CN114167258A - 一种ate测试系统的数据存储和读取装置及方法 - Google Patents

Abstract

本发明公开了一种ATE测试系统的数据存储和读取方法，包括如下步骤：S01：将每个存储单元中对应同一个被测工件的存储通道连续排列；S02：针对每个被测工件，遍历存储单元获取对应的存储单元编号和存储通道序号；S03：采用ATE测试平台对被测工件进行测试；测试过程中，每个存储通道对应一个测试通道，用于存储该测试通道的测试数据。S04：针对每个被测工件，按照步骤S02中获取的存储单元编号和存储通道序号进行测试数据读取。本发明能够显著提高被测工件的测试数据读取速率。

Description

一种ATE测试系统的数据存储和读取装置及方法

技术领域

本发明属于ATE测试领域，具体属于一种ATE测试系统的数据存储和读取装置及方法。

背景技术

对于ATE测试机的AFM(测试)数据，由于用户可能配置的管脚组合(PinList)不规律，分布在不同的VP(测试单元)上，以及被测工件(DUT)配置的存储通道不连续，DUT之间的通道顺序相互交叉，导致某个DUT的AFM数据存储在各自VP挂载的DDR空间中，且每个通道的数据顺序是不规律的，各个DUT的AFM数据相互交叉。因此，在读取特定DUT的AFM数据时，需要读取不同VP上的特定位置的若干bit数据，再将其拼接成一个完整的数据。例如，读取某DUT的某PinList的AFM数据，PinList对应的通道组合中，每个通道的数据都需先确定在哪个VP的DDR空间、在DDR空间的哪几个bit，取出这几个bit数据，再将取出的数据一步步拼接在一起。以上步骤需要反复访问DDR空间、截取特定bit位数据，再拼接数据。

若用户配置的管脚组合(PinList)比较规律，比如某个DUT配置的通道都连续在同一VP上，或者配置的通道顺序有若干段是连续在某个VP上。那么，有若干AFM数据在DDR空间中也是连续存储的。在这种比较规律的情况下，应该存在一种更高效的技术方案，可以减少访问DDR空间、截取特定bit位数据、再拼接数据的次数。

发明内容

为了解决上述技术问题，本发明提供了一种ATE测试系统的数据存储和读取装置及方法，能够显著提高被测工件的测试数据读取速率。

为了实现上述目的，本发明提供了如下技术方案：一种ATE测试系统的数据存储和读取方法，包括如下步骤：

S01：将每个存储单元中对应同一个被测工件的存储通道连续排列；

S02：针对每个被测工件，遍历存储单元获取对应的存储单元编号和存储通道序号；

S03：采用ATE测试平台对被测工件进行测试；测试过程中，每个存储通道对应一个测试通道，用于存储该测试通道的测试数据。

S04：针对每个被测工件，按照步骤S02中获取的存储单元编号和存储通道序号进行测试数据读取。

进一步地，步骤S01中通过配置被测工件与ATE测试平台之间的管脚组合，将每个存储单元中对应同一个被测工件的存储通道连续排列。

进一步地，步骤S02中遍历存储单元获取对应的存储单元编号、该存储单元中对应被测工件的起始存储通道序号，以及对应被测工件的存储通道个数。

进一步地，步骤S02具体包括：

S021：记录第1个存储通道对应的存储单元编号和存储通道序号；连续数量记为1；

S022：记录下一个存储通道对应的存储单元编号和存储通道序号；若存储单元编号与上一个相同，则连续数量加1；若存储单元编号不相同，则连续数量记为1；

S023：重复步骤S022；根据遍历结果得出被测工件对应的存储单元编号、该存储单元中起始存储通道序号以及连续数量。

进一步地，所述步骤S04中按照步骤S02中获取的存储单元编号、该存储单元中对应被测工件的起始存储通道序号，以及对应被测工件的存储通道个数对各个存储单元进行访问，读出其中存储的测试数据。

进一步地，所述步骤S04中获取的测试数据拼接形成完整的测试数据。

一种ATE测试系统的数据存储和读取装置，包括ATE测试平台，所述测试平台中包括若干个测试单元，，每个测试单元对应一个存储单元，每个存储单元包括若干个存储通道，每个存储通道对应一个测试通道，所述存储单元中对应同一个被测工件的存储单元排序在一起；

针对每个被测工件，遍历存储单元获取对应的存储单元编号和存储通道序号，并据此进行测试数据读取。

本发明具有如下有益效果：本发明通过配置被测工件与ATE测试平台之间的管脚组合，将每个存储单元中对应同一个被测工件的存储通道连续排列，再遍历存储单元获取对应的存储单元编号、该存储单元中对应被测工件的起始存储通道序号，以及对应被测工件的存储通道个数，并据此进行被测工件的数据读取，通过这种方法可以实现高效的测试数据存储和读取。

