CN114199954A - 破片检测装置 - Google Patents
破片检测装置 Download PDFInfo
- Publication number
- CN114199954A CN114199954A CN202111476600.1A CN202111476600A CN114199954A CN 114199954 A CN114199954 A CN 114199954A CN 202111476600 A CN202111476600 A CN 202111476600A CN 114199954 A CN114199954 A CN 114199954A
- Authority
- CN
- China
- Prior art keywords
- substrate
- electrode plate
- detected
- capacitor
- edge
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
- 238000001514 detection method Methods 0.000 title claims abstract description 116
- 239000012634 fragment Substances 0.000 title claims abstract description 114
- 239000000758 substrate Substances 0.000 claims abstract description 188
- 239000003990 capacitor Substances 0.000 claims abstract description 95
- 238000005259 measurement Methods 0.000 claims abstract description 25
- 230000007723 transport mechanism Effects 0.000 claims description 4
- 230000007246 mechanism Effects 0.000 abstract description 28
- 239000011521 glass Substances 0.000 description 42
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 10
- 238000012546 transfer Methods 0.000 description 9
- 239000004973 liquid crystal related substance Substances 0.000 description 7
- 238000012217 deletion Methods 0.000 description 2
- 230000037430 deletion Effects 0.000 description 2
- 238000011161 development Methods 0.000 description 2
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 2
- 238000000034 method Methods 0.000 description 2
- 230000008569 process Effects 0.000 description 2
- 230000009286 beneficial effect Effects 0.000 description 1
- 230000008859 change Effects 0.000 description 1
- 230000008034 disappearance Effects 0.000 description 1
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 1
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 1
- 238000011144 upstream manufacturing Methods 0.000 description 1
Images
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N27/00—Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means
- G01N27/02—Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means by investigating impedance
- G01N27/22—Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means by investigating impedance by investigating capacitance
- G01N27/226—Construction of measuring vessels; Electrodes therefor
