CN114495810A - 显示设备及其驱动方法 - Google Patents

Abstract

本公开的实施例涉及一种显示设备，包括：显示面板，所述显示面板包括沿第一方向延伸的多条栅极线、沿第二方向延伸的多条数据线、以及多个子像素；栅极驱动电路，用于向所述多条栅极线提供扫描信号；数据驱动电路，用于向所述多条数据线提供数据电压，并且包含用于感测所述多个子像素的特性值的特性值感测电路；以及定时控制器，用于控制所述栅极驱动电路和所述数据驱动电路，并且对于与显示面板对应的多个块，通过检测沿第二方向布置的每一个子像素的感测特性值的失真部分来确定缺陷线路。

Description

显示设备及其驱动方法

相关申请的交叉引用

本申请要求享有2020年11月13日提交的韩国专利申请10-2020-0152230的优先权，所述申请在这里被以全面阐述的方式引入以作为参考。

技术领域

本公开涉及一种用于准确检测特性值偏差的显示设备及其驱动方法。

背景技术

随着信息社会的发展，对于各种类型的图像显示设备的需求日益增长。关于这一点，近来广泛使用了一系列的显示设备，例如液晶显示设备和电致发光显示设备。

在此类显示设备中，电致发光显示设备由于使用了自发光型的发光二极管而具有优异的特性，例如快速响应速度、高对比度、高发光效率、高亮度以及广视角。在这种情况下，发光二极管可以用无机材料或有机材料来实现。

此类电致发光显示设备可以包括在显示面板中对齐的多个子像素中设置的有机发光二极管，并且可以通过控制流经有机发光二极管的电压来控制有机发光二极管发光，由此在控制子像素亮度的同时显示图像。

在此类电致发光显示设备中，发光二极管和驱动发光二极管的驱动晶体管被设置在限定于显示面板中的每一个子像素之中。此时，由于随驱动时间的流逝而发生的变化或是子像素间的驱动时间不同，每一个子像素中的晶体管的特性(例如阈值电压或迁移率)可能会存在偏差。结果，子像素之间有可能出现亮度偏差(亮度不均匀)，并且图像质量有可能会下降。

相应地，为了解决子像素之间的亮度偏差，业已提出了用于感测和补偿电致发光显示设备中的驱动晶体管的特性值(例如阈值电压或迁移率)的技术。尽管如此，在感测和补偿特性值期间导致显示图像亮度不均匀的问题仍然存在。

特别地，特定区域中的特性值可能会因为设置于显示设备中的驱动电路在其操作期间产生的高温热量或是自外部传输的环境因素(温度、湿度等)而改变。相应地，有可能出现补偿过程中存在失真的问题。

因此，近年来进行了关于有效补偿显示设备的特性值和检测特性值补偿处理中的误差的研究。

然而，在对显示面板的整个范围执行检测子像素亮度偏差的处理时，有可能很难检测到局部区域的亮度失真。

此外，由于设置在显示面板中的相邻数据线所提供的数据电压之间存在差异，因此很难准确检测和补偿特性值的偏差。

发明内容

相应地，本发明的发明人发明了一种能够精确检测和补偿显示面板局部区域的特性值偏差的显示设备及其驱动方法。

以下根据本公开的实施例描述的问题并不局限于上述问题，并且本领域技术人员从以下描述中将会清楚理解未被提及的其他问题。

根据本公开的一个实施例的显示设备包括：显示面板，所述显示面板包括沿第一方向延伸的多条栅极线、沿第二方向延伸的多条数据线、以及多个子像素；栅极驱动电路，用于向多条栅极线提供扫描信号；数据驱动电路，用于向多条数据线提供数据电压，并且包含用于感测多个子像素的特性值的特性值感测电路；以及定时控制器，用于控制栅极驱动电路和数据驱动电路，并且对于与显示面板对应的多个块，通过检测沿第二方向布置的每一个子像素的感测特性值的失真部分来确定缺陷线路。

在根据本公开的一个实施例的显示设备中，多个子像素包括：发光元件；向发光元件提供电流的驱动晶体管；电连接在驱动晶体管的栅极节点与数据线之间的开关晶体管；电连接在驱动晶体管的源极节点或漏极节点与参考电压线之间的感测晶体管；以及电连接在开关晶体管的栅极节点与源极节点或漏极节点之间的存储电容器。

在根据本公开的一个实施例的显示设备中，特性值感测电路包括：放大器，其中反相输入端与连接到感测晶体管的源极节点或漏极节点的参考电压线相连，并且同相输入端被提供参考比较电压；电连接在放大器的反相输入端与输出端之间的反馈电容器；与反馈电容器并联连接的初始化开关；以及位于放大器的输出端的采样开关。

在根据本公开的一个实施例的显示设备中，定时控制器为每一个块划分显示面板的感测特性值，去除每一个块的感测特性值的噪声，去除沿第二方向布置的每一子像素的感测特性值的噪声，以及通过检测沿第二方向布置的每一个子像素的感测特性值的失真部分来确定缺陷线路。

在根据本公开的一个实施例的显示设备中，定时控制器通过将每一个块的感测特性值的平均值与整个显示面板中的感测特性值的平均值相比较来计算每一个块的感测特性值的偏差，以及通过使用所述感测特性值的偏差对每一个块的感测特性值进行标准化来去除感测特性值的噪声。

在根据本公开的一个实施例的显示设备中，定时控制器计算除了沿着第二方向布置的子像素的边缘部分的感测特性值之外的感测特性值的斜率，检测具有大于等于参考斜率的感测特性值斜率的高斜率区域，计算高斜率区域中的感测特性值的拐点之间的距离，以及确定感测特性值的拐点之间的距离大于等于参考距离的情形，以此作为缺陷线路。

在根据本公开的一个实施例的显示设备中，定时控制器进一步包括补偿电路，用于向具有缺陷线路的块提供具有不同补偿增益的补偿数据，作为数据电压。

在根据本公开的一个实施例的显示设备中，当检测到的缺陷线路超出参考数量时，定时控制器确定显示面板是缺陷产品。

一种显示设备的驱动方法，所述显示设备包括由沿第一方向延伸的多条栅极线、沿第二方向延伸的多条数据线、以及多个子像素组成的显示面板，用于向多条栅极线提供扫描信号的栅极驱动电路，用于向多条数据线提供数据电压并感测多个子像素的特性值的数据驱动电路，所述方法包括：将感测特性值划分成块单元；从每一个块的感测特性值中去除噪声；从沿第二方向布置的每一个子像素的感测特性值中去除噪声；以及通过检测沿第二方向布置的每一个子像素的感测特性值的失真部分来确定缺陷线路。

