CN114609499B - 一种可检测击穿电压的双极型晶体管制造装置 - Google Patents

一种可检测击穿电压的双极型晶体管制造装置 Download PDF

Info

Publication number
CN114609499B
CN114609499B CN202210175725.9A CN202210175725A CN114609499B CN 114609499 B CN114609499 B CN 114609499B CN 202210175725 A CN202210175725 A CN 202210175725A CN 114609499 B CN114609499 B CN 114609499B
Authority
CN
China
Prior art keywords
rod
cover
transistor
plate
detecting
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Active
Application number
CN202210175725.9A
Other languages
English (en)
Other versions
CN114609499A (zh
Inventor
程万坡
张兴杰
王荣元
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Jiangsu Weida Semiconductor Co ltd
Original Assignee
Jiangsu Weida Semiconductor Co ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Jiangsu Weida Semiconductor Co ltd filed Critical Jiangsu Weida Semiconductor Co ltd
Priority to CN202210175725.9A priority Critical patent/CN114609499B/zh
Publication of CN114609499A publication Critical patent/CN114609499A/zh
Application granted granted Critical
Publication of CN114609499B publication Critical patent/CN114609499B/zh
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/26Testing of individual semiconductor devices
    • G01R31/2607Circuits therefor
    • G01R31/2608Circuits therefor for testing bipolar transistors
    • G01R31/261Circuits therefor for testing bipolar transistors for measuring break-down voltage or punch through voltage therefor
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L21/00Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
    • H01L21/67Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere
    • H01L21/68Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere for positioning, orientation or alignment
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L22/00Testing or measuring during manufacture or treatment; Reliability measurements, i.e. testing of parts without further processing to modify the parts as such; Structural arrangements therefor
    • H01L22/10Measuring as part of the manufacturing process
    • H01L22/14Measuring as part of the manufacturing process for electrical parameters, e.g. resistance, deep-levels, CV, diffusions by electrical means

Abstract

本发明属于电子元件生产领域,尤其是一种可检测击穿电压的双极型晶体管制造装置,针对现有的双极型晶体管在生产过程中,没有设置相关的击穿检测装置,还需人工进行检测,比较浪费时间,使得生产效率低下的问题,现提出如下方案,其包括底座,所述底座的顶部固定安装有安装架,且安装架的顶部固定安装有放置罩,所述放置罩内设有晶体管,所述安装架的顶部内壁上对称固定安装有插接组件,且插接组件的数量为两个,本发明通过对晶体管进行卡装定位,之后可对晶体管进行正向和反向电流测试,以此能够对晶体管进行性能测试和逆向击穿测试,因此相较于传统的检测方式,本技术方案具有良好的方便性,因此能够提高晶体管的生产效率。

