CN114509617A - 电子设备的自诊断装置 - Google Patents
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Abstract
本发明涉及一种电子设备的自诊断装置，其包括：向量存储器，其被配置为存储用于测试装备有执行算术运算的多个核心的被测器件(DUT)的测试功能代码、与根据测试功能代码的功能测试相对应的功能测试期望值、用于测试的设计(DFT)测试代码、与根据DFT测试代码的DFT测试相对应的DFT测试期望值、以及用于DUT的一般算术运算或运算的非测试功能代码；测试数据存储器，其被配置为存储测试数据；以及安全区域测试控制器，其被配置为选择测试模式，控制施加到DUT的测试信号的环境变量并测试DUT，将功能测试期望值与测试功能代码结果值进行比较，并将DFT测试期望值与DFT测试代码结果值进行比较，以输出比较结果信息。
Description
技术领域
本发明涉及电子设备的自诊断装置。更具体地，本发明涉及一种测试技术，其能够通过分析被测器件(Device Under Test，DUT)(诸如半导体、电路模块或系统)随时间推移在安全操作区域中的特性变化来提高DUT的安全性，并且即使在DUT运行时也允许执行常规测试和周期性测试，这与现有技术不同。
背景技术
通常，对于装备有电气和电子电路的移动系统的功能安全，ISO 26262定义了在汽车安全完整性级别(Automotive Safety Integrity Level，ASIL)4上确保高安全性的标准。
为了实现这样的高安全性目标，需要具有能够在现场执行自诊断的测试电路。
图1是示出根据现有技术的美国专利号US 10,620,266B2的设备的配置的图，图2和图3是用于描述根据现有技术的操作的图。
参照图1至图3，根据现有技术，具有多个核心的设备包括自诊断控制电路，并且至少一个核心在使用地点根据外部测试指令将当前算术操作状态存储在存储器中，并且控制进入诊断睡眠模式。
根据现有技术，由于在进入测试模式的处理中需要停止核心的算术运算电路并在测试之后恢复核心的算术运算电路的处理，并且采用通过从外部接收测试模式进入指令来执行测试的被动方法，因此存在系统的操作效率降低的问题。
此外，现有技术具有不应用于需要高安全性的系统的问题，因为不可能知道电路功能的劣化和由于时间变化引起的质量的变化。
(现有技术文献)
(专利文献)
(专利文献1)美国专利号US 10,620,266B2(注册日期：2020年4月14日，标题为“诊断睡眠状态下现场自检的系统、设备和方法”)
发明内容
技术问题
本发明的技术目的在于提供一种设备，该设备被配置为确认诸如半导体器件、信息和通信技术(Information and Communications Technology，ICT)模块或系统的被测器件(DUT)的安全操作区域(region)，并分析该安全操作区域随时间推移的特性变化，从而提高装备有电气和电子电路的移动对象的安全性。
本发明的另一技术目的是允许即使在DUT运行时也执行常规测试和周期性测试，从而为安装在诸如自主车辆或无人机的移动对象上的电子设备的测试提供特别有效的解决方案。
解决问题的技术方案
根据本发明的用于电子设备的自诊断装置包括：向量存储器，其被配置为存储用于测试装备有执行算术运算的多个核心的被测器件(DUT)的测试功能代码、与根据所述测试功能代码的功能测试相对应的功能测试期望值、用于测试的设计(Design For Test，DFT)测试代码、与根据所述DFT测试代码的DFT测试相对应的DFT测试期望值、以及用于所述DUT的一般算术运算或运算的非测试功能代码；测试数据存储器，其被配置为存储测试数据，该测试数据包括DFT测试代码结果值、测试功能代码结果值和非测试功能代码结果值，所述DFT测试代码结果值是根据所述DFT测试代码的DFT测试的结果，所述测试功能代码结果值是根据所述测试功能代码的功能测试的结果，所述非测试功能代码结果值是根据所述非测试功能代码的功能测试的结果；以及安全区域测试控制器，其被配置为：从所述测试功能代码、所述DFT测试代码以及所述非测试功能代码中选择一个以选择测试模式，响应于所选择的测试模式控制施加到所述DUT的测试信号的环境变量并测试所述DUT，将存储在所述向量存储器中的功能测试期望值与存储在所述测试数据存储器中的测试功能代码结果值进行比较，并将存储在所述向量存储器中的DFT测试期望值与存储在所述测试数据存储器中的DFT测试代码结果值进行比较，以输出比较结果信息。
