CN114262159B - 防眩光玻璃的加工设备及加工方法 - Google Patents
防眩光玻璃的加工设备及加工方法 Download PDFInfo
- Publication number
- CN114262159B CN114262159B CN202111086930.XA CN202111086930A CN114262159B CN 114262159 B CN114262159 B CN 114262159B CN 202111086930 A CN202111086930 A CN 202111086930A CN 114262159 B CN114262159 B CN 114262159B
- Authority
- CN
- China
- Prior art keywords
- chamber
- etching
- plasma generating
- group
- generating device
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Active
Links
- 239000011521 glass Substances 0.000 title claims abstract description 189
- 238000012545 processing Methods 0.000 title claims abstract description 61
- 238000003672 processing method Methods 0.000 title abstract description 12
- 238000000034 method Methods 0.000 claims abstract description 369
- 230000008569 process Effects 0.000 claims abstract description 354
- 238000005530 etching Methods 0.000 claims abstract description 214
- 238000004140 cleaning Methods 0.000 claims abstract description 163
- 239000000758 substrate Substances 0.000 claims abstract description 133
- 230000007704 transition Effects 0.000 claims abstract description 83
- 238000007599 discharging Methods 0.000 claims abstract description 63
- 238000001020 plasma etching Methods 0.000 claims abstract description 13
- 239000007789 gas Substances 0.000 claims description 120
- 239000011261 inert gas Substances 0.000 claims description 33
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 claims description 28
- YCKRFDGAMUMZLT-UHFFFAOYSA-N Fluorine atom Chemical compound [F] YCKRFDGAMUMZLT-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 20
- 229910052731 fluorine Inorganic materials 0.000 claims description 20
- 239000011737 fluorine Substances 0.000 claims description 20
- 238000011144 upstream manufacturing Methods 0.000 claims description 19
- 238000004891 communication Methods 0.000 claims description 16
- 239000000969 carrier Substances 0.000 claims description 12
- 238000013519 translation Methods 0.000 claims description 12
- 239000012535 impurity Substances 0.000 claims description 7
- MYMOFIZGZYHOMD-UHFFFAOYSA-N Dioxygen Chemical compound O=O MYMOFIZGZYHOMD-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 4
- 229910001882 dioxygen Inorganic materials 0.000 claims description 4
- 238000009616 inductively coupled plasma Methods 0.000 claims description 4
- 238000010926 purge Methods 0.000 claims description 3
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 abstract description 19
- 150000002500 ions Chemical class 0.000 description 41
- 239000003795 chemical substances by application Substances 0.000 description 37
- 239000002245 particle Substances 0.000 description 17
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 14
- VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N Silicium dioxide Chemical compound O=[Si]=O VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 13
- 238000012546 transfer Methods 0.000 description 10
- 239000003344 environmental pollutant Substances 0.000 description 8
- 231100000719 pollutant Toxicity 0.000 description 8
- 238000004544 sputter deposition Methods 0.000 description 8
- 238000003486 chemical etching Methods 0.000 description 7
- 230000001965 increasing effect Effects 0.000 description 7
- 230000001276 controlling effect Effects 0.000 description 6
- 239000000463 material Substances 0.000 description 6
- 239000000377 silicon dioxide Substances 0.000 description 6
- 235000012239 silicon dioxide Nutrition 0.000 description 6
- 239000000126 substance Substances 0.000 description 4
- 239000002253 acid Substances 0.000 description 3
- 230000009471 action Effects 0.000 description 3
- 239000000047 product Substances 0.000 description 3
- 238000005086 pumping Methods 0.000 description 3
- 238000011282 treatment Methods 0.000 description 3
- 230000000007 visual effect Effects 0.000 description 3
- XKRFYHLGVUSROY-UHFFFAOYSA-N Argon Chemical compound [Ar] XKRFYHLGVUSROY-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- KRHYYFGTRYWZRS-UHFFFAOYSA-N Fluorane Chemical compound F KRHYYFGTRYWZRS-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- VEXZGXHMUGYJMC-UHFFFAOYSA-N Hydrochloric acid Chemical compound Cl VEXZGXHMUGYJMC-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- QAOWNCQODCNURD-UHFFFAOYSA-N Sulfuric acid Chemical compound OS(O)(=O)=O QAOWNCQODCNURD-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- QVGXLLKOCUKJST-UHFFFAOYSA-N atomic oxygen Chemical compound [O] QVGXLLKOCUKJST-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 208000002173 dizziness Diseases 0.000 description 2
