CN114546152B - 触控显示面板及触控显示面板的检测方法 - Google Patents

Abstract

本申请公开了一种触控显示面板及触控显示面板的检测方法，触控显示面板包括：衬底层；阵列层，位于衬底层一侧，包括多个信号线；发光层，位于阵列层背离衬底层一侧，包括多个子像素，且一个信号线与至少一个子像素电连接；触控层，位于发光层背离阵列层一侧，包括多个触控引线；解复用线路和多个检测电路，位于衬底层设置有阵列层一侧，且至少一个触控引线和至少一个信号线之间通过一个检测电路和解复用线路连通以形成第一连通路径；当电信号流经第一连通路径时，通过与信号线电连接的子像素的发光情况判定子像素所在的第一连通路径是否故障。通过上述方式，本申请能够降低成本浪费。

Description

触控显示面板及触控显示面板的检测方法

技术领域

本申请属于显示技术领域，具体涉及一种触控显示面板及触控显示面板的检测方法。

背景技术

随着触控显示面板技术的发展，由于触控引线只有在邦定区裸露，故目前只有在邦定之后才能对触控层中的连接通道进行短路或断路检测。该检测方式存在资源浪费的问题，因此目前有必要给出一种在邦定之前即可对显示面板的连接通路进行检测的方案。

发明内容

本申请提供一种触控显示面板及触控显示面板的检测方法，以在邦定之前即可对显示面板的第一连接通路进行检测；其中，该第一连接通路是包含触控引线所在的通路。

为解决上述技术问题，本申请采用的一个技术方案是：提供一种触控显示面板，包括：衬底层；阵列层，位于所述衬底层一侧，包括多个信号线；发光层，位于所述阵列层背离所述衬底层一侧，包括多个子像素，且一个所述信号线与至少一个子像素电连接；触控层，位于所述发光层背离所述阵列层一侧，包括多个触控引线；解复用线路和多个检测电路，位于所述衬底层设置有所述阵列层一侧，多个所述检测电路与所述解复用线路电连接；且一个所述触控引线和一个所述信号线之间通过一个所述检测电路和所述解复用线路连通以形成第一连通路径；当所述解复用线路输出的电信号流经所述第一连通路径时，通过与所述信号线电连接的所述子像素的发光情况判定所述子像素所在的所述第一连通路径是否故障。

为解决上述技术问题，本申请采用的另一个技术方案是：提供一种触控显示面板的检测方法，所述检测方法适用于上述任一实施例中所述的触控显示面板，所述检测方法包括：控制所述解复用线路向所述第一连通路径输出电信号，获得所述触控显示面板的第一点亮情况；根据所述第一点亮情况从所述触控显示面板中获得第一异常发光子像素，并判定所述第一异常发光子像素所在的第一连通路径存在故障。

区别于现有技术情况，本申请的有益效果是：本申请所提供的触控显示面板中包括多个检测电路，一个触控引线和一个信号线之间可以通过一个检测电路和解复用线路连通以形成第一连通路径。当解复用线路输出的电信号流经该第一连通路径，通过与信号线电连接的子像素的发光情况即可判定该子像素所在的第一连通路径是否故障。虽然当子像素发生显示异常时，无法判定是显示问题还是触控问题，但不管是显示问题还是触控问题，都属于面板不良，筛选出来后续进行排查即可。即本申请中通过引入检测电路可以在邦定芯片之前对触控引线所在的第一连通路径进行故障检测，以提高产品良率，降低成本浪费。

附图说明

为了更清楚地说明本申请实施例中的技术方案，下面将对实施例描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本申请的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其它的附图，其中：

图1为本申请触控显示面板一实施方式的结构示意图；

图2为图1中触控显示面板一实施方式的俯视示意图；

图3a为图1中触控显示面板一实施方式的电路示意图；

图3b为图3a对应的时序示意图；

图4a为图1中触控显示面板另一实施方式的电路示意图；

图4b为图4a对应的时序示意图；

图5a为图1中触控显示面板另一实施方式的电路示意图；

图5b为图5a对应的时序示意图；

图6a为图1中触控显示面板另一实施方式的电路示意图；

图6b为图6a对应的时序示意图；

图7a为图1中触控显示面板另一实施方式的电路示意图；

图7b为图7a对应的时序图；

图8a为图1中触控显示面板另一实施方式的电路示意图；

图8b为图8a对应的时序示意图；

图9a为图1中触控显示面板另一实施方式的电路示意图；

图9b为图9a对应的时序示意图；

图10为本申请触控显示面板的检测方法一实施方式的流程示意图；

图11为本申请触控显示面板的检测方法另一实施方式的流程示意图。

具体实施方式

下面将结合本申请实施例中的附图，对本申请实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅是本申请的一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本申请中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其它实施例，都属于本申请保护的范围。

请参阅图1，图1为本申请触控显示面板一实施方式的结构示意图，图2为图1中触控显示面板一实施方式的俯视示意图，图3a为图1中触控显示面板一实施方式的电路示意图。该触控显示面板1包括衬底层10、阵列层12、发光层14、触控层16、多个检测电路和解复用线路11(如图2或图3a中所示)。