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N27/00—Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means
- G01N27/02—Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means by investigating impedance
- G01N27/22—Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means by investigating impedance by investigating capacitance
- G01N27/24—Investigating the presence of flaws
Landscapes
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Chemical Kinetics & Catalysis (AREA)
- Electrochemistry (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- Health & Medical Sciences (AREA)
- Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- Biochemistry (AREA)
- General Health & Medical Sciences (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Immunology (AREA)
- Pathology (AREA)
- Investigating Or Analyzing Materials By The Use Of Electric Means (AREA)
- Measurement Of Length, Angles, Or The Like Using Electric Or Magnetic Means (AREA)
Abstract
本申请涉及一种破片检测装置。该破片检测装置包括第一检测机构，第一检测机构包括第一电容和第一电容测量模块，第一电容包括第一电极板和第二电极板，第一电极板和第二电极板分别设于待检测基板的正反两面；第一电容测量模块用于测量第一电容的电容值。本申请提供的一种破片检测装置中，第一电极板和第二电极板分别设于待检测基板的正反两面，且第一电容测量模块测量第一电容的电容值。当第一电容测量模块测量的第一电容的电容值不为预设电容值时，则说明待检测基板破片。本申请提供的破片检测装置无需转轴即可实现破片检测，故本申请提供的破片检测装置不存在现接的触式破片检测装置容易发生转轴卡顿，又因转轴卡顿后无法完成检测工作的问题。
Description
技术领域
本申请涉及显示技术领域，特别是涉及破片检测装置。
背景技术
随着显示技术的发展，液晶显示器(Liquid Crystal Display，LCD)等平面显示装置因具有高画质、省电、机身薄及应用范围广等优点，而被广泛的应用于手机、电视、个人数字助理、数字相机、笔记本电脑、台式计算机等各种消费性电子产品，成为显示装置中的主流。现有市场上的液晶显示装置大部分为背光型液晶显示器，其包括液晶显示面板及背光模组(backlight module)。液晶显示面板的工作原理是在两片平行的玻璃基板当中放置液晶分子，两片玻璃基板中间有许多垂直和水平的细小电线，通过通电与否来控制液晶分子改变方向，将背光模组的光线折射出来产生画面。
随着发展大尺寸显示面板应用越来越广泛，玻璃基板的尺寸也越来越大，随之而来由于机台的尺寸也需要更大，构造也更加复杂，玻璃基板破片的风险也越来越大，尤其是在上下游机台之间传送玻璃基板时，若无法有效拦截破片，未被拦截的破片进入下游机台，将严重影响多个下游机台的正常工作，甚至对下游机台造成损害，导致生产效率降低，生产成本提升，因此在玻璃基板进入下一工序前需要对玻璃基板进行破片检测。
目前，现有的接触式破片检测装置如图1所示，该检测装置的工作原理为：检测装置中滚轮饶转轴向上转动后(图1中顺时针方向，图2中逆时针方向)，滚轮与待检测玻璃基板2的表面接触产生压力，如图2所示；检测装置中的压力传感器检测滚轮1受到的压力，并基于压力数值判断该待检测玻璃基板2是否破裂。该接触式破片检测装置为机械式的压力检测，同时检测装置中转轴容易发生卡顿；当转轴发生卡顿时，滚轮就无法转动至与待检测玻璃基板2的表面接触，也就无法完成检测工作。
发明内容
基于此，有必要针对现接的触式破片检测装置容易发生转轴卡顿，而转轴卡顿后无法完成检测工作的问题，提供一种破片检测装置。
为了实现上述目的，一方面，本申请实施例提供了
一种破片检测装置，所述破片检测装置包括：
第一电容，所述第一电容包括第一电极板和第二电极板，所述第一电极板和所述第二电极板分别设于待检测基板的正反两面；
第一电容测量模块，所述第一电容测量模块用于测量所述第一电容的电容值。
可选的，所述第一电容设于所述待检测基板的第一边缘处。
可选的，所述待检测基板可相对所述第一电容沿所述第一边缘的长度方向运动。
可选的，所述破片检测装置还包括第一传送机构，所述第一传送机构用于传送所述待检测基板沿所述第一边缘的长度方向运动。
