CN114323597A - To器件的焦距测试设备、方法、计算机设备及存储介质 - Google Patents

Abstract

本申请公开了一种TO器件的焦距测试设备、方法、计算机设备及存储介质，设备包括：第一测试插座内置的第一供电电路用于给插入第一测试插座的TO器件供电；第二测试插座内置的第二供电电路用于给插入第二测试插座的TO器件供电；焦距检测机构包括光束分析仪以及位移调节组件，位移调节组件用于使光束分析仪在第一测试插座的正上方与第二测试插座的正上方之间移动，以及在竖直方向上移动，光束分析仪接收光束分析仪正下方的TO器件发出的光线，确定光束分析仪正下方的TO器件的焦距。本申请实施例通过采用双工位测试TO器件的焦距，在对一工位的TO器件进行焦距测试时，另一工位可同时上下料，从而提高TO器件的焦距测试效率。

Description

TO器件的焦距测试设备、方法、计算机设备及存储介质

技术领域

本申请涉及TO器件技术领域，具体涉及一种TO器件的焦距测试设备、方法、计算机设备及存储介质。

背景技术

光信息技术的发展推动着通信事业的进步，随着光纤通信和光纤传感技术的发展，光电子器件的制备成为了光信息技术进一步发展的关键。光电子器件的生产检测技术影响着整个光学设备的生产品质和效率，生产检测设备的自动化可以大幅度的提高生产效率，保证光电子器件的质量。

在TO（Transistor，晶体管）器件的耦合生产时，由于器件的差异性，会导致生产效率低、产品一致性差等问题，因此需要在耦合生产之前，将TO器件根据焦距进行检测分档，而当前检测工艺主要采用人工操作的方式，不但检测效率比较低，而且提高了人工成本。

发明内容

本申请实施例提供一种TO器件的焦距测试设备、方法、计算机设备及存储介质，旨在提高TO器件的焦距测试效率。

一方面，本申请提供一种TO器件的焦距测试设备，包括：

第一测试插座，所述第一测试插座包括内置的第一供电电路，所述第一供电电路用于给插入所述第一测试插座的TO器件供电；

第二测试插座，所述第二测试插座包括内置的第二供电电路，所述第二供电电路用于给插入所述第二测试插座的TO器件供电；

焦距检测机构，所述焦距检测机构包括竖直安装的光束分析仪以及位移调节组件，所述位移调节组件与所述光束分析仪连接，用于使所述光束分析仪在所述第一测试插座的正上方与所述第二测试插座的正上方之间移动，以及使所述光束分析仪在竖直方向上移动，所述光束分析仪用于接收所述光束分析仪正下方的TO器件发出的光线，以确定所述光束分析仪正下方的TO器件的焦距。

在一些实施例中，所述第一测试插座与所述第二测试插座设置于同一工作台上，所述第一测试插座与所述工作台之间通过水平调节机构连接，

所述水平调节机构包括固定板、拉簧轴销组件以及螺纹组件，所述第一测试插座固定设置于所述固定板上，所述固定板通过所述拉簧轴销组件与所述工作台活动连接，所述固定板通过所述螺纹组件与所述工作台固定连接，所述螺纹组件用于调节所述固定板与所述工作台活动连接时所述固定板的水平倾角。

在一些实施例中，所述螺纹组件包括相互配合使用的第一螺钉与第一螺母、相互配合使用的第二螺钉与第二螺母、相互配合使用的第三螺钉与第三螺母，所述第一螺母、所述第二螺母以及所述第三螺母分布设置在所述固定板的不同通孔中；

在所述固定板通过所述螺纹组件与所述工作台固定连接时，所述第一螺钉穿过所述第一螺母与所述工作台上的第一沉头孔连接，所述第二螺钉穿过所述第二螺母与所述工作台上的第二沉头孔连接，所述第三螺钉穿过所述第三螺母与所述工作台上的第三沉头孔连接，其中，通过所述第一螺钉、所述第二螺钉以及所述第三螺钉用于调节所述固定板与所述工作台活动连接时所述固定板的水平倾角。

在一些实施例中，所述拉簧轴销组件包括第一轴销、第二轴销以及拉簧，所述拉簧的第一端部设置有第一拉钩，所述拉簧的第二端部设置有第二拉钩；

在所述固定板通过所述拉簧轴销组件与所述工作台活动连接时，所述第一拉钩穿过所述固定板与所述第一轴销连接，所述第二拉钩穿过所述工作台与所述第二轴销连接。

在一些实施例中，所述第一测试插座包括用于插入TO器件的第一插槽，所述第一测试插座通过旋转销轴与盖板连接，所述盖板设置有透光孔以及第一磁吸件，通过所述旋转销轴旋转所述盖板后，所述盖板与所述第一测试插座盖合；

