CN114441100B - 液晶波片密封性检测方法、装置、电子设备及存储介质 - Google Patents
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Abstract
本公开提供一种液晶波片密封性检测方法、装置、电子设备及存储介质。其中包括对液晶波片进行预处理；将预处理后的液晶波片分别放入第一测样瓶和第二测样瓶中中进行浸泡，得到第一混晶残留样和第二混晶残留样；通过气相色谱‑质谱法对第一混晶残留样和第二混晶残留样进行分析，得到第一残留气相色谱图和第二残留气相色谱图；将第一残留气相色谱图和第二残留气相色谱图分别与预先得到的第一气相色谱图和第二气相色谱图进行叠加得到第一对比谱图和第二对比谱图；根据第一对比谱图和第二对比谱图确定液晶波片的密封性。上述方案，通过气相色谱‑质谱法进行分析，克服了现有液晶波片密封性检测技术中，液晶波片中密封胶对氦气的吸附性的影响。
Description
技术领域
本公开涉及密封性检测技术领域，尤其涉及一种液晶波片密封性检测方法、装置、电子设备及存储介质。
背景技术
液晶波片作为偏振调制器件，是航天设备单机能否实现磁场测量的核心技术。波片能使互相垂直的光产生附加的光程差，液晶波片通过电信号控制液晶波片开关的状态，从而控制不同方向的光的偏振态。液晶波片的偏振控制方法具有稳定性高、损耗低、成本低的优点。胶的密封作用是影响空间任务运行可靠性的重要因素之一。密封性不好的液晶波片除无法实现功能外，在使用过程可能产生污染，污染物可能黏附热控材料表面，也可能黏附于光学镜头表面，极易造成热控系统、光学系统等功能退化甚至失效。密封胶的涂覆和装配是影响液晶波片质量及可靠性的最关键步骤。
胶表面具有多孔性及吸附性，使胶对接近其表面的物质具有很强的吸附作用，能迅速吸附大气中的成分。传统的密封性检查方法是将液晶波片置于氦气中，胶对氦气的吸附性会对测试结果有影响，进而无法客观评价液晶波片的密封性。
发明内容
有鉴于此，本公开的目的在于提出一种液晶波片密封性检测方法、装置、电子设备及存储介质。
基于上述目的，本公开提供了一种液晶波片密封性检测方法，包括：
将预处理后的所述液晶波片分别放入第一测样瓶和第二测样瓶中进行浸泡，得到第一混晶残留样和第二混晶残留样；
通过气相色谱-质谱法对所述第一混晶残留样和所述第二混晶残留样进行分析，得到第一残留气相色谱图和第二残留气相色谱图；
将所述第一残留气相色谱图和所述第二残留气相色谱图分别与预先得到的第一气相色谱图和第二气相色谱图进行叠加，得到第一对比谱图和第二对比谱图；
根据所述第一对比谱图和所述第二对比谱图，确定液晶波片的密封性。
可选的，所述液晶波片的预处理，包括：
在真空环境中对所述液晶波片进行加压处理。
可选的，所述在真空环境中对所述液晶波片进行加压，包括：
对所述液晶波片增加3个大气压，加压时间为2小时。
可选的，所述将预处理后的所述液晶波片分别放入第一测样瓶和第二测样瓶进行浸泡，得到第一混晶残留样和第二混晶残留样，包括：
将预处理后的所述液晶波片封口端朝下放置在第一测样瓶和第二测样瓶中，并向第一测样瓶和第二测样瓶中加入正庚烷进行浸泡；
将所述液晶波片分别取出，得到的溶液即为所述第一混晶残留样和所述第二混晶残留样。
可选的，将所述第一残留气相色谱图和所述第二残留气相色谱图分别与预先得到的第一气相色谱图和第二气相色谱图进行叠加，得到第一对比谱图和第二对比谱图，包括：
制备第一混晶样品和第二混晶样品并通过气相色谱-质谱法分别对所述第一混晶样品和所述第二混晶样品进行分析，得到所述第一气相色谱图和所述第二气相色谱图。
