JP7435812B2 - 質量分析方法及び質量分析装置 - Google Patents
質量分析方法及び質量分析装置 Download PDFInfo
- Publication number
- JP7435812B2 JP7435812B2 JP2022553500A JP2022553500A JP7435812B2 JP 7435812 B2 JP7435812 B2 JP 7435812B2 JP 2022553500 A JP2022553500 A JP 2022553500A JP 2022553500 A JP2022553500 A JP 2022553500A JP 7435812 B2 JP7435812 B2 JP 7435812B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- dissociation
- collision
- ion
- mass
- product
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Active
Links
- 238000000034 method Methods 0.000 title claims description 34
- 238000004949 mass spectrometry Methods 0.000 title claims description 21
- 150000002500 ions Chemical class 0.000 claims description 400
- 238000010494 dissociation reaction Methods 0.000 claims description 148
- 230000005593 dissociations Effects 0.000 claims description 146
- 150000003254 radicals Chemical class 0.000 claims description 145
- 239000002243 precursor Substances 0.000 claims description 102
- 238000001360 collision-induced dissociation Methods 0.000 claims description 99
- 238000001228 spectrum Methods 0.000 claims description 97
- 239000007789 gas Substances 0.000 claims description 70
- -1 hydrogen radicals Chemical class 0.000 claims description 48
- 238000005040 ion trap Methods 0.000 claims description 30
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 claims description 25
- 239000001301 oxygen Substances 0.000 claims description 25
- 229910052760 oxygen Inorganic materials 0.000 claims description 25
- 230000003595 spectral effect Effects 0.000 claims description 25
- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims description 20
- 239000001257 hydrogen Substances 0.000 claims description 13
- 229910052739 hydrogen Inorganic materials 0.000 claims description 13
- IJGRMHOSHXDMSA-UHFFFAOYSA-N Atomic nitrogen Chemical compound N#N IJGRMHOSHXDMSA-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 9
- 229910001873 dinitrogen Inorganic materials 0.000 claims description 9
- MHAJPDPJQMAIIY-UHFFFAOYSA-N Hydrogen peroxide Chemical compound OO MHAJPDPJQMAIIY-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 8
- 150000002831 nitrogen free-radicals Chemical class 0.000 claims description 8
- UFHFLCQGNIYNRP-UHFFFAOYSA-N Hydrogen Chemical compound [H][H] UFHFLCQGNIYNRP-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 7
- XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N water Chemical compound O XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 7
- MYMOFIZGZYHOMD-UHFFFAOYSA-N Dioxygen Chemical compound O=O MYMOFIZGZYHOMD-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 5
- 229910001882 dioxygen Inorganic materials 0.000 claims description 5
- 238000004458 analytical method Methods 0.000 description 57
- 239000000523 sample Substances 0.000 description 54
- 238000004088 simulation Methods 0.000 description 16
- 150000003904 phospholipids Chemical class 0.000 description 14
- 239000007788 liquid Substances 0.000 description 13
- 238000004885 tandem mass spectrometry Methods 0.000 description 13
- YZCKVEUIGOORGS-IGMARMGPSA-N Protium Chemical compound [1H] YZCKVEUIGOORGS-IGMARMGPSA-N 0.000 description 10
- 239000002994 raw material Substances 0.000 description 10
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 9
- 150000001875 compounds Chemical class 0.000 description 8
- 238000001819 mass spectrum Methods 0.000 description 8
- 238000012916 structural analysis Methods 0.000 description 8
- 235000014113 dietary fatty acids Nutrition 0.000 description 7
- 229930195729 fatty acid Natural products 0.000 description 7
- 239000000194 fatty acid Substances 0.000 description 7