- 238000009434 installation Methods 0.000 description 2
- 230000007246 mechanism Effects 0.000 description 2
- 239000001301 oxygen Substances 0.000 description 2
- 229910052760 oxygen Inorganic materials 0.000 description 2
- 230000001737 promoting effect Effects 0.000 description 2
- 239000011265 semifinished product Substances 0.000 description 2
- 238000005507 spraying Methods 0.000 description 2
- 238000002834 transmittance Methods 0.000 description 2
- UFHFLCQGNIYNRP-UHFFFAOYSA-N Hydrogen Chemical compound [H][H] UFHFLCQGNIYNRP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910052786 argon Inorganic materials 0.000 description 1
- 230000009286 beneficial effect Effects 0.000 description 1
- 238000005422 blasting Methods 0.000 description 1
- 230000008859 change Effects 0.000 description 1
- 239000000356 contaminant Substances 0.000 description 1
- 238000010924 continuous production Methods 0.000 description 1
- 238000005034 decoration Methods 0.000 description 1
- 238000001514 detection method Methods 0.000 description 1
- 208000037265 diseases, disorders, signs and symptoms Diseases 0.000 description 1
- 238000004090 dissolution Methods 0.000 description 1
- 238000003912 environmental pollution Methods 0.000 description 1
- 239000012467 final product Substances 0.000 description 1
- 238000010438 heat treatment Methods 0.000 description 1
- 239000001257 hydrogen Substances 0.000 description 1
- 229910052739 hydrogen Inorganic materials 0.000 description 1
- 230000001939 inductive effect Effects 0.000 description 1
- 238000010884 ion-beam technique Methods 0.000 description 1
- 238000002955 isolation Methods 0.000 description 1
- 239000007788 liquid Substances 0.000 description 1
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 1
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 1
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 1
- 230000007935 neutral effect Effects 0.000 description 1
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 description 1
- 238000002360 preparation method Methods 0.000 description 1
- 238000001953 recrystallisation Methods 0.000 description 1
- 230000001105 regulatory effect Effects 0.000 description 1
- 239000004576 sand Substances 0.000 description 1
- 238000005488 sandblasting Methods 0.000 description 1
- 238000007789 sealing Methods 0.000 description 1
- 229910010271 silicon carbide Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000007787 solid Substances 0.000 description 1
- 239000002904 solvent Substances 0.000 description 1
- 239000007921 spray Substances 0.000 description 1
- 238000006467 substitution reaction Methods 0.000 description 1
- 230000003746 surface roughness Effects 0.000 description 1
- 238000005406 washing Methods 0.000 description 1
Landscapes
- Surface Treatment Of Glass (AREA)
- Drying Of Semiconductors (AREA)
Abstract
本发明一种防眩光玻璃的加工设备及加工方法，加工设备包括进料室、进料缓冲室、清洗工艺室、过渡室、蚀刻工艺室、出料缓冲室以及出料室，清洗工艺室设置第一等离子产生装置，蚀刻工艺室设置第二等离子产生装置和偏压装置，待加工的玻璃基板依次通过清洗工艺室和蚀刻工艺室，在清洗工艺室，清洗气源为第一等离子产生装置供气工作，对待加工的玻璃基板进行等离子清洗；在蚀刻工艺室，蚀刻气源为第二等离子产生装置供气，同时偏压装置工作，对玻璃基板进行等离子蚀刻，从而形成防眩光表面。本发明能够高效率、无污染地利用玻璃基板制造出防眩光玻璃，且制造的防眩光玻璃的防眩光表面凹凸结构均匀，解析度好。
Description
技术领域
本发明涉及玻璃加工技术领域，具体涉及一种防眩光玻璃的加工设备及加工方法。
背景技术
在电子设备如画板、电子白板、电子黑板等的显示屏幕上，若有较强的反射光，会对用户造成干扰，导致用户无法看清屏幕，因此，常常在这些电子设备的显示屏上覆盖防眩光玻璃制作的玻璃盖板。防眩光玻璃也叫AG(Anti-glare glass)玻璃，其原理是通过对玻璃表面进行粗化处理使平整的玻璃反光表面变为凹凸不平的粗表面，呈现出来的效果就是将玻璃表面镜面转换为哑光的表面，使照射到屏幕的光线发生漫反射，降低反射光强度，从而实现防眩光效果，保护眼睛，清晰视物。
防眩光玻璃可以通过喷涂或者喷砂方式实现，喷涂方式即在洁净环境中将亚微米级二氧化硅等微粒均匀涂布在玻璃表面，再经过加热固化处理，在玻璃表面形成一层颗粒层，对光线产生漫反射而达到防眩光效果；喷砂方式是利用压缩空气为动力，将金刚砂等砂材高速喷射到玻璃表面使其产生粗面的AG效果。
上述两种方式形成的AG玻璃的表面凹凸不均匀，表面粗糙度不均匀，玻璃解析度下降，只能造成雾面效果，光学透过率及粗糙度的均匀性较差，且涂层存在牢固度和耐候性等的问题，因此只能应用于装饰上，在应用于一些分辨率较高的显示屏使用时，比如4K或8K的显示屏，还会产生闪点现象，严重影响屏幕的视觉效果。虽然也有一些厂家提出了采用化学蚀刻的方法形成AG玻璃，即利用化学反应方式将玻璃表面由光滑面变成微米级颗粒表面，玻璃基材在化学溶剂中通过化学反应、溶解、再结晶和离子置换等多种反应共同作用产生AG粗面效果，但是，这种工艺需要氢氟酸、盐酸、硫酸等化学物质，在生产过程中，也会产生酸性气体、酸性液体、酸性固体等有害物质，生产产生的含氟气体对人体有非常大的危害，严重环境污染。
发明内容
基于上述现状，本发明的主要目的在于提供一种防眩光玻璃的加工设备及加工方法，以解决现有加工设备制造的防眩光表面的颗粒均匀性差，产生闪点的问题。
为实现上述目的，本发明采用的技术方案如下：
本发明的第一方面提供了一种防眩光玻璃的加工设备，包括用于安装待加工玻璃基板的载具、沿所述载具的移动方向依次设置的进料室、进料缓冲室、工艺组、出料缓冲室和出料室，所述进料室的入口侧设置有进料门阀，所述进料缓冲室与所述进料室、所述工艺组之间分别设置有腔体门阀，所述出料缓冲室与所述出料室、所述工艺组之间也分别设置有腔体门阀，所述出料室的出口侧设置有出料门阀；
所述工艺组包括过渡室、清洗工艺室和蚀刻工艺室，其中，至少在相邻的清洗工艺室与蚀刻工艺室之间设置有所述过渡室，所述工艺组中任意相邻的两个腔室的连接处形成连通腔，所述连通腔的内壁与所述载具的外轮廓之间留有预定间隙，以用于形成相邻腔室之间的密封；
