KR20220081499A - 디스플레이 장치 및 구동 방법 - Google Patents

Abstract

본 발명의 실시예는 디스플레이 장치 및 구동 방법에 관한 것이다. 본 발명의 실시예에 의하면, 디스플레이 패널에 표시되는 프레임 단위의 영상 데이터 사이에 보상용 프레임 데이터를 삽입함으로써, 구동 트랜지스터의 특성값 편차를 감소시킬 수 있다. 또한, 본 발명의 실시예에 의하면, 디스플레이 패널의 온도 변화에 따른 구동 트랜지스터의 특성값 편차를 효과적으로 보상할 수 있는 보상용 프레임 데이터를 영상 데이터 사이에 삽입함으로써, 영상 품질을 개선할 수 있다. 또한, 본 발명의 실시예에 의하면, 디스플레이 패널에 표시되는 영상 패턴에 따라, 구동 트랜지스터의 특성값 편차를 효과적으로 보상할 수 있는 보상용 프레임 데이터를 영상 데이터 사이에 삽입함으로써, 영상 품질을 개선할 수 있다.

Description

디스플레이 장치 및 구동 방법{DISPLAY DEVICE AND METHOD FOR DRIVING IT}

본 발명의 실시예는 디스플레이 장치, 및 구동 방법에 관한 것이다.

정보화 사회가 발전함에 따라 화상을 표시하는 디스플레이 장치에 대한 다양한 요구가 증가하고 있으며, 액정 디스플레이 (Liquid Crystal Display; LCD), 유기 발광 디스플레이 (Organic Light Emitting Diode Display) 등과 같은 다양한 유형의 디스플레이 장치가 활용되고 있다.

이러한 디스플레이 장치 중 유기 발광 디스플레이 장치는 스스로 발광하는 유기 발광 다이오드를 이용함으로써, 응답 속도가 빠르고 명암비, 발광 효율, 휘도 및 시야각 등에서 장점이 존재한다.

이러한 디스플레이 장치는 디스플레이 패널에 배열된 다수의 서브픽셀(Subpixel) 각각에 배치된 발광 소자를 포함하고, 발광 소자에 흐르는 전압 제어를 통해 발광 소자를 발광시킴으로써 각각의 서브픽셀이 나타내는 휘도를 제어하며 이미지를 표시할 수 있다.

이 때, 유기 발광 디스플레이 장치의 경우, 디스플레이 패널에 정의된 각 서브픽셀에는 발광 소자와 이를 발광하기 위한 구동 트랜지스터가 배치되는데, 디스플레이 패널의 구동 환경에 따라 각 서브픽셀 내 구동 트랜지스터의 문턱 전압(threshold voltage) 또는 이동도(mobility)와 같은 특성값에 편차가 발생할 수 있다. 이로 인해, 서브픽셀 간의 휘도 편차 (휘도 불균일)가 발생하여 영상 품질이 저하될 수 있다.

이 때, 디스플레이 패널에 형성된 구동 트랜지스터의 특성값은 디스플레이 장치의 사용 환경에 따라 편차가 달라질 수 있다. 특히, 디스플레이 장치의 온도 변화 또는 디스플레이 패널에 표시되는 영상 패턴 등의 여러 가지 요인에 따라, 구동 트랜지스터의 특성값이 다양하게 변경될 수 있기 때문에, 이러한 여러 가지 요인을 고려하여 구동 트랜지스터의 특성값을 센싱하고 보상하기 어려운 문제가 있다.

본 발명의 실시예들은 디스플레이 패널에 표시되는 프레임 단위의 영상 데이터 사이에 보상용 프레임 데이터를 삽입함으로써, 구동 트랜지스터의 특성값 편차를 감소시킬 수 있는 디스플레이 장치 및 구동 방법을 제공할 수 있다.

또한, 본 발명의 실시예들은 디스플레이 패널의 온도 변화에 따른 구동 트랜지스터의 특성값 편차를 효과적으로 보상할 수 있는 보상용 프레임 데이터를 영상 데이터 사이에 삽입함으로써, 영상 품질을 개선할 수 있는 디스플레이 장치 및 구동 방법을 제공할 수 있다.

또한, 본 발명의 실시예들은 디스플레이 패널에 표시되는 영상 패턴에 따라, 구동 트랜지스터의 특성값 편차를 효과적으로 보상할 수 있는 보상용 프레임 데이터를 영상 데이터 사이에 삽입함으로써, 영상 품질을 개선할 수 있는 디스플레이 장치 및 구동 방법을 제공할 수 있다.

본 발명의 일 실시예에 따르면, 복수의 데이터 라인, 및 복수의 서브픽셀이 배치된 디스플레이 패널과, 영상 데이터를 데이터 전압으로 변환하여, 복수의 데이터 라인에 인가하는 데이터 구동 회로와, 데이터 구동 회로를 제어하며, 디스플레이 패널의 온도 상태에 따라 결정된 온도 보상 영역에 대한 하나 이상의 보상용 프레임 데이터를 영상 데이터가 표시되는 프레임 사이에 공급하는 타이밍 컨트롤러를 포함하는 디스플레이 장치를 제공할 수 있다.

본 발명의 일 실시예에 따르면, 온도 보상 영역은 디스플레이 패널에 구비된 온도 센서를 통해 검출된 디스플레이 패널의 온도 상태에 따라 결정되는 디스플레이 장치를 제공할 수 있다.

본 발명의 일 실시예에 따르면, 온도 보상 영역은 메모리에 미리 저장된 영상 데이터를 샘플링함으로써 결정되는 디스플레이 장치를 제공할 수 있다.

본 발명의 일 실시예에 따르면, 온도 보상 영역은 서브픽셀에 대한 특성값 센싱 프로세스를 통해 검출된 특성값 편차를 기준으로 결정되는 디스플레이 장치를 제공할 수 있다.

본 발명의 일 실시예에 따르면, 보상용 프레임 데이터는 디스플레이 패널의 발열 포인트를 기준으로 거리에 따라 구분되는 복수의 보상 영역에 표시되는 서로 다른 계조의 블랙 데이터로 이루어지는 디스플레이 장치를 제공할 수 있다.

본 발명의 일 실시예에 따르면, 발열 포인트는 데이터 구동 회로에서 전류의 집중으로 인해 가장 온도가 높은 영역인 디스플레이 장치를 제공할 수 있다.

본 발명의 일 실시예에 따르면, 보상용 프레임 데이터는 발열 포인트에서 가까운 제 1 보상 영역에 표시되는 고계조의 블랙 데이터; 및 발열 포인트에서 제 1 보상 영역보다 먼 제 2 보상 영역에 표시되는 저계조의 블랙 데이터로 이루어지는 디스플레이 장치를 제공할 수 있다.

본 발명의 일 실시예에 따르면, 보상용 프레임 데이터는 일정한 시간 동안 변경되지 않는 특수 패턴의 영상 데이터에 의해서 구분되는 패턴 보상 영역에 표시되는 패턴 보상용 프레임 데이터인 디스플레이 장치를 제공할 수 있다.

본 발명의 일 실시예에 따르면, 보상용 프레임 데이터는 디스플레이 패널에 표시되는 한 프레임의 영상 데이터마다 한 프레임씩 공급되는 디스플레이 장치를 제공할 수 있다.

본 발명의 일 실시예에 따르면, 디스플레이 패널의 온도 상태는 디스플레이 패널이 기준 온도 이상인 경우, 또는 특성값 센싱 프로세스를 통해 서브픽셀에서 센싱된 특성값의 보상 게인이 기준값 이상인 경우를 포함하는 디스플레이 장치를 제공할 수 있다.

본 발명의 일 실시예에 따르면, 기준 온도는 시간에 따른 디스플레이 패널의 온도 상승 정도를 포함하는 디스플레이 장치를 제공할 수 있다.

본 발명의 일 실시예에 따르면, 특성값은 서브픽셀을 구성하는 구동 트랜지스터의 문턱 전압 또는 이동도인 디스플레이 장치를 제공할 수 있다.

본 발명의 일 실시예에 따르면, 특성값 센싱 프로세스는 파워 온 신호 발생 이후에 상기 서브픽셀이 발광하기 전에 특성값 센싱이 이루어지는 온-센싱 프로세스와, 파워 오프 신호가 발생되어 상기 데이터 전압이 차단됨으로써, 서브픽셀의 발광이 종료된 상태에서 특성값 센싱이 이루어지는 오프-센싱 프로세스와, 블랭크 구간에 특성값 센싱이 이루어지는 실시간 센싱 프로세스 중 적어도 하나인 디스플레이 장치를 제공할 수 있다.

본 발명의 일 실시예에 따르면, 특성값 센싱 프로세스가 실시간 센싱 프로세인 경우, 블랭크 구간에 서브픽셀을 리셋하기 위한 회복 데이터가 인가되는 디스플레이 장치를 제공할 수 있다.

본 발명의 다른 실시예에 따르면, 복수의 데이터 라인, 및 복수의 서브픽셀이 배치된 디스플레이 패널과, 영상 데이터를 데이터 전압으로 변환하여, 복수의 데이터 라인에 인가하는 데이터 구동 회로를 포함하는 디스플레이 장치의 구동 방법에 있어서, 디스플레이 패널의 온도 보상 영역을 결정하는 단계와, 디스플레이 패널의 온도 보상 영역에 대한 보상용 프레임 데이터를 생성하는 단계와, 보상용 프레임 데이터를 영상 데이터의 프레임 사이에 인가하는 단계를 포함하는 디스플레이 장치의 구동 방법을 제공할 수 있다.

본 발명의 다른 실시예에 따르면, 서브픽셀에 배치된 구동 트랜지스터의 특성값을 센싱하는 단계와, 구동 트랜지스터의 특성값 센싱 결과에 따른 보상 게인이 기준값 이상인지를 판단하는 단계와, 보상 게인이 기준값 이상인 경우에, 보상용 프레임 데이터를 생성하는 단계를 더 포함하는 디스플레이 장치의 구동 방법을 제공할 수 있다

본 발명의 실시예들에 의하면, 디스플레이 패널에 표시되는 프레임 단위의 영상 데이터 사이에 보상용 프레임 데이터를 삽입함으로써, 구동 트랜지스터의 특성값 편차를 감소시킬 수 있는 디스플레이 장치 및 구동 방법을 제공할 수 있다.

또한, 본 발명의 실시예들에 의하면, 디스플레이 패널의 온도 변화에 따른 구동 트랜지스터의 특성값 편차를 효과적으로 보상할 수 있는 보상용 프레임 데이터를 영상 데이터 사이에 삽입함으로써, 영상 품질을 개선할 수 있는 디스플레이 장치 및 구동 방법을 제공할 수 있다.

또한, 본 발명의 실시예들에 의하면, 디스플레이 패널에 표시되는 영상 패턴에 따라, 구동 트랜지스터의 특성값 편차를 효과적으로 보상할 수 있는 보상용 프레임 데이터를 영상 데이터 사이에 삽입함으로써, 영상 품질을 개선할 수 있는 디스플레이 장치 및 구동 방법을 제공할 수 있다.

도 1은 본 발명의 실시예들에 따른 디스플레이 장치의 개략적인 구성을 나타낸 도면이다.
도 2는 본 발명의 실시예들에 따른 디스플레이 장치의 시스템 예시도이다.
도 3은 본 발명의 실시예들에 따른 디스플레이 장치에서 서브픽셀을 구성하는 회로의 예시도면이다.
도 4는 본 발명의 실시예들에 따른 디스플레이 장치에서 구동 트랜지스터의 특성값을 센싱하는 예시적인 회로 구조를 나타낸 도면이다.
도 5는 본 발명의 실시예들에 따른 디스플레이 장치에서, 구동 트랜지스터의 특성값 중에서 문턱 전압 센싱을 위한 구동 타이밍 다이어그램을 나타낸 도면이다.
도 6은 본 발명의 실시예들에 따른 디스플레이 장치에서, 구동 트랜지스터의 특성값 중에서 이동도 센싱을 위한 구동 타이밍 다이어그램을 나타낸 도면이다.
도 7은 본 발명의 실시예들에 따른 디스플레이 장치에서, 온도 상승에 따라 디스플레이 패널의 보상 영역을 구분하는 경우의 예시를 나타낸 도면이다.
도 8은 본 발명의 실시예에들에 따른 디스플레이 장치에서, 보상용 프레임 데이터가 삽입되는 경우의 예시를 나타낸 도면이다.
도 9는 본 발명의 실시예들에 따른 디스플레이 장치에서, 영상 패턴에 따라 디스플레이 패널의 보상 영역을 구분하는 경우의 예시를 나타낸 도면이다.
도 10은 본 발명의 실시예들에 따른 디스플레이 장치에서, 패턴 보상용 프레임 데이터를 포함하는 보상용 프레임 데이터가 삽입되는 경우의 예시를 나타낸 도면이다.
도 11은 본 발명의 실시예들에 따른 디스플레이 장치에서, 패턴 보상 영역에 패턴 보상용 프레임 데이터가 삽입되는 경우의 예시를 나타낸 도면이다.
도 12는 본 발명의 실시예들에 따른 디스플레이 장치에서, 블랭크 구간에 구동 트랜지스터의 특성값에 대한 실시간 센싱이 진행되는 경우의 신호 다이어그램을 나타낸 예시 도면이다.
도 13은 본 발명의 실시예들에 따른 디스플레이 장치의 구동 방법을 나타낸 흐름도이다.