- 150000004665 fatty acids Chemical class 0.000 description 7
- 230000003247 decreasing effect Effects 0.000 description 6
- 230000032258 transport Effects 0.000 description 6
- 230000001133 acceleration Effects 0.000 description 5
- 125000001183 hydrocarbyl group Chemical group 0.000 description 5
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 description 5
- WTJKGGKOPKCXLL-RRHRGVEJSA-N phosphatidylcholine Chemical compound CCCCCCCCCCCCCCCC(=O)OC[C@H](COP([O-])(=O)OCC[N+](C)(C)C)OC(=O)CCCCCCCC=CCCCCCCCC WTJKGGKOPKCXLL-RRHRGVEJSA-N 0.000 description 5
- 238000000926 separation method Methods 0.000 description 5
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 4
- 239000011261 inert gas Substances 0.000 description 4
- 230000001678 irradiating effect Effects 0.000 description 4
- 239000000126 substance Substances 0.000 description 4
- 125000004432 carbon atom Chemical group C* 0.000 description 3
- VYVRIXWNTVOIRD-UHFFFAOYSA-N ciguatoxin Natural products O1C(C(C(C)C2OC3CC(C)CC4OC5(C)C(O)CC6OC7C=CC8OC9CC%10C(C(C%11OC(C=CCC%11O%10)C=CC(O)CO)O)OC9C=CC8OC7CC=CCC6OC5CC4OC3CC2O2)O)C2C(C)C(C)C21CC(O)CO2 VYVRIXWNTVOIRD-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- PEDCQBHIVMGVHV-UHFFFAOYSA-N glycerol group Chemical group OCC(O)CO PEDCQBHIVMGVHV-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- 230000037427 ion transport Effects 0.000 description 3
- XKRFYHLGVUSROY-UHFFFAOYSA-N Argon Chemical compound [Ar] XKRFYHLGVUSROY-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- JZNWSCPGTDBMEW-UHFFFAOYSA-N Glycerophosphorylethanolamin Natural products NCCOP(O)(=O)OCC(O)CO JZNWSCPGTDBMEW-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- NBIIXXVUZAFLBC-UHFFFAOYSA-N Phosphoric acid Chemical compound OP(O)(O)=O NBIIXXVUZAFLBC-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- ATBOMIWRCZXYSZ-XZBBILGWSA-N [1-[2,3-dihydroxypropoxy(hydroxy)phosphoryl]oxy-3-hexadecanoyloxypropan-2-yl] (9e,12e)-octadeca-9,12-dienoate Chemical compound CCCCCCCCCCCCCCCC(=O)OCC(COP(O)(=O)OCC(O)CO)OC(=O)CCCCCCC\C=C\C\C=C\CCCCC ATBOMIWRCZXYSZ-XZBBILGWSA-N 0.000 description 2
- AWUCVROLDVIAJX-UHFFFAOYSA-N alpha-glycerophosphate Natural products OCC(O)COP(O)(O)=O AWUCVROLDVIAJX-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 230000005684 electric field Effects 0.000 description 2
- 230000005284 excitation Effects 0.000 description 2
- 239000012634 fragment Substances 0.000 description 2
- 230000005405 multipole Effects 0.000 description 2
- 150000008104 phosphatidylethanolamines Chemical class 0.000 description 2
- 150000003905 phosphatidylinositols Chemical class 0.000 description 2
- 108090000623 proteins and genes Proteins 0.000 description 2
- 102000004169 proteins and genes Human genes 0.000 description 2
- RZVAJINKPMORJF-UHFFFAOYSA-N Acetaminophen Chemical compound CC(=O)NC1=CC=C(O)C=C1 RZVAJINKPMORJF-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000004252 FT/ICR mass spectrometry Methods 0.000 description 1
- CBENFWSGALASAD-UHFFFAOYSA-N Ozone Chemical compound [O-][O+]=O CBENFWSGALASAD-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N Silicium dioxide Chemical compound O=[Si]=O VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910000147 aluminium phosphate Inorganic materials 0.000 description 1
- 150000001413 amino acids Chemical class 0.000 description 1
- 229910052786 argon Inorganic materials 0.000 description 1
- QVGXLLKOCUKJST-UHFFFAOYSA-N atomic oxygen Chemical compound [O] QVGXLLKOCUKJST-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000005388 borosilicate glass Substances 0.000 description 1
- 229910052799 carbon Inorganic materials 0.000 description 1
