CN114144668A - 异天冬氨酸的分析方法和质谱分析装置 - Google Patents

异天冬氨酸的分析方法和质谱分析装置 Download PDF

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Abstract

在通过使源自试样成分的前体离子解离而生成产物离子并进行分析来分析异天冬氨酸的方法中,具有如下工序:通过对前述前体离子照射氢自由基或具有氧化能力的自由基,使该前体离子解离而生成产物离子,将前述产物离子根据质荷比进行分离并检测,基于前述产物离子的质荷比来确定源自异天冬氨酸的产物离子。

Description

异天冬氨酸的分析方法和质谱分析装置
技术领域
本发明涉及异天冬氨酸的分析方法和实施该分析方法的质谱分析装置。
背景技术
有报告称:作为构成蛋白质的氨基酸之一的天冬氨酸随着时间的推移而异构化并转变为异天冬氨酸,成为发生白内障的主要原因(例如非专利文献1)。因此,对生物体代谢物中包含的肽所含的异天冬氨酸进行分析,并根据其结果来推断体内蓄积有何种程度的异天冬氨酸对于掌握白内障的发生风险或研究用于预防白内障的对策而言有可能是有效的。
为了鉴定蛋白质等高分子化合物,广泛利用如下的质谱分析法:使源自高分子化合物的离子(前体离子)解离1次或多次而生成产物离子(也被称为碎片离子),将其根据质荷比进行分离并检测。作为在质谱分析中使离子解离的代表性方法,已知使氮气等非活性气体的分子撞击于离子的碰撞诱导解离(CID:Collision-Induced Dissociation)法。但是,在CID法中,通过源自包含异天冬氨酸残基的肽的前体离子的解离而生成的产物离子与通过源自包含其异构体、即天冬氨酸残基的肽的前体离子的解离而生成的产物离子不产生差异。因此,即便通过CID法使离子解离,也无法识别异天冬氨酸和天冬氨酸。
非专利文献1中记载了:若使负离子撞击于源自包含异天冬氨酸残基的肽的正的前体离子而发生电子转移解离(ETD:Electron Transfer Dissociation),则生成名为c+57离子、z-57离子的表征异天冬氨酸的产物离子。c+57离子是指:与因天冬氨酸所具有的肽主链的N-Cα键断裂而生成的N末端侧的离子(c离子)相比质量大57Da的离子。此外,z-57离子是指:与因上述N-Cα键断裂而生成的C末端侧的离子(z离子)相比质量小57Da的离子。需要说明的是,以包含天冬氨酸残基的肽的c离子、z离子作为基准来表达由源自包含异天冬氨酸残基的肽的前体离子生成的产物离子是因为:异天冬氨酸残基与天冬氨酸残基的肽主链的键不同,c离子、z离子的定义不明确。
现有技术文献
专利文献
专利文献1:国际公开第2015/133259号
非专利文献
非专利文献1:高田匠,“晶状体构成蛋白中的氨基酸的自发化学修饰所引起的白内障发病机理的相关研究(日文:水晶体構成蛋白質中におけるアミノ酸の自発的化学修飾が引き起こす白内障発症機構に関する研究)”,日本白内障学会会志,30,pp.7-12,2018
非专利文献2:Kempkes,L.J.,Martens,J.,Grzetic,J.,Berden,G.,&Oomens,J.,"Deamidation Reactions of Asparagine-and Glutamine-Containing DipeptidesInvestigated by Ion Spectroscopy",Journal of the American Society for MassSpectrometry,27(11),pp.1855-1869,2016
非专利文献3:岛袋、粕谷、和田、“使用了微波电容耦合等离子体的小型原子源的开发(日文:マイクロ波容量結合プラズマを用いた小型原子源の開発)”、第77次应用物理学会学术演讲会演讲予稿集、2016年9月、社团法人应用物理学会
