CN114270180A - X射线单元技术模块和自动化应用训练 - Google Patents

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Abstract

一种扫描仪，包括：电磁波源；以及检测器，其定位成测量来自电磁波源的发射，其中电磁波源包括第一技术，并且电磁波源可与包括第二技术的第二电磁波源互换，和/或其中检测器包括第一技术，并且检测器可与包括第二技术的第二检测器互换。扫描仪可以包括存储介质，其上存储有指令以执行用于训练扫描仪进行检查应用的方法，该方法包括：操作电磁波源以多个参数组合产生电磁波发射；移动传送带以使具有不同尺寸的多种污染物的产品暴露于以一种以上的参数组合产生的发射；记录以一种以上的参数组合通过产品的衰减发射；以及选择在检查污染物时使用的参数组合。

Description

X射线单元技术模块和自动化应用训练
背景技术
X射线扫描仪具有给定的X射线源和检测器技术。提供扫描仪的技术无法轻易升级或更改以提供最有效或最佳的扫描应用技术。当新技术可用时，最常见的情况是较旧的单元已过时，需要购买新设备，在一些情况下，这些单元尚未超过使用寿命。此外，特定产品检查的应用设置是耗时的。设置应用以检查特定产品或特定缺陷需要在不同设置下多次运行样本。条件也会随着时间的推移而变化，这些条件难以适应，因此可能会改变最佳设置。
发明内容
公开了一种与技术无关的扫描仪设计，它可以通过移除和插入技术模块来接受许多视觉技术或源。这些模块会将系统升级到新的性能水平或获得应用的更高性能。
在一个实施例中，扫描仪底盘的独特设计允许插入技术模块，这些模块可以轻松地将单元升级到不同的性能水平。可以将诸如不同类型的X射线源和探测器的技术模块插入扫描仪的机械外壳中，使得除了常规对准之外几乎不需要调整。此特征提供了使用不同类型的电磁波源和检测器组合以最适合特定检查应用的能力。该扫描仪还允许在未来技术出现时快速应用它们。
在一个实施例中，提供了一种自动化应用训练方法，其中包括一个或多个中央处理单元和存储介质的控制系统对产品执行一系列测试以优化扫描仪的设置。该训练方法提供电磁波源、检测器、传送带速度、视觉算法等的设置。
通过组件模块插入不同的新技术的能力，提供了能够更快地适应新的要求和技术而无需更换整个扫描仪或进行耗时且昂贵的检修的优点。
在一个实施例中，一种扫描仪，包括：电磁波源；以及检测器，其定位成测量来自电磁波源的发射，其中电磁波源包括第一技术，并且电磁波源可与包括第二技术的第二电磁波源互换。
在一个实施例中，第一和第二技术包括来自电磁谱的不同波长。
在一个实施例中，扫描仪还包括置于电磁波源和检测器之间的传送带。
在一个实施例中，检测器包括第一技术，并且检测器可与包括第二技术的第二检测器互换。
在一个实施例中，电磁波源是X射线源。
在一个实施例中，检测器包括光电二极管阵列和其他技术。
在一个实施例中，扫描仪被配置为与存储介质通信，存储介质存储有指令以执行用于训练扫描仪进行检查应用的方法，该方法包括：利用控制系统，操作电磁波源以多个参数组合产生电磁波发射；利用控制系统，移动传送带以使具有不同尺寸的多种污染物的产品暴露于以一种以上的参数组合产生的发射；利用控制系统，记录以一种以上的参数组合通过产品的衰减发射；以及利用通过控制系统，选择在检查污染物时使用的参数组合。
在一个实施例中，存储介质是远程存储介质。
在一个实施例中，一种有形计算机可读介质，其上存储有指令以执行用于训练扫描仪进行检查应用的方法，该方法包括：利用控制系统，操作电磁波源以多个参数组合产生电磁波发射；利用控制系统，移动传送带以使具有不同尺寸的多种污染物的产品暴露于以一种以上的参数组合产生的发射；利用控制系统，记录以一种以上的参数组合通过产品的衰减发射；以及利用通过控制系统，选择在检查污染物时使用的参数组合。
在一个实施例中，一种用于训练扫描仪执行检查应用的方法，该方法包括：操作电磁波源以多个参数组合产生电磁波发射；移动传送带以使具有不同尺寸的多种污染物的产品暴露于以一种以上的参数组合产生的发射；记录以一种以上的参数组合通过产品的衰减发射；以及选择在检查污染物时使用的参数组合。
在一个实施例中，该方法还包括将包含不同尺寸污染物的测试卡放置在产品下方。
在一个实施例中，该方法还包括在一种以上的参数组合中的每一种之后将产品暴露于发射之后反转传送带的方向。
在一个实施例中，电磁波源是X射线源。