可选的，所述第一混晶样品和所述第二混晶样品的制备过程，包括：
向第三测样瓶和第四测样瓶中分别加入混晶；
通过乙酸乙酯分别对所述第三测样瓶和所述第四测样瓶中的所述混晶进行溶解，得到所述第一混晶样品和所述第二混晶样品。
可选的，所述根据所述第一对比谱图和所述第二对比谱图，确定液晶波片的密封性，包括：
响应于确定所述第一对比谱图中，所述第一残留气相色谱图不存在与所述第一气相色谱图中相同的峰，则液晶波片密封良好，不存在泄露；
响应于确定所述第一对比谱图中，所述第一残留气相色谱图存在与所述第一气相色谱图中相同的峰，则液晶波片存在泄露；
响应于确定所述第二对比谱图中，所述第二残留气相色谱图不存在与所述第二气相色谱图中相同的峰，则液晶波片密封良好，不存在泄露；
响应于确定所述第二对比谱图中，所述第二残留气相色谱图存在与所述第二气相色谱图中相同的峰，则液晶波片存在泄露。
基于同一种发明构思，本说明书一个或多个实施例还提供了一种液晶波片密封性检测装置，包括：
反应模块，被配置为将预处理后的所述液晶波片分别放入第一测样瓶和第二测样瓶中进行浸泡，得到第一混晶残留样和第二混晶残留样；
分析模块，被配置为通过气相色谱-质谱法对所述第一混晶残留样和所述第二混晶残留样进行分析，得到第一残留气相色谱图和第二残留气相色谱图；
叠加模块，被配置为将所述第一残留气相色谱图和所述第二残留气相色谱图分别与预先得到的第一气相色谱图和第二气相色谱图进行叠加，得到第一对比谱图和第二对比谱图；
检测模块，被配置为根据所述第一对比谱图和所述第二对比谱图，确定液晶波片的密封性。
基于同一种发明构思，本说明书一个或多个实施例还提供了一种电子设备，包括存储器、处理器及存储在存储器上并可在处理器上运行的计算机程序，所述处理器执行所述程序时实现如上任意一项所述的方法。
基于同一种发明构思，本说明书一个或多个实施例还提供了一种非暂态计算机可读存储介质，所述非暂态计算机可读存储介质存储计算机指令，所述计算机指令用于使计算机执行如上任意一项所述方法。
从上面所述可以看出，本公开提供的液晶波片密封性检测方法、装置、电子设备及存储介质。其中，液晶波片密封性检测方法，首先，配制第一混晶样品和第二混晶样品，并通通过气相色谱-质谱法对第一混晶样品和第二混晶样品进行分析，得到第一气相色谱图和第二气相色谱图；然后，对液晶波片进行浸泡得到第一混晶残留样和第二混晶残留样，并通过气相色谱-质谱法对第一混晶样品和第二混晶样品进行分析，得到第一气相色谱图和第二气相色谱图；通过气相色谱-质谱法对第一混晶残留样和第二混晶残留样进行分析，得到第一残留气相色谱图和第二残留气相色谱图；最后，将第一气相色谱图和第二气相色谱图分别与第一残留气相色谱图和第二残留气相色谱图进行比对，确定液晶波片的密封性。上述方案，通过气相色谱-质谱法进行分析，克服了现有液晶波片密封性检测技术中，液晶波片中密封胶对氦气的吸附性的影响。
附图说明
为了更清楚地说明本公开或相关技术中的技术方案，下面将对实施例或相关技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本公开的实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
图1为本公开实施例的液晶波片密封性检测方法流程示意图；
图2为本公开实施例的液晶波片的外观形貌图；
图3为本公开实施例的第一混晶残留样的气相色谱-质谱分析谱图；
图4为本公开实施例的第二混晶残留样的气相色谱-质谱分析谱图；
图5为本公开实施例的第一混晶样品的气相色谱-质谱分析谱图；
图6为本公开实施例的第二混晶样品的气相色谱-质谱分析谱图；
