CN114619332B - 一种led芯片电性检测用针头降钝清洁设备 - Google Patents

Abstract

本发明涉及电性检测用针头清理装置技术领域，提出了一种LED芯片电性检测用针头降钝清洁设备，包括工作台，转动设置在工作台上的底座，和设置在底座上的清洁降钝装置；清洁降钝装置包括设置在底座上的清洁支架，转动设置在清洁支架上的转动件，和设置在转动件上的打磨辊、毛刷辊和擦拭辊，打磨辊、毛刷辊和擦拭辊均通过伸缩装置设置在转动件上。通过上述技术方案，解决了现有技术中的LED芯片电性检测用针头清理装置清理效果差，效率低，使用不方便的问题。

Description

一种LED芯片电性检测用针头降钝清洁设备

技术领域

本发明涉及电性检测用针头清理装置技术领域，具体的，涉及一种LED芯片电性检测用针头降钝清洁设备。

背景技术

LED芯片在制造完毕后，需要进行电性检测来判断产品质量，电性检测一般使用金属探针与芯片表面的电极部位进行接触通电，根据电压来判断对应的点是否合格。在实际检测过程中影响检测准确性的问题主要存在于以下几个方面：探针上面有金属碎屑，或者晶粒上面有碎屑，对探针点测有影响，检测出现误差；探针在芯片上面移动的时候，探针尖端会拉扯芯片上表面出现拉丝现象，导致晶粒上面的正负极两端被拉丝导通，这也会影响芯片光电性能的参数数据，探针使用多次后尖端会变钝，尖端位置精度受到影响，导致点测不到位。

为了保证检测的准确性，需要对探针进行清理，以及将拉丝或者芯片上面的碎屑清理掉，并且研磨探针尖端。探针清理的方式现有技术主要是使用毛刷刷走探针尖端的碎屑，而探针降钝处理主要是靠打磨的方式，现在也有对探针进行清洁将钝的设备，但清理效果较差，效率低，而且需要频繁移动探针到不同的工位，使用起来并不方便。

发明内容

本发明提出了一种LED芯片电性检测用针头降钝清洁设备，解决了现有技术中的LED芯片电性检测用针头清理装置清理效果差，效率低，使用不方便的问题。

本发明的技术方案如下：

一种LED芯片电性检测用针头降钝清洁设备，包括工作台，转动设置在所述工作台上的底座，和设置在所述底座上的清洁降钝装置；

所述清洁降钝装置包括设置在所述底座上的清洁支架，转动设置在所述清洁支架上的转动件，和设置在所述转动件上的打磨辊、毛刷辊和擦拭辊，所述打磨辊、毛刷辊和擦拭辊均通过伸缩装置设置在所述转动件上。

进一步，所述清洁支架包括支架套管，所述转动件为转动环，所述转动环绕轴线转动设置在所述支架套管上，所述转动环的环壁上设有三个沿径向的引导孔；所述伸缩装置包括安装杆、推动杆和复位弹簧，

所述安装杆为三个且分别在三个所述引导孔内滑动，所述打磨辊、毛刷辊和擦拭辊分别设置在三个所述安装杆上；

所述安装杆上设有楔块，所述楔块位于所述转动环内侧，所述推动杆沿所述支架套管的轴线方向滑动，所述推动杆上设有与所述楔块的斜面接触的圆台部；

所述复位弹簧用于提供使所述安装杆向内侧滑动的弹力。

进一步，所述安装杆包括在所述引导孔内滑动设置的滑动套管、在所述滑动套管内滑动的安装滑杆和提供使所述安装滑杆远离所述滑动套管弹力的缓冲弹簧，所述楔块设置在所述滑动套管上，所述打磨辊、毛刷辊和擦拭辊设置在所述安装滑杆上。

进一步，所述圆台部上设有沿其母线方向的引导槽，所述楔块的斜面上对应设有引导块，所述引导块与所述引导槽配合。

进一步，所述推动杆上设有螺纹孔，所述降钝清洁装置还包括驱动螺杆，所述驱动螺杆与所述推动杆螺纹连接。

进一步，所述推动杆上设有限位块，所述支架套管内壁设有沿轴线方向的限位槽，所述限位块在所述限位槽内滑动。

进一步，所述限位块和限位槽均为三个，所述支架套管内壁设有环槽，所述环槽内绕周向设有三个转动挡件，所述转动挡件与所述限位槽一一对应，所述转动挡件包括单向转动的挡件轴和设置在所述挡件轴上的多个挡板。

