CN114502924B - 用于监测测量设备系统的方法 - Google Patents
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Abstract
一种方法,包括:借助于测量设备生成测量信号,使得测量信号具有至少一个信号参数,该信号参数跟随时间变化,其是主要测量变量的时间变化以及独立于测量变量的干扰变量的时间变化两者;以及借助于测量设备生成测量信号,使得测量信号具有至少一个信号参数,该信号参数跟随时间变化,其是主要测量变量的时间变化。此外,该方法包括:至少基于测量信号的信号参数来确定表示主要测量变量或取决于其的次要测量变量的第一类型的测量值;并且至少基于测量信号的信号参数确定表示主要测量变量或取决于其的次要测量变量的第二类型的测量值。此外,该方法包括:使用第一类型的测量值以及第二类型的测量值两者来确定误差表征。
Description
技术领域
本发明涉及一种用于监测由第一测量设备和第二测量设备形成的测量设备系统的方法,尤其是一种用于检查测量设备系统运转的能力和/或用于检测测量设备系统的干扰的方法。
背景技术
在通常应用于查明一个或多个测量变量的工业测量技术中,例如,在例如管道的工艺管线中流动的被测物质的质量流量和/或密度,是借助于两个或多个(单个)测量设备形成的测量设备系统或测量装置。借助于第一测量设备和至少第二测量设备形成的这种测量设备系统的示例从下文等得知:US-A 2007/0084298、US-A 2011/0161018、US-A 2012/0042732、WO-A 2009/134268、WO-A 2016/176224和WO-A 2018/083453。
在这种测量设备系统的情况下,第一测量设备用于产生通常为电的第一测量信号,该测量信号进而具有至少第一信号参数,例如幅度、频率或相位角度,其跟随时间变化,该时间变化是第一主要测量变量的时间变化,第一测量设备又用于至少基于第一测量信号的第一信号参数查明第一类型的测量值和表示第一主要测量变量或取决于其的第一次要测量变量,并且第二测量设备用于产生通常为电的第二测量信号,该第二测量信号同样具有至少一个第一信号参数,该至少一个信号参数跟随时间变化,该时间变化是在给定的情况下也取决于第一主要测量变量的第二主要测量变量的时间变化,第二测量设备又用于至少基于第二测量信号的第一信号参数查明第二类型的测量值和表示第二主要测量变量或取决于其的第二次要测量变量。为了记录主要测量变量并将其转换为表示它们的测量信号,测量设备中的每一个包括对应的测量换能器,该测量换能器进而与测量设备的测量电子设备电连接,其对应地评估向其传递的测量信号。例如,测量换能器能够被连接用于串联流或并联流。例如,在US-A 2007/0084298、US-A 2011/0161018、US-A 2012/0042732和WO-A2009/134268中描述的测量设备系统的情况下,第一测量设备在每个情况下适用于测量作为第一主要测量变量的质量流量和/或作为第一次要测量变量的流过测量设备的流体的体积流量,并且第二测量设备被适用于测量作为第二主要测量变量的流过测量设备的流体内的压力和/或压力差,例如,还有跨第一测量设备的压降,和/或作为第二次要测量变量的流体的体积流量。第一测量设备例如能够是传统的科里奥利质量流量测量设备或科里奥利质量流量/密度测量设备,并且第二测量设备能够是例如压力差体积流量测量设备。此外,这样的测量设备系统也能够被体现为使得,也如US-A 2007/0084298和WO-A 2009/134268中所描述的,其第一和第二测量设备中的至少一个借助于两个测量换能器生成测量信号,或者两个测量设备中的一个的测量换能器至少部分地还用作另一测量设备的测量换能器的组件。
如在WO-A 2009/134268等中讨论的,除了其他目的之外,也能够使用上述第一和第二类型的测量值,以便基于名义上大致相等的测量值之间的差来监测测量设备系统是否存在或在什么程度上存在测量设备系统的干扰,例如,测量中涉及的一个或多个管的内壁上的沉积物形式的干扰,使得由于一方面干扰的存在,另一方面,至少一个测量信号或其至少一个信号参数对于对应的干扰变量的增加的(交叉)敏感性,第一类型的测量值和/或第二类型的测量值具有不可接受的高测量误差。例如,当测量设备系统受到例如作为位于高强度直流电流安装或强磁铁的近场的结果的强电场和/或磁场时,这种测量设备系统的另一对应要被诊断的干扰也例如能够存在。作为这种干扰的结果,第一和第二测量信号中的至少一个信号参数的时间变化能够至少部分地归因于这种干扰或其时间变化,使得,利用它查明的测量值能够被破坏达到相当大的程度。