非专利文献4:Yuji Shimabukuro,Hidenori Takahashi,Shinichi Iwamoto,Koichi Tanaka,Motoi Wada,"Tandem Mass Spectrometry of Peptide Ions byMicrowave Excited Hydrogen and Water Plasmas",Anal.Chem.2018,90(12)pp7239-7245
发明内容
发明要解决的问题
在ETD法中,由于使负离子撞击于正的前体离子来生成产物离子,因此,仅能够使2价以上的前体离子发生解离。此外,在蛋白质、肽的电离中使用的基质辅助激光解吸电离(MALDI:Matrix-Assisted Laser Desorption/Ionization)法等软电离法中生成的离子几乎都是1价离子。因此,在MALDI法等与ETD法的组合中,前体离子的解离效率差,无法以充分的强度检出表征异天冬氨酸的上述离子,因此,存在难以识别异天冬氨酸和天冬氨酸的问题。
本发明要解决的问题在于,提供能够容易地识别试样中包含的异天冬氨酸和天冬氨酸的技术。
用于解决问题的方案
为了解决上述问题而进行的本发明的一个方式是通过使源自肽成分的前体离子解离而生成产物离子并进行分析来分析异天冬氨酸的方法,其具有如下工序:
通过对前述前体离子照射氢自由基或具有氧化能力的自由基,使该前体离子解离而生成产物离子,
将前述产物离子根据质荷比进行分离并检测,
基于前述产物离子的质荷比来确定源自异天冬氨酸的产物离子。
此外,为了解决上述问题而进行的本发明的其它方式是通过由源自试样成分的前体离子生成产物离子并进行分析来分析异天冬氨酸的质谱分析装置,其具备:
反应室,其用于导入前述前体离子;
自由基生成部,其用于生成氢自由基或具有氧化能力的自由基;
自由基照射部,其用于对前述反应室的内部照射在前述自由基生成部生成的自由基;
分离检测部,其用于将通过与前述自由基的反应而使前述前体离子解离并生成的产物离子根据质荷比进行分离并检测;以及
产物离子确定部,其用于根据前述产物离子的质荷比来确定源自异天冬氨酸的产物离子。
发明的效果
本发明所述的异天冬氨酸的分析方法和质谱分析装置中,对源自试样成分的前体离子照射氢自由基或具有氧化能力的自由基,生成产物离子。具有氧化能力的自由基是指例如氧自由基、羟基自由基。对前体离子照射这些自由基的离子解离方法是本发明人在专利文献1中提出的氢附着解离(HAD:Hydrogen-Attachment Dissociation)法和氧附着解离(OAD:Oxygen-Attachment Dissociation)法。
本发明人发现:若利用HAD法而使源自异天冬氨酸的前体离子发生解离,则与ETD法同样地生成表征异天冬氨酸(不会由天冬氨酸生成)的c+57离子、z-57离子。此外发现:若利用OAD法而使源自异天冬氨酸的前体离子发生解离,则生成a+16离子和/或x离子。a+16离子是指与因天冬氨酸所具有的肽主链的Cα-C键断裂而生成的N末端侧的离子(a离子)相比质量大16Da的离子。由异天冬氨酸残基生成的a+16离子和x离子均具有与源自天冬氨酸残基的离子不同的质量,因此,能够利用本发明来识别这些残基。
换言之,发现:将通过使源自试样成分的前体离子解离而生成的产物离子根据质荷比进行分离并检测,从其中确定c+57离子、z-57离子、a+16离子或x离子,由此能够识别异天冬氨酸和天冬氨酸并进行分析。HAD法、OAD法是通过自由基加成而使前体离子解离的方法,无论离子的极性、价数如何均可使用。因此,能够使源自试样成分的前体离子高效地解离,容易地识别异天冬氨酸和作为其异构体的天冬氨酸。
附图说明
图1是本发明所述的质谱分析装置的一个实施例的主要部位构成图。
图2是本实施例的质谱分析装置中的自由基照射部的构成示意图。