进一步，所述清洁支架还包括伸缩缸，所述支架套管设置在所述伸缩缸的伸缩端。

进一步，所述清洁支架摆动设置在所述底座上。

本发明的工作原理及有益效果为：

一种LED芯片电性检测用针头降钝清洁设备，在工作台上转动设置有底座，在底座上设有清洁将钝装置，其中清洁支架设置在底座上，在清洁支架上设有转动件，在转动件上通过伸缩装置设有打磨辊、毛刷辊和擦拭辊，使打磨辊、毛刷辊和擦拭辊距离转动件的间距可调，而且打磨辊、毛刷辊和擦拭辊绕转动件的周向设置。

使用打磨辊、毛刷辊和擦拭辊，可以按照打磨、粗刷和细擦的顺序对针头进行降钝清洁，其中打磨是为了磨去针头表面的钝化层，粗刷是为了刷掉针头上的碎屑，而细擦则能够把针头表面的粘附物全部擦掉，保证降钝清洁的效果。

使用该设备在对LED芯片电性检测用针头进行降钝清洁时，只需要将使针头沿底座的轴线方向固定，首先进行打磨工序，通过调整转动件使打磨辊与针头的侧面相对，再通过伸缩装置调整使打磨辊与针头的侧面接触，转动底座通过打磨辊与针头间的摩擦对针头进行打磨；然后进行粗刷工序，打磨完成后，通过伸缩装置使打磨辊与针头脱离，再通过调整转动件和伸缩装置使毛刷辊与针头侧面接触，转动底座通过毛刷辊对针头进行粗刷；最后进行细擦工序，粗刷完成后，通过伸缩装置使打磨辊与针头脱离，再通过调整转动件和伸缩装置使擦拭辊与针头侧面接触，转动底座通过擦拭辊对针头进行细擦。完成细擦后使擦拭辊与针头脱离，即可解除针头的固定，完成针头的降钝清洁。整个过程针头一经固定便不需要再行移动，只需等待工序执行完成再解除固定即可，整个降钝清洁的过程更加方便，可以有效提高工作效率。

附图说明

下面结合附图和具体实施方式对本发明作进一步详细的说明。

图1为本发明结构示意图；

图2为降钝清洁装置结构示意图；

图3为伸缩装置结构示意图；

图4为图3中A-A剖视图；

图5为转动挡件结构示意图；

图中：1、工作台，2、底座，3、清洁支架，31、支架套管，311、限位槽，312、环槽，32、伸缩缸，4、转动件，5、伸缩装置，51、安装杆，511、滑动套管，512、安装滑杆，513、缓冲弹簧，52、推动杆，521、限位块，53、复位弹簧，54、楔块，541、引导块，55、圆台部，551、引导槽，6、驱动螺杆，7、转动挡件，71、挡件轴，72、挡板，8、打磨辊，9、毛刷辊，10、擦拭辊。

具体实施方式

下面将结合本发明实施例，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都涉及本发明保护的范围。

如图1～图5所示，

本实施例提出了一种LED芯片电性检测用针头降钝清洁设备，在工作台1上转动设置有底座2，在底座2上设有清洁将钝装置，其中清洁支架3设置在底座2上，在清洁支架3上设有转动件4，在转动件4上通过伸缩装置5设有打磨辊8、毛刷辊9和擦拭辊10，使打磨辊8、毛刷辊9和擦拭辊10距离转动件4的间距可调，而且打磨辊8、毛刷辊9和擦拭辊10绕转动件4的周向设置。

使用打磨辊8、毛刷辊9和擦拭辊10，可以按照打磨、粗刷和细擦的顺序对针头进行降钝清洁，其中打磨是为了磨去针头表面的钝化层，粗刷是为了刷掉针头上的碎屑，而细擦则能够把针头表面的粘附物全部擦掉，保证降钝清洁的效果。

使用该设备在对LED芯片电性检测用针头进行降钝清洁时，只需要将使针头沿底座2的轴线方向固定，首先进行打磨工序，通过调整转动件4使打磨辊8与针头的侧面相对，再通过伸缩装置5调整使打磨辊8与针头的侧面接触，转动底座2通过打磨辊8与针头间的摩擦对针头进行打磨；然后进行粗刷工序，打磨完成后，通过伸缩装置5使打磨辊8与针头脱离，再通过调整转动件4和伸缩装置5使毛刷辊9与针头侧面接触，转动底座2通过毛刷辊9对针头进行粗刷；最后进行细擦工序，粗刷完成后，通过伸缩装置5使打磨辊8与针头脱离，再通过调整转动件4和伸缩装置5使擦拭辊10与针头侧面接触，转动底座2通过擦拭辊10对针头进行细擦。完成细擦后使擦拭辊10与针头脱离，即可解除针头的固定，完成针头的降钝清洁。整个过程针头一经固定便不需要再行移动，只需等待工序执行完成再解除固定即可，整个降钝清洁的过程更加方便，可以有效提高工作效率。

