CN107479226A - 便携式缺陷检测仪 - Google Patents

Abstract

本发明涉及液晶显示器制程中玻璃基板的检测仪。包括基座、检测器、投光器、第一支架、第二支架和处理终端。通过在基座上设置可快速与机台连接或解脱的定位单元，使得该检测仪可以自由在机台上选择安装位置。而检测器和投光器配合使用，特别是投光器可以实现透光照射或反光照射，使得本发明检测仪的可检测范围扩大，能满足生产线上任意检测位置和环境的需要。本发明便携式缺陷检测仪，由于结构简单，定位方便，可以在机台上任意位置工作，实现了对产线中基板缺陷检测精确定位的功能。

Description

便携式缺陷检测仪

技术领域

本发明涉及液晶显示器制造领域，尤其涉及液晶显示器玻璃基板的质量检测。

背景技术

在液晶显示面板生产线中，玻璃基板破裂为最常见的问题点，也是产线生产中较为难处理难找出问题点的异常。对此，每道制程的机台上都配备了破片检测装置，以便于及时发现破损的基板，避免破的损玻璃进入下道机台或设备造成污染，同时也是厘清破片原因的重要工具，缩小破片发生的设备范围，便于精准找出破片源。

现设备常用破片检知装置主要有线性传感器和CCD镜头两种，应产线设计要求安装在需求设备的需求位置上，通常的，在每道制程机台的尾部会安排破片检知装置。线性传感器的原理是通过感知物体距离变化，对比基板不同位置的反馈信号来判定是否存在破片，当反馈信号超过设定的阈值时即判定有破片存在。线性传感器只能检知5×5mm以上的破片，精度较差；CCD镜头是配合光照使用的，利用光源照射在玻璃机板上，CCD镜头检测玻璃表面的光线灰阶反应，通过检测数据与基础数据的对比来判定是否存在缺陷。CCD镜头检知1×1mm的破片或裂纹，精度较高。

线性传感器和CCD镜头都属于固定单元检测，且由于成本原因，不能在机台的每道工序之后都设置该检测设备，因此很难判定缺陷是在本道机台的哪一个工序中出现的问题，只能划定范围而无法锁定发生源或更具体的发生点，后续步骤往往需要靠人力监视。另一方面，检测能力受成本限制较大。线性传感器检测能力较低，CCD镜头则价格偏高，因此生产线上更多设置线性传感器，只在个别位置使用CCD镜头，导致检测人员通常只能检出明显破片，对裂纹或微小缺角等缺陷容易出现漏检情况。

发明内容

本发明的目的在于提供一种可移动的检测单元，同时具备较高的检测精度，提供如下技术方案：

一种便携式缺陷检测仪，包括基座、检测器、投光器、第一支架、第二支架和处理终端；所述基座内含集线板，所述集线板与所述检测器、所述投光器及所述终端处理器电连接；所述基座包括定位单元，所述定位单元用于与机台连接，并在需要移动更换检测位置时解脱与机台的连接；所述第一支架固定连接所述基座和所述检测器，所述第二支架固定连接所述基座和所述投光器；所述检测器位于被测基板的上方，用于检测基板的缺陷，并将检测数据传输给所述处理终端；所述投光器位于所述被测基板的下方或上方，用于提供所述检测器检测时需要的光源；所述第二支架与所述基座有两种固定连接方式，一种固定连接方式连接时所述投光器位于所述被测基板上方，另一种固定连接方式连接时所述投光器位于所述被测基板的下方。