图3是通过CID法使异天冬氨酸和天冬氨酸解离而生成的产物离子的质谱。
图4是说明天冬氨酸和异天冬氨酸的分子结构和解离位置的图。
图5是说明与异天冬氨酸的解离有关的量子化学计算结果的图。
图6是通过HAD法使具有异天冬氨酸残基和天冬氨酸残基的肽解离而生成的产物离子的质谱。
图7是通过HAD法使具有异天冬氨酸残基和天冬氨酸残基的其它肽解离而生成的产物离子的质谱。
具体实施方式
针对本发明所述的质谱分析装置的一个实施例,以下参照附图进行说明。本实施例的质谱分析装置为离子阱-飞行时间型(IT-TOF型)质谱分析装置。
图1中示出本实施例的离子阱-飞行时间型质谱分析装置(以下也简称为“质谱分析装置”)的示意性构成。本实施例的质谱分析装置在维持真空气氛且未图示的真空腔室的内部具备:离子源1,其用于使试样中的成分电离;离子阱2,其用于通过高频电场的作用捕捉由离子源1生成的离子;飞行时间型质量分离部3,其用于将由离子阱2射出的离子根据质荷比进行分离;以及,离子检测器4,其用于对分离的离子进行检测。本实施例的离子阱质谱分析装置进一步具备:自由基照射部5,其用于对被捕捉到离子阱2内的前体离子照射自由基以使被捕捉到该离子阱2内的离子解离;非活性气体供给部6,其用于向离子阱2内供给规定的非活性气体;阱电压发生部7;控制部8和数据处理部9。
本实施例的质谱分析装置的离子源1为MALDI离子源。MALDI离子源中,将容易吸收激光且容易电离的物质(基质物质)预先涂布于试样的表面。其后,使混有试样分子的基质物质发生微晶化,对其照射激光,从而将试样分子电离。离子阱2为包含圆环状的环电极21、以及夹着该环电极21相对配置的一对端盖电极(入口侧端盖电极22、出口侧端盖电极24)的三维离子阱。分别地,在环电极21形成有自由基粒子导入口26和自由基粒子排出口27,在入口侧端盖电极22形成有离子导入孔23,在出口侧端盖电极24形成有离子射出孔25。阱电压发生部7根据来自控制部8的指示,分别在规定的时机对环电极21、入口侧端盖电极22和出口侧端盖电极24施加高频电压和直流电压中的任一者或将它们合成而成的电压。
自由基照射部5包括:喷嘴54,其在内部形成有自由基生成室51;原料气体供给部(原料气体供给源)52,其用于向自由基生成室51导入原料气体;真空泵(真空排气部)57,其用于对自由基生成室51进行排气;电感耦合型的高频等离子体源53,其用于供给用于使自由基生成室51内产生真空放电的微波;分离器(skimmer)55,其在来自喷嘴54的喷出流的中心轴上具有开口,将扩散的原料气体分子等分离而取出细直径的自由基流;以及,阀56,其设置于从原料气体供给源52至自由基生成室51的流路。作为原料气体,可以使用例如氢气、氧气、水蒸气(水)、空气等。若使用氢气作为原料气体,则生成氢自由基,若使用氧气作为原料气体,则生成氧自由基。此外,若使用水蒸气作为原料气体,则生成羟基自由基、氧自由基和氢自由基,若使用空气作为原料气体,则主要生成氧自由基和氮自由基。
自由基照射部5可以使用例如非专利文献3中记载的自由基照射部。将其示意构成示于图2。该自由基照射部5大体上由原料气体供给源52、高频等离子体源53、喷嘴54和真空泵57构成。高频等离子体源53具备微波供给源531和三短截线调谐器532。喷嘴54具备构成外周部的接地电极541、位于其内侧的Pyrex(注册商标)玻璃制的炬542,该炬542的内部成为自由基生成室51。在自由基生成室51的内部,借助连接器544与高频等离子体源53连接的针电极543在自由基生成室51的长度方向上贯通。此外,设置有从原料气体供给源52向自由基生成室51供给原料气体的流路,在该流路上设置有用于调整原料气体流量的阀56。
非活性气体供给部6包括:贮留有作为缓冲气体、冷却气体等而使用的氦气、氩气等的气体供给源61;以及气体导入管63。气体导入管63设置有用于调整从气体供给源61向离子阱2供给的气体的流量的阀62。