图7为本公开实施例的第一对比谱图；
图8为本公开实施例的第二对比谱图；
图9为本公开实施例的液晶波片密封性检测装置示意图；
图10为本公开实施例的电子设备结构示意图。
具体实施方式
为使本公开的目的、技术方案和优点更加清楚明白，以下结合具体实施例，并参照附图，对本公开进一步详细说明。
需要说明的是，除非另外定义，本公开实施例使用的技术术语或者科学术语应当为本公开所属领域内具有一般技能的人士所理解的通常意义。本公开实施例中使用的“第一”、“第二”以及类似的词语并不表示任何顺序、数量或者重要性，而只是用来区分不同的组成部分。“包括”或者“包含”等类似的词语意指出现该词前面的元件或者物件涵盖出现在该词后面列举的元件或者物件及其等同，而不排除其他元件或者物件。
如背景技术部分所述，液晶波片通过电信号控制液晶波片开关的状态，从而控制不同方向的光的偏振态；而密封性不好的液晶波片除无法实现功能外，在使用过程可能产生污染，污染物可能黏附热控材料表面，也可能黏附于光学镜头表面，极易造成热控系统、光学系统等功能退化甚至失效。因此，保证液晶波片的密封性，才可以更好的保证液晶波片在实际使用过程中的性能。然而，现有的液晶波片密封性检测的方法中液晶波片中含有的密封胶会对用于密封检测的氦气的吸附性会对测试结果产生影响，导致检测结果不准确，无法客观评价液晶波片的密封性。
有鉴于此，本公开实施例提供了一种液晶波片密封性检测方法、装置、电子设备及存储介质。
具体的，参考图1，所述液晶波片密封性检测方法包括：
步骤S101、将预处理后的所述液晶波片分别放入第一测样瓶和第二测样瓶中进行浸泡，得到第一混晶残留样和第二混晶残留样。
在本公开实施方式中，对所述液晶波片进行预处理包括：在将液晶波片放入测样瓶之前先对液晶波片进行加压处理，加压处理具体可以为：在真空环境中增加3个大气压，加压时间为2小时。
在一些实施方式中，为了对不同种类的液晶波片进行处理，可以进行加压或减压处理，其中，在加压处理中可以增加4个大气压或5个大气压或任意大小的大气压，加压的时间也可以根据液晶波片的种类的不同而设置合适的时间，可以为3、4、5…n个小时。可以理解的是，当申请人对加压的大气压的数量和加压的时间进行调整均在本公开的保护范围内。
在一些实施方式中，对液晶波片进行加压处理可以测试液晶波片的抗压能力，主要原因为液晶波片在加压后，用于对液晶波片进行密封的胶更容易溢出，胶的溢出会降低液晶波片的密封强度，导致液晶波片出现晶体泄漏，从而影响液晶波片的性能。
在本公开实施方式中，对液晶波片进行加压处理后，将液晶波片分别放入存放有预先配制的第一混晶样品和第二混晶样品的第一测样瓶和第二测样瓶中后，再向第一测样瓶和第二测样瓶中加入分析纯的正庚烷后，对第一混晶样品和第二混晶样品进行浸泡，达到预设浸泡时间后取出液晶波片，则可以得到含有第一混晶残留样和第二混晶残留样的溶液。其中，第一测样瓶和第二测样瓶中加入的分析纯的正庚烷的含量为25ml，浸泡的时间为5分钟。
在一些实施方式中，第一测样瓶和第二测样瓶中加入的分析纯的正庚烷的含量为可以为20ml或30ml，也可以为其他符合当前要求的其他含量，均在本公开的保护范围。浸泡的时间也可以为除5分钟之外的其他时长，例如，可以根据不同类型的液晶波片设置比5分钟更久或更少的时间，例如6或7或8或4或3分钟，均在本公开的保护范围。
在一些实施方式中，盛放第一混晶样品和第二混晶样品的测样瓶为250ml的烧杯。