然而,对上述类型的测量设备系统的研究表明,另外,在应用这种方法来诊断被讨论类型的测量设备系统的干扰或监测这种测量设备系统的情况下,特别是由于一方面第一和第二测量设备的通常不同的测量精度,和另一方面由测量设备传递的测量信号对于这种干扰的通常不同的敏感性,用于检测干扰的阈值能够明显地高于测量误差的公差的实际接受的量度;这尤其使得在干扰已经变得相对较大和/或例如在较长的测量时间段上累计的测量值的情况下,干扰已经持续了很长时间之后,才能够检测到该干扰。
发明内容
考虑到上述问题,本发明的一个目的是改进上述类型的测量设备系统,以便能够及早可靠地检测到其中可能发生的干扰或测量值的对应损坏。
为了实现该目的,本发明在于一种用于监测借助于第一测量设备和借助于第二测量设备形成的测量设备系统的方法,并且该方法例如用于记录在管道中流动的流体的测量变量,该方法例如是用于检查测量设备系统的运转的能力和/或用于检测测量设备系统的扰动的方法,该方法包括如下步骤:
·借助于第一测量设备产生例如电气的第一测量信号,使得测量信号具有至少第一信号参数,例如幅度、频率或相位角,其跟随时间变化,该时间变化是第一主要测量变量的时间变化以及独立于第一测量变量的干扰变量的时间变化,例如,降低测量设备系统的运转的能力和/或影响测量设备系统的干扰的干扰变量的时间变化;
·借助于第二测量设备产生例如电气的第二测量信号,使得测量信号具有至少第一信号参数,例如幅度、频率或相位角,其跟随时间变化,该时间变化是第二主要测量变量、例如取决于第一主要测量变量和/或独立于干扰变量的第二主要测量变量的时间变化;
·至少基于第一测量信号的第一信号参数查明表示第一主要测量变量或取决于其的第一次要测量变量的第一类型的测量值;
·至少基于第二测量信号的第一信号参数查明表示第二主要测量变量或取决于其的第二次要测量变量的第二类型的测量值;
·使用第一类型的测量值以及第二类型的测量值两者来查明误差表征数,其中,该误差表征数表示,例如,量化由干扰变量的变化引起的测量设备系统的速度误差,例如,增加的速度误差和/或被归类为临界的速度误差,即,以在第一类型的测量值的例如瞬时或平均变化率和第二类型的测量值的例如瞬时或平均变化率之间的差形式的速度误差。
此外,在本发明的第一实施例中规定:产生报告,该报告根据所查明的误差表征数,至少定性地指示干扰变量的程度,并且该报告例如被声明为警报。
此外,在本发明的第二实施例中规定:第一类型的测量值和/或第二类型的测量值根据所查明的误差表征数被输出作为测量设备系统的合格测量值。
此外,在本发明的第三实施例中规定:根据所查明的误差表征数阻止输出至少第一类型的测量值作为测量设备系统的合格测量值。
此外,在本发明的第四实施例中规定:查明误差表征数包括:例如反复计算对误差表征数进行量化的至少一个表征数值,例如在时间上一个接一个地计算多个表征数,例如使得增加的误差表征数表示增加的速度误差。进一步发展本发明的该实施例,另外规定:将误差表征数值的至少一个表征数值与预定阈值进行比较,其中,阈值表示、例如量化测量设备系统的最大允许速度误差,并且当表征数值超过或已经超过阈值时,报告被产生。进一步发展本发明的该实施例,另外规定:当至少一个表征数值尚未超过阈值时,输出第一类型的测量值和/或第二类型的测量值作为测量设备系统的合格测量值,和/或当至少一个表征数值已经超过阈值时,将至少第一类型的测量值输出作为测量设备系统的合格测量值被阻止。
在本发明的第五实施例中,另外规定:查明误差表征数、例如计算量化误差表征数的一个或多个表征数值包括:查明第一类型的测量值差,即,在预定时间间隔上在时间上一个接一个地查明的两个第一类型的测量值之间的差,并且查明第二类型的测量值差,即,在所述时间间隔上在时间上一个接一个地查明的两个第二类型的测量值之间的差。进一步发展本发明的该实施例,另外规定:查明误差表征数包括:查明第一类型的测量值差与第二类型的测量值差的商。
