CN114464117A - 显示面板、显示器及显示面板检测方法 - Google Patents
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Abstract
本发明公开了一种显示面板、显示器及显示面板检测方法,涉及显示技术领域。显示面板包括像素阵列、栅驱动电路和检测电路,栅驱动电路与像素阵列连接,用于按照设定顺序依次驱动像素阵列中的每行像素,检测电路与栅驱动电路所驱动的最后一行像素对应的栅线连接,用于检测栅线上的电压,以判断像素阵列中的所有行像素是否被驱动。本发明通过对最后一行像素对应的栅线电压进行检测,从而判断最后一行像素是否被驱动,进而推断所有行像素是否被驱动,避免人为检测无法准确判断少数行像素异常的情况,提高了显示面板调试的准确性及效率。
Description
技术领域
本发明涉及显示技术领域,尤其涉及一种显示面板、显示器及显示面板检测方法。
背景技术
显示面板在进行调试时,常常会因为各种原因出现面板显示不全的异常。例如,对于分辨率为2160*4400的面板来说,一帧时间内需要完成对2160行像素的驱动。而若由于栅极驱动电路的故障或者时序异常等原因,导致一帧时间内仅驱动了1728行,则剩下未驱动的区域则会出现显示异常。而在未驱动行的数量较少时,如1行、2行等时,人眼难以分辨。因此,如何检测面板内的所有行像素是否正常驱动是亟待解决的技术问题。
发明内容
本发明的主要目的在于提供一种显示面板、显示器及显示面板检测方法,旨在解决现有技术中无法快速检出面板内的所有行像素是否正常驱动的技术问题。
为实现上述目的,本发明提出一种显示面板,包括:
像素阵列;
栅驱动电路,与像素阵列连接,用于按照设定顺序依次驱动像素阵列中的每行像素;
检测电路,与栅驱动电路所驱动的最后一行像素对应的栅线连接,用于检测栅线上的电压,以判断像素阵列中的所有行像素是否被驱动。
可选的,电压包括第一电压和第二电压,栅驱动电路包括设置与像素阵列两侧的第一GOA电路和第二GOA电路,第一GOA电路和第二GOA电路中均包括多个级联的GOA单元,GOA单元的输出端与栅线连接;
检测电路分别与第一GOA单元的输出端和第二GOA单元的输出端连接,用于分别检测第一GOA单元输出的第一电压以及第二GOA单元输出的第二电压,以判断像素阵列中的所有行像素是否被驱动,其中,第一GOA单元为第一GOA电路中最后一级GOA单元,第二GOA单元为第二GOA电路中最后一级GOA单元。
可选的,检测电路包括:
第一采集电路,与第一GOA单元的输出端连接,用于将第一GOA单元输出的第一电压转换成第三电压;
第二采集电路,与第二GOA单元的输出端连接,用于将第二GOA单元输出的第二电压转换成第四电压;
控制电路,与第一采集电路和第二采集电路连接,用于接收第三电压和第四电压,并根据第三电压和第四电压判断像素阵列中的所有行像素是否被驱动。
可选的,第一采集电路包括第一薄膜晶体管,第二采集电路包括第二薄膜晶体管,第一薄膜晶体管的栅极与第一GOA单元的输出端连接,第二薄膜晶体管的栅极与第二GOA单元的输出端连接,第一薄膜晶体管和第二薄膜晶体管的漏极均与预设电压输入端连接,第一薄膜晶体管和第二薄膜晶体管的源极均与控制电路连接。
可选的,控制电路包括第三薄膜晶体管、第四薄膜晶体管、电路管理模块和系统级芯片;
第三薄膜晶体管的栅极与第一薄膜晶体管的源极连接,第四薄膜晶体管的栅极与第二薄膜晶体管的源极连接,第三薄膜晶体管和第四薄膜晶体管的漏极均与电路管理模块的输出端连接,第三薄膜晶体管和第四薄膜晶体管的源极均与系统级芯片连接,电路管理模块的输出端具有预设电压。
为实现上述目的,本发明还提出一种显示器,显示器包括如上述的显示面板。
为实现上述目的,本发明还提出一种显示面板检测方法,显示面板检测方法包括:
在驱动显示面板时,对最后一行栅线上的电压进行检测,获得检测结果,最后一行栅线为显示面板在一帧时间内最后一行被驱动的像素所对应的栅线;
根据检测结果判断显示面板中的所有行像素是否被驱动。
可选的,检测结果包括第一检测结果和第二检测结果,显示面板包括设置于像素阵列两侧的第一GOA电路和第二GOA电路,第一GOA电路和第二GOA电路中均包括多个级联的GOA单元,GOA单元的输出端与栅线连接;