在根据本发明的用于电子设备的自诊断装置中，所述安全区域测试控制器可以进行控制以将操作区段(operation section)的部分区段(a partial section)周期性地分配到执行根据所述测试功能代码的测试模式的区段，所述部分区段存在于引导所述DUT的引导区段(boot section)和终止所述DUT的操作的终止区段(termination section)之间，从而允许在所述操作区段中执行根据所述测试功能代码的测试模式。
在根据本发明的用于电子设备的自诊断装置中，所述安全区域测试控制器可以控制要累积在所述测试数据存储器中的测试功能代码结果值，该测试功能代码结果值是在测试模式中根据所述测试功能代码通过将构成施加到所述DUT的测试信号的环境变量(诸如电压、时钟频率和温度)从最小值改变到最大值而获得的，将累积在所述测试数据存储器中的所述测试功能代码结果值与存储在所述向量存储器中的所述功能测试期望值进行比较，确定所述测试功能代码正常运行的区段和所述测试功能代码异常运行的区段，并且通过将确定结果包括在比较结果信息中来输出所述确定结果。
在根据本发明的用于电子设备的自诊断装置中，可以通过外部设备输入存储在所述向量存储器中的所述测试功能代码、所述DFT测试代码、所述功能测试期望值、所述DFT测试期望值和所述非测试功能代码。
在根据本发明的用于电子设备的自诊断装置中，所述安全区域测试控制器可以包括：自测试控制器，该自测试控制器被配置为针对所述DUT设置测试环境和测试周期，并根据所述测试数据的时间变化信息输出提前警告信息；测试模式选择器，其被配置为针对所述DUT选择测试模式；电压控制器，其被配置为根据由所述测试模式选择器选择的测试模式来控制施加到所述DUT的电压；时钟控制器，其被配置为根据由所述测试模式选择器选择的测试模式来控制施加到所述DUT的时钟；数据比较器，其被配置为将存储在所述向量存储器中的所述功能测试期望值与存储在所述测试数据存储器中的所述测试功能代码结果值进行比较，并将存储在所述向量存储器中的所述DFT测试期望值与存储在所述测试数据存储器中的所述DFT测试代码结果值进行比较；以及网络接口，其被配置为支持与外部设备的网络连接。
在根据本发明的用于电子设备的自诊断装置中，所述安全区域测试控制器还可以包括电压寄存器，该电压寄存器被配置为存储电压环境变量，所述电压环境变量包括由所述电压控制器施加到所述DUT的电压的最小值和最大值，以及阶跃值，即，在所述电压从最小值逐渐增加到最大值的情况下、所述电压从最大值逐渐减小到最小值的情况下、以及对故障电压区段和操作电压区段之间的边界线进行二进制搜索的情况下的单位电压变化值。
在根据本发明的用于电子设备的自诊断装置中，所述安全区域测试控制器还可以包括时钟寄存器，该时钟寄存器被配置为存储时钟环境变量，所述时钟环境变量包括：由时钟控制器施加到所述DUT的时钟的频率的最小值和最大值；阶跃值，即，时钟的单位频率变化值和最小延迟值和最大延迟值；阶跃值，即，在将所述时钟的延迟值从最小延迟值增大到最大延迟值的情况下，将所述时钟的延迟值从最大延迟值减小到最小延迟值的情况下、以及对故障延迟区段(malfunction delay section)和操作延迟区段(operation delaysection)之间的边界线进行二进制搜索的情况下的单位延迟变化值以及所述时钟的占空比(duty ratio)的最小值和最大值；以及阶跃值，即，在将所述时钟的占空比从占空比的最小值增大到其最大值的情况下、在将所述时钟的占空比从最大值减小到最小值的情况下、以及在对故障占空比区段(malfunction duty ratio section)和操作占空比区段(operation duty ratio section)之间的边界线进行二进制搜索的情况下的单位占空比变化值。