所述清洗工艺室设置有第一等离子产生装置，所述第一等离子产生装置具有第一气源入口，所述第一气源入口与清洗气源连接，所述清洗气源包括第一惰性气体源；
所述蚀刻工艺室设置有第二等离子产生装置和偏压装置，所述第二等离子产生装置具有第二气源入口，所述第二气源入口与蚀刻气源连接，所述蚀刻气源包括第二惰性气体源和含氟气体源；所述偏压装置的负极与载具连接，正极与蚀刻工艺室的腔壁连接，以在所述载具与所述蚀刻工艺室之间形成负偏压；
至少一部分所述过渡室容置有为自身以及所述清洗工艺室、所述蚀刻工艺室抽真空的真空装置。
优选地，所述进料缓冲室与所述清洗工艺室之间、所述出料缓冲室与所述蚀刻工艺室之间均设置有过渡室。
优选地，在同一工艺组中，所述清洗工艺室设置有一个，所述蚀刻工艺室设置有依次相邻的两个以上。
优选地，所述进料室、所述进料缓冲室、所述工艺组、所述出料缓冲室和所述出料室设有并行的两套，两套之间具有共用的侧壁，载具在两套中的移动方向相同。
优选地，所述工艺组并排设置有两组，且两组工艺组的载具移动方向相反，载具能够顺次经过第一组和第二组，所述进料室、所述进料缓冲室分别与所述出料室、所述出料缓冲室并排设置，所述进料室、所述进料缓冲室与所述第一组位于同一列，所述出料室、所述出料缓冲室与所述第二组位于同一列；
所述第一组的最下游和所述第二组的最上游均设置有过渡室，两个所述过渡室并排设置并通过转换室连接，且各自与所述转换室的连接处也形成所述连通腔。
优选地，所述第一组和所述第二组中，离子产生装置的离子出射方向相向设置；
所述转换室设置有旋转台，所述旋转台能够带动所述载具转动180°以便于进入第二组，并使所述待加工玻璃基板分别在所述第一组和所述第二组中以同一表面朝向其中的等离子产生装置。
优选地所述第一组和所述第二组中，等离子产生装置的离子出射方向相向设置；
所述转换室设置有平移台，所述平移台的平移方向垂直于所述移动方向，以带动所述载具移动以便于进入第二组，并使所述待加工玻璃基板在所述第一组和所述第二组中分别以不同的表面朝向其中的等离子产生装置。
优选地，沿所述移动方向，所述清洗工艺室设置有多个第一等离子产生装置，所述蚀刻工艺室设置有多个第二等离子产生装置。
优选地，所述第一等离子产生装置和所述第二等离子产生装置均为感性耦合等离子体产生装置。
优选地，所述清洗气源和蚀刻气源均还包括氧气源，所述氧气源的流量为0～200sccm。
优选地，所述载具具有装载面，所述装载面相对于竖直方向倾斜设置，以使玻璃基板的待加工表面法向具有向上的分量，等离子产生装置以相同的角度倾斜设置，以使等离子产生装置的工作面与所述装载面平行，且所述装载面与等离子产生装置之间的距离为20～80mm。
本发明的第二方面提供了一种防眩光玻璃的加工方法，采用上述任一项所述的加工设备，所述加工方法包括步骤：
S100：对所述进料缓冲室、所述清洗工艺室、所述过渡室、所述蚀刻工艺室、所述出料缓冲室和所述出料室抽真空；
S200：控制所述清洗气源为所述第一等离子产生装置供气，以及控制第一等离子产生装置工作；并控制所述蚀刻气源为所述第二等离子产生装置供气，以及控制第二等离子产生装置和偏压装置工作；
S300：打开所述进料门阀，将待加工玻璃基板输送至所述进料室，关闭进料门阀，并对所述进料室抽真空；
S400：打开所述进料室与所述进料缓冲室之间的腔体门阀，将所述待加工玻璃基板输送至所述进料缓冲室，关闭所述腔体门阀；
S500：打开所述进料缓冲室与所述工艺组之间的腔体门阀，将所述待加工玻璃基板输送至所述工艺组，关闭所述腔体门阀；
S600：输送所述待加工玻璃基板依次经过所述清洗工艺室和所述蚀刻工艺室，以在所述清洗工艺室，对所述待加工玻璃基板进行等离子清洗，以至少去除所述待加工玻璃基板表面的杂质；在所述蚀刻工艺室，对所述待加工玻璃基板进行等离子蚀刻，形成防眩光表面；
S700：打开所述工艺组与所述出料缓冲室之间的腔体门阀，将所述待加工玻璃基板输送至所述出料缓冲室，关闭所述腔体门阀；
S800：打开所述出料缓冲室与所述出料室之间的腔体门阀，将所述待加工玻璃基板输送至所述出料室，关闭所述腔体门阀；
S900：对所述出料室放气至常压，打开所述出料门阀，将待加工玻璃基板输送出所述出料室。
优选地，所述步骤S200中，所述清洗工艺室的本底真空度小于或者等于8.0*10- 4Pa，工作气压为1.0*10-1～3Pa；所述第一等离子产生装置的功率为1.5～5kW，频率为13.56MHz；所述第一惰性气体源的气体流量为150sccm～500sccm。
优选地，所述步骤S200中，所述蚀刻工艺室的本底真空度小于或者等于8.0*10- 4Pa，工作气压为1Pa～60Pa；所述第二等离子产生装置的功率为1.5～5kW；频率为13.56MHz，蚀刻时间为20～40min；偏压装置的偏压为400～1800V，功率为1.5～4.5kW，频率为13.56MHz；所述蚀刻气源中所述第二惰性气体源与所述含氟气体源提供的气体含量的配比为9:1～2:1。
优选地，所述步骤S600中，所述载具在所述清洗工艺室和所述蚀刻工艺室中的移动速度为2～8mm/s。
【有益效果】
本发明的加工设备在对待加工玻璃基板进行处理时，先在清洗工艺室内，第一等离子产生装置单独工作，该工艺室内无偏压，清洗气源的第一惰性气体通过第一等离子产生装置后形成等离子体，对玻璃基板的待处理表面进行物理溅射，从而清除待处理表面的污染物，然后再进入蚀刻工艺室，第二等离子产生装置和偏压装置同时工作，此时蚀刻气源中的第二惰性气体和含氟的气体通过第二等离子产生装置形成的等离子体，在偏压装置的偏压下形成大量高能量的活性离子，惰性气体形成的活性离子直接轰击待处理表面，发生溅射，溅射出的粒子中含有二氧化硅，会与含氟的气体形成的活性离子发生反应，生成纳米团簇，从而对玻璃基板进行刻蚀，即同时与玻璃基板发生物理反应和化学反应，从而使待处理表面形成均匀度较高的凹凸结构，即形成防眩光表面。这种加工设备由于对玻璃基板先进行等离子清洗再进行等离子蚀刻，在清洗过程中采用不与玻璃基板的基材反应的第一惰性气体，通过等离子产生装置形成的活性离子直接轰击待处理表面，不会与玻璃基板发生化学反应，属于物理蚀刻，即清洗蚀刻，因此，经过轰击能够对玻璃基板的各种污染物进行彻底的清洗，且在发生化学反应的蚀刻过程中，减少了污染物对蚀刻效果的清洗，且经过该等离子的清洗过程之后，尽可能避免了后续工艺中玻璃基板的杂质与活性离子发生化学反应，减少了在待处理表面形成杂质的几率，从而进一步提高了防眩光表面的颗粒均匀性，基板不存在闪点现象，使玻璃基板在保留防眩光功能的同时具有更清晰的视觉效果和更加细腻的触摸手感，在应用于要求分辨率较高的电子产品显示屏(主要是手机及车载)的玻璃盖板方面有较大的优势；且这种设备对玻璃基板的整个加工过程都不会产生有害气体，不会对环境造成污染。
本发明的其他有益效果，将在具体实施方式中通过具体技术特征和技术方案的介绍来阐述，本领域技术人员通过这些技术特征和技术方案的介绍，应能理解所述技术特征和技术方案带来的有益技术效果。
附图说明
以下将参照附图对根据本发明的提供优选实施方式进行描述。图中：
图1为根据本发明的防眩光玻璃的加工设备的一种优选实施方式的结构示意图；
图2为图1所示实施例的俯视图；
图3为根据本发明的防眩光玻璃的加工设备的另一种优选实施方式的结构示意图；
图4为根据本发明的防眩光玻璃的加工设备的又一种优选实施方式的俯视图；
图5为根据本发明的防眩光玻璃的加工设备的又一种优选实施方式的结构示意图；
图6为根据本发明的防眩光玻璃的加工设备的又一种优选实施方式的俯视图；
图7为根据本发明的防眩光玻璃的加工设备的又一种优选实施方式的俯视图；
图8为根据本发明的防眩光玻璃的加工设备中蚀刻工艺室的一种优选实施方式的结构示意图；
图9为根据本发明的防眩光玻璃的加工设备的加工方法一种优选实施方式的流程图。
图中：
10、载具；
20、进料室；21、进料门阀；
30、进料缓冲室；
40、工艺组；41、清洗工艺室；411、第一等离子产生装置；42、蚀刻工艺室；421、第二等离子产生装置；43、过渡室；45、第一组；46、第二组；47、转换室；48、偏压装置；
50、出料缓冲室；
60、出料室；61、出料门阀；
70、腔体门阀。
具体实施方式
以下基于实施例对本发明进行描述，但是本发明并不仅仅限于这些实施例。在下文对本发明的细节描述中，详尽描述了一些特定的细节部分，为了避免混淆本发明的实质，公知的方法、过程、流程、元件并没有详细叙述。
此外，本领域普通技术人员应当理解，在此提供的附图都是为了说明的目的，并且附图不一定是按比例绘制的。
除非上下文明确要求，否则整个说明书和权利要求书中的“包括”、“包含”等类似词语应当解释为包含的含义而不是排他或穷举的含义；也就是说，是“包括但不限于”的含义。
在本发明的描述中，需要理解的是，术语“第一”、“第二”等仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示相对重要性。此外，在本发明的描述中，除非另有说明，“多个”的含义是两个或两个以上。
本发明提供了一种防眩光玻璃的加工设备，可以采用等离子蚀刻的方式形成防眩光玻璃。
现有技术中虽然也有一些等离子加工设备用于在玻璃基板上形成凹凸结构，如太阳能板的制作，其先在基板(可能是玻璃基板)上先制作一层掩膜层，然后等离子产生装置产生的活性离子在偏压装置的作用下进行蚀刻，有掩膜的区域和没有掩膜的区域的蚀刻深度不同，之后再去除残余的掩膜层，最后表面形成凹凸不平的结构。由于太阳能板制作中追求的是增加表面积，以提高光电转化效率，而对于漫反射、雾都、清晰度上没有严格要求。而若直接采用上述方式制作防眩光玻璃，由于有掩膜层，在蚀刻时各处的深度差距较大，造成形成的凹凸结构均匀性较差，因此，当应用于分辨率较高的电子设备时，由于对防眩光玻璃要求其在不影响透过率的情况下增加漫反射，且不希望产生闪点，因此在粗糙度、雾都、解析度上均有严格要求。且现有的电子设备工艺流程复杂，良率较低，成本较高。
本发明的防眩光玻璃的加工设备如图1-图8所示，包括用于安装待加工玻璃基板的载具10、沿载具10的移动方向依次设置的进料室20、进料缓冲室30、工艺组40、出料缓冲室50和出料室60，进料室20的入口侧设置有进料门阀21，即进料室20远离进料缓冲室30的一侧设置有进料门阀21，进料缓冲室30与进料室20、工艺组40之间分别设置有腔体门阀70，出料室60的出口侧设置有出料门阀61，即出料室60远离出料缓冲室50的一侧设置出料门阀61，出料缓冲室50与出料室60、工艺组40之间分别设置有腔体门阀70，也就是说，在整个加工设备的两端分别设置有与外界连通和断开的进料门阀21和出料门阀61，除工艺组40内，其余各腔室中相邻的两个腔室之间设置有腔体门阀70，工艺组40的上游侧与进料缓冲室30之间、下游侧与出料缓冲室50之间也设置有腔体门阀70，该腔体门阀70可打开或者关闭，在关闭状态，隔离相邻的两个腔室，在打开状态，供载具10从一个腔室移动至另一个腔室。