Description

一种可检测击穿电压的双极型晶体管制造装置
技术领域
本发明涉及电子元件生产技术领域,尤其涉及一种可检测击穿电压的双极型晶体管制造装置。
背景技术
由两个背靠背PN结构成的以获得电压、电流或信号增益的晶体三极管。起源于1948年发明的点接触晶体三极管,50年代初发展成结型三极管即现在所称的双极型晶体管。双极型晶体管有两种基本结构:PNP型和NPN型。在这3层半导体中,中间一层称基区,外侧两层分别称发射区和集电区。当基区注入少量电流时,在发射区和集电区之间就会形成较大的电流,这就是晶体管的放大效应。
目前在双极型晶体管在生产过程中,没有设置相关的击穿检测装置,还需人工进行检测,比较浪费时间,使得生产效率低下,所以我们提出一种可检测击穿电压的双极型晶体管制造装置,用于解决上述提出的问题。
发明内容
基于背景技术存在双极型晶体管在生产过程中,没有设置相关的击穿检测装置,还需人工进行检测,比较浪费时间,使得生产效率低下的技术问题,本发明提出了一种可检测击穿电压的双极型晶体管制造装置。
本发明提出的一种可检测击穿电压的双极型晶体管制造装置,包括底座,所述底座的顶部固定安装有安装架,且安装架的顶部固定安装有放置罩,所述放置罩内设有晶体管,所述安装架的顶部内壁上对称固定安装有插接组件,且插接组件的数量为两个,所述晶体管的两个阳极引脚分别与两个插接组件电性连接,所述放置罩上连接有卡装组件,且卡装组件与晶体管相卡装,所述卡装组件与安装架相连接,所述底座的顶部固定安装有固定箱,且固定箱内连接有传动组件,所述传动组件的顶部延伸至安装架内并连接有接电组件,所述接电组件分别与两个插接组件相配合,所述底座的顶部固定安装有位于固定箱右侧的电动推杆,且传动组件的右侧延伸至安装架内并与电动推杆的输出轴相连接。
优选的,所述插接组件包括接电罩、传电杆和金属杆,所述接电罩固定安装在安装架的顶部内壁上,设置接电罩能够对传电杆进行支撑,所述传电杆贯穿接电罩的底部内壁并与接电罩的底部内壁固定连接,所述晶体管的阳极引脚延伸至接电罩内并与传电杆电性插接,设置传电杆能够方便对晶体管进行供电,所述金属杆贯穿传电杆并与传电杆滑动连接,且金属杆位于安装架内,所述金属杆与接电组件活动电性连接,设置插接组件能够在将晶体管放入放置罩内后,能够实现对晶体管进行接电,以此能够方便对晶体管进行供电。
优选的,所述金属杆上套设有拉伸弹簧,且拉伸弹簧的两端分别与金属杆和传电杆固定连接,设置拉伸弹簧能够使得金属杆与接杆紧密的接触。
优选的,所述卡装组件包括盖板、检测构件、两个连接构件、U型杆和定位构件,两个连接构件分别与放置罩的左侧和右侧相连接,设置连接构件能够方便对盖板进行传动,且盖板分别与两个连接构件相连接,所述检测构件安装在盖板的顶部,且检测构件分别与晶体管的两个阴极引脚电性连接,所述U型杆转动连接在安装架的顶部,且两个连接构件均与U型杆相连接,设置U型杆能够方便对两个连接构件进行传动,所述定位构件分别与U型杆和安装架的顶部相连接,设置卡装组件能够在将晶体管放入放置罩内后,可实现对晶体管进行卡装定位。
优选的,所述检测构件包括两个导电罩、导电杆和检测灯,两个导电罩均固定安装在盖板的顶部,且晶体管的两个阴极引脚分别与两个导电罩电性插接,所述导电杆分别与两个导电罩电性连接,所述检测灯固定安装在导电杆的顶部并与导电杆电性连接,设置检测构件与晶体管进行电性连接,能够在晶体管通电时,可进行参照,以此判别晶体管能否正常工作。