在根据本发明的用于电子设备的自诊断装置中，所述安全区域测试控制器还可以包括：温度控制器，该温度控制器被配置为根据由所述测试模式选择器选择的测试模式来控制所述DUT的温度；以及温度寄存器，该温度寄存器被配置为存储温度环境变量，所述温度环境变量包括温度值和冷却风扇驱动值，用于响应于在测试所述DUT的过程中在所述DUT中产生的热量来控制或暂停测试所述DUT的过程。
在根据本发明的用于电子设备的自诊断装置中，所述安全区域测试控制器还可以包括温度检测器，该温度检测器被配置为检测所述DUT的温度，以在测试所述DUT的过程中将检测到的温度发送到所述自测试控制器。
在根据本发明的用于电子设备的自诊断装置中，所述安全区域测试控制器还可以包括电流-电压检测器，该电流-电压检测器被配置为测量所述DUT的输入/输出端子或功率端子的泄漏电流(leakage current)，以在测试所述DUT的过程之前和之后将泄漏电流传输到所述自测试控制器。
在根据本发明的用于电子设备的自诊断装置中，所述DUT可包括安装在包括自主车辆或无人机在内的移动对象上的电子设备、由包括半导体或显示器的信息和通信技术(ICT)元件形成的电子电路、或安装在测试器件上的电子设备。
有益效果
根据本发明，具有如下效果：能够搜索半导体、电路模块以及电气和电子设备的安全操作区域，并且能够自主地测试和监测电路随时间推移的功能劣化。
另外，与传统方法不同，即使当驱动被测器件(DUT)时，也具有能够执行测试目标的实时特性诊断(诸如，普通测试和时间变化分析)的效果。
另外，由于这些优点，可以确认电路功能的劣化和质量随时间推移的变化，从而可以应用于需要高安全性的电气和电子电路和系统，包括自主车辆和无人机等移动对象。
附图说明
图1是示出根据现有技术的设备的配置的图。
图2和图3是用于描述根据现有技术的操作的图。
图4是示出根据本发明的一个实施例的用于电子设备的自诊断装置的图。
图5是示出根据本发明的一个实施例的安全区域测试控制器的示例性配置的图。
图6是示出根据本发明的一个实施例的用于电子设备的自诊断装置的示例性操作定时图的图。
图7和图8是用于描述根据本发明的一个实施例的用于电子设备的自诊断装置的示例性操作的图。
具体实施方式
这里公开的本发明的实施例的具体结构和功能描述仅出于描述根据本发明的概念的实施例的目的而是说明性的，并且根据本发明的概念的这些实施例可以以各种形式实现，并且不应当被解释为限于这里描述的实施例。
根据本发明的概念的实施例可以进行各种修改并且可以具有各种形式，使得这些实施例将在附图中示出并且在本文中详细描述。然而，应当理解，并不意图将根据本发明的概念的实施例限制为特定的公开形式，而是包括落入本发明的精神和范围内的所有修改、等同物和替换。
除非另有定义，本文中使用的包括技术术语或科学术语的所有术语具有与本发明所属领域的技术人员通常理解的相同含义。词典中定义的一般术语应被解释为具有在相关领域的上下文中一致的含义，并且除非在本公开中明确定义，否则将不被解释为具有理想主义或过度形式主义的含义。
以下，将参考附图详细描述本发明的示例性实施方式。
图4是示出根据本发明的一个实施例的用于电子设备的自诊断装置的图，图5是示出根据本发明的一个实施例的安全区域测试控制器的示例性配置的图。
参照图4和图5，根据本发明的一个实施例的用于电子设备的自诊断装置包括向量存储器10、测试数据存储器20和安全区域测试控制器30。
向量存储器10是这样的组件，在该组件中存储有用于测试装备有执行算术运算的多个核心的测试目标的测试功能代码、对应于根据测试功能代码的功能测试的功能测试期望值、用于测试的设计(DFT)测试代码、对应于根据DFT测试代码的DFT测试的DFT测试期望值、以及用于一般算术操作或被测器件(DUT)的操作的非测试功能代码。