在所述盖板盖合所述第一测试插座时，插入第一插槽的TO器件发出的光从所述透光孔透出，并射向所述光束分析仪，且所述第一磁吸件与所述第一测试插座上设置的第二磁吸件相互磁吸。

另一方面，本申请实施例提供一种TO器件的焦距测试方法，包括：

在所述第一测试插座上插有第一TO器件时，通过所述位移调节组件，将所述光束分析仪移动至所述第一测试插座的正上方；

在所述光束分析仪移动至所述第一测试插座的正上方后，通过所述位移调节组件使所述光束分析仪在竖直方向上移动，并向所述第二测试插座插入第二TO器件；

在所述光束分析仪在竖直方向上移动时，根据所述光束分析仪检测到的光斑面积确定所述第一TO器件的焦距；

通过所述位移调节组件，将所述光束分析仪移动至所述第二测试插座的正上方，以确定所述第二TO器件的焦距。

在一些实施例中，执行所述通过所述位移调节组件，将所述光束分析仪移动至所述第二测试插座的正上方，以确定所述第二TO器件的焦距的步骤的同时，还包括：

根据所述第一TO器件的焦距确定所述第一TO器件对应的器件等级；

将所述第一TO器件从所述第一测试插座上取出，并放入所述器件等级对应的料盒中。

在一些实施例中，所述在所述第一测试插座上插有第一TO器件时，通过所述位移调节组件，将所述光束分析仪移动至所述第一测试插座的正上方的步骤之前，还包括：

检测固定板的水平倾角；

根据所述水平倾角调节螺纹组件，以使所述固定板所在平面与所述光束分析仪的进光口所在平面平行。

另一方面，本申请还提供一种TO器件的焦距测试装置，包括：

控制模块，用于在所述第一测试插座上插有第一TO器件时，通过所述位移调节组件，将所述光束分析仪移动至所述第一测试插座的正上方，以及在所述光束分析仪移动至所述第一测试插座的正上方后，通过所述位移调节组件使所述光束分析仪在竖直方向上移动，并向所述第二测试插座插入第二TO器件；

确定模块，用于在所述光束分析仪在竖直方向上移动时，根据所述光束分析仪检测到的光斑面积确定所述第一TO器件的焦距；

控制模块，还用于通过所述位移调节组件，将所述光束分析仪移动至所述第二测试插座的正上方，以确定所述第二TO器件的焦距。

在一些实施例中，确定模块，还用于根据所述第一TO器件的焦距确定所述第一TO器件对应的器件等级；

控制模块，还用于将所述第一TO器件从所述第一测试插座上取出，并放入所述器件等级对应的料盒中。

在一些实施例中，确定模块，还用于检测固定板的水平倾角；

控制模块，还用于根据所述水平倾角调节螺纹组件，以使所述固定板所在平面与所述光束分析仪的进光口所在平面平行。

另一方面，本申请还提供一种计算机设备，所述计算机设备包括：

一个或多个处理器；

存储器；以及

一个或多个应用程序，其中所述一个或多个应用程序被存储于所述存储器中，并配置为由所述处理器执行以实现任一项所述的TO器件的焦距测试方法中的步骤。

另一方面，本申请还提供一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，所述计算机程序被处理器进行加载，以执行任一项所述的TO器件的焦距测试方法中的步骤。

本申请实施例提供的TO器件的焦距测试设备、方法、计算机设备及存储介质，第一测试插座内置的第一供电电路用于给插入第一测试插座的TO器件供电；第二测试插座内置的第二供电电路用于给插入第二测试插座的TO器件供电；焦距检测机构包括光束分析仪以及位移调节组件，位移调节组件用于使光束分析仪在第一测试插座的正上方与第二测试插座的正上方之间移动，以及在竖直方向上移动，光束分析仪接收光束分析仪正下方的TO器件发出的光线，确定光束分析仪正下方的TO器件的焦距。本申请实施例通过采用双工位测试TO器件的焦距，在对一工位的TO器件进行焦距测试时，另一工位可同时上下料，从而提高TO器件的焦距测试效率。