优选的,所述连接构件包括L型杆、支撑弹簧和拉杆,所述L型杆与放置罩的侧面滑动连接,且L型杆的顶端与盖板的侧面固定连接,所述拉杆的顶端与L型杆转动连接,且拉杆的底端与U型杆的顶部转动连接,所述支撑弹簧套设在L型杆上,且支撑弹簧的顶端和底端分别与L型杆和放置罩的侧面固定连接,设置连接构件能够在转动U型杆时,可带动盖板进行纵向移动,以此能够方便对晶体管进行卡装定位。
优选的,所述定位构件包括移动环、卡板、卡罩和定位弹簧,所述移动环滑动套设在U型杆上,且卡板固定安装在移动环的前侧,所述卡罩固定安装在安装架的顶部,所述卡板与卡罩相卡装,所述定位弹簧套设在U型杆,且定位弹簧位于移动环的左侧,所述定位弹簧的左端和右端分别与移动环的左侧和U型杆固定连接,设定定位构件能够在将U型杆转动至水平位置上时,可实现对U型杆进行卡装定位,以此能够保证盖板与晶体管稳定的卡装。
优选的,所述传动组件包括转轴、从动齿轮、主动齿轮、滚珠丝杠、移动板、滚珠丝杠螺母、转动杆、螺杆和齿轮构件,所述转轴转动连接在固定箱的底部内壁上,利用转轴能够对安装管进行转动支撑,所述转轴的顶端延伸至安装架内并与接电组件相连接,所述从动齿轮固定套设在转轴上,且从动齿轮位于固定箱内,所述滚珠丝杠转动连接在固定箱的左侧内壁上,且主动齿轮固定安装在滚珠丝杠的顶端,利用主动齿轮和从动齿轮的啮合传动,能够方便带动转轴进行转动,所述主动齿轮与从动齿轮相啮合,所述移动板滑动连接在固定箱内,且滚珠丝杠螺母固定安装在移动板的顶部左侧,利用滚珠丝杠和滚珠丝杠螺母的螺纹传动,能够带动主动齿轮进行转动,所述滚珠丝杠分别贯穿滚珠丝杠螺母和移动板并延伸至移动板的下方,且滚珠丝杠与滚珠丝杠螺母螺纹连接,所述转动杆转动连接在固定箱的底部内壁上,设置转动杆能够对螺杆进行转动支撑,所述螺杆与转动杆的顶端固定连接,所述螺杆贯穿移动板并与移动板螺纹连接,且齿轮构件与转动杆相连接,所述齿轮构件的右端延伸至安装架内并与电动推杆的输出轴固定连接,设置传动组件能够在启动电动推杆时,可带动转轴进行转动,所以能够对接电组件进行调向。
优选的,所述齿轮构件包括传动板、驱动齿轮和齿条,所述传动板分别贯穿固定箱的左侧内壁和右侧内壁并分别与固定箱的左侧内壁和右侧内壁滑动连接,所述齿条固定安装在传动板的后侧,所述驱动齿轮固定套设在转动杆上,且驱动齿轮与齿条相啮合,所述传动板的右侧与电动推杆的输出轴固定连接,设置齿轮构件能够在启动电动推杆能够带动转动杆进行转动,此时能够使得传动组件进行运转。
优选的,所述接电组件包括安装管、电源、两个接杆和两个导线,所述安装管固定安装在转轴的顶端,且电源固定安装在安装管的顶部,两个导线分别与电源的正极和负极电性连接,且两个接杆均固定安装在安装管内,所述接杆的一端延伸至安装架内并与金属杆一端活动接触,且导线的一端延伸至安装管内并与接杆电性连接,设置接电组件能够在向晶体管进行供电,方便对晶体管进行检测。
本发明的有益效果是:
1、本发明中,首先将晶体管放入放置罩内,此时能够使得晶体管的两个阳极引脚分别插接至两个接电罩内并分别与两个传电杆电性连接,接着可向后侧转动U型杆,同时向左侧移动移动环,在U型杆进行转动时,可通过两个拉杆能够拉动两个L型杆向下进行移动,以此能够使得盖板向下进行移动,在U型杆转动至水平位置上时,可使得盖板与晶体管相卡装,接着可释放移动环,处于受力状态下的定位弹簧能够推动移动环向右侧进行移动,以此能够使得卡板与卡罩相卡装,实现对U型杆进行卡装定位,以此能够使得盖板与晶体管紧密卡紧,所以晶体管的两个阴极引脚会与两个导电罩进行电性连接;