可选的，所述破片检测装置还包括：
第一支撑模块，所述第一支撑模块用于支撑所述第一电极板和所述第二电极板。
可选的，所述第一支撑模块包括第一支架和第一支撑臂，所述第一支架所述第一电极板连接；所述第一支撑臂与所述第二电极板连接，且所述第一支撑臂与所述第一支架转动连接。
可选的，所述破片检测装置还包括：
第二电容，所述第二电容包括第三电极板和第四电极板，所述第三电极板和所述第四电极板分别设于待检测基板的正反两面；
第二电容测量模块，所述第二电容测量模块用于测量所述第二电容的电容值。
可选的，所述第二电容设于所述待检测基板的第二边缘处，所述第一边缘和所述第二边缘为所述待检测基板的相对两边缘。
可选的，所述破片检测装置还包括：
第三电容，所述第三电容包括第五电极板和第六电极板，所述第五电极板和所述第六电极板分别设于待检测基板的正反两面；
第三电容测量模块，所述第三电容测量模块用于测量所述第三电容的电容值；
其中，所述第三电容设于所述待检测基板的第三边缘处，所述第三边缘为所述待检测基板上与所述第一边缘相邻的边缘。
可选的，所述破片检测装置还包括第二传送机构，所述第二传送机构用于传送所述待检测基板沿所述第三边缘的长度方向运动。
上述技术方案中的一个技术方案具有如下优点和有益效果：
本申请提供的一种破片检测装置中，所述第一电极板和所述第二电极板分别设于待检测基板的正反两面，且第一电容测量模块测量所述第一电容的电容值。当第一电容测量模块测量的所述第一电容的电容值不为预设电容值时，则说明待检测基板破片，预设电容值为待检测基板不存在破片时第一电极板和第二电极板之间的电容值。本申请提供的破片检测装置无需转轴即可实现破片检测，故本申请提供的破片检测装置不存在现接的触式破片检测装置容易发生转轴卡顿，又因转轴卡顿后无法完成检测工作的问题。
在实现过程中，发明人发现传统技术中至少存在如下问题：现有的接触式破片检测装置中的滚轮与玻璃基板的接触点，只能位于玻璃基板的中心位置，因此现有的接触式破片检测装置只能检测到玻璃基板中部的断裂，而无法检测到玻璃基板边缘的缺失或破片，因此容易导致漏检率增高的问题。而本申请中破片检测装置通过检测待检测基板上的电容值实现破片检测，其无需与待检测基板表面接触，故第一电容可以设置在待检测基板的任一位置，例如待检测基板的边缘处，因此本申请的破片检测装置也能够检测到玻璃基板边缘的缺失或破片。
附图说明
图1为现有接触式破片检测装置的结构示意图。
图2为现有接触式破片检测装置检测待检测玻璃基板时的结构示意图。
图3为现有接触式破片检测装置检测中部断裂的玻璃基板时，玻璃基板上的被测量点的示意图。
图4为现有接触式破片检测装置检测边缘破片的玻璃基板时，玻璃基板上的被测量点的示意图。
图5为本申请实施提供的破片检测装置的结构示意图。
图6为图5的俯视图。
图7为本申请实施提供的另一破片检测装置的结构示意图。
图8为图7的俯视图。
图9为申请实施提供的破片检测装置检测边缘破片的玻璃基板时，玻璃基板上的被测量点的示意图。
图10为待检测基板的边缘上不存在破片时，电容测量模块测量出的电容的值波形示意图。
图11为待检测基板的边缘上存在破片时，电容测量模块测量出的电容值的示意波形图。
图12为本申请实施提供的另一破片检测装置的结构示意图。
图13为图12中沿箭头Y方向的向视图。
具体实施方式
为了便于理解本申请，下面将参照相关附图对本申请进行更全面的描述。附图中给出了本申请的首选实施例。但是，本申请可以以许多不同的形式来实现，并不限于本文所描述的实施例。相反地，提供这些实施例的目的是使对本申请的公开内容更加透彻全面。
需要说明的是，当一个元件被认为是“连接”另一个元件，它可以是直接连接到另一个元件并与之结合为一体，或者可能同时存在居中元件。本文所使用的术语“层叠”、“一侧”、“另一侧”以及类似的表述只是为了说明的目的。此外，本申请所提到的“第一”及“第二”等序号用语并不代表任何顺序、数量或者重要性，只是用于区分不同的部分。
除非另有定义，本文所使用的所有的技术和科学术语与属于本申请的技术领域的技术人员通常理解的含义相同。本文中在本申请的说明书中所使用的术语只是为了描述具体的实施例的目的，不是旨在于限制本申请。本文所使用的术语“及/或”包括一个或多个相关的所列项目的任意的和所有的组合。
目前，现有的接触式破片检测装置为机械式的压力检测，检测装置中滚轮饶转轴向上转动后，滚轮与待检测玻璃基板的表面接触产生压力，基于压力数值判断该待检测玻璃基板是否破裂。现有的检测装置中转轴容易发生卡顿；当转轴发生卡顿时，滚轮就无法转动至与待检测玻璃基板的表面接触，也就无法完成检测工作。同时，接触式破片检测装置中的滚轮与玻璃基板的接触点，只能位于玻璃基板的中心位置，因此现有的接触式破片检测装置只能检测到玻璃基板中部的断裂(如图3所示)，而无法检测到玻璃基板边缘的缺失或破片(如图4所示，图3、图4中的黑点即为接触式破片检测装置中的滚轮与玻璃基板的接触点)，因此容易导致漏检率增高。
请参阅图5和图6，图5和图6是本揭示实施例的破片检测装置的结构示意图。破片检测装置包括第一检测机构100，第一检测机构100包括第一电容和第一电容测量模块。其中，第一电容包括第一电极板110和第二电极板120，第一电极板110和第二电极板120分别设于待检测基板700的正反两面。即图5中第一电极板110位于待检测基板700的上表面，且第一电极板110与待检测基板700之间相互间隔设置；第二电极板120位于待检测基板700的下表面，且第二电极板120与待检测基板700之间相互间隔设置。第一电容测量模块与第一电容连接，第一电容测量模块用于测量第一电容的电容值。