이하, 본 발명의 일부 실시예들을 예시적인 도면을 참조하여 상세하게 설명한다. 각 도면의 구성 요소들에 참조부호를 부가함에 있어서, 동일한 구성 요소들에 대해서는 비록 다른 도면상에 표시되더라도 가능한 한 동일한 부호를 가질 수 있다. 또한, 본 발명을 설명함에 있어, 관련된 공지 구성 또는 기능에 대한 구체적인 설명이 본 발명의 요지를 흐릴 수 있다고 판단되는 경우에는 그 상세한 설명은 생략할 수 있다. 본 명세서 상에서 언급된 "포함한다", "갖는다", "이루어진다" 등이 사용되는 경우 "~만"이 사용되지 않는 이상 다른 부분이 추가될 수 있다. 구성 요소를 단수로 표현한 경우에 특별한 명시적인 기재 사항이 없는 한 복수를 포함하는 경우를 포함할 수 있다.

또한, 본 발명의 구성 요소를 설명하는 데 있어서, 제1, 제2, A, B, (a), (b) 등의 용어를 사용할 수 있다. 이러한 용어는 그 구성 요소를 다른 구성 요소와 구별하기 위한 것일 뿐, 그 용어에 의해 해당 구성 요소의 본질, 차례, 순서 또는 개수 등이 한정되지 않는다.

구성 요소들의 위치 관계에 대한 설명에 있어서, 둘 이상의 구성 요소가 "연결", "결합" 또는 "접속" 등이 된다고 기재된 경우, 둘 이상의 구성 요소가 직접적으로 "연결", "결합" 또는 "접속" 될 수 있지만, 둘 이상의 구성 요소와 다른 구성 요소가 더 "개재"되어 "연결", "결합" 또는 "접속"될 수도 있다고 이해되어야 할 것이다. 여기서, 다른 구성 요소는 서로 "연결", "결합" 또는 "접속" 되는 둘 이상의 구성 요소 중 하나 이상에 포함될 수도 있다.

구성 요소들이나, 동작 방법이나 제작 방법 등과 관련한 시간적 흐름 관계에 대한 설명에 있어서, 예를 들어, "~후에", "~에 이어서", "~다음에", "~전에" 등으로 시간적 선후 관계 또는 흐름적 선후 관계가 설명되는 경우, "바로" 또는 "직접"이 사용되지 않는 이상 연속적이지 않은 경우도 포함할 수 있다.

한편, 구성 요소에 대한 수치 또는 그 대응 정보(예: 레벨 등)가 언급된 경우, 별도의 명시적 기재가 없더라도, 수치 또는 그 대응 정보는 각종 요인(예: 공정상의 요인, 내부 또는 외부 충격, 노이즈 등)에 의해 발생할 수 있는 오차 범위를 포함하는 것으로 해석될 수 있다.

도 1은 본 발명의 실시예들에 따른 디스플레이 장치의 개략적인 구성을 나타낸 도면이다.

도 1을 참조하면, 본 발명의 실시예들에 따른 디스플레이 장치(100)는 복수의 게이트 라인(GL)과 데이터 라인(DL)이 연결되고, 복수의 서브픽셀(SP)이 매트릭스 형태로 배열된 디스플레이 패널(110), 복수의 게이트 라인(GL)에 신호를 제공하는 게이트 구동 회로(120), 복수의 데이터 라인(DL)을 통해 데이터 전압을 공급하는 데이터 구동 회로(130), 게이트 구동 회로(120)와 데이터 구동 회로(130)를 제어하는 타이밍 컨트롤러(140), 및 디스플레이 패널(110)의 온도를 감지하기 위한 온도 센서(150)를 포함할 수 있다.

디스플레이 패널(110)은 복수의 게이트 라인(GL)을 통해 게이트 구동 회로(120)에서 전달되는 스캔 신호와 복수의 데이터 라인(DL)을 통해 데이터 구동 회로(130)에서 전달되는 데이터 전압을 기반으로 영상을 표시한다.

액정 디스플레이의 경우, 디스플레이 패널(110)은 두 장의 기판 사이에 형성된 액정층을 포함하며, TN(Twisted Nematic) 모드, VA(Vertical Alignment) 모드, IPS(In Plane Switching) 모드, FFS(Fringe Field Switching) 모드 등 공지된 어떠한 모드로도 동작될 수 있을 것이다. 반면, 전계 발광 디스플레이의 경우, 디스플레이 패널(110)은 전면 발광(Top Emission) 방식, 배면 발광(Bottom Emission) 방식 또는 양면 발광(Dual Emission) 방식 등으로 구현될 수 있을 것이다.

디스플레이 패널(110)은 복수의 픽셀이 매트릭스 형태로 배열될 수 있으며, 각 픽셀은 서로 다른 컬러의 서브픽셀(SP), 예를 들어 화이트 서브픽셀, 레드 서브픽셀, 그린 서브픽셀, 및 블루 서브픽셀로 이루어지며, 각 서브픽셀(SP)은 복수의 데이터 라인(DL)과 복수의 게이트 라인(GL)에 의해 정의될 수 있다.

하나의 서브픽셀(SP)은 하나의 데이터 라인(DL)과 하나의 게이트 라인(GL)에 의해 형성된 영역에 배치된 박막 트랜지스터(Thin Film Transistor, TFT), 데이터 전압에 따라 발광하는 발광 다이오드와 같은 발광 소자, 발광 소자에 전기적으로 연결되어 전압을 유지시키기 위한 스토리지 커패시터(Storage Capacitor) 등을 포함할 수 있다.

예를 들어, 2,160 X 3,840 의 해상도를 가지는 디스플레이 장치(100)가 화이트(W), 레드(R), 그린(G), 블루(B)의 4개 서브픽셀(SP)로 이루어지는 경우, 2,160 개의 게이트 라인(GL)과 4개의 서브픽셀(WRGB)에 각각 연결되는 3,840 개의 데이터 라인(DL)에 의해, 모두 3,840 X 4 = 15,360 개의 데이터 라인(DL)이 구비될 수 있으며, 이들 게이트 라인(GL)과 데이터 라인(DL)에 의해 형성된 영역에 각각 서브픽셀(SP)이 배치될 것이다.

게이트 구동 회로(120)는 컨트롤러(140)에 의해 제어되는데, 디스플레이 패널(110)에 배치된 복수의 게이트 라인(GL)으로 스캔 신호를 순차적으로 출력함으로써 복수의 서브픽셀(SP)에 대한 구동 타이밍을 제어한다.

2,160 X 3,840 의 해상도를 가지는 디스플레이 장치(100)에서, 2,160 개의 게이트 라인(GL)에 대하여 제 1 게이트 라인으로부터 제 2,160 게이트 라인까지 순차적으로 스캔 신호를 출력하는 경우를 2,160상(2,160 phase) 구동이라 할 수 있다. 또는, 제 1 게이트 라인으로부터 제 4 게이트 라인까지 순차적으로 스캔 신호를 출력한 다음, 제 5 게이트 라인으로부터 제 8 게이트 라인까지 스캔 신호를 순차적으로 출력하는 경우와 같이, 4개의 게이트 라인(GL)을 단위로 순차적으로 스캔 신호를 출력하는 경우를 4상 구동이라고 한다. 즉, N개의 게이트 라인(GL) 마다 순차적으로 스캔 신호를 출력하는 경우를 N상 구동이라고 할 수 있다.

이 때, 게이트 구동 회로(120)는 하나 이상의 게이트 구동 집적 회로(Gate Driving Integrated Circuit; GDIC)를 포함할 수 있으며, 구동 방식에 따라 디스플레이 패널(110)의 일 측에만 위치할 수도 있고 양 측에 위치할 수도 있다. 또는, 게이트 구동 회로(120)가 디스플레이 패널(110)의 베젤(Bezel) 영역에 직접 형성된 GIP(Gate In Panel) 형태로 구현될 수도 있다.

데이터 구동 회로(130)는 타이밍 컨트롤러(140)로부터 디지털 영상 데이터(DATA)를 수신하고, 수신된 디지털 영상 데이터(DATA)를 아날로그 형태의 데이터 전압으로 변환한다. 그런 다음, 게이트 라인(GL)을 통해 스캔 신호가 인가되는 타이밍에 맞춰 데이터 전압을 각각의 데이터 라인(DL)으로 출력함으로써, 데이터 라인(DL)에 연결된 각 서브픽셀(SP)은 데이터 전압에 해당하는 밝기의 발광 신호를 디스플레이 한다.

마찬가지로, 데이터 구동 회로(130)는 하나 이상의 소스 구동 집적 회로(Source Driving Integrated Circuit; SDIC)를 포함할 수 있으며, 소스 구동 집적 회로(SDIC)는 TAB (Tape Automated Bonding) 방식 또는 COG (Chip On Glass) 방식으로 디스플레이 패널(110)의 본딩 패드(Bonding Pad)에 연결되거나 디스플레이 패널(110) 상에 직접 배치될 수 있다.

경우에 따라서, 각 소스 구동 집적 회로(SDIC)는 디스플레이 패널(110)에 집적화되어 배치될 수도 있다. 또한, 각 소스 구동 집적 회로(SDIC)는 COF (Chip On Film) 방식으로 구현될 수 있으며, 이 경우에, 각 소스 구동 집적 회로(SDIC)는 회로 필름 상에 실장 되어, 회로 필름을 통해 디스플레이 패널(110)의 데이터 라인(DL)과 전기적으로 연결될 수 있다.

타이밍 컨트롤러(140)는 게이트 구동 회로(120)와 데이터 구동 회로(130)에 여러 가지 제어 신호를 공급하며, 게이트 구동 회로(120)와 데이터 구동 회로(130)의 동작을 제어한다. 즉, 타이밍 컨트롤러(140)는 각 프레임에서 구현하는 타이밍에 따라 게이트 구동 회로(120)가 스캔 신호를 출력하도록 제어하고, 다른 한편으로는 외부에서 수신한 디지털 영상 데이터(DATA)를 데이터 구동 회로(130)에 전달한다.

이 때, 타이밍 컨트롤러(140)는 디지털 영상 데이터(DATA)와 함께 수직 동기 신호(Vsync), 수평 동기 신호(Hsync), 데이터 인에이블 신호(Data Enable; DE), 메인 클럭 신호(MCLK) 등을 포함하는 여러 가지 타이밍 신호를 외부(예, 호스트 시스템)로부터 수신한다. 이에 따라, 타이밍 컨트롤러(140)는 외부로부터 수신한 여러 가지 타이밍 신호를 이용하여 제어 신호를 생성하고, 이를 게이트 구동 회로(120) 및 데이터 구동 회로(130)로 전달한다.

예를 들어, 타이밍 컨트롤러(140)는 게이트 구동 회로(120)를 제어하기 위해서, 게이트 스타트 펄스(Gate Start Pulse; GSP), 게이트 클럭(Gate Clock; GCLK), 게이트 출력 인에이블 신호(Gate Output Enable; GOE) 등을 포함하는 여러 가지 게이트 제어 신호를 출력한다. 여기에서, 게이트 스타트 펄스(GSP)는 게이트 구동 회로(120)를 구성하는 하나 이상의 게이트 구동 집적 회로(GDIC)가 동작을 시작하는 타이밍을 제어한다. 또한, 게이트 클럭(GCLK)은 하나 이상의 게이트 구동 집적 회로(GDIC)에 공통으로 입력되는 클럭 신호로서, 스캔 신호의 시프트 타이밍을 제어한다. 또한, 게이트 출력 인에이블 신호(GOE)는 하나 이상의 게이트 구동 집적 회로(GDIC)의 타이밍 정보를 지정한다.