2、本发明中,通过将电源开启,此时电流可由接杆输送至金属杆上,之后经过传电杆可将电流输送至晶体管上,对晶体管进行正向电流测试,以此能够检测晶体管的质量;
3、本发明中,在对晶体管进行击穿测试时,可启动电动推杆带动传动板向左侧进行移动,此时在齿条和驱动齿轮的啮合传动能够带动转动杆进行转动,在转动杆进行转动时,可使得螺杆同步进行转动,以此能够使得移动板向上进行移动,在移动板向上进行移动时,可使得滚珠丝杠螺母向上进行移动,由于滚珠丝杠和滚珠丝杠螺母之间的螺纹连接不具有自锁性,所以在滚珠丝杠螺母向上移动时,可使得滚珠丝杠进行转动,此时在主动齿轮和从动齿轮的啮合传动作用下,能够使得转轴进行转动,此时能够带动安装管进行转动,直至安装管进行一百八十度转动,以此能够对电源的电流流通方向进行调节,即可实现对晶体管进行逆向电流测试,之后在加大电流,直至检测灯被点亮,以此能够说明晶体管被击穿。
本发明通过对晶体管进行卡装定位,之后可对晶体管进行正向和反向电流测试,以此能够对晶体管进行性能测试和逆向击穿测试,因此相较于传统的检测方式,本技术方案具有良好的方便性,因此能够提高晶体管的生产效率。
附图说明
图1为本发明提出的一种可检测击穿电压的双极型晶体管制造装置的结构主视图;
图2为本发明提出的一种可检测击穿电压的双极型晶体管制造装置的附图1中A部分结构示意图;
图3为本发明提出的一种可检测击穿电压的双极型晶体管制造装置的U型杆和安装架卡装结构俯视图;
图4为本发明提出的一种可检测击穿电压的双极型晶体管制造装置的接电罩内部结构主视图;
图5为本发明提出的一种可检测击穿电压的双极型晶体管制造装置的固定箱内部结构主视图;
图6为本发明提出的一种可检测击穿电压的双极型晶体管制造装置的螺杆、转动杆和传动板连接结构三维图;
图7为本发明提出的一种可检测击穿电压的双极型晶体管制造装置的安装管内部结构主视图。
图中:1、底座;2、安装架;3、放置罩;4、晶体管;5、盖板;6、L型杆;7、导电罩;8、导电杆;9、检测灯;10、支撑弹簧;11、U型杆;12、拉杆;13、移动环;14、卡板;15、卡罩;16、定位弹簧;17、固定箱;18、转轴;19、从动齿轮;20、主动齿轮;21、滚珠丝杆;22、移动板;23、滚珠丝杠螺母;24、转动杆;25、传动板;26、安装管;27、电源;28、接电罩;29、传电杆;30、金属杆;31、拉伸弹簧;32、导线;33、接杆;34、电动推杆;35、齿条;36、驱动齿轮;37、螺杆。
具体实施方式
下面结合具体实施例对本发明作进一步解说。
参考图1-7,本实施例中提出了一种可检测击穿电压的双极型晶体管制造装置,包括底座1,底座1的顶部固定安装有安装架2,且安装架2的顶部固定安装有放置罩3,放置罩3内设有晶体管4,安装架2的顶部内壁上对称固定安装有插接组件,且插接组件的数量为两个,晶体管4的两个阳极引脚分别与两个插接组件电性连接,放置罩3上连接有卡装组件,且卡装组件与晶体管4相卡装,卡装组件与安装架2相连接,底座1的顶部固定安装有固定箱17,且固定箱17内连接有传动组件,传动组件的顶部延伸至安装架2内并连接有接电组件,接电组件分别与两个插接组件相配合,底座1的顶部固定安装有位于固定箱17右侧的电动推杆34,且传动组件的右侧延伸至安装架2内并与电动推杆34的输出轴相连接。