工艺组40包括过渡室43、清洗工艺室41和蚀刻工艺室42，其中，至少在相邻的清洗工艺室41与蚀刻工艺室42之间设置有过渡室43，也就是说，工艺组40中，清洗工艺室41、蚀刻工艺室42以及过渡室43可以各自设置有一个，也可以各自设置有两个、三个或者更多个，且三者的数量可以相等，也可以不相等，且这些腔室会沿载具的移动方向排成一列，在这些清洗工艺室41和蚀刻工艺室42中，所有的清洗工艺室41连续设置(可以相邻的清洗工艺室41之间设置过渡室43)，所有的蚀刻工艺室42连续设置(可以相邻的蚀刻工艺室42之间设置过渡室43)，至少在位于最下游的清洗工艺室41和位于最上游的蚀刻工艺室42之间设置有过渡室43，也可以在其他位置处也设置有过渡室43，如进料缓冲室30与清洗工艺室41之间也可以设置有过渡室43，再如出料缓冲室50与蚀刻工艺室42之间也可以设置过渡室43，或者在上述各位置均设置有过渡室43。
其中，进料缓冲室30、清洗工艺室41、过渡室43、蚀刻工艺室42以及出料缓冲室50均为真空腔室。工艺组40内任意相邻的两个腔室之间设置有连通腔，如在工艺组40设置有过渡室43、清洗工艺室41和蚀刻工艺室42时，清洗工艺室41、过渡室43、蚀刻工艺室42中相邻两个腔室的连接处形成连通腔，也就是说，上述各腔室中，相邻的两个腔室是通过连通腔连通，连通腔的内壁与载具10的外轮廓之间留有预定间隙，该预订间隙可以为5～20mm，如5mm、7mm、10mm、12mm、15mm、17mm、19mm、20mm等，可以进行调节，以用于形成相邻腔室之间的密封，即连通腔的内壁与载具10之间形成很小的缝隙，以便载具10沿着移动方向由进料缓冲室30进入工艺组40后顺次通过清洗工艺室41、过渡室43和蚀刻工艺室42，且在整个过程中能够尽可能隔离相邻两个腔室之间的气体，防止两个腔室发生串气。
具体地，清洗工艺室41设置有第一等离子产生装置411，第一等离子产生装置411安装于清洗工艺室41的侧壁，当载具10进入清洗工艺室41时，安装于载具10上的玻璃基板与第一等离子产生装置411相对；第一等离子产生装置411具有第一气源入口，第一气源入口与清洗气源连接，清洗气源包括第一惰性气体源。蚀刻工艺室42设置有第二等离子产生装置421和偏压装置，第二等离子产生装置421安装于蚀刻工艺室42的侧壁，当载具10进入蚀刻工艺室42时，安装于载具10上的玻璃基板与第二等离子产生装置421相对；第二等离子产生装置421具有第二气源入口，第二气源入口与蚀刻气源连接，蚀刻气源包括第二惰性气体源和含氟气体源；偏压装置48的正极与蚀刻工艺室42的腔壁连接，负极与载具10连接，以在载具10与蚀刻工艺室42之间形成负偏压，这里的正极与负极是相对而言的，并不是说正极一定接正电压，负极接负电压，具体地，如图8所示，可以在载具10上连接负电压，蚀刻工艺室42的腔壁连接地，如此，当载具10移动至蚀刻工艺室42时，蚀刻工艺室42中在载具10与腔壁之间形成了负偏压，第二等离子产生装置421与载具10相对，从而使第二等离子产生装置421产生的等离子处于负偏压的环境中。其中，清洗气源的第一惰性气体源和蚀刻气源的第二惰性气体源可以共用同一个供气源，也可以使用不同的供气源。至少一部分过渡室43容置有为自身以及清洗工艺室41、蚀刻工艺室42抽真空的真空装置，也就是说，可以部分过渡室43内容置真空装置，也可各过渡室43均容置有真空装置，这些真空装置用于为工艺组40内的腔室抽真空，具体地，一个过渡室43内的真空装置可以为与其相邻的一个或者两个腔室提供真空环境。
本发明还提供了一种采用上述防眩光玻璃的加工设备加工方旋玻璃的加工方法，如图9所示，加工方法包括步骤：
S100：对进料缓冲室30、清洗工艺室41、过渡室43、蚀刻工艺室42、出料缓冲室50和出料室60抽真空；具体地，将各腔体门阀70和出料门阀61关闭，使从进料缓冲室30至出料室60的各腔体均处于封闭状态，此时，对进料缓冲室30、清洗工艺室41、过渡室43、蚀刻工艺室42、出料缓冲室50和出料室60抽真空，使各腔室的真空度一致，以便后续对待加工玻璃基板进行加工时能够保持玻璃基板处于真空度环境中。
S200：控制清洗气源为第一等离子产生装置411供气，以及控制第一等离子产生装置411工作；并控制蚀刻气源为第二等离子产生装置421供气，以及控制第二等离子产生装置421和偏压装置工作。也就是说，在该步骤中，第一等离子产生装置411、第二等离子产生装置421以及偏压装置均正常工作，以使清洗工艺室41与蚀刻工艺室43分别处于稳定的状态，以便待加工玻璃进入时能够进行稳定的蚀刻工艺(包括清洗蚀刻和AG蚀刻)。
S300：打开进料门阀21，将待加工玻璃基板输送至进料室20，关闭进料门阀21，使进料室20处于封闭状态，并对进料室20抽真空，使进料室20达到与进料缓冲室30相同的真空度。
S400：打开进料室20与进料缓冲室30之间的腔体门阀70，将待加工玻璃基板输送至进料缓冲室30，关闭该腔体门阀70(即进料室20与进料缓冲室30之间的腔体门阀70)。
S500：打开进料缓冲室30与工艺组40之间的腔体门阀70，将待加工玻璃基板输送至工艺组40，关闭该腔体门阀70(进料缓冲室30与工艺组40之间的腔体门阀70)。这里打开和关闭的腔体门阀70指进料缓冲室30与工艺组40中最上游的腔室之间的腔体门阀70，如最上游的腔室为清洗工艺室41，则指进料缓冲室30与清洗工艺室41之间的腔体门阀70；若工艺组40中位于最上游的腔室为过渡室43，则指进料缓冲室30与该过渡室43之间的腔体门阀70。
S600：输送待加工玻璃基板依次经过清洗工艺室41和蚀刻工艺室42，以在清洗工艺室41，对待加工玻璃基板进行等离子清洗，即进行清洗蚀刻步骤，以至少去除待加工玻璃基板表面的杂质；在蚀刻工艺室42，对待加工玻璃基板进行等离子蚀刻，即进行AG蚀刻步骤，从而形成防眩光表面。也就是说，在该步骤中，对同一待加工玻璃基本来说，先进行清洗蚀刻，再进行AG蚀刻。
清洗蚀刻步骤：待加工玻璃基板位于清洗工艺室41，清洗气源为第一等离子产生装置供气，没有含氟的气体源供气，因此，整个清洗过程中，在玻璃基板的表面不会发生化学蚀刻，第一等离子产生装置411产生的活性离子仅通过轰击，将玻璃基板表面的粒子溅射出来，属于物理蚀刻，从而对待处理表面的污染物进行清除；
AG蚀刻步骤：待加工玻璃基板位于蚀刻工艺室42，蚀刻气源为第二等离子产生装置421供气，第二惰性气体作为高能粒子的来源，含氟的气体作为中性反应蚀刻粒子，在偏压装置的作用下，第二等离子产生装置421产生的带有高能量的活性离子轰击玻璃基板的表面，不仅将玻璃基板表面的粒子溅射出来，同时溅射出来的粒子还会与含氟的活性离子发生化学反应，形成离子团簇，对玻璃基板的表面进行化学蚀刻，即该步骤不仅会发生物理反应，同时还会发生化学反应，即同时进行物理蚀刻和化学蚀刻，使玻璃基板的表面形成均匀的凹凸结构，或者称为绒面结构，即形成防眩光玻璃，也叫AG玻璃。
S700：打开工艺组40与出料缓冲室50之间的腔体门阀70，将待加工玻璃基板输送至出料缓冲室50，关闭该腔体门阀70(指工艺组40与出料缓冲室50之间的腔体门阀70)。这里打开和关闭的腔体门阀70指出料缓冲室50与工艺组40中最下游的腔室之间的腔体门阀70，如最下游的腔体为蚀刻工艺室42，则指出料缓冲室50与蚀刻工艺室42之间的腔体门阀70；若工艺组40中位于最下游的腔体为过渡室43，则指出料缓冲室50与该过渡室43之间的腔体门阀70。
需要说明的是，待加工玻璃基板随着载具10在工艺组40之间的各腔室传送时，在任意相邻的两个腔室连接处的连通腔中始终有载具10位于其中，因此，各腔室基本处于密封状态，相邻的腔室之间的气体基本会被隔离。且在工艺组40中，不论待加工玻璃基板处于清洗蚀刻步骤还是AG蚀刻步骤，玻璃基板随着载具10一直处于移动过程中。
S800：打开出料缓冲室50与出料室60之间的腔体门阀70，将待加工玻璃基板输送至出料室60，关闭该腔体门阀70(即出料缓冲室50与出料室60之间的腔体门阀70)。在该步骤中，由于出料室60之前已经抽真空，因此，可以直接打开出料缓冲室50与出料室60之间的腔体门阀70，将加工后的待加工玻璃基板送到出料室60之后关闭该腔体门阀70，以保证出料缓冲室50的真空度。
S900：对出料室60放气至常压，打开出料门阀61，将待加工玻璃基板输送出出料室60，关闭出料门阀61，具体地，可以通过打开出料室60的排气阀，使外界空气进入出料室60，进而使出料室60处于常压状态，此时再打开出料门阀61。
上述加工设备和加工方法，在对同一待加工玻璃基板进行处理时，先在清洗工艺室41内，第一等离子产生装置411工作，该工艺室内没有偏压装置，此时清洗气源通过第一等离子产生装置411后形成等离子体，对玻璃基板的待处理表面进行物理溅射，从而清除待处理表面的污染物，然后待加工玻璃基板进入蚀刻工艺室42，在该工艺室内，第二等离子产生装置421和偏压装置同时工作，蚀刻气源中的第二惰性气体和含氟的气体通过第二等离子产生装置421形成的等离子体，在偏压装置的偏压下形成大量高能量的活性离子，第二惰性气体形成的活性离子直接轰击待加工玻璃基板的待处理表面，发生溅射，溅射出的粒子中含有二氧化硅，会与含氟的气体形成的活性离子发生反应，生成纳米团簇，从而对玻璃基板进行刻蚀，即同时与玻璃基板发生物理反应和化学反应，从而使待处理表面形成均匀度较高的凹凸结构，即形成防眩光表面。这种加工设备由于对玻璃基板先进行等离子清洗再进行等离子蚀刻，在清洗过程中采用不与玻璃基板的基材反应的第一惰性气体，通过第一等离子产生装置411形成的活性离子直接轰击待处理表面，不会与玻璃基板发生化学反应，属于物理蚀刻，经过轰击能够对玻璃基板的各种污染物尤其是牢固的污染物进行彻底的清洗，在后续发生化学反应的蚀刻过程中，减少了污染物对蚀刻的阻碍，且经过该等离子清洗过程之后，尽可能避免了后续工艺中玻璃基板的杂质与活性离子发生化学反应，减少了在待处理表面形成杂质的几率，从而进一步提高了防眩光表面的颗粒均匀性，这样生产出来的基板不存在闪点现象，使玻璃基板在保留防眩晕功能的同时具有更清晰的视觉效果和更加细腻的触摸手感，在应用于要求分辨率较高的电子产品显示屏(主要是手机及车载)的玻璃盖板方面有较大的优势；且这种设备对玻璃基板的整个加工过程都不会产生有害气体，不会对环境造成污染；也无需事先制作掩膜，因此能够提高玻璃的加工效率。