또한, 타이밍 컨트롤러(140)는 데이터 구동 회로(130)를 제어하기 위하여, 소스 스타트 펄스(Source Start Pulse; SSP), 소스 샘플링 클럭(Source Sampling Clock; SCLK), 소스 출력 인에이블 신호(Source Output Enable; SOE) 등을 포함하는 각종 데이터 제어 신호를 출력한다. 여기에서, 소스 스타트 펄스(SSP)는 데이터 구동 회로(130)를 구성하는 하나 이상의 소스 구동 집적 회로(SDIC)가 데이터 샘플링을 시작하는 타이밍을 제어한다. 소스 샘플링 클럭(SCLK)은 소스 구동 집적 회로(SDIC)에서 데이터를 샘플링하는 타이밍을 제어하는 클럭 신호이다. 소스 출력 인에이블 신호(SOE)는 데이터 구동 회로(130)의 출력 타이밍을 제어한다.

온도 센서(150)는 디스플레이 패널(110)의 일부 영역 또는 전체 영역의 온도를 측정하기 위해서, 디스플레이 패널(110)에서 영상을 표시하지 않는 베젤 영역 또는 회로 영역 내의 임의의 위치에 배치될 수 있으며, 하나 또는 복수 개가 배치될 수 있다. 온도 센서(150)에서 센싱된 온도 값은 타이밍 컨트롤러(140)에 전달되고, 타이밍 컨트롤러(140)는 센싱된 온도 값에 따라 디지털 영상 데이터(DATA)를 보상하고, 보상된 디지털 영상 데이터를 데이터 구동 회로(130)를 통해 디스플레이 패널(110)에 공급할 수 있다.

이러한 디스플레이 장치(100)는 디스플레이 패널(110), 게이트 구동 회로(120), 데이터 구동 회로(130) 등으로 각종 전압 또는 전류를 공급해주거나, 공급할 각종 전압 또는 전류를 제어하는 파워 관리 집적 회로를 더 포함할 수 있다.

한편, 각각의 서브픽셀(SP)에는 발광 소자가 배치될 수 있다. 예를 들어, 전계 발광 디스플레이 장치는 각각의 서브픽셀(SP)에 발광 다이오드와 같은 발광 소자를 포함하며, 데이터 전압에 따라 발광 소자에 흐르는 전류를 제어함으로써 영상을 표시할 수 있다. 이러한 디스플레이 장치(100)는 액정 디스플레이(Liquid Crystal Display), 유기 발광 디스플레이(Organic Light Emitting Display), 플라즈마 디스플레이 패널(Plasma Display Panel) 등 다양한 타입의 장치일 수 있다.

도 2는 본 발명의 실시예들에 따른 디스플레이 장치의 시스템 예시도이다.

도 2를 참조하면, 본 발명의 실시예들에 따른 디스플레이 장치(100)는 데이터 구동 회로(130)에 포함된 소스 구동 집적 회로(SDIC)가 다양한 방식들(TAB, COG, COF 등) 중에서 COF (Chip On Film) 방식으로 구현되고, 게이트 구동 회로(120)가 다양한 방식들(TAB, COG, COF, GIP 등) 중에서 GIP (Gate In Panel) 형태로 구현된 경우를 나타낸 것이다.

게이트 구동 회로(120)가 GIP 형태로 구현되는 경우, 게이트 구동 회로(120)에 포함된 복수의 게이트 구동 집적 회로(GDIC)는 디스플레이 패널(110)의 비표시 영역에 직접 형성될 수 있다. 이 때, 게이트 구동 집적 회로(GDIC)는 비표시 영역에 배치된 게이트 구동 관련 신호 배선을 통해, 스캔 신호의 생성에 필요한 각종 신호(클럭 신호, 게이트 하이 신호, 게이트 로우 신호 등)를 공급받을 수 있다.

마찬가지로, 데이터 구동 회로(130)에 포함된 하나 이상의 소스 구동 집적 회로(SDIC)는 각각 소스 필름(SF) 상에 실장될 수 있으며, 소스 필름(SF)의 일측은 디스플레이 패널(110)과 전기적으로 연결될 수 있다. 또한, 소스 필름(SF)의 상부에는 소스 구동 집적 회로(SDIC)와 디스플레이 패널(110)을 전기적으로 연결하기 위한 배선들이 배치될 수 있다.

이러한 디스플레이 장치(100)는 복수의 소스 구동 집적 회로(SDIC)와 다른 장치들 간의 회로적인 연결을 위해서, 적어도 하나의 소스 인쇄 회로 기판(Source Printed Circuit Board; SPCB)과, 제어 부품들 및 각종 전기 장치들을 실장하기 위한 컨트롤 인쇄 회로 기판(Control Printed Circuit Board; CPCB)을 포함할 수 있다.

이 때, 적어도 하나의 소스 인쇄 회로 기판(SPCB)에는 소스 구동 집적 회로(SDIC)가 실장된 소스 필름(SF)의 타측이 연결될 수 있다. 즉, 소스 구동 집적 회로(SDIC)가 실장된 소스 필름(SF)은 일측이 디스플레이 패널(110)과 전기적으로 연결되고, 타측이 소스 인쇄 회로 기판(SPCB)과 전기적으로 연결될 수 있다.

컨트롤 인쇄 회로 기판(CPCB)에는 타이밍 컨트롤러(140)와 파워 관리 집적 회로(Power Management IC; PMIC, 180)가 실장될 수 있다. 타이밍 컨트롤러(140)는 데이터 구동 회로(130)와 게이트 구동 회로(120)의 동작을 제어할 수 있다. 파워 관리 집적 회로(180)는 디스플레이 패널(110), 데이터 구동 회로(130) 및 게이트 구동 회로(120) 등으로 구동 전압이나 전류를 공급할 수도 있고, 공급되는 전압이나 전류를 제어할 수 있다.

적어도 하나의 소스 인쇄 회로 기판(SPCB)과 컨트롤 인쇄 회로 기판(CPCB)은 적어도 하나의 연결 부재를 통해 회로적으로 연결될 수 있으며, 연결 부재는 예를 들어, 플렉서블 인쇄 회로(Flexible Printed Circuit; FPC), 플렉서블 플랫 케이블(Flexible Flat Cable; FFC) 등으로 이루어질 수 있다. 또한, 적어도 하나의 소스 인쇄 회로 기판(SPCB)과 컨트롤 인쇄 회로 기판(CPCB)은 하나의 인쇄 회로 기판으로 통합되어 구현될 수도 있다.

디스플레이 장치(100)는 컨트롤 인쇄 회로 기판(CPCB)과 전기적으로 연결된 세트 보드(Set Board, 170)를 더 포함할 수 있다. 이 때, 세트 보드(170)는 파워 보드(Power Board)라고 할 수도 있다. 이러한 세트 보드(170)에는 디스플레이 장치(100)의 전체 파워를 관리하는 메인 파워 관리 회로(Main Power Management Circuit; M-PMC, 160)가 존재할 수 있다. 메인 파워 관리 회로(160)는 파워 관리 집적 회로(180)와 연동될 수 있다.

위와 같은 구성으로 이루어진 디스플레이 장치(100)의 경우, 구동 전압은 세트 보드(170)에서 발생되어 컨트롤 인쇄 회로 기판(CPCB) 내의 파워 관리 집적 회로(180)로 전달된다. 파워 관리 집적 회로(180)는 디스플레이 구동 또는 특성값 센싱에 필요한 구동 전압을 플렉서블 인쇄 회로(FPC), 또는 플렉서블 플랫 케이블(FFC)을 통해 소스 인쇄 회로 기판(SPCB)으로 전달한다. 소스 인쇄 회로 기판(SPCB)으로 전달된 구동 전압은 소스 구동 집적 회로(SDIC)를 통해 디스플레이 패널(110) 내의 특정 서브픽셀(SP)을 발광하거나 센싱하기 위해 공급된다.

이 때, 디스플레이 장치(100) 내의 디스플레이 패널(110)에 배열된 각 서브픽셀(SP)은 발광 소자와, 이를 발광시키기 위한 구동 트랜지스터 등의 회로 소자로 구성될 수 있다.

각 서브픽셀(SP)을 구성하는 회로 소자의 종류 및 개수는, 제공 기능 및 설계 방식 등에 따라 다양하게 정해질 수 있다.

도 3은 본 발명의 실시예들에 따른 디스플레이 장치에서 서브픽셀을 구성하는 회로의 예시 도면이다.

도 3을 참조하면, 본 발명의 실시예들에 따른 디스플레이 장치(100)에서, 서브픽셀(SP)은 하나 이상의 트랜지스터와 커패시터를 포함할 수 있으며, 발광 소자(ED)로서 유기 발광 다이오드가 배치될 수 있다.

예를 들어, 서브픽셀(SP)은 구동 트랜지스터(DRT), 스위칭 트랜지스터(SWT), 센싱 트랜지스터(SENT), 스토리지 커패시터(Cst), 및 발광 소자(ED)를 포함할 수 있다.

구동 트랜지스터(DRT)는 제 1 노드(N1), 제 2 노드(N2), 및 제 3 노드(N3)를 가진다. 구동 트랜지스터(DRT)의 제 1 노드(N1)는 스위칭 트랜지스터(SWT)가 턴-온 되면, 데이터 라인(DL)을 통해 데이터 구동 회로(130)로부터 데이터 전압(Vdata)이 인가되는 게이트 노드일 수 있다. 구동 트랜지스터(DRT)의 제 2 노드(N2)는 발광 소자(ED)의 애노드(Anode) 전극과 전기적으로 연결될 수 있으며, 소스 노드 또는 드레인 노드일 수 있다. 구동 트랜지스터(DRT)의 제 3 노드(N3)는 구동 전압(EVDD)이 인가되는 구동 전압 라인(DVL)과 전기적으로 연결되며, 드레인 노드 또는 소스 노드일 수 있다.

이 때, 디스플레이 구동 기간에는 구동 전압 라인(DVL)으로 영상을 디스플레이 하는데 필요한 구동 전압(EVDD)이 공급될 수 있는데, 예를 들어, 영상을 디스플레이 하는데 필요한 구동 전압(EVDD)은 27V일 수 있다.

스위칭 트랜지스터(SWT)는 구동 트랜지스터(DRT)의 제 1 노드(N1)와 데이터 라인(DL) 사이에 전기적으로 연결되며, 게이트 라인(GL)이 게이트 노드에 연결되어 게이트 라인(GL)을 통해 공급되는 스캔 신호(SCAN)에 따라 동작한다. 또한, 스위칭 트랜지스터(SWT)가 턴-온되는 경우에는 데이터 라인(DL)을 통해 공급되는 데이터 전압(Vdata)을 구동 트랜지스터(DRT)의 게이트 노드에 전달함으로써, 구동 트랜지스터(DRT)의 동작을 제어하게 된다.

센싱 트랜지스터(SENT)는 구동 트랜지스터(DRT)의 제 2 노드(N2)와 기준 전압 라인(RVL) 사이에 전기적으로 연결되며, 게이트 라인(GL)이 게이트 노드에 연결되어 게이트 라인(GL)을 통해 공급되는 센스 신호(SENSE)에 따라 동작한다. 센싱 트랜지스터(SENT)가 턴-온되는 경우에는 기준 전압 라인(RVL)을 통해 공급되는 센싱용 기준 전압(Vref)이 구동 트랜지스터(DRT)의 제 2 노드(N2)에 전달된다.

즉, 스위칭 트랜지스터(SWT)와 센싱 트랜지스터(SENT)를 제어함으로써, 구동 트랜지스터(DRT)의 제 1 노드(N1) 전압과 제 2 노드(N2) 전압을 제어하게 되고, 이로 인해 발광 소자(ED)를 구동하기 위한 전류가 공급될 수 있도록 한다.

이러한 스위칭 트랜지스터(SWT)와 센싱 트랜지스터(SENT)의 게이트 노드는 하나의 게이트 라인(GL)에 함께 연결될 수도 있고, 서로 다른 게이트 라인(GL)에 연결될 수도 있다. 여기에서는 스위칭 트랜지스터(SWT)와 센싱 트랜지스터(SENT)가 서로 다른 게이트 라인(GL)에 연결된 구조를 예시로 나타낸 것이며, 이 경우에는 서로 다른 게이트 라인(GL)을 통해 전달되는 스캔 신호(SCAN)와 센스 신호(SENSE)에 의해 스위칭 트랜지스터(SWT)와 센싱 트랜지스터(SENT)를 독립적으로 제어할 수 있다.

반면, 스위칭 트랜지스터(SWT)와 센싱 트랜지스터(SENT)가 하나의 게이트 라인(GL)에 연결된 경우에는 하나의 게이트 라인(GL)을 통해 전달되는 스캔 신호(SCAN) 또는 센스 신호(SENSE)에 의해 스위칭 트랜지스터(SWT)와 센싱 트랜지스터(SENT)를 동시에 제어할 수 있으며, 서브픽셀(SP)의 개구율(aperture ratio)이 증가할 수 있다.

