CN114325126A - 一种电感的绕组损耗测量方法及系统 - Google Patents

Abstract

本发明提出一种电感的绕组损耗测量方法及系统，涉及电源领域，通过提供包括待测电感和/或辅助电感和功率电路的第一测试电路、第二测试电路和第三测试电路，由第一测试电路、第二测试电路和第三测试电路分别得到第一损耗方程式、第二损耗方程式和第三损耗方程式，而可解方程得到待测电感的绕组损耗，且待测电感的绕组损耗的测量精度不受引入的功率电路和辅助电感的影响，因此可精确得到待测电感的绕组损耗，为后续提高电源变换器的效率提供参考，并且测量方法简单。

Description

一种电感的绕组损耗测量方法及系统

技术领域

本发明涉及电源领域，尤其是电感的绕组损耗测量方法及系统。

背景技术

随着电源技术的发展，希望电源变换器的效率越来越高。对于基于电感的电源变换器，电感是其必不可少的磁性元件，其担负着能量传递、存储、滤波等功能，在电源变换器中起着至关重要的作用。对于基于电感的电源变换器，其损耗包括有源器件带来的损耗和无源器件带来的损耗，其中电感损耗是主要的无源器件损耗，且随着电源变换器往高频和高功率密度趋势发展，电感损耗成制约其发展的关键因素之一。

为提高电源变换器的效率，需首先获得电源变换器中各器件的损耗量，然后有针对性的进行改进以提高电源变换器的效率。对于电感，其损耗包括磁芯损耗和绕组损耗两部分，为提高电源变换器的效率，需分别获得磁芯损耗和绕组损耗。然而，目前业界暂无能简单、有效的实测电感绕组损耗的方法，为后续提高电源变换器的效率带来一定的困扰。

发明内容

本申请提出一种电感的绕组损耗测量方法，包括：S1:提供一功率电路；S2: 形成第一测试电路，所述第一测试电路包括一待测电感和所述功率电路，所述待测电感连接至所述功率电路的两端，控制所述功率电路工作在第一状态，得到第一损耗方程式；S3: 形成第二测试电路，所述第二测试电路包括至少一辅助电感、至少一所述待测电感和所述功率电路，至少一所述辅助电感和至少一所述待测电感连接至所述功率电路的两端，其中至少一所述辅助电感和至少一所述待测电感形成的电感单元的感量等于所述待测电感的感量，控制所述功率电路工作在第一状态，得到第二损耗方程式；S4: 形成第三测试电路，所述第三测试电路包括至少一所述辅助电感和所述功率电路，至少一所述辅助电感连接至所述功率电路的两端，至少一所述辅助电感形成的电感单元的感量等于所述待测电感的感量，控制所述功率电路工作在第一状态，得到第三损耗方程式；S5:根据所述第一损耗方程式、所述第二损耗方程式和所述第三损耗方程式解方程得到所述待测电感的绕组损耗。

更进一步的，在步骤S2中，获得所述待测电感的磁芯损耗C1和所述第一测试电路的总损耗M1，得到所述第一损耗方程式：M1=C1+A+W1，其中W1为所述待测电感的绕组损耗，A为所述功率电路的损耗。

更进一步的，在步骤S3中，所述辅助电感的个数为n-1个，所述待测电感的个数为n个，其中每一所述辅助电感的感量为所述待测电感的感量的n倍，将n个所述待测电感串联连接后连接至所述功率电路的两端，将n-1个所述辅助电感分别连接至所述功率电路的两端，并获得n个所述待测电感的磁芯总损耗C2、n-1个所述辅助电感的磁芯总损耗C3以及所述第二测试电路的总损耗M2，其中n为大于等于2的整数，得到所述第二损耗方程式：M2= C2+C3+A+1/n*W1+(n-1)*W2，其中W1为所述待测电感的绕组损耗，W2为所述辅助电感的绕组损耗，A为所述功率电路的损耗。

更进一步的，在步骤S4中，所述辅助电感的个数为n个，将n个所述辅助电感分别连接至所述功率电路的两端，并获得n个所述辅助电感的磁芯总损耗C4以及所述第三测试电路的总损耗M3，得到所述第三损耗方程式：M3= C4+A+n*W2，其中W2为所述辅助电感的绕组损耗，A为所述功率电路的损耗。