对最后一行栅线上的电压进行检测,获得检测结果,包括:
对第一GOA电路中最后一级GOA单元的输出电压进行检测,获得第一检测结果;
对第二GOA电路中最后一级GOA单元的输出电压进行检测,获得第二检测结果。
可选的,根据检测结果判断显示面板中的所有行像素是否被驱动,包括:
在第一检测结果对应的输出电压为高电平,第二检测结果对应的输出电压为高电平时,判定显示面板中的所有行像素均被驱动;
在第一检测结果对应的输出电压为低电平,第二检测结果对应的输出电压为高电平时,判定第一GOA电路处于异常状态,显示面板中的所有行像素未被全部驱动;
在第一检测结果对应的输出电压为高电平,第二检测结果对应的输出电压为低电平时,判定第二GOA电路处于异常状态,显示面板中的所有行像素未被全部驱动;
在第一检测结果对应的输出电压为低电平,第二检测结果对应的输出电压为低电平时,判定两侧GOA电路处于异常状态,显示面板中的所有行像素未被全部驱动。
可选的,根据检测结果判断显示面板中的所有行像素是否被驱动之后,还包括:
在两侧GOA电路均处于异常状态时,断开显示面板中玻璃单板与时序控制器之间的连接,检测时序控制器在空载下输出的时钟信号的脉冲数量;
在脉冲数量不等于预设数量时,对系统级芯片或时序控制器进行时序调整,使脉冲数量等于预设数量;
在第一GOA电路处于异常状态、第二GOA电路处于异常状态或脉冲数量等于预设数量时,脉冲数量等于预设数量时,对显示面板中的线路进行检测,以确定异常原因。
本发明中,显示面板包括像素阵列、栅驱动电路和检测电路,栅驱动电路与像素阵列连接,用于按照设定顺序依次驱动像素阵列中的每行像素,检测电路与栅驱动电路所驱动的最后一行像素对应的栅线连接,用于检测栅线上的电压,以判断像素阵列中的所有行像素是否被驱动。本发明通过对最后一行像素对应的栅线电压进行检测,从而判断最后一行像素是否被驱动,进而推断所有行像素是否被驱动,避免人为检测无法准确判断少数行像素异常的情况,提高了显示面板调试的准确性及效率。
附图说明
为了更清楚地说明本发明实施例或现有技术中的技术方案,下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍,显而易见地,下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例,对于本领域普通技术人员来讲,在不付出创造性劳动的前提下,还可以根据这些附图示出的结构获得其他的附图。
图1为本发明显示面板一实施方式的结构示意图;
图2为本发明显示面板一实施方式的结构示意图;
图3为本发明显示面板一实施方式的结构示意图;
图4为本发明显示面板第一种驱动状态示意图;
图5为本发明显示面板第二种驱动状态示意图;
图6为本发明显示面板的驱动架构一实施方式的结构示意图;
图7为本发明显示面板检测方法一实施方式的流程示意图;
图8为本发明显示面板检测方法一实施方式的流程示意图。
附图标号说明:
标号 | 名称 | 标号 | 名称 |
10 | 像素阵列 | 50 | 时序控制器 |
20 | 栅驱动电路 | 60 | 电源管理模块 |
30 | 检测电路 | 70 | 系统级芯片 |
40 | 源驱动电路 | T1~T4 | 第一至第四薄膜晶体管 |
本发明目的的实现、功能特点及优点将结合实施例,参照附图做进一步说明。
具体实施方式
应当理解,此处所描述的具体实施例仅仅用以解释本发明,并不用于限定本发明。
下面将结合本发明实施例中的附图,对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述,显然,所描述的实施例仅仅是本发明的一部分实施例,而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例,本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例,都属于本发明保护的范围。
需要说明,本发明实施例中所有方向性指示(诸如上、下、左、右、前、后……)仅用于解释在某一特定姿态(如附图所示)下各部件之间的相对位置关系、运动情况等,如果该特定姿态发生改变时,则该方向性指示也相应地随之改变。