其中，衬底层10可以为柔性衬底，其材质可以为聚酰亚胺等；或者，衬底层10也可以为刚性衬底，其材质可以为玻璃等。

阵列层12位于衬底层10一侧，阵列层12内设置有多个像素驱动电路，每个像素驱动电路内设置有多个开关晶体管。发光层14位于阵列层12背离衬底层10一侧，包括多个子像素140(如图3a中所标示)；可选地，子像素140可以为红色子像素R或蓝色子像素B或绿色子像素G。其中，一个像素驱动电路与一个子像素140电连接，用于驱动一个子像素140发光。此外，阵列层12内还可包括多个信号线120，该信号线120可以与至少一个像素驱动电路电连接，即一个信号线120与至少一个子像素140电连接，信号线120用于向像素驱动电路传输相应的电信号，以使得像素驱动电路导通以驱动对应的子像素140发光。

触控层16位于发光层14背离阵列层12一侧，包括多个触控引线160(如图3a中所标示)和多个触控电极162(如图3a中所标示)。可选地，在本实施例中，触控电极162可以与地形成自电容模式，且一个触控电极162与一个触控引线160电连接。当然，在其他实施例中，触控层16中多个触控电极162也可形成互电容模式，本申请对此不作限定。

解复用线路11和多个检测电路位于衬底层10设置有阵列层12一侧。例如，多个检测电路和解复用线路11可以与阵列层12同层设置。进一步，如图2和图3a所示，解复用线路11和多个检测电路电连接，至少一个触控引线160和至少一个信号线120之间通过检测电路和解复用线路11连通以形成第一连通路径A1；当电信号流经整个第一连通路径A1时，通过与信号线120电连接的子像素140的发光情况判定子像素所在的第一连通路径A1是否故障。

在上述设计方式中，虽然当子像素140发生显示异常时，无法判定是显示问题还是触控问题，但不管是显示问题还是触控问题，都属于面板不良，筛选出来后续进行排查即可。即本申请中通过引入检测电路可以在邦定芯片之前对触控引线160所在的第一连通路径A1进行故障检测，以提高产品良率，降低成本浪费。

在一个实施方式中，与触控引线160通过检测电路电连接的信号线120包括数据线。该设计方式可以降低走线布局的难度。当信号线120为数据线时，该数据线可以沿触控显示面板1的列方向延伸，且可以与其延伸方向上的多个子像素140电连接。当然，在其他实施例中，与触控引线160通过检测电路电连接的信号线120也可为其他类型的信号线，例如，信号线120为扫描信号线、复位信号线、电压信号线、初始化信号线、驱动电流信号线(powerline)等。

可选的，在本实施例中，触控引线160和数据线可以与同一个驱动芯片邦定连接。如图3a中所示，触控显示面板1上可以设置有多个外引脚(OLB)180、以及多个内引脚182(ILB)；触控引线160和数据线靠近解复用线路11的一端分别设置有一个外引脚180，从解复用线路11引出的支线的一端分别设置有一个内引脚182；后续驱动芯片可以与该外引脚180和内引脚182邦定连接；且后续在驱动芯片驱动触控显示面板1进行正常显示过程中，检测电路中所有晶体管可以断开设置，以降低检测电路对正常显示过程的影响。

进一步，请继续参阅图3a，检测电路包括第一晶体管T1，位于第一连通路径A1上，包括第一通路端T10和第二通路端T12；其中，触控引线160的一端与解复用线路11电连接，触控引线160的另一端与第一晶体管T1的第一通路端T10电连接，第一晶体管T1的第二通路端T12与邻近的数据线(即信号线120)电连接。上述触控引线160和数据线之间的通断可以简单的通过第一晶体管T1实现，检测电路的结构设计较为简单、且所占边框面积较小。此外，第一晶体管T1还包括控制端T14，用于接收高低电平信号；当第一晶体管T1为NMOS管时，第一晶体管T1的控制端T14接收高电平，第一晶体管T1导通；第一晶体管T1的控制端T14接收低电平，第一晶体管T1断开。当第一晶体管T1为PMOS管时，第一晶体管T1的控制端T14接收低电平，第一晶体管T1导通；第一晶体管T1的控制端T14接收高电平，第一晶体管T1断开。

此外，请参阅图4a，图4a为图1中触控显示面板另一实施方式的电路示意图。数据线(即信号线120)通过检测电路与解复用线路11连通以形成第二连通路径A2；当第一连通路径A1断开，电信号流经第二连通路径A2时，通过与数据线电连接的子像素140的发光情况判定第二连通路径A2是否故障。在本实施例中，第二连通路径A2上包含数据线、与数据线电连接的多个子像素140等。当第二连通路径A2故障时，表明位于第二连通路径A2上的某个元件或线路存在故障，需要排查；上述第二连通路径A2的设置可以排查出与显示相关的故障点。此外，也可将第一连通路径A1和第二连通路径A2的判定结果进行综合，以获得具体出现故障的位置。例如，假设当前第一连通路径A1是故障的，与第一连通路径A1相关的第二连通路径A2是正常的，则此时可以将第一连通路径A1上的故障点定位在触控部分。

