CN114370964A - 一种基于压力补偿的保压检测装置及其检测方法 - Google Patents

Abstract

本发明公开了一种基于压力补偿的保压检测装置及其检测方法，包括移载机构、保压机构、出料机构、检测机构，所述保压机构包括基座、压头组件、砝码件、压力传感器，所述基座所在的下端部设置为开孔结构，同时通过压头组件阵列分布在基座下端部的开孔上，且每组压头组件所在的上方竖向设置衬套，所述压力传感器置于压头组件与砝码支柱之间，并在所述砝码支柱的顶部套设砝码件，且所述基座沿底部设置的定位架横向滑动，通过保压机构对载具件进行保压操作。本装置通过压力传感器监控保压的压力输出，据数据统计成品的良率大大提高，不良品出现的数量降低80％，提高了生产效率，降低了原材料的浪费，提高材料的利用率。

Description

一种基于压力补偿的保压检测装置及其检测方法

技术领域

本发明属于保压检测技术领域，具体涉及一种基于压力补偿的保压检测装置及其检测方法。

背景技术

现在市场上晶片作为芯片的基板原料，在使用时，对于电子元器件在生产特别是分装环节的把控越来越严格。

在以往的生产过程中，保压环节无压力检测，只是进行保压动作，无法时时监控保压时的真实压力，存在保压压力不达标的风险，从而导致产品的良率下降；极限不良情况的发生，严重影响整条生产的良率(例如：某个保压压头上下运行不滑畅，生产过程中人很难发现，当到最后发现产品不良时，会出现一批不良品，导致大批量不良品的出现)。

发明内容

针对现有技术的不足，本发明的目的在于提供一种基于压力补偿的保压检测装置及其检测方法，解决了现有技术中存在的上述技术问题。

本发明的目的可以通过以下技术方案实现：

一种基于压力补偿的保压检测装置，包括移载机构、保压机构、出料机构、检测机构，所述移载机构包括横向设置的第一滑道、以及滑动设置在第一滑道上的第一承载台，所述承载台上盛放有载具件，并将载具件送至保压机构上；

所述保压机构包括基座、压头组件、砝码件、压力传感器，所述基座所在的下端部设置为开孔结构，同时通过压头组件阵列分布在基座下端部的开孔上，且每组压头组件所在的上方竖向设置衬套，所述压力传感器置于压头组件与砝码支柱之间，并在所述砝码支柱的顶部套设砝码件，且所述基座沿底部设置的定位架横向滑动，通过保压机构对载具件进行保压操作；

所述出料机构包括横向设置的第二滑道、以及滑动设置在第二滑道上的第二承载台，所述第二承载台将保压后的载具件转移至检测机构下方检测后送出；

所述检测机构包括横向滑道、伺服电机、检测相机，所述滑道固定在出料机构的端部，同时检测相机固定在伺服电机所在的下方位置，并通过所述检测相机对出料机构上的出料机构进行定位检测。

进一步的，所述基座底部两侧位置分别设置有万向轮，所述万向轮为并列且上下对称的两对设置，使所述基座整体沿定位架横向方向的内侧滑动。

进一步的，所述压头组件整列设置的位置与载具件所在上方的定位孔一一对应。

进一步的，所述基座包括两个上下设置的第一定位板和第二定位板，且所述第一定位板和第二定位板之间采用定位柱连接，同时所述砝码件置于砝码支柱伸出且贯穿第一定位板的上部，所述砝码支柱下端部伸出第二定位板向下通过压力传感器与压头组件连接。