附图说明

为了更清楚地说明本申请实施例中的技术方案，下面将对实施例描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本申请的一些实施例，对于本领域技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。

图1是本申请实施例中提供的TO器件的焦距测试设备的整体结构示意图；

图2是本申请实施例提供的焦距检测机构的细化结构示意图；

图3是本申请实施例中提供的第一测试插座、第二测试插座与工作台之间的细化结构示意图；

图4是本申请实施例中提供的水平调节机构的细化结构示意图；

图5是本申请实施例中提供的第一测试插座的细化结构示意图；

图6是本申请实施例中提供的TO器件的焦距测试方法的一个实施例流程示意图；

图7是本申请实施例提供的TO器件的焦距测试装置的一个实施例结构示意图；

图8是本申请实施例中提供的计算机设备的一个实施例终端结构示意图。

具体实施方式

下面将结合本申请实施例中的附图，对本申请实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本申请一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本申请中的实施例，本领域技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本申请保护的范围。

在本申请的描述中，需要理解的是，术语“中心”、“纵向”、“横向”、“长度”、“宽度”、“厚度”、“上”、“下”、“前”、“后”、“左”、“右”、“竖直”、“水平”、“顶”、“底”、“内”、“外”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本申请和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本申请的限制。此外，术语“第一”、“第二”仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量。由此，限定有“第一”、“第二”的特征可以明示或者隐含地包括一个或者更多个所述特征。在本申请的描述中，“多个”的含义是两个或两个以上，除非另有明确具体的限定。

在本申请中，“示例性”一词用来表示“用作例子、例证或说明”。本申请中被描述为“示例性”的任何实施例不一定被解释为比其它实施例更优选或更具优势。为了使本领域任何技术人员能够实现和使用本申请，给出了以下描述。在以下描述中，为了解释的目的而列出了细节。应当明白的是，本领域普通技术人员可以认识到，在不使用这些特定细节的情况下也可以实现本申请。在其它实例中，不会对公知的结构和过程进行详细阐述，以避免不必要的细节使本申请的描述变得晦涩。因此，本申请并非旨在限于所示的实施例，而是与符合本申请所公开的原理和特征的最广范围相一致。

需要说明的是，本申请实施例方法由于是在计算机设备中执行，各计算机设备的处理对象均以数据或信息的形式存在，例如时间，实质为时间信息，可以理解的是，后续实施例中若提及尺寸、数量、位置等，均为对应的数据存在，以便计算机设备进行处理，具体此处不作赘述。

本申请实施例提供一种TO器件的焦距测试设备、方法、计算机设备及存储介质，以下分别进行详细说明。

参照图1，在一实施例中，TO器件的焦距测试设备包括至少两个测试插座以及焦距检测机构300，至少两个测试插座包括第一测试插座100以及第二测试插座200。第一测试插座100以及第二测试插座200用于插入待进行焦距测试的TO器件，以固定TO器件。同时，第一测试插座100包括内置的第一供电电路，第一供电电路用于给插入第一测试插座100的TO器件供电，第二测试插座200包括内置的第二供电电路，第二供电电路用于给插入第二测试插座200的TO器件供电。可以理解的是，在TO器件插入测试插座后，TO器件与对应的供电电路电连接，以通过对应的供电电路向TO器件。这样，TO器件可发出光线，图2中的光束分析仪301可通过检测TO器件发出的光线，得到TO器件的焦距。在一些实施例中，第一测试插座100与第二测试插座200的相关结构以及用途完全相同。

在一些实施例中，如图2所示，图2为焦距检测机构300的细化结构示意图。焦距检测机构300包括竖直安装的光束分析仪301以及位移调节组件。光束分析仪301用于接收光束分析仪301正下方的TO器件发出的光线，以确定光束分析仪301正下方的TO器件的焦距。具体地，光束分析仪301设置有进光口，在光束分析仪301竖直安装时，此进光口所在平面与水平面平行，且进光口的朝向为正下方，以保证光束分析仪301可正对TO器件来接收TO器件发出的光线，从而确保焦距检测的准确性。位移调节组件与光束分析仪301连接，位移调节组件用于使光束分析仪301在第一测试插座100的正上方与第二测试插座200的正上方之间移动。这样，通过控制位移调节机构，可使光束分析仪301切换检测第一测试插座100插入的TO器件的焦距或者第二测试插座200插入的TO器件的焦距。位移调节组件还用于使光束分析仪301在竖直方向上移动，以便于光束分析仪301查找TO器件发出的光线的焦点位置，进而确定焦距。