한편, 서브픽셀(SP)에 배치된 트랜지스터는 n-타입 트랜지스터뿐만 아니라 p-타입 트랜지스터로 이루어질 수 있는데, 여기에서는 n-타입 트랜지스터로 구성된 경우를 예시로 나타내고 있다.

스토리지 커패시터(Cst)는 구동 트랜지스터(DRT)의 제 1 노드(N1)와 제2 노드(N2) 사이에 전기적으로 연결되며, 한 프레임 동안 데이터 전압(Vdata)을 유지시켜준다.

이러한 스토리지 커패시터(Cst)는 구동 트랜지스터(DRT)의 유형에 따라 구동 트랜지스터(DRT)의 제 1 노드(N1)와 제 3 노드(N3) 사이에 연결될 수도 있다. 발광 소자(ED)의 애노드 전극은 구동 트랜지스터(DRT)의 제 2 노드(N2)와 전기적으로 연결될 수 있으며, 발광 소자(ED)의 캐소드(Cathode) 전극으로 기저 전압(EVSS)이 인가될 수 있다.

여기에서, 기저 전압(EVSS)은 그라운드 전압이거나 그라운드 전압보다 높거나 낮은 전압일 수 있다. 또한, 기전 전압(EVSS)은 구동 상태에 따라 가변될 수 있으며, 예를 들어, 디스플레이 구동 시점의 기저 전압(EVSS)과 센싱 구동 시점의 기저 전압(EVSS)이 서로 다르게 설정될 수 있다.

위에서 예를 들어 설명한 서브픽셀(SP)의 구조는 3T(Transistor) 1C (Capacitor) 구조로서, 설명을 위한 예시일 뿐, 1개 이상의 트랜지스터를 더 포함하거나, 경우에 따라서는, 1개 이상의 커패시터를 더 포함할 수도 있다. 또는, 다수의 서브픽셀(SP) 각각이 동일한 구조로 되어 있을 수도 있고, 다수의 서브픽셀(SP) 중 일부는 다른 구조로 되어 있을 수도 있다.

본 발명의 실시예들에 따른 디스플레이 장치(100)는 구동 트랜지스터(DRT)의 특성값, 예를 들어, 문턱 전압(threshold voltage)이나 이동도(mobility)를 효과적으로 센싱하기 위해서, 구동 트랜지스터(DRT)의 특성값 센싱 구간에 스토리지 커패시터(Cst)에 충전되는 전압에 의해 흐르는 전류를 측정하는 방법을 사용할 수 있는데, 이를 전류 센싱이라고 한다.

즉, 구동 트랜지스터(DRT)의 특성값 센싱 구간에 스토리지 커패시터(Cst)에 충전된 전압에 의해 흐르는 전류를 측정함으로써, 서브픽셀(SP) 내 구동 트랜지스터(DRT)의 특성값이나 특성값의 변화를 알아낼 수 있다.

이 때, 기준 전압 라인(RVL)은 기준 전압(Vref)을 전달해주는 역할 뿐만 아니라, 서브픽셀(SP) 내 구동 트랜지스터(DRT)의 특성값을 센싱하기 위한 센싱 라인의 역할도 하기 때문에, 기준 전압 라인(RVL)을 센싱 라인이라고 할 수 있다.

도 4는 본 발명의 실시예들에 따른 디스플레이 장치에서 구동 트랜지스터의 특성값을 센싱하는 예시적인 회로 구조를 나타낸 도면이다.

도 4를 참조하면, 본 발명의 실시예들에 따른 디스플레이 장치(100)는 구동 트랜지스터(DRT)의 특성값 편차를 보상하기 위한 구성들을 포함할 수 있다.

예를 들어, 구동 트랜지스터(DRT)의 특성값 또는 특성값의 변화는 구동 트랜지스터(DRT)의 제 2 노드(N2) 전압(예: Vdata - Vth)으로 반영될 수 있다. 구동 트랜지스터(DRT)의 제 2 노드(N2) 전압은 센싱 트랜지스터(SENT)가 턴-온 상태인 경우, 기준 전압 라인(RVL)의 전압에 대응될 수 있다. 또한, 구동 트랜지스터(DRT)의 제 2 노드(N2) 전압에 의해, 기준 전압 라인(RVL)의 라인 커패시터(Cline)가 충전될 수 있으며, 라인 커패시터(Cline)에 충전된 센싱 전압(Vsen)의해 기준 전압 라인(RVL)은 구동 트랜지스터(DRT)의 제 2 노드(N2) 전압에 대응되는 전압을 가질 수 있다.

이러한 디스플레이 장치(100)는 구동 트랜지스터(DRT)의 제 2 노드(N2) 전압과 대응되는 기준 전압 라인(RVL)의 전압을 측정하여 디지털 값으로 변환하는 아날로그 디지털 컨버터(ADC)와, 특성값 센싱을 위한 스위치 회로(SAM, SPRE)를 포함할 수 있다.

특성값 센싱 구동을 제어하는 스위치 회로(SAM, SPRE)는 기준 전압 라인(RVL) 및 기준 전압(Vref)이 공급되는 센싱용 기준 전압 공급 노드(Npres) 사이의 연결을 제어하는 센싱용 기준 스위치(SPRE)와, 기준 전압 라인(RVL) 및 아날로그 디지털 컨버터(ADC) 간의 연결을 제어하는 샘플링 스위치(SAM)를 포함할 수 있다. 여기에서, 센싱용 기준 스위치(SPRE)는 특성값 센싱 구동을 제어하는 스위치이며, 센싱용 기준 스위치(SPRE)에 의해 기준 전압 라인(RVL)으로 공급되는 기준 전압(Vref)은 센싱용 기준 전압(VpreS)이 된다.

또한, 구동 트랜지스터(DRT)의 특성값 센싱을 위한 스위치 회로는 디스플레이 구동을 제어하는 디스플레이 구동용 기준 스위치(RPRE)를 포함할 수 있다. 디스플레이 구동용 기준 스위치(RPRE)는 기준 전압 라인(RVL) 및 기준 전압(Vref)이 공급되는 디스플레이 구동용 기준 전압 공급 노드(Nprer) 사이의 연결을 제어할 수 있다. 디스플레이 구동용 기준 스위치(RPRE)는 디스플레이 구동에 이용되는 스위치로서, 디스플레이 구동용 기준 스위치(RPRE)에 의해 기준 전압 라인(RVL)에 공급되는 기준 전압(Vref)은 디스플레이 구동용 기준 전압(VpreR)에 해당한다.

이 때, 센싱용 기준 스위치(SPRE)와 디스플레이 구동용 기준 스위치(RPRE)는 별도로 구비될 수도 있고, 하나로 통합되어 구현될 수도 있을 것이다. 센싱용 기준 전압(VpreS)과 디스플레이 구동용 기준 전압(VpreR)은 동일한 전압 값일 수도 있고, 다른 전압 값일 수도 있다.

디스플레이 장치(100)의 타이밍 컨트롤러(140)는 아날로그 디지털 컨버터(ADC)에서 전달되는 데이터를 저장하거나 기준값을 미리 저장하고 있는 메모리(MEM), 및 수신된 데이터와 메모리(MEM)에 저장된 기준값을 비교하여 특성값의 편차를 보상해주는 보상 회로(COMP)를 포함할 수 있다. 이 때, 보상 회로(COMP)에 의해 산출된 보상 값은 메모리(MEM)에 저장될 수 있다.

이에 따라, 타이밍 컨트롤러(140)는 보상 회로(COMP)에서 산출된 보상 값을 이용하여 데이터 구동 회로(130)에 공급할 디지털 영상 데이터(DATA)를 보상하고, 보상된 디지털 영상 데이터(DATA_comp)를 데이터 구동 회로(130)로 출력할 수 있다. 이에 따라, 데이터 구동 회로(130)는 디지털 아날로그 컨버터(DAC)를 통해 보상된 디지털 영상 데이터(DATA_comp)를 아날로그 신호 형태의 보상 데이터 전압(Vdata_comp)으로 변환하고, 보상 데이터 전압(Vdata_comp)을 출력 버퍼(BUF)를 통해 해당 데이터 라인(DL)으로 출력할 수 있다. 그 결과, 해당 서브픽셀(SP) 내의 구동 트랜지스터(DRT)에 대한 특성값 편차(문턱전압 편차, 또는 이동도 편차)가 보상될 수 있다.

위에서 설명한 바와 같이, 구동 트랜지스터(DRT)의 특성값(문턱 전압 및 이동도)을 센싱하는 구간은 파워 온 신호의 발생 이후 디스플레이 구동이 시작되기 전에 진행될 수 있다. 예를 들어, 디스플레이 장치(100)에 파워 온 신호가 인가되면, 타이밍 컨트롤러(140)는 디스플레이 패널(110)을 구동하는데 필요한 파라미터들을 로딩한 후에 디스플레이 구동을 진행한다. 이 때, 디스플레이 패널(110)을 구동하는데 필요한 파라미터에는 이전에 디스플레이 패널(110)에서 진행되었던 특성값 센싱 및 보상에 대한 정보 등이 포함될 수 있으며, 이러한 파라미터 로딩 과정에서 구동 트랜지스터(DRT)의 특성값(문턱 전압 및 이동도)에 대한 센싱이 이루어질 수 있다. 이와 같이, 파워 온 신호 발생 이후에 서브픽셀이 발광하기 전에 특성값 센싱이 이루어지는 프로세스를 온-센싱 프로세스(On-Sensing Process)라고 한다.

또는, 구동 트랜지스터(DRT)의 특성값을 센싱하는 구간이 디스플레이 장치(100)의 파워 오프 신호 발생 이후에 진행될 수 있다. 예를 들어, 디스플레이 장치(100)에 파워 오프 신호가 발생되면, 타이밍 컨트롤러(140)는 디스플레이 패널(110)에 공급되는 데이터 전압을 차단하고, 일정 시간 동안 구동 트랜지스터(DRT)의 특성값에 대한 센싱을 수행할 수 있다. 이와 같이, 파워 오프 신호가 발생되어 데이터 전압이 차단됨으로써 서브픽셀의 발광이 종료된 상태에서 특성값 센싱이 이루어지는 프로세스를 오프-센싱 프로세스(Off-Sensing Process)라고 한다.

또한, 구동 트랜지스터(DRT)의 특성값에 대한 센싱 구간이 디스플레이 구동 중에 실시간으로 진행될 수도 있다. 이러한 센싱 프로세스를 실시간(Real-Time; RT) 센싱 프로세스라고 한다. 실시간 센싱 프로세스의 경우에는, 디스플레이 구동 기간 중에서 블랭크 구간마다 하나 이상의 서브픽셀(SP) 라인에서 하나 이상의 서브픽셀(SP)에 대하여 센싱 프로세스가 진행될 수 있다.

즉, 디스플레이 패널(110)에 영상이 표시되는 디스플레이 구동 기간 중에 1 프레임 내, 또는 n 번째 프레임과 n+1 번째 프레임 사이에는 서브픽셀(SP)에 데이터 전압이 공급되지 않는 블랭크 구간이 존재하며, 이러한 블랭크 구간에, 하나 이상의 서브픽셀(SP)에 대한 이동도 센싱을 진행할 수 있다.

이와 같이, 블랭크 구간에 센싱 프로세스가 수행되는 경우, 센싱 프로세스가 수행되는 서브픽셀(SP) 라인은 랜덤하게 선택될 수 있다. 이에 따라, 블랭크 구간에서의 센싱 프로세스가 진행된 후에는 디스플레이 구동 기간에 나타날 수 있는 이상 현상이 완화될 수 있다. 또한, 블랭크 구간 동안 센싱 프로세스가 진행된 후에, 디스플레이 구동 기간에 센싱 프로세스가 진행된 서브픽셀(SP)에 보상 데이터 전압을 공급해 줄 수 있다. 이에 따라, 블랭크 구간에서의 센싱 프로세스 이후 디스플레이 구동 기간에 센싱 프로세스가 완료된 서브픽셀(SP) 라인에서의 이상 현상이 더욱더 완화될 수 있다.

한편, 데이터 구동 회로(130)는 래치 회로, 디지털 아날로그 컨버터(DAC), 및 출력 버퍼(BUF) 등을 포함하는 데이터 전압 출력 회로(136)를 포함할 수 있으며, 경우에 따라서는, 아날로그 디지털 컨버터(ADC) 및 각종 스위치들(SAM, SPRE, RPRE)을 더 포함할 수 있다. 반면, 아날로그 디지털 컨버터(ADC) 및 각종 스위치들(SAM, SPRE, RPRE)은 데이터 구동 회로(130)의 외부에 위치할 수도 있을 것이다.