- 238000010835 comparative analysis Methods 0.000 description 1
- 230000000295 complement effect Effects 0.000 description 1
- 238000000132 electrospray ionisation Methods 0.000 description 1
- 238000010828 elution Methods 0.000 description 1
- RTZKZFJDLAIYFH-UHFFFAOYSA-N ether Substances CCOCC RTZKZFJDLAIYFH-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000011521 glass Substances 0.000 description 1
- 238000002347 injection Methods 0.000 description 1
- 239000007924 injection Substances 0.000 description 1
- 230000014759 maintenance of location Effects 0.000 description 1
- 238000000816 matrix-assisted laser desorption--ionisation Methods 0.000 description 1
- 230000002093 peripheral effect Effects 0.000 description 1
- 229920000642 polymer Polymers 0.000 description 1
- 238000005086 pumping Methods 0.000 description 1
- 239000005297 pyrex Substances 0.000 description 1
- 239000007921 spray Substances 0.000 description 1
Images
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01J—ELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
- H01J49/00—Particle spectrometers or separator tubes
- H01J49/004—Combinations of spectrometers, tandem spectrometers, e.g. MS/MS, MSn
- H01J49/0045—Combinations of spectrometers, tandem spectrometers, e.g. MS/MS, MSn characterised by the fragmentation or other specific reaction
- H01J49/0072—Combinations of spectrometers, tandem spectrometers, e.g. MS/MS, MSn characterised by the fragmentation or other specific reaction by ion/ion reaction, e.g. electron transfer dissociation, proton transfer dissociation
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01J—ELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
- H01J49/00—Particle spectrometers or separator tubes
- H01J49/004—Combinations of spectrometers, tandem spectrometers, e.g. MS/MS, MSn
- H01J49/0045—Combinations of spectrometers, tandem spectrometers, e.g. MS/MS, MSn characterised by the fragmentation or other specific reaction
- H01J49/005—Combinations of spectrometers, tandem spectrometers, e.g. MS/MS, MSn characterised by the fragmentation or other specific reaction by collision with gas, e.g. by introducing gas or by accelerating ions with an electric field
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01J—ELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
- H01J49/00—Particle spectrometers or separator tubes
- H01J49/0027—Methods for using particle spectrometers
- H01J49/0031—Step by step routines describing the use of the apparatus
Landscapes
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Chemical Kinetics & Catalysis (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- Other Investigation Or Analysis Of Materials By Electrical Means (AREA)
Description
本発明は、質量分析方法及び質量分析装置に関する。
高分子化合物である試料分子を同定したりその構造を解析したりするために、試料分子由来のイオンから特定の質量電荷比を有するイオンをプリカーサイオンとして選別し、それを解離させてプロダクトイオン（フラグメントイオンとも呼ばれる。）を生成し、それらを質量電荷比に応じて分離し検出する質量分析法が広く利用されている。質量分析においてイオンを解離させる代表的な方法として、窒素ガス等の不活性ガス分子にプリカーサイオンを衝突させてそのエネルギーによって該プリカーサイオンを解離させる、衝突誘起解離（CID: Collision-Induced Dissociation）法が知られている。
CID法では不活性ガス分子との衝突エネルギーによってイオンを解離させるため、化学結合の種類などを問わず様々な種類のイオンを解離させることができる。例えば、試料分子由来のプリカーサイオンを解離させてそれよりも分子量が小さい複数種類のプロダクトイオンを生成し、各プロダクトイオンの質量電荷比から部分構造を推定することによって、全体の構造を推定することができる。その一方、CID法では、プリカーサイオンを解離させる部位の化学結合の種類の選択性が低い。例えば、タンパク質はペプチド結合を介して複数のアミノ酸が連なったものであり、ペプチド結合の位置で特異的に解離を生じさせることにより効率よく構造解析を行うことができるが、CID法ではそのような解離を生じさせることが難しい。また、試料分子が不飽和結合部位を有する炭化水素鎖を含む化合物である場合には、不飽和結合の位置で特異的に解離を生じさせることによって炭化水素鎖に含まれる不飽和結合の位置を特定することができるが、CID法ではそのような解離を生じさせることが難しい。
特許文献１及び２には、タンパク質由来のプリカーサイオンに水素ラジカル、酸素ラジカル等のラジカルを付着して不対電子誘導型の解離を生じさせることにより、プリカーサイオンをペプチド結合の位置で解離させることが記載されている。水素ラジカルを照射してプリカーサイオンを解離させる手法は水素付着解離（HAD: Hydrogen Attachment/Abstraction Dissociation）法、酸素ラジカルを照射してプリカーサイオンを解離させる手法は酸素付着解離（OAD: Oxygen Attachment/Abstraction Dissociation）法と呼ばれる。