更进一步的，n=2。

更进一步的，所述待测电感和所述辅助电感的磁芯均为铁氧体磁芯。

本申请还提出一种电感的绕组损耗测量系统，包括：第一测试电路，包括一功率电路和一待测电感，所述待测电感连接至所述功率电路的两端；第二测试电路，包括至少一辅助电感、至少一所述待测电感和所述功率电路，至少一所述辅助电感和至少一所述待测电感连接至所述功率电路的两端，其中至少一所述辅助电感和至少一所述待测电感形成的电感单元的感量等于所述待测电感的感量；第三测试电路，包括至少一所述辅助电感和所述功率电路，至少一所述辅助电感连接至所述功率电路的两端，至少一所述辅助电感形成的电感单元的感量等于所述待测电感的感量，其中，所述第一测试电路、所述第二测试电路和所述第三测试电路中的所述功率电路相同。

更进一步的，在所述第二测试电路中，所述辅助电感的个数为1个，所述待测电感的个数为2个，其中每一所述辅助电感的感量为所述待测电感的感量的2倍，2个所述待测电感串联连接后连接至所述功率电路的两端，个所述辅助电感连接至所述功率电路的两端。

更进一步的，在所述第三测试电路中，所述辅助电感的个数为2个，2个所述辅助电感分别连接至所述功率电路的两端。

更进一步的，还包括：控制电路，所述控制电路控制所述第一测试电路、所述第二测试电路和所述第三测试电路中的所述功率电路的工作状态相同。

更进一步的，获得所述第一测试电路中的所述待测电感的磁芯损耗C1和所述第一测试电路的总损耗M1，得到第一损耗方程式：M1=C1+A+W1，其中W1为所述待测电感的绕组损耗，A为所述功率电路的损耗；获得所述第二测试电路中的2个所述待测电感的磁芯总损耗C2、1个所述辅助电感的磁芯总损耗C3以及所述第二测试电路的总损耗M2，得到第二损耗方程式：M2= C2+C3+A+0.5*W1+W2，其中W1为所述待测电感的绕组损耗，W2为所述辅助电感的绕组损耗，A为所述功率电路的损耗；获得所述第三测试电路中的2个所述辅助电感的磁芯总损耗C4以及所述第三测试电路的总损耗M3，得到第三损耗方程式：M3= C4+A+2*W2，其中W2为所述辅助电感的绕组损耗，A为所述功率电路的损耗；根据所述第一损耗方程式、所述第二损耗方程式和所述第三损耗方程式解方程得到所述待测电感的绕组损耗W1。

更进一步的，所述待测电感和所述辅助电感的磁芯均为铁氧体磁芯。

附图说明

图1为本发明一实施例的电感的绕组损耗测量方法流程图。

图2为本发明一实施例的第一测试电路示意图。

图3为本发明一实施例的第二测试电路框图示意图。

图4为本发明一实施例的第三测试电路框图示意图。

图5为本发明一实施例的第二测试电路示意图。

图6为本发明一实施例的第三测试电路示意图。

图7为本发明另一实施例的第二测试电路示意图。

图8为本发明另一实施例的第三测试电路示意图。

图9为本发明一实施例的电感的绕组损耗测量系统示意图。

具体实施方式

下面将结合附图，对本发明中的技术方案进行清楚、完整的描述，显然，所描述的实施例是本发明的一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在不做出创造性劳动的前提下所获得的所有其它实施例，都属于本发明保护的范围。

本发明一实施例中，在于提供一种电感的绕组损耗测量方法。具体的，请参阅图1所示的本发明一实施例的电感的绕组损耗测量方法流程图，并请结合图2所示的本发明一实施例的第一测试电路示意图，图3所示的本发明一实施例的第二测试电路框图示意图，图4所示的本发明一实施例的第三测试电路框图示意图。本发明一实施例的电感的绕组损耗测量方法，包括：

S1:提供一功率电路，如图2、图3和图4中所示的功率电路110；

S2: 形成第一测试电路210，第一测试电路210包括一待测电感L1和功率电路110，待测电感L1连接至功率电路110的两端，控制功率电路110工作在第一状态，得到第一损耗方程式，如图2所示；

S3: 形成第二测试电路220，第二测试电路220包括至少一辅助电感L2、至少一待测电感L1和功率电路110，至少一辅助电感L2和至少一待测电感L1连接至功率电路110的两端，其中至少一辅助电感L2和至少一待测电感L1形成的电感单元120的感量等于待测电感L1的感量，控制功率电路110工作在第一状态，得到第二损耗方程式，如图3所示；