其中，所述第一支架和所述第二支架均为中空结构，所述集线板与所述检测器连接的线缆设置在所述第一支架内部，所述集线板与所述投光器连接的线缆设置在所述第二支架内部。

其中，所述第一支架包括角度调节机构和伸缩机构，所述角度调节机构和所述伸缩机构共同作用，以调节所述检测器与所述被测基板上的距离和角度。

其中，所述第二支架包括角度调节机构和伸缩机构，所述角度调节机构和所述伸缩机构共同作用，以调节所述投光器在所述被测基板上的距离和角度。

其中，所述投光器含有两级或两级以上的亮度等级，用于操作者在检测时根据使用需要进行选择。

其中，所述第一支架与所述第二支架间设有连接杆，所述连接杆用于加固所述检测器和所述投光器之间的相对距离。

其中，本检测仪还设有第三支架，所述第三支架固定连接所述基座和第二投光器，所述投光器和所述第二投光器分列所述被测基板的上下两侧。

其中，所述第三支架与所述第二支架之间设第二连接杆，所述第二连接杆用于加固所述检测器和所述第二投光器之间的相对距离。

其中，所述第一支架与所述第二支架与所述基座的固定连接设于所述基座的同一平面上。

其中，所述定位单元设置在所述基座与所述第一支架固定连接面相背离的平面上，和/或设置在所述基座与所述第一支架固定连接面相邻的平面上。

本发明便携式缺陷检测仪，通过在基座上设置可快速与机台连接或解脱的定位单元，使得该检测仪可以自由在机台上切换安装位置。检测器和投光器配合使用，特别是投光器可以实现透光照射或反光照射，使得本发明检测仪的可检测范围扩大，能满足生产线上任意检测位置和环境对玻璃基板的检测需要。本发明便携式缺陷检测仪，具有结构简单，定位方便等特点，可以在单道机台上任意位置工作，检测人员通过对产线中分段检测，可以实现基板缺陷的精确定位功能。

附图说明

图1是本发明便携式缺陷检测仪的示意图。

具体实施方式

下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本发明的一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动的前提下所获得的所有其它实施例，都属于本发明保护的范围。

请参阅图1的便携式缺陷检测仪，包括基座1、检测器2、投光器3、第一支架4、第二支架5和处理终端03，所述基座1内设置了集线板11，所述集线板11分别与所述检测器2、所述投光器3及所述终端处理器6电连接，分别实现各组件的供电功能以及通信和控制功能。所述基座1还设有定位单元12，所述定位单元12用于所述基座1与机台01的快速连接，同时可以实现快速解脱功能，使得本发明检测仪在需要移动并更换检测位置时可以快速在机台01上可靠定位或解除连接。所述第一支架4固定连接所述基座1和所述检测器2，所述第二支架5固定连接所述基座1和所述投光器3，在所述基座1固定在所述机台01上时，保证所述检测器2和所述投光器3的空间位置或相对位置也能被固定。所述检测器2的空间位置保持在被测基板02的上方，用于检测基板的缺陷情况，并将检测到的破片、裂纹等检测数据传输给所述处理终端03。所述投光器3的空间位置在所述被测基板02的下方或上方，用于为所述检测器2提供检测时所需要的光源。所述第二支架5与所述基座1有两种固定方式，所述两种固定方式分别实现所述投光器3位于所述被测基板02的下方或上方两种空间位置。当所述检测器2需要透射光照射并进行检测时，所述第二支架按照第一种固定连接方式安装，使得投光器3在所述被测基板02的下方；当所述检测器2需要反射光照射并进行检测时，所述第二支架调转180度，按照另一种固定连接方式安装，使得投光器3在所述被测基板02的上方。

在使用本发明检测仪进行检测时，先确定所述被测基板02需要的是反射光还是透射光，对应的调整好所述第二支架5的安装位置，然后在所述机台01上摆好所述检测器2的位置和角度，通过所述定位单元12将所述基座1固定在所述机台01上。此时本发明检测仪随机台固定，所述被测基板02在机台传送系统的驱动下移动通过本发明检测仪，所述检测器2对通过的所述被测基板02进行检测，并将所得的检测数据传输到所述处理终端03，检测人员最后通过所述处理终端03获取所述被测基板02的检测数据。

一些实施例中，所述第一支架4和所述第二支架5均设置为中空结构，以便于将所述检测器2和所述投光器3的走线藏在所述第一支架4和所述第二支架5的内部，不因线路的外露而造成不必要的牵扯或剐蹭，所述集线板11与所述检测器2连接的线缆设置在所述第一支架内4部，所述集线板11与所述投光器3连接的线缆设置在所述第二支架内5部。

所述检测器2可以为CCD镜头，相对来说CCD检测的精度较高，且造价相对于激光检测器、振动波检测器来说更低，结构更简单。在一些特殊场景下，也可以使用激光或者振动波检测器，更或者在检测精度要求不高的情况下所述检测器2还以使用线性传感器来进行检测。

所述投光器3可以选择通用的LED灯，造价便宜也易于更换。一些实施例中，所述投光器3还含有两级或两级以上的亮度等级，用于操作者在针对不同的检测对象或不同的光照环境下选择最合适的亮度等级来进行检测。显而易见的所述投光器3也可以采用无级调节亮度的模式设置。