在一个实施例中，控制系统设置参数组合。
在一个实施例中，一种扫描仪，包括：电磁波源；以及检测器，其定位成测量来自电磁波源的发射，其中检测器包括第一技术，并且检测器可与包括第二技术的第二检测器互换。
在一个实施例中，检测器技术选自由光电二极管阵列、CCD和CMOS构成的组。
在一个实施例中，扫描仪被配置为与存储介质通信，存储介质上存储有指令以执行用于训练扫描仪进行检查应用的方法，该方法包括：利用控制系统，操作电磁波源以多个参数组合产生电磁波发射；利用控制系统，移动传送带以使合格产品暴露于以一种以上的参数组合产生的发射；利用控制系统，记录以一种以上的参数组合通过合格产品的衰减发射；以及利用控制系统，选择在检查不知道是否合格产品时使用的参数组合。
在一个实施例中，一种有形计算机可读介质，其上存储有指令以执行用于训练扫描仪进行检查应用的方法，该方法包括：利用控制系统，操作电磁波源以多个参数组合产生电磁波发射；利用控制系统，移动传送带以使合格产品暴露于以一种以上的参数组合产生的发射；利用控制系统，记录以一种以上的参数组合通过合格产品的衰减发射；以及利用控制系统，选择在检查不知道是否合格产品时使用的参数组合。
在一个实施例中，一种用于训练扫描仪执行检查应用的方法，该方法包括：操作电磁波源以多个参数组合产生电磁波发射；移动传送带以使合格产品暴露于以一种以上的参数组合产生的发射；记录以一种以上的参数组合通过合格产品的衰减发射；以及选择在检查不知道是否合格产品时使用的参数组合。
在一个实施例中，该方法还包括从记录的衰减发射中选择定义合格产品的数据。
提供本发明内容以便以简化形式介绍概念的选择，这些概念将在下面的具体实施方式中进一步描述。本发明内容不旨在识别所要求保护的主题的关键特征，也不旨在用作确定所要求保护的主题的范围的帮助。
附图说明
本发明的前述方面和许多伴随的优点将变得更容易理解，因为它们通过参考以下详细描述并结合附图得到更好的理解，其中：
图1是根据本公开的一个实施例的扫描仪的示意图；
图2是图1的扫描仪的示意图。
图3是可更换X射线源的接口的特写示意图；
图4是构成控制系统的组件的示意图；
图5是执行应用训练的扫描仪的示意图；
图6是根据本公开的用于应用训练的方法的流程图。
具体实施方式
参考图1，电磁波扫描仪(例如X射线扫描仪100)部分地由电磁波(X射线)源102和检测器110组成。通常，这些组件具有广泛的选择、配置和技术。
关于X射线，有不同类型的可用技术用于产生X射线。对于类似的技术，甚至存在不同的方法和设计。例如，X射线源可能在源中使用X射线管，但是管的设计和内部材料可能不同，因此会产生不同的辐射特性。本公开提供了具有可互换的电磁波源102和/或检测器110的扫描仪，包括产生和检测X射线以及其他电磁波辐射的不同技术。
剖视图示出了电磁波源102放置在传送带106上方。在本公开中，代表性的电磁波源102被描述为X射线源，然而，可以使用除X射线之外的其他电磁波源。图1还示出了X射线检测器110放置在传送带106下方。因此，从X射线源102发射的辐射穿过传送带106上承载的任何产品，然后被检测器110检测到。检测器110包含当被X射线照射时产生可见光的闪烁材料。光由光电二极管检测。光的强度取决于X射线在穿过产品时衰减的程度。任何异常(例如异物或污染物)都将与光检测中的响应区分开来。
用于检查的应用范围、产品和污染物范围很广，因此需要有一个系统设计为快速更改以适应不同类型的技术和/或组件。在本公开中，扫描仪100被设计成使得X射线源102和检测器110组件可与相同的组件或与使用不同技术的组件快速替换。例如，X射线源102和检测器110中的一者或两者可以用在电磁谱(例如UV、IR、可见光、微波、无线电波等)的不同波长范围内工作的任何其他电磁波源和检测器代替。此外，X射线源102和检测器110中的一者或两者可以用使用新技术或不同技术的任何其他X射线源102和检测器110代替。例如，光电二极管阵列检测器可以用使用例如包括硒或镉的半导体的检测器代替。
参考图1，在一个实施例中，在移除盖114之后，通过松开螺钉112并将包含检测器110的盒116从扫描仪100滑出来，移除检测器110，如图2所示。
在一个实施例中，检测器110搁置在可容纳不同形状和尺寸的检测器的盒116内。可以安装在盒116内的每个新检测器都可以接受螺钉112并且构建为使得在搁置在盒上时，对于使用不同技术的每个其他检测器，检测元件处于相同的位置，从而最大程度减少或者避免检测器的对准。