本申请提供的破片检测装置中第一电极板110和第二电极板120分别设于待检测基板700的正反两面，且第一电容测量模块测量第一电容的电容值。当待检测基板700不存在破片时，第一电极板110和第二电极板120之间为基板，此时第一电容的电容值为预设电容值(基板的厚度不变时，预设电容值为固定值)。而当待检测基板700破片时，待检测基板700破片处在第一电极板110和第二电极板120之间为空气，第一电容测量模块测得的第一电容的电容值为第一电容值，由于基板的介电常数的与空气的介电常数不同，故第一电容值不等于预设电容值。因此当第一电容测量模块测量的第二电容的电容值不为预设电容值时，则说明待检测基板700破片。本申请提供的破片检测装置无需转轴即可实现破片检测，故本申请提供的破片检测装置不存在现接的触式破片检测装置容易发生转轴卡顿，又因转轴卡顿后无法完成检测工作的问题。其中待检测基板可以为玻璃基板，但不限于玻璃基板，也可以是PCBA,BT基板。
示例性的如图6所示，第一电容设于待检测基板700的第一边缘710处，本申请的破片检测装置通过检测待检测基板700上的电容值实现破片检测，其无需与待检测基板700表面接触，故第一电容可以设置在待检测基板700的任一位置，例如待检测基板700的边缘处。因此本申请的破片检测装置也能够检测到玻璃基板边缘的缺失或破片，将第一电容设于待检测基板700的第一边缘710处，则破片检测装置也能够检测到玻璃基板的第一边缘710处是否存在缺失或破片。
示例性的如图7和图8所示，待检测基板700可相对第一电容沿第一边缘710的长度方向运动(图8中箭头X的方向)，则当待检测基板700沿第一边缘710的长度方向运动后，第一边缘710的每一处均经过第一电容，第一电容测量模块测量出，待检测基板700运动过程中第一电容的电容值。当第一边缘710上不存在破片时，第一电容测量模块测量的第一电容值如图10所示；当第一边缘710上存在破片时，第一电容测量模块测量的第一电容值如图11所示。
示例性的，破片检测装置还包括第一传送机构500，第一传送机构500用于传送待检测基板700沿第一边缘710的长度方向运动；第一传送机构500可以是传送带，也不限于传送带。此述待检测基板700可相对第一电容沿第一边缘710的长度方向运动，当然也可以是待检测基板700相对固定，第一电容可相对待检测基板700沿第一边缘710的长度方向运动。
示例性的，第一检测机构100还包括第一支撑模块，第一支撑模块用于支撑第一电极板110和第二电极板120。如图7和图8所示，第一支撑模块包括第一支架130和第一支撑臂140，第一支架130第一电极板110连接。第一支撑臂140的一端与第二电极板120连接，且第一支撑臂140的另一端与第一支架130转动连接；故第一支撑臂140上的第二电极板120可相对第一电极板110转动，已增大第二电极板120与第一电极板110之间的距离，从而方便将待检测基板700移动至第二电极板120与第一电极板110之间，然后将第一支撑臂140恢复至图7所示的位置。当然第一支撑臂140也可以固定安装在第一支架130上。
示例性的如图7和图8所示，破片检测装置还包括第二检测机构200，第二检测机构200包括第二电容和第二电容测量模块。其中，第二电容包括第三电极板210和第四电极板220，第三电极板210和第四电极板220分别设于待检测基板700的正反两面。即图7中第三电极板210位于待检测基板700的上表面，且第三电极板210与待检测基板700之间相互间隔设置；第四电极板220位于待检测基板700的下表面，且第四电极板220与待检测基板700之间相互间隔设置。第二电容测量模块与第二电容连接，第二电容测量模块用于测量第二电容的电容值。
本申请提供的破片检测装置中第三电极板210和第四电极板220分别设于待检测基板700的正反两面，且第二电容测量模块测量第二电容的电容值。而当待检测基板700破片时，待检测基板700破片处在第三电极板210和第四电极板220之间为空气，第二电容测量模块测得的第二电容的电容值为第二电容值，由于基板的介电常数的与空气的介电常数不同，故第二电容值不等于预设电容值。因此当第二电容测量模块测量的第三电容的电容值不为预设电容值时，则说明待检测基板700破片。
示例性的如图6所示，第二电容设于待检测基板700的第二边缘720处，第一边缘710和第二边缘720为待检测基板700的相对两边缘。本申请的破片检测装置通过检测待检测基板700上的电容值实现破片检测，其无需与待检测基板700表面接触，故第二电容可以设置在待检测基板700的任一位置，例如待检测基板700的边缘处。因此本申请的破片检测装置也能够检测到玻璃基板边缘的缺失或破片，将第二电容设于待检测基板700的第二边缘720处，则破片检测装置也能够检测到玻璃基板的第二边缘720处是否存在缺失或破片。
示例性的如图7和图8所示，第一传送机构500传送待检测基板700沿第二边缘720的长度方向运动(第一边缘710与第二边缘720相平行)，则当待检测基板700沿第二边缘720的长度方向运动后，第二边缘720的每一处均经过第二电容，第二电容测量模块测量出，待检测基板700运动过程中第二电容的电容值。当第二边缘720上不存在破片时，第二电容测量模块测量的第二电容值如图10所示；当第二边缘720上存在破片时，第二电容测量模块测量的第二电容值如图11所示。