根据本公开的一个实施例，可以提供一种能够准确检测和补偿显示面板局部区域的特性值偏差的显示设备及其驱动方法。

本公开中公开的实施例的效果并不局限于上述效果。此外，本公开中公开的实施例可以导致产生上文中没有提到的别的效果，本领域技术人员从后续描述中会清楚理解这一点。

附图说明

包含附图以提供对公开内容的进一步理解，附图构成本说明书的一部分，描述公开的实施方式，并与说明书一起用于解释多种原理。在附图中：

图1示出了根据本公开的实施例的显示设备的示意图；

图2示出了本公开的实施例的显示设备的系统图示；

图3示出了根据本公开的实施例的显示设备中的子像素的电路图；

图4示出了根据本公开的实施例的用于感测显示设备中的驱动晶体管的特性值的特性值感测电路；

图5示出了根据本公开的实施例的用于感测显示设备中的驱动晶体管的阈值电压的信号时序图；

图6示出了根据本公开的实施例的用于感测显示设备中的驱动晶体管的迁移率的信号时序图；

图7示出了在根据本公开的实施例的显示设备中，由于内部或外部因素而在显示面板的局部区域中出现了归因于补偿误差的失真的情形。

图8示出了在根据本公开的实施例的显示设备中的驱动方法的流程图。

图9示出了在根据本公开的实施例的显示设备的驱动方法中将显示面板分成多个块，以便将感测特性值划分成多个块的图；

图10示出了在根据本公开的实施例的显示设备的驱动方法中从特定块中去除噪声时的感测特性值的示例；

图11示出了在根据本公开的实施例的显示设备的驱动方法中与垂直线和水平线相关的感测特性值的分布图；

图12示出了在根据本发明的实施例的显示设备的驱动方法中通过检测每一条垂直线的感测特性值的失真部分来确定是否存在缺陷的步骤的详细流程图；

图13示出了在根据本公开的实施例的显示设备的驱动方法中从垂直线上的感测特性值中排除与边缘部分相对应的感测特性值的情形；

图14示出了在根据本发明的实施例的显示设备的驱动方法中检测高斜率区域的情形，其中除了边缘部分之外，在感测特性值中，与即时的不同量相对应的斜率大于或等于参考斜率；

图15示出了在根据本公开的实施例的显示设备的驱动方法中计算高斜率区域中的感测特性值的拐点之间的距离的情况；

图16示出了在根据本公开的实施例的显示设备的驱动方法中将特定块中的垂直线确定成是缺陷线路的情形；

图17示出了在根据本公开的实施例的显示设备的驱动方法中分别针对具有缺陷线路的块执行的具有不同特性值的补偿操作的情形。

具体实施方式

通过参考附图和关于实施例的详细描述，将会清楚了解本公开的优点和特征及其实现方法。本公开不应被解释成局限于这里阐述的实施例，并且是可以采用多种不同的形式实现的。相反，提供这些实施例是为了使本公开全面和完整，并将本公开的范围充分传达给本技术领域的普通技术人员。本公开的范围应该由附加权利要求限定。

在附图中描述的用于例证例示实施例的形状、尺寸、比例、角度、数量等等仅仅是说明性的，并且本公开不局限于附图中示出的实施例。在本文中，相同的参考数字和符号将会用于表示相同或相似的要素。在关于本公开的以下描述中，如果对引入本公开的已知功能和组件的详细描述可能会使本公开的主题变得不清楚，那么将会省略该详细描述。应该理解的是，除非明确有相反描述，否则这里使用的术语“包括”、“包含”、“具有”及其任何变体应该涵盖非排他性的包含。除非明确有相反描述，否则这里使用的单数形式的组件描述应该包括复数形式的组件描述。

在关于组件的分析中，应该理解的是，即使没有明确描述，其中也会包含误差范围。

当在这里使用空间相对术语(例如“在……之上”、“上方”、“在……之下”、“下方”以及“在……一侧”来描述一个元件或组件与另一个元件或组件之间的关系时，除非使用了诸如“直接”之类的术语，否则在所述一个以及另一个元件或组件之间可以存在一个或多个中间的元件或组件。

在使用时间相对术语(例如“在……之后”、“随后”、“跟随”以及“在……之前”来定义时间关系时，除非使用了术语“立即”或“直接”，否则可以包含非连续的情形。

在关于信号传输的描述中(例如“将信号从节点A发送到节点B”)，除非使用了术语“立即”或“直接”，否则可以将信号从节点A经由另一个节点发送到节点B。

此外，在这里可以使用诸如“第一”和“第二”之类的术语来描述各种组件。然而应该理解，这些组件并不受这些术语限制。这些术语仅用于将一个元件或组件与其他元件或组件区分开来。因此，在下文中被称为第一的第一组件可以是本公开的实质范围以内的第二组件。

本公开的例示实施例的特征可以部分地或全部地相互耦合或组合，并且可以相互配合协同工作或者可以在多种技术方法中发挥作用。此外，各个例示实施例既可以被独立执行，也可以与其他实施例关联以及与其他实施例配合执行。

以下将参考附图详细来描述各种实施例。

图1示出了根据本公开的实施例的显示设备的示意图。

参考图1，根据本公开的实施例的显示设备100可以包括：与多条栅极线GL和多条数据线DL相连的显示面板110，其中多个子像素SP按行和列布置；用于向多条栅极线GL提供扫描信号的栅极驱动电路120；用于向多条数据线DL提供数据电压的数据驱动电路130；以及用于控制栅极驱动电路120和数据驱动电路130的定时控制器140。

显示面板110基于从栅极驱动电路120通过多条栅极线GL提供的扫描信号以及从数据驱动电路130通过多条数据线DL提供的数据电压来显示图像。

对于液晶显示器来说，显示面板110包括在两个基板之间形成的液晶层，并且可以在任何已知的模式下操作，诸如TN(扭曲向列)模式、VA(垂直配向)模式、IPS(平面切换)模式、FFS(边缘场开关)模式。对于电致发光显示设备来说，显示面板110可以采用顶部发光方法、底部发光方法或双重发光方法来实现。

在显示面板110中可以以矩阵的形式布置多个像素。每一个像素可以由不同颜色的子像素SP组成，例如白色子像素、红色子像素、绿色子像素和蓝色子像素。每一个子像素SP可以由多条数据线DL和多条栅极线GL限定。

子像素SP可以包括在数据线DL与栅极线GL交叉的区域中布置的薄膜晶体管(TFT)、依照数据电压发光的发光元件(例如发光二极管)、以及通过电连接到发光元件来保持数据电压的存储电容器。

作为示例，当分辨率为2,160×3,840的显示设备100包括白W、红R、绿G和蓝B这四个子像素SP时，通过分别连接到4个子像素WRGB的2,160条栅极线GL和3840条数据线DL，可以提供3,840×4＝15,360条数据线DL。多个子像素SP中的每一个都可以被设置在多条栅极线GL与多条数据线DL重叠的区域中。

栅极驱动电路120受定时控制器140控制，并且通过按顺序向设置在显示面板110中的多条栅极线GL提供扫描信号来控制多个子像素SP的驱动定时。

在分辨率为2,160×3,840的显示设备100中，按照从第一栅极线GL1到第2,160条栅极线GL2160的顺序将扫描信号依次提供给2,160条栅极线GL的操作可被称为2,160相驱动操作。另外，将扫描信号依次提供给每四条栅极线GL的操作可被称为4相驱动操作，其与按照从第一栅极线GL1到第四栅极线GL4的顺序依次提供扫描信号以及随后按照从第五栅极线GL5到第八栅极线GL8的顺序依次提供扫描信号的情形一样。如上所述，将扫描信号依次提供给每N条栅极线的操作可被称为N相驱动操作。

