必须具备所说明的全部结构。另外，能够将某实施方式的一部分结构置换为其他实施方式的结构，另外，也能够在某实施方式的结构中添加其他实施方式的结构。另外，对于各实施方式的一部分结构，能够进行其他结构的追加、删除、置换。
图11是光源部301的变形例。第一LED501不一定需要与合波光平行地射出光，例如如图12所示，也可以通过反射镜等反射第一LED501的出射光来使光路变化。在该情况下，为了将第二LED502的出射光与第一LED501的出射光进行合波，需要使第二LED502的出射光的反射次数比第一LED501的出射光多。这是因为若考虑每次反射时光量减少，则需要使光量多的第二LED502的反射次数多。
附图标记的说明
101:样本
102:样本杯
103:样本盘
104:试剂
105:试剂瓶
106:试剂盘
107:反应溶液
108:反应单元
109:反应盘
110:样本分注机构
111:试剂分注机构
112:搅拌部
113:吸光度测定部
114:清洗部
115:恒温流体
201:控制电路
202:光量测定电路
203:数据处理部
2031:信息记录部
2032:分析部
204:输入部
205:输出部
301:光源部
302:分光器
3021:衍射光栅
3022:检测器阵列
401:光轴
402:光源侧狭缝
403:聚光透镜
404:分光器侧狭缝
501:第一LED
502:第二LED
503:LED安装基板
504:温度调整部
505:温度传感器
506:二向色滤光片
507:反射板
508:扩散板。

Claims (12)

1.一种测定试样的自动分析装置，其特征在于，具备：
光源，其对收纳了所述试样的反应容器照射光；以及
温度调整机构，其调整所述光源的温度，
所述光源具有第一LED和第二LED，
所述光源构成为所述第二LED射出的光在反射元件上反射而变更光路，由此与所述第一LED射出的光在相同的光轴上进行合波，
所述温度调整机构由分别与所述第一LED和所述第二LED接触的同一部件构成。
2.根据权利要求1所述的自动分析装置，其特征在于，
所述第二LED的光量大于所述第一LED的光量，
所述光源还具备使所述第一LED射出的第一光中的至少一部分通过的第一光学元件、以及将所述第二LED射出的第二光反射的第二光学元件，
所述第一光学元件构成为将所述第二光中的至少一部分反射，
所述第一光学元件和所述第二光学元件配置为通过了所述第一光学元件的所述第一光与在所述第一光学元件中进行了反射的所述第二光在相同的光轴上合波而成为合波光。
3.根据权利要求2所述的自动分析装置，其特征在于，
所述第一LED是产生波长为350nm～800nm的范围的白色光的白色光LED，
所述第二LED是产生中心波长为350nm以下的紫外光的紫外光LED。
4.根据权利要求1所述的自动分析装置，其特征在于，
所述温度调整机构由分别安装所述第一LED和所述第二LED的1片LED安装基板以及温度调整部构成，所述温度调整部通过调整所述LED安装基板的温度来将所述第一LED与所述第二LED之间的温度差抑制在预定范围内。
5.根据权利要求2所述的自动分析装置，其特征在于，
所述自动分析装置还具备使所述第二光扩散的扩散部件。
6.根据权利要求5所述的自动分析装置，其特征在于，
所述第一光在接收所述合波光的受光器的受光面上扩散至第一扩散范围内，
所述第二光在所述受光面上扩散至第二扩散范围内，
所述扩散部件使所述第二光扩散，使得所述第二扩散范围包含所述第一扩散范围。
7.根据权利要求5所述的自动分析装置，其特征在于，
所述扩散部件由配置在所述第二LED与所述第二光学元件之间，使所述第二光扩散的扩散板构成。
8.根据权利要求5所述的自动分析装置，其特征在于，
对所述第二光学元件的反射面进行加工以使所述第二光扩散，由此在所述第二光学元件的反射面上构成了所述扩散部件。
9.根据权利要求2所述的自动分析装置，其特征在于，
所述第一光学元件使所述第一光通过的透射率构成为所述合波光在波长光谱上，第一波长成分具有第一光量，第二波长成分具有第二光量，第三波长成分具有第三光量，
在卤素灯的出射光在波长光谱上，所述第一波长成分具有第四光量，所述第二波长成分具有第五光量，所述第三波长成分具有第六光量的情况下，所述第一光学元件构成为所述第二光量相对于所述第一光量的第一比率与所述第五光量相对于所述第四光量的第二比率之间的差收敛于容许范围内，并且构成为所述第三光量相对于所述第二光量的第三比率与所述第六光量相对于所述第五光量的第四比率之间的差收敛于所述容许范围内。
10.根据权利要求1所述的自动分析装置，其特征在于，
所述自动分析装置还具备控制部，该控制部通过调整所述光源的驱动电流和所述温度调整机构的温度来调整所述光源射出的光量。
11.根据权利要求10所述的自动分析装置，其特征在于，
所述控制部取得设置了所述自动分析装置的环境的经时的温度变化，
所述控制部按照所述经时的温度变化来设定所述温度调整机构的目标温度。
12.一种测定试样的自动分析装置，其特征在于，
所述自动分析装置具备对收纳了所述试样的反应容器照射光的光源，
所述光源具备：
第一LED和第二LED；
使所述第一LED射出的第一光中的至少一部分通过的第一光学元件；以及
将所述第二LED射出的第二光反射的第二光学元件，
所述第一光学元件构成为将所述第二光中的至少一部分反射，
所述第一光学元件和所述第二光学元件配置为通过了所述第一光学元件的所述第一光与在所述第一光学元件中进行了反射的所述第二光在相同的光轴上合波而成为合波光，
所述第一光学元件使所述第一光通过的透射率构成为在所述合波光的光谱上，第一波长成分具有第一光量，第二波长成分具有第二光量，第三波长成分具有第三光量，
在卤素灯的出射光在波长光谱上，所述第一波长成分具有第四光量，所述第二波长成分具有第五光量，所述第三波长成分具有第六光量的情况下，所述第一光学元件构成为所述第二光量相对于所述第一光量的第一比率与所述第五光量相对于所述第四光量的第二比率之间的差收敛于容许范围内，并且构成为所述第三光量相对于所述第二光量的第三比率与所述第六光量相对于所述第五光量的第四比率之间的差收敛于所述容许范围内。
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