在本发明的第六实施例中,另外规定:查明误差表征数包括:查明第一类型的测量值差,即,在预定时间间隔上的时间中在时间上一个接一个地查明的两个第一类型的测量值之间的差;以及查明第二类型的测量值差,即,在所述时间间隔上在时间上一个接一个地查明的两个第二类型的测量值之间的差;以及,根据第一类型的测量值差和预定时间间隔查明第一类型的测量值的变化率,以及根据第一类型的测量值差和预定时间间隔查明第二类型的测量值的变化率。进一步发展本发明的该实施例,另外规定:查明误差表征数包括:查明第一类型的测量值的变化率与第二类型的测量值的变化率的商。
在本发明的第七实施例中,另外规定:第一测量设备是科里奥利质量流量测量设备,例如科里奥利质量流量/密度测量设备。
在本发明的第八实施例中,另外规定:第一测量设备被适用于测量流过测量设备的流体的质量流量和/或体积流量,例如还有密度。
在本发明的第九实施例中,另外规定:第二测量设备为压力差测量设备。
在本发明的第十实施例中,另外规定:第二测量设备被适用于测量流过测量设备的流体内的压力差和/或流体的体积流量。
在本发明的第十一实施例中,另外规定:第一主要测量变量是流过第一测量设备的流体的质量流量,例如流过第一测量设备以及第二测量设备两者的流体的质量流量。
在本发明的第十二实施例中,另外规定:第一次要测量变量是流过第一测量设备的流体的体积流量,例如流过第一测量设备以及第二测量设备两者的流体的体积流量。
在本发明的第十三实施例中,另外规定:第二主要测量变量是流过第二测量设备的流体的压力差,例如流过第二测量设备以及第一测量设备两者的流体内的压力差。
在本发明的第十四实施例中,另外规定:第二次要测量变量是流过第二测量设备的流体的体积流量,例如流过第二测量设备以及第一测量设备两者的流体的体积流量。
在本发明的第十五实施例中,另外规定:干扰变量是第一测量设备内的磁场——例如封闭在第一测量设备外部的磁场或由位于第一测量设备外部的磁体引起的磁场——的磁通量或磁通量密度。
在本发明的第十六实施例中,另外规定:至少第一测量信号具有至少第二信号参数,该第二信号参数跟随时间变化,该时间变化是第三主要测量变量、例如是独立于第一和第二主要测量变量和/或干扰变量中的至少一个的第三主要测量变量的时间变化,例如,以流过第一测量设备或流过第一测量设备以及第二测量设备两者的流体的密度形式的第三主要测量变量。进一步发展本发明的该实施例,另外规定:将第一测量信号还用于查明表示第三主要测量变量的第三类型的测量值。第三类型的测量值能够另外被用于查明第一类型的测量值和/或用于查明第二类型的测量值。
在本发明的第十七实施例中,第一测量设备还被用于产生例如电气的第三测量信号,其具有至少第一信号参数,例如幅度、频率或相位角,该第一信号参数跟随时间变化,该时间变化是第一主要测量变量的时间变化以及干扰变量的时间变化两者,并且还基于第三测量信号的第一信号参数来查明第一类型的测量值。
本发明的基本思想是通过检测和对应地评估随着干扰的到来或消失而发生的第一测量信号的第一信号参数或从其获得的第一类型的测量值的显著的、在给定的情况下也是突然的变化来检测测量设备系统的可能干扰;这尤其是使得相对于由相同干扰引起的第二类型的测量值的同时发生的、通常非常小的或可忽略的变化来评估由干扰影响的第一类型的测量值的变化,即,该第一类型的测量值的变化被转换成误差表征数,其在给定的情况下至少定性地表示,然而也对应地量化了测量设备系统的(误差)状态。
现在将基于附图中所示的实施例的示例更详细地解释本发明及其有利的实施例。在所有附图中参考相同的附图标记提供相同或相同地动作或相同地起作用的部件;当需要清晰或看起来合理时,在前面的图中已经显示的参考符号在后面的图中被省略。其他有利的实施例或另外的发展,尤其是首先仅单独解释的本发明的方面的组合,从图的附图和/或权利要求本身产生。
附图说明
图1a、1b、1c、1d是适合于本发明的测量设备系统的不同变体;以及
图2是在由干扰影响的时间处利用图1a、1b、1c和1d中的一个的测量设备系统实验查明的测量数据(测量值)。
具体实施方式