接着,针对本实施例的质谱分析装置中的分析进行说明。在分析开始前,利用未图示的真空泵将收纳离子阱2等的真空腔室的内部排气至规定的真空度为止。此外,利用真空泵57将自由基生成室51的内部排气至规定的真空度为止。接着,从原料气体供给源52向自由基照射部5的自由基生成室51中供给原料气体,从高频等离子体源53供给微波,由此,在自由基生成室51的内部生成自由基。如后所述,在本实施例中,使用氢气、氧气、水蒸气等作为原料气体,生成氢自由基、或者氧自由基和/或羟基自由基。
在离子源1中由试样生成的各种离子(主要是1价离子)呈包(packet)状从离子源1射出,经由在入口侧端盖电极22中形成的离子导入孔23而被导入至离子阱2的内部。导入至离子阱2内的离子通过因由阱电压发生部7对环电极21施加的电压而在离子阱2内形成的高频电场而被捕捉。其后,由阱电压发生部7对环电极21等施加规定的电压,由此,将具有除了具有作为目标的特定质荷比的离子之外的质荷比的离子激发,并从离子阱2中排出。如此操作,仅在离子阱2内捕捉具有特定质荷比的前体离子。
接着,打开非活性气体供给部6的阀62,向离子阱2内导入氦气等非活性气体,将前体离子冷却。由此,前体离子被收敛在离子阱2的中心附近。其后,打开自由基照射部5的阀56,从喷嘴54中喷出包含在自由基生成室51内生成的自由基的气体。并且,利用分离器55将包含自由基的气体成形为细直径的束状,从穿设在环电极21中的自由基粒子导入口26向离子阱2内喷射,照射至被捕捉到离子阱2内的前体离子。
此时,以照射至前体离子的自由基量达到规定量以上的方式,预先调整阀56的开度、打开时间(即,对前体离子照射自由基的时间)。它们只要根据预备实验的结果等来事先决定即可。
若对离子阱2内的前体离子照射自由基,则前体离子发生孤对电子诱导型的解离,生成源自肽的产物离子。所生成的各种产物离子被捕捉到离子阱2内,被来自非活性气体供给部6的氦气等冷却。之后,在规定的时机由阱电压发生部7对入口侧端盖电极22和出口侧端盖电极24施加直流高电压,由此,被捕捉到离子阱2内的离子接受加速能量,通过离子射出孔25而一并射出。如上所述,此处生成的产物离子可以包括碎片离子和加合物离子这两者。
如此操作,具有一定加速能量的离子被导入至飞行时间型质量分离部3的飞行空间中,在飞行空间中飞行的期间内,根据质荷比而被分离。离子检测器4依次检测已分离的离子,接收该检测信号的数据处理部9制作例如以离子自离子阱2射出的时刻作为零点时刻的飞行时间谱。并且,通过使用预先求出的质量校正信息,将飞行时间换算成质荷比,从而制作产物离子谱。在数据处理部9中,如下说明那样,通过探查预先决定的种类的产物离子的质量峰,从而确定源自异天冬氨酸的产物离子,由此识别异天冬氨酸和天冬氨酸。即,本实施例的数据处理部9具有作为本发明所述的质谱分析装置的产物离子确定部的功能。
本实施例的质谱分析装置中,通过利用HAD法、OAD法而使前体离子解离,从而识别异天冬氨酸和天冬氨酸。以下,说明其详情。
首先,针对通过以往广泛使用的碰撞诱导解离(CID:Collision-InducedDissociation)法使包含异天冬氨酸残基的肽和包含天冬氨酸残基的肽发生解离而生成的产物离子的谱图进行说明。作为一例,图3中示出利用CID法使如下的前体离子发生解离而生成的产物离子的质谱(产物离子谱),所述前体离子源自将构成眼晶状体的蛋白质、即晶状体蛋白(包含天冬氨酸残基的蛋白)和晶状体蛋白变性物(包含由天冬氨酸异构化而得的异天冬氨酸残基的蛋白)分别用胰蛋白酶消化并片段化而得的肽。上部是源自包含异天冬氨酸残基的肽的产物离子的质谱,下部是源自包含天冬氨酸残基的肽的产物离子的质谱。