在图2中，位移调节组件包括Z轴电动滑台302、Z轴滑台与光束分析仪301之间的连接板303、X轴电动滑台304、X轴电动滑台电机305以及X轴与Z轴连接板306。其中，Z轴为竖直轴，X轴为水平轴，Z轴电动滑台302用于使光束分析仪301在竖直方向上移动，X轴电动滑台304用于使光束分析仪301在水平方向上移动，以使光束分析仪301在第一测试插座100的正上方与第二测试插座200的正上方之间移动。

在一些实施例中，如图3所示，图3为第一测试插座100、第二测试插座200与工作台400之间的细化结构示意图。在图3中，第一测试插座100与第二测试插座200设置于同一工作台400上，第一测试插座100与第二测试插座200上方均设置有器件压装夹具500，器件压装夹具500用于压装TO器件，以将TO器件固定在对应的测试插座中。第一测试插座100与工作台400之间，以及第二测试插座200与工作台400之间，均通过水平调节机构600进行连接，水平调节机构600用于调节对应的测试插座的水平倾角，以使对应的测试插座保持水平。工作台400包括连接板700，连接板700用于连接第一测试插座100与第二测试插座200，以固定第一测试插座100与第二测试插座200。

在一些实施例中，如图4所示，图4为水平调节机构600的细化结构示意图。水平调节机构600包括固定板603、拉簧轴销组件以及螺纹组件，第一测试插座100固定设置于固定板603上，固定板603通过拉簧轴销组件与工作台400的连接板700活动连接，固定板603通过螺纹组件与工作台400的连接板700固定连接，通过旋转螺纹组件的螺钉，改变螺钉与螺母之间耦合时的长度，即可调节固定板603与工作台400的连接板700活动连接时固定板603的水平倾角。

在一些实施例中，螺纹组件包括相互配合使用螺钉与螺母。例如，在图4中，螺纹组件可包括第一螺钉601与第一螺母602、相互配合使用的第二螺钉与第二螺母、相互配合使用的第三螺钉与第三螺母。第一螺母602、第二螺母以及第三螺母分布设置在固定板603的不同通孔中，例如，在图4中，固定板603为圆形板，第一螺母602、第二螺母以及第三螺母分布设置在圆形板靠近边缘的位置，进一步地，为了更加方便准确地调节固定板603与工作台400的连接板700活动连接时固定板603的水平倾角，第一螺母602、第二螺母以及第三螺母所在的通孔分布在全等三角形的三个顶点位置。在图4中，工作台400的连接板700上设置有沉头孔，沉头孔的分布位置与各个螺钉以及螺母对应。在固定板603通过螺纹组件与工作台400的连接板700固定连接时，第一螺钉601穿过第一螺母602与工作台400的连接板700上的第一沉头孔连接，第二螺钉穿过第二螺母与工作台400的连接板700上的第二沉头孔连接，第三螺钉穿过第三螺母与工作台400的连接板700上的第三沉头孔连接。这样，通过旋转第一螺钉601、第二螺钉以及第三螺钉，即可调整固定板603的各个位置与工作台400的连接板700之间的距离，进而改变固定板603与工作台400的连接板700活动连接时固定板603的水平倾角。其中，连接板700为水平放置。在一些实施例中，镙钉可采用细牙螺钉，螺母可采用细牙螺母，由于细牙螺钉以及细牙螺母的螺旋升角较小，可使固定板603的水平倾角的调节更加精确。

在一些实施例中，用于活动连接固定板603与工作台400的连接板700的拉簧轴销组件可同时设置多个。如图4所示，每一拉簧轴销组件包括第一轴销604、第二轴销607以及拉簧605。拉簧605包括两个端部，拉簧605可在两个端部连成的直线方向上被压缩或者被拉伸，从而实现活动连接。拉簧605的第一端部设置有第一拉钩，拉簧605的第二端部设置有第二拉钩。在固定板603通过拉簧轴销组件与工作台400的连接板700活动连接时，第一拉钩通过固定板603的一通孔穿过固定板603，并与第一轴销604连接，第二拉钩通过工作台400的连接板700的一通孔穿过连接板700，并与第二轴销607连接。第一轴销604插在第一拉钩的弯折部形成的弯折空间中，并抵在固定板603背对连接板700的侧面，第二轴销607在第二拉钩的弯折部形成的弯折空间中，并抵在连接板700背对固定板603的侧面，而由于拉簧605具有一定的弹性，因此可实现固定板603与连接板700之间的活动连接。