在一个实施例中，多种类型和设计的检测器110可以制成相同的外壳尺寸以装配在相同的盒116内，从而可互换。在检测器110需要改变以更新技术的情况下，这将增强检测器110组件的替换。
在一个实施例中，检测器110可以包括边缘卡连接器或任何其他标准连接器，以允许检测器110插入扫描仪100上的匹配插座，以与扫描仪100中的其他组件通信。
参考图3，例如通过移除一个或多个螺钉，X射线源102从扫描仪松开，然后在例如小型提升机的帮助下抬起。
在一个实施例中，每个可互换的电磁波源102可以被构建为具有相同图案的螺栓孔，例如，以允许螺栓连接到安装板118。
此外，在一个实施例中，每个可互换的电磁波源102被构建为使得在搁置在安装板118上时，每个可互换的电磁波源102在与每个其他可互换的电磁波源相同的空间中发射电磁波束。该特征将允许改变电磁波源102而不需要进一步对准或只需要最小对准。
在一个实施例中，一旦安装在安装板118上，可互换的电磁波源102无需进一步对准或需要最小对准即可构建。
几种类型或具有不同功率选项的源102可以制成类似的外壳尺寸以便可互换。
在一个实施例中，X射线源102可以包括边缘卡连接器或任何其他标准连接器，以允许X射线源102插入扫描仪100上的匹配插座，以与扫描仪100中的其他组件通信。
用于检测器110的图2的盒116和用于X射线源102的图3的安装板118可以构建为紧密公差。因此，可以更换X射线源102和检测器110，使得在更换时，扫描仪100的新组件在安装时正确对准。
在其他实施例中，可以修改盒116和安装板118。例如，代替滑出扫描仪100，盒116可以保留在扫描仪100中，而检测器110滑出。安装板118也可以与电磁波源102一起移除，而不是留在扫描仪100中。
一旦用新的或不同的电磁波源102和检测器110代替电磁波源102和检测器110，就从人机界面(HMI)104的触摸屏上的菜单中选择代替品。
图4是组成控制系统的一些组件的示意图。控制系统包括通过有线或无线电路相互通信以执行特定例程或方法来操作扫描仪100的各种组件。
扫描仪100包括一个或多个中央处理单元(CPU)400。中央处理单元400包括通过执行由软件或固件的指令指定的基本算术、逻辑、控制、操作系统和输入/输出操作来执行指令的电子电路。
尽管图4示出了扫描仪100包括一个或多个CPU 400的实施例，但是在另一实施例中，CPU 400可以驻留在扫描仪100的外部，例如在提供云计算资源的远程服务器中。
在一个实施例中，扫描仪100位于客户的物理位置处，并且CPU 400驻留在服务供应商(例如扫描仪的供应商或制造商，或云计算服务供应商)处的远程服务器中。
在一个实施例中，扫描仪100包括与一个或多个处理单元400通信的有形非暂时性存储介质/计算机可读介质402。存储介质402除了存储操作系统之外还可以存储固件或软件以执行用于执行应用训练方法的一组指令，该方法用于为新的检查应用创建一组操作参数。
尽管图4示出了扫描仪100包括存储介质402的实施例，但是在另一个实施例中，存储介质402可以驻留在扫描仪100的外部，例如在提供云计算资源的远程服务器中。
在一个实施例中，扫描仪100位于客户的物理位置处，并且存储介质402驻留在服务供应商(例如，扫描仪的供应商或制造商，或云计算服务供应商)处的远程服务器中。
一个或多个CPU 400还与电磁波源102(例如，X射线源)通信。一个或多个CPU 400可以控制电磁波源102的开启或关闭状态。一个或多个CPU 400可以控制电磁波源102的能级、波长、幅度等。
一个或多个CPU 400可以控制传送带106。一个或多个CPU 400可以控制传送带106的开启或关闭状态以与电磁波源102同步。一个或多个CPU 400可以控制传送带106的线性速度以使速度与检测器110同步。
一个或多个CPU 400还与HMI 104通信。HMI 104可以包括触摸屏显示器以允许操作员启动和设置扫描仪100的操作功能。例如，HMI 104可以具有菜单，供操作员选择用于运行扫描仪的各种参数或为新的检查应用设置扫描仪。
在一个实施例中，扫描仪100包括菜单和/或显示器，供操作员启动和运行自动训练方法以创建新的检查应用。