栅极驱动电路120可以包括一个或多个栅极驱动集成电路(GDIC)，该栅极驱动集成电路可以根据驱动方法而被设置在显示面板110的一侧或两侧。作为替换，栅极驱动电路120可以以嵌入显示面板110的边框区域中的面板内栅极(GIP)结构来实现。

数据驱动电路130接收来自定时控制器140的数字图像数据DATA，并且将接收到的数字图像数据DATA转换成模拟数据电压。然后，数据驱动电路130会在通过栅极线GL提供扫描信号的时间向每一条数据线DL提供模拟数据电压，以使每一个与该数据线DL相连的子像素SP响应于该模拟数据电压而发出具有相应亮度的光。

同样地，数据驱动电路130可以包括一个或多个源极驱动集成电路(SDIC)。每一个源极驱动集成电路SDIC可以通过带式自动焊接(TAB)或玻璃上芯片(COG)连接到显示面板110的焊盘，或者可以直接安装在显示面板110上。

在一些情况中，每一个源极驱动集成电路(SDIC)可以与显示面板110集成。另外，每一个源极驱动集成电路(SDIC)可以用膜上芯片(COF)结构来实现。在这种情况下，源极驱动集成电路SDIC可被安装在电路膜上，以便经由电路膜电连接到显示面板110中的数据线DL。

定时控制器140向栅极驱动电路120和数据驱动电路130提供各种控制信号，并且控制栅极驱动电路120和数据驱动电路130的操作。也就是说，定时控制器140控制栅极驱动电路120，以使其响应于相应的帧所实现的时间来提供扫描信号，并且另一方面将数字图像数据DATA从外部源传输到数据驱动电路130。

在这里，定时控制器140从外部源(例如主机系统)接收各种定时信号，这其中包括垂直同步信号Vsync、水平同步信号Hsync、数据使能信号DE以及主时钟MCLK。相应地，定时控制器140使用从外部源接收的各种定时信号来生成控制信号，并且将该控制信号提供给栅极驱动电路120和数据驱动电路130。

举例来说，定时控制器140产生各种栅极控制信号以控制栅极驱动电路120，这其中包括栅极启动脉冲GSP、栅极时钟GCLK以及栅极输出使能信号GOE。在这里，栅极启动脉冲GSP用于控制栅极驱动电路120的一个或多个栅极驱动集成电路GDIC的启动定时。此外，栅极时钟GCLK是共同提供给一个或多个栅极驱动集成电路GDIC以控制扫描信号的移位定时的时钟信号。栅极输出使能信号GOE指定了一个或多个栅极驱动集成电路GDIC的定时信息。

此外，定时控制器140还产生各种数据控制信号以控制数据驱动电路130，这其中包括源极启动脉冲SSP、源极采样时钟SSC以及源极输出使能信号SOE。在这里，源极启动脉冲SSP用于控制数据驱动电路130的一个或多个源极驱动集成电路SDIC的数据采样处理的启动定时。源极采样时钟SSC是用于控制每一个源极驱动集成电路中的数据采样定时的时钟信号。源极输出使能信号SOE则控制数据驱动电路130的输出定时。

显示设备100可以进一步包括用于向显示面板110、栅极驱动电路120和数据驱动电路130提供或控制各种电压或电流的电源管理集成电路。

发光元件可被设置在每一个子像素SP中。例如，电致发光显示设备可以在每一个子像素SP中包含发光元件，例如发光二极管，并且可以通过响应于数据电压控制流经发光元件的电流来显示图像。

图2示出了根据本公开的实施例的显示设备的系统图示。

作为示例，图2示出根据本公开的实施例的显示设备100中的数据驱动电路130的每一个源极驱动集成电路SDIC是用不同结构(例如TAB、COG和COF)中的COF类型的结构实施的，并且栅极驱动电路120是用不同结构(例如TAB、COG、COF和GIP)中的GIP类型的结构实施的。

在栅极驱动电路120实施为GIP类型时，栅极驱动电路120的多个栅极驱动集成电路GDIC可以直接形成在显示面板110的非显示区域中。此时，栅极驱动集成电路GDIC可以通过布置在非显示区域中的与栅极驱动操作相关的信号线接收生成扫描信号所需要的各种信号(例如时钟信号、栅极高电平信号、栅极低电平信号等等)。

同样，数据驱动电路130可以包括可被分别安装在源极膜SF上的一个或多个源极驱动集成电路SDIC。源极膜SF的一部分可以电连接到显示面板110。此外，在源极膜SF上可以设置电线，以便电连接源极驱动集成电路SDIC和显示面板110。

显示设备100可以包括至少一个源极印刷电路板SPCB，以便通过电路将多个源极驱动集成电路SDIC连接到其他设备，并且可以包括控制印刷电路板CPCB，以便安装各种控制组件和电子元件。

源极膜SF中安装了源极驱动集成电路SDIC之外的部分可以连接到至少一个源极印刷电路板SPCB。也就是说，源极膜SF中安装了源极驱动集成电路SDIC的部分可以电连接到显示面板110，而源极膜SF的其他部分可以电连接到源极印刷电路板SPCB。

定时控制器140和电源管理集成电路150可被安装在控制印刷电路板CPCB上。定时控制器140可以控制数据驱动电路130和栅极驱动电路120的操作。电源管理集成电路150可以提供驱动电压和驱动电流，或者控制数据驱动电路130以及栅极驱动电路120的电压和电流。

至少一个源极印刷电路板SPCB和控制印刷电路板CPCB可以通过至少一个连接构件而具有电路连接。作为示例，该连接构件可以是柔性印刷电路FPC或柔性扁平电缆FFC等等。至少一个源极印刷电路板SPCB和控制印刷电路板CPCB可被集成到单个印刷电路板中。

显示设备100可以进一步包括电连接到控制印刷电路板CPCB的安置板(setboard)170。该安置板170也可以被称为电源板。管理显示设备100的整体电源的主电源管理电路M-PMC 160可以位于该安置板170上。主电源管理电路160可以耦合到电源管理集成电路150。

在具有上述配置的显示设备100中，安置板170产生的驱动电压被提供给电源管理集成电路150。电源管理集成电路150通过柔性印刷电路板FPC或柔性扁平电缆FFC向源极印刷电路板SPCB提供显示驱动操作或特性值感测操作所需要的驱动电压。提供给源极印刷电路板SPCB的驱动电压经由源极驱动集成电路SDIC传输，以使显示面板110中的特定子像素SP发光或是对其进行感测。