在图1a、1b、1c和1d示意性地示出的是测量设备系统M1+M2,每个测量设备系统借助于第一测量设备M1和第二测量设备M2形成,以用于查明在例如管道的工艺管线中流动的被测物质的两个或更多个测量变量的测量值。在测量设备系统M1+M2中,第一测量设备M1被用于产生例如电的第一测量信号s1,其进而具有至少一个信号参数,例如,幅度、频率或相位角,其跟随时间变化,该时间变化是第一主要测量变量x1的时间变化,第一主要测量变量x1例如是在测量设备系统M1+M2中流动的被测物质的质量流量。此外,第二测量设备被使用,以便产生例如电的第二测量信号s2,该第二测量信号s2同样具有至少一个信号参数,该信号参数跟随时间变化,该时间变化是第二主要测量变量x2的时间变化,在给定的情况下,第二主要测量变量x2是取决于第一主要测量变量x1的第二主要测量变量,例如,以在测量设备系统M1+M2中流动的被测物质的压力差的形式的第二主要测量变量,并且为了至少基于第二测量信号s2的第一信号参数查明第二类型的测量值XII,例如,数字测量值,其表示第二主要测量变量x2或取决于其的第二次要测量变量x2‘(f(x2)→x2‘),例如,在测量设备系统M1+M2中流动的被测物质的体积流量。特别地,测量设备M1还能够被适用或用于测量作为次要测量变量x1'的由测量设备M2测量的主要测量变量x2,和/或测量设备M2可以被适用或用于测量作为次要测量变量x2'的由测量设备M1测量的主要测量变量x1;例如,这也使得第一类型的测量值XI表示与第二类型的测量值XII相同的测量变量。替代地或补充地,测量设备M2能够与测量设备M1协调地此外被选择为使得利用其记录的主要测量变量x2取决于主要测量变量x1。在本发明的另外的实施例中,第一测量设备M1此外适用于测量作为主要测量变量x1的质量流量m;.1(m;.1=dM/dt→x1)和/或作为次要测量变量x1'的流过测量设备M1(在给定的情况下,也流过测量设备M2)的被测物质的体积流量V;.(V;.1=dV/dt=m;./ρ→x1‘)。另外,测量设备M2适用于测量作为主要测量变量的x2的流过测量设备M2(在给定的情况下,也流过测量设备M1)的被测物质内的压力p和/或压力差△p2(△p→x2),和/或作为次要测量变量x2'的被测物质的体积流量V;.2(V;.2=dV/dt=f(√△p)→x2‘)。因此,测量设备M1例如能够是科里奥利流量测量设备,或者例如还能够是磁感应流量测量设备,并且测量设备M2例如能够是压力差流量测量设备或涡流测量设备。
为了记录主要测量变量并将测量变量转换为表示它们的测量信号s1(x1→s1),s2(x2→s2),每个测量设备M1、M2包括集成到工艺线的过程中的测量换能器,如图1a、1b、1c所指示的,该测量换能器适用于在测量设备系统M1+M2的操作期间由被测物质流过。此外,测量设备M1、M2中的每一个包括与其测量换能器电连接的测量电子设备,该测量电子设备进而适用于接收并对应地评估所传递的测量信号s1、s2,即基于其以查明第一类型的测量值XI和第二类型的测量值XII(s1→XI,s2→XII)。在本发明的另外的实施例中,此外,假设测量设备M1的至少测量信号s1具有至少第二信号参数(不同于其第一信号参数),该第二信号参数跟随时间变化,该时间变化是第三主要测量变量x3的时间变化,该第三主要测量变量x3例如是独立于主要测量变量x1、x2和/或干扰变量y1中的至少一个的第三主要测量变量;这尤其使得测量信号s1也能够被应用用于查明或计算表示第三主要测量变量x3的第三类型的测量值XIII。特别是对于其中测量设备M1被体现为科里奥利质量流量测量设备的上述情况,第二信号参数例如能够是频率,第三主要测量变量x3例如能够是流过测量设备M1(在给定的情况下,还流过测量设备M2)的流体的密度(ρ→x3)。替代地或补充地,第三类型的测量值XIII还另外能够被用于查明第一类型的测量值XI和/或第二类型的测量值XII,例如,以便将测量为测量变量x1的质量流量转换为体积流量(V;.1=m;.1/ρ→XI)或将测量为测量变量x2的体积流量转换为质量流量(m;.2=V;.2·ρ→XII)。尤其对于这种情况,测量设备M1此外还能够被适用于或用于生成例如同样电的和/或测量信号s1类型等同的第三测量信号s3,其具有至少一个信号参数,例如,幅度、频率或相位角,其跟随时间变化,该时间变化是主要测量变量x1的上述参考时间变化△x1/△t(△x1‘/△t)以及干扰变量y1的上述时间变化△y1/△t。此外,测量信号s3的信号参数能够补充测量信号s1的信号参数被用于查明第一类型的测量值XI。