在一些实施方式中，液晶波片的制作过程包括：采用双层制备玻璃叠封后注入液晶再密封的工艺进行封装，外部导电镀层粘贴导电金属条作为电极。其主要工艺流程包括：首先对基片进行清洗、印刷、膜固化、摩擦取向、隔垫层制备、边框胶印刷、粘合、边框胶固化、灌晶、调盒和封口等。完成制作后通过外观检查该液晶波片是否密封完整、未见明显异常，液晶波片的外观形貌如图2所示，为两侧有明显侧边，中间为网格形状的正方形。
在一些实施方式中，在取出液晶波片后，将第一测样瓶和第二测样瓶中的第一混晶残留样和第二混晶残留样移至预先准备的25ml的容量瓶中，并且，在完成转移后通过正庚烷对第一混晶残留样和第二混晶残留样进行定容。
在一些实施方式中，当液晶波片存在密封不完整的情况时，若将液晶波片放置在特定溶液内进行浸泡，则会出现液晶波片内的物质从密封不完整的地方泄漏出来，当液晶波片从测样瓶中取出后，通过密封不完整的地方泄漏出来仍然会留存在测试瓶的溶液中，通过对测试瓶中的溶液进行测试，则可以判断液晶波片是否存在泄漏。
步骤S102、通过气相色谱-质谱法对所述第一混晶残留样和所述第二混晶残留样进行分析，得到第一残留气相色谱图和第二残留气相色谱图。
在本公开实施方式中，参考图3以及图4分别为第一残留气相色谱图和第二残留气相色谱图。其中，在图3和图4中，横轴为保留时间，竖轴为强度，图3中曲线为不同时间下的第一混晶残留样的浓度或数量，图4中曲线为不同时间下的第二混晶残留样的浓度或数量。
步骤S103、将所述第一残留气相色谱图和所述第二残留气相色谱图分别与预先得到的第一气相色谱图和第二气相色谱图进行叠加，得到第一对比谱图和第二对比谱图。
在本公开实施方式中，首先制备第一混晶样品和第二混晶样品，然后通过气相色谱-质谱法分别对制备好的第一混晶样品和第二混晶样品进行分析，得到如图5和图6所示的第一气相色谱图和第二气相色谱图。其中，第一混晶样品和第二混晶样品的制备过程，包括：首先，向第三测样瓶和第四测样瓶中分别加入混晶；然后通过乙酸乙酯分别对所述第三测样瓶和所述第四测样瓶中的所述混晶进行溶解，得到所述第一混晶样品和所述第二混晶样品。
在本公开实施方式中，预先得到的第一气相色谱图和第二气相色谱图为通过气相色谱-质谱法对第一混晶样品和第二混晶样品进分析得到；参考图5以及图6，为预先得到的第一气相色谱图和第二气相色谱图的峰值示意图，横轴为保留时间，竖轴为强度，由图5可知，第一气相色谱图中明显有10个峰，其中，每一个峰代表一种单体液晶，因此，第一混晶样品由至少10种单体液晶构成。由图6可知，第二混晶样品包括16种单体液晶，包括主要单体液晶11种。其中，每一个峰代表一种单体液晶，因此，第二混晶样品由至少11种单体液晶构成。参考表1和表2分别为第一混晶残留样和第二混晶残留样中分别含有的单体液晶的峰值信息，表1和表2中包括：峰的个数信息、出峰时间的记录、峰的面积信息、峰面积总和占比信息、峰高以及峰高总和的占比信息，其中，峰面积总和占比信息为单个峰面积占所有峰的总面积的比例；峰高总和的占比信息为单个峰的高度占所有峰的总高度的比例。
表1第一混晶残留样峰值信息
| 峰 | 出峰时间 | 面积 | 峰面积总和％ | 峰高 | 峰高总和％ |
| 1 | 8.318 | 204095490 | 15.1 | 33811107.94 | 15.83 |
| 2 | 8.851 | 127504420 | 9.43 | 12168926.53 | 5.70 |
| 3 | 10.311 | 198558093.8 | 14.69 | 31555399 | 14.77 |
| 4 | 11.642 | 207377164.9 | 15.34 | 28128153.69 | 13.17 |
| 5 | 12.124 | 175270061 | 12.97 | 29252889.1 | 13.70 |