另外,在本发明中涉及“第一”、“第二”等的描述仅用于描述目的,而不能理解为指示或暗示其相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量。由此,限定有“第一”、“第二”的特征可以明示或者隐含地包括至少一个该特征。另外,各个实施例之间的技术方案可以相互结合,但是必须是以本领域普通技术人员能够实现为基础,当技术方案的结合出现相互矛盾或无法实现时应当人认为这种技术方案的结合不存在,也不在本发明要求的保护范围之内。
参照图1,图1为本发明显示面板一实施方式的结构示意图。本发明提出显示面板的第一实施例。
如图1所示,在本实施例中,显示面板包括像素阵列10、栅驱动电路20和检测电路30。栅驱动电路20与像素阵列10连接,用于按照设定顺序依次驱动像素阵列中的每行像素。检测电路30与栅驱动电路20所驱动的最后一行像素对应的栅线连接,用于检测栅线上的电压,以判断像素阵列10中的所有行像素是否被驱动。
像素阵列10包括多个像素,每个像素分别与一栅线和一数据线连接。其中,像素驱动结构可以采用1G1D和2G2D结构,或者为其他结构,本实施方式对此不加以限制。
参照图2,图2为本发明显示面板一实施方式的结构示意图。当然,显示面板还包括源驱动电路40、时序控制器50和电源管理模块60。源驱动电路40与每条数据线连接,栅驱动电路20与每条栅线连接。时序控制器50分别向源驱动电路40和栅驱动电路20传输使能信号或者时钟信号以驱动源驱动电路40和栅驱动电路20工作。电源管理模块60用于为各部分提供电源。显示面板已有成熟的技术,对于各部分的基本功能本实施方式在此不在赘述。
显示面板在显示时,每一帧都要对所有的像素进行驱动。通常采用的驱动方式为逐行扫描的方式,即栅驱动电路20按照设定顺序从第一行像素逐渐扫描至最后一行像素。其中,最后一行像素可以为距离源驱动电路40最远的一行像素,或者为距离源驱动电路40最近的一行像素。对于4K分辨率的面板,每一帧需要扫描2160行,如果扫描行数不足2160行,那么就会显示异常,比如如果扫描的行数只有1728行,那么将只有4/5(1728/2160)的区域显示正常,1/5的区域显示异常,用户视觉上也会出现显示异常。
当然,造成上述情况的原因可以为时序异常或者硬件异常。例如,4K分辨率8CK架构的面板,正常情况下每个CK(CK1-CK8)每一帧需要打271个(2160/8+1=271),多打1行,主要是担心少打了会影响到下一帧首行或者本帧末行的显示。如果输出的CK个数不够(输出CK个数不够可能是SOC(System on Chip,系统级芯片)输入的CPV个数不够导致,也可能是Level shifter IC(电压转换芯片)设置的模式不对导致的)则会导致无法完全所有行的驱动。此外,栅驱动电路20或者像素阵列内的线路损坏也会导致异常。
需要说明的是,在某一行像素被驱动时,该行像素对应的栅线会被施加高电平,而在没有被驱动时,栅线上为低电平。因此,本实施方式通过对最后一行像素对应的栅线上的电压进行检测,从而判断最后一行像素是否被驱动。即若在最后一行像素对应的栅线上没有检测到高电平,则判定最后一行像素没有被驱动,即所有行像素没有被全部驱动;若在最后一行像素对应的栅线上检测到高电平,则判定最后一行像素被驱动,由于扫描的连续性,可以认为所有行像素已被全部驱动。
需要说明的是,检测电路还可以包括显示电路。显示电路内存储有显示信息,该显示信息可以包括内容为“所有行像素均被驱动”和“像素驱动异常”等信息。检测电路根据判断结果显示相应的内容,以提示测试人员检测结果,以使测试人员进行后续测试,或者查找异常原因。
在本实施方式中,显示面板包括像素阵列10、栅驱动电路20和检测电路30。栅驱动电路20与像素阵列10连接,用于按照设定顺序依次驱动像素阵列中的每行像素。检测电路30与栅驱动电路20所驱动的最后一行像素对应的栅线连接,用于检测栅线上的电压,以判断像素阵列10中的所有行像素是否被驱动。本实施方式通过对最后一行像素对应的栅线电压进行检测,从而判断最后一行像素是否被驱动,进而推断所有行像素是否被驱动,避免人为检测无法准确判断少数行像素异常的情况,提高了显示面板调试的准确性及效率。
参照图3,图3为本发明显示面板一实施方式的结构示意图。基于上述第一实施例,本发明提出显示面板的第二实施例。