所述第一支架4包括角度调节机构6和伸缩机构7，在这类实施例中所述第一支架4不为刚性的整体结构，而属于分段设置。所述角度调节机构6分别连接所述第一支架4分开的两段支架，其中一段支架可以在所述角度调节机构6中做一个自由度的旋转运动，或两段支架都可以在所述角度调节机构6中做一个自由度的旋转，从而调节所述检测器2相对于所述被测基板02的空间角度；所述伸缩机构7也需要连接所述第一支架4分开的两段支架，其中一段支架可以在所述伸缩机构7中做一个自由度的伸缩动作，或两段都可以在所述伸缩机构7中做伸缩动作，从而调节所述检测器2相对于所述被测基板02的空间距离。

当然，所述角度调节机构6和所述伸缩机构7可以设计在同一个零件上，可以节省所述第一支架4的空间，简化结构。需要注意的是，所述角度调节机构6和所述伸缩机构7在调整完成后都有锁紧装置，用来固定其调整后的旋转或/和伸缩状态，从而固定所述检测器2相对于所述被测基板02的空间角度和/或距离。

如果一个旋转自由度或方向自由度无法满足检测对象的需要，还可以在所述第一支架4上设置多个所述角度调节机构6和所述伸缩机构7，此处不对数量做多余限制。一些实施例中，所述第一支架4采用当前较为常见的万向悬臂支架来实施；另一些实施例中，所述第一支架4也可以采用俗称的“蛇形管”来实施。

相应的，所述第二支架5也包括所述角度调节机构6和所述伸缩机构7，所述角度调节机构6和所述伸缩机构7用于调节所述投光器3在所述被测基板1上的距离和角度。此时所述第二支架5不需要正反两面安装方式也可以实现相对于所述被测基板02上侧和下侧之间的转换。

显而易见的，所述第一支架4和所述第二支架5可以一者固定，另一者为活动可调的结构，与固定的一端做相对的角度或距离调节，也可以两者都为活动支架，此时的调节幅度更大。

由于所述第一支架4与所述第二支架5均为悬臂梁结构，为了增强所述第一支架4和所述第二支架5的刚度，避免所述机台01因为设备运转而带来的振动影响，在所述第一支架4和所述第二支架5之间设置连接杆8，所述连接杆8架设在所述第一支架4和所述第二支架5之间，用于加固所述第一支架4和所述第二支架5，也可以保证在检测过程中所述检测器2和所述投光器3之间的相对距离。当所述第一支架4和所述第二支架5设置了所述角度调节机构6和所述伸缩机构7时，所述连接杆8与所述第一支架4和所述第二支架5的连接应该为活动连接，可以在所述第一支架4和所述第二支架5之间伸缩和/或滑动，从而避免所述连接杆8与所述被测基板02发生碰撞或摩擦。

一些实施例中，本发明检测仪还设有第三支架9，所述第三支架9固定连接所述基座1和所述第二投光器31，所述投光器3和所述第二投光器31分列所述被测基板的上下两侧，所述第三支架9也同所述第一支架4和所述第二支架5一样具备所述角度调节机构6和所述伸缩机构7的特性，所述第二投光器31也可以与所述投光器3一样设置亮度调节，甚至所述第三支架9与所述第一支架4和所述第二支架5之间分别设置所述连接杆8，这样的设置使得在一些特殊的检测过程中，若所述被测基板02既具有反光投射检测项目，又具有透光投射检测项目，本发明检测仪可以不用反复调整切换所述第二支架5的姿态，只需一次装夹即可完成。

所述第一支架4与所述第二支架5与所述基座1的固定连接设于所述基座1的同一平面上，因为所述第一支架4和所述第二支架5是悬臂梁结构，如果从不同的平面甚至相背离的两个平面上伸出的话，对于所述基座1的安装位置选择会带来更多的限制，而设置在同一平面上只需要避开这一平面即可，可以带来更多的安装方式选择。

一些实施例中，所述定位单元12为吸盘结构，另一些实施例中可以采用磁吸基座的结构。所述磁吸基座结构采用一个与外部旋钮连接的永磁体，通过对外部旋钮的转动可以调节该永磁体与外界面的距离，通常转动90度的范围内所述永磁体与外界的距离从最大变为最小，或从最小变为最大，这种磁吸基座结构在工程领域有非常普遍的应用，属于公知领域范畴，本案不作具体阐述。