| 6 | 14.146 | 203695412.6 | 15.07 | 33509680.31 | 15.69 |
| 7 | 14.576 | 55808456.31 | 4.13 | 14243783.42 | 6.67 |
| 8 | 16.169 | 61205764.69 | 4.53 | 16340518.07 | 7.65 |
| 9 | 16.325 | 66715942.38 | 4.94 | 9234545.05 | 4.32 |
| 10 | 17.454 | 51593625.5 | 3.82 | 5355164.75 | 2.51 |
表2第二混晶残留样峰值信息
进一步的，将第一气相色谱图和第二气相色谱图与第一残留气相色谱图和第二残留气相色谱图分别进行叠加，也就是将第一残留气相色谱图和第一气相色谱图进行叠加，将第二残留气相色谱图和第二气相色谱图进行叠加，得到如图7和图8所示的第一对比谱图和第二对比谱图。
步骤S104、根据所述第一对比谱图和所述第二对比谱图，确定液晶波片的密封性。
在本公开实施方式中，响应于确定所述第一对比谱图中，所述第一残留气相色谱图不存在与所述第一气相色谱图中相同的峰，则液晶波片密封良好，不存在泄露；响应于确定所述第一对比谱图中，所述第一残留气相色谱图存在与所述第一气相色谱图中相同的峰，则液晶波片存在泄露；响应于确定所述第二对比谱图中，所述第二残留气相色谱图不存在与所述第二气相色谱图中相同的峰，则液晶波片密封良好，不存在泄露；响应于确定所述第二对比谱图中，所述第二残留气相色谱图存在与所述第二气相色谱图中相同的峰，则液晶波片存在泄露。
在一些实施方式中，参考图7和图8为将第一气相色谱图和第二气相色谱图与第一残留气相色谱图和第二残留气相色谱图分别进行叠加，得到的第一对比谱图和所述第二对比谱图。其中，横轴为保留时间，竖轴为强度，浅色曲线分别为第一混晶残留样和第二混晶残留样所对应的残留气相色谱图，深色折线为第一混晶样品和所述第二混晶样品所对应的气相色谱图。由图5和图6已知每一个峰代表混晶中的一种单体液晶，而在图7和图8所示的第一对比谱图和第二对比谱图中，代表第一混晶残留样和第二混晶残留样所对应的残留气相色谱图的浅色曲线并不存在峰值。由此可知，第一混晶残留样中不存在第一混晶样品中存在的任何一种液晶单体，同样第二混晶残留样中也不存在第二混晶样品中存在的任何一种液晶单体，因此，可以判定液晶波片密封完整，并不存在物质泄漏的情况。
在一些实施方式中，本公开的密封性检查方法可以用于各种通过胶进行密封的液晶波片。
从上面所述可以看出，本公开提供的液晶波片密封性检测方法、装置、电子设备及存储介质。其中，液晶波片密封性检测方法，首先，配制第一混晶样品和第二混晶样品，并通过气相色谱-质谱法对第一混晶样品和第二混晶样品进行分析，得到第一气相色谱图和第二气相色谱图；然后，对液晶波片进行浸泡得到第一混晶残留样和第二混晶残留样，并通过气相色谱-质谱法对第一混晶样品和第二混晶样品进行分析，得到第一气相色谱图和第二气相色谱图；通过气相色谱-质谱法对第一混晶残留样和第二混晶残留样进行分析，得到第一残留气相色谱图和第二残留气相色谱图；最后，将第一气相色谱图和第二气相色谱图分别与第一残留气相色谱图和第二残留气相色谱图进行比对，确定液晶波片的密封性。上述方案，通过气相色谱-质谱法进行分析，克服了现有液晶波片密封性检测技术中，液晶波片中密封胶对氦气的吸附性的影响。