在本实施方式中,电压包括第一电压和第二电压,栅驱动电路20包括设置与像素阵列10两侧的第一GOA电路和第二GOA电路,第一GOA电路和第二GOA电路中均包括多个级联的GOA单元,GOA单元的输出端与栅线连接。检测电路30分别与第一GOA单元的输出端和第二GOA单元的输出端连接,用于分别检测第一GOA单元输出的第一电压以及第二GOA单元输出的第二电压,以判断像素阵列10中的所有行像素是否被驱动,其中,第一GOA单元为第一GOA电路中最后一级GOA单元,第二GOA单元为第二GOA电路中最后一级GOA单元。
需要说明的是,对于大尺寸的显示面板,往往会采用双边GOA电路进行驱动。两侧的GOA电路同时向栅线输出扫描信号。此时,即使某一侧的GOA电路输出异常,面板可能也会正常显示,此时人工检测的方式是无法判断的。参照图4和图5,图4为本发明显示面板第一种驱动状态示意图,图5为本发明显示面板第二种驱动状态示意图。图4表示了一种显示面板右侧GOA电路输出异常的情况,图5表示了一种显示面板左侧GOA电路输出异常的情况。
本实施方式通过分别对两侧GOA电路中最后一级GOA单元的输出电压进行检测,从而判断是否存在输出异常的情况。假设第一GOA电路位于面板左侧,第二GOA电路位于面板右侧,以图4所示的驱动状态为例,检测电路30检测到的第一电压为高电平,第二电压为低电平。若以图5所示的驱动状态为例,则检测电路30检测到的第一电压为低电平,第二电压为高电平。若检测电路30检测到的第一电压和第二电压均为低电平,则说明两侧GOA电路均输出异常。若检测电路30检测到的第一电压和第二电压均为高电平,则说明两侧GOA电路均输出正常。
在具体实现时,检测电路30可以包括第一采集电路、第二采集电路和控制电路。其中,第一采集电路与第一GOA单元的输出端连接,用于将第一GOA单元输出的第一电压转换成第三电压。第二采集电路与第二GOA单元的输出端连接,用于将第二GOA单元输出的第二电压转换成第四电压;控制电路与第一采集电路和第二采集电路连接,用于接收第三电压和第四电压,并根据第三电压和第四电压判断像素阵列中的所有行像素是否被驱动。
可以理解的是,为便于对GOA单元的输出电压进行检测,采用采集电路与两侧最后一级GOA单元的输出端连接。该采集电路可以获取GOA单元的输出电压,并将其传输至控制电路。为便于分析,采集电路还可以将GOA单元的输出电压进行转换,将转换后的电压传输至控制电路。例如,采集电路可以在检测到GOA单元输出高电平时,传输低电平信号至控制电路。需要注意的是,为简化逻辑,第一采集电路和第二采集电路的转换逻辑应当相同。
为使检测电路30易于实现,且降低成本,第一采集电路可以包括第一薄膜晶体管T1,第二采集电路可以包括第二薄膜晶体管T3。第一薄膜晶体管T1的栅极与第一GOA单元的输出端连接,第二薄膜晶体管T2的栅极与第二GOA单元的输出端连接,第一薄膜晶体管T1和第二薄膜晶体管T2的漏极均与预设电压输入端连接,第一薄膜晶体管T1和第二薄膜晶体管T2的源极均与控制电路连接。
需要说明的是,第一薄膜晶体管T1和第二薄膜晶体管T2还可以通过源极与预设电压输入端连接,此时漏极与控制电路连接。其中,预设电压根据需要可以设置为低电平或者高电平,本实施方式以高电平为例进行说明。在第一GOA单元或第二GOA单元输出高电平时,第一薄膜晶体管T1或第一薄膜晶体管T2将预设电压(高电平)传输至控制电路。在第一GOA单元或第二GOA单元输出低电平时,第一薄膜晶体管T1或第一薄膜晶体管T2没有输出。
同样为易于实现,控制电路可以包括第三薄膜晶体管T3、第四薄膜晶体管T4、电路管理模块60和系统级芯片70。第三薄膜晶体管T3的栅极与第一薄膜晶体管T1的源极连接,第四薄膜晶体管T4的栅极与第二薄膜晶体管T2的源极连接,第三薄膜晶体管T3和第四薄膜晶体管T4的漏极均与电路管理模块60的输出端连接,第三薄膜晶体管T3和第四薄膜晶体管T4的源极均与系统级芯片70连接,电路管理模块60的输出端具有预设电压。