在一些实施例中，如图5所示，器件压装夹具500包括盖板501以及旋转销轴504。第一测试插座100的器件底座101设置有用于插入TO器件800的第一插槽，第一测试插座100通过旋转销轴504与盖板501连接，盖板501设置有透光孔以及第一磁吸件502，通过旋转销轴504旋转盖板501后，盖板501可与第一测试插座100盖合。在盖板501盖合第一测试插座100时，插入第一插槽的TO器件800发出的光从盖板501的透光孔透出，并射向光束分析仪301。透光孔的尺寸大小与TO器件800的发光部尺寸匹配，并且盖板501的透光孔设计可防止其他外部光线照射到第一插槽以及第一插槽中的TO器件800，避免其他外部光线对于TO器件800发出的光线的影响。第一测试插座100上设置的第二磁吸件503所在的位置与第一磁吸件502对应，以保证在盖板501盖合第一测试插座100时，第一磁吸件502与第一测试插座100上设置的第二磁吸件503相互磁吸，从而使盖板501压装TO器件800，保证TO器件800的固定。第一测试插座100的器件底座101下方设置有第一供电电路102，在TO器件800插入器件底座101上的第一插槽时，TO器件800与第一供电电路102电连接，以通过第一供电电路102向TO器件800供电。

在本实施例提供的TO器件的焦距测试设备中，通过采用双工位测试TO器件的焦距，在对一工位的TO器件进行焦距测试时，另一工位可同时上下料，从而提高TO器件的焦距测试效率。

参照图6，在再一实施例中，TO器件的焦距测试方法应用于如上各个实施例所述的TO器件的焦距测试设备，包括：

6001、在所述第一测试插座上插有第一TO器件时，通过所述位移调节组件，将所述光束分析仪移动至所述第一测试插座的正上方；

在本实施例中，可通过人工或者机械手对第一测试插座上料，以将第一TO器件插入第一测试插座，并盖合盖板。在第一TO器件插入第一测试插座后，第一测试插座中的第一供电电路对第一TO器件供电，以使第一TO器件发光。可通过人工按下工位切换按钮，或者自动触发电控指令，控制位移调节组件，将光束分析仪移动至第一测试插座的正上方。

6002、在所述光束分析仪移动至所述第一测试插座的正上方后，通过所述位移调节组件使所述光束分析仪在竖直方向上移动，并向所述第二测试插座插入第二TO器件；

6003、在所述光束分析仪在竖直方向上移动时，根据所述光束分析仪检测到的光斑面积确定所述第一TO器件的焦距；

在本实施例中，在光束分析仪移动至所述第一测试插座的正上方后，可控制位移调节组件，使光束分析仪在竖直方向上移动，以通过光束分析仪接收到的光线来检测第一TO器件的焦距，例如，可根据光束分析仪检测到的光斑面积来确定第一TO器件的焦距。一般来说，光束分析仪在竖直方向上移动的过程中，光斑面积达到最小时的位置为第一TO器件的焦点所在位置，进而可确定出第一TO器件的的焦距。在光束分析仪在竖直方向上移动时，可同时通过人工或者机械手向第二测试插座上料，以在第二测试插座上插入第二TO器件，这样，第二TO器件的上料时间即可包含在第一TO器件的焦距检测时间中，从而提高焦距检测效率。

6004、通过所述位移调节组件，将所述光束分析仪移动至所述第二测试插座的正上方，以确定所述第二TO器件的焦距。

在本实施例中，在第二测试插座插入第二TO器件，且第一TO器件的焦距确定后，即可控制位移调节组件，将光束分析仪移动至第二测试插座的正上方，以确定所述第二TO器件的焦距，实现光束分析仪在第一测试插座与第二测试插座之间的来回切换检测。

在一些实施例中，在将光束分析仪移动至第二测试插座的正上方，以确定第二TO器件的焦距时，可同时通过人工或者机械手对已经完成焦距检测的第一TO器件进行分拣。具体地，根据所述第一TO器件的焦距确定第一TO器件对应的器件等级，并将第一TO器件从第一测试插座上取出，并放入器件等级对应的料盒中。其中，事先设置有多个料盒，不同器件等级对应的料盒不同，实现TO器件的分拣。