附图说明

附图1为本发明ATE测试系统的数据存储和读取方法的流程图。

具体实施方式

为了对本发明的技术特征、目的和效果有更加清楚的理解，现对照附图详细说明本发明的具体实施方式。以下描述中，需要理解的是，“前”、“后”、“上”、“下”、“左”、“右”、“纵”、“横”、“竖直”、“水平”、“顶”、“底”、“内”、“外”、“头”、“尾”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系、以特定的方位构造和操作，仅是为了便于描述本技术方案，而不是指示所指的装置或元件必须具有特定的方位，因此不能理解为对本发明的限制。

还需要说明的是，除非另有明确的规定和限定，“安装”、“相连”、“连接”、“固定”、“设置”等术语应做广义理解，例如，可以是固定连接，也可以是可拆卸连接，或成一体；可以是机械连接，也可以是电连接；可以是直接相连，也可以通过中间媒介间接相连，可以是两个元件内部的连通或两个元件的相互作用关系。当一个元件被称为在另一元件“上”或“下”时，该元件能够“直接地”或“间接地”位于另一元件之上，或者也可能存在一个或更多个居间元件。术语“第一”、“第二”、“第三”等仅是为了便于描述本技术方案，而不能理解为指示或暗示相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量，由此，限定有“第一”、“第二”、“第三”等的特征可以明示或者隐含地包括一个或者更多个该特征。对于本领域的普通技术人员而言，可以根据具体情况理解上述术语在本发明中的具体含义。

以下描述中，为了说明而不是为了限定，提出了诸如特定系统结构、技术之类的具体细节，以便透彻理解本发明实施例。然而，本领域的技术人员应当清楚，在没有这些具体细节的其它实施例中也可以实现本发明。在其它情况中，省略对众所周知的系统、装置、电路以及方法的详细说明，以免不必要的细节妨碍本发明的描述。

如附图1所示，一种ATE测试系统的数据存储和读取方法，包括如下步骤：

S01：通过配置被测工件与ATE测试平台之间的管脚组合，将每个存储单元中对应同一个被测工件的存储通道连续排列。

ATE测试平台上包括多个测试板卡，用于对被测工件的测试。与测试板卡相对应的，需要设置存储单元进行测试数据的存储。通常测试板卡可划分为若干连续的独立测试单元(VP)，每个测试单元都有一个对应的存储单元用于保存测试数据，在存储单元中包含多个存储通道，存储通道与测试单元中的测试通道一一对应，用于存储测试通道的测试数据。

当针对一个被测工件进行测试的时候，通过连接测试板卡中管脚和被测工件的管脚，可以将一个存储单元中对应同一个被测工件的存储通道排序在一起。

S02：针对每个被测工件，遍历存储单元获取对应的存储单元编号、该存储单元中对应被测工件的起始存储通道序号，以及对应被测工件的存储通道个数。注意：虽然测试板卡被划分为多个测试单元，但多个测试单元及其对应的存储单元按照顺序排列，其内部的存储通道也是按照一定的顺序排列在一起的；例如：存储单元按照第一存储单元、第二存储单元……第m存储单元的顺序排序，每个存储单元中按照第一存储通道、第二存储通道……第n存储通道的顺序排序；当然，每个存储单元中存储通道的个数不一定相当，但排序方式相同。将测试数据按照存储通道、存储单元的概念进行划分，只是为了方便测试数据的管理和读取；存储通道按照存储单元的编号顺序排列在一起，形成完整的存储模块，完整的存储模块具体可以位于测试板卡挂接的DDR中。其中，m和n均为大于1的整数。

本步骤发生可以发生被测工件被测试之前，也可以发生在被测工件被测试之后，且测试数据被读取之前。具体包括：

S021：记录第1个存储通道对应的存储单元编号和存储通道序号；连续数量记为1；

S022：记录下一个存储通道对应的存储单元编号和存储通道序号；若存储单元编号与上一个相同，则连续数量加1；若存储单元编号不相同，则连续数量记为1。由于存储单元是按照测试板卡中区域划分之后有序排列的，当存储单元编号不相同的时候，说明已经进入至下一个存储单元中进行遍历了，上一次记录的连续数量记为上一个存储单元中用于存储被测工件的测试通道个数。

S023：重复步骤S022；根据遍历结果得出被测工件对应的存储单元编号、该存储单元中起始存储通道序号以及连续数量。

值得说明的是：本步骤中遍历的对象是经过步骤S01筛选之后的存储通道，即针对被测工件的存储通道；其余的存储通道不需要进行遍历。因此步骤S021-S023记录的对象均是用于存储特定被测工件的测试数据的测试通道。

