JP7435812B2 - 質量分析方法及び質量分析装置 - Google Patents
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Description
試料分子由来のプリカーサイオンを衝突誘起解離及びラジカル付着解離させることによりプロダクトイオンを生成し、
前記プロダクトイオンを質量分離して検出することによりプロダクトイオンスペクトルデータを取得する
ものである。
試料分子由来のプリカーサイオンが導入される反応室と、
前記反応室に衝突ガスを供給する衝突ガス供給部と、
前記反応室に水素ラジカル、酸素ラジカル、窒素ラジカル、及びヒドロキシルラジカルのうちのいずれかを供給するラジカル供給部と、
前記衝突ガス供給部及び前記ラジカル供給部の動作を制御することにより、前記反応室の内部で、前記プリカーサイオンを衝突誘起解離及びラジカル付着解離させてプロダクトイオンを生成する解離操作制御部と、
前記反応室から放出されるイオンを質量分離して検出するイオン検出部と、
前記イオン検出部による検出結果に基づいてスペクトルデータを生成するスペクトルデータ生成部と
を備える。
上述した複数の例示的な実施形態は、以下の態様の具体例であることが当業者により理解される。
一態様に係る質量分析方法は、
試料分子由来のプリカーサイオンを衝突誘起解離及びラジカル付着解離させることによりプロダクトイオンを生成し、
前記プロダクトイオンを質量分離して検出することによりプロダクトイオンスペクトルデータを取得する
ものである。
また、別の一態様に係る質量分析装置は、
試料分子由来のプリカーサイオンが導入される反応室と、
前記反応室に衝突ガスを供給する衝突ガス供給部と、
前記反応室に水素ラジカル、酸素ラジカル、窒素ラジカル、及びヒドロキシルラジカルのうちのいずれかを供給するラジカル供給部と、
前記衝突ガス供給部及び前記ラジカル供給部の動作を制御することにより、前記反応室の内部で、前記プリカーサイオンを衝突誘起解離及びラジカル付着解離させてプロダクトイオンを生成する解離操作制御部と、
前記反応室から放出されるイオンを質量分離して検出するイオン検出部と、
前記イオン検出部による検出結果に基づいてスペクトルデータを生成するスペクトルデータ生成部と
を備える。
第2項に記載の質量分析装置において、
前記ラジカル供給部が、水素ガス、酸素ガス、水蒸気、過酸化水素ガス、窒素ガス、及び空気のいずれかからラジカルを生成する。
第2項又は第3項に記載の質量分析装置において、
前記イオン検出部がイオンの質量を50ppm以上の精度で測定するものであり、
前記解離操作制御部が、前記試料分子から生成されたイオンを開裂させることなく前記イオン検出部で検出した強度に基づいてプリカーサイオンを決定し、
さらに、
前記プリカーサイオンの質量に基づいて、前記試料分子の組成式を推定し、該組成式に基づいて前記試料分子の候補構造を作成する候補構造作成部と、
前記候補構造の衝突誘起解離により生じるプロダクトイオンを推定する衝突誘起解離プロダクトイオン推定部と、
前記候補構造のラジカル付着解離により生じるプロダクトイオンを推定するラジカル付着解離プロダクトイオン推定部と、
前記衝突誘起解離プロダクトイオン推定部により推定されたプロダクトイオンの質量電荷比及び前記ラジカル付着解離プロダクトイオン推定部により推定されたプロダクトイオンの質量電荷比を前記プロダクトイオンスペクトルデータに含まれるマスピークの質量電荷比と比較することにより、前記試料分子の構造を推定する構造推定部と
を備える。
第2項又は第3項に記載の質量分析装置において、
前記解離操作制御部が、さらに、前記反応室の内部で、前記衝突誘起解離と前記ラジカル付着解離のうちの一方の解離操作のみにより前記プリカーサイオンを解離させてプロダクトイオンを生成するものであり、
さらに、
前記一方の解離操作により生成されたプロダクトイオンの検出結果に基づいて作成されたプロダクトイオンスペクトルデータに含まれるマスピークの強度と、前記衝突誘起解離及びラジカル付着解離により生成されたプロダクトイオンの検出結果に基づいて作成されたプロダクトイオンスペクトルデータに含まれるマスピークの強度とを比較するマスピーク強度比較部
を備える。
第2項から第5項のいずれかに記載の質量分析装置において、
前記解離操作制御部が、前記衝突誘起解離と前記ラジカル付着解離を同時に実行する。
第6項に記載の質量分析装置において、
前記反応室がコリジョンセルである。
第2項から第5項のいずれかに記載の質量分析装置において、
前記解離操作制御部が、前記衝突誘起解離と前記ラジカル付着解離のうちの一方を実行し、続いて他方を実行することにより前記プリカーサイオンを衝突誘起解離及びラジカル付着解離させる。
第2項から第5項のいずれかに記載の質量分析装置において、
前記解離操作制御部が、前記衝突誘起解離と前記ラジカル付着解離の相対的な強度が異なる複数の条件で前記プリカーサイオンからプロダクトイオンを生成し、
前記スペクトルデータ生成部が、前記複数の条件のそれぞれについてプロダクトイオンスペクトルデータを生成する。
第2項から第6項、第8項、及び第9項のいずれかに記載の質量分析装置において、
前記反応室がイオントラップである。
