CN114383499A - 一种采用激光线阵手段全尺寸测量瓷砖的方法 - Google Patents
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Abstract
本发明提供一种采用激光线阵手段全尺寸测量瓷砖的方法，利用线阵激光系统对生产线上的瓷砖全尺寸扫描，生成待测瓷砖的三维点云数据，并利用参考面的三维点云进行振动模拟滤波对待测物的三维点云数据就行修正，获得待测瓷砖的全尺寸数据。本发明提供方法采用一组或多组线阵激光测量传感器，采用线扫描方式对瓷砖进行三维尺寸扫描，在精度、易用性、便捷维护性等多个方面进行全方位提升，实现尺寸测量设备全自动化，可个性自定义化，可通过一次扫描获得尺寸、平整度等测量结果。该方法对于成熟产品线换型，不需要调机及专业技术人员的维护；该方法可在选择区域内进行大范围的数据比对，可大大提高测量的准确性。
Description
技术领域
本发明提供了一种采用激光线阵手段全尺寸测量瓷砖的方法，属于检测方法技术领域。
背景技术
中国是世界上最早应用陶器的国家之一，而中国瓷器因其极高的实用性和艺术性而备受世人的推崇，故中国陶瓷的产量极高，广泛应用于各大领域，陶瓷通常是经过配料、成型、干燥、焙烧等工艺流程制成。随着工业化生产的发展，出现了自动化陶瓷产线，传统的辊道窑采用预热、烧成、退火三段连成一条产线生产发泡陶瓷，粉料从窑头入窑，依次经过以上各段，出窑时即为成品。
随着自动化产线的出现的同时，许多半自动化线上检测设备应运而生。当前陶瓷产线上所用设备分为尺寸检测设备和平整度检测设备，存在五方面的重要问题：第一，测量指标上，仅能实现GB3810.2陶瓷尺寸检测的部分要求，无法测量边弯曲度和翘曲度和边直度等。第二，两种测量设备均为半自动化设备，线体需要经常切换产品大小，需要专业技术人员对设备进行调机，调机难度较大，很多使用现场都是闲置状态，并未实际使用，还是采用人工方法进行测量。第三，当需要全面尺寸检测时，又分为两个设备，不能同时实现，对生产厂家本身节拍存在加长。第四，测量精度方面，常规测量使用局部点位尺寸进行数据合成平均，不能代表选择范围内的真实平均值。第五，现有测试方法，采用两点式或三点式采样测量，针对流水线的振动无法做到过滤，将大大影响测量结果的准确性。
发明内容
技术问题：为了解决现有技术的缺陷，本发明提供了一种采用激光线阵手段全尺寸测量瓷砖的方法。
技术方案：本发明提供一种采用激光线阵手段全尺寸测量瓷砖的方法，利用线阵激光系统对生产线上的瓷砖全尺寸扫描，生成待测瓷砖的三维点云数据，并利用参考面的三维点云进行振动模拟滤波对待测物的三维点云数据就行修正，获得待测瓷砖的全尺寸数据。
作为改进，该采用激光线阵手段全尺寸测量瓷砖的方法，包括以下步骤：
(1)利用线阵激光系统的线阵激光发射器产生线阵激光，利用线阵激光系统的光电探测器采集数据，采集生产线传送带的振动曲线；
(2)瓷砖在生产线上陆续通过，利用线阵激光系统的线阵激光发射器产生线阵激光，利用线阵激光系统的光电探测器采集数据，用线性的方式对生产线上的瓷砖全尺寸扫描，形成待测瓷砖的三维点云数据；
(3)利用生产线传送带的振动曲线对待测瓷砖的三维点云数据进行修正，形成修正后的待测瓷砖的三维点云数据。
步骤(3)中，根据修正后的待测瓷砖的三维点云数据，生成尺寸、平整度、边直度等参数。
有益效果：本发明提供方法采用一组或多组线阵激光测量传感器，采用线扫描方式对瓷砖进行三维尺寸扫描，在精度、易用性、便捷维护性等多个方面进行全方位提升，实现尺寸测量设备全自动化，可个性自定义化，可通过一次扫描获得尺寸、平整度等测量结果。该方法线激光覆盖宽度方向可至100mm-700mm，而且可以通过模块拼接的方式，实现宽度扩充，灵活使用，对于成熟产品线换型，不需要调机及专业技术人员的维护；该方法可在选择区域内进行大范围的数据比对，可大大提高测量的准确性。
附图说明
图1为本发明采用激光线阵手段全尺寸测量瓷砖的方法示意图；其中，1为线阵激光发射器，2为光电探测器，3为传送带，4为待测瓷砖。
具体实施方式
下面对本发明作出进一步说明。
采用激光线阵手段全尺寸测量瓷砖的方法，利用线阵激光系统对生产线上的瓷砖全尺寸扫描，生成待测瓷砖的三维点云数据，并利用参考面的三维点云进行振动模拟滤波对待测物的三维点云数据就行修正，获得待测瓷砖的全尺寸数据。
作为改进，该采用激光线阵手段全尺寸测量瓷砖的方法，包括以下步骤：
(1)利用线阵激光系统的线阵激光发射器产生线阵激光，利用线阵激光系统的光电探测器采集数据，采集生产线传送带的振动曲线；
(2)瓷砖在生产线上陆续通过，利用线阵激光系统的线阵激光发射器产生线阵激光，利用线阵激光系统的光电探测器采集数据，用线性的方式对生产线上的瓷砖全尺寸扫描，形成待测瓷砖的三维点云数据；
(3)利用生产线传送带的振动曲线对待测瓷砖的三维点云数据进行修正，形成修正后的待测瓷砖的三维点云数据。
步骤(3)中，根据修正后的待测瓷砖的三维点云数据，生成尺寸、平整度、边直度等参数。
以上所述实施例仅表达了本发明的几种实施方式，其描述较为具体和详细，但并不能因此而理解为对发明专利范围的限制。应当指出的是，对于本领域的普通技术人员来说，在不脱离本发明构思的前提下，还可以做出若干变形和改进，这些都属于本发明的保护范围。因此，本发明专利的保护范围应以所附权利要求为准。
Claims (3)
1.一种采用激光线阵手段全尺寸测量瓷砖的方法，其特征在于：利用线阵激光系统对生产线上的瓷砖全尺寸扫描，生成待测瓷砖的三维点云数据，并利用参考面的三维点云进行振动模拟滤波对待测物的三维点云数据就行修正，获得待测瓷砖的全尺寸数据。
2.根据权利要求1所述的一种采用激光线阵手段全尺寸测量瓷砖的方法，其特征在于：包括以下步骤：
（1）利用线阵激光系统的线阵激光发射器产生线阵激光，利用线阵激光系统的光电探测器采集数据，采集生产线传送带的振动曲线；
（2）瓷砖在生产线上陆续通过，利用线阵激光系统的线阵激光发射器产生线阵激光，利用线阵激光系统的光电探测器采集数据，用线性的方式对生产线上的瓷砖全尺寸扫描，形成待测瓷砖的三维点云数据；
（3）利用生产线传送带的振动曲线对待测瓷砖的三维点云数据进行修正，形成修正后的待测瓷砖的三维点云数据。
3.根据权利要求2所述的一种采用激光线阵手段全尺寸测量瓷砖的方法，其特征在于：步骤（3）中，根据修正后的待测瓷砖的三维点云数据，生成尺寸、平整度、边直度等参数。
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