S4: 形成第三测试电路230，第三测试电路230包括至少一辅助电感L2和功率电路110，至少一辅助电感L2连接至功率电路110的两端，至少一辅助电感L2形成的电感单元130的感量等于待测电感L1的感量，控制功率电路110工作在第一状态，得到第三损耗方程式，如图4所示；

S5:根据第一损耗方程式、第二损耗方程式和第三损耗方程式解方程得到待测电感L1的绕组损耗。

因第一测试电路210、第二测试电路220和第三测试电路230中的功率电路110为同一功率电路，也即其结构相同，且在步骤S2、S3和S4中均控制功率电路110的工作状态相同，则在第一测试电路210、第二测试电路220和第三测试电路230中其损耗均相同，并可使得功率电路110不影响由待测电感L1、辅助电感L2或待测电感L1和辅助电感L2形成的电感单元，以使测量待测电感L1的绕组损耗更加简单，获得的待测电感L1的绕组损耗的值更加精确。在步骤S3和S4中配置待测电感L1和/或辅助电感L2，使得待测电感L1和/或辅助电感L2形成的电感单元相对于功率电路110的感量均等于步骤S2中的待测电感L1的感量，如此，在功率电路110的工作状态相同时，电感单元不影响功率电路110的工作，而使得功率电路110的损耗均为A，如此测量待测电感L1的绕组损耗更加简单，获得的待测电感L1的绕组损耗W1的值更加精确。且如上所述，待测电感L1的绕组损耗的测量精度不受引入的功率电路110和辅助电感L2的影响，因此可精确得到待测电感L1的绕组损耗，为后续提高电源变换器的效率提供参考，并且测量方法简单。

更进一步的，在本发明一实施例中，在步骤S2中，获得待测电感L1的磁芯损耗C1和第一测试电路210的总损耗M1，得到第一损耗方程式：M1=C1+A+W1，其中W1为待测电感L1的绕组损耗，A为功率电路110的损耗。

更进一步的，在本发明一实施例中，在步骤S3中，辅助电感L2的个数为n-1个，待测电感L1的个数为n个，其中每一辅助电感L2的感量为待测电感L1的感量的n倍，将n个待测电感L1串联连接后连接至功率电路110的两端，将n-1个辅助电感L2分别连接至功率电路110的两端，请参阅图5所示的本发明一实施例的第二测试电路示意图，根据电感的串并联原理可知，由辅助电感L2和待测电感L1形成的电感单元的感量等于图2中一个待测电感L1的感量，获得n个待测电感L1的磁芯总损耗C2、n-1个辅助电感L2的磁芯总损耗C3以及第二测试电路220的总损耗M2，其中n为大于等于2的整数，得到第二损耗方程式：M2= C2+C3+A+1/n*W1+(n-1)*W2，其中W1为待测电感L1的绕组损耗，W2为辅助电感L2的绕组损耗，A为功率电路110的损耗。

更进一步的，在本发明一实施例中，在步骤S4中，辅助电感L2的个数为n个，将n个辅助电感L2分别连接至功率电路110的两端，请参阅图6所示的本发明一实施例的第三测试电路示意图，根据电感的并联原理可知，由辅助电感L2形成的电感单元的感量等于图2中一个待测电感L1的感量，获得n个辅助电感L2的磁芯总损耗C4以及第三测试电路230的总损耗M3，得到第三方程式：M3= C4+A+n*W2，其中W2为辅助电感L2的绕组损耗，A为功率电路110的损耗。

根据第一损耗方程式（M1=C1+A+W1）、第二损耗方程式（M2= C2+C3+A+1/n*W1+(n-1)*W2）和第三方程式（M3= C4+A+n*W2）解方程得到待测电感L1的绕组损耗W1。待测电感L1的绕组损耗的测量精度不受引入的功率电路110和辅助电感L2的影响，因此可精确得到待测电感L1的绕组损耗，为后续提高电源变换器的效率提供参考，并且测量方法简单。