进一步的，所述压力传感器在每组砝码支柱所在的下端部均设置，并将收集到的压力数据反馈给控制中心。

进一步的，所述砝码支柱与第一定位板、第二定位板贯穿连接处均采用衬套方式活动连接。

进一步的，所述基座所在的下表面且位于压头组件侧边位置均布有若干组载具预压柱。

所述的基于压力补偿的保压检测装置的检测方法，包括以下步骤：

S1、首先通过移载机构将载有晶片的载具件移动至保压机构下方的定位架上；

S2、移动保压机构，使压头组件所在的下方与载具件上的晶片的上方一一对应，并在砝码支柱上配制好砝码件；

S3、随后控制载具预压柱收缩，使带有压头组件的基座正压在晶片上，并保压1-2min时间后，再控制载具预压柱抬升，使压头组件脱离晶片所在的载具件；

S4、保压机构沿着定位架脱离载具件，保压后的载具件被移动至出料机构；

S5、检测机构对出料机构上的载具件检测完成后从侧边输出。

进一步的，所述S3中压头组件挤压产生的压力通过压力传感器反馈给控制中心并存储。

本发明的有益效果：

1、本装置通过压力传感器监控保压的压力输出，据数据统计成品的良率大大提高，不良品出现的数量降低80％，提高了生产效率，降低了原材料的浪费，提高材料的利用率，保护国家资源，保护环境，可推广到类似领域使用，将材料利用率发挥到最大化。

2、本装置采用砝码件手动添加的方式，对于晶片保压的压力时，压力的调节可根据实际需求更换砝码的数量，也可以根据不同的需求新制不同质量的砝码，更加便捷性，在不需要更换整个保压机构的同时，添加或减少砝码更加便捷(不同晶片保压的压力不同)。

附图说明

为了更清楚地说明本发明实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。

图1是本发明实施例的保压检测装置整体结构示意图；

图2是本发明实施例的移载机构整体示意图；

图3是本发明实施例的保压机构整体示意图；

图4是本发明实施例的保压机构截面结构示意图；

图5是本发明实施例的保压机构侧面结构示意图；

图6是本发明实施例的保压机构底面结构示意图；

图7是本发明实施例的出料机构的A处部分结构示意图；

图8是本发明实施例的检测机构结构示意图。

具体实施方式

下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其它实施例，都属于本发明保护的范围。

如图1、图2所示，本发明实施例提供一种基于压力补偿的保压检测装置，包括移载机构1、保压机构2、出料机构3、检测机构4，移载机构1包括横向设置的第一滑道11、以及滑动设置在第一滑道11上的第一承载台12，承载台 12上盛放有载具件101，并将载具件101送至保压机构2上，载具件101上设置有若干组阵列分布的槽口，在槽口内盛放有晶片。

如图3-6所示，保压机构2包括基座21、压头组件22、砝码件23、压力传感器24，基座21所在的下端部设置为开孔结构，同时通过压头组件22阵列分布在基座21下端部的开孔上(使压头组件22整列设置的位置与载具件101所在上方的定位孔一一对应)，且每组压头组件22所在的上方竖向设置衬套25，压力传感器24置于压头组件22与砝码支柱25之间，并在砝码支柱25的顶部套设砝码件23，且基座21沿底部设置的定位架26横向滑动，通过保压机构2 对载具件101进行保压操作。

同时基座21底部两侧位置分别设置有万向轮201，万向轮201为并列且上下对称的两对设置，使基座21整体沿定位架26横向方向的内侧滑动，以保证基座21运行的流畅性。

进一步的，基座21包括两个上下设置的第一定位板211和第二定位板212，且第一定位板211和第二定位板212之间采用定位柱213连接作为支撑，同时砝码件23置于砝码支柱25伸出且贯穿第一定位板211的上部，砝码支柱25下端部伸出第二定位板212向下通过压力传感器24与压头组件22连接。同时砝码支柱25与第一定位板211、第二定位板212贯穿连接处均采用衬套方式活动连接，以便减少第一定位板211、第二定位板212上下活动时产生的摩擦造成对压力传感器24灵敏度影响。通过砝码件23的自重实现对产品的保压，能稳定的输出正压力，不会因为过载对产品造成损伤；保压时，压力传感器24时时监控，保证压力恒定，方便快捷。