包括一个或多个中央处理单元400和存储介质402的控制系统被编程以识别检测器110或电磁波源102中的代替品。例如，每个组件可以具有将新的检测器110或新的电磁波源102插入扫描仪100时由控制器识别的唯一识别信号。存储介质402中可以存储具有其唯一识别信号的每个组件的表。存储介质402还可以存储与每个唯一的识别信号匹配的操作参数。
此外，每当安装新的检测器110或电磁波源102时，包括一个或多个中央处理单元400和存储介质402的控制系统可以执行校准测试，以优化操作参数。
在一个实施例中，扫描仪100通过识别由于特定污染物引起的电磁波发射的响应来执行产品检查。
为了创建检查应用，扫描仪首先学习识别由产品中的不期望污染物引起的模式。
在一个实施例中，特定污染物在操作参数组合矩阵下通过扫描仪。以这种方式，扫描仪100学习如何通过检测器110处的响应以及导致这种响应的操作参数来识别不期望污染物。
通常，未受污染的产品会产生连续的检测能量曲线，但产品中的污染物会削弱电磁波发射，从而导致不连续性，例如能量曲线中的尖峰或下降。
此外，扫描仪100学习哪些操作参数设置提供最佳生产，以在检查大多数产品方面最大化生产率，具有接近100％或处于100％的高置信水平，使被确定通过的产品都不包含污染物。
参考图5，为了运行用于训练扫描仪100检查污染物的训练应用，可接受的可通过产品120被放置在传送带106上，而测试卡122被放置在产品120下方。
在一个实施例中，测试卡122通常以有序的方式嵌入有不同尺寸的污染物124。一张或多张测试卡122可以制成带有所有可能的污染物尺寸。在一个实施例中，测试卡122可以在污染物的类型和污染物的尺寸上有所不同。待测试的污染物124包括例如有机或无机碎屑，例如木头、毛发、昆虫部分、尘土、沙子、岩石、玻璃、金属、骨头等。不同的测试卡122可以放置在产品120下方，以便同时获得几种类型污染物的数据。
存储介质402用于记录测试卡122的污染物的类型和尺寸、操作参数(例如X射线源功率或电流、传送带速度)以及来自检测器110的每个测试条件的结果。
测试完成后，存储介质402中存储数据库，其中可以在以后调用测试条件和相应的结果，以在实际生产过程中对未测试的产品运行检查应用。
一旦将各种测试卡122放置在产品120下方，包括一个或多个中央处理单元400和存储介质402的控制系统将启动传送带106以使产品120通过电磁波源102和检测器110。
一旦产品120通过电磁波发射，传送带106将停止并反转方向以允许产品120再次通过。这种来回运动将根据需要持续多次，以单步调试操作参数的组合。
操作参数的组合由包括一个或多个中央处理单元400和存储介质402的控制系统递增地调整。例如，一个操作参数可以一次递增一，以通过它们的操作范围测试操作参数的可能排列。以这种方式，可以测量每个操作参数的影响，并记录例如可以检测最小污染物的操作参数的组合。
在一个实施例中，扫描仪100被训练以检查合格产品120。合格产品是符合重量、形状、尺寸、颜色、密度等的预定标准的产品。
在一个实施例中，扫描仪100被训练以在不使用测试卡122的情况下检查合格产品120。在这样的实施例中，合格产品在电磁波源102下方通过以暴露于电磁波发射。
在一个实施例中，多个合格产品120的多次通过将允许收集多个数据，并且可以从数据构建合格产品的响应的组合，存储在存储介质402中，并且稍后在检查不知道是否合格产品时使用，该检查通过将存储在存储介质402中的合格产品的响应与从不知道是否合格产品测量的实时响应相比较来进行。
在一个实施例中，训练扫描仪100检测合格产品可以包括使不合格产品在电磁波源102下方通过。这允许进一步训练扫描仪100以识别不合格产品以及识别合格产品。
参考图6，示出了用于管理应用的方法的一个实施例。特别地，图6的方法被配置为通过针对新应用训练扫描仪100来实现构建新应用的子例程。该方法中的步骤可以是计算机执行的步骤。在块602中，操作员从HMI 104中选择应用。
在这种情况下，“应用”可以指用于检查特定类型产品的检查程序。该方法从块602进入块604。应用包括但不限于检查产品中的污染物或检查产品中的缺陷，即不合格产品。
在块604中，该方法判断存储介质中402的数据库中是否存在该应用。如果块604中的判断为是，表示该应用已经存在，该方法跳转到块620，表示应用训练已经完成，并且操作员可根据该应用进行实际检查。
如果块604中的判断为否，表示存储介质402中不存在这样的应用，该方法进入块606，表示需要训练扫描仪100来构建新应用。在图6的实施例中，示出了当训练污染物时扫描仪100的训练方法。