10…イオン化室
101…ESIプローブ
11…第1中間真空室
111…イオンレンズ
12…第2中間真空室
121…イオンガイド
13…第3中間真空室
131…四重極マスフィルタ
132…コリジョンセル
133…多重極イオンガイド
134…イオンガイド
14…分析室
141…イオン輸送電極
142…直交加速電極
143…加速電極
144…リフレクトロン電極
145…イオン検出器
146…フライトチューブ
201…イオン源
22…イオントラップ
221…リング電極
222…入口側エンドキャップ電極
224…出口側エンドキャップ電極
24…飛行時間型質量分離部
245…イオン検出器
4…衝突ガス供給部
41…衝突ガス源
42…ガス導入流路
43…バルブ
5…ラジカル供給部
51…ラジカル生成室
52…ガス供給源
53…高周波電源
54…ノズル
55…スキマーコーン
56…原料ガス源
561…バルブ
57…真空ポンプ
58…輸送管
581…ヘッド部
6…制御・処理部
61…記憶部
62…分析モード選択部
63…解離操作制御部
64…スペクトルデータ生成部
65…候補構造作成部
66…衝突誘起解離プロダクトイオン推定部
67…ラジカル付着解離プロダクトイオン推定部
68…構造推定部
69…マスピーク強度比較部
7…入力部
8…表示部
Claims (6)
- 試料分子由来のプリカーサイオンに対する衝突誘起解離操作とラジカル付着解離操作を同時に実行してプロダクトイオンを生成する第1操作と、前記プリカーサイオンに対する前記衝突誘起解離操作のみを実行して衝突誘起解離-MS 2 プロダクトイオンを生成する第2操作と、前記プリカーサイオンに対する前記ラジカル付着解離操作のみを実行してラジカル付着解離-MS 2 プロダクトイオンを生成する第3操作とを実行し、該第1操作、該第2操作、及び該第3操作のそれぞれの実行中に前記プロダクトイオンを質量分離して検出することによりそれぞれのプロダクトイオンスペクトルデータを取得し、
前記第1操作により得られたプロダクトイオンスペクトルデータに含まれるマスピークのうち、前記第2操作により得られたスペクトルデータにも共通して現れるマスピークを衝突誘起解離-MS 2 プロダクトイオンに帰属させ、前記第3操作により得られたプロダクトイオンスペクトルデータにも共通して現れるマスピークをラジカル付着解離-MS 2 プロダクトイオンに帰属させ、前記第2操作により得られたプロダクトイオンスペクトルデータと前記第3操作により得られたプロダクトイオンスペクトルデータのいずれにも現れないマスピークを衝突誘起解離及びラジカル付着解離-MS 3 プロダクトイオンに帰属させる
ものである、質量分析方法。 - 試料分子由来のプリカーサイオンが導入される反応室と、
前記反応室に衝突ガスを供給する衝突ガス供給部と、
前記反応室に水素ラジカル、酸素ラジカル、窒素ラジカル、及びヒドロキシルラジカルのうちのいずれかを供給するラジカル供給部と、
前記衝突ガス供給部及び前記ラジカル供給部の動作を制御することにより、前記反応室の内部で、前記プリカーサイオンに対する衝突誘起解離操作とラジカル付着解離操作を同時に実行してプロダクトイオンを生成する第1操作と、前記プリカーサイオンに対する前記衝突誘起解離操作のみを実行して衝突誘起解離-MS 2 プロダクトイオンを生成する第2操作と、前記プリカーサイオンに対する前記ラジカル付着解離操作のみを実行してラジカル付着解離-MS 2 プロダクトイオンを生成する第3操作とを実行する解離操作制御部と、
前記第1操作、前記第2操作、及び前記第3操作のそれぞれの実行中に前記反応室から放出されるイオンを質量分離して検出するイオン検出部と、
前記第1操作、前記第2操作、及び前記第3操作のそれぞれについて、前記イオン検出部による検出結果に基づいてスペクトルデータを生成するスペクトルデータ生成部と、
前記第1操作により得られたスペクトルデータに含まれるマスピークのうち、前記第2操作により得られたスペクトルデータにも共通して現れるマスピークを衝突誘起解離-MS 2 プロダクトイオンに帰属させ、前記第3操作により得られたスペクトルデータにも共通して現れるマスピークをラジカル付着解離-MS 2 プロダクトイオンに帰属させ、前記第2操作により得られたスペクトルデータと前記第3操作により得られたスペクトルデータのいずれにも現れないマスピークを衝突誘起解離及びラジカル付着解離-MS 3 プロダクトイオンに帰属させるマスピーク比較部と
を備える質量分析装置。 - 前記ラジカル供給部が、水素ガス、酸素ガス、水蒸気、過酸化水素ガス、窒素ガス、及び空気のいずれかからラジカルを生成する、請求項2に記載の質量分析装置。
- 前記反応室がコリジョンセルである、請求項2に記載の質量分析装置。
- 前記解離操作制御部が、前記衝突誘起解離と前記ラジカル付着解離の相対的な強度が異なる複数の条件で前記プリカーサイオンからプロダクトイオンを生成し、
前記スペクトルデータ生成部が、前記複数の条件のそれぞれについてプロダクトイオンスペクトルデータを生成する、請求項2に記載の質量分析装置。 - 前記反応室がイオントラップである、請求項2に記載の質量分析装置。
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