CN212750337U - 阵列基板及显示装置 - Google Patents
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Abstract
本申请公开一种阵列基板及显示装置，该阵列基板包括：第一扫描驱动电路和第二扫描驱动电路，分别设置于阵列基板的对应非显示区的区域内，且均包括多个级联的GOA电路；第一辅助线电路和第二辅助线电路，分别设置于第一扫描驱动电路和第二扫描驱动电路的正上方，用于在任一级GOA电路出现故障时与出现故障的任一级GOA电路中的电信号检测点形成电连接。本申请通过分别设于扫描驱动电路以及该扫描驱动电路上方的辅助线电路来对某一级发生故障的GOA电路中的电信号检测点的电位进行检测，之后，再根据电信号检测点的电位波形来推断造成显示不良的原因，避免了裂片检测可能造成的电路损害，拉升了阵列基板的检测效率，降低了检测成本。
Description
技术领域
本申请涉及显示技术领域，尤其涉及一种显示面板及具有该显示面板的显示装置。
背景技术
显示装置中的像素单元由阵列基板行驱动(Gate Driver on Array，GOA)电路逐行扫描以实现画面的显示，因此，在显示装置的设计生产过程中，根据GOA 电路中Q点或栅极(Gate)检测的电位波形推测不良的原因就至为重要。目前，针对由GOA电路中Q点或栅极(Gate)的连接，大多是对阵列基板进行直接裂片处理，再用示波器扎取GOA电路中的Q点或栅极(Gate)以得到Q点波形信号或Gate输出信号，再根据其电位波形来推测不良的原因。
但是，这种直接裂片的方式对GOA电路进行检测时极易损坏阵列基板内的电路，从而造成更大的损失。而且，现有的检测方式难以实现对GOA中的Q点进行快速检测，导致了降低显示装置的检测效率，增加检测成本。
实用新型内容
鉴于上述现有技术的不足，本申请的目的在于提供一种阵列基板及显示装置，旨在解决现有技术中存在的检测方式效率较低、成本较高的问题。
一种阵列基板，包括：第一扫描驱动电路和第二扫描驱动电路，所述第一扫描驱动电路和所述第二扫描驱动电路分别设置于所述阵列基板的对应非显示区的区域内，且均包括多个级联的GOA电路；第一辅助线电路和第二辅助线电路，所述第一辅助线电路和所述第二辅助线电路分别设置于所述第一扫描驱动电路和所述第二扫描驱动电路的正上方，用于在任一级GOA电路出现故障时与出现故障的所述任一级GOA电路中的电信号检测点形成电连接。
上述阵列基板，通过分别设于扫描驱动电路以及该扫描驱动电路上方的辅助线电路来对某一级GOA电路中的电信号检测点进行电连接，以根据电信号检测点处的电位波形来推断出造成显示不良的原因。避免了裂片检测可能造成的电路损害，拉升了阵列基板的检测效率，降低了检测成本。
可选地，所述电信号检测点为所述第一扫描驱动电路和所述第二扫描驱动电路中每一级GOA电路中的测试节点或扫描驱动信号输出端。不同的电信号检测点可以增加本申请提供的阵列基板在不同制造环境中的适用性。
可选地，每一级GOA电路中的所述扫描驱动信号输出端用于将输出的扫描驱动信号经扫描驱动线传输至与所述扫描驱动线连接的像素单元，使所述像素单元出射光线。
可选地，所述第一辅助线电路包括第一主辅助线和多条第一支路辅助线，其中，所述第一支路辅助线的数量与所述第一扫描驱动电路中的GOA电路的数量相同，且每条所述第一支路辅助线位于相对应的该级GOA电路中的所述测试节点的正上方。将每条第一支路辅助线设置在对应GOA电路的测试节点的正上方，能够在该级GOA电路出现故障时，使第一支路辅助线与其中的测试节点形成电连接，直接检测该级GOA电路内部的电位变化，可以更好的确定造成故障或不良的原因。
可选地，所述第二辅助线电路包括第二主辅助线和多条第二支路辅助线，其中，所述第二支路辅助线的数量与所述第二扫描驱动电路中的GOA电路的数量相同，且每条所述第二支路辅助线位于相对应的该级GOA电路中的所述测试节点的正上方。将每条第二支路辅助线设置在对应GOA电路的测试节点的正上方，能够在该级GOA电路出现故障时，使第二支路辅助线与其中的测试节点形成电连接，直接检测该级GOA电路内部的电位变化，可以更好的确定造成故障或不良的原因。