然而，在一个实施例中，可以修改训练方法以消除测试卡的使用，并且移动合格产品或不合格产品以训练扫描仪100识别或检测合格或不合格产品。
块606是操作员将产品放置在每个测试卡122的顶部以用于应用训练的手动准备步骤。该方法从块606进入块608。
在一个实施例中，如果扫描仪100正被训练以识别或检测合格或不合格产品或两者，则可以省略块606。
在块608中，操作员创建新的训练应用并通过HMI 104上的触摸屏输入识别名称。可以使用几个菜单来提供多个应用名称。例如，应用名称可以基于产品，例如鸡大腿、鸡胸肉、鸡翅，进一步的层级选择可以包括无骨或带骨和去皮或带皮，对于鱼片，进一步的层级选择可以包括鱼的名称，例如鳕鱼、鲑鱼、罗非鱼等。
存储介质可以首先从基础产品、并进一步基于与基础产品相关的任何层级选择来存储和跟踪应用。该方法从块608进入块610。
在块610中，操作员从HMI 104上的触摸屏开始训练例程。在块610中，操作员也可以手动输入测试条件。该方法从块610进入块612。
在块612中，包括一个或多个中央处理单元400和存储介质402的控制系统设置要测试的参数组合，例如每个参数增加或减少的增量大小、传送带速度等。
在块612中，传送带106启动，并记录来自第一次通过电磁波源发射的数据。该方法从块612进入块614。
在块614中，当产品120前进超过电磁波源发射时，包括一个或多个中央处理单元400和存储介质402的控制系统停止传送带106，然后，包括一个或多个中央处理单元400和存储介质402的控制系统将传送带106反转至复位位置，准备好用一组新参数或仅改变一个参数的下一次通过。该方法从块614进入块616。
在块616中，判断是否所有参数组合都已被测试。如果块616中的判断为否，表明参数组合仍需要测试，该方法返回以重复块612和块614，其中在块612中，通过根据预设规则递增操作参数中的一个或多个来设置下一个组合，在块614中，包括一个或多个中央处理单元400和存储介质402的控制系统感测产品120通过电磁波源发射。
然而，如果块616中的判断为是，表明所有参数组合都已被测试，该方法进入块618。
在块618中，包括一个或多个中央处理单元400和存储介质402的控制系统比较当前训练例程中的所有数据集并根据训练应用的特定目的选择“最佳情况”。
在训练应用的一个实施例中，最佳情况是检测测试卡122中可能的最小污染物，其中测试卡通常将包含从容易发现到非常难发现的样本范围。一旦检测到可能的最小污染物，就会记录导致发现发现污染物的操作条件，以备将来检查时使用。
在训练应用的一个实施例中，训练应用不仅考虑产品120是否具有污染物和污染物尺寸，而且还考虑污染物的数量，其中可以施加对污染物量的限制或对污染物尺寸或量和尺寸两者组合的限制。这样的限制定义了可接受的可通过产品120。
在一个实施例中，产品102没有通过限制并且可以进一步从传送带106跟踪和拒绝。
在训练应用的一个实施例中，训练应用不检测污染物。例如，训练应用用于训练扫描仪100以关于尺寸、颜色、形状等方面识别合格或不合格产品120。当检测到与经过训练的尺寸、颜色或形状相比具有尺寸、颜色或形状缺陷的不合格产品时，将跟踪并拒绝不合格产品。
为了选择要在未来检查应用中使用的数据集，CPU 400可以执行统计算法来分析数据、识别模式、应用统计算法以选择优化的参数集。例如，此类统计算法可以使用主成分分析、ANOVA、聚类方法和线性回归。该方法从块618进入块620，表示训练完成。
一旦选择了最佳数据集，对应于最佳情况的参数就存储在块608开始时给出的应用名称下。当选择已完成训练方法的应用名称时，对应于应用名称的参数用于利用扫描仪100对未检查产品的实时检查。
尽管图6显示了方法和训练子程序的一个实施例，但是可以修改这些步骤以实现基本相同的结果。例如，如果结果基本相同，则任何两个或更多个步骤的顺序可以颠倒，或者如果结果基本相同，则任何两个或更多个步骤可以合并为一个步骤，或者如果结果基本相同，则可以将任何一个步骤分成两个或更多个步骤，或者可以包括额外的步骤(未显示)。
在一个实施例中，扫描仪100包括电磁波源102；以及检测器110，被定位成测量来自电磁波源的发射，其中电磁波源包括第一技术，并且电磁波源可与包括第二技术的第二电磁波源互换。
在一个实施例中，第一和第二技术包括来自电磁谱的不同波长。