在一较佳实施例中，如图7所示的本发明另一实施例的第二测试电路示意图和图8所示的本发明另一实施例的第三测试电路示意图，其中n=2。以采用最少的电感器件获得待测电感L1的绕组损耗W1。如下以n=2为例讲明其原理。如图2所示，将电源变换器中的电感（也即待测电感L1）连接至功率电路110的两端，控制功率电路110工作时，待测电感L1也工作而产生损耗，采用现有方法可得到待测电感L1此时的磁芯损耗C1和第一测试电路210此时的总损耗M1，则可得到第一方程式：M1=C1+A+W1，其中W1为待测电感L1的绕组损耗，A为功率电路110的损耗。上述的现有方法可为任何目前已知的方法。如图7所示，将两个待测电感L1串联后连接至功率电路110的两端，一个辅助电感L2连接至功率电路110的两端，选择使得辅助电感L2的感量为待测电感L1的感量的2倍，则由两个待测电感L1和一个辅助电感L2形成的电感单元的等效感量仍为待测电感L1的感量，控制功率电路110工作时，待测电感L1和辅助电感L2均工作而产生损耗，采用现有方法可得到两个待测电感L1此时的磁芯总损耗C2、一个辅助电感L2此时的磁芯损耗C3以及第二测试电路220的总损耗M2，则可得到第二方程式：M2= C2+C3+A+0.5*W1+W2，其中W2为辅助电感L2的绕组损耗，A为功率电路110的损耗。如图8所示，将两个辅助电感L2分别连接至功率电路110的两端，则由两个辅助电感L2形成的电感单元的等效感量仍为待测电感L1的感量，控制功率电路110工作时，两个辅助电感L2均工作而产生损耗，采用现有方法可得到两个辅助电感L2此时的磁芯总损耗C4以及第三测试电路230的总损耗M3，得到第三方程式：M3= C4+A+2*W2，其中W2为辅助电感L2的绕组损耗，A为功率电路110的损耗。在第一损耗方程式、第二损耗方程式和第三损耗方程式中W1、W2和A为未知数，因此可通过上述的三个损耗方程式解方程得到W1、W2和A。如此而得到待测电感L1的绕组损耗W1，并可同时得到辅助电感L2的绕组损耗W2，以及功率电路110的损耗A。

本发明一实施例中，还在于提供一种电感的绕组损耗测量系统，请再参阅图2所示的本发明一实施例的第一测试电路示意图，图3所示的本发明一实施例的第二测试电路框图示意图，图4所示的本发明一实施例的第三测试电路框图示意图。本发明一实施例的电感的绕组损耗测量系统，包括：

第一测试电路210，包括一功率电路110和一待测电感L1，待测电感L1连接至功率电路110的两端，如图2所示；

第二测试电路220，包括至少一辅助电感L2、至少一待测电感L1和功率电路110，至少一辅助电感L2和至少一待测电感L1连接至功率电路110的两端，其中至少一辅助电感L2和至少一待测电感L1形成的电感单元120的感量等于待测电感L1的感量，如图3所示；

第三测试电路230，包括至少一辅助电感L2和功率电路110，至少一辅助电感L2连接至功率电路110的两端，至少一辅助电感L2形成的电感单元130的感量等于待测电感L1的感量，如图4所示，其中，第一测试电路210、第二测试电路220和第三测试电路230中的功率电路110相同。

因第一测试电路210、第二测试电路220和第三测试电路230中的功率电路110为同一功率电路，则在第一测试电路210、第二测试电路220和第三测试电路230中其损耗均相同，并可使得功率电路110不影响由待测电感L1、辅助电感L2或待测电感L1和辅助电感L2形成的电感单元，以使测量待测电感L1的绕组损耗更加简单，获得的待测电感L1的绕组损耗的值更加精确。第一测试电路210、第二测试电路220和第三测试电路230中待测电感L1和/或辅助电感L2形成的电感单元相对于功率电路110的感量均等于待测电感L1的感量，如此，电感单元不影响功率电路110的工作，而使得功率电路110的损耗均相同，如此测量待测电感L1的绕组损耗更加简单，获得的待测电感L1的绕组损耗W1的值更加精确。且如上所述，待测电感L1的绕组损耗的测量精度不受引入的功率电路110和辅助电感L2的影响，因此可精确得到待测电感L1的绕组损耗，为后续提高电源变换器的效率提供参考，并且测量方法简单。

具体的，在本发明一实施例中，如图5所示，在第二测试电路220中，辅助电感L2的个数为n-1个，待测电感L1的个数为n个，其中每一辅助电感L2的感量为待测电感L1的感量的n倍，n个待测电感L1串联连接后连接至功率电路110的两端，n-1个辅助电感L2分别连接至功率电路110的两端，其中n为大于等于2的整数。如图6所示，在第三测试电路230中，辅助电感L2的个数为n个，n个辅助电感L2分别连接至功率电路110的两端。