基座21所在的下表面且位于压头组件22侧边位置均布有若干组载具预压柱221。载具预压柱221可以设定加热功能，在加热顶升上升过程中，进行精定位，控制压头组件22与晶片是否接触。

如图7所示，出料机构3包括横向设置的第二滑道31、以及滑动设置在第二滑道31上的第二承载台32，第二承载台32将保压后的载具件101转移至检测机构4下方检测后送出。

如图8所示，检测机构4包括横向滑道41、伺服电机42、检测相机43，滑道41固定在出料机构3的端部，同时检测相机43固定在伺服电机42所在的下方位置，并通过检测相机43对出料机构3上的出料机构3进行定位检测。检测相机43采用双倍焦距镜头，可兼容多款产品；同时采用直线的伺服电机42进行横向搬运，速度快，保证稳定高效的检测产品，确保Smartray的稳定性。

压力传感器24在每组砝码支柱25所在的下端部均设置，并将收集到的压力数据反馈给控制中心。

基于压力补偿的保压检测装置的检测方法，包括以下步骤：

S1、首先通过移载机构1上的第一承载台12将载有晶片的载具件101通过底部的第一滑道11移动至保压机构2下方的定位架26上。

S2、沿着定位架26横向移动保压机构2，使压头组件22所在的下方与载具件101上的每组晶片的上方一一对应，此时根据需要在砝码支柱25上配制好砝码件23(每种晶片所承载的砝码件23重量不易，可实时添加改变)。

S3、随后控制载具预压柱221收缩，使带有压头组件22的基座21正压在晶片上，并保压1-2min时间后，再控制载具预压柱221抬升，使压头组件22 脱离晶片所在的载具件101。

S4、移载机构1将载有待保压的载具件101继续向定位架26上输出，此时待保压的载具件101将已经保压的载具件101挤压出定位架26，即保压后的载具件101被挤出移动至出料机构3的第二承载台32上；压头组件22挤压产生的压力通过压力传感器24反馈给控制中心并存储。

S5、第二承载台32将保压完成的载具件101沿着第二滑道31移动至检测机构4下方，通过检测机构4对出料机构3上的载具件101检测完成后从侧边输出。

对于小批量载有晶片的载具件101，可以在不需要调整保压机构2整体结构时，直接在对应位置的砝码支柱25上添加砝码件23，极大节省了成本支出。

使用时开可以采用将这套保压机构初始压力设定为0.6KG，压力的调节可根据实际需求更换砝码的数量，也可以根据不同的需求新制不同质量的砝码件。

增加压力传感器的时时监控机构，保证设备在运行过程中，当出现保压压力不达标时能通过报警来提示，时时监控保压的压力输出，据数据统计成品的良率大大提高，不良品出现的数量降低80％，提高了生产效率，降低了原材料的浪费，提高材料的利用率，保护国家资源，保护环境，可推广到类似领域使用，将材料利用率发挥到最大化。

在本说明书的描述中，参考术语“一个实施例”、“示例”、“具体示例”等的描述意指结合该实施例或示例描述的具体特征、结构、材料或者特点包含于本发明的至少一个实施例或示例中。在本说明书中，对上述术语的示意性表述不一定指的是相同的实施例或示例。而且，描述的具体特征、结构、材料或者特点可以在任何的一个或多个实施例或示例中以合适的方式结合。

以上显示和描述了本发明的基本原理、主要特征和本发明的优点。本行业的技术人员应该了解，本发明不受上述实施例的限制，上述实施例和说明书中描述的只是说明本发明的原理，在不脱离本发明精神和范围的前提下，本发明还会有各种变化和改进，这些变化和改进都落入要求保护的本发明范围内。

Claims (9)

1.一种基于压力补偿的保压检测装置，包括移载机构(1)、保压机构(2)、出料机构(3)、检测机构(4)，其特征在于，所述移载机构(1)包括横向设置的第一滑道(11)、以及滑动设置在第一滑道(11)上的第一承载台(12)，所述承载台(12)上盛放有载具件(101)，并将载具件(101)送至保压机构(2)上；