また、特許文献３には、脂肪酸等の化合物由来のプリカーサイオンに対して酸素ラジカルやヒドロキシルラジカルを照射することにより、炭素原子の二重結合の位置でプリカーサイオンを解離させることが記載されている。
HAD法やOAD法といったラジカル照射による解離手法では試料分子由来のプリカーサイオンを特定の化学結合部位で解離させることができる一方、そうした化学結合部位以外の構造情報を得ることが難しい。例えば、リン脂質は、ヘッドグループと呼ばれる構造に脂肪酸が結合したものであり、ヘッドグループの構造に応じてホスファチジルコリン（PC）、ホスファチジルエタノールアミン（PE）、ホスファチジルグリセロール（PG）、ホスファチジルイノシトール（PI）などと呼ばれるクラスに分類される。HAD法やOAD法を用いてリン脂質由来のプリカーサイオンを解離させると脂肪酸の構造解析に有用なプロダクトイオンが得られる一方、ヘッドグループの構造を特定可能なプロダクトイオンは生成されにくい。このように、従来、化合物の種類によっては構造の解析に十分な情報を得ることが難しい場合があった。
本発明が解決しようとする課題は、化合物の構造解析に有用な情報をより多く得ることができる質量分析方法及び質量分析装置を提供することである。
上記課題を解決するために成された本発明に係る質量分析方法は、
試料分子由来のプリカーサイオンを衝突誘起解離及びラジカル付着解離させることによりプロダクトイオンを生成し、
前記プロダクトイオンを質量分離して検出することによりプロダクトイオンスペクトルデータを取得する
ものである。
試料分子由来のプリカーサイオンを衝突誘起解離及びラジカル付着解離させることによりプロダクトイオンを生成し、
前記プロダクトイオンを質量分離して検出することによりプロダクトイオンスペクトルデータを取得する
ものである。
また、上記課題を解決するために成された本発明に係る質量分析装置は、
試料分子由来のプリカーサイオンが導入される反応室と、
前記反応室に衝突ガスを供給する衝突ガス供給部と、
前記反応室に水素ラジカル、酸素ラジカル、窒素ラジカル、及びヒドロキシルラジカルのうちのいずれかを供給するラジカル供給部と、
前記衝突ガス供給部及び前記ラジカル供給部の動作を制御することにより、前記反応室の内部で、前記プリカーサイオンを衝突誘起解離及びラジカル付着解離させてプロダクトイオンを生成する解離操作制御部と、
前記反応室から放出されるイオンを質量分離して検出するイオン検出部と、
前記イオン検出部による検出結果に基づいてスペクトルデータを生成するスペクトルデータ生成部と
を備える。
試料分子由来のプリカーサイオンが導入される反応室と、
前記反応室に衝突ガスを供給する衝突ガス供給部と、
前記反応室に水素ラジカル、酸素ラジカル、窒素ラジカル、及びヒドロキシルラジカルのうちのいずれかを供給するラジカル供給部と、
前記衝突ガス供給部及び前記ラジカル供給部の動作を制御することにより、前記反応室の内部で、前記プリカーサイオンを衝突誘起解離及びラジカル付着解離させてプロダクトイオンを生成する解離操作制御部と、
前記反応室から放出されるイオンを質量分離して検出するイオン検出部と、
前記イオン検出部による検出結果に基づいてスペクトルデータを生成するスペクトルデータ生成部と
を備える。
本発明に係る質量分析方法及び質量分析装置では、試料分子由来のプリカーサイオンに対して、衝突（コリジョン）ガス分子との衝突により解離させる衝突誘起解離と、ラジカルの付着により解離させるラジカル付着解離の両方を実行する。衝突誘起解離とラジカル付着解離は、同時に行ってもよく、あるいは順番に行ってもよい。ラジカル付着解離では、目的とする解離の態様に応じて、例えば水素ラジカル、酸素ラジカル、窒素ラジカル、及びヒドロキシルラジカルのうちのいずれかをプリカーサイオンに付着させる。ラジカル付着解離において使用するラジカル種は1種類に限らず、複数種類であってもよい。例えば原料ガスとして水蒸気を用いると酸素ラジカルとヒドロキシルラジカルの両方を同時に生成してプリカーサイオンに付着させることができる。
本発明に係る質量分析方法及び質量分析装置では、プリカーサイオンの衝突誘起解離により生成されるプロダクトイオンとプリカーサイオンのラジカル付着解離により生成されるプロダクトイオンの両方が検出される。例えば、試料分子がリン脂質である場合、前者のプロダクトイオンからはヘッドグループの構造の推定に有用な情報が得られ、後者のプロダクトイオンからは脂肪酸の構造の推定に有用な情報が得られる。このように、本発明では、衝突誘起解離とラジカル付着解離の両方を行うため、一度の質量分析で化合物の構造解析に有用な情報をより多く得ることができる。
また、本発明に係る質量分析方法及び質量分析装置では、上記のプロダクトイオンに加えて、プリカーサイオンの衝突誘起解離により生成されたプロダクトイオンがさらにラジカル付着解離して生成されるプロダクトイオン、及び／又はプリカーサイオンのラジカル付着解離により生成されたプロダクトイオンがさらに衝突誘起解離して生成されるプロダクトイオンも検出されうる。これらのプロダクトイオンはいずれも、プリカーサイオンが2回解離して生成されるプロダクトイオンである。例えば、三連四重極型質量分析装置のように反応室としてコリジョンセルを使用する質量分析装置では、従来、プリカーサイオンを一度解離させてプロダクトイオンを生成して検出するMS/MS（MS2）分析のみが実行可能とされていたが、本発明を用いることにより、疑似的にMS3分析を実行することが可能になる。
本発明に係るイオン分析装置の実施例である、実施例１の質量分析装置１及び実施例２の質量分析装置２について、以下、図面を参照して説明する。
図１に実施例１の質量分析装置１の概略構成を示す。この質量分析装置１は、大別して質量分析装置本体と制御・処理部６で構成されている。
質量分析装置本体は、略大気圧であるイオン化室１０と真空ポンプ（図示なし）により真空排気された高真空の分析室１４との間に、段階的に真空度が高められた第１中間真空室１１、第２中間真空室１２、及び第３中間真空室１３を備えた多段差動排気系の構成を有している。イオン化室１０には、液体試料に電荷を付与して噴霧するエレクトロスプレイイオン化用プローブ（ESIプローブ）１０１が設置されている。ESIプローブ１０１には、液体試料を直接注入してもよく、液体クロマトグラフのカラムで液体試料に含まれる他の成分から分離した試料成分を導入してもよい。
イオン化室１０と第１中間真空室１１は細径の加熱キャピラリ１０２を通して連通している。第１中間真空室１１には径が異なる複数のリング状の電極で構成されたイオンレンズ１１１が配置されている。第１中間真空室１１と第２中間真空室１２は頂部に小孔を有するスキマー１１２で隔てられている。第２中間真空室１２には、イオン光軸Ｃを取り囲むように配置された複数のロッド電極で構成されたイオンガイド１２１が配置されている。
第３中間真空室１３には、イオンを質量電荷比に応じて分離する四重極マスフィルタ１３１、多重極イオンガイド１３３を内部に備えたコリジョンセル１３２、及びコリジョンセル１３２から放出されたイオンを輸送するためのイオンガイド１３４が配置されている。イオンガイド１３４は同一径の複数のリング状の電極で構成されている。
コリジョンセル１３２には衝突ガス供給部４が接続されている。衝突ガス供給部４は、衝突ガス源４１、該衝突ガス源４１からコリジョンセル１３２にガスを導入するガス導入流路４２、及び該ガス導入流路４２を開閉するバルブ４３を有している。衝突ガスには、例えば窒素ガスやアルゴンガスといった不活性ガスが用いられる。あるいは、後述する原料ガスを衝突ガスとして用いることもできる。原料ガスを衝突ガスとしても用いる場合には、原料ガス源５６を衝突ガス源４１としても使用すればよく、これらを個別に設ける必要はない。
また、コリジョンセル１３２には、ラジカル供給部５も接続されている。図２に示すように、ラジカル供給部５は、内部にラジカル生成室５１が形成されたノズル５４と、ラジカル生成室５１を排気する真空ポンプ５７と、ラジカル生成室５１内で真空放電を生じさせるためのマイクロ波を供給する高周波電源５３と、ラジカル生成室５１内に原料ガスを供給する原料ガス源５６と、該原料ガス源５６からラジカル生成室５１に至る流路を開閉するバルブ５６１とを備えている。