布置在显示设备100的显示面板110中的每一个子像素SP都可以包括发光元件和电路元件，例如对其进行驱动的驱动晶体管。

构成每一个子像素SP的电路元件的类型和数量可以依照功能或设计等等而以不同的方式确定。

图3示出了根据本公开的实施例的显示设备中的子像素的电路图。

参考图3，在根据本公开的实施例的显示设备100中布置的每一个子像素SP都可以包括一个或多个晶体管、电容器以及发光元件。

举例来说，子像素SP可以包括驱动晶体管DRT、开关晶体管SWT、感测晶体管SENT、存储电容器Cst以及发光二极管EL。

驱动晶体管DRT可以具有第一节点N1、第二节点N2和第三节点N3。该驱动晶体管DRT的第一节点N1可以是在开关晶体管SWT导通时被通过数据线DL提供了数据电压Vdata的栅极节点。驱动晶体管DRT的第二节点N2可以电连接到发光二极管EL的阳极，并且可以是漏极节点或源极节点。驱动晶体管DRT的第三节点N3可以电连接到驱动电压线DVL，以便被提供驱动电压EVDD，并且可以是源极节点或漏极节点。

在这里，用于显示图像的驱动电压EVDD可以在显示驱动周期中被提供给驱动电压线DVL。举例来说，用于显示图像的驱动电压EVDD可以是大约27V。

开关晶体管SWT电连接在驱动晶体管DRT的第一节点N1与数据线DL之间，并且响应于通过与栅极节点相连的栅极线GL为其提供的扫描信号SCAN来工作。此外，当开关晶体管SWT导通时，它会通过将数据电压Vdata经由数据线DL传输到驱动晶体管DRT的栅极节点来控制驱动晶体管DRT的操作。

感测晶体管SENT电连接在驱动晶体管DRT的第二节点N2与参考电压线RVL之间，并且响应于通过与栅极节点相连的栅极线GL提供的感测信号SENSE来工作。当感测晶体管SENT导通时，从参考电压线RVL提供的参考感测电压Vref将被传输到驱动晶体管DRT的第二节点N2。

也就是说，通过控制开关晶体管SWT和感测晶体管SENT，可以控制驱动晶体管DRT的第一节点N1和第二节点N2的电压。由此可以提供用于让发光二极管EL发光的电流。

开关晶体管SWT和感测晶体管SENT的每一个栅极节点可以连接到单条栅极线GL或不同栅极线GL。在这里，所示出的是将开关晶体管SWT和感测晶体管SENT连接到不同栅极线GL的例示结构。在这种情况下，开关晶体管SWT和感测晶体管SENT由从不同的栅极线GL传输的扫描信号SCAN和感测信号SENSE独立控制。

另一方面，当开关晶体管SWT和感测晶体管SENT连接到单条栅极线GL时，开关晶体管SWT与感测晶体管SENT同时由单条栅极线GL传送的扫描信号SCAN或感测信号SENSE控制，并且由此可以提高子像素SP的开口率。

此外，设置在子像素SP中的晶体管不但可以是n型晶体管，而且还可以是p型晶体管。在这里，所示出的是n型晶体管的例示结构。

存储电容器Cst电连接在驱动晶体管DRT的第一节点N1与第二节点N2之间，并用于在一帧期间保持数据电压Vdata。

此类存储电容器Cst可以依照驱动晶体管DRT的类型而被连接在驱动晶体管DRT的第一节点N1与第三节点N3之间。发光二极管EL的阳极电极可以电连接到驱动晶体管DRT的第二节点N2，并且发光二极管EL的阴极电极可被提供一个基极电压EVSS。

在这里，基极电压EVSS可以是接地电压或者高于或低于接地电压的电压。此外，基极电压EVSS可以依照驱动条件而改变。举例来说，显示驱动时段的基极电压EVSS可以不同于感测时段的基极电压EVSS。

在上文中举例描述的子像素SP的结构是3T1C(3个晶体管1个电容器)结构，其仅仅是用于说明的示例，并且进一步包括一个或多个晶体管，或者在某些情况下进一步包括一个或多个电容器。作为替换，多个子像素SP中的每一个可以具有相同的结构，或者多个子像素SP中的一些子像素可以具有不同的结构。

根据本公开的一个实施例的显示设备100可以使用一种用于在驱动晶体管DRT的特性值感测时段中依据存储电容器Cst中的充电电压来测量电流流动的方法，以便有效感测驱动晶体管DRT的特性值，例如阈值电压或迁移率。这种方法可被称为电流感测操作。

也就是说，在驱动晶体管DRT的特性值感测周期期间，通过依据在存储电容器Cst中充电的电压来测量电流流动，可以确定子像素SP中的驱动晶体管DRT的特性值或特性值变化。

此时，参考电压线RVL可被称为感测线，因为该参考电压线RVL不但用于提供参考感测电压Vref，而且还充当了用于感测子像素SP中的驱动晶体管DRT的特性值的感测线。

更具体地说，驱动晶体管DRT的特性值或特性值变化可以对应于驱动晶体管DRT的第一节点N1的电压与第二节点N2的电压之间的差值(例如Vdata-Vref)。

作为示例，用于感测驱动晶体管DRT的特性值的操作可以由包含在数据驱动电路130中的特性值感测电路来执行。

图4示出了根据本公开的实施例的用于感测显示设备中的驱动晶体管的特性值的特性值感测电路。

参考图4，在根据一个或多个实施例的显示设备100中，数据驱动电路130可以在用于感测驱动晶体管DRT的特性值的时段中通过数据线DL提供处于数据感测电压电平的数据电压Vdata，并且可以通过参考电压线RVL提供参考感测电压。此时，通过数据线DL提供的数据感测电压可以是大约14V，并且通过参考电压线RVL提供的用于参考感测电压可以是大约4V。

结果，由于在驱动晶体管DRT的第一节点N1与第二节点N2之间形成了电压差，可以对存储电容器Cst进行充电。

此时，在感测驱动晶体管DRT的特性值的时段中通过驱动电压线DVL提供的驱动电压EVDD可以等于或低于在显示面板的图像驱动时段中提供的驱动电压。

包含在数据驱动器130中的特性值感测电路134感测在驱动晶体管DRT的存储电容器Cst中充电的电容，并且根据感测到的电容来提供感测特性值Vsen。

所提供的感测特性值Vsen可以被传送到定时控制器140，并且定时控制器140会从感测特性值Vsen中确定驱动晶体管DRT的特性值或特性值变化。

当驱动晶体管DRT的特性值发生变化时，定时控制器140会根据该特性值变化来将经过补偿的数据电压Vdata提供给对应子像素SP，由此可以降低对应子像素SP的亮度不均匀性。

特性值感测电路134可以具有各种结构，例如反馈电容器Cfb和放大器。在这种情况下，它可以包含用于初始化反馈电容器Cfb的初始化开关SW1以及用于对感测特性值Vsen进行采样的采样开关SW2。

在放大器中，参考比较电压Vpre可被提供给同相输入端(+)，并且反相输入端(-)可以连接到参考电压线RVL。反馈电容器Cfb和初始化开关SW1可以电连接在该放大器的反相输入端(-)与输出端之间。

当反馈电容器Cfb被驱动晶体管DRT的存储电容器Cst中的电容充电时，存储电容器Cst中充电的电容的变化可以依照驱动晶体管的特性值变化来感测。

此时，由于放大器会随着反馈电容器Cfb中充电的电容增大而产生负向的值，通过减小因为驱动晶体管DRT的特性值变化而在存储电容器Cst中充电的电容，可以增大感测特性值Vsen。