可选地，请继续参阅图4a，上述检测电路还包括第二晶体管T2，位于第二连通路径A2上；第二晶体管T2包括第一通路端T20和第二通路端T22；第二晶体管T2的第一通路端T20与解复用线路11电连接，第二晶体管T2的第二通路端T22和数据线(即信号线120)电连接；其中，与同一数据线电连接的第一晶体管T1和第二晶体管T2非同时导通。具体而言，当与同一数据线电连接的第一晶体管T1导通，第二晶体管T2断开时，第一晶体管T1所在的第一连通路径A1导通，第二晶体管T2所在的第二连通路径A2断开，以进行第一连通路径A1的故障检测；当与同一数据线电连接的第一晶体管T1断开，第二晶体管T2导通时，第一晶体管T1所在第一连通路径A1断开，第二晶体管T2所在的第二连通路径导通，以进行第二连通路径A2的故障检测。上述第二晶体管T2的设计较为简单，第二连通路径A2通断可以简单的通过第二晶体管T2的通断实现；总体说来，上述检测电路的结构设计较为简单、且所占边框面积较小。此外，第二晶体管T2还包括控制端(未标示)，用于接收高低电平信号，以控制第二晶体管T2导通还是断开；可选地，第二晶体管T2可以为NMOS管或PMOS管，本申请对此不作限定。可选地，第一晶体管T1和第二晶体管T2可以分别位于数据线延伸方向上的两侧，且第二晶体管T2靠近解复用线路11设置，以降低布局难度。

在又一个实施方式中，发光层14包括多种颜色的子像素140，解复用线路11包括并排设置的多个颜色通道子线路，触控显示面板1还包括多个颜色控制开关；每个颜色控制开关包括第一通路端和第二通路端，颜色控制开关的第一通路端与对应的颜色通道子线路电连接，颜色控制开关的第二通路端与对应颜色的子像素电连接。可选的，颜色控制开关可以为NMOS管或PMOS管。

例如，如图3a中所示，发光层14中包括多个红色子像素R、多个蓝色子像素B和多个绿色子像素G；解复用线路11包括绿色通道子线路110、红色通道子线路112和蓝色通道子线路114；触控显示面板1还包括多个红色控制开关KR、多个蓝色控制开关KB和多个绿色控制开关KG。其中，红色控制开关KR的第一通路端KR0与红色通道子线路112电连接，红色控制开关KR的第二通路端KR2与对应的红色子像素R电连接。蓝色控制开关KB的第一通路端KB0与蓝色通道子线路114电连接，蓝色控制开关KB的第二通路端KB2与对应的蓝色子像素B电连接。绿色控制开关KG的第一通路端KG0与绿色通道子线路110电连接，绿色控制开关KG的第二通路端KG2与对应的绿色子像素G电连接。

进一步，数据线包括第一类型数据线1200和/或第二类型数据线1202，与第一类型数据线1200电连接的多个子像素140具有多种发光颜色，与第二类型数据线1202电连接的多个子像素具有同种发光颜色。例如，图3a中与第一类型数据线1200电连接的多个子像素140分别为红色子像素R和蓝色子像素B，与第二类型数据线1202电连接的多个子像素均为绿色子像素G。当然，在其他实施例中，也可为其他电连接方式，本申请对此不作限定。

其中，与同一第一类型数据线1200电连接的多个子像素140对应的多个颜色控制开关的第二通路端相互连通以形成第一节点P1；在进行第一连通路径A1或第二连通路径A2检测时，与同一第一类型数据线1200电连接的多个颜色控制开关交替导通。例如，如图3a中所示，与第一类型数据线1200电连接的多个子像素140分别为红色子像素R和蓝色子像素B，对应的与该第一类型数据线1200相关的红色控制开关KR和蓝色控制开关KB相当于并联连接，红色控制开关KR和蓝色控制开关KB的第二通路端相互连通形成第一节点P1。

在一个应用场景中，如图3a或图4a中所示，触控引线160可以与第一类型数据线1200电连接。如图4a中所示，当检测电路包括第二晶体管T2时，与第一类型数据线1200电连接的第二晶体管T2的第一通路端T20与对应的第一节点P1连通，且触控引线160也与对应的第一节点P1电连接。在对第一连通路径A1进行检测时，第二晶体管T2断开，第一晶体管T1导通，与第一节点P1相关的多个颜色控制开关交替导通(例如，图4a中红色控制开关KR和蓝色控制开关KB交替导通)；在对第二连通路径A2进行检测时，第二晶体管T2导通，第一晶体管T1断开，与第一节点P1相关的多个颜色控制开关交替导通。上述触控引线160和数据线电连接形式较为简单，且易于工艺制备形成。

在此基础上，请参阅图5a，图5a为图1中触控显示面板另一实施方式的电路示意图。检测电路还包括第三晶体管T3，位于第一连通路径A1上，包括第一通路端T30和第二通路端T32；第三晶体管T3的第一通路端T30与对应的第一节点P1连通，第三晶体管T3的第二通路端T32与触控引线160电连接；且第三晶体管T3与第一晶体管T1同时导通或断开。上述第三晶体管T3的引入，可以使得在进行第二连通路径A2的故障检测时，触控引线160上无电压送入，降低触控引线160尖端放电的概率，降低触控引线160对相邻数据线的影响。

当然，在其他实施例中，上述触控显示面板中电路的连接结构形式也可为其他。例如，如图6a所示，图6a为图1中触控显示面板另一实施方式的电路示意图。为了降低检测电路所占的布局空间，在图5a的基础上，也可将第二晶体管T2去除，此时图6a对应的检测功能与图3a中相同。