本实施例中,插接组件包括接电罩28、传电杆29和金属杆30,接电罩28固定安装在安装架2的顶部内壁上,设置接电罩28能够对传电杆29进行支撑,传电杆29贯穿接电罩28的底部内壁并与接电罩28的底部内壁固定连接,晶体管4的阳极引脚延伸至接电罩28内并与传电杆29电性插接,设置传电杆29能够方便对晶体管4进行供电,金属杆30贯穿传电杆29并与传电杆29滑动连接,且金属杆30位于安装架2内,金属杆30与接电组件活动电性连接,设置插接组件能够在将晶体管4放入放置罩3内后,能够实现对晶体管4进行接电,以此能够方便对晶体管4进行供电。
本实施例中,金属杆30上套设有拉伸弹簧31,且拉伸弹簧31的两端分别与金属杆30和传电杆29固定连接,设置拉伸弹簧31能够使得金属杆30与接杆33紧密的接触。
本实施例中,卡装组件包括盖板5、检测构件、两个连接构件、U型杆11和定位构件,两个连接构件分别与放置罩3的左侧和右侧相连接,设置连接构件能够方便对盖板5进行传动,且盖板5分别与两个连接构件相连接,检测构件安装在盖板5的顶部,且检测构件分别与晶体管4的两个阴极引脚电性连接,U型杆11转动连接在安装架2的顶部,且两个连接构件均与U型杆11相连接,设置U型杆11能够方便对两个连接构件进行传动,定位构件分别与U型杆11和安装架2的顶部相连接,设置卡装组件能够在将晶体管4放入放置罩3内后,可实现对晶体管4进行卡装定位。
本实施例中,检测构件包括两个导电罩7、导电杆8和检测灯9,两个导电罩7均固定安装在盖板5的顶部,且晶体管4的两个阴极引脚分别与两个导电罩7电性插接,导电杆8分别与两个导电罩7电性连接,检测灯9固定安装在导电杆8的顶部并与导电杆8电性连接,设置检测构件与晶体管4进行电性连接,能够在晶体管4通电时,可进行参照,以此判别晶体管4能否正常工作。
本实施例中,连接构件包括L型杆6、支撑弹簧10和拉杆12,L型杆6与放置罩3的侧面滑动连接,且L型杆6的顶端与盖板5的侧面固定连接,拉杆12的顶端与L型杆6转动连接,且拉杆12的底端与U型杆11的顶部转动连接,支撑弹簧10套设在L型杆6上,且支撑弹簧10的顶端和底端分别与L型杆6和放置罩3的侧面固定连接,设置连接构件能够在转动U型杆11时,可带动盖板5进行纵向移动,以此能够方便对晶体管4进行卡装定位。
本实施例中,定位构件包括移动环13、卡板14、卡罩15和定位弹簧16,移动环13滑动套设在U型杆11上,且卡板14固定安装在移动环13的前侧,卡罩15固定安装在安装架2的顶部,卡板14与卡罩15相卡装,定位弹簧16套设在U型杆11,且定位弹簧16位于移动环13的左侧,定位弹簧16的左端和右端分别与移动环13的左侧和U型杆11固定连接,设定定位构件能够在将U型杆11转动至水平位置上时,可实现对U型杆11进行卡装定位,以此能够保证盖板5与晶体管4稳定的卡装。
本实施例中,传动组件包括转轴18、从动齿轮19、主动齿轮20、滚珠丝杠21、移动板22、滚珠丝杠螺母23、转动杆24、螺杆37和齿轮构件,转轴18转动连接在固定箱17的底部内壁上,利用转轴18能够对安装管26进行转动支撑,转轴18的顶端延伸至安装架2内并与接电组件相连接,从动齿轮19固定套设在转轴18上,且从动齿轮19位于固定箱17内,滚珠丝杠21转动连接在固定箱17的左侧内壁上,且主动齿轮20固定安装在滚珠丝杠21的顶端,利用主动齿轮20和从动齿轮19的啮合传动,能够方便带动转轴18进行转动,主动齿轮20与从动齿轮19相啮合,移动板22滑动连接在固定箱17内,且滚珠丝杠螺母23固定安装在移动板22的顶部左侧,利用滚珠丝杠21和滚珠丝杠螺母23的螺纹传动,能够带动主动齿轮20进行转动,滚珠丝杠21分别贯穿滚珠丝杠螺母23和移动板22并延伸至移动板22的下方,且滚珠丝杠21与滚珠丝杠螺母23螺纹连接,转动杆24转动连接在固定箱17的底部内壁上,设置转动杆24能够对螺杆37进行转动支撑,螺杆37与转动杆24的顶端固定连接,螺杆37贯穿移动板22并与移动板22螺纹连接,且齿轮构件与转动杆24相连接,齿轮构件的右端延伸至安装架2内并与电动推杆34的输出轴固定连接,设置传动组件能够在启动电动推杆34时,可带动转轴18进行转动,所以能够对接电组件进行调向。