在一个实施例中，扫描仪100还包括置于电磁波源和检测器之间的传送带106。
在一个实施例中，检测器110包括第一技术，并且检测器可与包括第二技术的第二检测器互换。
在一个实施例中，电磁波源102是X射线源。
在一个实施例中，检测器110可以包括光电二极管阵列和其他技术。
在一个实施例中，扫描仪100被配置为与存储介质402通信，存储介质402上存储有指令以执行用于训练扫描仪进行检查应用的方法，该方法包括：利用控制系统400、402，操作电磁波源102以多个参数组合产生电磁波发射；利用控制系统，移动传送带106以使具有不同尺寸的多种污染物124的产品120暴露于以一种以上的参数组合产生的发射；利用控制系统，记录以一种以上的参数组合通过产品的衰减发射；以及利用控制系统，选择在检查污染物时使用的参数组合。
在一个实施例中，存储介质402是远程存储介质。
在一个实施例中，有形计算机可读介质402上存储有指令以执行用于训练扫描仪100进行检查应用的方法，该方法包括：利用控制系统400、402，操作电磁波源102以多个参数组合产生电磁波发射；利用控制系统，移动传送带106以使具有不同尺寸的多种污染物124的产品120暴露于以一种以上的参数组合产生的发射；利用控制系统，记录以一种以上的参数组合通过产品的衰减发射；以及利用控制系统，选择在检查污染物时使用的参数组合。
在一个实施例中，一种用于训练扫描仪100执行检查应用的方法，该方法包括：操作电磁波源102以多个参数组合产生电磁波发射；移动传送带106以使具有不同尺寸的多种污染物的产品暴露于以一种以上的参数组合产生的发射；记录以一种以上的参数组合通过产品的衰减发射；以及选择在检查污染物时使用的参数组合。
在一个实施例中，该方法还包括将包含不同尺寸污染物的测试卡122放置在产品下方。
在一个实施例中，该方法还包括在一种以上的参数组合中的每一种之后将产品暴露于发射之后反转传送带106的方向。
在一个实施例中，电磁波源102是X射线源。
在一个实施例中，控制系统400、402设置参数组合。
在一个实施例中，扫描仪100包括电磁波源102；以及检测器110，定位成测量来自电磁波源的发射，其中检测器100包括第一技术，并且检测器可与包括第二技术的第二检测器互换。
在一个实施例中，检测器技术选自由光电二极管阵列、CCD和CMOS构成的组。
在一个实施例中，扫描仪100被配置为与存储介质402通信，存储介质402上存储有指令以执行用于训练扫描仪进行检查应用的方法，该方法包括：利用控制系统400、402，操作电磁波源102以多个参数组合产生电磁波发射；利用控制系统，移动传送带106以使合格产品120暴露于以一种以上的参数组合产生的发射；利用控制系统，记录以一种以上的参数组合通过合格产品的衰减发射；以及通过控制系统，选择在检查不知道是否合格产品时使用的参数组合。
在一个实施例中，有形计算机可读介质402上存储有指令以执行用于训练扫描仪100进行检查应用的方法，该方法包括：利用控制系统400、402，操作电磁波源102以多个参数组合产生电磁波发射；利用控制系统，移动传送带106以使合格产品120暴露于以一种以上的参数组合产生的发射；利用控制系统，记录以一种以上的参数组合通过合格产品的衰减发射；以及通过控制系统，选择在检查不知道是否合格产品时使用的参数组合。
在一个实施例中，一种用于训练扫描仪100执行检查应用的方法，该方法包括：操作电磁波源102以多个参数组合产生电磁波发射；移动传送带106以使合格产品暴露于以一种以上的参数组合产生的发射；记录以一种以上的参数组合通过合格产品的衰减发射；以及选择在检查不知道是否合格产品时使用的参数组合。
在一个实施例中，该方法还包括从记录的衰减发射中选择定义合格产品的数据。
尽管已经说明和描述了说明性实施例，但是应当理解，在不脱离本发明的精神和范围的情况下可以在其中做出各种改变。
权利要求书(按照条约第19条的修改)
1.一种扫描仪，包括：
电磁波源；以及
检测器，其定位成测量来自所述电磁波源的发射，其中，所述电磁波源包括第一技术，并且所述电磁波源能够与包括第二技术的第二电磁波源互换，其特征在于，所述扫描仪包括人机界面以为第一电磁波源选择代替品，以及控制系统，所述控制系统包括一个或多个中央处理单元和存储介质，所述存储介质识别所述代替品，并且所述存储介质存储与所述代替品匹配的操作参数。