此外，请参阅图4a或图5a，触控引线160的个数少于数据线的个数，且触控显示面板1中既包含第一类型数据线1200，也包含第二类型数据线1202，此时触控引线160可以仅与第一类型数据线1200构成第一连通路径A1；第二类型数据线1202靠近解复用线路11的一端设置有第二晶体管T2，以构成对应的第二连通路径A2。可选地，与第二类型数据线1202电连接的第二晶体管T2与对应的颜色控制开关为同一个晶体管。该设计方式可以降低检测电路所占的面积，降低边框宽度。此外，在对第一连通路径A1进行故障检测时，与第二类型数据线1202电连接的颜色控制开关可以保持打开，以使得显示效果较好。

在又一个应用场景中，请参阅图7a，图7a为图1中触控显示面板另一实施方式的电路示意图。触控引线160也可与第二类型数据线1202电连接，该设计方式同样可以达到检测目的，且具有布局比较简单的优点。当触控引线160的个数少于数据线的个数，且触控显示面板1中既包含第一类型数据线1200，也包含第二类型数据线1202时，此时触控引线160可以仅与第二类型数据线1202构成第一连通路径A1，第二类型数据线1202靠近解复用线路11的一端设置有第二晶体管T2，以构成对应的第二连通路径A2；此时与第二类型数据线1202电连接的颜色控制开关可以复用为第二晶体管T2。

当然，在其他实施例中，与第二类型数据线1202电连接的颜色控制开关和第二晶体管T2也可为两个独立的晶体管。具体可以如图8a所示，图8a为图1中触控显示面板另一实施方式的电路示意图。与第二类型数据线1202电连接的颜色控制开关和第二晶体管T2相当于串联，触控引线160与两者串联之间的节点连通。

此外，在图7a的基础上，请参阅图9a，图9a为图1中触控显示面板另一实施方式的电路示意图。在图7a的基础上，检测电路还可以包括第四晶体管T4，位于第一连通路径A1上，包括第一通路端T40和第二通路端T42；与第二类型数据线1202电连接的第二晶体管T2(即图9a中绿色控制开关KG)的第一通路端(未标示)与解复用线路11之间具有第二节点P2，第四晶体管T4的第一通路端T40与第二节点P2电连接，第四晶体管T4的第二通路端T42与触控引线160电连接；且第四晶体管T4与第一晶体管T1同时导通或断开。与同一第二类型数据线1202相关的第四晶体管T4和第二晶体管T2之间相当于是并联连接；该第四晶体管T4的引入可以使得在对第二连通路径A2进行检测时，触控引线160上无电压送入，降低触控引线160尖端放电的概率，降低触控引线160对相邻数据线的影响。

请再次参阅图2，触控显示面板1包括显示区AA和位于显示区AA外围的非显示区CC；且非显示区CC内设置有至少一个堤坝13；可选地，堤坝13的个数可以为一个、两个等；且每个堤坝13可以呈环形设置，且环绕设置在显示区AA的外围。进一步，图1中的阵列层12包括多个金属层，金属层包括信号线120；触控引线160通过至少一个导电孔(图未示)与阵列层12中的至少一个金属层导通，且至少部分导电孔位于最远离显示区AA的堤坝13背离显示区AA一侧。在本实施例中，触控层16和阵列层12之间的至少部分换线在最外侧的堤坝13外围完成，以降低形成导电孔的难度。

例如，如图2中所示，触控显示面板1包括相对设置的上边框15和下边框17，堤坝13包括分别位于上边框15和下边框17的内堤坝130和外堤坝132，内堤坝130靠近显示区AA设置，外堤坝132位于内堤坝130远离显示区AA的一侧，可选地，解复用线路11和检测电路中除第一晶体管之外的其余晶体管位于下边框17，检测电路中的第一晶体管位于上边框15；此时触控层16和阵列层12的换线涉及上边框15和下边框17两个位置。

可选地，假设阵列层12中包括层叠设置的第一金属层M1、第二金属层M2、第三金属层M3和第四金属层M4，且与触控引线160电连接的数据线可以位于第三金属层M3。触控引线160包括相对设置的第一端(未标示)和第二端(未标示)，第一端位于下边框17处的外堤坝132背离显示区AA一侧，第二端位于上边框15处的外堤坝132背离显示区AA一侧。

针对第一连通路径，在下边框17位置，从解复用线路11引出的走线通过第一导电孔与第一金属层M1和/或第二金属层M2电连接；第一金属层M1和/或第二金属层M2通过第二导电孔与第四金属层M4电连接；第四金属层M4通过第三导电孔与触控引线16的第一端电连接；其中，第一导电孔、第二导电孔和第三导电孔位于最远离显示区的堤坝13背离显示区AA一侧。即从解复用线路11引出的走线可以先在下边框位置处的最外侧堤坝13的外围先从第一金属层M1和/或第二金属层M2换线至第四金属层M4，然后再通过第四金属层M4换线至触控层16。