在一实施例中，上述的功率电路110相同，指其结构相同。

在本发明一实施例中，请参阅图9所示的本发明一实施例的电感的绕组损耗测量系统示意图，电感的绕组损耗测量系统还包括：控制电路300，控制电路300控制第一测试电路210、第二测试电路220和第三测试电路230中的功率电路110的工作状态相同。则在第一测试电路210、第二测试电路220和第三测试电路230中其损耗A均相同，并可使得功率电路110不影响由待测电感L1、辅助电感L2或待测电感L1和辅助电感L2形成的电感单元，以使测量待测电感L1的绕组损耗W1更加简单，获得的待测电感L1的绕组损耗W1的值更加精确。

具体的，在本发明一实施例中，获得第一测试电路210中的待测电感L1的磁芯损耗C1和第一测试电路210的总损耗M1，得到第一损耗方程式：M1=C1+A+W1，其中W1为待测电感L1的绕组损耗，A为功率电路110的损耗；获得第二测试电路中的n个待测电感L1的磁芯总损耗C2、n-1个辅助电感L2的磁芯总损耗C3以及第二测试电路220的总损耗M2，得到第二损耗方程式：M2= C2+C3+A+1/n*W1+(n-1)*W2，其中W1为待测电感L1的绕组损耗，W2为辅助电感L2的绕组损耗，A为功率电路110的损耗；获得所述第三测试电路中的n个辅助电感L2的磁芯总损耗C4以及第三测试电路230的总损耗M3，得到第三损耗方程式：M3= C4+A+n*W2，其中W2为辅助电感L2的绕组损耗，A为功率电路110的损耗；根据所述第一损耗方程式、所述第二损耗方程式和所述第三损耗方程式解方程得到待测电感L1的绕组损耗W1。可见，通过三个测试电路可获得三个损耗方程式，其中每个测试电路中的磁芯损耗和测试电路总损耗可通过现有方法测量获得，而可解方程得到待测电感L1的绕组损耗W1，并同时可得到辅助电感L2的绕组损耗W2，以及功率电路110的损耗A。且其测量精度不受引入的功率电路110和辅助电感L2的影响，且测量方法简单。如此可精确得到待测电感L1的绕组损耗W1，为后续提高电源变换器的效率提供参考。且本申请提供的测量系统结构简单，对应的测量方法简单，计算量小，且测得的待测电感L1的绕组损耗W1精确。

在本发明一实施例中，n=2，其具体结构如图7和图8所示，则第一损耗方程式为M1=C1+A+W1，第二损耗方程式为M2= C2+C3+A+0.5*W1+W2，第三损耗方程式为M3= C4+A+2*W2。其原理与上述相同，在此不再赘述。

在本发明一实施例中，本申请中的待测电感L1和辅助电感L2的磁芯均为铁氧体磁芯。使得获得的磁芯损耗更加精确，而进一步提高测得的待测

电感的绕组损耗W1的精度。

最后应说明的是：以上各实施例仅用以说明本发明的技术方案，而非对其限制；尽管参照前述各实施例对本发明进行了详细的说明，本领域的普通技术人员应当理解：其依然可以对前述各实施例所记载的技术方案进行修改，或者对其中部分或者全部技术特征进行等同替换；而这些修改或者替换，并不使相应技术方案的本质脱离本发明各实施例技术方案的范围。

Claims (12)

1.一种电感的绕组损耗测量方法，其特征在于，包括：

S1:提供一功率电路；

S2: 形成第一测试电路，所述第一测试电路包括一待测电感和所述功率电路，所述待测电感连接至所述功率电路的两端，控制所述功率电路工作在第一状态，得到第一损耗方程式；

S3: 形成第二测试电路，所述第二测试电路包括至少一辅助电感、至少一所述待测电感和所述功率电路，至少一所述辅助电感和至少一所述待测电感连接至所述功率电路的两端，其中至少一所述辅助电感和至少一所述待测电感形成的电感单元的感量等于所述待测电感的感量，控制所述功率电路工作在第一状态，得到第二损耗方程式；

S4: 形成第三测试电路，所述第三测试电路包括至少一所述辅助电感和所述功率电路，至少一所述辅助电感连接至所述功率电路的两端，至少一所述辅助电感形成的电感单元的感量等于所述待测电感的感量，控制所述功率电路工作在第一状态，得到第三损耗方程式；

S5:根据所述第一损耗方程式、所述第二损耗方程式和所述第三损耗方程式解方程得到所述待测电感的绕组损耗。

2.根据权利要求1所述的电感的绕组损耗测量方法，其特征在于，在步骤S2中，获得所述待测电感的磁芯损耗C1和所述第一测试电路的总损耗M1，得到所述第一损耗方程式：M1=C1+A+W1，其中W1为所述待测电感的绕组损耗，A为所述功率电路的损耗。