可选地，当所述第一扫描驱动电路或所述第二扫描驱动电路中的一级GOA 电路出现故障时，通过镭射的方式使该级GOA电路中的所述测试节点与对应的所述第一支路辅助线或第二支路辅助线形成电连接，并将所述测试节点处的电信号传输至与所述第一辅助线连接的第一检测点或与所述第二辅助线连接的第二检测点。
可选地，所述第一辅助线电路包括一条第一主辅助线，且所述第一主辅助线在所述阵列基板上的投影覆盖所述第一扫描驱动电路中每级GOA电路的扫描驱动信号输出端。将第一主辅助线设置在对应GOA电路的扫描驱动信号输出端的正上方，能够在该级GOA电路出现故障时，使第一主辅助线与其中的扫描驱动信号输出端形成电连接，这种方式能够直接在电路板的检测点处测量出现异常的该级GOA电路的输出波形。
可选地，所述第二辅助线电路包括一条第二主辅助线，且所述第二主辅助线在所述阵列基板上的投影覆盖所述第二扫描驱动电路中每级GOA电路的扫描驱动信号输出端。将第二主辅助线设置在对应GOA电路的扫描驱动信号输出端的正上方，能够在该级GOA电路出现故障时，使第二主辅助线与其中的扫描驱动信号输出端形成电连接，这种方式能够直接在电路板的检测点处测量出现异常的该级GOA电路的输出波形。
可选地，当所述第一扫描驱动电路或所述第二扫描驱动电路中的一级GOA 电路出现故障时，通过镭射的方式使所述级GOA电路中的所述扫描驱动信号输出端与对应的所述第一主辅助线或所述第二主辅助线形成电连接，并将所述扫描驱动信号输出端处的电信号传输至与所述第一辅助线连接的第一检测点或与所述第二辅助线连接的第二检测点。
基于同样的实用新型构思，本申请还提供一种显示装置，包括前述的阵列基板。
上述显示装置，通过阵列基板中分别设于扫描驱动电路以及该扫描驱动电路上方的辅助线电路来对某一级GOA电路中的电信号检测点进行电连接，以根据电信号检测点处的电位波形来推断出造成显示不良的原因。避免了裂片检测可能造成的电路损害，拉升了阵列基板的检测效率，降低了检测成本。
附图说明
为了更清楚地说明本申请实施例中的技术方案，下面将对实施例中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图是本申请的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
图1为本申请实施例公开的一种显示装置的结构示意图；
图2为图1所示显示装置在I-I线处的剖面结构示意图；
图3为图1所示显示装置中的一种阵列基板的平面结构示意图；
图4为图3所示的阵列基板中部分扫描驱动电路的电路结构示意图；
图5为图4所示的扫描驱动电路中的一个GOA电路的电路结构示意图；
图6为图2所示的显示装置在故障处进行检测的辅助线连接示意图；
图7为图1所示的显示装置中的另一种阵列基板的平面结构示意图。
附图标记说明：
10-显示装置；
10a-显示区；
10b-非显示区；
11-基底；
11a-第一扫描驱动电路；
12-辅助基底；
20-阵列基板；
21-电路板；
FL-第一辅助线电路；
FR-第二辅助线电路；
L-第一检测点；
R-第二检测点；
200-部分扫描驱动电路；
STN-第N级GOA电路输出的级传信号；
GN-第N级GOA电路输出的扫描驱动信号；
CK-时钟信号；
201-第N级GOA电路
2011-上拉控制电路；
2012-上拉电路；
2013-级传电路；
2014-下拉电路；
2015-下拉维持电路；
Q-测试节点；
VSS-参考低电位
100-故障；
30-阵列基板；
31-电路板。
具体实施方式
为了便于理解本申请，下面将参照相关附图对本申请进行更全面的描述。附图中给出了本申请的较佳实施方式。但是，本申请可以以许多不同的形式来实现，并不限于本文所描述的实施方式。相反地，提供这些实施方式的目的是使对本申请的公开内容理解的更加透彻全面。