所述保压机构(2)包括基座(21)、压头组件(22)、砝码件(23)、压力传感器(24)，所述基座(21)所在的下端部设置为开孔结构，同时通过压头组件(22)阵列分布在基座(21)下端部的开孔上，且每组压头组件(22)所在的上方竖向设置衬套(25)，所述压力传感器(24)置于压头组件(22)与砝码支柱(25)之间，并在所述砝码支柱(25)的顶部套设砝码件(23)，且所述基座(21)沿底部设置的定位架(26)横向滑动，通过保压机构(2)对载具件(101)进行保压操作；

所述出料机构(3)包括横向设置的第二滑道(31)、以及滑动设置在第二滑道(31)上的第二承载台(32)，所述第二承载台(32)将保压后的载具件(101)转移至检测机构(4)下方检测后送出；

所述检测机构(4)包括横向滑道(41)、伺服电机(42)、检测相机(43)，所述滑道(41)固定在出料机构(3)的端部，同时检测相机(43)固定在伺服电机(42)所在的下方位置，并通过所述检测相机(43)对出料机构(3)上的出料机构(3)进行定位检测。

2.根据权利要求1所述的基于压力补偿的保压检测装置，其特征在于，所述基座(21)底部两侧位置分别设置有万向轮(201)，所述万向轮(201)为并列且上下对称的两对设置，使所述基座(21)整体沿定位架(26)横向方向的内侧滑动。

3.根据权利要求2所述的基于压力补偿的保压检测装置，其特征在于，所述压头组件(22)整列设置的位置与载具件(101)所在上方的定位孔一一对应。

4.根据权利要求1所述的基于压力补偿的保压检测装置，其特征在于，所述基座(21)包括两个上下设置的第一定位板(211)和第二定位板(212)，且所述第一定位板(211)和第二定位板(212)之间采用定位柱(213)连接，同时所述砝码件(23)置于砝码支柱(25)伸出且贯穿第一定位板(211)的上部，所述砝码支柱(25)下端部伸出第二定位板(212)向下通过压力传感器(24)与压头组件(22)连接。

5.根据权利要求4所述的基于压力补偿的保压检测装置，其特征在于，所述压力传感器(24)在每组砝码支柱(25)所在的下端部均设置，并将收集到的压力数据反馈给控制中心。

6.根据权利要求4所述的基于压力补偿的保压检测装置，其特征在于，所述砝码支柱(25)与第一定位板(211)、第二定位板(212)贯穿连接处均采用衬套方式活动连接。

7.根据权利要求1所述的基于压力补偿的保压检测装置，其特征在于，所述基座(21)所在的下表面且位于压头组件(22)侧边位置均布有若干组载具预压柱(221)。

8.根据权利要求1-7任一项所述的基于压力补偿的保压检测装置的检测方法，其特征在于，包括以下步骤：

S1、首先通过移载机构(1)将载有晶片的载具件(101)移动至保压机构(2)下方的定位架(26)上；

S2、移动保压机构(2)，使压头组件(22)所在的下方与载具件(101)上的晶片的上方一一对应，并在砝码支柱(25)上配制好砝码件(23)；

S3、随后控制载具预压柱(221)收缩，使带有压头组件(22)的基座(21)正压在晶片上，并保压1-2min时间后，再控制载具预压柱(221)抬升，使压头组件(22)脱离晶片所在的载具件(101)；

S4、保压机构(2)沿着定位架(26)脱离载具件(101)，保压后的载具件(101)被移动至出料机构(3)；

S5、检测机构(4)对出料机构(3)上的载具件(101)检测完成后从侧边输出。

9.所述的基于压力补偿的保压检测装置的检测方法，其特征在于，所述S3中压头组件(22)挤压产生的压力通过压力传感器(24)反馈给控制中心并存储。

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