若对图3的上下的质谱加以对比则可知:两者的质量峰出现在同一位置。换言之,即便利用CID法使包含天冬氨酸残基的肽与包含异天冬氨酸残基的肽发生解离,所生成的产物离子也没有差异,在基于CID法的前体离子解离中,无法识别包含天冬氨酸残基的肽和包含作为其异构体的异天冬氨酸残基的肽。
如图4所示那样,即便使天冬氨酸残基和异天冬氨酸残基在N-Cα键的位置发生解离,也不会生成质量不同的产物离子。另一方面,若使两者在Cα-C键的位置发生解离,则能够生成质量不同的产物离子。需要说明的是,异天冬氨酸残基与天冬氨酸残基的肽主链的键不同,因此,在图4中用括号标出与天冬氨酸残基中的这些键相当的位置。
本发明人在图5中示出针对基于HAD法的异天冬氨酸残基的解离而进行的量子化学计算的结果。若对异天冬氨酸残基照射氢自由基,则氢自由基附着于酰胺键所含的羧基的碳原子,其后,前体离子通过两种方式发生解离。第一种是与CID法同样在N-Cα键的位置发生解离的方式(图5中记作“通常的N-Cα键断裂”的方式),第二种是在Cα-C键的位置发生解离的方式(图5中记作“异天冬氨酸特有的路径”的方式)。从氢自由基的附着起至实现解离的活化能分别为64kJ/mol、66kJ/mol,几乎没有差异。因此,若利用HAD法使源自包含异天冬氨酸残基的肽的前体离子发生解离,则由其中的约一半生成在Cα-C键处解离而得的产物离子。另一方面,天冬氨酸仅在N-Cα键的位置处发生解离。因此,通过探查因在Cα-C的键的位置处发生解离而生成的产物离子,从而能够识别异天冬氨酸和天冬氨酸。
根据上述计算结果,实际上分别利用HAD法使包含异天冬氨酸残基和天冬氨酸残基的肽发生解离而生成的产物离子的测定结果示于图6。在图6和图7的测定中,将氢气用作原料气体。图6的上部是具有异天冬氨酸残基的肽的产物离子谱,图6的下部是具有天冬氨酸残基的肽的产物离子谱。如图6的上部所示,在具有异天冬氨酸残基的肽的产物离子谱中检测到z7+57离子,另一方面,在图6的下部所示的具有天冬氨酸残基的肽的产物离子谱中未检测到z7+57离子。需要说明的是,z7是指在天冬氨酸残基的N-Cα键的位置处解离而生成的C末端侧的离子(z离子),在其键合部位的C末端侧具有7个氨基酸。并且,z7+57是指与该z7离子相比质量大57Da的离子。
此外,针对其他肽,与上述同样地分别利用HAD法使包含异天冬氨酸残基和天冬氨酸残基的肽发生解离而生成的产物离子的测定结果示于图7。图7的上部为具有异天冬氨酸残基的肽的产物离子谱,图7的下部为具有天冬氨酸残基的肽的产物离子谱。如图7的上部所示,在具有异天冬氨酸残基的肽的产物离子谱中检测到c7-57离子,另一方面,在图7的下部所示的具有天冬氨酸残基的肽的产物离子谱中未检测到c7-57离子。需要说明的是,c7是指在天冬氨酸残基的N-Cα键的位置处解离而生成的N末端侧的离子(c离子),在其键合部位的N末端侧具有7个氨基酸。并且,c7-57是指与该c7离子相比质量小57Da的离子。
由图6和图7所示的结果可知:通过探查z+57离子或c-57离子而能够识别异天冬氨酸和天冬氨酸。在图6中检测到z7+57离子,在图7中检测到c-57离子,但检测到z离子和c离子中的哪一者取决于肽中包含的氨基酸的构成和位置。具体而言,图6所示的肽中,氢离子容易附着的碱性的精氨酸(R)位于天冬氨酸的C末端侧,因此生成了z离子,图7所示的肽中,氢离子容易附着的碱性的精氨酸(R)位于天冬氨酸的N末端侧,因此生成了c离子。
此外,如本发明人在非专利文献4中报告的那样,若对前体离子照射氧自由基,则源自肽的前体离子在肽键的Cα-C键的位置处开裂,生成a+16离子。a+16离子是指:在肽键合在Cα-C键的位置处解离而生成的N末端侧的离子、即a离子上附着有氧原子且质量增加了16Da的离子。此外,通过在肽键的Cα-C键的位置处开裂,从而还可以在C末端侧生成x离子。如参照图4说明的那样,若在Cα-C键的位置处发生开裂,则由天冬氨酸和异天冬氨酸生成质量不同的产物离子(a+16离子和/或x离子)。因此可以认为:代替上述测定例中使用的氢气而使用水蒸气、氧气作为原料气体,并对前体离子照射氧自由基、羟基自由基,由此也能够识别异天冬氨酸和天冬氨酸。此外,不限定于氧自由基和羟基自由基,也可以使用与这些自由基同样地具有氧化能力的自由基。