清洁支架3包括支架套管31，转动件4为转动环，转动环绕轴线转动设置在支架套管31上，转动环的环壁上设有三个沿径向的引导孔；伸缩装置5包括安装杆51、推动杆52和复位弹簧53，

安装杆51为三个且分别在三个引导孔内滑动，打磨辊8、毛刷辊9和擦拭辊10分别设置在三个安装杆51上；

安装杆51上设有楔块54，楔块54位于转动环内侧，推动杆52沿支架套管31的轴线方向滑动，推动杆52上设有与楔块54的斜面接触的圆台部55；

复位弹簧53用于提供使安装杆51向内侧滑动的弹力。

转动环安装在支架套管31的端部，套在支架套管31上并且可以绕轴线转动，在转动环的环壁上设有沿径向的引导孔，引导孔为三个且绕周向均匀布置，安装杆51为三个，分别用来安装打磨辊8、毛刷辊9和擦拭辊10，三个安装杆51与三个引导孔一一对应，在引导孔内滑动，打磨辊8、毛刷辊9和擦拭辊10安装座安装杆51位于转动环的外侧，在安装杆51的内侧设置楔块54，推动杆52则是设置在支架套管31内，沿着支架套管31的轴线方向滑动，在推动杆52上设有圆台部55，圆台部55的侧壁则与楔块54的斜面接触，在安装杆51上还套设有复位弹簧53，复位弹簧53位于楔块54和转动环之间，通过复位弹簧53提供的弹力使楔块54可以始终与圆台部55保持接触，这样通过滑动推动杆52即可使安装杆51向内收或向外扩，调整打磨辊8、毛刷辊9和擦拭辊10与转动环的位置。

安装杆51包括在引导孔内滑动设置的滑动套管511、在滑动套管511内滑动的安装滑杆512和提供使安装滑杆512远离滑动套管511弹力的缓冲弹簧513，楔块54设置在滑动套管511上，打磨辊8、毛刷辊9和擦拭辊10设置在安装滑杆512上。

为了避免打磨辊8、毛刷辊9和擦拭辊10损坏针头，将安装杆51设计为伸缩杆，利用缓冲弹簧513提供缓冲，保证安全。

圆台部55上设有沿其母线方向的引导槽551，楔块54的斜面上对应设有引导块541，引导块541与引导槽551配合。

推动杆52上设有螺纹孔，降钝清洁装置还包括驱动螺杆6，驱动螺杆6与推动杆52螺纹连接。

推动杆52上设有限位块521，支架套管31内壁设有沿轴线方向的限位槽311，限位块521在限位槽311内滑动。

限位块521和限位槽311均为三个，支架套管31内壁设有环槽312，环槽312内绕周向设有三个转动挡件7，转动挡件7与限位槽311一一对应，转动挡件7包括单向转动的挡件轴71和设置在挡件轴71上的多个挡板72。

推动杆52的滑动采用丝母丝杆的结构，在推杆上设计限位块521，在支架套管31内壁设置沿轴线方向的限位槽311，限位块521在限位槽311内滑动，限制了推杆的转动，使得在驱动螺杆6转动时可以带动推动杆52滑动。

而为了利用驱动螺杆6来调整打磨辊8、毛刷辊9和擦拭辊10的朝向，在支架套管31的内壁设计了环槽312，在环槽312处无限位槽311对限位块521进行限制，这样转动驱动螺杆6时，推动杆52会随之转动，而在圆台部55上设置沿母线方向的引导槽551，对应的在楔块54的斜面上设置引导块541，通过引导槽551与引导块541的配合，来使推动杆52与安装杆51间无相对转动，这样当限位块521处于环槽312处时，转动驱动螺杆6能够带动推动杆52转动，通过推动杆52带动转动件4转动，进而调整打磨辊8、毛刷辊9和擦拭辊10的朝向。

当打磨辊8、毛刷辊9和擦拭辊10收起到最靠近的位置时，限位块521滑动到环槽312内，此时调整不会对针头产生影响。而为了使调整过后能够利用驱动螺杆6带动推动杆52滑动，限位块521与限位槽311均设计为三个，而且对应三个限位槽311设计了三个转动挡件7，转动挡件7的挡件轴71只能单向转动，挡件轴71上设计多个挡板72，其中相邻的两个挡板72形成的空间可以与限位槽311相对，一般挡板72设计为四个，在挡件轴71转动90度后，后面的挡板72形成的空间也能够于限位槽311相对。