原料ガスには、目的とするプリカーサイオンの解離の形態に応じたラジカルを生成可能なものが用いられる。原料ガスは、例えば、水素ガス、酸素ガス、水蒸気、過酸化水素ガス、窒素ガス、あるいは空気が用いられる。水素ガスからは水素ラジカルが生成される。酸素ガスやオゾンガスからは酸素ラジカルが生成される。水蒸気からは酸素ラジカル及びヒドロキシルラジカルが生成される。過酸化水素ガスからは、酸素ラジカル、ヒドロキシラジカル、及び水素ラジカルが生成される。窒素ガスからは窒素ラジカルが生成される。空気からは、酸素ラジカル、ヒドロキシラジカル、窒素ラジカル、及び水素ラジカルが生成される。
ノズル５４は、外周部を構成する接地電極５４１と、その内側に位置するトーチ５４２を備えており、該トーチ５４２の内部がラジカル生成室５１となる。トーチ５４２には、例えばパイレックス（登録商標）ガラス製のものを用いることができる。ラジカル生成室５１の内部では、コネクタ５４４を介して高周波電源５３と接続されたニードル電極５４３がラジカル生成室５１の長手方向に貫通している。図２では容量結合放電を利用したラジカル源としたが、誘導結合放電を利用したラジカル源を用いることもできる。
ノズル５４の出口端には、ラジカル生成室５１内で生成されたラジカルをコリジョンセル１３２に輸送するための輸送管５８が接続されている。輸送管５８は絶縁管であり、例えば石英ガラス管やホウケイ酸ガラス管を用いることができる。
輸送管５８のうち、コリジョンセル１３２の壁面に沿って配設された部分には、複数のヘッド部５８１が設けられている。各ヘッド部５８１には傾斜したコーン状の照射口が設けられており、イオンの飛行方向の中心軸（イオン光軸Ｃ）と交差する方向にラジカルが照射される。これにより、コリジョンセル１３２の内部を飛行するイオンに対してまんべんなくラジカルを照射することができる。
また、別の実施形態では、コリジョンセル１３２の出口電極にイオンと逆極性の電圧を印加し、イオンを該出口電極の周辺に蓄積する。この場合は、該出口電極の周辺にラジカルを集中的に照射することにより、プリカーサイオンとラジカルの反応効率を高め、より多くのプロダクトイオンを生成し、検出強度を増加させることができる。あるいは、その逆にイオンをコリジョンセル１３２の入口電極の周辺に蓄積して、該入口電極の周辺にラジカルを照射することもできる。
上記のように、コリジョンセル１３２の出口電極の周辺にイオンを蓄積する場合には、コリジョンセル１３２の内部を飛行する間に衝突誘起解離（CID）したプロダクトイオンが出口電極の周辺に到達し、さらにそこでラジカル付着解離して、MS3相当（衝突誘起解離→ラジカル付着解離）のスペクトルが得られやすくなる。また、コリジョンセル１３２の入口電極の周辺でイオンを蓄積する場合には、該入口電極の周辺でラジカル付着解離したプロダクトイオンが、コリジョンセル１３２の内部を飛行する間にさらに衝突誘起解離（CID）して、MS3相当（ラジカル付着解離→衝突誘起解離）のスペクトルが得られやすくなる。このように、それぞれ特徴が異なるMS3相当スペクトルを相補的に構造解析に利用するために、コリジョンセル１３２の入口電極の周辺と出口電極の周辺にイオンを都度蓄積できるように、入口電極と出口電極にそれぞれイオンを蓄積する電場を適宜に切り替え可能に、またラジカルを照射するヘッド部５８１を選択（例えば各ヘッド部５８１を開閉）可能に構成することが好ましい。
分析室１４には、第３中間真空室１３から入射したイオンを直交加速部に輸送するためのイオン輸送電極１４１、イオンの入射光軸（直交加速領域）を挟んで対向配置された１組の電極１４２１、１４２２からなる直交加速電極１４２、該直交加速電極１４２により飛行空間に送出されるイオンを加速する加速電極１４３、飛行空間においてイオンの折り返し軌道を形成するリフレクトロン電極１４４、イオン検出器１４５、及び飛行空間の外縁を規定するフライトチューブ１４６を備えている。
制御・処理部６は、各部の動作を制御するとともに、イオン検出器１４５で得られたデータを保存及び解析する機能を有する。制御・処理部６の実体は、入力部７及び表示部８が接続された一般的なパーソナルコンピュータであり、その記憶部６１には、測定条件を記載したメソッドファイルや化合物データベースなどが保存されている。
制御・処理部６は、また、機能ブロックとして、分析モード選択部６２、解離操作制御部６３、スペクトルデータ生成部６４、候補構造作成部６５、衝突誘起解離プロダクトイオン推定部６６、ラジカル付着解離プロダクトイオン推定部６７、構造推定部６８、及びマスピーク強度比較部６９を備えている。これらの機能ブロックは、予めパーソナルコンピュータにインストールされた質量分析プログラムを実行することにより具現化される。
次に、実施例１の質量分析装置１の動作を説明する。
使用者が分析対象試料をセットして分析開始を指示すると、分析モード選択部６２は、「シミュレーション解析モード」と「スペクトル比較解析モード」の2つの分析モードを表示部８の画面に表示し、使用者に選択を促す。
まず、使用者が「シミュレーション解析モード」を選択した場合の分析の流れを説明する。ここでは、リン脂質（PC16:0/20:4）由来のプリカーサイオンを衝突ガスの分子との衝突により衝突誘起解離させるとともに酸素ラジカルを付着させることによりラジカル付着解離させてプロダクトイオンを生成する場合を例に説明する。なお、分析前の段階では、試料成分がリン脂質であることが分かっているものの、そのクラスや具体的な構造が不明である。そこで、リン脂質に含まれる炭化水素鎖の二重結合を選択的に解離させることが可能な酸素ラジカルによりラジカル付着解離を生じさせる。
シミュレーション解析モードが選択されると、解離操作制御部６３は、以下のような手順でauto-MS/MS分析を実行する。
まず、真空ポンプ（図示略）を動作させ、第１中間真空室１１、第２中間真空室１２、第３中間真空室１３、及び分析室１４をそれぞれ質量分析のための所定の真空度まで排気する。また、真空ポンプ５７を動作させてラジカル生成室５１の内部をラジカル生成のための所定の真空度まで排気する。
次に、液体試料をESIプローブ１０１に導入してイオン化する。イオン化室１０内で試料成分から生成されたイオンは、イオン化室１０と第１中間真空室１１の圧力差により該第１中間真空室１１に引き込まれ、イオンレンズ１１１によりイオン光軸Ｃ上に収束される。イオン光軸Ｃ上に収束されたイオンは、続いて第１中間真空室１１と第２中間真空室１２の圧力差により該第２中間真空室１２に引き込まれ、イオンガイド１２１によってさらに収束され、第３中間真空室１３に引き込まれる。
最初の測定時には、四重極マスフィルタ１３１による質量分離、コリジョンセル１３２内での衝突誘起解離及びラジカル付着解離のいずれも行わず、液体試料から生成されたイオンをそのまま分析室１４に導入する。
分析室１４に進入したイオンは、直交加速電極１４２によって飛行方向が変更され、加速電極１４３により加速されて飛行空間に送出される。加速電極１４３で加速されたイオンは、その質量電荷比に応じた時間で折り返し軌道を飛行し、イオン検出器１４５で検出される。イオン検出器１４５による検出信号は順次、制御・処理部６に出力されて記憶部６１に保存される。
スペクトルデータ生成部６４は、イオン検出器１４５からの出力信号に基づいてスペクトルデータを生成する。ここでは試料成分から生成されたイオンを解離せず質量分離して検出したため、マススペクトル（MS1スペクトル）データが生成される。
MS1スペクトルデータが得られると、解離操作制御部６３は、予め決められた条件に基づいて、MS/MS分析におけるプリカーサイオンを決定する。予め決められた条件とは、例えばマススペクトルデータにおいて最も強度が高いマスピークに対応するイオンであることである。本実施例のようにESIプローブ１０１により液体試料をイオン化すると、多くの場合、試料分子にプロトンが付加したイオンが最も高い強度で検出される。