2.根据权利要求1所述的扫描仪，其中，所述第一技术和所述第二技术包括来自所述电磁谱的不同波长。
3.根据权利要求1或权利要求2所述的扫描仪，包括置于所述电磁波源和所述检测器之间的传送带。
4.根据权利要求1至3中任一项所述的扫描仪，其中，所述检测器包括第一技术，并且所述检测器能够与包括第二技术的第二检测器互换。
5.根据权利要求1至4中任一项所述的扫描仪，其中，所述电磁波源是X射线源。
6.根据权利要求1至5中任一项所述的扫描仪，其中，所述检测器包括光电二极管阵列和其他技术。
7.根据权利要求1至6中任一项所述的扫描仪，其被配置为与存储介质通信，所述存储介质上存储有指令以执行用于训练所述扫描仪进行检查应用的方法，所述方法包括：
利用所述控制系统，操作所述电磁波源以多个参数组合产生电磁波发射；
利用所述控制系统，移动传送带以使具有不同尺寸的多种污染物的产品暴露于以一种以上的参数组合所产生的发射；
利用所述控制系统，记录以一种以上的参数组合通过所述产品的衰减的发射；以及
利用所述控制系统，选择在检查所述污染物时使用的参数组合。
8.根据权利要求7所述的扫描仪，其中，所述存储介质是远程存储介质。
9.一种有形计算机可读介质，其上存储有指令以执行用于训练扫描仪进行检查应用的方法，所述方法包括：
利用控制系统，操作电磁波源以多个参数组合产生电磁波发射；
利用所述控制系统，移动传送带以使具有不同尺寸的多种污染物的产品暴露于以一种以上的参数组合所产生的发射；
利用所述控制系统，记录以一种以上的参数组合通过所述产品的衰减的发射；以及
利用所述控制系统，选择在检查所述污染物时使用的参数组合。
10.一种用于训练扫描仪执行检查应用的方法，所述方法包括：
操作电磁波源以多个参数组合产生电磁波发射；
移动传送带以使具有不同尺寸的多种污染物的产品暴露于以一种以上的参数组合所产生的发射；
记录以一种以上的参数组合通过所述产品的衰减的发射；以及
选择在检查所述污染物时使用的参数组合。
11.根据权利要求10所述的方法，还包括将包含不同尺寸污染物的测试卡放置在所述产品下方。
12.根据权利要求10或权利要求11所述的方法，还包括在所述一种以上的参数组合中的每一种之后将所述产品暴露于所述发射之后反转所述传送带的方向。
13.根据权利要求10至12中任一项所述的方法，其中，所述电磁波源是X射线源。
14.根据权利要求9所述的方法，其中，控制系统设置所述参数组合。
15.一种扫描仪，包括：
电磁波源；以及
检测器，其定位成测量来自所述电磁波源的发射，其中，所述检测器包括第一技术，并且所述检测器能够与包括第二技术的第二检测器互换，其特征在于，所述扫描仪包括人机界面以为第一检测器选择代替品，以及控制系统，所述控制系统包括一个或多个中央处理单元和存储介质，所述存储介质识别所述代替品，并且所述存储介质存储与所述代替品匹配的操作参数。
16.根据权利要求15所述的扫描仪，其中，检测器技术选自由光电二极管阵列、CCD和CMOS构成的组。
17.根据权利要求1至8中任一项所述的扫描仪，其被配置为与存储介质通信，所述存储介质上存储有指令以执行用于训练所述扫描仪进行检查应用的方法，所述方法包括：
利用所述控制系统，操作所述电磁波源以多个参数组合产生电磁波发射；
利用所述控制系统，移动传送带以使合格产品暴露于以一种以上的参数组合所产生的发射；
利用所述控制系统，记录以一种以上的参数组合通过所述合格产品的衰减的发射；以及
利用所述控制系统，选择在检查不知道是否合格产品时使用的参数组合。
18.一种有形计算机可读介质，其上存储有指令以执行用于训练扫描仪进行检查应用的方法，所述方法包括：
利用控制系统，操作电磁波源以多个参数组合产生电磁波发射；
利用所述控制系统，移动传送带以使合格产品暴露于以一种以上的参数组合所产生的发射；
利用所述控制系统，记录以一种以上的参数组合通过所述合格产品的衰减的发射；以及
利用所述控制系统，选择在检查不知道是否合格产品时使用的参数组合。
19.一种用于训练扫描仪执行检查应用的方法，所述方法包括：
操作电磁波源以多个参数组合产生电磁波发射；
移动传送带以使合格产品暴露于以一种以上的参数组合所产生的发射；
记录以一种以上的参数组合通过所述合格产品的衰减的发射；以及
选择在检查不知道是否合格产品时使用的参数组合。
20.根据权利要求19所述的方法，还包括从所记录的衰减发射中选择定义合格产品的数据。

Claims (20)

1.一种扫描仪，包括：
电磁波源；以及