除非另有定义，本文所使用的所有的技术和科学术语与属于本申请的技术领域的技术人员通常理解的含义相同。本文中在本申请的说明书中所使用的术语只是为了描述具体的实施方式的目的，不是旨在于限制本申请。
显示面板中的像素单元由阵列基板行驱动(Gate Driver on Array，GOA)电路逐行扫描以实现画面的显示，因此，在显示面板的设计生产过程中，对显示面板中的GOA电路的检测就至为重要。目前，针对由GOA电路导致的显示面板画面异常问题，大多是直接裂片，再用示波器扎取GOA电路中的Q点或Gate 点以检测Q点的波形信号或Gate点的输出信号，之后，再根据Q点或Gate点的电位波形来推断造成显示不良的原因。但是，这种直接裂片的方式极易损坏显示面板内的电路，从而造成更大的损失，降低显示面板的检测效率，增加检测成本。
基于此，本申请希望提供一种能够解决上述技术问题的方案，其详细内容将在后续实施例中得以阐述。
本申请方案的详细阐述显示装置中显示面板的电路结构及其工作过程。
请参阅图1，其为本申请实施例公开的一种显示装置的结构示意图。如图1 所示，显示装置10包括显示区10a与非显示区10b，其中，显示区10a用于执行图像显示，非显示区10b环绕设置于显示区10a周围以设置其他辅助部件或者模组。
进一步地，显示装置10中还包括有阵列基板(图未示)，阵列基板的显示区10a中设有用于显示图像的像素单元，且在阵列基板的非显示区10b内设有用于驱动像素单元的多种驱动电路。
请参阅图2，其为图1所示显示装置在I-I线处的剖面结构示意图。如图2 所示的I-I处的剖面可知，显示装置10中的非显示区10b的I-I剖面处包括基底 11、第一扫描驱动电路11a、辅助基底12以及第一辅助线电路FL。
具体地，第一扫描驱动电路11a设于基底11之上，其包括多个级联的GOA 电路(图未示)，用于控制设于显示区10a中的像素单元接收图像数据，使像素单元在设定的时间根据图像数据出射光线。
进一步地，第一辅助线电路FL设于辅助基底12之上，用于在第一扫描驱动电路11a中的某一级的GOA电路缺陷导致显示区10a中的像素单元无法正常显示时，借助镭射的方式使第一辅助线电路FL与该级GOA电路中的电信号检测点(图未示)形成电连接，以对该级GOA电路中的电信号检测点进行检测。
本实施例的有益效果在于，第一辅助线电路FL能够在某一级GOA电路发生故障时对该级GOA电路中的电信号检测点进行检测，之后，再根据电信号检测点的电位波形来推断造成显示不良的原因，避免了裂片检测可能造成的电路损害，拉升了阵列基板的检测效率，降低了检测成本。
可选地，图2所示的I-I处的第一辅助线电路FL、辅助基底12、第一扫描驱动电路11a以及基底11的叠放方式仅为其中一种。还可以为第一扫描驱动电路11a、基底11、第一辅助线电路FL以及辅助基底12依次层叠设置的方式，或者，可以直接去除辅助基底12，使第一扫描驱动电路11a、基底11以及第一辅助线电路FL层叠设置，也即是，第一扫描驱动电路11a和第一辅助线电路FL 分别设置在基底11相对的两面，本申请实施例对此不做具体限定。
请参阅图3，其为图1所示显示装置中的一种阵列基板的平面结构示意图。如图3所示，阵列基板20中对应非显示区10b的区域内设置有第一扫描驱动电路和第二扫描驱动电路，第一扫描驱动电路和第二扫描驱动电路分别包括有m 个级联的GOA电路，并经扫描驱动线输出对应的扫描驱动信号Gm至阵列基板 20中对应显示区10a中的像素单元。其中，m为大于1的自然数。
进一步地，在第一扫描驱动电路和第二扫描驱动电路的正上方处还分别设有第一辅助线电路FL和第二辅助线电路FR，其中，第一辅助线电路FL与电路板21中的第一检测点L电性连接，第二辅助线电路FR与电路板21中的第二检测点R电性连接。
具体地，第一辅助线电路FL包括第一主辅助线和m条第一支路辅助线，其中，第一支路辅助线的数量与第一扫描驱动电路中的GOA电路的数量相同，且每条第一支路辅助线在阵列基板20上的投影均与相对应的该级GOA电路中的电信号检测点交叉，也即是，每条第一支路辅助线位于该级GOA电路中相对应的电信号检测点的正上方。