需要说明的是,电路管理模块60的输出端可以设置为高电平或低电平,本实施方式以高电平为例进行说明,如3.3V或5V。在第一薄膜晶体管T1导通时,第三薄膜晶体管T3的栅极也导通,系统级芯片70接收到高电平;若第一薄膜晶体管T1断开,则系统级芯片70接收到低电平。在第二薄膜晶体管T2导通时,第四薄膜晶体管T4的栅极也导通,系统级芯片70接收到高电平;若第二薄膜晶体管T2断开,则系统级芯片70接收到低电平。系统级芯片70根据接收的电压判断检测结果,如:若接收到的电压为11(第三薄膜晶体管T3和第四薄膜晶体管T4均导通),则判定GOA电路输出正常;若接收到的电压为10(第三薄膜晶体管T3导通,第四薄膜晶体管T4断开),则判定右侧GOA电路输出异常;若接收到的电压为01(第三薄膜晶体管T3断开,第四薄膜晶体管T4导通),则判定左侧GOA电路输出异常;若接收到的电压为00(第三薄膜晶体管T3和第四薄膜晶体管T4均断开),则判定两侧GOA电路均输出异常。
在具体实现时,第一薄膜晶体管T1和第二薄膜晶体管T2可以设置在阵列基板上,第三薄膜晶体管T3和第四薄膜晶体管T4可以设置在控制板上,通过设置接口和走线实现相互连接。
在本实施方式中,系统级芯片70内部的存储器存储有检测结果信息,如内容为“GOA电路输出正常”、“右侧GOA电路输出异常,请解析面内”、“左侧GOA电路输出异常,请解析面内”和“两侧GOA电路均输出异常,请确认每一帧CK个数是否正确”等信息。系统级芯片70根据判断结果将上述信息进行显示。具体的,系统级芯片70可以直接驱动栅驱动电路20和源驱动电路40将上述信息显示在调试的显示面板上(显示面板通常仅有部分区域显示异常,显示正常的区域可以用于显示上述信息)。或者,系统级芯片70还可以与其他显示模组连接,利用其他显示模组显示上述信息。
需要说明的是,双边GOA电路还可以有其他的驱动架构。参照图6,图6为本发明显示面板的驱动架构一实施方式的结构示意图。如图6所示,左侧GOA电路用于驱动奇数行,右侧GOA电路用于驱动偶数行。当好,左侧GOA电路也可以用于驱动偶数行,此时右侧GOA电路用于驱动奇数行。对于此类驱动架构,上述的检测电路30结构也能够完全检测。由于检测电路30分别对两侧GOA电路中的最后一级GOA单元的输出电压进行了检测。若左侧GOA单元的输出没有检测到高电平,则说明奇数行没有被全部驱动;若右侧GOA单元的输出没有检测到高电平,则说明偶数行没有被全部驱动;上述两种情况均属于所有行像素未被全部驱动。
在本实施方式中,显示面板采用双边GOA驱动架构,检测电路30对两侧GOA电路中的最后一级GOA单元的输出电压进行检测,并根据检测到的电压判断所有行像素是否被驱动。本实施方式能够准确检测出GOA电路是否输出正常,解决了人眼无法检测单侧GOA异常的问题。
为实现上述目的,本发明还提出一种显示器,显示器包括如上述的显示面板。该显示面板的具体结构参照上述实施例,由于本显示器可以采用上述所有实施例的技术方案,因此至少具有上述实施例的技术方案所带来的有益效果,在此不再一一赘述。
参照图7,图7为本发明显示面板检测方法一实施方式的流程示意图。基于上述实施例,本发明还提出了一种显示面板检测方法。
在本实施方式中,显示面板检测方法包括:
步骤S10:在驱动显示面板时,对最后一行栅线上的电压进行检测,获得检测结果,最后一行栅线为显示面板在一帧时间内最后一行被驱动的像素所对应的栅线。
需要说明的是,本实施方式中涉及的显示面板的结构可以参照上述实施例。显示面板在显示时,每一帧都要对所有的像素进行驱动。通常采用的驱动方式为逐行扫描的方式,即栅驱动电路按照设定顺序从第一行像素逐渐扫描至最后一行像素。其中,最后一行像素可以为距离源驱动电路最远的一行像素,或者为距离源驱动电路最近的一行像素。对于4K分辨率的面板,每一帧需要扫描2160行,如果扫描行数不足2160行,那么就会显示异常,比如如果扫描的行数只有1728行,那么将只有4/5(1728/2160)的区域显示正常,1/5的区域显示异常,用户视觉上也会出现显示异常。
步骤S20:根据检测结果判断显示面板中的所有行像素是否被驱动。
在某一行像素被驱动时,该行像素对应的栅线会被施加高电平,而在没有被驱动时,栅线上为低电平。因此,本实施方式通过对最后一行像素对应的栅线上的电压进行检测,从而判断最后一行像素是否被驱动。即若在最后一行像素对应的栅线上没有检测到高电平,则判定最后一行像素没有被驱动,即所有行像素没有被全部驱动;若在最后一行像素对应的栅线上检测到高电平,则判定最后一行像素被驱动,由于扫描的连续性,可以认为所有行像素已被全部驱动。