检测器，其定位成测量来自所述电磁波源的发射，其中，所述电磁波源包括第一技术，并且所述电磁波源能够与包括第二技术的第二电磁波源互换。
2.根据权利要求1所述的扫描仪，其中，所述第一技术和所述第二技术包括来自所述电磁谱的不同波长。
3.根据权利要求1或权利要求2所述的扫描仪，包括置于所述电磁波源和所述检测器之间的传送带。
4.根据权利要求1至3中任一项所述的扫描仪，其中，所述检测器包括第一技术，并且所述检测器能够与包括第二技术的第二检测器互换。
5.根据权利要求1至4中任一项所述的扫描仪，其中，所述电磁波源是X射线源。
6.根据权利要求1至5中任一项所述的扫描仪，其中，所述检测器包括光电二极管阵列和其他技术。
7.根据权利要求1至6中任一项所述的扫描仪，其被配置为与存储介质通信，所述存储介质上存储有指令以执行用于训练所述扫描仪进行检查应用的方法，所述方法包括：
利用控制系统，操作所述电磁波源以多个参数组合产生电磁波发射；
利用所述控制系统，移动传送带以使具有不同尺寸的多种污染物的产品暴露于以一种以上的参数组合所产生的发射；
利用所述控制系统，记录以一种以上的参数组合通过所述产品的衰减的发射；以及
利用所述控制系统，选择在检查所述污染物时使用的参数组合。
8.根据权利要求7所述的扫描仪，其中，所述存储介质是远程存储介质。
9.一种有形计算机可读介质，其上存储有指令以执行用于训练扫描仪进行检查应用的方法，所述方法包括：
利用控制系统，操作电磁波源以多个参数组合产生电磁波发射；
利用所述控制系统，移动传送带以使具有不同尺寸的多种污染物的产品暴露于以一种以上的参数组合所产生的发射；
利用所述控制系统，记录以一种以上的参数组合通过所述产品的衰减的发射；以及
利用所述控制系统，选择在检查所述污染物时使用的参数组合。
10.一种用于训练扫描仪执行检查应用的方法，所述方法包括：
操作电磁波源以多个参数组合产生电磁波发射；
移动传送带以使具有不同尺寸的多种污染物的产品暴露于以一种以上的参数组合所产生的发射；
记录以一种以上的参数组合通过所述产品的衰减的发射；以及
选择在检查所述污染物时使用的参数组合。
11.根据权利要求10所述的方法，还包括将包含不同尺寸污染物的测试卡放置在所述产品下方。
12.根据权利要求10或权利要求11所述的方法，还包括在所述一种以上的参数组合中的每一种之后将所述产品暴露于所述发射之后反转所述传送带的方向。
13.根据权利要求10至12中任一项所述的方法，其中，所述电磁波源是X射线源。
14.根据权利要求9所述的方法，其中，控制系统设置所述参数组合。
15.一种扫描仪，包括：
电磁波源；以及
检测器，其定位成测量来自所述电磁波源的发射，其中，所述检测器包括第一技术，并且所述检测器能够与包括第二技术的第二检测器互换。
16.根据权利要求15所述的扫描仪，其中，检测器技术选自由光电二极管阵列、CCD和CMOS构成的组。
17.根据权利要求1至8中任一项所述的扫描仪，其被配置为与存储介质通信，所述存储介质上存储有指令以执行用于训练所述扫描仪进行检查应用的方法，所述方法包括：
利用控制系统，操作所述电磁波源以多个参数组合产生电磁波发射；
利用所述控制系统，移动传送带以使合格产品暴露于以一种以上的参数组合所产生的发射；
利用所述控制系统，记录以一种以上的参数组合通过所述合格产品的衰减的发射；以及
利用所述控制系统，选择在检查不知道是否合格产品时使用的参数组合。
18.一种有形计算机可读介质，其上存储有指令以执行用于训练扫描仪进行检查应用的方法，所述方法包括：
利用控制系统，操作电磁波源以多个参数组合产生电磁波发射；
利用所述控制系统，移动传送带以使合格产品暴露于以一种以上的参数组合所产生的发射；
利用所述控制系统，记录以一种以上的参数组合通过所述合格产品的衰减的发射；以及
利用所述控制系统，选择在检查不知道是否合格产品时使用的参数组合。
19.一种用于训练扫描仪执行检查应用的方法，所述方法包括：
操作电磁波源以多个参数组合产生电磁波发射；
移动传送带以使合格产品暴露于以一种以上的参数组合所产生的发射；
记录以一种以上的参数组合通过所述合格产品的衰减的发射；以及
选择在检查不知道是否合格产品时使用的参数组合。
20.根据权利要求19所述的方法，还包括从所记录的衰减发射中选择定义合格产品的数据。
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