具体地，第二辅助线电路FR包括第二主辅助线和m条第二支路辅助线，其中，第二支路辅助线的数量与第二扫描驱动电路中的GOA电路的数量相同，且每条第二支路辅助线在阵列基板20上的投影均与相对应的该级GOA电路中的电信号检测点交叉，也即是，每条第二支路辅助线位于该级GOA电路中相对应的电信号检测点的正上方。
具体地，当第一扫描驱动电路或第二扫描驱动电路中的某一级GOA电路的缺陷导致显示区10a中的像素单元无法正常显示时，借助镭射的方式使第一辅助线电路FL或第二辅助线电路FR与该级GOA电路中的电信号检测点形成电连接，之后，再将示波器连接至对电路板21中的第一检测点L或第二检测点R，即可实现对该级GOA电路中电信号检测点处的电位检测。
本实施例的有益效果在于，通过分别设置于第一扫描驱动电路和第二扫描驱动电路上的第一辅助线电路FL和第二辅助线电路FR来对某一级发生故障的 GOA电路的电信号进行检测，之后，再根据电信号检测点的电位波形来推断造成显示不良的原因，避免了采用裂片检测可能造成的电路损害，拉升了阵列基板的检测效率，降低了检测成本。
请参阅图4，其为图3所示的阵列基板中部分扫描驱动电路的电路结构示意图。如图4所示，该部分扫描驱动电路200包括三个级联的GOA电路，分别是第N-1级GOA电路、第N级GOA电路和第N+1级GOA电路。其中，N为大于1的自然数，且N的值小于m。
具体地，STN为第N级GOA电路输出的级传信号，GN为第N级GOA电路输出的扫描驱动信号，CK为时钟信号。当第N级GOA电路工作时，其输出的第N级扫描驱动信号GN用于打开位于阵列基板20的第N行中每个像素单元的晶体管开关，以控制该行像素单元接收图像数据；而其输出的级传信号STN用于控制第N+1级GOA电路的工作。
请参阅图5，其为图4所示的扫描驱动电路中的一个GOA电路的电路结构示意图。如图5所示，第N级GOA电路201包括上拉控制电路2011、上拉电路2012、级传电路2013、下拉电路2014和下拉维持电路2015。
其中，上拉控制电路2011电性连接于上一级GOA电路的扫描驱动信号输出端和级传信号输出端，用于接收由上一级GOA电路输出的扫描驱动信号GN-1和级传信号STN-1，并在上一级的扫描驱动信号GN-1和级传信号STN-1的驱动作用下为测试节点Q预充电，使测试节点Q由低电位转至高电位。
上拉电路2012经测试节点Q电性连接于上拉控制电路2011，用于根据测试节点Q的电位变化输出扫描驱动信号GN，使第N级扫描驱动信号GN经扫描驱动线传输至该行像素单元，使该行像素单元根据图像数据出射光线。
级传电路2013电性连接于时钟信号端，用于根据时钟信号CKN的变化输出级传信号STN至下一级GOA电路，以控制下一级GOA电路的打开和关闭。
下拉电路2014电性连接于扫描信号输出端，用于为在第N级扫描驱动信号 GN经扫描驱动线传输至该行像素单元之后拉低测试节点Q和第N级扫描驱动信号GN的电位至参考低电位VSS。
下拉维持电路2015电性连接于测试节点Q和扫描信号输出端之间，用于为在将测试节点Q和扫描驱动信号GN的电位维持在参考低电位VSS。
本申请实施例中，在一个时钟周期中，上拉控制电路2011将测试节点Q拉升到4.5V(高电位)；上拉电路2012根据测试节点Q处的高电位将扫描驱动信号GN电位由低电位-3V拉升到高电位4V；级传电路2013则将当前GOA电路的高电位传递到下一级GOA电路；在扫描驱动信号GN经扫描驱动线传输至该行像素单元之后，下拉电路2014将测试节点Q和扫描驱动信号GN的电位下拉至参考低电位-3V；而下拉维持电路2015则在当前周期之后将测试节点Q和扫描驱动信号GN的电位维持在-3V(低电位)，使该级GOA电路无法继续控制该行像素单元的显示，直至下一个画面的显示。
本申请实施例中，图5所示的GOA电路中的测试节点Q的电位变化影响着扫描驱动信号GN的电位变化，进一步影响到该行中各个像素单元的图像显示。因此，当该级GOA电路对应的该行像素单元的图像显示出现不良时，测试节点 Q处的电位变化能够直观的反映出该级GOA电路是否出现故障或缺陷，因此，位于每条第一支路辅助线或第二支路辅助线正下方的电信号检测点即为每一级GOA电路中的测试节点Q。