在一些实施例中，为了保证焦距测试结果的准确性，在第一测试插座上插入第一TO器件之前，以及第二测试插座上插入第二TO器件之前，还可通过固定板上设置的倾角检测器件检测固定板的水平倾角，并在水平倾角不为零时，通过人工手动调节螺纹组件，以使固定板所在平面与光束分析仪的进光口所在平面平行。一般来说，光束分析仪的进光口所在平面与水平面平行。在一些实施例中，还可设置与螺纹组件的各个螺钉连接的螺钉旋转机构，根据固定板的水平倾角控制螺钉旋转机构控制各个螺钉旋转，进而自动调节定板的水平倾角，保证固定板所在平面与光束分析仪的进光口所在平面平行。

在本实施例公开的技术方案中，通过采用双工位测试TO器件的焦距，在对一工位的TO器件进行焦距测试时，另一工位可同时上下料，从而提高TO器件的焦距测试效率。

为了更好实施本申请实施例中TO器件的焦距测试方法，在TO器件的焦距测试方法的基础之上，本申请实施例中还提供一种TO器件的焦距测试装置，如图7所示，客服服务场景的资源调度装置7000包括控制模块7001以及确定模块7002，具体如下：

控制模块7001，用于在所述第一测试插座上插有第一TO器件时，通过所述位移调节组件，将所述光束分析仪移动至所述第一测试插座的正上方，以及在所述光束分析仪移动至所述第一测试插座的正上方后，通过所述位移调节组件使所述光束分析仪在竖直方向上移动，并向所述第二测试插座插入第二TO器件；

确定模块7002，用于在所述光束分析仪在竖直方向上移动时，根据所述光束分析仪检测到的光斑面积确定所述第一TO器件的焦距；

控制模块7001，还用于通过所述位移调节组件，将所述光束分析仪移动至所述第二测试插座的正上方，以确定所述第二TO器件的焦距。

在一些实施例中，确定模块7002，还用于根据所述第一TO器件的焦距确定所述第一TO器件对应的器件等级；

控制模块7001，还用于将所述第一TO器件从所述第一测试插座上取出，并放入所述器件等级对应的料盒中。

在一些实施例中，确定模块7002，还用于检测固定板的水平倾角；

控制模块7001，还用于根据所述水平倾角调节螺纹组件，以使所述固定板所在平面与所述光束分析仪的进光口所在平面平行。

本申请实施例还提供一种计算机设备，其集成了本申请实施例所提供的任一种TO器件的焦距测试装置。如图8所示，其示出了本申请实施例所涉及的计算机设备的结构示意图，具体来讲：

该计算机设备可以包括一个或者一个以上处理核心的处理器8001、一个或一个以上计算机可读存储介质的存储器8002、电源8003和输入单元8004等部件。本领域技术人员可以理解，图8中示出的计算机设备结构并不以构建对计算机设备的限定，可以包括比图示更多或更少的部件，或者组合某些部件，或者不同的部件布置。其中：

处理器8001是该计算机设备的控制中心，利用各种接口和线路连接整个计算机设备的各个部分，通过运行或执行存储在存储器8002内的软件程序和/或模块，以及调用存储在存储器8002内的数据，执行计算机设备的各种功能和处理数据，从而对计算机设备进行整体监控。可选地，处理器8001可包括一个或多个处理核心；优选的，处理器8001可集成应用处理器和调制解调处理器，其中，应用处理器主要处理操作系统、用户界面和应用程序等，调制解调处理器主要处理无线通信。可以理解的是，上述调制解调处理器也可以不集成到处理器8001中。

存储器8002可用于存储软件程序以及模块，处理器8001通过运行存储在存储器8002的软件程序以及模块，从而执行各种功能应用以及数据处理。存储器8002可主要包括存储程序区和存储数据区，其中，存储程序区可存储操作系统、至少一个功能所需的应用程序（比如声音播放功能、图像播放功能等）等；存储数据区可存储根据计算机设备的使用所创建的数据等。此外，存储器8002可以包括高速随机存取存储器，还可以包括非易失性存储器，例如至少一个磁盘存储器件、闪存器件、或其他易失性固态存储器件。相应地，存储器8002还可以包括存储器控制器，以提供处理器8001对存储器8002的访问。

计算机设备还包括给各个部件供电的电源8003，优选的，电源8003可以通过电源管理系统与处理器8001逻辑相连，从而通过电源管理系统实现管理充电、放电、以及功耗管理等功能。电源8003还可以包括一个或一个以上的直流或交流电源、再充电系统、电源故障检测电路、电源转换器或者逆变器、电源状态指示器等任意组件。