且本发明中，考虑到清洗蚀刻和AG蚀刻时，清洗工艺室41和蚀刻工艺室42内的气体不同，为了防止二者之间的气体发生相互影响，在两个腔室之间还设置有过渡室43，如此，一方面能够隔离不同工艺室之间的气体，减少不同工艺室制程中不同工艺气体的相互影响，尤其是减少等离子清洗步骤中残留的剩余活性离子对等离子蚀刻工艺造成影响，另一方面，考虑到清洗工艺室41和蚀刻工艺室42需要设置第一等离子产生装置411或者第二等离子产生装置421和偏置装置，在腔体空间有限的条件下，为二者抽真空的真空装置只能设置于腔室的外侧，通过增加过渡室43，可以为清洗工艺室41和蚀刻工艺室42抽真空用的真空装置提供安装空间，以保证各工艺室30的真空状态和提高了整个加工设备的空间利用率。进一步地，本申请还通过设置连通腔，使载具10与连通腔的腔壁之间形成间隙，采用这种间隙的设置方式，即使相邻的两个腔室之间有少量的串气，由于各腔室之间均为真空腔室，也基本上会被抽走，而对于清洗工艺室41与蚀刻工艺室42来说，由于二者之间设置有过渡室43，即使清洗工艺室41与过渡室43发生少量串气没有被及时排出，由于整个过渡室43较这个间隙来说大很多，又有真空装置的工作，因此，这些串气很难到达蚀刻工艺室42，从而进一步提高了蚀刻工艺室42内气体的纯度，提高了AG蚀刻的精度；而且，这种通过间隙密封的方式，在整个工艺组40中，载具10的移动也可以实现连续移动。且在流水线作业中，为了更好地隔离外界对工艺组40中各真空腔室的影响，本发明还增加进料缓冲室30和出料缓冲室50，以更好地隔离环境中的空气，减少空气中的杂气对整个工艺制程的影响；且在连续生产过程中，能够更好地保证工艺组40中各腔室的真空度稳定，使其不受进料室20和出料室60中气压波动的影响。
其中，上述工艺组40可以设置有一组，也可以设置有多组，不论哪种方式，工艺组40中，清洗工艺室41和蚀刻工艺室42可以分别设置有一个、两个或者更多个。一种实施例中，如图1所示，一组工艺组40中，清洗工艺室41和蚀刻工艺室42各自设置有一个，在该实施例中，同一待加工玻璃基板的同一待加工表面经过一次清洗蚀刻步骤和一次AG蚀刻步骤。在另一个实施例中，清洗工艺室41设置有一个，蚀刻工艺室42设置有两个，如图3、图5所示，沿移动方向，清洗工艺室41设置有一个，蚀刻工艺室42设置有依次相邻的两个或者两个以上，即几个蚀刻工艺室42是相连的，其中，图3、图5示出设有两个蚀刻工艺室42，该工艺组40沿移动方向依次设置有清洗工艺室41、过渡室43、蚀刻工艺室42、蚀刻工艺室42，在该实施例中，同一待加工玻璃基板的同一待加工表面经过一次清洗蚀刻步骤和两次AG蚀刻步骤。又比如，在同一工艺组40中，清洗工艺室41和蚀刻工艺室42可以各设置有两个，在该实施例中，同一待加工玻璃基板的同一待加工表面经过两次清洗蚀刻步骤和两次AG蚀刻步骤；又或者清洗工艺室41设置有两个，蚀刻工艺室42设置有一个，此实施例中，同一待加工玻璃基板的同一待加工表面经过两次清洗蚀刻步骤和一次AG蚀刻步骤。根据需要可以设置清洗工艺室41和蚀刻工艺室42的数量，优选地，清洗工艺室41设置有一个，蚀刻工艺室42设置有两个，由于清洗蚀刻主要是用于去除待加工玻璃基板上的杂质，因此，采用一次清洗蚀刻步骤基本能够达到较好的效果，通过两次AG蚀刻，能够提高蚀刻的效率和凹凸结构的均匀性。
当进行流水线生产时，清洗工艺室41与蚀刻工艺室42是同时工作的，即其中一块或者几块玻璃基板处于清洗工艺室41进行等离子清洗，同时，另一块或者几块玻璃基板处于蚀刻工艺室42进行等离子蚀刻。同理，在设置有多个清洗工艺室41时，可能其中一块或者几块玻璃基板处于其中一个清洗工艺室41进行等离子清洗，另一块或者几块玻璃基板处于另一个清洗工艺室41进行等离子清洗。再如在设置有多个蚀刻工艺室42时，可能其中一块或者几块玻璃基板处于其中一个蚀刻工艺室42进行等离子蚀刻，另一块或者几块玻璃基板处于另一个蚀刻工艺室42进行等离子蚀刻。在流水线作业中，可以根据节拍以及玻璃基板的移动速度进行具体设置。
值得注意的是，不论同一工艺组40中设置有几个清洗工艺室41和蚀刻工艺室42，所有的清洗工艺室41均位于蚀刻工艺室42的上游。各清洗工艺室41可以相互紧挨(即之间没有其他腔室)，也可以两个相邻的清洗工艺室41之间设置过渡室43。同理，各蚀刻工艺室42可以相互紧挨(即之间没有其他腔室)，也可以两个相邻的蚀刻工艺室42之间设置过渡室43。当然同一工艺组40还可以包括位于最上游的清洗工艺室41上游侧的过渡室43、位于最下游的蚀刻工艺室42下游侧的过渡室43。
由于进料室20和出料室60需要在真空状态和常压状态来回切换，因此，为了进一步提高工艺组40内各腔室的真空度，避免各真空腔室受进料室10和出料室60常压状态的影响，本发明优选的一种实施例中，进料缓冲室30与清洗工艺室41之间、蚀刻工艺室42与出料缓冲室50之间均设置有过渡室43。需要说明的是，也可以仅在进料缓冲室30与清洗工艺室41之间设置过渡室43，或者仅在蚀刻工艺室42与出料缓冲室50之间均设置有过渡室43。在设置有多个清洗工艺室41时，指进料缓冲室30与最上游的清洗工艺室41之间设置过渡室43；在设置有多个蚀刻工艺室42时，指最下游的蚀刻工艺室42与出料缓冲室50之间设置过渡室43。
可以理解地，上述过渡室43可以根据需要设置一个或者多个，可以连续设置两个或者更多个过渡室43，如在相邻的清洗工艺室41和蚀刻工艺室42之间设置有两个或者更多个过渡室43。具体地，过渡室43可以根据不同工艺之间的隔离要求设置，同时还可以考虑各腔室的真空度要求进行设置，实际生产中，单个过渡室43设置成模块化，其内真空装置的抽真空能力具有最大的抽真空能力，因此，当需要的抽真空能力较大时，若单个过渡室43内的真空装置无法满足，则可以设置相连的两个或者多个过渡室43，如图3所示，设置有两个蚀刻工艺室42时，可以在其上游设置有两个相邻的过渡室43。
对于上述各真空腔室在整个待加工玻璃基板的加工过程中需要维持真空状态，根据需要可能会定时对各腔室进行抽真空，也可能通过传感器的检测实现自动控制，进行抽真空。对于为进料室20、进料缓冲室30、出料缓冲室50和出料室60抽真空的真空装置，可以设置于过渡室43，也可以单独设置，如图6所示，为进料室20、进料缓冲室30、出料缓冲室50和出料室60抽真空的真空装置均单独设置于腔室外侧。
上面以设置有一组工艺组40为例对加工设备进行了描述，本发明的工艺组40并不限于一组，即不论工艺组40采用上述哪种实施方式，都可以设置有多组工艺组40。一种优选的实时方式中，工艺组40设置有两组，两组工艺组40可以对同一待加工玻璃基板进行加工，也可以对不同的待加工玻璃基板进行加工，在对同一待加工玻璃基板进行加工时，两组工艺组40的移动方向相反，对于同一待加工玻璃基板来说，两组工艺组40位于同一生产线；在对不同的待加工玻璃基板进行加工时，两组工艺组40的移动方向相同，各自位于不同的生产线上。值得注意的是，不论两个工艺组40的移动方向如何设置，对于各工艺组40来说，清洗工艺室41均位于蚀刻工艺室42的上游，即保证对于同一玻璃基板来说，在同一工艺组40时，都是先进行清洗蚀刻再进行AG蚀刻；或者在多组工艺组中，也是先进行清洗蚀刻再进行AG蚀刻。
具体地，一种实施例中，如图4所示，工艺组40并排设置有两组，且两组工艺组40的移动方向相同，各组的上游侧设置有进料室20和进料缓冲室30，下游侧均设置有出料缓冲室50和出料室60，具体地，图4可以作为图3所示实施例设置有两组工艺组时的俯视图，在图4中，两组工艺组40的移动方向如箭头所示，均由左向右，两组工艺组40的排列方向与移动方向垂直，两组工艺组40中的腔室一一对应设置，即在并排方向上，设置相同的腔室，上方一组工艺组40依次包括过渡室43、清洗工艺室41、过渡室43、过渡室43、蚀刻工艺室42、蚀刻工艺室42、过渡室43，则下方一组工艺组40也依次设置过渡室43、清洗工艺室41、过渡室43、过渡室43、蚀刻工艺室42、蚀刻工艺室42、过渡室43。且沿各套的移动方向，各自的上游侧均设置进料缓冲室30和进料室20，下游侧均设置出料缓冲室50和出料室60，也就是说，上方和下方分别为一套完整的生产线，载具10分别装载不同的玻璃基板进入到两套设备中，也就是说，进料室20、进料缓冲室30、一个工艺组40、出料缓冲室50和出料室60设有并行的两套，两套之间具有共用的侧壁(即或者两个腔室的侧壁时同一侧壁，或者两个腔室的侧壁是相贴合的)，载具10在两套中的移动方向相同，采用这种方式，两组工艺组40同时分别对不同的玻璃基板进行加工，显然能够提高整个加工设备的工作效率。需要说明的是，在这种工艺组40的排布方式中，两组工艺组40也可以共用同一套进料室20、进料缓冲室30、出料缓冲室50和出料室60。在该实施例中，也可以设置有更多组工艺组40，即可以并排设置有多条生产线。
另一种实施例中，两组工艺组40用于对同一块或者几块玻璃基板进行加工，如图6、图7所示，工艺组40并排设置有两组，且两组工艺组40的载具移动方向相反，设位于移动方向上游侧的为第一组45，下游侧的为第二组46，即载具能够顺次经过第一组合第二组，进料室20、进料缓冲室30与出料室60、出料缓冲室50并排设置，进料室20、进料缓冲室30与第一组45位于同一列，出料室60、出料缓冲室50与第二组46位于同一列；在该实施例中，第一组45的最下游和第二组46的最上游均设置有过渡室43，这两个过渡室43通过转换室47连接，且各自与转换室47的连接处也形成连通腔。也就是说，加工设备还包括转换室47，两组工艺组40之间通过转换室47连接，两组工艺组40与进料室20、进料缓冲室30、出料室60、出料缓冲室50以及转换室47共同形成一条完整的生产线，如图6、图7所示，整条生产线依次设置进料室20、进料缓冲室30、第一组45、转换室47、第二组46、出料缓冲室50、出料室60。从图上可以看出，第一组45的移动方向为S1，第二组46的移动方向为S2，S1与S2方向相反，两组工艺组40的并排方向与这两个移动方向垂直，只是在第一组45与第二组46之间连接了一个转换室47，以使安装有玻璃基板的载具10由第一组45出来后，在转换室47内运动第二组46的连通腔位置处，之后直接进入第二组46内进行加工。该实施例中，两组工艺组40可以对同一块或者几块玻璃基板相同的待加工表面进行加工，也可以对不同的待加工表面加工。