3.根据权利要求2所述的电感的绕组损耗测量方法，其特征在于，在步骤S3中，所述辅助电感的个数为n-1个，所述待测电感的个数为n个，其中每一所述辅助电感的感量为所述待测电感的感量的n倍，将n个所述待测电感串联连接后连接至所述功率电路的两端，将n-1个所述辅助电感分别连接至所述功率电路的两端，并获得n个所述待测电感的磁芯总损耗C2、n-1个所述辅助电感的磁芯总损耗C3以及所述第二测试电路的总损耗M2，其中n为大于等于2的整数，得到所述第二损耗方程式：M2= C2+C3+A+1/n*W1+(n-1)*W2，其中W1为所述待测电感的绕组损耗，W2为所述辅助电感的绕组损耗，A为所述功率电路的损耗。

4.根据权利要求3所述的电感的绕组损耗测量方法，其特征在于，在步骤S4中，所述辅助电感的个数为n个，将n个所述辅助电感分别连接至所述功率电路的两端，并获得n个所述辅助电感的磁芯总损耗C4以及所述第三测试电路的总损耗M3，得到所述第三损耗方程式：M3= C4+A+n*W2，其中W2为所述辅助电感的绕组损耗，A为所述功率电路的损耗。

5.根据权利要求4所述的电感的绕组损耗测量方法，其特征在于，n=2。

6.根据权利要求1所述的电感的绕组损耗测量方法，其特征在于，所述待测电感和所述辅助电感的磁芯均为铁氧体磁芯。

7.一种电感的绕组损耗测量系统，其特征在于，包括：

第一测试电路，包括一功率电路和一待测电感，所述待测电感连接至所述功率电路的两端；

第二测试电路，包括至少一辅助电感、至少一所述待测电感和所述功率电路，至少一所述辅助电感和至少一所述待测电感连接至所述功率电路的两端，其中至少一所述辅助电感和至少一所述待测电感形成的电感单元的感量等于所述待测电感的感量；

第三测试电路，包括至少一所述辅助电感和所述功率电路，至少一所述辅助电感连接至所述功率电路的两端，至少一所述辅助电感形成的电感单元的感量等于所述待测电感的感量，其中，所述第一测试电路、所述第二测试电路和所述第三测试电路中的所述功率电路相同。

8.根据权利要求7所述的电感的绕组损耗测量系统，其特征在于，在所述第二测试电路中，所述辅助电感的个数为1个，所述待测电感的个数为2个，其中每一所述辅助电感的感量为所述待测电感的感量的2倍，2个所述待测电感串联连接后连接至所述功率电路的两端，所述辅助电感连接至所述功率电路的两端。

9.根据权利要求8所述的电感的绕组损耗测量系统，其特征在于，在所述第三测试电路中，所述辅助电感的个数为2个，2个所述辅助电感分别连接至所述功率电路的两端。

10.根据权利要求7或9所述的电感的绕组损耗测量系统，其特征在于，还包括：控制电路，所述控制电路控制所述第一测试电路、所述第二测试电路和所述第三测试电路中的所述功率电路的工作状态相同。

11.根据权利要求10所述的电感的绕组损耗测量系统，其特征在于，获得所述第一测试电路中的所述待测电感的磁芯损耗C1和所述第一测试电路的总损耗M1，得到第一损耗方程式：M1=C1+A+W1，其中W1为所述待测电感的绕组损耗，A为所述功率电路的损耗；

获得所述第二测试电路中的2个所述待测电感的磁芯总损耗C2、1个所述辅助电感的磁芯总损耗C3以及所述第二测试电路的总损耗M2，得到第二损耗方程式：M2= C2+C3+A+0.5*W1+W2，其中W1为所述待测电感的绕组损耗，W2为所述辅助电感的绕组损耗，A为所述功率电路的损耗；

获得所述第三测试电路中的2个所述辅助电感的磁芯总损耗C4以及所述第三测试电路的总损耗M3，得到第三损耗方程式：M3= C4+A+2*W2，其中W2为所述辅助电感的绕组损耗，A为所述功率电路的损耗；

根据所述第一损耗方程式、所述第二损耗方程式和所述第三损耗方程式解方程得到所述待测电感的绕组损耗W1。

12.根据权利要求7所述的电感的绕组损耗测量系统，其特征在于，所述待测电感和所述辅助电感的磁芯均为铁氧体磁芯。

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