示例性的，破片检测装置还包括处理器和报警器，处理器分别与第一电容测量模块、第二电容测量模块及报警器连接。处理器接收第一电容测量模块测量的第一电容值，并将第一电容值与预设电容值进行比较，当第一电容值不等于预设电容值时，说明第一边缘710上存在破片，则处理器控制报警器工作，提示相关人员该基板存在破片。处理器接收第二电容测量模块测量的第二电容值，并将第二电容值与预设电容值进行比较，当第二电容值不等于预设电容值时，说明第二边缘720上存在破片，则处理器控制报警器工作，提示相关人员该基板存在破片。其中报警器可以为蜂鸣器、报警灯等，但并不限于此。当由于基板上各个位置的厚度无法做到完全一致，因此电容测量模块测量出的电容值也是存在误差的，电容测量模块测量出的电容值不等于预设电容值，应当理解为电容测量模块测量出的电容值未超过预设电容值的误差范围，即测量出的电容值允许在预设电容值以上或以下的一定范围内波动，例如电容测量模块测量出的电容值大于等于预设电容值95％，且电容测量模块测量出的电容值小于等于预设电容值105％。
示例性的，第二检测机构200还包括第二支撑模块，第二支撑模块用于支撑第三电极板210和第四电极板220。如图7和图8所示，第二支撑模块包括第二支架230和第二支撑臂240，第二支架230第三电极板210连接。第二支撑臂240的一端与第四电极板220连接，且第二支撑臂240的另一端与第二支架230转动连接；故第二支撑臂240上的第四电极板220可相对第三电极板210转动，已增大第四电极板220与第三电极板210之间的距离，从而方便将待检测基板700移动至第四电极板220与第三电极板210之间，然后将第二支撑臂240恢复至图7所示的位置。当然第二支撑臂240也可以固定安装在第二支架230上。
示例性的如图12和图13所示，破片检测装置还包括第三检测机构300，第三检测机构300包括第三电容和第三电容测量模块。其中，第三电容包括第五电极板310和第六电极板320，第五电极板310和第六电极板320分别设于待检测基板700的正反两面。即如图13所示第五电极板310位于待检测基板700的上表面，且第五电极板310与待检测基板700之间相互间隔设置；第六电极板320位于待检测基板700的下表面，且第六电极板320与待检测基板700之间相互间隔设置。第三电容测量模块与第三电容连接，第三电容测量模块用于测量第三电容的电容值。
本申请提供的破片检测装置中第五电极板310和第六电极板320分别设于待检测基板700的正反两面，且第三电容测量模块测量第三电容的电容值。而当待检测基板700破片时，待检测基板700破片处在第五电极板310和第六电极板320之间为空气，第三电容测量模块测得的第三电容的电容值为第三电容值，由于基板的介电常数的与空气的介电常数不同，故第三电容值不等于预设电容值。因此当第三电容测量模块测量的第四电容的电容值不为预设电容值时，则说明待检测基板700破片。
示例性的如图12所示，第三电容设于待检测基板700的第三边缘730处，第三边缘730为待检测基板700上与第一边缘710相邻的边缘。本申请的破片检测装置通过检测待检测基板700上的电容值实现破片检测，其无需与待检测基板700表面接触，故第三电容可以设置在待检测基板700的任一位置，例如待检测基板700的边缘处。因此本申请的破片检测装置也能够检测到玻璃基板边缘的缺失或破片，将第三电容设于待检测基板700的第三边缘730处，则破片检测装置也能够检测到玻璃基板的第三边缘730处是否存在缺失或破片。
示例性的如图12所示，待检测基板700可相对第三电容沿第三边缘730的长度方向运动(图12中箭头Y的方向)，则当待检测基板700沿第三边缘730的长度方向运动后，第三边缘730的每一处均经过第三电容，第三电容测量模块测量出，待检测基板700运动过程中第三电容的电容值。当第三边缘730上不存在破片时，第三电容测量模块测量的第三电容值如图10所示；当第三边缘730上存在破片时，第三电容测量模块测量的第三电容值如图11所示。
示例性的，破片检测装置还包括第二传送机构600，第二传送机构600用于传送待检测基板700沿第三边缘730的长度方向运动；第二传送机构600可以是传送带，也不限于传送带。当第一传送机构500传送待检测基板700经过第一电容和第二电容后，第一传送机构500将待检测基板700传送至第二传送机构600上，然后第二传送机构600传送待检测基板700经过第三电容和后述第四电容。另外，此述待检测基板700可相对第三电容沿第三边缘730的长度方向运动，当然也可以是待检测基板700相对固定，第三电容可相对待检测基板700沿第三边缘730的长度方向运动。
示例性的，第三检测机构300还包括第三支撑模块，第三支撑模块用于支撑第五电极板310和第六电极板320。如图12所示，第三支撑模块包括第三支架330和第三支撑臂340，第三支架330第五电极板310连接。第三支撑臂340的一端与第六电极板320连接，且第三支撑臂340的另一端与第三支架330转动连接；故第三支撑臂340上的第六电极板320可相对第五电极板310转动，已增大第六电极板320与第五电极板310之间的距离，从而方便将待检测基板700移动至第六电极板320与第五电极板310之间，然后将第三支撑臂340恢复至图12所示的位置。当然第三支撑臂340也可以固定安装在第三支架330上。