同时，根据一个或多个实施例的显示设备100可以包括：预先存储了参考感测电压的存储器；以及通过将存储器中存储的参考感测电压与在特性值感测电路134中测得的感测特性值相比较来补偿特性值偏差的补偿电路。

该存储器和补偿电路可被嵌入内嵌于定时控制器140中。

补偿电路计算的补偿值可被存储在存储器中，并且控制器140可以使用由补偿电路计算的补偿值来改变提供给数据驱动电路130的图像数据，以及将改变的图像数据提供给数据驱动电路130。

相应地，数据驱动电路130将改变的图像数据提供给对应的数据线DL，以便可以补偿对应子像素SP中的驱动晶体管DRT的特性值偏差(例如阈值电压偏差、迁移率偏差)。

图5示出了根据本公开的实施例的用于感测显示设备中的驱动晶体管的阈值电压的信号时序图。

参考图5，用于感测驱动晶体管DRT的阈值电压Vth的处理可以包括初始化时段INITIAL、追踪时段TRACKING以及采样时段SAMPLING。

由于开关晶体管SWT和感测晶体管SENT是被同时导通和关断以感测驱动晶体管DRT的阈值电压Vth的，因此可以通过一条栅极线GL来同时提供扫描信号SCAN和感测信号SENSE，或者可以通过不同的栅极线GL来同时提供扫描信号SCAN和感测信号SENSE。

初始化时段INITIAL是以用于感测驱动晶体管DRT的阈值电压Vth的参考感测电压Vref来对驱动晶体管DRT的第二节点N2充电的时段，并且可以通过栅极线GL来提供具有高电平的扫描信号SCAN和感测信号SENSE。

追踪时段TRACKING是在结束了对驱动晶体管DRT的第二节点N2的充电之后对存储电容器Cst进行充电的时段。

采样时段SAMPLING是在对驱动晶体管DRT的存储电容器Cst进行充电之后依据存储电容器Cst中充电的电容来检测电流流动的时段。

在初始化时段INITIAL中，开关晶体管SWT是通过同时提供具有导通电平的扫描信号SCAN和感测信号SENSE来导通的。结果，驱动晶体管DRT的第一节点N1被初始化成用于感测阈值电压Vth的数据感测电压Vdata_sen。

此外，具有导通电平的扫描信号SCAN和感测信号SENSE使感测晶体管SENT导通。在该状态中，驱动晶体管DRT的第二节点N2由通过参考电压线RVL提供的参考感测电压Vref初始化成参考感测电压Vref。

追踪时段TRACKING是追踪驱动晶体管DRT的阈值电压Vth的时段。换句话说，追踪时段TRACKING是用于追踪与驱动晶体管DRT的阈值电压Vth相对应的驱动晶体管DRT的第二节点N2的时段。在追踪时段TRACKING中，开关晶体管SWT和感测晶体管SENT保持在导通电平，并且通过参考电压线RVL传输的参考感测电压Vref被阻断。

相应地，驱动晶体管DRT的第二节点N2将被浮置，以使驱动晶体管DRT的第二节点N2的电压从参考感测电压Vref开始增大。此时，由于感测晶体管SENT是导通的，因此，驱动晶体管DRT的第二节点N2处的上升电压会导致基准电压线RVL上的电压上升。

此时，当特性值感测电路134中的初始化开关SW1导通时，在反馈电容器Cfb中不会充入电荷。

在该处理中，驱动晶体管DRT的第二节点N2处的电压上升并且变成饱和状态。处于饱和状态的驱动晶体管DRT的第二节点N2处的饱和电压对应于用于感测阈值电压Vth的数据感测电压Vdata_sen与驱动晶体管DRT的阈值电压Vth之间的差值(Vdata_sen-Vth)。

在采样时段SAMPLING中，在栅极线GL中保持具有高电平的扫描信号SCAN和感测信号SENSE，特性值感测电路134中的初始化开关SW1是关断的，并且采样开关SW2保持处于导通状态。此时，由于特性值感测电路134中的初始化开关SW1是关断的，因此，驱动晶体管DRT的存储电容器Cst中的电荷被传输到反馈电容器Cfb。

特性值感测电路134中的放大器Amp根据反馈电容器Cfb中的电荷量产生感测特性值Vsen。感测特性值Vsen是随着反馈电容器Cfb中的电荷量的增加而在负方向上产生的。因此，当由于驱动晶体管DRT的劣化而导致存储电容器Cst中的电荷量减小时，反馈电容器Cfb中的电荷量也会减小，结果，放大器Amp会生成与劣化之前相比具有更高电平的感测特性值Vsen。相应地，通过这种方式，可以用感测特性值Vsen来感测驱动晶体管DRT的劣化。

图6示出了根据本公开的实施例的用于感测显示设备中的驱动晶体管的迁移率的信号时序图。

参考图6，与对于阈值电压Vth的感测处理相似，根据本公开的实施例的对于显示设备100中的驱动晶体管DRT的迁移率的感测处理可以包括初始化时段INITIAL、追踪时段TRACKING以及采样时段SAMPLING。

在初始化时段INITIAL中，开关晶体管SWT由具有导通电平的扫描信号SCAN导通，由此将驱动晶体管DRT的第一节点N1初始化成数据电压Vdata以感测迁移率。此外，具有导通电平的感测信号SENSE使感测晶体管SENT导通。在该状态中，驱动晶体管DRT的第二节点N2被初始化成参考感测电压Vref。

追踪时段TRACKING是用于追踪驱动晶体管DRT的迁移率的时段。驱动晶体管DRT的迁移率可以指示驱动晶体管DRT的电流驱动能力。在追踪时段TRACKING中，驱动晶体管DRT的第二节点N2处的电压将被追踪，以便确定驱动晶体管DRT的迁移率。

在追踪时段TRACKING中，开关晶体管SWT被具有关断电平的扫描信号SCAN关断，并且接收参考感测电压Vref的开关将被阻断。结果，驱动晶体管DRT的第一节点N1和第二节点N2都被浮置，由此增大了驱动晶体管DRT的第一节点N1处的电压和第二节点N2处的电压。

特别地，由于驱动晶体管DRT的第二节点N2处的电压被初始化成参考感测电压Vref，因此它会从参考感测电压Vref开始增大。此时，由于感测晶体管SENT处于导通状态，因此，驱动晶体管DRT的第二节点N2处的电压的增大会导致参考电压线RVL上的电压增加。

在采样时段SAMPLING中，在从驱动晶体管DRT的第二节点N2的电压开始增大时起经过了预定时间Δt的时间点，特性值感测电路134中的初始化开关SW1将会关断。此时，反馈电容器Cfb在特性值感测电路134中的初始化开关SW1关断之前未被充电。然后，驱动晶体管DRT的存储电容器Cst中的电荷被传送到特性值感测电路134中的反馈电容器Cfb，而特性值感测电路134中的初始化开关SW1则被关断，并且采样开关SW2是导通的。