또한, 보상 회로(COMP)는 타이밍 컨트롤러(140)의 외부에 존재할 수도 있지만, 타이밍 컨트롤러(140)의 내부에 포함될 수도 있으며, 메모리(MEM)는 타이밍 컨트롤러(140)의 외부에 위치할 수도 있고, 타이밍 컨트롤러(140)의 내부에 레지스터 형태로 구현될 수도 있을 것이다.

도 5는 본 발명의 실시예들에 따른 디스플레이 장치에서, 구동 트랜지스터의 특성값 중에서 문턱 전압 센싱을 위한 구동 타이밍 다이어그램을 나타낸 도면이다.

도 5를 참조하면, 본 발명의 실시예들에 따른 디스플레이 장치(100)에서, 문턱 전압 센싱 구동은 초기화 단계(INITIAL), 트래킹 단계(TRACKING) 및 샘플링 단계(SAMPLING)로 진행될 수 있다.

초기화 단계(INITIAL)에서 턴-온 레벨의 스캔 신호(SCAN)에 의해 제 1 스위칭 트랜지스터(SWT)가 턴-온 상태가 된다. 이에 따라, 구동 트랜지스터(DRT)의 제 1 노드(N1)는 문턱 전압 센싱용 데이터 전압(Vdata_sen)으로 초기화 된다.

또한, 초기화 단계(INITIAL)에서 턴-온 레벨 전압의 센스 신호(SENSE)에 의해, 센싱 트랜지스터(SENT)가 턴-온 상태가 되고, 센싱용 기준 스위치(SPRE)가 턴-온 된다. 이에 따라, 구동 트랜지스터(DRT)의 제 2 노드(N2)는 센싱용 기준 전압(VpreS)으로 초기화 된다.

트래킹 단계(TRACKING)는 구동 트랜지스터(DRT)의 문턱 전압(Vth)을 트래킹하는 단계이다. 즉, 트래킹 단계(TRACKING)에서는 구동 트랜지스터(DRT)의 문턱 전압(Vth)을 반영하는 구동 트랜지스터(DRT)의 제 2 노드(N2)의 전압을 트래킹 한다.

트래킹 단계(TRACKING)에서 스위칭 트랜지스터(SWT) 및 센싱 트랜지스터(SENT)는 턴-온 상태를 유지하고, 센싱용 기준 스위치(SPRE)가 턴-오프 된다. 이에 따라, 구동 트랜지스터(DRT)의 제 2 노드(N2)는 플로팅 상태가 되고, 구동 트랜지스터(DRT)의 제 2 노드(N2) 전압이 센싱용 기준 전압(VpreS)에서부터 상승하기 시작한다.

이 때, 센싱 트랜지스터(SENT)는 턴-온 상태이기 때문에, 구동 트랜지스터(DRT)의 제 2 노드(N2) 전압 상승은 기준 전압 라인(RVL)의 전압 상승으로 이어진다.

구동 트랜지스터(DRT)의 제 2 노드(N2) 전압은 상승하다가 포화 상태(Saturation)가 된다. 구동 트랜지스터(DRT)의 제 2 노드(N2)에서 포화된 전압은 문턱 전압에 대한 센싱용 데이터 전압(Vdata_sen)과 구동 트랜지스터(DRT)의 문턱 전압(Vth)의 차이(Vdata_sen - Vth)에 해당하게 된다.

따라서, 구동 트랜지스터(DRT)의 제 2 노드(N2) 전압이 포화되었을 때, 기준 전압 라인(RVL)의 전압은 문턱 전압에 대한 센싱용 데이터 전압(Vdata_sen)과 구동 트랜지스터(DRT)의 문턱 전압의 차이(Vdata_sen - Vth)에 대응된다.

구동 트랜지스터(DRT)의 제 2 노드(N2) 전압이 포화 상태(Saturation)가 되면, 샘플링 스위치(SAM)가 턴-온 되어, 샘플링 단계(SAMPLING)가 진행된다.

샘플링 단계(SAMPLING)에서 아날로그 디지털 컨버터(ADC)는 샘플링 스위치(SAM)에 의해 연결된 기준 전압 라인(RVL)의 전압을 센싱 전압(Vsen)으로 센싱하고, 센싱 전압(Vsen)을 디지털 값에 해당하는 센싱 데이터로 변환할 수 있다. 여기서, 아날로그 디지털 컨버터(ADC)에 의해 센싱된 전압(Vsen)은 "Vdata_sen - Vth"에 해당한다.

보상 회로(COMP)는 아날로그 디지털 컨버터(ADC)에서 출력된 센싱 데이터를 토대로 해당 서브픽셀(SP)에 위치하는 구동 트랜지스터(DRT)의 문턱 전압을 파악할 수 있고, 이에 따라 구동 트랜지스터(DRT)의 문턱 전압을 보상해 수 있다.

즉, 보상 회로(COMP)는 문턱 전압 센싱 구동을 통해 측정된 센싱 데이터(Vdata_sen - Vth 에 대응되는 디지털 데이터)와, 문턱 전압에 대한 센싱용 데이터(Vdata_sen 에 대응되는 디지털 데이터)으로부터 구동 트랜지스터(DRT)의 문턱 전압(Vth)을 파악할 수 있다.

보상 회로(COMP)는 해당 구동 트랜지스터(DRT)에 대하여 파악된 문턱 전압(Vth)을 기준 문턱전압 또는 다른 구동 트랜지스터(DRT)의 문턱 전압과 비교하여, 구동 트랜지스터(DRT) 사이의 문턱 전압 편차를 보상해줄 수 있다. 여기에서, 문턱 전압의 편차 보상은 데이터 전압(Vdata)을 보상 데이터 전압(Vdata_comp)으로 변경하는 처리, 즉 데이터 전압(Vdata)에 보상 게인(G)을 곱하는 처리를 의미할 수 있다. (예를 들어, Vdata_comp = G * Vdata)

따라서, 문턱 전압의 편차가 증가하는 경우에는 데이터 전압(Vdata)에 곱해지는 보상 게인이 증가하게 될 것이다.

도 6은 본 발명의 실시예들에 따른 디스플레이 장치에서, 구동 트랜지스터의 특성값 중에서 이동도 센싱을 위한 구동 타이밍 다이어그램을 나타낸 도면이다.

도 6을 참조하면, 본 발명의 실시예들에 따른 디스플레이 장치(100)에서, 구동 트랜지스터(DRT)의 이동도 센싱은 문턱 전압 센싱과 마찬가지로 초기화 단계(INITIAL), 트래킹 단계(TRACKING), 및 샘플링 단계(SAMPLING)로 진행될 수 있다.

구동 트랜지스터(DRT)의 이동도는 일반적으로 스위칭 트랜지스터(SWT)와 센싱 트랜지스터(SENT)를 개별적으로 턴-온 또는 턴-오프시킴으로써 센싱하기 때문에, 2개의 게이트 라인(GL)을 통해 스캔 신호(SCAN)와 센스 신호(SENSE)를 각각 스위칭 트랜지스터(SWT)와 센싱 트랜지스터(SENT)에 개별적으로 인가하는 구조로 센싱 동작이 이루어질 수 있다.

초기화 단계(INITIAL)에서는 턴-온 레벨의 스캔 신호(SCAN)에 의해 스위칭 트랜지스터(SWT)가 턴-온 상태가 되며, 구동 트랜지스터(DRT)의 제 1 노드(N1)는 이동도 센싱을 위한 센싱용 데이터 전압(Vdata_sen)으로 초기화 된다.

또한, 턴-온 레벨의 센스 신호(SENSE)에 의해, 센싱 트랜지스터(SENT)가 턴-온 상태가 되고, 센싱용 기준 스위치(SPRE)가 턴-온 된다. 이 상태에서, 구동 트랜지스터(DRT)의 제 2 노드(N2)는 센싱용 기준 전압(VpreS)으로 초기화 된다.

트래킹 단계(TRACKING)는 구동 트랜지스터(DRT)의 이동도를 트래킹하는 단계이다. 구동 트랜지스터(DRT)의 이동도는 구동 트랜지스터(DRT)의 전류 구동 능력을 나타낼 수 있는데, 트래킹 단계(TRACKING)를 통해 구동 트랜지스터(DRT)의 이동도를 산출할 수 있는 구동 트랜지스터(DRT)의 제 2 노드(N2)의 전압을 트래킹 한다.

트래킹 단계(TRACKING)에서는 턴-오프 레벨의 스캔 신호(SCAN)에 의해 스위칭 트랜지스터(SWT)가 턴-오프 되고, 센싱용 기준 스위치(SPRE)가 턴-오프 레벨로 트래지션한다. 이로써, 구동 트랜지스터(DRT)의 제 1 노드(N1) 및 제 2 노드(N2)가 모두 플로팅 되어, 구동 트랜지스터(DRT)의 제 1 노드(N1) 및 제 2 노드(N2)의 전압이 모두 상승하게 된다. 특히, 구동 트랜지스터(DRT)의 제 2 노드(N2)의 전압은 센싱용 기준 전압(VpreS)으로 초기화 되어있기 때문에, 센싱용 기준 전압(VpreS)에서부터 상승하기 시작한다. 이 때, 센싱 트랜지스터(SENT)가 턴-온 상태이기 때문에, 구동 트랜지스터(DRT)의 제 2 노드(N2)의 전압 상승은 기준 전압 라인(RVL)의 전압 상승으로 이어진다.

샘플링 단계(SAMPLING)에서는 구동 트랜지스터(DRT)의 제 2 노드(N2)의 전압이 상승하기 시작한 시점으로부터 미리 정해져 있는 일정 시간(Δt)이 경과한 시점에, 샘플링 스위치(SAM)가 턴-온 된다. 이 때, 아날로그 디지털 컨버터(ADC)는 샘플링 스위치(SAM)에 의해 연결된 기준 전압 라인(RVL)의 전압(Vsen)을 센싱하고, 센싱 전압(Vsen)을 디지털 신호 형태의 센싱 데이터로 변환할 수 있다. 여기에서, 아날로그 디지털 컨버터(ADC)에 인가되는 센싱 전압(Vsen)은 센싱용 기준 전압(VpreS)에서 일정 전압(ΔV)만큼 상승된 레벨(VpreS + ΔV)에 해당할 것이다.

보상 회로(COMP)는 아날로그 디지털 컨버터(ADC)에서 출력된 센싱 데이터를 토대로 해당 서브픽셀(SP) 내 구동 트랜지스터(DRT)의 이동도를 파악하고, 이를 이용하여 구동 트랜지스터(DRT)의 편차를 보상해 줄 수 있다. 보상 회로(COMP)는 특성값 센싱 구동을 통해 측정된 센싱 데이터(VpreS + ΔV), 이미 알고 있는 센싱용 기준 전압(VpreS), 및 경과 시간(Δt)으로부터 구동 트랜지스터(DRT)의 이동도를 파악할 수 있다.

즉, 구동 트랜지스터(DRT)의 이동도는 트래킹 단계(TRACKING)에서 기준 전압 라인(RVL)의 단위 시간 당 전압 변동량(ΔV/Δt), 다시 말해서, 기준 전압 라인(RVL)의 전압 파형에서 기울기(Slope)와 비례하게 된다. 이 때, 구동 트랜지스터(DRT)에 대한 이동도 편차의 보상은 데이터 전압(Vdata)을 변경하는 처리, 즉, 데이터 전압(Vdata)에 보상 게인을 곱하는 연산처리를 의미할 수 있다. 예를 들어, 보상 데이터 전압(Vdata_comp)은 보상 게인(G)을 데이터 전압(Vdata)에 곱한 값(Vdata_comp = G * Vdata)으로 결정될 수 있다.

한편, 구동 트랜지스터(DRT)의 문턱 전압 센싱 프로세스의 경우, 구동 트랜지스터(DRT)의 제 2 노드(N2)의 전압을 포화하는데 많은 시간이 걸릴 수 있기 때문에, 다소 긴 시간 동안 진행될 수 있는 오프-센싱 프로세스로 진행될 수 있다. 반면, 구동 트랜지스터(DRT)의 이동도 센싱 프로세스의 경우에는 문턱전압 센싱 프로세스에 비해 상대적으로 짧은 시간이 요구될 수 있기 때문에, 짧은 시간 동안 진행되는 온-센싱 프로세스 또는 실시간 센싱 프로세스로 진행될 수 있다.

이 때, 디스플레이 장치(100)의 구동 시간 또는 디스플레이 패널(110)에 표시되는 영상 패턴에 따라 디스플레이 패널(110)에서 온도가 상승하는 영역이 달라지고, 이로 인해 디스플레이 패널(110) 내에서 서브픽셀(SP)의 특성값이 불균일하게 변동될 수 있다.