示例性的如图12和图13所示，破片检测装置还包括第四检测机构400，第四检测机构400包括第四电容和第四电容测量模块。其中，第四电容包括第七电极板410和第八电极板420，第七电极板410和第八电极板420分别设于待检测基板700的正反两面。即图13中第七电极板410位于待检测基板700的上表面，且第七电极板410与待检测基板700之间相互间隔设置；第八电极板420位于待检测基板700的下表面，且第八电极板420与待检测基板700之间相互间隔设置。第四电容测量模块与第四电容连接，第四电容测量模块用于测量第四电容的电容值。
本申请提供的破片检测装置中第七电极板410和第八电极板420分别设于待检测基板700的正反两面，且第四电容测量模块测量第四电容的电容值。而当待检测基板700破片时，待检测基板700破片处在第七电极板410和第八电极板420之间为空气，第四电容测量模块测得的第四电容的电容值为第四电容值，由于基板的介电常数的与空气的介电常数不同，故第四电容值不等于预设电容值。因此当第四电容测量模块测量的第五电容的电容值不为预设电容值时，则说明待检测基板700破片。
示例性的如图12所示，第四电容设于待检测基板700的第四边缘740处，第三边缘730和第四边缘740为待检测基板700的相对两边缘。本申请的破片检测装置通过检测待检测基板700上的电容值实现破片检测，其无需与待检测基板700表面接触，故第四电容可以设置在待检测基板700的任一位置，例如待检测基板700的边缘处。因此本申请的破片检测装置也能够检测到玻璃基板边缘的缺失或破片，将第四电容设于待检测基板700的第四边缘740处，则破片检测装置也能够检测到玻璃基板的第四边缘740处是否存在缺失或破片。
示例性的如图12所示，第一传送机构500用于传送待检测基板700沿第四边缘740的长度方向运动(第三边缘730与第四边缘740相平行)，则当待检测基板700沿第四边缘740的长度方向运动后，第四边缘740的每一处均经过第四电容，第四电容测量模块测量出，待检测基板700运动过程中第四电容的电容值。当第四边缘740上不存在破片时，第四电容测量模块测量的第四电容值如图10所示；当第四边缘740上存在破片时，第四电容测量模块测量的第四电容值如图11所示。
示例性的，处理器分别与第三电容测量模块、第四电容测量模块连接。处理器接收第三电容测量模块测量的第三电容值，并将第三电容值与预设电容值进行比较，当第三电容值不等于预设电容值时，说明第三边缘730上存在破片，则处理器控制报警器工作，提示相关人员该基板存在破片。处理器接收第四电容测量模块测量的第四电容值，并将第四电容值与预设电容值进行比较，当第四电容值不等于预设电容值时，说明第四边缘740上存在破片，则处理器控制报警器工作，提示相关人员该基板存在破片。
示例性的，第四检测机构400还包括第四支撑模块，第四支撑模块用于支撑第七电极板410和第八电极板420。如图12和图13所示，第四支撑模块包括第四支架430和第四支撑臂440，第四支架430第七电极板410连接。第四支撑臂440的一端与第八电极板420连接，且第四支撑臂440的另一端与第四支架430转动连接；故第四支撑臂440上的第八电极板420可相对第七电极板410转动，已增大第八电极板420与第七电极板410之间的距离，从而方便将待检测基板700移动至第八电极板420与第七电极板410之间，然后将第四支撑臂440恢复至图13所示的位置。当然第四支撑臂440也可以固定安装在第四支架430上。
综上，本申请提供的一种破片检测装置中，第一电极板110和第二电极板120分别设于待检测基板700的正反两面，且第一电容测量模块测量第一电容的电容值。当待检测基板700不存在破片时，第一电极板110和第二电极板120之间为基板，此时第一电容的电容值为预设电容值(基板的厚度不变时，预设电容值为固定值)。而当待检测基板700破片时，待检测基板700破片处在第一电极板110和第二电极板120之间为空气，第一电容测量模块测得的第一电容的电容值为第一电容值，由于基板的介电常数的与空气的介电常数不同，故第一电容值不等于预设电容值。因此当第一电容测量模块测量的第二电容的电容值不为预设电容值时，则说明待检测基板700破片。本申请提供的破片检测装置无需转轴即可实现破片检测，故本申请提供的破片检测装置不存在现接的触式破片检测装置容易发生转轴卡顿，又因转轴卡顿后无法完成检测工作的问题。
同时，本申请提供的一种破片检测装置通过检测待检测基板700上的电容值实现破片检测，其无需与待检测基板700表面接触，故第一电容可以设置在待检测基板700的任一位置，例如待检测基板700的边缘处。因此本申请的破片检测装置也能够检测到玻璃基板边缘的缺失或破片，将第一电容设于待检测基板700的第一边缘710处，则破片检测装置也能够检测到玻璃基板的第一边缘710处是否存在缺失或破片。
以上所述实施例的各技术特征可以进行任意的组合，为使描述简洁，未对上述实施例中的各个技术特征所有可能的组合都进行描述，然而，只要这些技术特征的组合不存在矛盾，都应当认为是本说明书记载的范围。
以上所述实施例仅表达了本申请的几种实施方式，其描述较为具体和详细，但并不能因此而理解为对申请专利范围的限制。应当指出的是，对于本领域的普通技术人员来说，在不脱离本申请构思的前提下，还可以做出若干变形和改进，这些都属于本申请的保护范围。因此，本申请专利的保护范围应以所附权利要求为准。