本实施例中,齿轮构件包括传动板25、驱动齿轮36和齿条35,传动板25分别贯穿固定箱17的左侧内壁和右侧内壁并分别与固定箱17的左侧内壁和右侧内壁滑动连接,齿条35固定安装在传动板25的后侧,驱动齿轮36固定套设在转动杆24上,且驱动齿轮36与齿条35相啮合,传动板25的右侧与电动推杆34的输出轴固定连接,设置齿轮构件能够在启动电动推杆34能够带动转动杆24进行转动,此时能够使得传动组件进行运转。
本实施例中,接电组件包括安装管26、电源27、两个接杆33和两个导线32,安装管26固定安装在转轴18的顶端,且电源27固定安装在安装管26的顶部,两个导线32分别与电源27的正极和负极电性连接,且两个接杆33均固定安装在安装管26内,接杆33的一端延伸至安装架2内并与金属杆30一端活动接触,且导线32的一端延伸至安装管26内并与接杆33电性连接,设置接电组件能够在向晶体管4进行供电,方便对晶体管4进行检测。
本实施例中,首先将晶体管4放入放置罩3内,此时能够使得晶体管4的两个阳极引脚分别插接至两个接电罩28内并分别与两个传电杆29电性连接,接着可向后侧转动U型杆11,同时向左侧移动移动环13,在U型杆11进行转动时,可通过两个拉杆12能够拉动两个L型杆6向下进行移动,以此能够使得盖板5向下进行移动,在U型杆11转动至水平位置上时,可使得盖板5与晶体管4相卡装,接着可释放移动环13,处于受力状态下的定位弹簧16能够推动移动环13向右侧进行移动,以此能够使得卡板14与卡罩15相卡装,实现对U型杆11进行卡装定位,以此能够使得盖板5与晶体管4紧密卡紧,所以晶体管4的两个阴极引脚会与两个导电罩7进行电性连接,通过将电源27开启,此时电流可由接杆33输送至金属杆30上,之后经过传电杆29可将电流输送至晶体管4上,对晶体管4进行正向电流测试,以此能够检测晶体管4的质量,在对晶体管4进行击穿测试时,可启动电动推杆34带动传动板25向左侧进行移动,此时在齿条35和驱动齿轮36的啮合传动能够带动转动杆24进行转动,在转动杆24进行转动时,可使得螺杆37同步进行转动,以此能够使得移动板22向上进行移动,在移动板22向上进行移动时,可使得滚珠丝杠螺母23向上进行移动,由于滚珠丝杠21和滚珠丝杠螺母23之间的螺纹连接不具有自锁性,所以在滚珠丝杠螺母23向上移动时,可使得滚珠丝杠21进行转动,此时在主动齿轮20和从动齿轮19的啮合传动作用下,能够使得转轴18进行转动,此时能够带动安装管26进行转动,直至安装管26进行一百八十度转动,以此能够对电源27的电流流通方向进行调节,即可实现对晶体管4进行逆向电流测试,之后在加大电流,直至检测灯9被点亮,以此能够说明晶体管4被击穿,因此相较于传统的检测方式,本技术方案具有良好的方便性,因此能够提高晶体管4的生产效率。
以上所述,仅为本发明较佳的具体实施方式,但本发明的保护范围并不局限于此,任何熟悉本技术领域的技术人员在本发明揭露的技术范围内,根据本发明的技术方案及其发明构思加以等同替换或改变,都应涵盖在本发明的保护范围之内。