针对第一连通路径，在上边框15位置，触控引线16的第二端通过第四导电孔与第四金属层M4电连接；第四金属层M4通过第五导电孔与第一金属层M1和/或第二金属层M2电连接，第一金属层M1和/或第二金属层M2通过第六导电孔与第三金属层M3电连接；其中，第四导电孔、第五导电孔可以位于最远离显示区AA的堤坝13背离显示区AA一侧；第六导电孔可以位于最靠近显示区AA的堤坝13靠近显示区AA一侧。即触控引线160可以延伸至上边框位置处的最外侧堤坝13的外围，触控引线160可以先通过导电孔换线至第四金属层M4，然后第四金属层M4通过第一金属层M1和/或第二金属层M2再换线至第三金属层M3。当然，在其他实施例中，第六导电孔可以位于最远离显示区AA的堤坝13背离显示区AA一侧；或者，第四金属层M4也可直接换线至第三金属层M3等。本申请对于触控层16先换线至阵列层12中的哪一金属层不作限定，且对于阵列层12中各个金属层之间的换线方式不作限定。

此外，当存在第二连通路径时，从解复用线路11引出的走线通过第七导电孔与第一金属层M1和/或第二金属层M2电连接；第一金属层M1和/或第二金属层M2通过第八导电孔与第四金属层M4电连接；第四金属层M4通过第九导电孔与数据线电连接；其中，第七导电孔、第八导电孔和第九导电孔位于外堤坝132背离显示区AA一侧。

需要说明的是，上述任一位置所提及的“电连接”是指电性连接，并非限定为结构上的直接连接，例如，两个电连接的线路之间可以通过其他线路连接。

下面从检测方法的角度对上述触控显示面板作进一步说明。请参阅图10，图10为本申请触控显示面板的检测方法一实施方式的流程示意图，该检测方法包括：

S101：向第一连通路径输入电信号，获得触控显示面板的第一点亮情况。

S102：根据第一点亮情况从触控显示面板中获得第一异常发光子像素，并判定第一异常发光子像素所在的第一连通路径存在故障。

此外，当触控显示面板还包括多个第二连通路径；请参阅图11，图11为本申请触控显示面板的检测方法另一实施方式的流程示意图，该检测方法还包括：

S201：控制第一连通路径断开、且向所述第二连通路径输入电信号，获得触控显示面板的第二点亮情况。

S202：根据第二点亮情况从触控显示面板中获得第二异常发光子像素，并判定第二异常发光子像素所在的第二连通路径存在故障。

在一个实施方式中，请参阅图3b，图3b为图3a对应的时序示意图。图3a的电路结构中与触控引线160电连接的第一类型数据线1200仅能进行第一连通路径A1检测。假设图3a中所有的晶体管均是PMOS管，即控制端接收低电压时导通。需要说明的是，图3b中仅示意画出与检测电路相关的一些晶体管的时序，对于像素驱动电路除数据线之外的其他线路(例如，扫描线等)时序未画出，其他线路的时序可参见现有技术，在此不作详细说明。在邦定驱动芯片之前，对第一连通路径A1进行检测的阶段时，像素驱动电路中的扫描线等可以按照正常的时序接收信号；此时第一晶体管T1导通，蓝色控制开关KB和红色控制开关KR交替导通。而为了使得后续点亮分析效果较好，此时绿色控制开关KG可以保持导通，此时触控显示面板在纯绿背景进行显示。当触控显示面板中某个第一异常发光子像素的亮度超过第一阈值时，则表明第一连通路径A存在短路的情况；当触控显示面板中某个第一异常发光子像素的亮度低于第二阈值时，则表明第一连通路径A存在断路的情况；其中，第二阈值小于第一阈值。当对第一连通路径进行检测，且确保第一连通路径正常后，可以邦定芯片；且在邦定芯片之后，还可对整个触控显示面板进行正常的显示测试；此时，如图3b中所示，与检测电路相关的第一晶体管T1、蓝色控制开关KB、红色控制开关KR和绿色控制开关KG保持关闭。

与图3a中类似的电路结构还有图6a，图6a中与触控引线160电连接的第一类型数据线1200也仅能进行第一连通路径A1检测。此时请参阅图6b，图6b为图6a对应的时序示意图。假设图6a中所有的晶体管均是PMOS管，即控制端接收低电压时导通。图6b中第一晶体管T1、蓝色控制开关KB、红色控制开关KR和绿色控制开关KG的时序控制与图3b中相同，图6b中第四晶体管T4的时序与第一晶体管T1的时序相同。

在又一个实施方式中，请参阅图4b，图4b为图4a对应的时序示意图。假设图4a中所有的晶体管均是PMOS管，即控制端接收低电压时导通。图4a的电路结构中与触控引线160电连接的第一类型数据线1200不仅能进行第一连通路径A1检测，还能进行第二连通路径A2检测。在邦定驱动芯片之前，对第一连通路径A1进行检测时，第一晶体管T1导通，第二晶体管T2断开，蓝色控制开关KB和红色控制开关KR交替导通。而为了使得后续点亮分析效果较好，此时绿色控制开关KG可以保持导通，此时触控显示面板在纯绿背景进行显示。在对第一连通路径A1检测完毕后，进入对第二连通路径A2进行检测的阶段；此时第一晶体管T1断开，与第一类型数据线1200电连接的第二晶体管T2导通，蓝色控制开关KB和红色控制开关KR交替导通；此时与第二类型数据线1202电连接的颜色控制开关(例如，绿色控制开关KG)复用可以为对应的第二晶体管T2，以检测由第二类型数据线1202构成的第二连通路径A2。即此阶段中与第二类型数据线1202电连接的颜色控制开关也保持开启。当对第一连通路径A1和第二连通路径A2进行检测完毕后，且确保第一连通路径A1和第二连通路径A2正常后，可以邦定驱动芯片；而在邦定驱动芯片之后，还可对整个触控显示面板进行正常的显示测试；此时，如图4b中所示，与检测电路相关的第一晶体管T1、第二晶体管T2、蓝色控制开关KB、红色控制开关KR和绿色控制开关KG保持断开。