此时，特性值感测电路134中的放大器Amp会依照反馈电容器Cfb中的电荷量而产生感测特性值Vsen。该感测特性值可以对应于一个从感测参考电压Vref增大了某个电压ΔV的电压(Vref+ΔV)。相应地，驱动晶体管DRT的迁移率可以通过使用该感测特性值(Vref+ΔV)、已知的参考感测电压Vref以及反馈电容器Cfb的充电时间ΔT来确定。

也就是说，驱动晶体管DRT的迁移率与参考电压线RVL在追踪时段TRACKING和采样时段SAMPLING的每单位时间的电压变化ΔV/Δt成比例。因此，驱动晶体管DRT的迁移率可以与参考电压线RVL中的电压的斜率成比例。

此时，与特性值感测电路134相连的补偿电路可以将所确定的驱动晶体管DRT的迁移率与参考迁移率或是另一个驱动晶体管DRT的迁移率相比较，并且可以补偿驱动晶体管DRT的迁移率偏差。在这里，对迁移率偏差所做的补偿可以通过将补偿值与数字图像数据DATA相加或相乘的逻辑处理来执行。

如上所述，关于驱动晶体管DRT的特性值(阈值电压或迁移率)的感测时段可以是在产生通电信号之后以及在开始显示驱动操作之前。

举例来说，在将通电信号提供给显示设备100时，定时控制器140会加载驱动显示面板110所需要的参数，然后执行显示驱动操作。在这种情况下，驱动显示面板110所需要的参数可以包括关于显示面板110先前执行的特性值感测处理和补偿处理的信息。用于感测驱动晶体管DRT的特性值(阈值电压或迁移率)的处理可以在参数加载过程中执行。如上所述，用于在产生通电信号之后的参数加载处理感测特性值的处理可被称为通电感测(on-sensing)处理。

作为替换，用于感测驱动晶体管DRT的特性值的处理可以在生成了针对显示设备100的断电信号之后执行。举例来说，当在显示设备100中产生断电信号时，定时控制器140可以终止显示面板110中的图像显示处理，并且可以在预定时间期间执行用于感测驱动晶体管DRT的特性值的处理。这样，在产生断电信号且终止图像显示处理的状态下对于特性值的感测处理可被称为断电感测处理。

此外，关于驱动晶体管DRT的特性值的感测时段可以在进行显示驱动处理的同时实时执行。该感测处理可被称为实时RT感测处理。对于实时感测处理来说，在显示驱动时段期间的每一个空白时段中可以为一个或多个子像素线中的一个或多个子像素SP执行感测处理。

也就是说，在显示面板110上显示图像的显示驱动时段中，在一个帧的内部或者在第n个帧与第(n+1)个子帧之间会存在没有向子像素SP提供数据电压的空白时段。相应地，在该空白时段中可以执行关于一个或多个子像素SP的迁移率的感测处理。

如上所述，当在空白时段中执行感测处理时，执行感测处理的子像素SP线可以是随机选择的。相应地，在执行了空白时段中的感测处理之后，显示驱动时段中可能出现的异常现象将会减少。此外，在空白时段期间执行了感测处理之后，在显示驱动时段期间可以向被执行了感测处理的子像素SP提供恢复数据电压。相应地，在空白时段中的感测处理之后的显示驱动时段中完成感测处理的子像素SP线中的异常现象可以被进一步减少。

此时，由于关于驱动晶体管DRT的阈值电压的感测处理可能要耗费较长时间来使驱动晶体管DRT的第二节点N2处的电压饱和，因此，关于阈值电压Vth的感测和补偿处理主要是在断电感测处理中执行的。另一方面，由于与关于阈值电压Vth的感测处理相比，关于驱动晶体管DRT的迁移率的感测处理耗费的时间相对较短，因此可以在实时感测处理中执行关于迁移率的感测和补偿处理。

然而，由于显示设备100中的内部或外部因素，因此，随着特定区域温度的提升，有可能会出现补偿误差。

图7示出了在根据本公开的实施例的显示设备中，由于内部或外部因素而在显示面板的局部区域中出现了归因于补偿误差的失真的情形的图示。

参考图7，在由根据本公开的实施例的显示设备100中设置的数据驱动电路130向显示面板110提供数据电压的过程中，由于阳光或周围环境温度的提升，显示面板110中的特定区域的温度有可能会快速提升，并且局部区域中的特性值有可能会发生变化。

相应地，当基于因为显示面板110的内部温度或周围温度的提升而改变的特性值来执行补偿时，如图7中的(a)所示，用于补偿特性值的数据电压Vdata有可能会过度补偿特定区域。此外，作为结果，如图7的(b)所示，显示面板110的局部区域可能会因为超出正常劣化补偿范围的补偿误差而发生失真。

为了解决这个问题，根据本公开的实施例的显示设备100公开了一种用于精确检测和补偿显示面板110的局部区域中的特性值偏差的方法。

图8示出了根据本公开的实施例的显示设备中的驱动方法的流程图。

参考图8，根据本公开的实施例的显示设备100的驱动方法可以包括：步骤S100，感测显示面板110的特性值；步骤S200，将感测特性值Vsen划分为块单元；步骤S300，从每一个块的感测特性值Vsen中去除噪声；步骤S400，从每一条垂直线的感测特性值Vsen中去除噪声；步骤S500，通过检测每一条垂直线的感测特性值Vsen的失真部分来确定是否存在缺陷；以及步骤S600，根据缺陷线路的检测结果来执行处理。

感测显示面板110的特性值的步骤S100是通过显示面板110中包含的特性值感测电路134来感测布置在显示面板110中的子像素SP的特性值(例如驱动晶体管DRT的阈值电压或迁移率)的处理。

将感测特性值Vsen划分成块单元的步骤S200是将布置在显示面板110中的子像素SP划分成块单元以及将感测特性值Vsen划分成通过每一个块单元而与子像素相对应的处理。

图9示出了在根据本公开的实施例的显示设备的驱动方法中，将显示面板划分成多个块以便将感测特性值划分成多个块的图示。

参考图9，根据本公开的实施例的显示设备100可以在显示面板110中的水平和垂直方向上将在每一个帧单元中被提供了数据电压Vdata的区域划分成矩阵形状的块A-P，并且可以在用于每一个块的存储器中存储每一个块的感测特性值Vsen。

为了区分感测特性值Vsen，可以根据显示面板110的尺寸和分辨率来改变在显示面板110中划分的块A-P的数量和尺寸。

如上所述，通过将感测特性值Vsen划分成块单元，可以检测特定区域(即显示面板110的局部区域)中的亮度失真或补偿误差。

从每一个块的感测特性值Vsen中去除噪声的步骤S300是一个去除位于特定区域的块中可能出现的噪声的处理。

出于上述目的，通过将每一个块的感测特性值Vsen的平均值与整个显示面板110的感测特性值Vsen的平均值相比较，计算每一个块的感测特性值Vsen的偏差，以及将每一个块的感测特性值Vsen归一化，可以去除在特定的块上产生的噪声。

图10示出了在根据本公开的实施例的显示设备的驱动方法中从特定块中去除噪声时的感测特性值的示例。

在该情形中，每一个块的感测特性值Vsen的平均值可以基于单个帧来计算，或者可以通过以预定的多个帧为单位进行累加来计算。

从每一条垂直线的感测特性值Vsen中去除噪声的步骤S400是从与被提供了数据电压Vdata的数据线DL相平行的每一条垂直线的子像素的感测特性值Vsen中去除噪声的处理。