更具体地，向量存储器10可以被划分为非测试代码区域和测试代码区域。非测试代码区域存储用于一般算术操作或测试目标的操作的非测试功能代码，并且测试代码区域包括测试功能代码，并且DFT测试代码存储对应于每个代码的测试期望值。
这里，DFT测试代码包括用于驱动构成DUT的内部电路的逻辑单元连接网络的SCAN链的扫描代码和用于驱动用于内部单元阵列的自测试的BIST电路的内置自测试(BIST)代码。DFT测试代码可以以与测试功能代码的格式不同的格式来配置，并且作为单独的信道来操作。
同时，测试功能代码可以被配置为具有与非测试功能代码相同的格式，并且通过相同的指令解码器和相同的调度器信道来发送和控制测试功能代码。形成测试功能代码以在尽可能短的时间段内在尽可能多的区域中驱动DUT的核心和外围，以允许执行有效的测试。
例如，DUT可以是安装在包括自主车辆或无人机在内的移动对象上的电子设备，并且测试功能代码、DFT测试代码、功能测试期望值、DFT测试期望值和非测试功能代码可以被配置为通过外部设备输入和重新输入。
测试数据存储器20是用于存储测试数据的组件，测试数据包括DFT测试代码结果值、测试功能代码结果值和非测试功能代码结果值，DFT测试代码结果值是根据DFT测试代码的DFT测试的结果，测试功能代码结果值是根据测试功能代码的功能测试的结果，非测试功能代码结果值是根据非测试功能代码进行功能测试的结果。
安全区域测试控制器30是用于执行以下功能的组件：从测试功能代码、DFT测试代码和非测试功能代码中选择一个以选择测试模式；响应于所选择的测试模式控制施加到DUT的测试信号的环境变量，并测试DUT；将存储在向量存储器10中的功能测试期望值与存储在测试数据存储器20中的测试功能代码结果值进行比较；以及将存储在向量存储器10中的DFT测试期望值与存储在测试数据存储器20中的DFT测试代码结果值进行比较，以输出比较结果信息。
安全区域测试控制器30可以包括用于控制施加到DUT的电压和频率的部件、用于选择测试代码的部件、以及用于将实际测试结果与存储在向量存储器10中的期望值进行比较的部件。下面将描述安全区域测试控制器30的具体配置。
例如，安全区域测试控制器30可以将操作区段的部分区段周期性地分配到执行根据测试功能代码的测试模式的区段，所述部分区段存在于引导所述DUT的引导区段和终止所述DUT的操作的终止区段之间，从而控制在所述操作区段中执行根据所述测试功能代码的测试模式。
另外，例如，安全区域测试控制器30可以形成为控制要累积在测试数据存储器20中的测试功能代码结果值，该测试功能代码结果值是在测试模式中根据测试功能代码通过将构成施加到所述DUT的测试信号的环境变量(诸如电压、时钟频率和温度)从最小值改变到最大值而获得的，将累积在测试数据存储器20中的测试功能代码结果值与存储在向量存储器10中的功能测试期望值进行比较，确定测试功能代码正常运行的区段和测试功能代码异常运行的区段，并且通过将确定结果包括在比较结果信息中来输出所述确定结果。
在下文中，将参照图4另外描述安全区域测试控制器30的具体配置。
另外参照图4，安全区测试控制器30包括自测试控制器100、测试模式选择器110、电压控制器120、时钟控制器130、温度控制器140、数据比较器150、网络接口160、电压寄存器170、时钟寄存器180、温度寄存器190、温度检测器200、电流-电压检测器210、数据缓冲存储器220和程序存储器230。
自测试控制器100执行针对DUT设置测试环境和测试时段的功能以及参照从数据比较器150输出的信息根据测试数据的时间变化信息输出提前警告信息的功能。
测试模式选择器110选择要应用于DUT的测试代码，以执行针对DUT选择测试模式的功能。
电压控制器120执行根据由测试模式选择器110选择的测试模式来控制施加到DUT的电压的功能。
电压寄存器170存储电压环境变量，所述电压环境变量包括由电压控制器120施加到所述DUT的电压的最小值和最大值，以及阶跃值，即，在所述电压从最小值逐渐增加到最大值的情况下、所述电压从最大值逐渐减小到最小值的情况下、以及对故障电压区段和操作电压区段之间的边界线进行二进制搜索的情况下的单位电压变化值。二进制搜索具有缩短测试时间的附加效果。