Claims (6)

1.一种可检测击穿电压的双极型晶体管制造装置,包括底座(1),其特征在于,所述底座(1)的顶部固定安装有安装架(2),且安装架(2)的顶部固定安装有放置罩(3),所述放置罩(3)内设有晶体管(4),所述安装架(2)的顶部内壁上对称固定安装有插接组件,且插接组件的数量为两个,所述晶体管(4)的两个阳极引脚分别与两个插接组件电性连接,所述放置罩(3)上连接有卡装组件,且卡装组件与晶体管(4)相卡装,所述卡装组件与安装架(2)相连接,所述底座(1)的顶部固定安装有固定箱(17),且固定箱(17)内连接有传动组件,所述传动组件的顶部延伸至安装架(2)内并连接有接电组件,所述接电组件分别与两个插接组件相配合,所述底座(1)的顶部固定安装有位于固定箱(17)右侧的电动推杆(34),且传动组件的右侧延伸至安装架(2)内并与电动推杆(34)的输出轴相连接;
所述插接组件包括接电罩(28)、传电杆(29)和金属杆(30),所述接电罩(28)固定安装在安装架(2)的顶部内壁上,所述传电杆(29)贯穿接电罩(28)的底部内壁并与接电罩(28)的底部内壁固定连接,所述晶体管(4)的阳极引脚延伸至接电罩(28)内并与传电杆(29)电性插接,所述金属杆(30)贯穿传电杆(29)并与传电杆(29)滑动连接,且金属杆(30)位于安装架(2)内,所述金属杆(30)与接电组件活动电性连接;
所述传动组件包括转轴(18)、从动齿轮(19)、主动齿轮(20)、滚珠丝杠(21)、移动板(22)、滚珠丝杠螺母(23)、转动杆(24)、螺杆(37)和齿轮构件,所述转轴(18)转动连接在固定箱(17)的底部内壁上,所述转轴(18)的顶端延伸至安装架(2)内并与接电组件相连接,所述从动齿轮(19)固定套设在转轴(18)上,且从动齿轮(19)位于固定箱(17)内,所述滚珠丝杠(21)转动连接在固定箱(17)的左侧内壁上,且主动齿轮(20)固定安装在滚珠丝杠(21)的顶端,所述主动齿轮(20)与从动齿轮(19)相啮合,所述移动板(22)滑动连接在固定箱(17)内,且滚珠丝杠螺母(23)固定安装在移动板(22)的顶部左侧,所述滚珠丝杠(21)分别贯穿滚珠丝杠螺母(23)和移动板(22)并延伸至移动板(22)的下方,且滚珠丝杠(21)与滚珠丝杠螺母(23)螺纹连接,所述转动杆(24)转动连接在固定箱(17)的底部内壁上,所述螺杆(37)与转动杆(24)的顶端固定连接,所述螺杆(37)贯穿移动板(22)并与移动板(22)螺纹连接,且齿轮构件与转动杆(24)相连接,所述齿轮构件的右端延伸至安装架(2)内并与电动推杆(34)的输出轴固定连接;
所述齿轮构件包括传动板(25)、驱动齿轮(36)和齿条(35),所述传动板(25)分别贯穿固定箱(17)的左侧内壁和右侧内壁并分别与固定箱(17)的左侧内壁和右侧内壁滑动连接,所述齿条(35)固定安装在传动板(25)的后侧,所述驱动齿轮(36)固定套设在转动杆(24)上,且驱动齿轮(36)与齿条(35)相啮合,所述传动板(25)的右侧与电动推杆(34)的输出轴固定连接;
所述接电组件包括安装管(26)、电源(27)、两个接杆(33)和两个导线(32),所述安装管(26)固定安装在转轴(18)的顶端,且电源(27)固定安装在安装管(26)的顶部,两个导线(32)分别与电源(27)的正极和负极电性连接,且两个接杆(33)均固定安装在安装管(26)内,所述接杆(33)的一端延伸至安装架(2)内并与金属杆(30)一端活动接触,且导线(32)的一端延伸至安装管(26)内并与接杆(33)电性连接。
2.根据权利要求1所述的一种可检测击穿电压的双极型晶体管制造装置,其特征在于,所述金属杆(30)上套设有拉伸弹簧(31),且拉伸弹簧(31)的两端分别与金属杆(30)和传电杆(29)固定连接。
3.根据权利要求1所述的一种可检测击穿电压的双极型晶体管制造装置,其特征在于,所述卡装组件包括盖板(5)、检测构件、两个连接构件、U型杆(11)和定位构件,两个连接构件分别与放置罩(3)的左侧和右侧相连接,且盖板(5)分别与两个连接构件相连接,所述检测构件安装在盖板(5)的顶部,且检测构件分别与晶体管(4)的两个阴极引脚电性连接,所述U型杆(11)转动连接在安装架(2)的顶部,且两个连接构件均与U型杆(11)相连接,所述定位构件分别与U型杆(11)和安装架(2)的顶部相连接。
4.根据权利要求3所述的一种可检测击穿电压的双极型晶体管制造装置,其特征在于,所述检测构件包括两个导电罩(7)、导电杆(8)和检测灯(9),两个导电罩(7)均固定安装在盖板(5)的顶部,且晶体管(4)的两个阴极引脚分别与两个导电罩(7)电性插接,所述导电杆(8)分别与两个导电罩(7)电性连接,所述检测灯(9)固定安装在导电杆(8)的顶部并与导电杆(8)电性连接。
5.根据权利要求3所述的一种可检测击穿电压的双极型晶体管制造装置,其特征在于,所述连接构件包括L型杆(6)、支撑弹簧(10)和拉杆(12),所述L型杆(6)与放置罩(3)的侧面滑动连接,且L型杆(6)的顶端与盖板(5)的侧面固定连接,所述拉杆(12)的顶端与L型杆(6)转动连接,且拉杆(12)的底端与U型杆(11)的顶部转动连接,所述支撑弹簧(10)套设在L型杆(6)上,且支撑弹簧(10)的顶端和底端分别与L型杆(6)和放置罩(3)的侧面固定连接。
6.根据权利要求3所述的一种可检测击穿电压的双极型晶体管制造装置,其特征在于,所述定位构件包括移动环(13)、卡板(14)、卡罩(15)和定位弹簧(16),所述移动环(13)滑动套设在U型杆(11)上,且卡板(14)固定安装在移动环(13)的前侧,所述卡罩(15)固定安装在安装架(2)的顶部,所述卡板(14)与卡罩(15)相卡装,所述定位弹簧(16)套设在U型杆(11),且定位弹簧(16)位于移动环(13)的左侧,所述定位弹簧(16)的左端和右端分别与移动环(13)的左侧和U型杆(11)固定连接。
CN202210175725.9A 2022-02-25 2022-02-25 一种可检测击穿电压的双极型晶体管制造装置 Active CN114609499B (zh)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN202210175725.9A CN114609499B (zh) 2022-02-25 2022-02-25 一种可检测击穿电压的双极型晶体管制造装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN202210175725.9A CN114609499B (zh) 2022-02-25 2022-02-25 一种可检测击穿电压的双极型晶体管制造装置