MS/MS分析におけるプリカーサイオンが決定すると、再び液体試料をESIプローブ１０１に導入してイオン化する（最初の測定時から継続してESIプローブ１０１に液体試料を導入し続けてもよい）。液体クロマトグラフのカラムで成分分離した試料成分を測定する場合には、該カラムからの溶出時間（保持時間）の間にauto-MS/MS分析を実行する。イオン化室で生成されたイオンは上記同様に第１中間真空室１１及び第２中間真空室１２で収束され、第３中間真空室１３に引き込まれる。
液体試料の導入と並行して、バルブ５６１を開放することによりラジカル生成室５１にガス供給源５２から原料ガス（酸素ラジカルを生成可能な種類のガス。例えば酸素ガス）を供給し、マイクロ波供給源５３１からマイクロ波を供給することによりラジカル生成室５１の内部でラジカル（酸素ラジカル）を生成する。ラジカル生成室５１で生成されたラジカルは輸送管５８を通過し、ヘッド部５８１を通じてコリジョンセル１３２内に供給される。
また、解離操作制御部６３は、バルブ４３を開放し、衝突ガス源４１から衝突ガス（例えば窒素ガス）をコリジョンセル１３２に導入する。
第３中間真空室１３では、解離操作制御部６３によって決定されたプリカーサイオンのみが四重極マスフィルタ１３１を通過する。四重極マスフィルタ１３１の出口端とコリジョンセル１３２の間にはプリカーサイオンを加速して衝突ガスに衝突させるエネルギー（CE: Collision Energy）を付与する所定の電位勾配が形成される。こうしてプリカーサイオンには加速エネルギーが付与されてコリジョンセル１３２に進入する。プリカーサイオンに付与されるエネルギーの大きさは、例えば1eV以上、好ましくは5eV以上、更に好ましくは10eV以上であって、典型的には100eV以下、最も高い場合でも30keV以下である。
コリジョンセル１３２では、プリカーサイオンと衝突ガス分子が衝突し、衝突誘起解離によってプロダクトイオンが生成される。また、これと並行して、プリカーサイオンに酸素ラジカルが付着して解離しプロダクトイオンが生成される。その結果、コリジョンセル１３２の内部では、プリカーサイオンの衝突誘起解離により生成されたプロダクトイオンとラジカル付着解離により生成されたプロダクトイオンが混在した状態となる。所定時間経過後、2種類の解離によってプリカーサイオンから生成されたプロダクトイオンはコリジョンセル１３２から放出され、分析室１４内の飛行空間において各イオンの質量電荷比に応じた飛行時間で分離されたあとイオン検出器１４５で検出される。
イオン検出器１４５の検出信号は、順次、制御・処理部６に出力され、記憶部６１に保存される。スペクトルデータ生成部６４は、記憶部６１に保存されたイオン検出器１４５の検出信号に基づいてプロダクトイオンスペクトル（MS2スペクトル）データを生成し、そのスペクトルを表示部８の画面に表示する。図３に実際の測定で得られたプロダクトイオンスペクトルを示す。
図３に示すプロダクトイオンスペクトルでは、プリカーサイオンが解離せずそのまま検出されたマスピークと、CIDにより生成されたプロダクトイオンに由来するもう１本の別のマスピークが高強度で現れている。そして、これらのマスピークの間には、図４に拡大して示すような低強度のマスピークが多数、現れている。この解析モードでは、従来CIDとOADの両方を個別に実行しなければ得られなかったプロダクトイオンのマスピークが一度の測定で得られる。その一方、複雑なプロダクトイオンスペクトルのマスピークをそのまま解析し、各マスピークに対応する構造を同定して試料分子の構造を推定することは難しい。
プロダクトイオンスペクトルが作成されると、候補構造作成部６５は、マススペクトル（MS1スペクトル）データからプリカーサイオン（典型的にはプロトン付加イオン）の精密質量（この例では782.569431Da）を求める。ここで、精密質量とは、その誤差が50ppm以下であることをいう。飛行時間型質量分離部を用いることにより、このような精密質量でイオンを測定することができる。そして、このような精密質量を用いることにより、該精密質量から組成式を絞り込むことが可能となる。
上記の通り、この分析例では、試料成分がリン脂質であることが分かっている。リン脂質は、グリセロールに２種の脂肪酸と、リン酸を含む極性基（ヘッドグループ）とが結合した基本構造を有する。また、極性基は、ホスファチジルコリン（PC）、ホスファチジルエタノールアミン（PE）、ホスファチジルグリセロール（PG）、ホスファチジルイノシトール（PI）など、複数種類の既知の構造のうちの１つであることが知られている。
候補構造作成部６５は、プリカーサイオンの精密質量（782.569431Da）と上記リン脂質の基本構造の条件に基づいて試料成分であるリン脂質が採りうる構造を推定し、それぞれに対応する候補構造を作成する。以下、説明を容易にするために2つの候補構造のみについて説明する。図５に候補構造１（PC16:0/20:4）と候補構造２（PC14:0/22:4）の構造式を示す。以下に説明する手順は3つ以上の候補構造が作成される場合についても同様である。
候補構造が作成されると、衝突誘起解離プロダクトイオン推定部６６は、各候補構造について衝突誘起解離によって生じうるプロダクトイオンを推定する。リン脂質の場合、衝突誘起解離によってsn-2位に結合している脂肪酸が脱離しやすいことが知られている（脱離側と残存側のいずれが検出されるかは極性基の種類によって異なる）。上記例では、極性基がいずれもフォスファチジルコリン（PC）であり、PCでは残存側が１価の正イオンとして検出されることが知られている。そこで、2つの候補構造のそれぞれについて、当該箇所の解離によって生成されるプロダクトイオンの質量電荷比を算出する。
また、ラジカル付着解離プロダクトイオン推定部６７は、各候補構造についてラジカル誘起解離によって生じうるプロダクトイオンを推定する。この分析例では酸素ラジカルの付着によりプリカーサイオンを解離させている。特許文献３に記載の通り、酸素ラジカルは炭化水素鎖に含まれる炭素原子間の二重結合の位置でプリカーサイオンを特異的に解離させることが分かっている。そこで、上記2つの候補構造について、それぞれ炭化水素鎖の炭素原子間の二重結合の位置でプリカーサイオンを解離することにより生成されるプロダクトイオンの質量電荷比を算出する。
図６は候補構造１（PC16:0/20:4）について得られた衝突誘起解離プロダクトイオン（上段）とラジカル付着解離プロダクトイオン（下段）の質量電荷比に基づいて作成したシミュレーションプロダクトイオンスペクトルである。また、図７は候補構造２（PC14:0/22:4）について得られた衝突誘起解離プロダクトイオン（上段）とラジカル付着解離プロダクトイオン（下段）の質量電荷比に基づいて作成したシミュレーションプロダクトイオンスペクトルである。
全ての候補構造についてシミュレーションプロダクトイオンスペクトルが作成されると、構造推定部６８は、測定により得られたプロダクトイオンスペクトルを各シミュレーションプロダクトイオンスペクトルと比較する。そして、マスピークの一致度に基づいて、いずれの候補構造のシミュレーションプロダクトイオンスペクトルが実測のプロダクトイオンスペクトルを再現しているかを判定する。その結果、構造推定部６８は、図３及び図４の実測プロダクトイオンスペクトルと、図６（候補構造１）及び図７（候補構造２）のシミュレーションプロダクトイオンスペクトルのマスピークの位置（質量電荷比）の比較により、試料成分が候補構造１（PC16:0/20:4）であると推定する。
なお、図３及び図４に示した実測のプロダクトイオンスペクトルには、シミュレーションプロダクトイオンスペクトルにはないマスピークが含まれている。これらの中には、コリジョンセル１３２の内部でプリカーサイオンが衝突誘起解離し、続けて酸素ラジカル付着解離することにより生成されたプロダクトイオン、又はプリカーサイオンが酸素ラジカル付着解離し、続けて衝突誘起解離することにより生成したプロダクトイオンに由来するマスピークが含まれうる。コリジョンセル１３２においてプリカーサイオンを解離させる質量分析装置１では、従来、プリカーサイオンの解離により生成されるプロダクトイオン（MS2プロダクトイオン）しか測定することができなかったが、本実施例の質量分析装置１を用いることにより、MS2プロダクトイオンが更に解離して生成されるMS3プロダクトイオン相当のイオンを測定することが可能である。
次に、使用者が「スペクトル比較解析モード」を選択した場合の流れを説明する。ここでは、衝突誘起解離及び／又は水素ラジカル付着解離（HAD）によりシガトキシン由来のプリカーサイオンからプロダクトイオンを生成して分析する場合を例に説明する。