第一实施例，两组工艺组对同一待加工玻璃基板的同一待加工表面加工时，如图6所示，第一组45和第二组46中，第一等离子产生装置411、第二等离子产生装置421的离子出射方向相向设置，也就是，第一组45中的第一等离子产生装置411、第二等离子产生装置421的离子出射方向朝向第二组46，第二组46中第一等离子产生装置411、第二等离子产生装置421的离子出射方向朝向第一组45；此时，可以在转换室47设置旋转台，旋转台带动载具10转动，如转动180°，以便进入第二组46，并使待加工玻璃基板分别在第一组45和第二组46中以同一表面朝向其中的等离子产生装置，即使朝向第一等离子产生装置411或者第二等离子产生装置421的待加工表面为同一表面，也就是说，载具10从第一组45的最下游腔室进入到转换室47后，旋转台会带动载具10转动一个角度，此时载具10处于第二组46的连通腔位置处，且其在第一组45中被加工的表面朝向第二组46中的第一等离子产生装置411、第二等离子产生装置421。这种方式，可以缩短整个生产线的长度，如当需要进行两次或者更多次AG蚀刻时，可以在第一组45和第二组46中分别设置部分蚀刻工艺室42，这样整个生产线的长度减小了，如图6所示的实施例中，第一组45沿移动方向S1依次设置有过渡室43、清洗工艺室41、过渡室43、过渡室43、蚀刻工艺室42、蚀刻工艺室42、过渡室43；第二组46沿移动方向S2依次设置有过渡室43、蚀刻工艺室43、过渡室43、过渡室43、蚀刻工艺室42、蚀刻工艺室42、过渡室43。也就是说，两组工艺组40中的腔室并不限于有相同工艺的工艺室，可以根据需要进行设置。
第二实施例，两组工艺组40对同一待加工玻璃基板的不同待加工表面加工时，如图7所示，第一组45和第二组46中，第一等离子产生装置411、第二等离子产生装置421的离子出射方向相向设置；此实施例中，转换室47设置有平移台，平移台的平移方向平行于第一组45和第二组46的并排方向，垂直于载具10的移动方向，以带动载具10移动以便进入第二组46，并使载具10上的待加工玻璃基板在第一组45和第二组46中分别以不同的表面朝向其中的等离子产生装置，即在两组中朝向第一等离子产生装置411或者第二等离子产生装置421的待加工表面为不同表面。也就是说，载具10从第一组45的最下游腔室进入到转换室47后，平移台会带动载具10移动一定距离，此时载具10处于第二组46的连通腔位置处，且其在第一组45中被加工的表面背离第二组46中的第一等离子产生装置411、第二等离子产生装置421，这样在第二组中对玻璃基板上未被加工过的表面进行加工。采用这种方式，可以在一条生产线上完成对同一玻璃基板的两面进行AG蚀刻，从而提高生产效率。需要说明的是，在该实施例中，载具10可以选择镂空结构，以裸露出玻璃基板的两个待加工表面。
需要说明的是，两个工艺组40中的腔室可以相同，也可以不完全一致，如在第一组45可以设置清洗工艺室41，而在第二组46中不设置清洗工艺室42。值得注意的是，在对玻璃基板的同一表面进行加工的实施例中，由于清洗蚀刻需要设置在AG蚀刻前，因此，当第一组45中设置有蚀刻工艺室42时，第二组46中不会设置清洗工艺室41。而在对玻璃基板的不同表面进行加工的实施例中，若要求两面的效果一致，可以两组的腔室设置相同，可以均包括清洗工艺室41和蚀刻工艺室42室。具体地，两组工艺组40的设置腔室可以根据具体需要进行调整。
上述两个实施例中设置旋转台和平移台，是考虑到清洗工艺室41和蚀刻工艺室42采用模块化制作，当组装成第一组和第二组并排的生产线时，两组中的离子出射方向正好是相对的；若在组装时，第一组和第二组的离子出射方向相同，则在第一实施例的转换室中也可以直接设置平移台(如下文所述的实施例中的平移台)，在第二实施例的转换室47设置旋转台，总之，转换室47内的机构只要将载具10运动至第二组的连通腔处，且使玻璃基板需要加工的表面朝向第二组46的离子出射方向即可。
其中，上述清洗工艺室41可以设置有一个第一等离子产生装置411，也可以沿移动方向设置有多个第一等离子产生装置411，如设置有两个或者更多个第一等离子产生装置411，且这些第一等离子产生装置411位于载具10的同一侧，即这些第一等离子产生装置411的离子出射方向相同，通过设置多个第一等离子产生装置能够提高等离子清洗的效率，如图1所示。同理，蚀刻工艺室42也可以设置有一个第二等离子产生装置421，也可以沿移动方向设置有多个第二等离子产生装置421，如设置有两个或者更多个第二等离子产生装置421，且这些第二等离子产生装置421位于载具10的同一侧，即这些第二等离子产生装置421的离子出射方向相同，通过设置多个第二等离子产生装置能够提高等离子蚀刻的效率，如图2所示。
具体地，在清洗工艺室41中的第一等离子产生装置411的排列个数可以根据其功率以及载具10的移动速度确定，在蚀刻工艺室42中的第二等离子产生装置421的排列个数可以根据其功率以及载具10的移动速度确定。具体地，载具10的移动速度与第一等离子产生装置411、第二等离子产生装置421的功率呈线性关系，如单个第一等离子产生装置411、第二等离子产生装置421的功率是分别为5kW(电源最大功率为5kW)，当设置有一个第一等离子产生装置411和一个第二等离子产生装置421时，载具10的移动速度(即玻璃基板的移动速度)为0.18m/min；当设置有两个第一等离子产生装置411、两个第二等离子产生装置421时，载具10的移动速度(即玻璃基板的移动速度)为0.36m/min。优选地，清洗工艺室41内第一等离子产生装置411的个数与蚀刻工艺室42内第二等离子产生装置421的个数相等，以协调整个生产线中的载具移动速度。
第一等离子产生装置411和第二等离子产生装置421可以均为感性耦合等离子体(ICP)产生装置，即通过电感式放电方式产生等离子体；也可以为均容性耦合等离子产生装置(即CCP)，即通过电容式放电方式产生等离子体。优选均采用感性耦合等离子体，这种方式，产生的离子的能量更高，基本较容性耦合等离子产生装置高一个数量级，从而蚀刻后的防眩光表面效果明显且均匀。
具体地，第一等离子产生装置411和第二等离子产生装置421均包括相互连接的射频源和离子源本体，离子源本体设置有气源入口和气源出口。步骤S200中，可以在控制清洗气源或者蚀刻气源供气时，同时控制射频源工作。一种优选的实施例中，控制第一等离子产生装置411或者第二等离子产生装置421工作时，先控制清洗气源或者蚀刻气源供气，待气源出口的气流平稳后再控制射频源工作，以形成活性等离子体。采用这种控制方式，能够保证发生清洗蚀刻和AG蚀刻时的活性离子稳定性，进而提高防眩晕玻璃的制造效率。其中，清洗气源的第一惰性气体源和蚀刻气源的第二惰性气体源优选氩气源，也可以选其他惰性气体源；含氟气体源优选为CF4的气体源，也可以为C4F8、CHF3、SF6等的气体源。
在AG蚀刻中，蚀刻速度和等离子体的离子密度有关，通过射频源的功率和蚀刻气源的流量可以调整等离子体离子束流的大小，束流越大、等离子体的离子密度越大，则蚀刻速度越大，随着束流越大，溅射离子的产额就越大，蚀刻离子额也随着加大，进而促使粒子间的无序性增加，从而促使纳米团簇生成的效率。
具体地，蚀刻气源中混合气体中第二惰性气体和含氟的气体的气体含量配比以及蚀刻工艺室42内的真空度，会影响蚀刻面中凹凸结构的均匀度以及整个表面的粗糙度，含氟的气体含量越多，AG蚀刻中参与化学反应的活性离子就越多，蚀刻形成的绒面中，凹凸结构的宽度会变大，若惰性气体的含量过少，则蚀刻中，离子溅射速度会变小，无法从玻璃基板表面轰击出粒子与活性离子进行反应，可能会导致蚀刻失败。优选地，蚀刻气源中第二惰性气体源与含氟气体源提供的气体含量的配比为9:1～2:1，如9:1、8:1、7:1、5:1、4:1、3:1、2.5:1、2:1等，采用这种比例，通过AG蚀刻处理后的表面均匀性更好，解析度较高。
对于清洗气源和蚀刻气源还可以都包括活性气体源，如氧气源、氢气源等，当包括活性气体源时，能够增加惰性气体形成的等离子体的活性，增加活性离子对玻璃基板表面的轰击，能够增加清洗和蚀刻过程中的溅射以及化学蚀刻的效果；且活性气体可以促使含氟的气体产生高密度的不饱和自由基，能够进一步增加化学蚀刻的效率和效果。具体地，活性气体源如氧气源的流量范围为0～200sccm，优选为50sccm～200sccm，如50sccm、80sccm、100sccm、130sccm、160sccm、200sccm等。
在清洗蚀刻中，清洗工艺室41的本底真空度小于或者等于8.0*10-4Pa，如8.0*10- 4Pa、5.0*10-4Pa、1.0*10-5Pa等；工作气压(即进行清洗蚀刻时的气压)为1.0*10-1～3Pa，如10-1Pa、1Pa、1.5Pa、2Pa、3Pa等。第一等离子产生装置411的功率为1.5～5kW，如1.5KW、2.0kW、3.5kW、4.5kW、5kW，频率为13.56MHz。第一惰性气体源的气体流量为150sccm～500sccm，如150sccm、200sccm、230sccm、280sccm、300sccm、320sccm、350sccm、400sccm、430sccm、480sccm、500sccm等。其中，功率和频率均指第一等离子产生装置411的射频源的功率和频率。即在上述步骤S200中，清洗工艺室41、第一等离子产生装置411采用上述工艺参数。实际制程中，可以在步骤S100时，使清洗工艺室41达到本底真空度小于或者等于8.0*10-4Pa，，在进入步骤S200时，通过调节第一惰性气体源的气体流量使整个清洗工艺室41的压强维持在1.0*10-1～3Pa的工作气压，当然在包括有活性气体时，还调节活性气体源的气体流量。也可以在步骤S200中，当进行清洗气源供气前再将清洗工艺室41抽真空达到本底真空度，之后再打开清洗气源供气，调节到工作气压。采用这种设置，能够通过物理蚀刻的方式对无机物等污染物彻底的清洁。