需要说明的是，本公开实施例的方法可以由单个设备执行，例如一台计算机或服务器等。本实施例的方法也可以应用于分布式场景下，由多台设备相互配合来完成。在这种分布式场景的情况下，这多台设备中的一台设备可以只执行本公开实施例的方法中的某一个或多个步骤，这多台设备相互之间会进行交互以完成所述的方法。
需要说明的是，上述对本公开的一些实施例进行了描述。其它实施例在所附权利要求书的范围内。在一些情况下，在权利要求书中记载的动作或步骤可以按照不同于上述实施例中的顺序来执行并且仍然可以实现期望的结果。另外，在附图中描绘的过程不一定要求示出的特定顺序或者连续顺序才能实现期望的结果。在某些实施方式中，多任务处理和并行处理也是可以的或者可能是有利的。
基于同一发明构思，与上述任意实施例方法相对应的，本公开还提供了一种液晶波片密封性检测装置。
参考图9，所述液晶波片密封性检测装置，包括：
反应模块901，被配置为将预处理后的所述液晶波片分别放入预先配制的所述第一混晶样品和所述第二混晶样品中进行浸泡，得到第一混晶残留样和第二混晶残留样；
分析模块902，被配置为通过气相色谱-质谱法对所述第一混晶残留样和所述第二混晶残留样进行分析，得到第一残留气相色谱图和第二残留气相色谱图；
叠加模块903，被配置为将所述第一残留气相色谱图和所述第二残留气相色谱图分别与预先得到的第一气相色谱图和第二气相色谱图进行叠加，得到第一对比谱图和第二对比谱图；
检测模块904，被配置为根据所述第一对比谱图和所述第二对比谱图，确定液晶波片的密封性。
为了描述的方便，描述以上装置时以功能分为各种模块分别描述。当然，在实施本公开时可以把各模块的功能在同一个或多个软件和/或硬件中实现。
上述实施例的装置用于实现前述任一实施例中相应的液晶波片密封性检测方法，并且具有相应的方法实施例的有益效果，在此不再赘述。
基于同一发明构思，与上述任意实施例方法相对应的，本公开还提供了一种电子设备，包括存储器、处理器及存储在存储器上并可在处理器上运行的计算机程序，所述处理器执行所述程序时实现上任意一实施例所述的液晶波片密封性检测方法。
图10示出了本实施例所提供的一种更为具体的电子设备硬件结构示意图，该设备可以包括：处理器1010、存储器1020、输入/输出接口1030、通信接口1040和总线1050。其中处理器1010、存储器1020、输入/输出接口1030和通信接口1040通过总线1050实现彼此之间在设备内部的通信连接。
处理器1010可以采用通用的CPU(Central Processing Unit，中央处理器)、微处理器、应用专用集成电路(Application Specific Integrated Circuit，ASIC)、或者一个或多个集成电路等方式实现，用于执行相关程序，以实现本说明书实施例所提供的技术方案。
存储器1020可以采用ROM(Read Only Memory，只读存储器)、RAM(Random AccessMemory，随机存取存储器)、静态存储设备，动态存储设备等形式实现。存储器1020可以存储操作系统和其他应用程序，在通过软件或者固件来实现本说明书实施例所提供的技术方案时，相关的程序代码保存在存储器1020中，并由处理器1010来调用执行。
输入/输出接口1030用于连接输入/输出模块，以实现信息输入及输出。输入输出/模块可以作为组件配置在设备中(图中未示出)，也可以外接于设备以提供相应功能。其中输入设备可以包括键盘、鼠标、触摸屏、麦克风、各类传感器等，输出设备可以包括显示器、扬声器、振动器、指示灯等。
通信接口1040用于连接通信模块(图中未示出)，以实现本设备与其他设备的通信交互。其中通信模块可以通过有线方式(例如USB、网线等)实现通信，也可以通过无线方式(例如移动网络、WIFI、蓝牙等)实现通信。