スペクトル比較解析モードが選択されると、さらに、単一解離操作の種別を使用者に選択させる画面を表示する。ここでは衝突誘起解離とラジカル付着解離のいずれかを選択することができる。
解離操作の種別が選択されると、まず、解離操作制御部６３は上記同様の手順で各部を動作させてauto-MS/MS分析を実行する。解離操作制御部６３による処理の流れは上記同様である。即ち、試料成分のマススペクトル（MS1スペクトル）データを取得し、予め決められた条件に基づいてMS/MS分析におけるプリカーサイオンを決定する。続いて、コリジョンセル１３２に衝突ガスを導入するとともに、ラジカル生成室５１内に原料ガスを導入してラジカルを生成し、コリジョンセル１３２に導入する。衝突ガスとしては、衝突誘起解離ガスとして一般的に用いられる窒素ガス等の不活性ガスのほか、ラジカルを生成する原料ガスとなる水素ガスや水蒸気を用いる（即ち衝突ガスと原料ガスに同一のガスを用いる）こともできる。なお、上記の例と異なり、ここでは原料ガスとして水素ガスを使用して水素ラジカルを生成する。プリカーサイオンに付与するエネルギーの大きさも上記分析例と同様であり、例えば1eV以上、好ましくは5eV以上、更に好ましくは10eV以上であって、通常は100eV以下、最も高い場合でも30keV以下である。
解離操作制御部６３によりMS/MSスペクトルデータが得られると、次に、使用者により選択された単一解離操作のみ（衝突誘起解離又はラジカル付着解離）を行ってMS/MSスペクトルデータを取得する。
図８に、単一解離操作として衝突誘起解離を選択した場合に得られるプロダクトイオンスペクトルを示す。図８に示すプロダクトイオンスペクトルから分かるように、衝突誘起解離では2種類のプロダクトイオンが高強度で生成されている。
図９に、単一解離操作として水素ラジカル付着解離を選択した場合に得られるプロダクトイオンスペクトルを示す。水素ラジカル付着解離では、分子内に多く含まれるエーテル結合の位置で解離が生じ、多数の種類のプロダクトイオンが生成されていることが分かる。
解離操作制御部６３により得られるプロダクトイオンスペクトルには、図８に示すマスピークと図９に示すマスピークの両方が含まれることになるが、両者が混在した状態で各マスピークに対応するプロダクトイオンがいずれの解離によって生成されたものであるかを特定することは困難である。
スペクトル比較解析モードでは、マスピーク強度比較部６９が、衝突誘起解離とラジカル付着解離の両方により生成されたプロダクトイオンのマスピークと、衝突誘起解離とラジカル付着解離のうちの一方のみにより生成されたプロダクトイオンのマスピークとを比較する。
使用者が単一解離操作として衝突誘起解離を選択した場合、図８に示すプロダクトイオンスペクトルが得られることになる。このプロダクトイオンスペクトルにおけるマスピークは衝突誘起解離により生成したプロダクトイオンのマスピークである。一方、衝突誘起解離と水素ラジカル付着解離の両方により生成されたプロダクトイオンのスペクトルには、水素ラジカル付着解離により生成されるプロダクトイオンのマスピークも現れる。つまり、これらのスペクトルの比較によって、前者に現れず後者に現れるマスピークは水素ラジカル付着解離により生成されたプロダクトイオンのマスピークであることが分かる。
このように、「スペクトル比較解析モード」では、衝突誘起解離とラジカル付着解離の両方により生成されたプロダクトイオンのスペクトルのマスピークと、衝突誘起解離とラジカル付着解離の一方のみにより生成されたプロダクトイオンのスペクトルのマスピークの情報から、衝突誘起解離により生成されたプロダクトイオンに対応するマスピークとラジカル付着解離により生成されたマスピークとを分離し、それぞれから試料分子の部分構造に関する情報を得ることができる。
また、「スペクトル比較解析モード」では、衝突誘起解離とラジカル付着解離の割合を変更した複数の条件でそれぞれプロダクトイオンスペクトルデータを取得し、両者を比較することもできる。例えば、コリジョンセル１３２内に導入する衝突ガスの量を増減したり、プリカーサイオンに付与する衝突エネルギーの大きさを増減したりすることによってラジカル付着解離に対する衝突誘起解離の割合を変更することができる。実施例１のようにコリジョンセル１３２を備えた質量分析装置では、四重極マスフィルタ１３１とコリジョンセル１３２の間の電位差を増減することにより衝突エネルギーの大きさを増減し、後述のイオントラップを備えた質量分析装置ではプリカーサイオンを励振させる大きさを増減することにより衝突エネルギーの大きさを増減することができる。また、コリジョンセル１３２（実施例１）やイオントラップ２２（実施例２）に供給するラジカル量を変更して、衝突誘起解離に対するラジカル付着解離の割合を変更することもできる。
分析例として、衝突誘起解離（CID）と水素ラジカル付着解離（HAD）の割合を、10：0（条件１、CIDのみ）、5：5（条件２、併用）、0：10（条件３、HADのみ）の3通りに変化させてプロダクトイオンスペクトルを取得する例について説明する。説明を容易にするためにここでは3つの条件を使用する場合の例を説明するが、2つであってもよく、あるいは4つ以上であってもよい。なお、一方の解離手法のみを用いる（即ち一方の解離の割合が0である）条件を含むことは必須ではない。
条件１～３により得られるプロダクトイオンスペクトルの一例を図１０に模式的に示す。条件１ではCIDプロダクトイオンのマスピークのみが現れ、条件３ではHADプロダクトイオンのマスピークのみが現れるため、これらに基づいて条件２のプロダクトイオンスペクトルのマスピークをCIDプロダクトイオンとHADプロダクトイオンのいずれかに帰属させることができる。
条件２のプロダクトイオンスペクトルには、条件１のプロダクトイオンスペクトルと条件３のプロダクトイオンスペクトルのいずれにも存在しないマスピークが現れる可能性がある。これは、プリカーサイオンが衝突誘起解離することにより生成されたプロダクトイオンが、更に水素ラジカル付着解離して生成されたプロダクトイオン、又は、プリカーサイオンが水素ラジカル付着解離することにより生成されたプロダクトイオンが、更に衝突誘起解離して生成されたプロダクトイオンであると考えられる。つまり、図３及び図４のプロダクトイオンスペクトルと同様に、スペクトル比較解析モードにおいても、MS2プロダクトイオンが更に解離して生成されるMS3プロダクトイオン相当のイオンを測定することが可能となる。
このように、実施例１の質量分析装置１では、シミュレーション解析モード、及びスペクトル比較解析モードによって、従来に比べて化合物の構造解析に有用な情報をより多く得ることができる。
実施例１ではコリジョンセル１３２においてプリカーサイオンを解離させる構成の質量分析装置１を使用したが、イオントラップを有する質量分析装置を用いることもできる。図１１にイオントラップを備えた、実施例２の質量分析装置２の概略構成を示す。図１の質量分析装置１と共通する構成要素には同一の符号を付して適宜、説明を省略する。
実施例２の質量分析装置２は、真空雰囲気に維持される図示しない真空チャンバの内部に、試料中の成分をイオン化するイオン源２０１と、イオン源２０１で生成されたイオンを高周波電場の作用により捕捉するイオントラップ２２と、イオントラップ２２から射出されたイオンを質量電荷比に応じて分離する飛行時間型質量分離部２４と、分離されたイオンを検出するイオン検出器２４５とを備えている。実施例２の質量分析装置２はさらに、イオントラップ２２内に捕捉されているイオンを解離させるべく、イオントラップ２２内に所定の種類の衝突ガスを供給する衝突ガス供給部４と、イオントラップ２２内に捕捉されたプリカーサイオンにラジカルを照射するためのラジカル供給部５と、制御・処理部６を備えている。制御・処理部６の構成は質量分析装置１と同じであるため図示及び説明を省略する。
イオン源２０１には、実施例１と同様にESIプローブを用いることができる。また、実施例１と同様に、液体クロマトグラフのカラムで成分分離された試料成分を導入する構成を採ることもできる。あるいは、MALDIイオン源を用いることもできる。