在本实施方式中,为实现对采用双边GOA电路驱动架构的显示面板进行检测。检测结果可以包括第一检测结果和第二检测结果,显示面板包括设置于像素阵列两侧的第一GOA电路和第二GOA电路,第一GOA电路和第二GOA电路中均包括多个级联的GOA单元,GOA单元的输出端与栅线连接;
步骤S10中,对最后一行栅线上的电压进行检测,获得检测结果的过程可以包括:对第一GOA电路中最后一级GOA单元的输出电压进行检测,获得第一检测结果。对第二GOA电路中最后一级GOA单元的输出电压进行检测,获得第二检测结果。
本实施方式通过分别对两侧GOA电路中最后一级GOA单元的输出电压进行检测,从而判断是否存在输出异常的情况。假设第一GOA电路位于面板左侧,第二GOA电路位于面板右侧,以图4所示的驱动状态为例,检测电路30检测到的第一电压为高电平,第二电压为低电平。若以图5所示的驱动状态为例,则检测电路30检测到的第一电压为低电平,第二电压为高电平。若检测电路30检测到的第一电压和第二电压均为低电平,则说明两侧GOA电路均输出异常。若检测电路检测到的第一电压和第二电压均为高电平,则说明两侧GOA电路均输出正常。
在具体实现时,步骤S20可以包括:
在第一检测结果对应的输出电压为高电平,第二检测结果对应的输出电压为高电平时,判定显示面板中的所有行像素均被驱动。
在第一检测结果对应的输出电压为低电平,第二检测结果对应的输出电压为高电平时,判定第一GOA电路处于异常状态,显示面板中的所有行像素未被全部驱动。
在第一检测结果对应的输出电压为高电平,第二检测结果对应的输出电压为低电平时,判定第二GOA电路处于异常状态,显示面板中的所有行像素未被全部驱动。
在第一检测结果对应的输出电压为低电平,第二检测结果对应的输出电压为低电平时,判定两侧GOA电路处于异常状态,显示面板中的所有行像素未被全部驱动。
在本实施方式中,为便于测试人员了解检测结果,还可以在显示面板上显示相应的信息(显示面板通常仅有部分区域显示异常,显示正常的区域可以用于显示上述信息)。例如,存储内可以存储有内容为“GOA电路输出正常”、“右侧GOA电路输出异常,请解析面内”、“左侧GOA电路输出异常,请解析面内”和“两侧GOA电路均输出异常,请确认每一帧CK个数是否正确”等信息。
为更快速的找出异常原因,在本实施方式还包括异常分析流程。参照图8,图8为本发明显示面板检测方法一实施方式的流程示意图。
在步骤S20之后,还可以包括:
步骤S30:在两侧GOA电路均处于异常状态时,断开显示面板中玻璃单板与时序控制器之间的连接,检测时序控制器在空载下输出的时钟信号的脉冲数量。
需要说明的时,检测结果为00是指第一检测结果和第二检测结果对应的输出电压均为低电平;检测结果为01是指第一检测结果对应的输出电压为低电平,第二检测结果对应的输出电压为高电平;检测结果为10是指第一检测结果对应的输出电压为高电平,第二检测结果对应的输出电压为低电平。当然,检测结果还可以为11,其是指第一检测结果和第二检测结果对应的输出电压均为高电平。
由于显示异常的原因可能为硬件故障或者为时序错误。但在两侧GOA电路均处于异常状态时,时序错误的可能性更高。因此,将显示面板中玻璃单板与时序控制器之间的连接断开,直接检测时序控制器在空载下输出的时钟信号的脉冲数量,可以排除硬件故障。其中时钟信号主要是指传输至GOA电路的CK信号。根据GOA电路结构的不同。时钟信号的数量也不同,可以为2路、4路或者8路CK信号。
步骤S40:判断脉冲数量是否等于预设数量。
其中,预设数量需要根据显示面板的结构进行确定。例如,对于4K分辨率8CK架构的面板,正常情况下每个CK(CK1-CK8)每一帧的数量为271个。
步骤S50:在脉冲数量不等于预设数量时,对系统级芯片或时序控制器进行时序调整,使脉冲数量等于预设数量。
可以理解的是,若空载下的脉冲数量不等于271,则说明CK信号的时序存在问题。通过调整系统级芯片或时序控制器的输出,从而使脉冲数量等于预设数量,以完全对显示面板的调试。
步骤S60:在脉冲数量等于预设数量时,对显示面板中的线路进行检测,以确定异常原因。
若空载下的脉冲数量等于271,则说明CK信号的时序不存在问题。此时,显示异常的原因基本为硬件故障。因此,需要对显示面板中的线路进行检测,从而确定具体原因。