如图1a、1b、1c中示意性地所示,第一和第二测量设备M1、M2,例如,它们的测量换能器,能够被连接用于串联流量,例如,使得在两个测量设备M1、M2,例如两个测量换能器中存在相同的质量流量。然而,测量换能器或利用其形成的测量设备M1、M2也能够例如如图1d中所示地被连接用于并联流量,例如,使得流过两个测量设备M1、M2和两个测量换能器的被测物质中的压降相等。此外,测量设备系统M1+M2也能够被形成为使得测量设备M1、M2和它们的测量换能器的类型、构造和/或布置另外例如也对应于从US-A 2007/0084298、US-A2011/0161018、US-A 2012/0042732、WO-A 2009/134268或WO-A 2016/176224得知的测量设备系统;这例如也使得例如也在US-A 2007/0084298或WO-A 2009/134268等中提供的,测量设备M1、M2中的至少一个借助于两个测量换能器或者两个测量设备M1或M2中的一个的测量换能器生成其测量信号s1、s2,至少部分地还用作其他测量设备M1、M2的测量换能器的组件,例如,借助于测量设备M2测量的测量变量x2对应于在测量设备M1,例如其测量换能器上的压降(△p→x2)。替代地或补充地,测量设备系统M1+M2还能够例如借助于数据链路和/或借助于无线电连接与上位测量数据记录和评估计算单元C10信号耦合,例如,可编程逻辑控制器(PLC)、流量计算机或工作站(PC)),并且测量设备系统能够另外被适用于至少有时向计算机单元C10发送第一和/或第二类型的测量值。
如已经提到的,在测量设备系统M1+M2的情况下,从测量设备M1、M2传递的至少两个测量信号s1、s2中的一个,例如,由测量设备M1传递的测量信号s1,能够对于对应于(外部)干扰且独立于主要测量变量的干扰变量y1具有,特别是与其他测量信号的另一测量信号,例如测量信号s2,相比增加的高灵敏度,;这尤其是使得它的至少一个(对测量变量敏感)信号参数也跟随对应的时间变化,该时间变化是干扰变量y1的时间变化。作为测量设备中的一个的这种干扰/>的结果,基于测量信号获得的测量值的测量精度能够被破坏,并且与其相关联的整个测量设备系统M1+M2的运转的能力能够以明显度量降低;这在给定的情况下也使得利用其生成的测量值,例如诸如图2中通过示例所示的基于实验查明的测量数据、从测量信号s1获得的第一类型的测量值XI,具有无法接受的高测量误差。在本发明的测量系统M1+M2的情况下,尤其是由测量设备M1传递的测量信号s1既对于测量变量x1又对于干扰变量y1敏感,使得其第一信号参数跟随时间变化,该时间变化是主要测量变量x1的时间变化△x1/△t(△x1‘/△t)以及干扰变量y1的时间变化△y1/△t两者,尤其是独立于第一测量变量x1的干扰变量y1。干扰变量y1能够特别地用于上述情况,其中,测量设备M1是测量质量流量的科里奥利质量流量测量设备,例如,测量设备的一个或多个管的内壁上的堆积物或外部磁场的磁通量或磁通量密度(B→y1),该磁场即,封闭在测量设备M1外部的磁场,或由位于测量设备外部的磁体引起的磁场。在本发明的另外的实施例中,测量设备M2与测量设备M1或测量信号s1对于干扰变量y1的灵敏度相协调地被选择使得借助于测量设备M2生成的测量信号s2对于干扰变量y1的灵敏度低于测量信号s1;这例如使得测量信号s2对于干扰变量y1没有或只有可忽略不计的灵敏度,或者其信号参数独立于干扰变量y1。
根据本发明,为了监测测量设备系统M1+M2,尤其是为了检查测量设备系统M1+M2的运转的能力和/或为了确定测量设备系统M1+M2的可能出现的干扰首先,基于第一类型的测量值XI以及第二类型的测量值XII查明误差表征数Err,使得误差表征数Err表示由干扰变量y1的变化(dy1/dt→△y1/△t)引起的测量设备系统M1+M2的速度误差△XI/△XII,即第一类型的测量值XI的变化率△XI/△t和第二类型的测量值XII的同时的变化率△XII/△t或同时查明的变化率之间的差。在本发明的测量系统M1+M2的情况下,例如,在测量设备M1、M2中的一个中,例如,在它们的测量电子设备中的一个中,例如,也如在图1a和1d中示意性地所示,在测量设备M1或测量设备M2(图1b)中,能够发生误差表征数Err的查明。然而,例如也能够例如诸如图1c等中所示,首先在上述上位计算机单元C10中基于从测量设备系统M1+M2传输到计算机单元C10的第一和第二类型的测量值(XI,XII)生成误差表征数Err。例如,从图2可以明显的,基于上述速度误差△XI/△XII,因此已经基于其幅度或随后查明的误差表征数,能够非常快速地且非常可靠地检测到干扰,因为由到达(或消失)影响的测量信号s1(例如,其信号参数)的显著变化被直接地评估。