该计算机设备还可包括输入单元8004，该输入单元8004可用于接收输入的数字或字符信息，以及产生与用户设置以及功能控制有关的键盘、鼠标、操作杆、光学或者轨迹球信号输入。

尽管未示出，计算机设备还可以包括显示单元等，在此不再赘述。具体在本实施例中，计算机设备中的处理器8001会按照如下的指令，将一个或一个以上的应用程序的进程对应的可执行文件加载到存储器8002中，并由处理器8001来运行存储在存储器8002中的应用程序，从而实现各种功能，如下：

在第一测试插座上插有第一TO器件时，通过位移调节组件，将光束分析仪移动至第一测试插座的正上方；

在光束分析仪移动至第一测试插座的正上方后，通过位移调节组件使光束分析仪在竖直方向上移动，并向第二测试插座插入第二TO器件；

在光束分析仪在竖直方向上移动时，根据光束分析仪检测到的光斑面积确定第一TO器件的焦距；

通过位移调节组件，将光束分析仪移动至第二测试插座的正上方，以确定第二TO器件的焦距。

本领域普通技术人员可以理解，上述实施例的各种方法中的全部或部分步骤可以通过指令来完成，或通过指令控制相关的硬件来完成，该指令可以存储于一计算机可读存储介质中，并由处理器进行加载和执行。

为此，本申请实施例提供一种计算机可读存储介质，该存储介质可以包括：只读存储器（ROM，Read Only Memory）、随机存取记忆体（RAM，Random Access Memory）、磁盘或光盘等。其上存储有计算机程序，所述计算机程序被处理器进行加载，以执行本申请实施例所提供的任一种TO器件的焦距测试方法中的步骤。例如，所述计算机程序被处理器进行加载可以执行如下步骤：

在第一测试插座上插有第一TO器件时，通过位移调节组件，将光束分析仪移动至第一测试插座的正上方；

在光束分析仪移动至第一测试插座的正上方后，通过位移调节组件使光束分析仪在竖直方向上移动，并向第二测试插座插入第二TO器件；

在光束分析仪在竖直方向上移动时，根据光束分析仪检测到的光斑面积确定第一TO器件的焦距；

通过位移调节组件，将光束分析仪移动至第二测试插座的正上方，以确定第二TO器件的焦距。

在上述实施例中，对各个实施例的描述都各有侧重，某个实施例中没有详述的部分，可以参见上文针对其他实施例的详细描述，此处不再赘述。

具体实施时，以上各个单元或结构可以作为独立的实体来实现，也可以进行任意组合，作为同一或若干个实体来实现，以上各个单元或结构的具体实施可参见前面的方法实施例，在此不再赘述。

以上各个操作的具体实施可参见前面的实施例，在此不再赘述。

以上对本申请实施例所提供的一种TO器件的焦距测试设备、方法、计算机设备及存储介质进行了详细介绍，本文中应用了具体个例对本申请的原理及实施方式进行了阐述，以上实施例的说明只是用于帮助理解本申请的方法及其核心思想；同时，对于本领域的技术人员，依据本申请的思想，在具体实施方式及应用范围上均会有改变之处，综上所述，本说明书内容不应理解为对本申请的限制。

Claims (10)

1.一种TO器件的焦距测试设备，其特征在于，包括：

第一测试插座，所述第一测试插座包括内置的第一供电电路，所述第一供电电路用于给插入所述第一测试插座的TO器件供电；

第二测试插座，所述第二测试插座包括内置的第二供电电路，所述第二供电电路用于给插入所述第二测试插座的TO器件供电；

焦距检测机构，所述焦距检测机构包括竖直安装的光束分析仪以及位移调节组件，所述位移调节组件与所述光束分析仪连接，用于使所述光束分析仪在所述第一测试插座的正上方与所述第二测试插座的正上方之间移动，以及使所述光束分析仪在竖直方向上移动，所述光束分析仪用于接收所述光束分析仪正下方的TO器件发出的光线，以确定所述光束分析仪正下方的TO器件的焦距。

2.如权利要求1所述的TO器件的焦距测试设备，其特征在于，所述第一测试插座与所述第二测试插座设置于同一工作台上，所述第一测试插座与所述工作台之间通过水平调节机构连接，