이를 반영하여, 본 발명의 디스플레이 장치(100)는 디스플레이 패널(110)의 온도 상승 영역을 복수의 보상 영역으로 구분하고, 보상 영역에 따라 서로 다른 보상용 프레임 데이터(Compensation Frame Data)를 삽입함으로써 영상 품질을 개선하고 균일성을 개선할 수 있도록 한다.

도 7은 본 발명의 실시예들에 따른 디스플레이 장치에서, 온도 상승에 따라 디스플레이 패널의 보상 영역을 구분하는 경우의 예시를 나타낸 도면이다.

도 7을 참조하면, 본 발명의 실시예들에 따른 디스플레이 장치(100)는 구동 시간에 따라 디스플레이 패널(110)에서 온도가 상승하는 영역이 달라질 수 있다.

예를 들어, 데이터 구동 회로(130)가 배치되는 소스 인쇄 회로 기판(SPCB)은 플렉서블 플랫 케이블(FFC)과 같은 연결 부재를 통해 타이밍 컨트롤러(140)가 배치되는 컨트롤 인쇄 회로 기판(CPCB)에 연결되는데, 연결 부재가 접속되는 영역에 전류가 집중되기 때문에, 연결 부재가 접속되는 영역이 가장 온도가 높은 발열 포인트(Heating Point)가 될 수 있다.

이 경우, 디스플레이 장치(100)의 구동 시간에 따라 디스플레이 패널(110)의 온도가 상승되는데, 데이터 구동 회로(130)의 발열 포인트(Heating Point)에서 가까운 영역, 예를 들어 제 1 보상 영역(1st Compensation Area, 112)이 높은 온도로 상승하고, 그 다음으로 가까운 영역, 예를 들어 제 2 보상 영역(2nd Compensation Area, 114)이 중간 온도로 상승하며, 가장 먼 영역, 예를 들어 제 3 보상 영역(3rd Compensation Area, 116)이 가장 낮은 온도로 상승하게 된다.

따라서, 보상 영역(112, 114, 116)의 위치에 따라 구동 시간에 따른 온도 상승 정도가 달라질 수 있으므로, 보상 영역(112, 14, 116)의 위치에 따라 디스플레이 패널(110)의 온도를 보상하기 위한 보상용 프레임 데이터를 서로 다른 계조로 인가함으로써 디스플레이 패널(110)의 온도 상승에 따른 영상의 불균일성을 감소시킬 수 있다.

즉, 데이터 구동 회로(130)의 발열 포인트(Heating Point)에서 가까운 제 1 보상 영역(112)에는 발열 온도를 낮출 수 있는 제 1 계조의 블랙 데이터를 인가하고, 데이터 구동 회로(130)의 발열 포인트(Heating Point)로부터 두 번째 가까운 제 2 보상 영역(114)에는 제 2 계조의 블랙 데이터(예를 들어, 진한 그레이 데이터)를 인가하며, 데이터 구동 회로(130)의 발열 포인트(Heating Point)로부터 가장 먼 제 3 보상 영역(116)에는 제 3 계조의 블랙 데이터(예를 들어, 연한 그레이 데이터)를 인가함으로써, 디스플레이 패널(110)의 온도 상승에 따른 영상의 불균일성을 감소시킬 수 있다.

한편, 여기에서는 디스플레이 패널(110)의 온도 상승을 보상하기 위한 보상 영역을 제 1 보상 영역(112) 내지 제 3 보상 영역(116)의 3개 영역으로 구분하는 경우를 예로 들어서 설명하였지만, 보상 영역의 개수는 다양하게 변경 가능할 것이다.

또한, 여기에서는 데이터 구동 회로(130)의 발열 포인트(Heating Point)로부터의 거리를 고려하여, 동심원 형상을 가지는 보상 영역(112, 114, 116)을 예로 들어서 설명하였지만, 보상 영역(112, 114, 116)을 구분하는 경계선의 형상은 직선과 곡선 등 다양한 형상으로 이루어질 수 있을 것이다.

한편, 디스플레이 패널(110)에서 온도가 상승하는 영역은 구동 시간뿐만 아니라, 디스플레이 장치(100)의 구동 환경이나 디스플레이 패널(110)에 표시되는 영상 등 다양한 요인에 의해 달라질 수도 있다. 따라서, 디스플레이 패널(110)의 온도 상승을 보상하기 위한 보상 영역은 발열 포인트 등에 따라 미리 설정될 수도 있지만, 디스플레이 패널(110)에서 센싱된 특성값 편차를 반영하여 설정될 수도 있을 것이다.

예를 들어, 일정한 시간 동안 디스플레이 패널(110)에 대한 특성값 센싱 프로세스를 진행하고, 위치에 따른 특성값 편차를 범위에 따라 3개의 영역으로 구분할 수 있을 것이다. 이 때, 특성값 편차가 제일 높은 영역을 제 1 보상 영역(112)으로 설정하고, 특성값 편차가 두 번째 높은 영역을 제 2 보상 영역(114)으로 설정하며, 특성값 편차가 가장 낮은 영역을 제 3 보상 영역(116)으로 설정할 수 있을 것이다.

이와 같이, 온도 상승을 보상하기 위한 보상 영역은 디스플레이 패널(110)의 온도가 상승하는 요인에 따라 다양하게 변경될 수 있을 것이다.

이 때, 본 발명의 디스플레이 장치(100)에서 보상용 프레임 데이터는 디스플레이 패널(110)에 영상 데이터(DATA)가 인가되는 각 프레임 사이에 보상용 프레임 데이터가 삽입될 수 있을 것이다.

도 8은 본 발명의 실시예에들에 따른 디스플레이 장치에서, 보상용 프레임 데이터가 삽입되는 경우의 예시를 나타낸 도면이다.

도 8을 참조하면, 본 발명의 실시예에들에 따른 디스플레이 장치(100)에서, 디스플레이 패널(110)의 상승 온도를 보상하기 위해서 인가되는 보상용 프레임 데이터는 디스플레이 패널(110)에 영상 데이터(DATA)가 표시되는 각 프레임 사이에 인가될 수 있다.

예를 들어, 디스플레이 장치(100)의 구동 주파수가 120 Hz 인 경우, 1초 동안 120 프레임의 영상 데이터(DATA)가 디스플레이 패널(110)에 공급되는데, 1 프레임부터 119 프레임까지의 홀수 프레임 동안에는 영상 데이터(DATA)를 표시하고, 2 프레임부터 120 프레임까지의 짝수 프레임 동안에는 보상용 프레임 데이터를 표시함으로써, 디스플레이 패널(110)의 불균일한 온도 분포를 균일하게 보상할 수 있을 것이다. 이 경우, 디스플레이 패널(110)에 영상 데이터(DATA)는 60 프레임 동안 표시되기 때문에, 실질적인 구동 주파수는 60 Hz 라고 볼 수 있을 것이다.

물론, 보상용 프레임 데이터가 표시되는 구간은 다양하게 변경될 수 있을 것이다. 만약, 영상 데이터(DATA)가 2 프레임 동안 표시되고 3 번째 프레임부터 3의 배수에 해당하는 프레임 마다 보상용 프레임 데이터가 표시될 수도 있으며, 이 경우에는 영상 데이터(DATA)의 실질적인 구동 주파수는 80 Hz가 될 것이다.

이러한 보상용 프레임 데이터의 표시 주기는 디스플레이 패널(110)의 온도 변화에 따라 다양하게 변경이 가능할 것이다.

또한, 본 발명의 디스플레이 장치(100)는 디스플레이 패널(110)을 통해 표시되는 영상 패턴에 따라 온도 상승 영역이 달라질 수 있으므로, 영상 패턴에 따른 온도 상승을 보상하기 위한 패턴 보상 영역을 추가로 구성하고, 패턴 보상 영역에 패턴 보상용 프레임 데이터를 삽입함으로써 영상 품질을 개선하고 균일성을 개선할 수 있다.

도 9는 본 발명의 실시예들에 따른 디스플레이 장치에서, 영상 패턴에 따라 디스플레이 패널의 보상 영역을 구분하는 경우의 예시를 나타낸 도면이다.

도 9를 참조하면, 본 발명의 실시예들에 따른 디스플레이 장치(100)는 디스플레이 패널(110)을 통해 표시되는 영상 패턴에 따라 디스플레이 패널(110)에서 온도가 상승하는 영역이 달라질 수 있다.

예를 들어, 일정한 시간 간격으로 계속적으로 변경되는 영상 패턴(노멀 패턴으로 지칭함)이 디스플레이 패널(110)에 표시되는 경우, 디스플레이 패널(110)은 영상 패턴이 표시되는 위치에 상관없이 균일한 정도의 온도 상승이 발생할 수 있다.

이에 반해서, 일정한 시간 동안 변경되지 않는 영상 패턴(특수 패턴으로 지칭함)이 디스플레이 패널(110)에 표시되는 경우, 특수 패턴의 영상 데이터 중에서 고휘도의 색상을 표시하는 영역이 포함될 수 있다. 이와 같이, 특수 패턴의 영상 데이터 중에서 고휘도의 색상을 표시하는 영역이 존재하는 경우, 이를 패턴 보상 영역(118)으로 구분하고, 패턴 보상 영역(118)에 특수 계조의 블랙 데이터를 패턴 보상용 프레임 데이터로 인가함으로써 패턴 보상 영역(118)에 대한 온도 상승을 감소시켜서 영상 품질의 균일성을 확보할 수 있다.

여기에서는 태극기 영상 패턴이 일정 시간 동안 변경되지 않는 경우를 특수 패턴으로 가정하고, 태극기의 중앙 부분에 위치하는 태극 문양이 고휘도의 빨강과 파랑이 표시되기 때문에 태극 문양 부분이 높은 온도로 상승하는 패턴 보상 영역(118)으로 설정된 경우를 예시로 나타내고 있다.

이 때, 본 발명의 디스플레이 장치(100)는 데이터 구동 회로(130)의 발열 포인트(Heating Point)로부터 이격된 거리에 따라 설정된 보상 영역(112, 114, 116)과 영상 패턴에 따라 설정된 패턴 보상 영역(118)을 동시에 적용하고, 각 보상 영역(112 ~ 118)에 해당하는 보상용 프레임 데이터를 인가함으로써 디스플레이 패널(110)의 온도 상승에 따른 영상의 불균일성을 보다 크게 개선하고 영상 품질을 개선할 수 있다.

이 때, 패턴 보상 영역(118)에 대한 패턴 보상용 프레임 데이터를 포함하는 보상용 프레임 데이터는 디스플레이 패널(110)에 영상 데이터(DATA)가 인가되는 각 프레임 사이에 보상용 프레임 데이터가 삽입될 수 있을 것이다.

한편, 디스플레이 패널(110)에 표시되는 영상 패턴에서 일정 기간 동안 일정한 위치에 고휘도의 영상 데이터가 표시되는 특수 영역이 존재하는지 여부는 서브픽셀(SP)이 발광하는 디스플레이 구동 기간 내의 블랭크 구간에서 센싱된 구동 트랜지스터(DRT)의 특성값 편차에 따라 판단할 수 있을 것이다.

예를 들어, 일정한 시간 동안 디스플레이 패널(110)에 대한 특성값 센싱 프로세스를 진행하고, 위치에 따른 특성값 편차를 범위에 따라 구분할 수 있을 것이다. 이 때, 특성값 편차가 기준값 이상으로 높은 영역을 특수 영역으로 설정할 수 있을 것이다.

위에서 예시로 든 바와 같이, 태극기 영상 패턴이 일정 시간 동안 변경되지 않는 경우에 태극기의 중앙 부분에 위치하는 태극 문양은 고휘도의 빨강과 파랑이 표시되기 때문에 온도 상승으로 인해 특성값 편차가 증가할 수 있다. 반면, 바탕의 흰색이나 팔괘에 해당하는 검은색 부분은 태극 문양에 비해서 상대적으로 낮은 온도의 상승이 발생할 수 있다.

이에 따라, 특성값 센싱 프로세스를 통해 센싱되는 특성값 편차는 바탕이나 팔괘 부분보다 태극 문양에서 증가할 수 있다. 따라서, 센싱 프로세스를 통해 검출된 특성값 편차가 상대적으로 높은 태극 문양 부분을 패턴 보상 영역(118)으로 설정할 수 있을 것이다.