总线1050包括一通路，在设备的各个组件(例如处理器1010、存储器1020、输入/输出接口1030和通信接口1040)之间传输信息。
需要说明的是，尽管上述设备仅示出了处理器1010、存储器1020、输入/输出接口1030、通信接口1040以及总线1050，但是在具体实施过程中，该设备还可以包括实现正常运行所必需的其他组件。此外，本领域的技术人员可以理解的是，上述设备中也可以仅包含实现本说明书实施例方案所必需的组件，而不必包含图中所示的全部组件。
上述实施例的电子设备用于实现前述任一实施例中相应的液晶波片密封性检测方法，并且具有相应的方法实施例的有益效果，在此不再赘述。
基于同一发明构思，与上述任意实施例方法相对应的，本公开还提供了一种非暂态计算机可读存储介质，所述非暂态计算机可读存储介质存储计算机指令，所述计算机指令用于使所述计算机执行如上任一实施例所述的液晶波片密封性检测方法。
本实施例的计算机可读介质包括永久性和非永久性、可移动和非可移动媒体可以由任何方法或技术来实现信息存储。信息可以是计算机可读指令、数据结构、程序的模块或其他数据。计算机的存储介质的例子包括，但不限于相变内存(PRAM)、静态随机存取存储器(SRAM)、动态随机存取存储器(DRAM)、其他类型的随机存取存储器(RAM)、只读存储器(ROM)、电可擦除可编程只读存储器(EEPROM)、快闪记忆体或其他内存技术、只读光盘只读存储器(CD-ROM)、数字多功能光盘(DVD)或其他光学存储、磁盒式磁带，磁带磁磁盘存储或其他磁性存储设备或任何其他非传输介质，可用于存储可以被计算设备访问的信息。
上述实施例的存储介质存储的计算机指令用于使所述计算机执行如上任一实施例所述的液晶波片密封性检测方法，并且具有相应的方法实施例的有益效果，在此不再赘述。
所属领域的普通技术人员应当理解：以上任何实施例的讨论仅为示例性的，并非旨在暗示本公开的范围(包括权利要求)被限于这些例子；在本公开的思路下，以上实施例或者不同实施例中的技术特征之间也可以进行组合，步骤可以以任意顺序实现，并存在如上所述的本公开实施例的不同方面的许多其它变化，为了简明它们没有在细节中提供。
另外，为简化说明和讨论，并且为了不会使本公开实施例难以理解，在所提供的附图中可以示出或可以不示出与集成电路(IC)芯片和其它部件的公知的电源/接地连接。此外，可以以框图的形式示出装置，以便避免使本公开实施例难以理解，并且这也考虑了以下事实，即关于这些框图装置的实施方式的细节是高度取决于将要实施本公开实施例的平台的(即，这些细节应当完全处于本领域技术人员的理解范围内)。在阐述了具体细节(例如，电路)以描述本公开的示例性实施例的情况下，对本领域技术人员来说显而易见的是，可以在没有这些具体细节的情况下或者这些具体细节有变化的情况下实施本公开实施例。因此，这些描述应被认为是说明性的而不是限制性的。
尽管已经结合了本公开的具体实施例对本公开进行了描述，但是根据前面的描述，这些实施例的很多替换、修改和变型对本领域普通技术人员来说将是显而易见的。例如，其它存储器架构(例如，动态RAM(DRAM))可以使用所讨论的实施例。
本公开实施例旨在涵盖落入所附权利要求的宽泛范围之内的所有这样的替换、修改和变型。因此，凡在本公开实施例的精神和原则之内，所做的任何省略、修改、等同替换、改进等，均应包含在本公开的保护范围之内。
Claims (9)
1.一种液晶波片密封性检测方法，包括：
将预处理后的所述液晶波片分别放入第一测样瓶和第二测样瓶中进行浸泡，得到第一混晶残留样和第二混晶残留样；