由于数据驱动电路130被设置在显示面板110上方且数据线DL是在上方沿垂直方向布置的，因此，沿着与被提供了数据电压Vdata的数据线DL相平行的方向布置的子像素被图示成是垂直线。

图11示出了在根据本公开的实施例的显示设备的驱动方法中，与垂直线和水平线相关的感测特性值的分布图。

如图11所示，当根据本公开的实施例的显示设备100的数据线DL被布置在显示面板110的垂直方向上时，水平线的感测特性值Vsen可能会因为相邻数据线DL之间的数据电压Vdata的偏差所造成的变化而发生很大变化，并且由此可能很难确定噪声(图11中的(a)的情形)。

也就是说，如果感测特性值Vsen是针对每一条水平线检测的，那么由于相邻数据线DL之间的数据电压Vdata的偏差，要基于每一个块的感测特性值Vsen来确定缺陷是非常困难的。

相反，在为与被提供了数据电压Vdata的数据线DL相平行的每一条垂直线检测子像素SP的感测特性值Vsen时，相邻子像素SP之间的数据电压Vdata会因为数据电压Vdata的传输特性而缓慢改变(图11中的(b)的情形)。

相应地，从与被提供数据电压Vdata的数据线DL相平行的每一条垂直线的子像素SP的感测特性值Vsen中去除噪声的处理是行之有效的。

举例来说，通过将平均滤波器或中值滤波器应用于为每一条垂直线检测的感测特性值Vsen，可以从每一条垂直线的感测特性值Vsen中去除噪声。

通过检测每一条垂直线的感测特性值Vsen的失真部分来确定是否存在缺陷的步骤S500是一个通过确定在为与被提供数据电压Vdata的数据线DL相平行的每一条垂直线检测的感测特性值Vsen中是否存在具有超出参考值的变化的失真部分来确定是否存在缺陷(例如相应的块的补偿误差)的处理。

图12示出了在根据本发明的实施例的显示设备的驱动方法中通过检测每一条垂直线的感测特性值的失真部分来确定是否存在缺陷的步骤的详细流程图。

参考图12，在根据本公开的实施例的显示设备100的驱动方法中，通过检测每一条垂直线的感测特性值Vsen的失真部分来确定是否存在缺陷的步骤S500可以包括：步骤S510，排除垂直线的边缘部分的感测特性值Vsen；步骤S520，计算感测特性值Vsen的斜率；步骤S530，检测感测特性值Vsen的斜率大于等于参考斜率的高斜率区域；步骤S540，计算高斜率区域中的感测特性值Vsen的拐点之间的距离；以及步骤S550，将感应特性值Vsen的拐点之间的距离大于等于参考距离的情形确定成是缺陷线路。

排除垂直线的边缘部分的感应特性值Vsen的步骤S510是从垂直线的感应特性值Vsen中排除与边缘部分相对应的感应特性值Vsen的处理。

图13示出了在根据本公开的实施例的显示设备的驱动方法中从垂直线上的感测特性值中排除与边缘部分相对应的感测特性值的情形。

参考图13，在根据本公开的实施例的显示设备100的驱动方法中，与数据线DL平行的每一条垂直线的边缘部分可以是离数据驱动电路130最近的部分和最远的部分。相应地，当数据驱动电路130位于显示面板110的上部区域时，边缘部分可以包括位于显示面板110的顶部的一些子像素SP和位于显示面板110的底部的一些子像素SP。

由于一些位于显示面板110的顶部的子像素SP和一些位于显示面板110的底部的子像素SP是与显示面板110的边框区域或电路区域相邻的，因此，在垂直线的边缘部分中检测到的感测特性值Vsen包含了大量的噪声，由此可能无法正确反映子像素SP的劣化状态。

由此，如果从垂直线的感测特性值Vsen中排除与边缘部分相对应的感测特性值Vsen，那么将是非常优选的。

计算感测特性值Vsen的斜率的步骤S520是通过对除了边缘部分之外的感测特性值Vsen进行微分来计算斜率的处理。

由于感测特性值Vsen的斜率代表了感测特性值Vsen随时间的变化量，因此，通过计算感测特性值Vsen的斜率，可以确认感测到的特性值Vsen的即时变化。

检测感测特性值Vsen的斜率大于等于参考斜率的高斜率区域的步骤S530是检测感测特性值Vsen的即时变化大于等于参考变化的区域的处理。

图14示出了在根据本发明的实施例的显示设备的驱动方法中检测高斜率区域的情形，其中除了边缘部分之外，在感测特性值中，与即时不同量相对应的斜率大于或等于参考斜率。

参考图14，在根据本公开实施例的显示设备100的驱动方法中，除了边缘部分之外的感测特性值Vsen的斜率可以以连续曲线的形式出现。

此时，由于感测特性值Vsen的斜率代表了感测特性值Vsen随时间的变化量，因此，感测特性值Vsen的斜率大于等于参考斜率Sref的高斜率区域对应的是感测特性值Vsen的即时变化大于等于参考变化的区域。

相应地，感测特性值Vsen的斜率大于等于参考斜率Sref的高斜率区域是显示面板110中因为内部或外部突发环境因素(例如高温)而导致感测特性值Vsen过度改变的区域。

计算高斜率区域的感测特性值Vsen的拐点之间的距离的步骤S540是检测感测特性值Vsen的斜率大于等于参考斜率Sref的高斜率区域中的感测特性值Vsen的变化范围的处理。

图15示出了在根据本公开的实施例的显示设备的驱动方法中计算高斜率区域中的感测特性值的拐点之间的距离的情况。

参考图15，在根据本公开的实施例的显示设备100的驱动方法中，在感测特性值Vsen的斜率大于等于参考斜率Sref的高斜率区域中，感测特性值Vsen可以以具有不同形状的正弦波的形式出现。

相应地，高斜率区域中的感测特性值Vsen可以具有感测特性值Vsen在上升之后下降的高拐点Pinf1，以及感测特性值Vsen在下降之后上升的低拐点Pinf2。

此时，感测特性值Vsen上升后下降的高拐点Pinf1与感测特性值Vsen下降后上升的低拐点Pinf2之间的距离对应于拐点之间的距离Dinf。

感测特性值Vsen上升后下降的高拐点Pinf1与感测特性值Vsen下降后上升的低拐点Pinf2之间的距离Dinf代表了感测特性值Vsen的变化。

将感应特性值Vsen的拐点之间的距离大于等于参考距离的情形确定成是缺陷线路的步骤S550是一个基于感测特性值Vsen的斜率大于等于参考斜率Sref的高斜率区域中的感测特征值Vsen的拐点之间的距离Dinf来确定块中的垂直线的补偿误差的处理，

也就是说，在感测特性值Vsen的斜率大于等于参考斜率Sref的高斜率区域中，当与感测特性值Vsen上升后下降的高拐点Pinf1和感测特性值Vsen下降后上升的低拐点之间的距离相对应的变化大于参考距离时，可以确定由于内部或外部因素(高温等等)，应用于块中的垂直线的过度补偿导致了亮度失真。