Claims (10)
1.一种破片检测装置，其特征在于，所述破片检测装置包括：
第一电容，所述第一电容包括第一电极板和第二电极板，所述第一电极板和所述第二电极板分别设于待检测基板的正反两面；
第一电容测量模块，所述第一电容测量模块用于测量所述第一电容的电容值。
2.根据权利要求1所述的破片检测装置，其特征在于，所述第一电容设于所述待检测基板的第一边缘处。
3.根据权利要求2所述的破片检测装置，其特征在于，所述待检测基板可相对所述第一电容沿所述第一边缘的长度方向运动。
4.根据权利要求3所述的破片检测装置，其特征在于，所述破片检测装置还包括第一传送机构，所述第一传送机构用于传送所述待检测基板沿所述第一边缘的长度方向运动。
5.根据权利要求1至4任一项所述的破片检测装置，其特征在于，所述破片检测装置还包括：
第一支撑模块，所述第一支撑模块用于支撑所述第一电极板和所述第二电极板。
6.根据权利要求5所述的破片检测装置，其特征在于，所述第一支撑模块包括第一支架和第一支撑臂，所述第一支架所述第一电极板连接；所述第一支撑臂与所述第二电极板连接，且所述第一支撑臂与所述第一支架转动连接。
7.根据权利要求2至4任一项所述的破片检测装置，其特征在于，所述破片检测装置还包括：
第二电容，所述第二电容包括第三电极板和第四电极板，所述第三电极板和所述第四电极板分别设于待检测基板的正反两面；
第二电容测量模块，所述第二电容测量模块用于测量所述第二电容的电容值。
8.根据权利要求7所述的破片检测装置，其特征在于，所述第二电容设于所述待检测基板的第二边缘处，所述第一边缘和所述第二边缘为所述待检测基板的相对两边缘。
9.根据权利要求8所述的破片检测装置，其特征在于，所述破片检测装置还包括：
第三电容，所述第三电容包括第五电极板和第六电极板，所述第五电极板和所述第六电极板分别设于待检测基板的正反两面；
第三电容测量模块，所述第三电容测量模块用于测量所述第三电容的电容值；
其中，所述第三电容设于所述待检测基板的第三边缘处，所述第三边缘为所述待检测基板上与所述第一边缘相邻的边缘。
10.根据权利要求9所述的破片检测装置，其特征在于，所述破片检测装置还包括第二传送机构，所述第二传送机构用于传送所述待检测基板沿所述第三边缘的长度方向运动。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| CN202111476600.1A CN114199954B (zh) | 2021-12-06 | 2021-12-06 | 破片检测装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| CN202111476600.1A CN114199954B (zh) | 2021-12-06 | 2021-12-06 | 破片检测装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| CN114199954A true CN114199954A (zh) | 2022-03-18 |
| CN114199954B CN114199954B (zh) | 2023-12-15 |
Family
ID=80650572
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| CN202111476600.1A Active CN114199954B (zh) | 2021-12-06 | 2021-12-06 | 破片检测装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| CN (1) | CN114199954B (zh) |
Citations (7)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN107167936A (zh) * | 2017-05-22 | 2017-09-15 | 京东方科技集团股份有限公司 | 基板传送系统以及基板检测设备和检测方法 |
| CN107479226A (zh) * | 2017-09-27 | 2017-12-15 | 武汉华星光电技术有限公司 | 便携式缺陷检测仪 |
| CN108226237A (zh) * | 2018-03-02 | 2018-06-29 | 鄂尔多斯市源盛光电有限责任公司 | 一种检测方法和装置 |
| CN108225167A (zh) * | 2018-01-02 | 2018-06-29 | 京东方科技集团股份有限公司 | 测量装置及隔垫物高度测量方法 |
| CN109633951A (zh) * | 2019-02-26 | 2019-04-16 | 深圳市华星光电技术有限公司 | 破片检测装置及破片检测方法 |
| CN109669288A (zh) * | 2019-02-26 | 2019-04-23 | 深圳市华星光电技术有限公司 | 基板破片检测系统及基板破片检测方法 |
| JP2019074425A (ja) * | 2017-10-17 | 2019-05-16 | 株式会社東海理化電機製作所 | 検出装置及び入力装置 |
-