当然,对于第一GOA电路或第二GOA电路处于异常状态的情况,由于仅有一侧GOA电路异常,此时说明CK时序时正常的,那么显示异常的原因也基本为硬件故障。需要对显示面板中的线路进行检测,以确定异常原因。
其中,显示面板中的线路的检测主要包括GOA单元内的金属走线、栅线是否断裂,或者GOA单元线路结构是否异常导致工作紊乱等问题。
在本实施方式中,通过在驱动显示面板时,对最后一行栅线上的电压进行检测,获得检测结果,最后一行栅线为显示面板在一帧时间内最后一行被驱动的像素所对应的栅线;再根据检测结果判断显示面板中的所有行像素是否被驱动。本实施方式通过对最后一行像素对应的栅线电压进行检测,从而判断最后一行像素是否被驱动,进而推断所有行像素是否被驱动,避免人为检测无法准确判断少数行像素异常的情况,提高了显示面板调试的准确性及效率。
以上仅为本发明的优选实施例,并非因此限制本发明的专利范围,凡是利用本发明说明书及附图内容所作的等效结构或等效流程变换,或直接或间接运用在其他相关的技术领域,均同理包括在本发明的专利保护范围内。
Claims (10)
1.一种显示面板,其特征在于,所述显示面板包括:
像素阵列;
栅驱动电路,与所述像素阵列连接,用于按照设定顺序依次驱动所述像素阵列中的每行像素;
检测电路,与所述栅驱动电路所驱动的最后一行像素对应的栅线连接,用于检测所述栅线上的电压,以判断所述像素阵列中的所有行像素是否被驱动。
2.如权利要求1所述的显示面板,其特征在于,所述电压包括第一电压和第二电压,所述栅驱动电路包括设置与所述像素阵列两侧的第一GOA电路和第二GOA电路,所述第一GOA电路和所述第二GOA电路中均包括多个级联的GOA单元,所述GOA单元的输出端与栅线连接;
所述检测电路分别与第一GOA单元的输出端和第二GOA单元的输出端连接,用于分别检测所述第一GOA单元输出的第一电压以及所述第二GOA单元输出的第二电压,以判断所述像素阵列中的所有行像素是否被驱动,其中,所述第一GOA单元为所述第一GOA电路中最后一级GOA单元,所述第二GOA单元为所述第二GOA电路中最后一级GOA单元。
3.如权利要求2所述的显示面板,其特征在于,所述检测电路包括:
第一采集电路,与所述第一GOA单元的输出端连接,用于将所述第一GOA单元输出的第一电压转换成第三电压;
第二采集电路,与所述第二GOA单元的输出端连接,用于将所述第二GOA单元输出的第二电压转换成第四电压;
控制电路,与所述第一采集电路和所述第二采集电路连接,用于接收所述第三电压和所述第四电压,并根据所述第三电压和所述第四电压判断所述像素阵列中的所有行像素是否被驱动。
4.如权利要求3所述的显示面板,其特征在于,第一采集电路包括第一薄膜晶体管,所述第二采集电路包括第二薄膜晶体管,所述第一薄膜晶体管的栅极与所述第一GOA单元的输出端连接,所述第二薄膜晶体管的栅极与所述第二GOA单元的输出端连接,所述第一薄膜晶体管和所述第二薄膜晶体管的漏极均与预设电压输入端连接,所述第一薄膜晶体管和所述第二薄膜晶体管的源极均与所述控制电路连接。
5.如权利要求4所述的显示面板,其特征在于,所述控制电路包括第三薄膜晶体管、第四薄膜晶体管、电路管理模块和系统级芯片;
所述第三薄膜晶体管的栅极与所述第一薄膜晶体管的源极连接,所述第四薄膜晶体管的栅极与所述第二薄膜晶体管的源极连接,所述第三薄膜晶体管和所述第四薄膜晶体管的漏极均与所述电路管理模块的输出端连接,所述第三薄膜晶体管和所述第四薄膜晶体管的源极均与所述系统级芯片连接,所述电路管理模块的输出端具有预设电压。
6.一种显示器,其特征在于,所述显示器包括如权利要求1-5中任一项所述的显示面板。
7.一种显示面板检测方法,其特征在于,所述显示面板检测方法包括:
在驱动显示面板时,对最后一行栅线上的电压进行检测,获得检测结果,所述最后一行栅线为所述显示面板在一帧时间内最后一行被驱动的像素所对应的栅线;
根据所述检测结果判断所述显示面板中的所有行像素是否被驱动。
8.如权利要求7所述的显示面板检测方法,其特征在于,所述检测结果包括第一检测结果和第二检测结果,所述显示面板包括设置于像素阵列两侧的第一GOA电路和第二GOA电路,所述第一GOA电路和所述第二GOA电路中均包括多个级联的GOA单元,所述GOA单元的输出端与栅线连接;