与图4a中类似的电路结构还有图5a；假设图5a中所有的晶体管均是PMOS管，即控制端接收低电压时导通。此时请参阅图5b，图5b为图5a对应的时序示意图。图5b中第一晶体管T1、第二晶体管T2、蓝色控制开关KB、红色控制开关KR和绿色控制开关KG的时序控制与图4b中相同，图5b中第三晶体管T3的时序与第一晶体管T1的时序相同。

此外，当触控引线160与第二类型数据线1202电连接时，假设图7a中所有的晶体管均是PMOS管，即控制端接收低电压时导通。如图7b所示，图7b为图7a对应的时序图。图7a的电路结构中与触控引线160电连接的第二类型数据线1202不仅能进行第一连通路径A1检测，还能进行第二连通路径A2检测；且在本实施例中，绿色控制开关KG复用为第二晶体管T2。在第一连通路径A1测试阶段，第一晶体管T1导通，与第一类型数据线1200电连接的第二晶体管T2断开，与第二类型数据线1202电连接的绿色控制开关KG断开；此时蓝色控制开关KB和红色控制开关KR可以交替导通或直接保持断开。在第二连通路径A2测试阶段，第一晶体管T1断开，与第一类型数据线1200电连接的第二晶体管T2导通，蓝色控制开关KB和红色控制开关KR交替导通，绿色控制开关KG导通。在邦定芯片后显示测试阶段，与检测电路相关的第一晶体管T1、第二晶体管T2、蓝色控制开关KB、红色控制开关KR和绿色控制开关KG保持断开。

与图7a中电路结构类似的还有图8a；假设图8a中所有的晶体管均是PMOS管，即控制端接收低电压时导通。请参阅图8b，图8b为图8a对应的时序示意图。在本实施例中，与第二类型数据线1202电连接的第二晶体管T2和绿色控制开关KG分别为两个独立的晶体管。在第一连通路径A1测试阶段，第一晶体管T1导通，所有的第二晶体管T2断开，绿色控制开关KG导通；此时蓝色控制开关KB和红色控制开关KR可以交替导通或直接断开。在第二连通路径A2测试阶段，第一晶体管T1断开，所有第二晶体管T2导通，绿色控制开关KG导通，蓝色控制开关KB和红色控制开关KR交替导通。在邦定芯片后显示测试阶段，与检测电路相关的第一晶体管T1、第二晶体管T2、蓝色控制开关KB、红色控制开关KR和绿色控制开关KG保持断开。

另外，与图7a中电路结构类似的还有图9a；假设图9a中所有的晶体管均是PMOS管，即控制端接收低电压时导通。请参阅图9b，图9b为图9a对应的时序示意图。在本实施例中，绿色控制开关KG复用为与第二类型数据线1202电连接的第二晶体管T2。此时图9b中时序与图7b中时序的差异在于增加了第四晶体管T4的时序，且第四晶体管T4的时序与第一晶体管T1的时序相同。

以上仅为本申请的实施例，并非因此限制本申请的专利范围，凡是利用本申请说明书及附图内容所作的等效结构或等效流程变换，或直接或间接运用在其它相关的技术领域，均同理包括在本申请的专利保护范围内。

Claims (10)

1.一种触控显示面板，其特征在于，包括：

衬底层；

阵列层，位于所述衬底层一侧，包括多个信号线；

发光层，位于所述阵列层背离所述衬底层一侧，包括多个子像素，且一个所述信号线与至少一个子像素电连接；

触控层，位于所述发光层背离所述阵列层一侧，包括多个触控引线；

解复用线路和多个检测电路，位于所述衬底层设置有所述阵列层一侧，且至少一个所述触控引线和至少一个所述信号线之间通过所述检测电路和所述解复用线路连通以形成第一连通路径；当电信号流经所述第一连通路径时，通过与所述信号线电连接的所述子像素的发光情况判定所述子像素所在的所述第一连通路径是否故障；

其中，所述信号线包括数据线；

其中，所述检测电路包括：

第一晶体管，位于所述第一连通路径，包括第一通路端和第二通路端；其中，所述触控引线的一端与所述解复用线路电连接，所述触控引线的另一端与所述第一晶体管的第一通路端电连接，所述第一晶体管的第二通路端与邻近的所述数据线电连接；

其中，所述数据线通过所述检测电路与所述解复用线路连通以形成第二连通路径；当所述第一连通路径断开，且电信号流经所述第二连通路径时，通过与所述数据线电连接的所述子像素的发光情况判定所述第二连通路径是否故障；

所述检测电路包括：第二晶体管，位于所述第二连通路径，包括第一通路端和第二通路端；所述第二晶体管的第一通路端与所述解复用线路电连接，所述第二晶体管的第二通路端与所述数据线电连接；其中，所述第一晶体管和所述第二晶体管非同时导通；