这样在需要对打磨辊8、毛刷辊9和擦拭辊10的伸出位置进行调整时，转动驱动螺杆6使限位块521进入环槽312，此时限位块521位于两个挡板72形成的空间内，继续转动驱动螺杆6，继续转动则能够调整调整打磨辊8、毛刷辊9和擦拭辊10的朝向，而当限位块521运动到另一个转动挡件7并带动转动挡件7转动后则调整到位，此时限位块521位于两个挡板72形成的空间内与限位槽311相对，此时欲调整调整打磨辊8、毛刷辊9和擦拭辊10向外伸出，则需要反向转动驱动螺杆6，由于转动挡件7的挡件轴71只能单向转动，这样在反向转动驱动螺杆6使挡板72能够起到限位作用，使得驱动螺杆6转动时能够带动推动杆52滑动。

清洁支架3还包括伸缩缸32，支架套管31设置在伸缩缸32的伸缩端。使用伸缩缸32如气缸、液压缸、电缸可以带动支架套管31往复运动，在进行粗刷和细擦时带动毛刷辊9和擦拭辊10沿长度方向往复运动，提升对针头的清洁效果。

清洁支架3摆动设置在底座2上。通过支架的摆动可以调整打磨辊8、毛刷辊9和擦拭辊10与工作台1的倾角，来适配针头的尖度，使打磨辊8、毛刷辊9和擦拭辊10可以与针头侧面贴合。

以上仅为本发明的较佳实施例而已，并不用以限制本发明，凡在本发明的精神和原则之内，所作的任何修改、等同替换、改进等，均应包含在本发明的保护范围之内。

Claims (7)

1.一种LED芯片电性检测用针头降钝清洁设备，其特征在于，包括工作台（1），转动设置在所述工作台（1）上的底座（2），和设置在所述底座（2）上的清洁降钝装置；所述清洁降钝装置包括设置在所述底座（2）上的清洁支架（3），转动设置在所述清洁支架（3）上的转动件（4），和设置在所述转动件（4）上的打磨辊（8）、毛刷辊（9）和擦拭辊（10），所述打磨辊（8）、毛刷辊（9）和擦拭辊（10）均通过伸缩装置（5）设置在所述转动件（4）上；

所述清洁支架（3）包括支架套管（31），所述转动件（4）为转动环，所述转动环绕轴线转动设置在所述支架套管（31）上，所述转动环的环壁上设有三个沿径向的引导孔；所述伸缩装置（5）包括安装杆（51）、推动杆（52）和复位弹簧（53），所述安装杆（51）为三个且分别在三个所述引导孔内滑动，所述打磨辊（8）、毛刷辊（9）和擦拭辊（10）分别设置在三个所述安装杆（51）上；所述安装杆（51）上设有楔块（54），所述楔块（54）位于所述转动环内侧，所述推动杆（52）沿所述支架套管（31）的轴线方向滑动，所述推动杆（52）上设有与所述楔块（54）的斜面接触的圆台部（55）；所述复位弹簧（53）用于提供使所述安装杆（51）向内侧滑动的弹力；

所述安装杆（51）包括在所述引导孔内滑动设置的滑动套管（511）、在所述滑动套管（511）内滑动的安装滑杆（512）和提供使所述安装滑杆（512）远离所述滑动套管（511）弹力的缓冲弹簧（513），所述楔块（54）设置在所述滑动套管（511）上，所述打磨辊（8）、毛刷辊（9）和擦拭辊（10）设置在所述安装滑杆（512）上。

2.根据权利要求1所述的LED芯片电性检测用针头降钝清洁设备，其特征在于，所述圆台部（55）上设有沿其母线方向的引导槽（551），所述楔块（54）的斜面上对应设有引导块（541），所述引导块（541）与所述引导槽（551）配合。

3.根据权利要求2所述的LED芯片电性检测用针头降钝清洁设备，其特征在于，所述推动杆（52）上设有螺纹孔，所述降钝清洁装置还包括驱动螺杆（6），所述驱动螺杆（6）与所述推动杆（52）螺纹连接。

4.根据权利要求3所述的LED芯片电性检测用针头降钝清洁设备，其特征在于，所述推动杆（52）上设有限位块（521），所述支架套管（31）内壁设有沿轴线方向的限位槽（311），所述限位块（521）在所述限位槽（311）内滑动。

5.根据权利要求4所述的LED芯片电性检测用针头降钝清洁设备，其特征在于，所述限位块（521）和限位槽（311）均为三个，所述支架套管（31）内壁设有环槽（312），所述环槽（312）内绕周向设有三个转动挡件（7），所述转动挡件（7）与所述限位槽（311）一一对应，所述转动挡件（7）包括单向转动的挡件轴（71）和设置在所述挡件轴（71）上的多个挡板（72）。

6.根据权利要求1所述的LED芯片电性检测用针头降钝清洁设备，其特征在于，所述清洁支架（3）还包括伸缩缸（32），所述支架套管（31）设置在所述伸缩缸（32）的伸缩端。

7.根据权利要求1所述的LED芯片电性检测用针头降钝清洁设备，其特征在于，所述清洁支架（3）摆动设置在所述底座（2）上。