时钟控制器130执行根据由测试模式选择器110选择的测试模式来控制施加到DUT的时钟的功能。
时钟寄存器180存储时钟环境变量，所述时钟环境变量包括：由时钟控制器130施加到所述DUT的时钟的频率的最小值和最大值；阶跃值(step values)，即，时钟的单位频率变化值和最小延迟值和最大延迟值；阶跃值，即，在将所述时钟的延迟值从最小延迟值增大到最大延迟值的情况下，将所述时钟的延迟值从最大延迟值减小到最小延迟值的情况下、以及对故障延迟区段和操作延迟区段之间的边界线进行二进制搜索的情况下的单位延迟变化值以及所述时钟的占空比的最小值和最大值；以及阶跃值，即，在将所述时钟的占空比从占空比的最小值增大到其最大值的情况下、在将所述时钟的占空比从最大值减小到最小值的情况下、以及在对故障占空比区段和操作占空比区段之间的边界线进行二进制搜索的情况下的单位占空比变化值。
温度控制器140执行根据由测试模式选择器110选择的测试模式来控制构成DUT的组件(例如，核心、存储器和板)的温度的功能。
温度寄存器190存储温度环境变量，该温度环境变量包括温度值和冷却风扇驱动值，用于响应于在测试DUT的过程中在DUT中产生的热量来控制或暂停测试DUT的过程。
数据比较器150执行将存储在向量存储器10中的功能测试期望值与存储在测试数据存储器20中的测试功能代码结果值进行比较的功能，以及将存储在向量存储器10中的DFT测试期望值与存储在测试数据存储器20中的DFT测试代码结果值进行比较的功能。
网络接口160执行支持与外部设备的网络连接的功能。
温度检测器200检测构成DUT的组件的温度，以在测试DUT的过程中将检测到的温度发送到自测试控制器100。
电流-电压检测器210测量DUT的输入/输出端子或电源端子的泄漏电流，以在测试DUT的过程之前和之后将泄漏电流传输到自测试控制器100。
数据缓冲存储器220存储与测试有关的数据，并且程序存储器230存储在测试中使用的程序。
图6是示出根据本发明的一个实施例的用于电子设备的自诊断装置的示例性操作定时图的图。
在图6中，系统是DUT，并且基本操作包括作为初始值设置操作的引导区段T0、执行任务的操作/功能测试区段T1_1至T1_n、以及结束区段T2。
在引导区段T0中，在系统的初始值设置操作之后执行DFT检查模式，并且对系统的DFT电路执行测试。当DFT电路的测试结束时，将测试结果存储在测试数据存储器20的DFT测试数据存储区域中。
在操作/功能测试区段T1中，执行应用程序的任务，并且以规则间隔执行功能测试模式。在功能测试模式中，包括电压、频率和温度的环境变量的值从最小值变为最大值，以找到功能测试代码正常操作的区段和功能测试代码异常操作的区段。功能测试被周期性地和重复地执行，并且功能测试结果被存储在测试数据存储器20的功能代码测试数据存储区域中。
在实现功能测试模式的方法中，除了如上述示例中那样以规则周期执行功能测试的方法之外，还可以在系统的任务由于应用程序而终止并且因此系统进入空闲状态时实现用于执行功能测试模式的设置。
在结束区段T2中，在系统进入最终待机状态或停机状态之前，系统进入DFT测试模式以测试系统的DFT电路。当DFT电路的测试结束时，将测试结果存储在测试数据存储器20的DFT测试数据存储区域中。
另外，由于DFT电路被设计为以低速操作，其目的仅在于确认电路是否连接，而不直接影响功能电路的操作，所以DFT电路通常不受环境变量的很大影响，并且与包括系统的减速和异常定时的功能没有关系。因此，这里，不需要在操作/功能测试区段T1中设置用于搜索安全操作区域。
图7和图8是用于描述根据本发明的一个实施例的用于电子设备的自诊断装置的示例性操作的图，其示出了用于搜索DUT的安全操作区域的任务流。
另外参照图7和图8，首先，在操作S10中，执行将通过网络传输的测试代码和期望值存储在向量存储器10中的处理。
在操作S20中，执行选择是在DUT的空闲状态下还是在其普通模式下应用测试的处理。这里，当选择空闲模式时，仅当DUT处于空闲状态而没有要执行的任务时才执行测试，并且当选择普通模式时，过程切换到操作S30并且设置用于周期性地激活测试模式的测试代码应用时段。