在AG蚀刻中，蚀刻工艺室42的本底真空度小于或者等于8.0*10-4Pa，如8.0*10- 4Pa、5.0*10-4Pa、1.0*10-5Pa等；工作气压(即进行AG蚀刻中的气压)为1Pa～60Pa，如1Pa、5Pa、7Pa、10Pa、13Pa、16Pa、18Pa、20Pa、30Pa、40Pa、45Pa、50Pa、55Pa、60Pa等。第二等离子产生装置421的功率为1.5～5kW；如1.5kW、2.0kW、3.5kW、4.5kW、5kW；频率为13.56MHz；其中，功率和频率均指第二等离子产生装置421的射频源的功率和频率。偏压装置的偏压为400～1800V，如400V、500V、800V、1000V、1300V、1500V等；功率为1.5kW～4.5kW，如1.5kW、2.0kW、3.5kW、4.5kW等；频率为13.56MHz，通过在此范围内对偏压调整可以实现AG工艺对于粗糙度要求的全部范围。即在上述步骤S200中，蚀刻工艺室42、第二等离子产生装置421以及偏压装置采用上述工艺参数。实际制程中，可以在步骤S100时，使蚀刻工艺室42的本底真空度小于或者等于8.0*10-4Pa，如8.0*10-4Pa、5.0*10-4Pa、1.0*10-5Pa等，在进入步骤S200时，通过调节第二惰性气体源与含氟气体源的气体流量使整个清洗工艺室41的压强维持在1Pa～60Pa的工作气压，当然在包括有活性气体时，还调节活性气体源的气体流量，且不论如何调整，需要满足第二惰性气体源与含氟气体源提供的气体含量的配比为9:1～2:1。也可以在步骤S200中，当进行蚀刻气源供气前再将蚀刻工艺室42抽真空达到本底真空度，之后再打开蚀刻气源供气，调节到工作气压。在这些参数设置下，同时设置蚀刻时间为20～40min，如20min、25min、30min、38min、40min。用这种设置，能够通过物理蚀刻和化学蚀刻相结合的方式对玻璃基板的表面进行蚀刻，从而形成更为均匀的凹凸结构，且解析度较高，闪点较少。
在上述工艺参数下，步骤S600中，优选地，载具10在清洗工艺室41和蚀刻工艺室42中的移动速度为2～8mm/s，如2mm/s、3mm/s、5mm/s、6mm/s、8mm/s等。进一步地，载具10在各腔室的移动速度可以不同，如在进料室20和进料缓冲室30、出料缓冲室50和出料室60中，可以移动的快一些，如30mm/s，或者在进料缓冲室30的前半段移动的快些，后半段移动的慢一些，在快进入工艺组40时逐步降为2mm/s～8mm/s；在出料缓冲室50的前半段可以慢一些，后半段快一些，如从2mm/s～8mm/s逐渐增加到30mm/s。具体地，载具在各腔室的移动速度可以根据整个生产线的节拍设置。
继续参考图8，为了方便玻璃基板的安装，载具10具有装载面，装载面相对于竖直方向倾斜设置，以使玻璃基板的待加工表面法向具有向上的分量，此时，等离子产生装置以相同的角度倾斜设置，以使等离子产生装置的工作面与装载面平行，即可以设置载具的顶部较底部向远离第一等离子产生装置411、第二等离子产生装置421的一侧倾斜，且装载面与第一等离子产生装置41、第二等离子产生装置42之间的距离为20～80mm，如20mm、25mm、30mm、33mm、36mm、38mm、40mm、50mm、55mm、60mm、67mm、75mm、80mm等，采用该设置能够使得等离子产生装置与待加工表面的距离在较好的范围内，从而配合上述清洗蚀刻和AG蚀刻时的工艺参数达到更好地蚀刻效果，进一步提高成型的AG玻璃表面凹凸结构的均匀性，增加整个玻璃的解析度。
需要说明的是，文中所述的移动方向即玻璃基板的移动方向，上游和下游也是相对于玻璃基板的移动方向来说的。
以下以基恩士VK-X100作为测量仪器，对光泽度为108的样品玻璃、采用本发明的加工设备和加工方法加工的半成品和成品的表面进行测量后，得到的测量数据如下表1，其中，半成品为仅进行了清洗蚀刻后的样品，表中以清洗样品表示；成品指进行了清洗蚀刻和AG蚀刻后的样品，表中以AG蚀刻样品表示。
表1
可见，通过本实施方式形成的防眩光表面，能够符合不同参数范围的AG玻璃性能要求，且得到的AG玻璃的清晰度较高。
需要说明的是，虽然上述各实施例描述的加工设备和加工方法是用于制造防眩光玻璃的，但是其也可以应用于太阳能板的制备，虽然太阳能板对防眩光要求、解析度等要求不高；在等离子清洗和等离子蚀刻过程中，由于发生溅射，因此整个玻璃基板在厚度上会有一定的减小，因此，本申请的加工设备和加工方法也可以应用于一些需要减薄的工艺处理。
需要说明的是，本发明中采用步骤编号(字母或数字编号)来指代某些具体的方法步骤，仅仅是出于描述方便和简洁的目的，而绝不是用字母或数字来限制这些方法步骤的顺序。本领域的技术人员能够明了，相关方法步骤的顺序，应由技术本身决定，不应因步骤编号的存在而被不适当地限制。
本领域的技术人员能够理解的是，在不冲突的前提下，上述各优选方案可以自由地组合、叠加。
应当理解，上述的实施方式仅是示例性的，而非限制性的，在不偏离本发明的基板原理的情况下，本领域的技术人员可以针对上述细节做出的各种明显的或等同的修改或替换，都将包含于本发明的权利要求范围内。
Claims (15)
1.一种防眩光玻璃的加工设备，其特征在于，包括用于安装待加工玻璃基板的载具、沿所述载具的移动方向依次设置的进料室、进料缓冲室、工艺组、出料缓冲室和出料室，所述进料室的入口侧设置有进料门阀，所述进料缓冲室与所述进料室、所述工艺组之间分别设置有腔体门阀，所述出料缓冲室与所述出料室、所述工艺组之间也分别设置有腔体门阀，所述出料室的出口侧设置有出料门阀；
所述工艺组包括过渡室、清洗工艺室和蚀刻工艺室，其中，至少在相邻的清洗工艺室与蚀刻工艺室之间设置有所述过渡室，所述工艺组中任意相邻的两个腔室的连接处形成连通腔，所述连通腔的内壁与所述载具的外轮廓之间留有预定间隙，以用于形成相邻腔室之间的密封；
所述清洗工艺室设置有第一等离子产生装置，所述第一等离子产生装置具有第一气源入口，所述第一气源入口与清洗气源连接，所述清洗气源包括第一惰性气体源；
所述蚀刻工艺室设置有第二等离子产生装置和偏压装置，所述第二等离子产生装置具有第二气源入口，所述第二气源入口与蚀刻气源连接，所述蚀刻气源包括第二惰性气体源和含氟气体源，所述第一惰性气体源和第二惰性气体源共用同一个供气源，或者使用不同的供气源；所述偏压装置的负极与载具连接，正极与蚀刻工艺室的腔壁连接，以在所述载具与所述蚀刻工艺室之间形成负偏压；
至少一部分所述过渡室容置有为自身以及所述清洗工艺室、所述蚀刻工艺室抽真空的真空装置。
2.根据权利要求1所述的加工设备，其特征在于，所述进料缓冲室与所述清洗工艺室之间、所述出料缓冲室与所述蚀刻工艺室之间均设置有过渡室。
3.根据权利要求1所述的加工设备，其特征在于，在同一工艺组中，所述清洗工艺室设置有一个，所述蚀刻工艺室设置有依次相邻的两个以上。
4.根据权利要求1所述的加工设备，其特征在于，所述进料室、所述进料缓冲室、所述工艺组、所述出料缓冲室和所述出料室设有并行的两套，两套之间具有共用的侧壁，载具在两套中的移动方向相同。
5.根据权利要求1所述的加工设备，其特征在于，所述工艺组并排设置有两组，且两组工艺组的载具移动方向相反，载具能够顺次经过第一组和第二组，所述进料室、所述进料缓冲室分别与所述出料室、所述出料缓冲室并排设置，所述进料室、所述进料缓冲室与所述第一组位于同一列，所述出料室、所述出料缓冲室与所述第二组位于同一列；
所述第一组的最下游和所述第二组的最上游均设置有过渡室，两个所述过渡室并排设置并通过转换室连接，且各自与所述转换室的连接处也形成所述连通腔。
6.根据权利要求5所述的加工设备，其特征在于，所述第一组和所述第二组中，离子产生装置的离子出射方向相向设置；
所述转换室设置有旋转台，所述旋转台能够带动所述载具转动180°以便于进入第二组，并使所述待加工玻璃基板分别在所述第一组和所述第二组中以同一表面朝向其中的等离子产生装置。
7.根据权利要求5所述的加工设备，其特征在于，所述第一组和所述第二组中，等离子产生装置的离子出射方向相向设置；
所述转换室设置有平移台，所述平移台的平移方向垂直于所述移动方向，以带动所述载具移动以便于进入第二组，并使所述待加工玻璃基板在所述第一组和所述第二组中分别以不同的表面朝向其中的等离子产生装置。
8.根据权利要求1-7任一项所述的加工设备，其特征在于，沿所述移动方向，所述清洗工艺室设置有多个第一等离子产生装置，所述蚀刻工艺室设置有多个第二等离子产生装置。
9.根据权利要求1-7任一项所述的加工设备，其特征在于，所述第一等离子产生装置和所述第二等离子产生装置均为感性耦合等离子体产生装置。
10.根据权利要求1-7任一项所述的加工设备，其特征在于，所述清洗气源和蚀刻气源均还包括氧气源，所述氧气源的流量为0~200sccm。
11.根据权利要求1-7任一项所述的加工设备，其特征在于，所述载具具有装载面，所述装载面相对于竖直方向倾斜设置，以使玻璃基板的待加工表面法向具有向上的分量，等离子产生装置以相同的角度倾斜设置，以使等离子产生装置的工作面与所述装载面平行，且所述装载面与等离子产生装置之间的距离为20~80mm。
12.一种防眩光玻璃的加工方法，其特征在于，采用权利要求1-10任一项所述的加工设备，所述加工方法包括步骤：
S100：对所述进料缓冲室、所述清洗工艺室、所述过渡室、所述蚀刻工艺室、所述出料缓冲室和所述出料室抽真空；
S200：控制所述清洗气源为所述第一等离子产生装置供气，以及控制第一等离子产生装置工作；并控制所述蚀刻气源为所述第二等离子产生装置供气，以及控制第二等离子产生装置和偏压装置工作；
S300：打开所述进料门阀，将待加工玻璃基板输送至所述进料室，关闭进料门阀，并对所述进料室抽真空；
S400：打开所述进料室与所述进料缓冲室之间的腔体门阀，将所述待加工玻璃基板输送至所述进料缓冲室，关闭所述腔体门阀；
S500：打开所述进料缓冲室与所述工艺组之间的腔体门阀，将所述待加工玻璃基板输送至所述工艺组，关闭所述腔体门阀；
S600：输送所述待加工玻璃基板依次经过所述清洗工艺室和所述蚀刻工艺室，以在所述清洗工艺室，对所述待加工玻璃基板进行等离子清洗，以至少去除所述待加工玻璃基板表面的杂质；在所述蚀刻工艺室，对所述待加工玻璃基板进行等离子蚀刻，形成防眩光表面；
S700：打开所述工艺组与所述出料缓冲室之间的腔体门阀，将所述待加工玻璃基板输送至所述出料缓冲室，关闭所述腔体门阀；
S800：打开所述出料缓冲室与所述出料室之间的腔体门阀，将所述待加工玻璃基板输送至所述出料室，关闭所述腔体门阀；
S900：对所述出料室放气至常压，打开所述出料门阀，将待加工玻璃基板输送出所述出料室。