上述测定例均涉及结构已知的肽中包含的异天冬氨酸与天冬氨酸的识别,但并不需要肽的结构是已知的。例如,通过预先在数据处理部9中存储氨基酸等预测包含在作为试样成分的肽中的各种物质的名称和质量,并探查产物离子谱的质量峰间的质荷比之差与任一氨基酸的质量一致,从而能够推断肽的结构。
上述实施例中,针对具有三维离子阱-飞行时间型质量分离部这一构成的质谱分析装置进行了说明,但也可以使用其它构成的质谱分析装置。例如,可以使用下述构成的质谱分析装置,所述构成为具有:筛选前体离子的前级质量分离部、对该前体离子照射自由基而使其解离的碰撞池、以及在碰撞池内将前体离子解离而生成的产物离子根据质荷比进行分离的后级质量分离部。这种质谱分析装置的一例是三重四极杆型的质谱分析装置。在该情况下,只要从喷嘴向碰撞池的内部喷射自由基,并对通过碰撞池的前体离子进行照射即可。
[方式]
本领域技术人员应该理解为上述多个例示实施方式是以下方式的具体例。
(第一方式)
本发明的第一方式是通过使源自试样成分的前体离子解离而生成产物离子并进行分析来分析异天冬氨酸的方法,其具有如下工序:
通过对前述前体离子照射氢自由基或具有氧化能力的自由基,使该前体离子解离而生成产物离子,
将前述产物离子根据质荷比进行分离并检测,
基于前述产物离子的质荷比来确定源自异天冬氨酸的产物离子。
(第五方式)
本发明的第五方式是通过使源自试样成分的前体离子解离而生成产物离子并进行分析来分析异天冬氨酸的质谱分析装置,其具备:
反应室,其用于导入前述前体离子;
自由基生成部,其用于生成氢自由基或具有氧化能力的自由基;
自由基照射部,其用于对前述反应室的内部照射在前述自由基生成部中生成的自由基;
分离检测部,其用于将通过与前述自由基的反应而使前述前体离子解离并生成的产物离子根据质荷比进行分离并检测;以及
产物离子确定部,其用于根据前述产物离子的质荷比来确定源自异天冬氨酸的产物离子。
上述第一方式的异天冬氨酸的分析方法和第五方式的质谱分析装置中,对源自试样成分的前体离子照射氢自由基或具有氧化能力的自由基,生成产物离子。具有氧化能力的自由基是指例如氧自由基、羟基自由基。对前体离子照射这些自由基的离子解离方法是本发明人在专利文献1中提出的氢附着解离(HAD:Hydrogen-Attachment Dissociation)法和氧附着解离(OAD:Oxygen-Attachment Dissociation)法。
本发明人发现:若利用HAD法而使源自异天冬氨酸的前体离子发生解离,则与ETD法同样地生成表征异天冬氨酸(不会由天冬氨酸生成)的c+57离子、z-57离子。此外发现:若利用通过使氧自由基、羟基自由基附着于前体离子而使前体离子解离的OAD法,使源自异天冬氨酸的前体离子发生解离,则生成表征异天冬氨酸(不会由天冬氨酸生成)的a+16离子。a+16离子是指与因天冬氨酸所具有的肽主链的Cα-C键断裂而生成的N末端侧的离子(c离子)相比质量大57的离子。
换言之,发现:将通过使源自试样成分的前体离子解离而生成的产物离子根据质荷比进行分离并检测,确定与它们相当的离子,由此能够识别异天冬氨酸和天冬氨酸并进行分析。HAD法、OAD法是通过自由基加成而使前体离子解离的方法,无论离子的极性、价数如何均可使用。因此,能够使源自试样成分的前体离子高效地解离,容易地识别异天冬氨酸和作为其异构体的天冬氨酸,并进行分析。
(第二方式)
本发明的第二方式所述的异天冬氨酸的分析方法中,在上述第一方式的分析方法中,
前述源自异天冬氨酸的产物离子通过探查c+57离子或z-57离子来确定。
(第六方式)
本发明的第六方式所述的质谱分析装置中,在上述第五方式的质谱分析装置中,