2021
- 2021-12-06 CN CN202111476600.1A patent/CN114199954B/zh active Active
Patent Citations (7)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN107167936A (zh) * | 2017-05-22 | 2017-09-15 | 京东方科技集团股份有限公司 | 基板传送系统以及基板检测设备和检测方法 |
| CN107479226A (zh) * | 2017-09-27 | 2017-12-15 | 武汉华星光电技术有限公司 | 便携式缺陷检测仪 |
| JP2019074425A (ja) * | 2017-10-17 | 2019-05-16 | 株式会社東海理化電機製作所 | 検出装置及び入力装置 |
| CN108225167A (zh) * | 2018-01-02 | 2018-06-29 | 京东方科技集团股份有限公司 | 测量装置及隔垫物高度测量方法 |
| CN108226237A (zh) * | 2018-03-02 | 2018-06-29 | 鄂尔多斯市源盛光电有限责任公司 | 一种检测方法和装置 |
| CN109633951A (zh) * | 2019-02-26 | 2019-04-16 | 深圳市华星光电技术有限公司 | 破片检测装置及破片检测方法 |
| CN109669288A (zh) * | 2019-02-26 | 2019-04-23 | 深圳市华星光电技术有限公司 | 基板破片检测系统及基板破片检测方法 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| CN114199954B (zh) | 2023-12-15 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| EP3001242A1 (en) | Liquid crystal display, detection method for liquid crystal display and electronic device | |
| CN105677085A (zh) | 触控显示装置、触控检测方法 | |
| CN110333246B (zh) | 一种超薄玻璃的分离装置及检测系统 | |
| CN105182576A (zh) | 偏光板贴附精度检测装置及检测方法 | |
| WO2018214798A1 (zh) | 用于检测基板的破损的装置和方法、以及基板传送系统 | |
| CN101398464A (zh) | 电路图案检查装置 | |
| CN114199954A (zh) | 破片检测装置 | |
| GB2270856A (en) | Liquid crystal molecule orienting method | |
| US20200341304A1 (en) | Measuring device and a measuring system | |
| CN103984451B (zh) | 电容式触控模块 | |
| CN2363316Y (zh) | 触摸力作用点位置坐标检测传感装置 | |
| CN107369402A (zh) | 一种显示面板、其检测方法及显示装置 | |
| CN216736222U (zh) | 一种集成线路板的快速检测夹具 | |
| KR100444251B1 (ko) | 오토 프로브 유닛용 패널 캐리어의 액정패널 자동파지장치 | |
| CN1987436B (zh) | 基板检测设备及玻璃基板检测设备 | |
| KR20110094805A (ko) | 기판 감지장치가 구비된 카세트 | |
| CN212904177U (zh) | 用于显示屏幕的划痕测试装置 | |
| CN205067386U (zh) | 玻璃表面缺陷自动检测装置 | |
| CN219532964U (zh) | 一种玻璃基板破片检测装置 | |
| CN216655408U (zh) | 一种检测装置 | |
| CN214309404U (zh) | 一种lcm模组检测机构 | |
| KR20080058914A (ko) | 기판이송용 컨베이어장치 | |
| CN206990964U (zh) | 一种用于lcm的检测支架及其应用 | |
| CN203386164U (zh) | 触控面板检测装置及触控面板检测系统 | |
| CN220584324U (zh) | 一种贴片电阻检测装置 |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| PB01 | Publication | ||
| PB01 | Publication | ||
| SE01 | Entry into force of request for substantive examination | ||
| SE01 | Entry into force of request for substantive examination | ||
| GR01 | Patent grant | ||
| GR01 | Patent grant |