如图6所示，其为图2所示的显示装置在故障100处进行检测的辅助线连接示意图。如图6所示，故障100处表征第一扫描驱动电路11a中的第N级GOA 电路出现问题，通过镭射将测试节点Q正对的第一支路辅助线处的辅助基底12 击穿，实现了第一辅助线电路FL中的第N条第一支路辅助线与该级GOA电路中的测试节点Q之间的电连接，之后，再将示波器连接至电路板21上的第一检测点L，即可实现对第N级GOA电路中测试节点Q的电位检测，之后，再根据电信号检测点(即测试节点Q)的电位波形来推断造成显示不良的原因。
如图7所示，其为图1所示的显示装置中的另一种阵列基板的平面结构示意图。如图7所示，阵列基板30中对应非显示区10b的区域内设置有第一扫描驱动电路和第二扫描驱动电路，第一扫描驱动电路和第二扫描驱动电路分别包括有m个级联的GOA电路，并经扫描驱动线输出对应的扫描驱动信号Gm至阵列基板20中对应显示区10a中的像素单元。进一步地，在第一扫描驱动电路和第二扫描驱动电路的正上方处还分别设有第一辅助线电路FL和第二辅助线电路FR，其中，第一辅助线电路FL与电路板31中的第一检测点L电性连接，第二辅助线电路FR与电路板31中的第二检测点R电性连接。
具体地，第一辅助线电路FL包括一条第一主辅助线，其中，且该条第一主辅助线在阵列基板30上的投影覆盖于第一扫描驱动电路中每级GOA电路的扫描驱动信号输出端，也即是，该条第一主辅助线位于第一扫描驱动电路中每级 GOA电路的扫描信号驱动输出端的正上方，扫描驱动信号输出端即为阵列基板 30的电信号检测点。
具体地，第二辅助线电路FR包括一条第二主辅助线，其中，且该条第二主辅助线在阵列基板30上的投影覆盖于第二扫描驱动电路中每级GOA电路的扫描驱动信号输出端，也即是，该条第二主辅助线位于第二扫描驱动电路中每级 GOA电路的扫描信号驱动输出端的正上方。
具体地，当第一扫描驱动电路或第二扫描驱动电路中的某一级的GOA电路缺陷导致显示区10a中的像素单元无法正常显示时，借助镭射的方式使第一辅助线电路FL或第二辅助线电路FR与该级GOA电路中的扫描信号驱动输出端形成电连接，之后，再将示波器连接至对电路板21中的第一检测点L或第二检测点R，即可实现对该级GOA电路中的扫描信号驱动输出端的信号检测。
本实施例的有益效果在于，通过分别设置于第一扫描驱动电路和第二扫描驱动电路上的第一辅助线电路FL和第二辅助线电路FR来对某一级发生故障的 GOA电路的扫描信号驱动输出端电位进行检测，之后，再根据电信号检测点(即扫描驱动信号输出端)的电位波形来推断造成显示不良的原因，避免了裂片检测可能造成的电路损害，拉升了阵列基板的检测效率，降低了检测成本。
进一步地，图3和图7所示两种阵列基板的平面结构均能在某一级GOA电路出现故障时进行检测，前者直接对GOA电路内部的测试节点Q进行电位检测，能够直观的显示出GOA电路内部的电位变化，后者直接对GOA电路的扫描驱动信号输出端的进行检测，具有更低的制造难度，二者均有其特有的应用场景，本申请实施例对此不做具体限定。
相较于现有技术，本申请提供的阵列基板中通过分别设于扫描驱动电路以及该扫描驱动电路上方的辅助线电路来对某一级发生故障的GOA电路中的测试节点Q或扫描驱动信号输出端的电位进行检测，之后，再根据测试节点Q或扫描驱动信号输出端的电位波形来推断造成显示不良的原因，避免了裂片检测可能造成的电路损害，拉升了阵列基板的检测效率，降低了检测成本。
应当理解的是，本实用新型的应用不限于上述的举例，对本领域普通技术人员来说，可以根据上述说明加以改进或变换，所有这些改进和变换都应属于本实用新型所附权利要求的保护范围。
Claims (10)
1.一种阵列基板，其特征在于，包括：
第一扫描驱动电路和第二扫描驱动电路，所述第一扫描驱动电路和所述第二扫描驱动电路分别设置于所述阵列基板的非显示区的区域内，且均包括多个级联的GOA电路；