通过气相色谱-质谱法对所述第一混晶残留样和所述第二混晶残留样进行分析，得到第一残留气相色谱图和第二残留气相色谱图；
将所述第一残留气相色谱图和所述第二残留气相色谱图分别与预先得到的第一气相色谱图和第二气相色谱图进行叠加，得到第一对比谱图和第二对比谱图；其中，所述第一气相色谱图和所述第二气相色谱图通过如下方法确定：制备第一混晶样品和第二混晶样品并通过气相色谱-质谱法分别对所述第一混晶样品和所述第二混晶样品进行分析，得到所述第一气相色谱图和所述第二气相色谱图；
根据所述第一对比谱图和所述第二对比谱图，确定液晶波片的密封性。
2.根据权利要求1所述的检测方法，其中，所述液晶波片的预处理，包括：
对所述液晶波片进行加压处理。
3.根据权利要求2所述的检测方法，其中，所述对所述液晶波片进行加压处理，包括：
对所述液晶波片增加3个大气压，加压时间为2小时。
4.根据权利要求1所述的检测方法，其中，所述将预处理后的所述液晶波片分别放入第一测样瓶和第二测样瓶中进行浸泡，得到第一混晶残留样和第二混晶残留样，包括：
将预处理后的所述液晶波片封口端朝下放置在第一测样瓶和第二测样瓶中，并向第一测样瓶和第二测样瓶中加入正庚烷进行浸泡；将所述液晶波片分别取出，得到的溶液即为所述第一混晶残留样和所述第二混晶残留样。
5.根据权利要求1所述的检测方法，其中，所述第一混晶样品和所述第二混晶样品的制备过程，包括：
向第三测样瓶和第四测样瓶中分别加入混晶；
通过乙酸乙酯分别对所述第三测样瓶和所述第四测样瓶中的所述混晶进行溶解，得到所述第一混晶样品和所述第二混晶样品。
6.根据权利要求1所述的检测方法，其中，所述根据所述第一对比谱图和所述第二对比谱图，确定液晶波片的密封性，包括：
响应于确定所述第一对比谱图中，所述第一残留气相色谱图不存在与所述第一气相色谱图中相同的峰，则所述液晶波片密封良好，不存在泄露；
响应于确定所述第一对比谱图中，所述第一残留气相色谱图存在与所述第一气相色谱图中相同的峰，则所述液晶波片存在泄露；
响应于确定所述第二对比谱图中，所述第二残留气相色谱图不存在与所述第二气相色谱图中相同的峰，则所述液晶波片密封良好，不存在泄露；
响应于确定所述第二对比谱图中，所述第二残留气相色谱图存在与所述第二气相色谱图中相同的峰，则所述液晶波片存在泄露。
7.一种液晶波片密封性检测装置，包括：
反应模块，被配置为将预处理后的所述液晶波片分别放入第一测样瓶和第二测样瓶中进行浸泡，得到第一混晶残留样和第二混晶残留样；
分析模块，被配置为通过气相色谱-质谱法对所述第一混晶残留样和所述第二混晶残留样进行分析，得到第一残留气相色谱图和第二残留气相色谱图；
叠加模块，被配置为将所述第一残留气相色谱图和所述第二残留气相色谱图分别与预先得到的第一气相色谱图和第二气相色谱图进行叠加，得到第一对比谱图和第二对比谱图；其中，所述第一气相色谱图和所述第二气相色谱图通过如下方法确定：制备第一混晶样品和第二混晶样品并通过气相色谱-质谱法分别对所述第一混晶样品和所述第二混晶样品进行分析，得到所述第一气相色谱图和所述第二气相色谱图；
检测模块，被配置为根据所述第一对比谱图和所述第二对比谱图，确定液晶波片的密封性。
8.一种电子设备，包括存储器、处理器及存储在存储器上并可在处理器上运行的计算机程序，所述处理器执行所述程序时实现如上权利要求1至6中任意一项所述的方法。
9.一种非暂态计算机可读存储介质，所述非暂态计算机可读存储介质存储计算机指令，所述计算机指令用于使计算机执行权利要求1至6中任意一项所述方法。
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