또는, 디스플레이 패널(110)에 공급하기 위한 영상 데이터(DATA)가 타이밍 컨트롤러(140) 내의 메모리(MEM)에 미리 저장되는 경우에는 메모리(MEM)에 미리 저장된 영상 데이터(DATA)의 적어도 일부를 샘플링하고 샘플링된 영상 데이터(DATA)로부터 일정 기간 동안 고휘도의 영상 데이터(DATA)가 표시되는 패턴 보상 영역이 존재하는지 검출함으로써 판단할 수도 있을 것이다.

도 10은 본 발명의 실시예들에 따른 디스플레이 장치에서, 패턴 보상용 프레임 데이터를 포함하는 보상용 프레임 데이터가 삽입되는 경우의 예시를 나타낸 도면이다.

도 10을 참조하면, 본 발명의 실시예에들에 따른 디스플레이 장치(100)에서, 영상 패턴에 따른 디스플레이 패널(110)의 상승 온도를 보상하기 위해서 인가되는 보상용 프레임 데이터는 디스플레이 패널(110)에 영상 데이터(DATA)가 표시되는 각 프레임 사이에 인가될 수 있다.

예를 들어, 디스플레이 장치(100)의 구동 주파수가 120 Hz 인 경우, 1초 동안 120 프레임의 영상 데이터(DATA)가 디스플레이 패널(110)에 공급되는데, 1 프레임부터 119 프레임까지의 홀수 프레임 동안에는 영상 데이터(DATA)를 표시하고, 2 프레임부터 120 프레임까지의 짝수 프레임 동안에는 보상용 프레임 데이터를 표시함으로써, 디스플레이 패널(110)의 불균일한 온도 분포를 균일하게 보상할 수 있을 것이다. 이 경우, 디스플레이 패널(110)에 영상 데이터(DATA)는 60 프레임 동안 표시되기 때문에, 실질적인 구동 주파수는 60 Hz 라고 볼 수 있을 것이다.

물론, 보상용 프레임 데이터가 표시되는 구간은 다양하게 변경될 수 있을 것이다. 만약, 영상 데이터(DATA)가 2 프레임 동안 표시되고 3 번째 프레임부터 3의 배수에 해당하는 프레임 마다 보상용 프레임 데이터가 표시될 수도 있으며, 이 경우에는 영상 데이터(DATA)의 실질적인 구동 주파수는 80 Hz가 될 것이다.

이러한 보상용 프레임 데이터의 표시 주기는 디스플레이 패널(110)의 온도 변화에 따라 다양하게 변경이 가능할 것이다.

또한, 본 발명의 디스플레이 장치(100)는 디스플레이 패널(110)의 온도 상승 영역과 패턴 보상 영역을 동시에 고려할 수도 있지만, 디스플레이 패널(110)에 표시되는 영상 패턴에 따른 패턴 보상 영역에 패턴 보상용 프레임 데이터를 삽입함으로써 영상 품질을 개선하고 균일성을 개선할 수 있을 것이다.

도 11은 본 발명의 실시예들에 따른 디스플레이 장치에서, 패턴 보상 영역에 패턴 보상용 프레임 데이터가 삽입되는 경우의 예시를 나타낸 도면이다.

도 11을 참조하면, 본 발명의 실시예에들에 따른 디스플레이 장치(100)에서, 영상 패턴에 따른 디스플레이 패널(110)의 상승 온도를 보상하기 위해서 인가되는 패턴 보상용 프레임 데이터는 디스플레이 패널(110)에 영상 데이터(DATA)가 표시되는 각 프레임 사이에 인가될 수 있다.

이 때, 패턴 보상용 프레임 데이터는 일정한 시간 동안 변경되지 않는 특수 패턴이 표시되는 경우, 특수 패턴의 영상 데이터 중에서 고휘도의 색상을 표시하는 영역의 온도를 보상할 수 있는 특수 계조의 블랙 데이터에 해당할 수 있다.

앞에서 설명한 바와 같이, 패턴 보상용 프레임 데이터를 인가하기 위한 패턴 보상 영역(118)은 메모리(MEM)에 저장된 영상 데이터(DATA)를 미리 샘플링하거나, 온도 센서(150)를 통해 디스플레이 패널(110)의 위치에 따른 온도를 측정하거나, 특성값 센싱 프로세스를 통해 검출된 특성값 편차를 기준으로 결정할 수 있을 것이다.

위에서 예시로 든 바와 같이, 태극기 영상 패턴이 일정 시간 동안 변경되지 않는 경우에 태극기의 중앙 부분에 위치하는 태극 문양은 고휘도의 빨강과 파랑이 표시되기 때문에 패턴 보상 영역(118)으로 설정될 수 있을 것이다.

따라서, 태극기를 표시하는 전체 프레임 중에서 적어도 일부의 프레임 동안 패턴 보상 영역(118)에 해당하는 태극 문양 부분을 보상용 프레임 데이터로 표시함으로써, 패턴 보상 영역(118)에 대한 온도 상승을 감소시킬 수 있을 것이다.

이 때, 보상용 프레임 데이터가 표시되는 구간 동안 패턴 보상 영역(118)은 블랙 데이터가 표시되지만, 패턴 보상 영역(118)을 제외한 나머지 영역은 정상적인 데이터 또는 이전 프레임의 데이터(예를 들어, 흰색 바탕 또는 검은색 팔괘)를 표시할 수도 있을 것이다.

예를 들어, 디스플레이 장치(100)의 구동 주파수가 120 Hz 인 경우, 1초 동안 120 프레임의 영상 데이터(DATA)가 디스플레이 패널(110)에 공급되는데, 1 프레임부터 119 프레임까지의 홀수 프레임 동안에는 영상 데이터(DATA)를 표시하고, 2 프레임부터 120 프레임까지의 짝수 프레임 동안에는 패턴 보상 영역(118)에 대해서 보상용 프레임 데이터를 표시할 수 있을 것이다.

따라서, 디스플레이 패널(110)에서 패턴 보상 영역(118)으로 결정되는 부분은 온도 상승을 감소시킴으로써, 디스플레이 패널(110)의 불균일한 온도 분포를 균일하게 보상할 수 있을 것이다.

이러한 보상용 프레임 데이터의 표시 주기는 디스플레이 패널(110)의 온도 변화에 따라 다양하게 변경이 가능할 것이다.

한편, 본 발명의 디스플레이 장치(100)는 보상용 프레임 데이터가 영상 데이터(DATA) 사이에 인가되는 중에도 블랭크 구간에서 구동 트랜지스터(DRT)의 특성값 센싱이 진행될 수 있다.

도 12는 본 발명의 실시예들에 따른 디스플레이 장치에서, 블랭크 구간에 구동 트랜지스터의 특성값에 대한 실시간 센싱이 진행되는 경우의 신호 다이어그램을 나타낸 예시 도면이다.

도 12를 참조하면, 세로 방향은 다수의 서브픽셀(SP)이 수직 방향으로 인가되는 게이트 라인(GL)에 인가되는 스캔 신호(SCAN)를 나타내고 있으며, 2,160 X 3,840 의 해상도를 가지는 디스플레이 장치(100)의 경우, 2,160 개의 게이트 라인(GL) 또는 2,160개의 서브픽셀(SP) 행에 해당할 것이다.

이 때, 서브픽셀(SP)에 영상 데이터(DATA)가 공급되어 발광되는 구간, 보상용 프레임 데이터가 삽입되는 구간, 및 실시간 센싱이 진행되는 블랭크 구간의 세로 폭은 N상 구동에 의해 순차적으로 스캔 신호(SCAN)가 인가되는 N개의 서브픽셀(SP)에 대응될 수 있다.

N상 구동이 이루어지는 디스플레이 패널(110)은 시간에 따라 보상용 프레임 데이터, 및 영상 데이터(DATA)가 동일한 위상을 가지면서 인가될 수도 있고, 서로 다른 위상에 따라 인가될 수도 있을 것이다. 또는, 프레임에 따라 보상용 프레임 데이터가 인가되는 구간을 가변적으로 조절할 수도 있을 것이다.

이 때, 디스플레이 패널(110)에 영상 데이터(DATA)가 표시되거나 보상용 프레임 데이터가 표시되는 기간이 종료되면 블랭크 구간에 구동 트랜지스터(DRT)의 특성값을 센싱하는 실시간 센싱 프로세스가 진행될 수 있는데, 블랭크 구간에 실시간 센싱 프로세스와 함께 센싱된 서브픽셀(SP)을 리셋하기 위한 회복 데이터가 인가될 수도 있다.

다만, 본 발명의 디스플레이 장치(100)에서 영상 데이터(DATA)가 표시되는 프레임 사이에 인가되는 보상용 프레임 데이터는 발열 포인트를 기준으로 구분되는 복수의 보상 영역으로 이루어지고, 각 보상 영역에는 서로 다른 계조의 블랙 데이터가 보상용 프레임 데이터로 인가되어 각 프레임 사이의 휘도 편차를 감소시킬 수 있으므로, 블랭크 구간에 회복 데이터를 인가하는 과정이 생략되거나 회복 데이터를 인가하는 횟수를 감소시킬 수도 있을 것이다.

한편, 본 발명의 디스플레이 장치(100)는 디스플레이 패널(110)의 온도 또는 구동 트랜지스터(DRT)의 특성값 보상 게인에 따라 보상용 프레임 데이터를 인가하는 시점을 결정할 수 있다.

도 13은 본 발명의 실시예들에 따른 디스플레이 장치의 구동 방법을 나타낸 흐름도이다.

도 13을 참조하면, 본 발명의 실시예들에 따른 디스플레이 장치(100)의 구동 방법은 디스플레이 패널(110)의 온도를 검출하는 단계(S100), 구동 트랜지스터(DRT)의 특성값을 센싱하는 단계(S200), 디스플레이 패널(110)의 온도가 기준 온도 이상인지를 판단하는 단계(S110), 구동 트랜지스터(DRT)의 특성값 센싱 결과에 따른 보상 게인이 기준값 이상인지를 판단하는 단계(S210), 온도 보상 영역을 결정하는 단계(S300), 디스플레이 패널(110)의 온도가 기준 온도 이상이거나 구동 트랜지스터(DRT)의 특성값 센싱 결과에 따른 보상 게인이 기준값 이상인 경우에, 보상용 프레임 데이터를 생성하는 단계(S400), 및 보상용 프레임 데이터를 영상 데이터(DATA)의 프레임 사이에 인가하는 단계(S500)를 포함할 수 있다.

이 때, 본 발명의 실시예들에 따른 디스플레이 장치(100)의 구동 방법에서 온도 보상 영역을 결정하는 단계(S300)는 미리 설정된 기준에 따라서 결정되거나, 메모리(MEM)에 저장된 영상 데이터(DATA)를 미리 샘플링함으로써 결정되거나, 온도 센서(150)를 통해 디스플레이 패널(110)의 위치에 따른 온도를 측정함으로써 결정되거나, 특성값 센싱 프로세스를 통해 검출된 특성값 편차를 기준으로 결정될 수 있을 것이다.

따라서, 디스플레이 패널(110)의 온도를 검출하는 단계(S100) 및 디스플레이 패널(110)의 온도가 기준 온도 이상인지를 판단하는 단계(S110)는 온도 센서(150)를 통해 측정된 온도에 따라 온도 보상 영역을 결정하는 경우에 해당하고, 구동 트랜지스터(DRT)의 특성값을 센싱하는 단계(S200) 및 구동 트랜지스터(DRT)의 특성값 센싱 결과에 따른 보상 게인이 기준값 이상인지를 판단하는 단계(S210)는 특성값 센싱 프로세스를 통해 검출된 특성값 편차를 기준으로 온도 보상 영역을 결정하는 경우에 해당할 수 있다.

디스플레이 패널(110)의 온도를 검출하는 단계(S100)는 디스플레이 패널(110)에 온도 센서(150)가 배치된 경우에, 이를 통해 디스플레이 패널(110)의 온도를 측정하는 과정이다. 이 때, 온도 센서(150)는 디스플레이 패널(110)의 일부 영역 또는 전체 영역의 온도를 측정하기 위해서, 디스플레이 패널(110)에서 영상을 표시하지 않는 베젤 영역 또는 회로 영역 내의 임의의 위치에 배치될 수 있으며, 하나 또는 복수 개가 배치될 수 있을 것이다.

구동 트랜지스터(DRT)의 특성값을 센싱하는 단계(S200)는 블랭크 구간에 서브픽셀(SP)에 배치된 구동 트랜지스터(DRT)의 문턱 전압 또는 이동도를 센싱하는 과정이다.

이 때, 디스플레이 패널(110)의 온도를 검출하는 단계(S100)와 구동 트랜지스터(DRT)의 특성값을 센싱하는 단계(S200)는 동시에 진행될 수도 있고, 서로 독립적으로 진행될 수도 있다.