对于所述定位单元12的设置位置，优选的可以设置在所述基座与所述第一支架4固定面相背离的平面上，这样的安装方式应用最广。但在一些特定检测位置，可能该背离面没有合适的安装位置，则可以选择将所述定位单元12安装在所述基座的底面或者与所述第一支架4固定面相邻的侧面上。优选的，也可以选择在上述几个面上都设置所述定位单元，供检测人员根据实际情况自由选择安装面。

当同一个所述基座1上设有多个所述定位单元12时，所述定位单元12的形式选择不一定必须统一，可以根据需要在不同的安装位置设置不同的定位单元12实施形式。另外，当同一个所述基座1上设有两个或两个以上的磁吸基座结构时，需要注意错开各个磁吸基座之间的距离，避免内部磁场过于混乱而造成吸附不牢固的隐患。

当本检测仪设置了所述第三支架9的时候，所述第三支架9也需要跟所述第一支架4和所述第二支架5一起设置在同一平面上。

本发明缺陷检测仪，通过对所述基座增设所述定位单元，且所述定位单元可以快速定位或解脱所述基座相对于所述机台的固定连接，使得本发明缺陷检测仪具备了良好的移动性能，可以在机台的任意位置上定位并进行检测工作。对于因为机台过长，机台内工序过多而难于定位的缺陷发生地问题，可以得到很好的解决效果。同时，根据所述检测器和所述投光器的工作特点及检测环境需要，对所述第一支架、所述第二支架甚至第三支架的结构和固定方式都做了细化的设置，使得本发明缺陷检测仪的实用性更高，检测效率得以提升。

以上所述的实施方式，并不构成对该技术方案保护范围的限定。任何在上述实施方式的精神和原则之内所作的修改、等同替换和改进等，均应包含在该技术方案的保护范围之内。

Claims (10)

1.一种便携式缺陷检测仪，其特征在于：

包括基座、检测器、投光器、第一支架、第二支架和处理终端；

所述基座内含集线板，所述集线板与所述检测器、所述投光器及所述终端处理器电连接；

所述基座包括定位单元，所述定位单元用于与机台连接，并在需要移动更换检测位置时解脱与机台的连接；

所述第一支架固定连接所述基座和所述检测器，所述第二支架固定连接所述基座和所述投光器；

所述检测器位于被测基板的上方，用于检测基板的缺陷，并将检测数据传输给所述处理终端；

所述投光器位于所述被测基板的下方或上方，用于提供所述检测器检测时需要的光源。

2.如权利要求1所述便携式缺陷检测仪，其特征在于，所述第一支架和所述第二支架均为中空结构，所述集线板与所述检测器连接的线缆设置在所述第一支架内部，所述集线板与所述投光器连接的线缆设置在所述第二支架内部。

3.如权利要求1所述便携式缺陷检测仪，其特征在于，所述第一支架包括角度调节机构和伸缩机构，所述角度调节机构和所述伸缩机构共同作用，以调节所述检测器与所述被测基板上的距离和角度。

4.如权利要求1所述便携式缺陷检测仪，其特征在于，所述第二支架包括角度调节机构和伸缩机构，所述角度调节机构和所述伸缩机构共同作用，以调节所述投光器在所述被测基板上的距离和角度。

5.如权利要求1所述便携式缺陷检测仪，其特征在于，所述投光器含有两级或两级以上的亮度等级，用于操作者在检测时根据使用需要进行选择。

6.如权利要求1所述便携式缺陷检测仪，其特征在于，所述第一支架与所述第二支架间设有连接杆，所述连接杆用于确定所述检测器和所述投光器之间的相对距离。

7.如权利要求1所述便携式缺陷检测仪，其特征在于，本检测仪还设有第三支架，所述第三支架固定连接所述基座和第二投光器，所述投光器和所述第二投光器分别位于所述被测基板的上下两侧。

8.如权利要求7所述便携式缺陷检测仪，其特征在于，所述第三支架与所述第二支架之间设第二连接杆，所述第二连接杆用于确定所述检测器和所述第二投光器之间的相对距离。

9.如权利要求1所述便携式缺陷检测仪，其特征在于，所述第一支架与所述第二支架与所述基座的固定连接设于所述基座的同一平面上。

10.如权利要求9所述便携式缺陷检测仪，其特征在于，所述定位单元设置在所述基座与所述第一支架固定连接面相背离的平面上，和/或设置在所述基座与所述第一支架固定连接面相邻的平面上。