其中，所述发光层包括多种颜色的子像素，所述解复用线路包括并排设置的多个颜色通道子线路，所述触控显示面板还包括多个颜色控制开关；每个所述颜色控制开关包括第一通路端和第二通路端，所述颜色控制开关的第一通路端与对应的所述颜色通道子线路电连接，所述颜色控制开关的第二通路端与对应颜色的子像素电连接；

所述数据线包括第一类型数据线和/或第二类型数据线，与所述第一类型数据线电连接的多个所述子像素具有多种发光颜色，与所述第二类型数据线电连接的多个所述子像素具有同种发光颜色；

其中，与同一所述第一类型数据线电连接的多个所述子像素对应的多个所述颜色控制开关的第二通路端相互连通以形成第一节点；在进行所述第一连通路径或所述第二连通路径检测时，与同一所述第一类型数据线电连接的多个所述颜色控制开关交替导通；

与所述第一类型数据线电连接的所述第二晶体管的第一通路端与对应的所述第一节点连通，且所述触控引线也与对应的所述第一节点电连接。

2.一种触控显示面板，其特征在于，包括：

衬底层；

阵列层，位于所述衬底层一侧，包括多个信号线；

发光层，位于所述阵列层背离所述衬底层一侧，包括多个子像素，且一个所述信号线与至少一个子像素电连接；

触控层，位于所述发光层背离所述阵列层一侧，包括多个触控引线；

解复用线路和多个检测电路，位于所述衬底层设置有所述阵列层一侧，且至少一个所述触控引线和至少一个所述信号线之间通过所述检测电路和所述解复用线路连通以形成第一连通路径；当电信号流经所述第一连通路径时，通过与所述信号线电连接的所述子像素的发光情况判定所述子像素所在的所述第一连通路径是否故障；

其中，所述信号线包括数据线;

其中，所述检测电路包括：

第一晶体管，位于所述第一连通路径，包括第一通路端和第二通路端；其中，所述触控引线的一端与所述解复用线路电连接，所述触控引线的另一端与所述第一晶体管的第一通路端电连接，所述第一晶体管的第二通路端与邻近的所述数据线电连接；

其中，所述数据线通过所述检测电路与所述解复用线路连通以形成第二连通路径；当所述第一连通路径断开，且电信号流经所述第二连通路径时，通过与所述数据线电连接的所述子像素的发光情况判定所述第二连通路径是否故障；

所述检测电路包括：第二晶体管，位于所述第二连通路径，包括第一通路端和第二通路端；所述第二晶体管的第一通路端与所述解复用线路电连接，所述第二晶体管的第二通路端与所述数据线电连接；其中，所述第一晶体管和所述第二晶体管非同时导通；

其中，所述发光层包括多种颜色的子像素，所述解复用线路包括并排设置的多个颜色通道子线路，所述触控显示面板还包括多个颜色控制开关；每个所述颜色控制开关包括第一通路端和第二通路端，所述颜色控制开关的第一通路端与对应的所述颜色通道子线路电连接，所述颜色控制开关的第二通路端与对应颜色的子像素电连接；

所述数据线包括第一类型数据线和/或第二类型数据线，与所述第一类型数据线电连接的多个所述子像素具有多种发光颜色，与所述第二类型数据线电连接的多个所述子像素具有同种发光颜色；

其中，与同一所述第一类型数据线电连接的多个所述子像素对应的多个所述颜色控制开关的第二通路端相互连通以形成第一节点；在进行所述第一连通路径或所述第二连通路径检测时，与同一所述第一类型数据线电连接的多个所述颜色控制开关交替导通；与所述第一类型数据线电连接的所述第二晶体管的第一通路端与对应的所述第一节点连通；

所述触控引线与所述第一类型数据线电连接；

所述检测电路还包括第三晶体管，位于所述第一连通路径上，包括第一通路端和第二通路端；所述第三晶体管的第一通路端与对应的所述第一节点连通，所述第三晶体管的第二通路端与所述触控引线电连接；且所述第三晶体管与所述第一晶体管同时导通或断开。

3.一种触控显示面板，其特征在于，包括：

衬底层；

阵列层，位于所述衬底层一侧，包括多个信号线；

发光层，位于所述阵列层背离所述衬底层一侧，包括多个子像素，且一个所述信号线与至少一个子像素电连接；

触控层，位于所述发光层背离所述阵列层一侧，包括多个触控引线；

解复用线路和多个检测电路，位于所述衬底层设置有所述阵列层一侧，且至少一个所述触控引线和至少一个所述信号线之间通过所述检测电路和所述解复用线路连通以形成第一连通路径；当电信号流经所述第一连通路径时，通过与所述信号线电连接的所述子像素的发光情况判定所述子像素所在的所述第一连通路径是否故障；

其中，所述信号线包括数据线；

其中，所述检测电路包括：

第一晶体管，位于所述第一连通路径，包括第一通路端和第二通路端；其中，所述触控引线的一端与所述解复用线路电连接，所述触控引线的另一端与所述第一晶体管的第一通路端电连接，所述第一晶体管的第二通路端与邻近的所述数据线电连接；

其中，所述数据线通过所述检测电路与所述解复用线路连通以形成第二连通路径；当所述第一连通路径断开，且电信号流经所述第二连通路径时，通过与所述数据线电连接的所述子像素的发光情况判定所述第二连通路径是否故障；