在本发明的另外的实施例中,此外,假设根据所查明的误差表征数Err的函数来产生报告,其例如作为警报发出,至少定性地显示干扰的存在或干扰变量y1的程度。该报告能够,例如,在测量设备M1、M2中的一个或测量设备M1、M2中的每一个上被输出,例如,使得借助于对应的信号灯(LED)和/或测量设备的显示单元在视觉上可感知。替代地或补充地,该报告也能够作为对应的报告被传送到上述计算机单元C10。误差表征数Err例如能够被查明,使得它量化干扰变量y1或其对测量信号s1的影响,即以对应地计算的数值的形式示出;这例如使得表征数以无量纲的表征数(特征变量)的形式被查明和/或使得具有高数值的误差表征数Err表示影响高测量误差的(相关)干扰,并且具有相对较低数值的误差表征数Err表示影响相对较低(在给定情况下甚至可以忽略不计)测量误差的干扰,并且增加的误差表征数Err表示增加的速度误差△XI/△XII。然而,误差表征数Err例如也能够被查明为使得它表示具有预定的例如超高和/或临界水平的干扰变量y1的存在,或者它标志对测量的信号s1的相关联的影响只是定性的,例如超过预定阈值。相应地,根据本发明的另外的实施例,假设查明误差表征数Err,因为(首先)计算量化误差表征数Err的至少一个,尤其是数字的,表征数值XErr或速度误差;例如,这也反复地和/或使得在时间上一个接一个地计算多个表征数值。然后例如能够将误差表征数Err的至少一个表征数值XErr与预定阈值THErr,例如数字阈值和/或例如存储在相关测量设备电子装置中的阈值,进行比较,该阈值例如是表示或量化测量设备系统M1+M2的最大允许速度误差XErr,max(XErr,max→THErr)的阈值。此外,对于其中表征数值XErr超过或已经超过阈值THErr的情况,还能够对应地生成上述(误差)报告。在本发明的另外的实施例中,此外,假设,例如,当上述表征数值XErr尚未超过设定的阈值THErr时,根据所查明的误差表征数Err输出第一类型的测量值XI和/或第二类型的测量值XII作为测量设备系统的合格测量值,或在即误差表征数Err标志对于第一类型的测量值XI的测量误差太高,或者当上述表征数XErr已经超过设定阈值THErr时,阻止根据所查明的误差表征数Err作为测量设备系统的合格测量值的第一类型的测量值XI的至少一个输出。例如能够以与第一和第二类型的测量值相同的更新率来查明表征数值XErr。
在本发明的另外的实施例中,此外,假设首先为了查明误差特征值XErr和计算一个或多个特征数值XErr,查明第一类型的测量值差△XI,即在预定的时间间隔△t上和在时间上一个接一个地查明的第一类型的两个测量值XI之间的差,以及第二类型的测量值差值△XII,即在预定时间间隔△t上和在时间上一个接一个地查明的第二类型的两个测量值XII的差△XII。基于第一类型和第二类型的测量值差异,例如能够计算误差表征数XErr和表征数值XErr,因为,首先,从第一类型的测量值差△XI和预定时间间隔△t查明测量值XI的变化率△XI/△t,以及从第一类型的测量值差△XI和预定时间间隔△t查明第二类型的测量值XII的变化率△XII/△t,例如,在每种情况下,作为瞬时或平均变化率,此后从第一类型的测量值XI的变化率△XI/△t和第二类型的测量值XII的变化率△XII/△t计算商。替代地或补充地,基于上述第一和第二类型的测量值差△XII,△XI,也能够通过查明,尤其是从第一类型的测量值差△XI和第二类型的测量值差△XII计算对应的商△XI/△XII(差商),很容易地查明误差表征数XErr和表征数值XErr。
Claims (40)
1.一种用于监测借助于第一测量设备(M1)和借助于第二测量设备(M2)形成的测量设备系统的方法,所述方法包括如下步骤:
-借助于所述第一测量设备(M1)产生第一测量信号(s1),使得所述测量信号(s1)具有至少第一信号参数,所述第一信号参数跟随时间变化,所述时间变化是第一主要测量变量(x1)的时间变化(△x1/△t;△x1‘/△t)以及独立于所述第一主要测量变量(x1)的干扰变量(y1)的时间变化(△y1/△t)两者;
-借助于所述第二测量设备(M2)产生第二测量信号(s2),使得所述测量信号(s2)具有至少第一信号参数,所述第一信号参数跟随时间变化,所述时间变化是第二主要测量变量(x2)的时间变化(△x2/△t;△x2‘/△t);
-至少基于所述第一测量信号(s1)的所述第一信号参数查明表示所述第一主要测量变量(x1)或取决于其的第一次要测量变量(f(x1)→x1‘)的第一类型的测量值(XI);