第一辅助线电路和第二辅助线电路，所述第一辅助线电路和所述第二辅助线电路分别设置于所述第一扫描驱动电路和所述第二扫描驱动电路的正上方，所述第一辅助线电路和所述第二辅助线电路用于在任一级GOA电路出现故障时与出现故障的所述任一级GOA电路中的电信号检测点形成电连接。
2.根据权利要求1所述的阵列基板，其特征在于，所述电信号检测点为所述第一扫描驱动电路和所述第二扫描驱动电路中每一级GOA电路中的测试节点或扫描驱动信号输出端。
3.根据权利要求2所述的阵列基板，其特征在于，每一级GOA电路中的所述扫描驱动信号输出端用于将输出的扫描驱动信号经扫描驱动线传输至与所述扫描驱动线连接的像素单元，使所述像素单元出射光线。
4.根据权利要求3所述的阵列基板，其特征在于，所述第一辅助线电路包括第一主辅助线和多条第一支路辅助线，其中，所述第一支路辅助线的数量与所述第一扫描驱动电路中的GOA电路的数量相同，且每条所述第一支路辅助线位于相对应的该级GOA电路中的所述测试节点的正上方。
5.根据权利要求4所述的阵列基板，其特征在于，所述第二辅助线电路包括第二主辅助线和多条第二支路辅助线，其中，所述第二支路辅助线的数量与所述第二扫描驱动电路中的GOA电路的数量相同，且每条所述第二支路辅助线位于相对应的该级GOA电路中的所述测试节点的正上方。
6.根据权利要求5所述阵列基板，其特征在于，当所述第一扫描驱动电路或所述第二扫描驱动电路中的一级GOA电路出现故障时，通过镭射的方式使该级GOA电路中的所述测试节点与对应的所述第一支路辅助线或第二支路辅助线形成电连接，并将所述测试节点处的电信号传输至与所述第一辅助线连接的第一检测点或与所述第二辅助线连接的第二检测点。
7.根据权利要求3所述的阵列基板，其特征在于，所述第一辅助线电路包括一条第一主辅助线，且所述第一主辅助线在所述阵列基板上的投影覆盖所述第一扫描驱动电路中每级GOA电路的扫描驱动信号输出端。
8.根据权利要求7所述的阵列基板，其特征在于，所述第二辅助线电路包括一条第二主辅助线，且所述第二主辅助线在所述阵列基板上的投影覆盖所述第二扫描驱动电路中每级GOA电路的扫描驱动信号输出端。
9.根据权利要求8所述的阵列基板，其特征在于，当所述第一扫描驱动电路或所述第二扫描驱动电路中的一级GOA电路出现故障时，通过镭射的方式使所述GOA电路中的所述扫描驱动信号输出端与对应的所述第一主辅助线或所述第二主辅助线形成电连接，并将所述扫描驱动信号输出端处的电信号传输至与所述第一辅助线连接的第一检测点或与所述第二辅助线连接的第二检测点。
10.一种显示装置，其特征在于，包括权利要求1-9任意一项所述的阵列基板。
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| GR01 | Patent grant | ||
| GR01 | Patent grant | ||
| CP03 | Change of name, title or address | ||
| CP03 | Change of name, title or address |
Address after: 402760 No.69, Wushan Road, Biquan street, Bishan District, Chongqing Patentee after: Chongqing Kangjia Optoelectronic Technology Co.,Ltd. Country or region after: China Address before: 402760 No.69, Wushan Road, Biquan street, Bishan District, Chongqing Patentee before: Chongqing Kangjia Photoelectric Technology Research Institute Co.,Ltd. Country or region before: China |