在操作S40中，设置用于执行测试代码的电压、频率、时钟占空比的应用范围和测试间隔，并且可以根据预先在系统中输入的程序或通过网络校正的值来自动设置该设置。
在操作S50中，当完成环境变量的设置时，执行用于安全操作区域的测量程序。
在操作S70中，根据预定步骤将DUT的操作变量从最小值部署到最大值，并且执行测试，并且在操作S90中，将测试结果存储在测试数据存储器20中。
在操作S100和S110中，数据比较器150将测试结果与存储在向量存储器10中的期望值进行比较，以确定是否发生缺陷，并且将确定结果存储在安全区域测试控制器30内的数据缓冲存储器220中。
这里，当在针对DUT部署输入变量期间发生缺陷时，过程切换到操作S80以重置DUT并且部署下一输入变量以继续测试。
在操作S120中，确定操作变量的部署是否完成。当操作变量的部署未完成时，过程切换到操作S60，并且当操作变量的部署完成时，过程切换到操作S130。
当操作变量的部署完成时，当与先前在操作S130中记录的数据进行比较时，分析安全操作区域是否改变，并且当在操作S140中检测到安全操作区域中的改变时，在操作S150中将检测结果发送到警告系统，或者在操作S160中通过网络将检测结果发送到外部。
如上面详细描述的，根据本发明，具有如下效果：能够搜索半导体、电路模块以及电气和电子设备的安全操作区域，并且能够自主地测试和监测电路随时间推移的功能劣化。
另外，与传统方法不同，即使当驱动DUT时，也具有能够执行DUT的实时特性诊断(诸如，普通测试和时间变化分析)的效果。
另外，由于这些优点，可以确认电路功能的劣化和质量随时间推移的变化，从而可以应用于需要高安全性的电气和电子电路和系统，包括自主车辆和无人机等移动对象。
(附图标记的说明)
10：向量存储器
20：测试数据存储器
30：安全区域测试控制器
100：自测试控制器
110：测试模式选择器
120：电压控制器
130：时钟控制器
140：温度控制器
150：数据比较器
160：网络接口
170：电压寄存器
180：时钟寄存器
190：温度寄存器
200：温度检测器
210：电流-电压检测器
220：数据缓冲存储器
230：程序存储器
Claims (11)
1.一种电子设备的自诊断装置，所述自诊断装置包括：
向量存储器，其被配置为存储用于测试装备有执行算术运算的多个核心的被测器件(DUT)的测试功能代码、对应于根据所述测试功能代码的功能测试的功能测试期望值、用于测试的设计(DFT)测试代码、对应于根据DFT测试代码的DFT测试的DFT测试期望值、以及用于一般算术操作或被测器件(DUT)的操作的非测试功能代码；
测试数据存储器，其被配置为存储测试数据，该测试数据包括DFT测试代码结果值、测试功能代码结果值和非测试功能代码结果值，所述DFT测试代码结果值是根据所述DFT测试代码的DFT测试的结果，所述测试功能代码结果值是根据所述测试功能代码的功能测试的结果，所述非测试功能代码结果值是根据所述非测试功能代码的功能测试的结果；以及
安全区域测试控制器，其被配置为：从所述测试功能代码、所述DFT测试代码以及所述非测试功能代码中选择一个以选择测试模式；响应于所选择的测试模式控制施加到所述DUT的测试信号的环境变量，并测试所述DUT；将存储在所述向量存储器中的功能测试期望值与存储在所述测试数据存储器中的测试功能代码结果值进行比较；并且将存储在所述向量存储器中的DFT测试期望值与存储在所述测试数据存储器中的DFT测试代码结果值进行比较，以输出比较结果信息。
2.根据权利要求1所述的自诊断装置，其中，所述安全区域测试控制器将操作区段的部分区段周期性地分配到执行根据所述测试功能代码的测试模式的区段，所述部分区段存在于引导所述DUT的引导区段和终止所述DUT的操作的终止区段之间，以便控制在所述操作区段中执行根据所述测试功能代码的测试模式。