-至少基于所述第二测量信号(s2)的所述第一信号参数查明表示所述第二主要测量变量(x2)或取决于其的第二次要测量变量(f(x2)→x2‘)的第二类型的测量值(XII);
-使用第一类型的测量值(XI)以及第二类型的测量值(XII)两者来查明误差表征数(Err),其中,所述误差表征数(Err)表示由所述干扰变量(y1)的变化引起的所述测量设备系统的速度误差(△XI/△XII),即,以所述第一类型的测量值(XI)的变化率(△XI/△t)和所述第二类型的测量值(XII)的变化率(△XII/△t)之间的偏差的形式的速度误差。
2.根据权利要求1所述的方法,其中,所述测量设备系统是用于记录在管道中流动的流体的测量变量的测量设备系统。
3.根据权利要求1所述的方法,其中,所述方法是用于检查所述测量设备系统的运转能力和/或用于检测所述测量设备系统的干扰的方法。
4.根据权利要求1所述的方法,其中,所述第一测量信号(s1)是电气的。
5.根据权利要求1所述的方法,其中,所述第一测量信号(s1)的第一信号参数是幅度、频率或相位角。
6.根据权利要求1所述的方法,其中,所述干扰变量是降低所述测量设备系统的运转能力和/或影响所述测量设备系统的干扰的干扰变量。
7.根据权利要求1所述的方法,其中,所述第二测量信号(s2)是电气的。
8.根据权利要求1所述的方法,其中,所述第二测量信号(s2)的第一信号参数是幅度、频率或相位角。
9.根据权利要求1所述的方法,其中,所述第二主要测量变量是取决于所述第一主要测量变量(x1)和/或独立于干扰变量(y1)的第二主要测量变量。
10.根据权利要求1所述的方法,其中,所述误差表征数(Err)量化所述测量设备系统的速度误差(△XI/△XII)。
11.根据权利要求1所述的方法,其中,所述速度误差(△XI/△XII)是增加的速度误差和/或被归类为临界的速度误差。
12.根据权利要求1至11中的任一项所述的方法,进一步包括:产生报告,所述报告根据所查明的误差表征数(Err)至少定性地指示所述干扰变量(y1)的程度,并且所述报告被声明为警报。
13.根据权利要求1至11中的任一项所述的方法,进一步包括:
-根据所查明的误差表征数(Err)输出第一类型的测量值(XI)和/或第二类型的测量值(XII)作为所述测量设备系统的合格测量值;以及/或者
-根据所查明的误差表征数(Err)阻止输出至少第一类型的测量值(XI)作为所述测量设备系统的合格测量值。
14.根据权利要求1至11中的任一项所述的方法,其中,查明所述误差表征数(Err)包括反复计算量化所述误差表征数(Err)的至少一个表征数值(XErr),使得增加的误差表征数(Err)表示增加的速度误差(△XI/△XII)。
15.根据权利要求14所述的方法,其中,反复计算量化所述误差表征数(Err)的至少一个表征数值(XErr)是在时间上一个接一个地计算多个表征数值。
16.根据权利要求14所述的方法,进一步包括:
-将所述误差表征数(Err)的所述至少一个表征数值与预定阈值(THErr)进行比较,其中,所述阈值表示所述测量设备系统的最大允许速度误差;以及
-当所述表征数值(XErr)超过或已经超过所述阈值(THErr)时,产生报告。
17.根据权利要求16所述的方法,其中,所述阈值量化所述测量设备系统的最大允许速度误差。
18.根据权利要求1至11中的任一项所述的方法,进一步包括:
-当至少一个表征数值尚未超过阈值时,输出第一类型的测量值(XI)和/或第二类型的测量值(XII)作为所述测量设备系统的合格测量值;以及/或者
-当所述至少一个表征数值已经超过所述阈值时,防止输出至少第一类型的测量值(XI)作为所述测量设备系统的合格测量值。
19.根据权利要求1至11的任一项所述的方法,其中,查明所述误差表征数(Err)包括:查明第一类型的测量值差(△XI),即,在预定的时间间隔(△t)上在时间上一个接一个地查明的两个第一类型的测量值(XI)之间的差,并且查明第二类型的测量值差(△XII),即,在所述时间间隔(△t)上在时间上一个接一个地查明的两个第二类型的测量值(XII)之间的差(△XII)。
20.根据权利要求19所述的方法,其中,查明所述误差表征数(Err)包括:查明所述第一类型的测量值差(△XI)和所述第二类型的测量值差(△XII)的商。