所述水平调节机构包括固定板、拉簧轴销组件以及螺纹组件，所述第一测试插座固定设置于所述固定板上，所述固定板通过所述拉簧轴销组件与所述工作台活动连接，所述固定板通过所述螺纹组件与所述工作台固定连接，所述螺纹组件用于调节所述固定板与所述工作台活动连接时所述固定板的水平倾角。

3.如权利要求2所述的TO器件的焦距测试设备，其特征在于，所述螺纹组件包括相互配合使用的第一螺钉与第一螺母、相互配合使用的第二螺钉与第二螺母、相互配合使用的第三螺钉与第三螺母，所述第一螺母、所述第二螺母以及所述第三螺母分布设置在所述固定板的不同通孔中；

在所述固定板通过所述螺纹组件与所述工作台固定连接时，所述第一螺钉穿过所述第一螺母与所述工作台上的第一沉头孔连接，所述第二螺钉穿过所述第二螺母与所述工作台上的第二沉头孔连接，所述第三螺钉穿过所述第三螺母与所述工作台上的第三沉头孔连接，其中，通过所述第一螺钉、所述第二螺钉以及所述第三螺钉用于调节所述固定板与所述工作台活动连接时所述固定板的水平倾角。

4.如权利要求2所述的TO器件的焦距测试设备，其特征在于，所述拉簧轴销组件包括第一轴销、第二轴销以及拉簧，所述拉簧的第一端部设置有第一拉钩，所述拉簧的第二端部设置有第二拉钩；

在所述固定板通过所述拉簧轴销组件与所述工作台活动连接时，所述第一拉钩穿过所述固定板与所述第一轴销连接，所述第二拉钩穿过所述工作台与所述第二轴销连接。

5.如权利要求1所述的TO器件的焦距测试设备，其特征在于，所述第一测试插座包括用于插入TO器件的第一插槽，所述第一测试插座通过旋转销轴与盖板连接，所述盖板设置有透光孔以及第一磁吸件，通过所述旋转销轴旋转所述盖板后，所述盖板与所述第一测试插座盖合；

在所述盖板盖合所述第一测试插座时，插入第一插槽的TO器件发出的光从所述透光孔透出，并射向所述光束分析仪，且所述第一磁吸件与所述第一测试插座上设置的第二磁吸件相互磁吸。

6.一种TO器件的焦距测试方法，其特征在于，所述方法应用于如权利要求1至5中任一项所述的TO器件的焦距测试设备，包括：

在所述第一测试插座上插有第一TO器件时，通过所述位移调节组件，将所述光束分析仪移动至所述第一测试插座的正上方；

在所述光束分析仪移动至所述第一测试插座的正上方后，通过所述位移调节组件使所述光束分析仪在竖直方向上移动，并向所述第二测试插座插入第二TO器件；

在所述光束分析仪在竖直方向上移动时，根据所述光束分析仪检测到的光斑面积确定所述第一TO器件的焦距；

通过所述位移调节组件，将所述光束分析仪移动至所述第二测试插座的正上方，以确定所述第二TO器件的焦距。

7.如权利要求6所述的TO器件的焦距测试方法，其特征在于，执行所述通过所述位移调节组件，将所述光束分析仪移动至所述第二测试插座的正上方，以确定所述第二TO器件的焦距的步骤的同时，还包括：

根据所述第一TO器件的焦距确定所述第一TO器件对应的器件等级；

将所述第一TO器件从所述第一测试插座上取出，并放入所述器件等级对应的料盒中。

8.如权利要求6所述的TO器件的焦距测试方法，其特征在于，所述在所述第一测试插座上插有第一TO器件时，通过所述位移调节组件，将所述光束分析仪移动至所述第一测试插座的正上方的步骤之前，还包括：

检测固定板的水平倾角；

根据所述水平倾角调节螺纹组件，以使所述固定板所在平面与所述光束分析仪的进光口所在平面平行。

9.一种计算机设备，其特征在于，所述计算机设备包括：

一个或多个处理器；

存储器；以及

一个或多个应用程序，其中所述一个或多个应用程序被存储于所述存储器中，并配置为由所述处理器执行以实现权利要求6至8中任一项所述的TO器件的焦距测试方法中的步骤。

10.一种计算机可读存储介质，其特征在于，其上存储有计算机程序，所述计算机程序被处理器进行加载，以执行权利要求6至8中任一项所述的TO器件的焦距测试方法中的步骤。

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