3.根据权利要求2所述的自诊断装置，其中，所述安全区域测试控制器控制要累积在所述测试数据存储器中的测试功能代码结果值，该测试功能代码结果值是在测试模式中根据所述测试功能代码通过将构成施加到所述DUT的测试信号的环境变量(诸如电压、时钟频率和温度)从最小值改变到最大值而获得的，将累积在所述测试数据存储器中的所述测试功能代码结果值与存储在所述向量存储器中的所述功能测试期望值进行比较，确定所述测试功能代码正常运行的区段和所述测试功能代码异常运行的区段，并且通过将确定结果包括在比较结果信息中来输出所述确定结果。
4.根据权利要求1所述的自诊断装置，其中，通过外部设备允许输入存储在所述向量存储器中的所述测试功能代码、所述DFT测试代码、所述功能测试期望值、所述DFT测试期望值以及所述非测试功能代码。
5.根据权利要求2所述的自诊断装置，其中，所述安全区域测试控制器包括：
自测试控制器，其被配置为针对所述DUT设置测试环境和测试周期，并根据所述测试数据的时间变化信息输出预先警告信息；
测试模式选择器，其被配置为针对所述DUT选择测试模式；
电压控制器，其被配置为根据由所述测试模式选择器选择的测试模式来控制施加到所述DUT的电压；
时钟控制器，其被配置为根据由所述测试模式选择器选择的测试模式来控制施加到所述DUT的时钟；
数据比较器，其被配置为将存储在所述向量存储器中的功能测试期望值与存储在所述测试数据存储器中的测试功能代码结果值进行比较，并且将存储在所述向量存储器中的DFT测试期望值与存储在所述测试数据存储器中的DFT测试代码结果值进行比较；以及
网络接口，其被配置为支持与外部设备的网络连接。
6.根据权利要求5所述的自诊断装置，其中，所述安全区域测试控制器还包括电压寄存器，该电压寄存器被配置为存储电压环境变量，所述电压环境变量包括由所述电压控制器施加到所述DUT的电压的最小值和最大值，以及阶跃值，即，在所述电压从最小值逐渐增加到最大值的情况下、所述电压从最大值逐渐减小到最小值的情况下、以及对故障电压区段和操作电压区段之间的边界线进行二进制搜索的情况下的单位电压变化值。
7.根据权利要求5所述的自诊断装置，其中，所述安全区域测试控制器还包括时钟寄存器，该时钟寄存器被配置为存储时钟环境变量，所述时钟环境变量包括：由时钟控制器施加到所述DUT的时钟的频率的最小值和最大值；阶跃值，即，时钟的单位频率变化值和最小延迟值和最大延迟值；阶跃值，即，在将所述时钟的延迟值从最小延迟值增大到最大延迟值的情况下，将所述时钟的延迟值从最大延迟值减小到最小延迟值的情况下、以及对故障延迟区段和操作延迟区段之间的边界线进行二进制搜索的情况下的单位延迟变化值以及所述时钟的占空比的最小值和最大值；以及阶跃值，即，在将所述时钟的占空比从占空比的最小值增大到其最大值的情况下、在将所述时钟的占空比从最大值减小到最小值的情况下、以及在对故障占空比区段和操作占空比区段之间的边界线进行二进制搜索的情况下的单位占空比变化值。
8.根据权利要求5所述的自诊断装置，其中，所述安全区域测试控制器包括：
温度控制器，其被配置为根据由所述测试模式选择器选择的测试模式来控制所述DUT的温度；
温度寄存器，其被配置为存储温度环境变量，该温度环境变量包括温度值和冷却风扇驱动值，用于响应于在测试DUT的过程中在DUT中产生的热量来控制或暂停测试DUT的过程。
9.根据权利要求8所述的自诊断装置，其中，所述安全区域测试控制器还包括温度检测器，该温度检测器被配置为检测所述DUT的温度，以在测试所述DUT的过程中将检测到的温度发送到所述自测试控制器。
10.根据权利要求5所述的自诊断装置，其中，所述安全区域测试控制器还包括电流-电压检测器，该电流-电压检测器被配置为测量所述DUT的输入/输出端子或功率端子的泄漏电流，以在测试所述DUT的过程之前和之后将泄漏电流传输到所述自测试控制器。
11.根据权利要求1所述的自诊断装置，其中，所述DUT包括安装在包括自主车辆或无人机在内的移动对象上的电子设备、由包括半导体或显示器的信息和通信技术(ICT)元件形成的电子电路、或安装在测试器件上的电子设备。
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