21.根据权利要求1至11中的任一项所述的方法,其中,查明所述误差表征数(Err)包括:根据所述第一类型的测量值差(△XI)和预定时间间隔(△t)查明所述第一类型的测量值(XI)的变化率(△XI/△t),以及根据所述第二类型的测量值差(△XII)和所述预定时间间隔(△t)查明第二类型的所述测量值(XII)的变化率(△XII/△t)两者。
22.根据权利要求21所述的方法,其中,查明所述误差表征数(Err)是计算量化所述误差表征数(Err)的一个或多个表征数值(XErr)。
23.根据权利要求19所述的方法,其中,查明所述误差表征数(Err)包括:查明所述第一类型的测量值(XI)的变化率(△XI/△t)与所述第二类型的测量值(XII)的变化率(△XII/△t)的商。
24.根据权利要求1至11中的任一项所述的方法,其中,所述第一测量设备是科里奥利质量流量测量设备。
25.根据权利要求24所述的方法,其中,所述科里奥利质量流量测量设备是科里奥利质量流量/密度测量设备。
26.根据权利要求1至11中的任一项所述的方法,其中,所述第一测量设备被适用于测量流过所述测量设备的流体的质量流量和/或体积流量,还有密度。
27.根据权利要求1至11中的任一项所述的方法,其中,所述第二测量设备是压力差测量设备。
28.根据权利要求1至11中的任一项所述的方法,其中,所述第二测量设备被适用于测量流过所述测量设备的流体内的压力差和/或所述流体的体积流量。
29.根据权利要求1至11中的任一项所述的方法,
-其中,所述第一主要测量变量(x1)是流过所述第一测量设备的流体的质量流量(m;.=dM/dt→x1);和/或
-其中,所述第一次要测量变量(x1')是流过所述第一测量设备的流体的体积流量(v;.=dV/dt→x1‘);和/或
-其中,所述第二主要测量变量(x2)是流过所述第二测量设备的流体内的压力差(△p→x2);以及/或者
-其中,所述第二次要测量变量(x2')是流过所述第二测量设备的流体的体积流量(v;.=dV/dt→x2‘);和/或
-其中,所述干扰变量(y1)是所述第一测量设备内的磁场的磁通量或磁通量密度(B→y1)。
30.根据权利要求29所述的方法,其中,所述流体是流过所述第一测量设备以及所述第二测量设备两者的流体。
31.根据权利要求29所述的方法,其中,所述磁场是封闭在所述第一测量设备(M1)外部的磁场,或由位于所述第一测量设备(M1)外部的磁体引起的磁场。
32.根据权利要求1至11中的任一项所述的方法,其中,至少所述第一测量信号(s1)具有至少第二信号参数,所述第二信号参数跟随时间变化,所述时间变化是第三主要测量变量(ρ→x3)的时间变化。
33.根据权利要求32所述的方法,其中,所述第三主要测量变量(ρ→x3)是独立于所述第一和第二主要测量变量(x1,x2)和/或所述干扰变量(y1)中的至少一个的第三主要测量变量。
34.根据权利要求32所述的方法,进一步包括:将所述第一测量信号(s1)还用于查明表示所述第三主要测量变量(x3)的第三类型的测量值(XIII)。
35.根据权利要求34所述的方法,进一步包括:
-还使用第三类型的测量值(XIII)用于查明所述第一类型的测量值(XI);以及/或者
-还使用第三类型的测量值(XIII)用于查明所述第二类型的测量值(XII)。
36.根据权利要求32所述的方法,其中,所述第三主要测量变量(x3)是流过所述第一测量设备(M1)的流体的密度(ρ→x3)。
37.根据权利要求36所述的方法,其中,所述流体是流过所述第一测量设备(M1)以及所述第二测量设备(M2)两者的流体。
38.根据权利要求1至11中的任一项所述的方法,进一步包括:
-使用所述第一测量设备(M1)产生第三测量信号(s3),所述第三测量信号具有至少一个信号参数,所述信号参数跟随时间变化,所述时间变化是所述第一主要测量变量(x1)的时间变化(△x1/△t;△x1‘/△t)以及所述干扰变量(y1)的时间变化(△y1/△t);以及
-还基于所述第三测量信号(s3)的至少一个信号参数查明第一类型的测量值(XI)。
39.根据权利要求38所述的方法,其中,所述第三测量信号(s3)是电气的。
40.根据权利要求38所述的方法,其中,所述第三测量信号(s3)的所述至少一个信号参数是幅度、频率或相位角。
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