图16示出了在根据本公开的实施例的显示设备的驱动方法中将特定块中的垂直线确定成是缺陷线路的情形。

如上所述，当在与数据线DL平行的垂直方向上的特定的块中检测到缺陷线路时，可以根据检测结果来采取对抗亮度失真的措施。

根据缺陷线路的检测结果来执行处理的步骤S600是在特定的块中检测到缺陷线时根据检测结果来确定用于显示设备100的处理方法的过程。

举例来说，当在特定的块中检测到缺陷线路时，可以用不同的特性值来补偿检测到缺陷线路的块和正常块，或者如果难以补偿，则可以将其确定成是缺陷产品。

图17示出了在根据本公开的实施例的显示设备的驱动方法中分别针对具有缺陷线路的块执行的具有不同特性值的补偿操作的情形。

参考图17，在根据本公开的实施例的显示设备100的驱动方法中，可以基于为显示面板110的每一条垂直线检测的感测特性值Vsen来确定正常块B4和带有缺陷线路的缺陷块B1、B2、B3，并且可以根据带有缺陷线路的缺陷块B1、B2、B3中的缺陷线路的数量来为对特性值施加不同的补偿增益。

也就是说，补偿电路可以从特性值感测电路134接收关于带有缺陷线路的缺陷块B1、B2、B3的信息，并且可以提供具有不同补偿增益的补偿数据作为相应的块的数据电压。

举例来说，补偿电路可以为特性值应用不同的补偿增益，以使带有缺陷线路的缺陷块B1、B2、B3中的每一个都具有不同的补偿亮度L1、L2、L3。

另一方面，在检测到高于某个参考值的特定块中的缺陷线路时，可以确定很难通过对缺陷块施加不同的补偿增益来补偿亮度失真，并且可以确定该显示面板110被认为是缺陷产品。

以上描述和附图仅仅出于例证目的来提供关于本公开的技术思想的示例。本公开所属技术领域的普通技术人员将会了解，在不脱离本公开的本质特征的情况下，各种形式的修改和变化(例如关于配置的组合、分离、替换和变化)都是可行的。因此，本公开中公开的实施例旨在例证本公开的技术思想的范围，并且本公开的范围不受这些实施例限制。本公开的范围应该基于附加权利要求来以这样一种方式解释，即包含在与权利要求等同范围以内的所有技术思想都属于本公开。

Claims (13)

1.一种显示设备，包括：

显示面板，所述显示面板包括沿第一方向延伸的多条栅极线、沿第二方向延伸的多条数据线、以及多个子像素；

栅极驱动电路，用于向所述多条栅极线提供扫描信号；

数据驱动电路，用于向所述多条数据线提供数据电压，并且包含用于感测所述多个子像素的特性值的特性值感测电路；以及

定时控制器，用于控制所述栅极驱动电路和所述数据驱动电路，并且对于与所述显示面板对应的多个块，通过检测沿第二方向布置的每一个子像素的感测特性值的失真部分来确定缺陷线路。

2.根据权利要求1所述的显示设备，其中所述多个子像素包括：

发光元件；

驱动晶体管，其向所述发光元件提供电流；

开关晶体管，其电连接在所述驱动晶体管的栅极节点与所述数据线之间；

感测晶体管，其电连接在所述驱动晶体管的源极节点或漏极节点与参考电压线之间；以及

存储电容器，其电连接在所述开关晶体管的栅极节点与源极节点或漏极节点之间。

3.根据权利要求2所述的显示设备，其中所述特性值感测电路包括：

放大器，其中反相输入端与连接到所述感测晶体管的源极节点或漏极节点的所述参考电压线相连，并且同相输入端被提供参考比较电压；

反馈电容器，其电连接在所述放大器的所述反相输入端与输出端之间；

初始化开关，其与所述反馈电容器并联连接；以及

采样开关，其位于所述放大器的所述输出端。

4.根据权利要求1所述的显示设备，其中所述定时控制器为每一个块划分所述显示面板的所述感测特性值，去除每一个块的感测特性值的噪声，去除沿所述第二方向布置的每一子像素的感测特性值的噪声，以及通过检测沿所述第二方向布置的每一个子像素的感测特性值的失真部分来确定缺陷线路。

5.根据权利要求4所述的显示设备，其中所述定时控制器通过将每一个块的感测特性值的平均值与整个显示面板中的感测特性值的平均值相比较来计算每一个块的感测特性值的偏差，以及通过使用所述感测特性值的偏差对每一个块的感测特性值进行标准化来去除所述感测特性值的噪声。

6.根据权利要求4所述的显示设备，其中所述定时控制器计算除了沿着第二方向布置的子像素的边缘部分的感测特性值之外的感测特性值的斜率，检测具有大于等于参考斜率的感测特性值斜率的高斜率区域，计算所述高斜率区域中的感测特性值的拐点之间的距离，以及确定所述感测特性值的拐点之间的距离大于等于参考距离的情形，以此作为缺陷线路。

7.根据权利要求1所述的显示设备，其中所述定时控制器进一步包括补偿电路，用于向具有缺陷线路的块提供具有不同补偿增益的补偿数据，作为数据电压。

8.根据权利要求1所述的显示设备，其中当检测到的缺陷线路超出参考数量时，所述定时控制器确定所述显示面板是缺陷产品。

9.一种显示设备的驱动方法，所述显示设备包括由沿第一方向延伸的多条栅极线、沿第二方向延伸的多条数据线以及多个子像素组成的显示面板，用于向所述多条栅极线提供扫描信号的栅极驱动电路，以及用于向所述多条数据线提供数据电压并感测所述多个子像素的特性值的数据驱动电路，所述方法包括：

将感测特性值划分成块单元；

从每一个块的感测特性值中去除噪声；

从沿第二方向布置的每一个子像素的感测特性值中去除噪声；以及

通过检测沿第二方向布置的每一个子像素的感测特性值的失真部分来确定缺陷线路。

10.根据权利要求9的显示设备的驱动方法，其中从每一个块的感测特性值中去除噪声包括：

将每一个块的感测特性值的平均值与整个显示面板的感测特性值的平均值相比较；

计算每一个块的感测特性值的偏差；以及

使用所述感测特性值的偏差来归一化每一个块的感测特性值。

11.根据权利要求9的显示设备的驱动方法，其中确定缺陷线路包括：

排除沿第二方向布置的子像素的边缘部分的感测特性值；

计算所述感测特性值的斜率；

检测感测特性值的斜率大于等于参考斜率的高斜率区域；

计算在高斜率区域中感测特性值的拐点之间的距离；以及

将所述感测特性值的拐点之间的距离大于等于参考距离的情形确定成是缺陷线路。

12.根据权利要求9的显示设备的驱动方法，进一步包括：向带有缺陷线路的块提供具有不同补偿增益的补偿数据，作为数据电压。

13.根据权利要求9的显示设备的驱动方法，进一步包括：当检测到的缺陷线路超出参考数量时，将所述显示面板确定成是缺陷产品。

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