Publications (2)

Publication Number Publication Date
CN114609499A CN114609499A (zh) 2022-06-10
CN114609499B true CN114609499B (zh) 2023-10-24

Family

ID=81858844

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
CN202210175725.9A Active CN114609499B (zh) 2022-02-25 2022-02-25 一种可检测击穿电压的双极型晶体管制造装置

Country Status (1)

Country Link
CN (1) CN114609499B (zh)

Families Citing this family (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN115609509B (zh) * 2022-12-02 2023-08-01 常州翊迈新材料科技有限公司 一种金属极板上下料精密定位装夹系统及方法

Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2002076085A (ja) * 2000-08-24 2002-03-15 Seiko Epson Corp 半導体装置の耐圧評価用パターン
JP2004111604A (ja) * 2002-09-18 2004-04-08 Denso Corp トランジスタのチップ構造及びその耐圧測定方法
CN1820346A (zh) * 2003-05-09 2006-08-16 株式会社荏原制作所 基于带电粒子束的检查装置及采用了该检查装置的器件制造方法
CN102621459A (zh) * 2012-03-31 2012-08-01 上海宏力半导体制造有限公司 漏源击穿电压测试装置以及漏源击穿电压测试方法
CN111751684A (zh) * 2020-07-06 2020-10-09 华北电力大学 一种高频激励下绝缘材料的沿面闪络放电测量装置

Family Cites Families (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN101197348B (zh) * 2006-12-05 2010-04-21 中芯国际集成电路制造(上海)有限公司 多用途多晶硅边缘测试结构

Patent Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2002076085A (ja) * 2000-08-24 2002-03-15 Seiko Epson Corp 半導体装置の耐圧評価用パターン
JP2004111604A (ja) * 2002-09-18 2004-04-08 Denso Corp トランジスタのチップ構造及びその耐圧測定方法
CN1820346A (zh) * 2003-05-09 2006-08-16 株式会社荏原制作所 基于带电粒子束的检查装置及采用了该检查装置的器件制造方法
CN102621459A (zh) * 2012-03-31 2012-08-01 上海宏力半导体制造有限公司 漏源击穿电压测试装置以及漏源击穿电压测试方法
CN111751684A (zh) * 2020-07-06 2020-10-09 华北电力大学 一种高频激励下绝缘材料的沿面闪络放电测量装置

Non-Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
《IGBT电压击穿特性分析》;汪波 等;《电工技术学报》;1-6 *

Also Published As

Publication number Publication date
CN114609499A (zh) 2022-06-10

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP6633260B1 (ja) 電食防止用モータの自動生産ラインおよび電食防止用モータ
CN114609499B (zh) 一种可检测击穿电压的双极型晶体管制造装置
CN211331690U (zh) 变压器线圈引脚焊机
CN212008801U (zh) 一种车用电机控制器的绝缘耐压测试装置
CN203733642U (zh) 电容器夹具
CN216566809U (zh) 一种调整激光线水平的激光器套壳检测装置
CN115792321A (zh) 一种电能表防水结构
CN210281003U (zh) 耦合器自动化焊接装置
CN216848045U (zh) 一种测试pcb电路板耐压性能的测试装置
CN114660673B (zh) 一种接线端子组装用漏件检测设备
CN217766527U (zh) 用于电气自动化设备的检测装置
CN109347439A (zh) 一种用于太阳能板热循环测试装置及方法
CN218920676U (zh) 一种新能源汽车用电机控制器
CN116819323B (zh) 一种新能源电机定子线圈性能检测装置
CN212969572U (zh) 一种测试辅助工装及测试系统
CN220692501U (zh) 一种连接器端子折弯装置
CN216312245U (zh) 一种汽车用电线快速绕圈装置
CN219696720U (zh) 一种新型电力电子连接器
CN117433644B (zh) 集成电路生产用温度测量设备
CN220650857U (zh) 一种互感器同名端检测装置
CN218768481U (zh) 基于电工电子用照明结构可调节的试验台
CN220066366U (zh) 一种热缩汽车线束的装置
CN219937568U (zh) 一种可两用的固定板
CN213073199U (zh) 一种植柱机用除静电结构
CN212161758U (zh) 一种电池串电性能的检测装置

Legal Events

Date Code Title Description
PB01 Publication
PB01 Publication
SE01 Entry into force of request for substantive examination
SE01 Entry into force of request for substantive examination
GR01 Patent grant
GR01 Patent grant