13.根据权利要求12所述的加工方法，其特征在于，所述步骤S200中，所述清洗工艺室的本底真空度小于或者等于8.0*10-4Pa，工作气压为1.0*10-1~3Pa；所述第一等离子产生装置的功率为1.5~5kW，频率为13.56MHz；所述第一惰性气体源的气体流量为150sccm~500sccm。
14.根据权利要求12所述的加工方法，其特征在于，所述步骤S200中，所述蚀刻工艺室的本底真空度小于或者等于8.0*10-4Pa，工作气压为1 Pa ~60Pa；所述第二等离子产生装置的功率为1.5~5kW；频率为13.56MHz，蚀刻时间为20~40min；偏压装置的偏压为400~1800V，功率为1.5~4.5kW，频率为13.56MHz；所述蚀刻气源中所述第二惰性气体源与所述含氟气体源提供的气体含量的配比为9:1~2:1。
15.根据权利要求13或14所述的加工方法，其特征在于，所述步骤S600中，所述载具在所述清洗工艺室和所述蚀刻工艺室中的移动速度为2~8mm/s。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| CN202111086930.XA CN114262159B (zh) | 2021-09-16 | 2021-09-16 | 防眩光玻璃的加工设备及加工方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| CN202111086930.XA CN114262159B (zh) | 2021-09-16 | 2021-09-16 | 防眩光玻璃的加工设备及加工方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| CN114262159A CN114262159A (zh) | 2022-04-01 |
| CN114262159B true CN114262159B (zh) | 2024-01-12 |
Family
ID=80824759
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| CN202111086930.XA Active CN114262159B (zh) | 2021-09-16 | 2021-09-16 | 防眩光玻璃的加工设备及加工方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| CN (1) | CN114262159B (zh) |
Families Citing this family (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN115446061B (zh) * | 2022-09-05 | 2023-11-24 | 乐金显示光电科技(中国)有限公司 | Oled模块的处理方法、装置、电子设备及存储介质 |
| CN115925270A (zh) * | 2022-11-10 | 2023-04-07 | 湖北优尼科光电技术股份有限公司 | 保护基板的制备方法及显示装置 |
Citations (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| FR2730725A1 (fr) * | 1995-02-16 | 1996-08-23 | Saverglass Verrerie | Procede d'attaque superficielle d'une surface d'un materiau vitreux multicomposants par plasma |
| CN106544637A (zh) * | 2016-10-20 | 2017-03-29 | 江西沃格光电股份有限公司 | 磁控溅射镀膜设备 |
| CN207596951U (zh) * | 2017-12-15 | 2018-07-10 | 北京七星华创磁电科技有限公司 | 重稀土扩渗工艺中的磁控镀膜设备 |
| CN110197785A (zh) * | 2019-06-21 | 2019-09-03 | 苏州加拉泰克动力有限公司 | 一种制备防炫光玻璃的蚀刻系统及制备方法 |
| CN110699654A (zh) * | 2019-11-07 | 2020-01-17 | 湘潭宏大真空技术股份有限公司 | 一种arc镀膜生产线及镀膜工艺 |
| WO2021137274A1 (ja) * | 2019-12-30 | 2021-07-08 | ナルックス株式会社 | 石英ガラス基板に微細凹凸表面構造を製造する方法 |
-
2021
- 2021-09-16 CN CN202111086930.XA patent/CN114262159B/zh active Active
Patent Citations (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| FR2730725A1 (fr) * | 1995-02-16 | 1996-08-23 | Saverglass Verrerie | Procede d'attaque superficielle d'une surface d'un materiau vitreux multicomposants par plasma |
| CN106544637A (zh) * | 2016-10-20 | 2017-03-29 | 江西沃格光电股份有限公司 | 磁控溅射镀膜设备 |
| CN207596951U (zh) * | 2017-12-15 | 2018-07-10 | 北京七星华创磁电科技有限公司 | 重稀土扩渗工艺中的磁控镀膜设备 |
| CN110197785A (zh) * | 2019-06-21 | 2019-09-03 | 苏州加拉泰克动力有限公司 | 一种制备防炫光玻璃的蚀刻系统及制备方法 |
| CN110699654A (zh) * | 2019-11-07 | 2020-01-17 | 湘潭宏大真空技术股份有限公司 | 一种arc镀膜生产线及镀膜工艺 |
| WO2021137274A1 (ja) * | 2019-12-30 | 2021-07-08 | ナルックス株式会社 | 石英ガラス基板に微細凹凸表面構造を製造する方法 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| CN114262159A (zh) | 2022-04-01 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| CN114262159B (zh) | 防眩光玻璃的加工设备及加工方法 | |
| JP6329482B2 (ja) | 低圧ｐｅｃｖｄによってガラス基板上に層を蒸着するための方法 | |
| TWI791739B (zh) | 有機無機混成膜、積層體與包含有機無機混成膜之物品 | |
| JP6316287B2 (ja) | 透明な基板のための高度に透明な水素化炭素保護コーティングの生産方法 | |
| US8158211B2 (en) | Anti-reflection plate and method for manufacturing anti-reflection structure thereof | |
| WO2013089178A1 (ja) | 電子機器用カバーガラス及びその製造方法、並びにタッチセンサモジュールの製造方法 | |
| CN114262160B (zh) | 防眩光玻璃及其制备方法 | |
| EP4177374A1 (en) | Super-hydrophobic membrane layer, preparation method therefor, and product thereof | |
| KR101020767B1 (ko) | 투명성 전도박막 제조방법 | |
| US20080014466A1 (en) | Glass with scratch-resistant coating | |
| CN216550160U (zh) | 用于ag玻璃的加工设备 | |
| CN216155751U (zh) | 玻璃表面处理设备 | |
| JP5046074B2 (ja) | 光学的薄膜を形成する方法及び装置 | |
| CN115057623B (zh) | 防眩光玻璃的加工设备及加工其的方法 | |
| KR20080099418A (ko) | 마그네트론 롤 스퍼터링을 이용한 유연성 폴리머 기판상의금속박막 증착방법 | |
| US20220186363A1 (en) | Diamond-like carbon coatings and methods of making the same | |
| CN101487904A (zh) | 抗反射板及其抗反射结构的制造方法 | |
| TW201518221A (zh) | 玻璃板 | |
| KR101818623B1 (ko) | 알루미늄 산화질화물이 코팅된 투명기판 | |
| KR20190023487A (ko) | 평판 디스플레이 제조용 포토마스크 블랭크와 그 제조방법 및 그 제조장치 | |
| TWI792058B (zh) | 光罩基底及光罩 | |
| JP2004176110A (ja) | 積層膜の形成方法 | |
| CN118545918A (zh) | 玻璃面板的硬度提升处理方法及其玻璃面板 | |
| WO2021109425A1 (zh) | 镀膜设备 | |
| TW201730120A (zh) | 以離子植入法製作的抗污、防刮擦、耐磨玻璃 |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| PB01 | Publication | ||
| PB01 | Publication | ||
| SE01 | Entry into force of request for substantive examination | ||
| SE01 | Entry into force of request for substantive examination | ||
| GR01 | Patent grant | ||
| GR01 | Patent grant |