디스플레이 패널(110)의 온도가 기준 온도 이상인지를 판단하는 단계(S110)는 온도 센서(150)를 통해서 검출된 디스플레이 패널(110)의 온도와 기준 온도를 비교하여, 디스플레이 패널(110)의 온도 상승 정도를 판단하는 과정이다. 이 때, 특정 시점에서 디스플레이 패널(110)의 온도와 기준 온도를 비교할 수도 있고, 임의의 시간 간격을 기준으로 디스플레이 패널(110)의 온도 상승값과 기준 온동 상승값을 비교할 수도 있을 것이다.

디스플레이 패널(110)의 특정 영역에 대한 온도가 기준 온도 이상인 경우에는 기준 온도 이상인 영역을 온도 보상 영역으로 결정할 수 있을 것이다. 반면, 디스플레이 패널(110)의 온도가 기준 온도 이하인 경우에는 디스플레이 패널(110)에 대한 온도 검출 과정을 반복해서 수행할 수 있을 것이다. 다만, 디스플레이 패널(110)에 대한 온도 검출 과정은 일정한 시간 간격에 따라 수행될 수 있을 것이므로, 디스플레이 패널(110)의 온도가 기준 온도 이하인 경우에는 온도 보상 영역을 결정하거나 보상 프레임 데이터를 인가하지 않고 정상적인 영상 데이터를 표시할 수도 있을 것이다.

구동 트랜지스터(DRT)의 특성값 센싱 결과에 따른 보상 게인이 기준값 이상인지를 판단하는 단계(S210)는 블랭크 구간에 센싱된 구동 트랜지스터(DRT)의 문턱 전압 또는 이동도에 따라 디스플레이 패널(110)에 인가될 보상 데이터 전압(Vdata_comp)을 생성하기 위한 보상 게인을 계산하고, 보상 게인과 기준값을 비교함으로써, 구동 트랜지스터(DRT)의 특성값 변동 정도를 판단하는 과정이다. 이 때, 보상 게인은 블랭크 구간에서 센싱된 구동 트랜지스터(DRT)의 특성값에 따라 대응되는 값으로 메모리(MEM)에 저장될 수 있으며, 보상 게인에 대한 기준값은 메모리(MEM)에 저장된 최대 보상 게인에 대한 일정 비율(예를 들어, 최대 보상 게인의 90% 수준)로 정해질 수 있을 것이다.

온도 보상 영역을 결정하는 단계(S300)는 앞에서 설명한 바와 같이, 미리 설정된 기준에 따라서 결정되거나, 메모리(MEM)에 저장된 영상 데이터(DATA)를 미리 샘플링함으로써 결정되거나, 온도 센서(150)를 통해 디스플레이 패널(110)의 위치에 따른 온도를 측정함으로써 결정되거나, 특성값 센싱 프로세스를 통해 검출된 특성값 편차를 기준으로 결정될 수 있다.

온도 보상 영역은 발열 포인트(Heating Point)로부터의 거리를 고려하여 일정한 형상을 가지는 복수의 영역으로 결정될 수도 있고, 디스플레이 패널(110)에 표시되는 영상 패턴에 따라 휘도가 증가하는 패턴 보상 영역으로 결정될 수도 있다.

보상용 프레임 데이터를 생성하는 단계(S300)는, 온도 보상 영역에 대한 디스플레이 패널(110)의 온도를 낮추기 위해서 영상 데이터(DATA)의 프레임 사이에 인가할 보상용 프레임 데이터를 생성하는 과정이다.

이 때, 보상용 프레임 데이터는 데이터 구동 회로(130)의 발열 포인트로부터의 거리에 따라 구분된 복수의 보상 영역에 서로 다른 계조의 블랙 데이터가 인가되도록 구성될 수 있다.

또는, 디스플레이 패널(110)에 표시되는 영상 패턴에 따라 일정 시간 동안 고휘도의 영상 데이터가 표시되는 패턴 보상 영역이 존재하는 경우에는 패턴 보상 영역의 온도를 감소시키기 위하여 패턴 보상 영역에 대응되는 패턴 보상용 프레임 데이터가 생성될 수 있을 것이다.

보상용 프레임 데이터를 영상 데이터(DATA)의 프레임 사이에 인가하는 단계(S400)는 디스플레이 패널(110)의 온도를 감소시키기 위하여 영상 데이터(DATA)가 디스플레이 패널(110)에 공급되는 프레임 사이에 보상용 프레임 데이터를 삽입하는 과정이다.

이 때, 보상용 프레임 데이터는 영상 데이터(DATA)가 표시되는 한 프레임마다 보상용 프레임 데이터를 한 프레임씩 인가할 수도 있지만, 복수의 영상 데이터(DATA) 프레임이 표시된 후에 한 프레임의 보상용 프레임 데이터를 인가할 수도 있을 것이다.

이상의 설명은 본 발명의 기술 사상을 예시적으로 설명한 것에 불과한 것으로서, 본 발명이 속하는 기술 분야에서 통상의 지식을 가진 자라면 본 발명의 본질적인 특성에서 벗어나지 않는 범위에서 다양한 수정 및 변형이 가능할 것이다. 또한, 본 발명에 개시된 실시예들은 본 발명의 기술 사상을 한정하기 위한 것이 아니라 설명하기 위한 것이므로 이러한 실시예에 의하여 본 발명의 기술 사상의 범위가 한정되는 것은 아니다. 본 발명의 보호 범위는 아래의 청구범위에 의하여 해석되어야 하며, 그와 동등한 범위 내에 있는 모든 기술 사상은 본 발명의 권리 범위에 포함되는 것으로 해석되어야 할 것이다.

100: 디스플레이 장치
110: 디스플레이 패널
112, 114, 116: 보상 영역
118: 패턴 보상 영역
120: 게이트 구동 회로
130: 데이터 구동 회로
136: 데이터 전압 출력 회로
140: 타이밍 컨트롤러
150: 온도 센서
160: 메인 파워 관리 회로
170: 세트 보드
180: 파워 관리 집적 회로

Claims (20)

1. 복수의 데이터 라인, 및 복수의 서브픽셀이 배치된 디스플레이 패널;
   영상 데이터를 데이터 전압으로 변환하여, 상기 복수의 데이터 라인에 인가하는 데이터 구동 회로; 및
   상기 데이터 구동 회로를 제어하며, 상기 디스플레이 패널의 온도 상태에 따라 결정된 온도 보상 영역에 대한 하나 이상의 보상용 프레임 데이터를 상기 영상 데이터가 표시되는 프레임 사이에 공급하는 타이밍 컨트롤러를 포함하는 디스플레이 장치.
   
2. 제 1 항에 있어서,
   상기 온도 보상 영역은
   상기 디스플레이 패널에 구비된 온도 센서를 통해 검출된 상기 디스플레이 패널의 온도 상태에 따라 결정되는 디스플레이 장치.
   
3. 제 1 항에 있어서,
   상기 온도 보상 영역은
   메모리에 미리 저장된 상기 영상 데이터를 샘플링함으로써 결정되는 디스플레이 장치.
   
4. 제 1 항에 있어서,
   상기 온도 보상 영역은
   상기 서브픽셀에 대한 특성값 센싱 프로세스를 통해 검출된 특성값 편차를 기준으로 결정되는 디스플레이 장치.
   
5. 제 1 항에 있어서,
   상기 보상용 프레임 데이터는
   상기 디스플레이 패널의 발열 포인트를 기준으로 거리에 따라 구분되는 복수의 보상 영역에 표시되는 서로 다른 계조의 블랙 데이터로 이루어지는 디스플레이 장치.
   
6. 제 5 항에 있어서,
   상기 발열 포인트는
   상기 데이터 구동 회로에서 전류의 집중으로 인해 가장 온도가 높은 영역인 디스플레이 장치.
   
7. 제 5 항에 있어서,
   상기 보상용 프레임 데이터는
   상기 발열 포인트에서 가까운 제 1 보상 영역에 표시되는 고계조의 블랙 데이터; 및
   상기 발열 포인트에서 상기 제 1 보상 영역보다 먼 제 2 보상 영역에 표시되는 저계조의 블랙 데이터로 이루어지는 디스플레이 장치.
   
8. 제 1 항에 있어서,
   상기 보상용 프레임 데이터는
   일정한 시간 동안 변경되지 않는 특수 패턴의 영상 데이터에 의해서 구분되는 패턴 보상 영역에 표시되는 패턴 보상용 프레임 데이터인 디스플레이 장치.
   
9. 제 1 항에 있어서,
   상기 보상용 프레임 데이터는
   상기 디스플레이 패널에 표시되는 한 프레임의 상기 영상 데이터마다 한 프레임씩 공급되는 디스플레이 장치.
   
10. 제 1 항에 있어서,
    상기 디스플레이 패널의 온도 상태는
    상기 디스플레이 패널이 기준 온도 이상인 경우, 또는 특성값 센싱 프로세스를 통해 상기 서브픽셀에서 센싱된 특성값의 보상 게인이 기준값 이상인 경우를 포함하는 디스플레이 장치.
    
11. 제 10 항에 있어서,
    상기 기준 온도는
    시간에 따른 상기 디스플레이 패널의 온도 상승 정도를 포함하는 디스플레이 장치.
    
12. 제 10 항에 있어서,
    상기 특성값은
    상기 서브픽셀을 구성하는 구동 트랜지스터의 문턱 전압 또는 이동도인 디스플레이 장치.
    
13. 제 10 항에 있어서,
    상기 특성값 센싱 프로세스는
    파워 온 신호 발생 이후에 상기 서브픽셀이 발광하기 전에 특성값 센싱이 이루어지는 온-센싱 프로세스;
    파워 오프 신호가 발생되어 상기 데이터 전압이 차단됨으로써, 상기 서브픽셀의 발광이 종료된 상태에서 특성값 센싱이 이루어지는 오프-센싱 프로세스; 및
    블랭크 구간에 특성값 센싱이 이루어지는 실시간 센싱 프로세스 중 적어도 하나인 디스플레이 장치.
    
14. 제 13 항에 있어서,
    상기 특성값 센싱 프로세스가 실시간 센싱 프로세인 경우,
    상기 블랭크 구간에 상기 서브픽셀을 리셋하기 위한 회복 데이터가 인가되는 디스플레이 장치.
    
15. 복수의 데이터 라인, 및 복수의 서브픽셀이 배치된 디스플레이 패널과, 영상 데이터를 데이터 전압으로 변환하여, 상기 복수의 데이터 라인에 인가하는 데이터 구동 회로를 포함하는 디스플레이 장치의 구동 방법에 있어서,
    상기 디스플레이 패널의 온도 보상 영역을 결정하는 단계;
    상기 온도 보상 영역에 대한 보상용 프레임 데이터를 생성하는 단계; 및
    상기 보상용 프레임 데이터를 상기 영상 데이터의 프레임 사이에 인가하는 단계를 포함하는 디스플레이 장치의 구동 방법.
    
16. 제 15 항에 있어서,
    상기 온도 보상 영역은
    상기 디스플레이 패널에 구비된 온도 센서를 통해 검출된 상기 디스플레이 패널의 온도 상태에 따라 결정되거나,
    메모리에 미리 저장된 상기 영상 데이터를 샘플링함으로써 결정되는 디스플레이 장치의 구동 방법.
    
17. 제 15 항에 있어서,
    상기 서브픽셀에 배치된 구동 트랜지스터의 특성값을 센싱하는 단계;
    상기 구동 트랜지스터의 특성값 센싱 결과에 따른 보상 게인이 기준값 이상인지를 판단하는 단계; 및
    상기 보상 게인이 상기 기준값 이상인 경우에, 상기 보상용 프레임 데이터를 생성하는 단계를 더 포함하는 디스플레이 장치의 구동 방법.
    
18. 제 15 항에 있어서,
    상기 보상용 프레임 데이터는
    상기 디스플레이 패널의 발열 포인트를 기준으로 거리에 따라 구분되는 복수의 보상 영역에 표시되는 서로 다른 계조의 블랙 데이터로 이루어지는 디스플레이 장치의 구동 방법.
    
19. 제 15 항에 있어서,
    상기 보상용 프레임 데이터는
    일정한 시간 동안 변경되지 않는 특수 패턴의 영상 데이터에 의해서 구분되는 패턴 보상 영역에 표시되는 패턴 보상용 프레임 데이터인 디스플레이 장치의 구동 방법.
    
20. 제 15 항에 있어서,
    상기 보상용 프레임 데이터는
    상기 디스플레이 패널에 표시되는 한 프레임의 상기 영상 데이터마다 한 프레임씩 공급되는 디스플레이 장치의 구동 방법.
    

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