前述产物离子确定部探查c+57离子或z-57离子。
上述第二方式的异天冬氨酸的分析方法和第六方式的质谱分析装置中,通过探查利用照射氢自由基的HAD法等而生成的异天冬氨酸所特有的c+57离子或z-57离子,从而能够识别异天冬氨酸和天冬氨酸。
(第三方式)
本发明的第三方式所述的异天冬氨酸的分析方法中,在上述第一方式或第二方式的异天冬氨酸的分析方法中,
前述源自异天冬氨酸的产物离子通过探查a+16离子来确定。
(第七方式)
本发明的第七方式所述的质谱分析装置中,在上述第五方式或第六方式的质谱分析装置中,
前述产物离子确定部探查a+16离子。
上述第三方式的异天冬氨酸的分析方法和第七方式的质谱分析装置中,通过探查利用照射具有氧化能力的自由基的OAD法等而生成的异天冬氨酸所特有的a+16离子,从而能够识别异天冬氨酸和天冬氨酸。
(第四方式)
本发明的第四方式所述的异天冬氨酸的分析方法中,在上述第三方式的异天冬氨酸的分析方法中,
对前述前体离子照射氧自由基和/或羟基自由基。
(第八方式)
本发明的第八方式所述的质谱分析装置中,在上述第七方式的质谱分析装置中,
前述自由基生成部生成氧自由基和/或羟基自由基。
上述第七方式的质谱分析装置中,不劳烦使用者的操作,即可推断试样成分中包含的、具有顺式型不饱和键的成分与具有反式型不饱和键的成分的比例。
附图标记说明
1…离子源
2…离子阱
21…环电极
22…入口侧端盖电极
23…离子导入孔
24…出口侧端盖电极
25…离子射出孔
26…自由基粒子导入口
27…自由基粒子排出口
3…飞行时间型质量分离部
4…离子检测器
5…自由基照射部
51…自由基生成室
52…原料气体供给源
53…高频等离子体源
531…微波供给源
532…三短截线调谐器
54…喷嘴
541…接地电极
542…炬
543…针电极
544…连接器
55…分离器
56…阀
57…真空泵
6…非活性气体供给部
61…气体供给源
62…阀
63…气体导入管
7…阱电压发生部
8…控制部
9…数据处理部

Claims (8)

1.一种异天冬氨酸的分析方法,其为通过使源自试样成分的前体离子解离而生成产物离子并进行分析来分析异天冬氨酸的方法,其具有如下工序:
通过对所述前体离子照射氢自由基或具有氧化能力的自由基,使该前体离子解离而生成产物离子,
将所述产物离子根据质荷比进行分离并检测,
基于所述产物离子的质荷比来确定源自异天冬氨酸的产物离子。
2.根据权利要求1所述的异天冬氨酸的分析方法,其中,所述源自异天冬氨酸的产物离子通过探查c+57离子或z-57离子来确定。
3.根据权利要求1所述的异天冬氨酸的分析方法,其中,所述源自异天冬氨酸的产物离子通过探查a+16离子来确定。
4.根据权利要求3所述的异天冬氨酸的分析方法,其中,对所述前体离子照射氧自由基和/或羟基自由基。
5.一种质谱分析装置,其为通过使源自试样成分的前体离子解离而生成产物离子并进行分析来分析异天冬氨酸的质谱分析装置,其具备:
反应室,其用于导入所述前体离子;
自由基生成部,其用于生成氢自由基或具有氧化能力的自由基;
自由基照射部,其用于对所述反应室的内部照射在所述自由基生成部中生成的自由基;
分离检测部,其用于将通过与所述自由基的反应而使所述前体离子解离并生成的产物离子根据质荷比进行分离并检测;以及
产物离子确定部,其用于根据所述产物离子的质荷比来确定源自异天冬氨酸的产物离子。
6.根据权利要求5所述的质谱分析装置,其中,所述产物离子确定部探查c+57离子或z-57离子。
7.根据权利要求5所述的质谱分析装置,其中,所述产物离子确定部探查a+16离子。
8.根据权利要求7所述的质谱分析装置,其中,所述自由基生成部生成氧自由基和/或羟基自由基。
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