所述检测电路包括：第二晶体管，位于所述第二连通路径，包括第一通路端和第二通路端；所述第二晶体管的第一通路端与所述解复用线路电连接，所述第二晶体管的第二通路端与所述数据线电连接；其中，所述第一晶体管和所述第二晶体管非同时导通；

其中，所述发光层包括多种颜色的子像素，所述解复用线路包括并排设置的多个颜色通道子线路，所述触控显示面板还包括多个颜色控制开关；每个所述颜色控制开关包括第一通路端和第二通路端，所述颜色控制开关的第一通路端与对应的所述颜色通道子线路电连接，所述颜色控制开关的第二通路端与对应颜色的子像素电连接；

所述数据线包括第一类型数据线和/或第二类型数据线，与所述第一类型数据线电连接的多个所述子像素具有多种发光颜色，与所述第二类型数据线电连接的多个所述子像素具有同种发光颜色；

其中，与同一所述第一类型数据线电连接的多个所述子像素对应的多个所述颜色控制开关的第二通路端相互连通以形成第一节点；在进行所述第一连通路径或所述第二连通路径检测时，与同一所述第一类型数据线电连接的多个所述颜色控制开关交替导通；

所述触控引线与所述第二类型数据线电连接；

所述检测电路还包括第四晶体管，位于所述第一连通路径上，包括第一通路端和第二通路端；与所述第二类型数据线电连接的所述第二晶体管的第一通路端与所述解复用线路之间具有第二节点，所述第四晶体管的所述第一通路端与所述第二节点电连接，所述第四晶体管的所述第二通路端与所述触控引线电连接；且所述第四晶体管与所述第一晶体管同时导通或断开。

4.根据权利要求3所述的触控显示面板，其特征在于，

当所述触控引线与所述第二类型数据线电连接时，与所述第二类型数据线电连接的所述颜色控制开关复用为所述第二晶体管。

5.根据权利要求1或2或3所述的触控显示面板，其特征在于，

所述触控显示面板包括显示区和非显示区；且所述非显示区内设置有至少一个堤坝；所述阵列层包括多个金属层，所述金属层包括所述信号线；所述触控引线通过至少一个导电孔与所述阵列层中的至少一个所述金属层导通，且至少部分导电孔位于最远离所述显示区的所述堤坝背离所述显示区一侧。

6.根据权利要求5所述的触控显示面板，其特征在于，

所述触控显示面板包括相对设置的上边框和下边框，所述堤坝包括分别位于所述上边框和所述下边框的内堤坝和外堤坝，所述内堤坝靠近所述显示区设置，所述外堤坝位于所述内堤坝远离所述显示区的一侧；其中，所述阵列层包括层叠设置的第一金属层、第二金属层、第三金属层和第四金属层，且与所述触控引线电连接的所述数据线位于所述第三金属层；所述触控引线包括相对设置的第一端和第二端，所述第一端位于所述下边框处的所述外堤坝背离所述显示区一侧，所述第二端位于所述上边框处的所述外堤坝背离所述显示区一侧。

7.根据权利要求6所述的触控显示面板，其特征在于，

针对所述第一连通路径，在所述下边框位置，从所述解复用线路引出的走线通过第一导电孔与所述第一金属层和/或所述第二金属层电连接；所述第一金属层和/或所述第二金属层通过第二导电孔与所述第四金属层电连接；所述第四金属层通过第三导电孔与所述触控引线的第一端电连接；其中，所述第一导电孔、所述第二导电孔和所述第三导电孔位于所述外堤坝背离所述显示区一侧；和/或，

在所述上边框位置，所述触控引线的第二端通过第四导电孔与所述第四金属层电连接；所述第四金属层通过第五导电孔与所述第一金属层和/或所述第二金属层电连接，所述第一金属层和/或所述第二金属层通过第六导电孔与所述第三金属层电连接；其中，所述第四导电孔和所述第五导电孔位于所述外堤坝背离所述显示区一侧。

8.根据权利要求7所述的触控显示面板，其特征在于，

所述数据线与所述解复用线路连通以形成第二连通路径，且所述第一连通路径与所述第二连通路径非同时导通；

其中，针对所述第二连通路径，从所述解复用线路引出的走线通过第七导电孔与所述第一金属层和/或所述第二金属层电连接；所述第一金属层和/或所述第二金属层通过第八导电孔与所述第四金属层电连接；所述第四金属层通过第九导电孔与所述数据线电连接；其中，所述第七导电孔、所述第八导电孔和所述第九导电孔位于所述外堤坝背离所述显示区一侧。

9.一种触控显示面板的检测方法，其特征在于，所述检测方法适用于权利要求1-8中任一项所述的触控显示面板，所述检测方法包括：

向所述第一连通路径输入电信号，获得所述触控显示面板的第一点亮情况；

根据所述第一点亮情况从所述触控显示面板中获得第一异常发光子像素，并判定所述第一异常发光子像素所在的第一连通路径存在故障。

10.根据权利要求9所述的检测方法，其特征在于，所述触控显示面板还包括多个第二连通路径；所述检测方法还包括：

控制所述第一连通路径断开、且向所述第二连通路径输入电信号，获得所述触控显示面板的第二点亮情况；

根据所述第二点亮情况从所述触控显示面板中获得第二异常发光子像素，并判定所述第二异常发光子像素所在的第二连通路径存在故障。

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