所述对最后一行栅线上的电压进行检测,获得检测结果,包括:
对所述第一GOA电路中最后一级GOA单元的输出电压进行检测,获得第一检测结果;
对所述第二GOA电路中最后一级GOA单元的输出电压进行检测,获得第二检测结果。
9.如权利要求8所述的显示面板检测方法,其特征在于,所述根据所述检测结果判断所述显示面板中的所有行像素是否被驱动,包括:
在所述第一检测结果对应的输出电压为高电平,所述第二检测结果对应的输出电压为高电平时,判定所述显示面板中的所有行像素均被驱动;
在所述第一检测结果对应的输出电压为低电平,所述第二检测结果对应的输出电压为高电平时,判定第一GOA电路处于异常状态,所述显示面板中的所有行像素未被全部驱动;
在所述第一检测结果对应的输出电压为高电平,所述第二检测结果对应的输出电压为低电平时,判定第二GOA电路处于异常状态,所述显示面板中的所有行像素未被全部驱动;
在所述第一检测结果对应的输出电压为低电平,所述第二检测结果对应的输出电压为低电平时,判定两侧GOA电路处于异常状态,所述显示面板中的所有行像素未被全部驱动。
10.如权利要求9所述的显示面板检测方法,其特征在于,所述根据所述检测结果判断所述显示面板中的所有行像素是否被驱动之后,还包括:
在两侧GOA电路均处于异常状态时,断开所述显示面板中玻璃单板与时序控制器之间的连接,检测所述时序控制器在空载下输出的时钟信号的脉冲数量;
在所述脉冲数量不等于预设数量时,对系统级芯片或所述时序控制器进行时序调整,使所述脉冲数量等于所述预设数量;
在所述第一GOA电路处于异常状态、所述第二GOA电路处于异常状态或所述脉冲数量等于预设数量时,对所述显示面板中的线路进行检测,以确定异常原因。
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Citations (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR20080035086A (ko) * | 2006-10-18 | 2008-04-23 | 삼성전자주식회사 | 액정 표시 장치 |
CN105096876A (zh) * | 2015-08-19 | 2015-11-25 | 深圳市华星光电技术有限公司 | Goa驱动系统及液晶面板 |
CN108648703A (zh) * | 2018-03-27 | 2018-10-12 | 厦门天马微电子有限公司 | 显示面板和显示装置 |
CN108877610A (zh) * | 2018-07-10 | 2018-11-23 | 京东方科技集团股份有限公司 | 阵列基板及其检测方法和显示装置 |
CN108962160A (zh) * | 2018-07-02 | 2018-12-07 | 武汉华星光电半导体显示技术有限公司 | 具goa电路失效检测功能的显示面板 |
-
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Patent Citations (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR20080035086A (ko) * | 2006-10-18 | 2008-04-23 | 삼성전자주식회사 | 액정 표시 장치 |
CN105096876A (zh) * | 2015-08-19 | 2015-11-25 | 深圳市华星光电技术有限公司 | Goa驱动系统及液晶面板 |
CN108648703A (zh) * | 2018-03-27 | 2018-10-12 | 厦门天马微电子有限公司 | 显示面板和显示装置 |
CN108962160A (zh) * | 2018-07-02 | 2018-12-07 | 武汉华星光电半导体显示技术有限公司 | 具goa电路失效检测功能的显示面板 |
CN108877610A (zh) * | 2018-07-10 | 2018-11-23 | 京东方科技集团股份有限公司 | 阵列基板及其检测方法和显示装置 |
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