S03：采用ATE测试平台对被测工件进行测试；测试过程中，每个存储通道对应一个测试通道，用于存储该测试通道的测试数据。

如上所述，步骤S02和步骤S03的顺序可以进行互换，互换之后并不影响本发明方法的实施。

S04：针对每个被测工件，按照步骤S02中获取的存储单元编号、该存储单元中对应被测工件的起始存储通道序号，以及对应被测工件的存储通道个数对各个存储单元进行访问，读出其中存储的测试数据。获取的测试数据拼接形成完整的测试数据。

存储单元编号用于指示在哪个存储单元读取数据，存储通道序号用于指示在该单元的哪个位置开始读取，存储单元中存储通道的个数用于指示在该存储单元该位置读取多少bit数据；三者缺一不可。

本申请提供的一种ATE测试系统的数据存储和读取装置，包括ATE测试平台，测试平台中包括若干个测试单元和对应的存储单元，每个存储单元包括若干个存储通道，每个存储通道对应测试单元中的一个测试通道，存储单元中对应同一个被测工件的存储通道排序在一起。存储通道按照存储单元的编号顺序排列在一起，形成完整的存储模块，完整的存储模块具体可以位于测试板卡挂接的DDR中。

针对每个被测工件，遍历存储单元获取对应的存储单元编号、该存储单元中对应被测工件的起始存储通道序号，以及对应被测工件的存储通道个数；并在测试完成之后据此进行测试数据读取。

本发明通过配置被测工件与ATE测试平台之间的管脚组合，将每个存储单元中对应同一个被测工件的存储通道连续排列，再遍历存储单元获取对应的存储单元编号、该存储单元中对应被测工件的起始存储通道序号，以及对应被测工件的存储通道个数，并据此进行被测工件的数据读取，通过这种方法可以实现高效的测试数据存储和读取。

可以理解的，以上实施例仅表达了本发明的优选实施方式，其描述较为具体和详细，但并不能因此而理解为对本发明专利范围的限制；应当指出的是，对于本领域的普通技术人员来说，在不脱离本发明构思的前提下，可以对上述技术特点进行自由组合，还可以做出若干变形和改进，这些都属于本发明的保护范围；因此，凡跟本发明权利要求范围所做的等同变换与修饰，均应属于本发明权利要求的涵盖范围。

Claims (7)

1.一种ATE测试系统的数据存储和读取方法，其特征在于，包括如下步骤：

S01：将每个存储单元中对应同一个被测工件的存储通道连续排列；

S02：针对每个被测工件，遍历存储单元获取对应的存储单元编号和存储通道序号；

S03：采用ATE测试平台对被测工件进行测试；测试过程中，每个存储通道对应一个测试通道，用于存储该测试通道的测试数据。

S04：针对每个被测工件，按照步骤S02中获取的存储单元编号和存储通道序号进行测试数据读取。

2.根据权利要求1所述的一种ATE测试系统的数据存储和读取方法，其特征在于，步骤S01中通过配置被测工件与ATE测试平台之间的管脚组合，将每个存储单元中对应同一个被测工件的存储通道连续排列。

3.根据权利要求1所述的一种ATE测试系统的数据存储和读取方法，其特征在于，步骤S02中遍历存储单元获取对应的存储单元编号、该存储单元中对应被测工件的起始存储通道序号，以及对应被测工件的存储通道个数。

4.根据权利要求3所述的一种ATE测试系统的数据存储和读取方法，其特征在于，步骤S02具体包括：

S021：记录第1个存储通道对应的存储单元编号和存储通道序号；连续数量记为1；

S022：记录下一个存储通道对应的存储单元编号和存储通道序号；若存储单元编号与上一个相同，则连续数量加1；若存储单元编号不相同，则连续数量记为1；

S023：重复步骤S022；根据遍历结果得出被测工件对应的存储单元编号、该存储单元中起始存储通道序号以及连续数量。

5.根据权利要求3所述的一种ATE测试系统的数据存储和读取方法，其特征在于，所述步骤S04中按照步骤S02中获取的存储单元编号、该存储单元中对应被测工件的起始存储通道序号，以及对应被测工件的存储通道个数对各个存储单元进行访问，读出其中存储的测试数据。

6.根据权利要求1所述的一种ATE测试系统的数据存储和读取方法，其特征在于，所述步骤S04中获取的测试数据拼接形成完整的测试数据。

7.一种ATE测试系统的数据存储和读取装置，其特征在于，包括ATE测试平台，所述测试平台中包括若干个测试单元，每个测试单元对应一个存储单元，每个存储单元包括若干个存储通道，每个存储通道对应一个测试通道，所述存储单元中对应同一个被测工件的存储单元排序在一起；

针对每个被测工件，遍历存储单元获取对应的存储单元编号和存储通道序号，并据此进行测试数据读取。

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