イオントラップ２２は、円環状のリング電極２２１と、該リング電極２２１を挟んで対向配置された一対のエンドキャップ電極（入口側エンドキャップ電極２２２、出口側エンドキャップ電極２２４）とを含む三次元イオントラップである。リング電極２２１にはラジカル導入口２２６とラジカル排出口２２７が、入口側エンドキャップ電極２２２にはイオン導入孔２２３が、出口側エンドキャップ電極２２４にはイオン射出孔２２５が、それぞれ形成されている。リング電極２２１、入口側エンドキャップ電極２２２、及び出口側エンドキャップ電極２２４には、所定のタイミングで高周波電圧と直流電圧のいずれか一方又はそれらを合成した電圧が印加される。
ラジカル供給部５は、実施例１の質量分析装置１におけるラジカル供給部５と同様の構成を有している。ただし、質量分析装置２では、輸送管５８を使用せず、スキマーコーン５５を介してノズル５４から直接ラジカルをイオントラップ２２内に供給する。
衝突ガス供給部４は、実施例１の質量分析装置１における衝突ガス供給部４と同様の構成を有している。
実施例２の質量分析装置２においても、実施例１の質量分析装置１と同様のシミュレーション解析モード及びスペクトル比較解析モードを実行することができる。実施例２の質量分析装置２では、さらに実施例１と異なる手順でスペクトル比較解析モードの測定を実行することが可能である。この手順について、以下、説明する。
シミュレーション解析モードにおいて、使用者が単一解離操作の種別を選択すると、解離操作制御部６３は各部を動作させてauto-MS/MS分析を実行する。ここでは、単一解離操作として衝突誘起解離が選択された場合を説明する。
解離操作制御部６３は、イオン源２０１で生成されたイオンをイオントラップ２２に捕捉し、捕捉したイオンの一部を放出して飛行時間型質量分離部２４で質量分離したあとイオン検出器２４５で検出する。イオン検出器２４５による検出信号は順次、制御・処理部６に出力されて記憶部６１に保存される。スペクトルデータ生成部６４は、イオン検出器２４５からの出力信号に基づいてマススペクトル（MS1スペクトル）データを生成する。
MSスペクトルデータが得られると、解離操作制御部６３は、予め決められた条件に基づいて、MS/MS分析におけるプリカーサイオンを決定する。ここでは、例えばマススペクトルデータにおいて最も強度が高いマスピークに対応するイオンをプリカーサイオンに決定する。
MS/MS分析におけるプリカーサイオンが決定すると、イオントラップ２２の各電極に所定の直流電圧及び高周波電圧を印加してプリカーサイオン以外のイオンをイオントラップ２２の外部に放出する。これにより、イオントラップ２２の内部にプリカーサイオンのみを捕捉する。
プリカーサイオンの選別が完了すると、解離操作制御部６３はバルブ４３を開放し、衝突ガス源４１から衝突ガス（例えば窒素ガス）をイオントラップ２２内に導入する。そして、イオントラップ２２の各電極に所定の直流電圧及び高周波電圧を印加してプリカーサイオンを励振する。この励振によりプリカーサイオンに衝突エネルギーが付与される。衝突エネルギーの大きさは、実施例１の質量分析装置１と同様に、例えば1eV以上、好ましくは5eV以上、更に好ましくは10eV以上であって、通常は100eV以下、最も高い場合でも30keV以下である。
イオントラップ２２の内部で励振されたプリカーサイオンは衝突ガスとの衝突により衝突誘起解離し、それによりプロダクトイオンが生成される。所定時間、プリカーサイオンを励振して衝突誘起解離を生じさせた後、生成されたプリカーサイオンの一部をイオントラップ２２から飛行時間型質量分離部２４に放出し、質量分離してイオン検出器２４５で検出する。イオン検出器２４５による検出信号は順次、制御・処理部６に出力されて記憶部６１に保存される。スペクトルデータ生成部６４は、イオン検出器２４５からの出力信号に基づいてプロダクトイオンスペクトル（MS2スペクトル）データを生成する。
イオントラップ２２で生成されたプロダクトイオンの一部を放出したあと、解離操作制御部６３は、バルブ５６１を開放することによりラジカル生成室５１にガス供給源５２から原料ガスを供給し、マイクロ波供給源５３１からマイクロ波を供給することによりラジカル生成室５１の内部でラジカルを生成する。ラジカル生成室５１で生成されたラジカルはスキマーコーン５５を通過してイオントラップ２２内に供給される。
このとき、イオントラップ２２内には、プリカーサイオンの衝突誘起解離により生成されたプロダクトイオンが捕捉されている。イオントラップ２２に供給されたラジカルは、これらのプロダクトイオンに付着して更なる解離（ラジカル付着解離）を生じさせる。これにより、MS3相当のプロダクトイオンが生成される。
イオントラップ２２に所定時間、ラジカルを供給すると、解離操作制御部６３は、イオントラップ２２内のイオン（未解離のプリカーサイオン、衝突誘起解離したMS2プロダクトイオン、及び衝突誘起解離及びラジカル付着解離したMS3相当のプロダクトイオン）を放出し、飛行時間型質量分離部２４において質量分離し、イオン検出器２４５で検出する。イオン検出器２４５による検出信号は順次、制御・処理部６に出力されて記憶部６１に保存される。スペクトルデータ生成部６４は、イオン検出器２４５からの出力信号に基づいてプロダクトイオンスペクトル（MS3スペクトル）データを生成する。
上記一連の処理により、MS2スペクトルデータとMS3スペクトルデータが得られる。これらのスペクトルデータからは、例えば図１０の上段に示したマススペクトルと中段に示したマススペクトルを得ることができる。従って、実施例１の質量分析装置１と同様に、これらのスペクトルに現れたマスピークの比較により試料成分の分子構造に関する情報を得ることができる。
実施例１の質量分析装置１では、MS1スペクトルデータ、MS2スペクトルデータ、及びMS3スペクトルデータを取得するために、それぞれ液体試料を導入し、個別に質量分析を行う必要があったのに対し、実施例２の質量分析装置２では、一連の測定でこれら３種のマススペクトルデータを得ることができる。
上記の実施例１及び実施例２はいずれも一例であって、本発明の趣旨に沿って適宜に変更することができる。上記実施例１及び２では、シミュレーション解析モードとスペクトル比較解析モードの両方を実行可能とするために、イオンの精密質量を測定することが可能な質量分離部を使用したが、スペクトル比較解析モードのみを行う場合は精密質量を測定する必要がない。従って、例えば三連四重極型の質量分析装置や、イオントラップのみを質量分離部として使用する質量分析装置を用いることができる。また、イオンの精密質量を測定可能な質量分析装置としては、上記実施例１及び２に記載のもののほか、フーリエ変換イオンサイクロトロン共鳴質量分析計（FT-ICR）や電場型フーリエ変換質量分析計（Orbitrap）などを用いることもできる。
また、上記実施例では水素ラジカルや酸素ラジカルによりラジカル付着解離を生じさせる場合を説明したが、目的とする解離の形態に応じて他の種類のラジカル（例えばヒドロキシラジカルや窒素ラジカル）を用いてラジカル付着解離を生じさせることもできる。
［態様］
上述した複数の例示的な実施形態は、以下の態様の具体例であることが当業者により理解される。
上述した複数の例示的な実施形態は、以下の態様の具体例であることが当業者により理解される。
（第１項）
一態様に係る質量分析方法は、
試料分子由来のプリカーサイオンを衝突誘起解離及びラジカル付着解離させることによりプロダクトイオンを生成し、
前記プロダクトイオンを質量分離して検出することによりプロダクトイオンスペクトルデータを取得する
ものである。
一態様に係る質量分析方法は、
試料分子由来のプリカーサイオンを衝突誘起解離及びラジカル付着解離させることによりプロダクトイオンを生成し、
前記プロダクトイオンを質量分離して検出することによりプロダクトイオンスペクトルデータを取得する
ものである。
（第２項）
また、別の一態様に係る質量分析装置は、
試料分子由来のプリカーサイオンが導入される反応室と、
前記反応室に衝突ガスを供給する衝突ガス供給部と、
前記反応室に水素ラジカル、酸素ラジカル、窒素ラジカル、及びヒドロキシルラジカルのうちのいずれかを供給するラジカル供給部と、
前記衝突ガス供給部及び前記ラジカル供給部の動作を制御することにより、前記反応室の内部で、前記プリカーサイオンを衝突誘起解離及びラジカル付着解離させてプロダクトイオンを生成する解離操作制御部と、
前記反応室から放出されるイオンを質量分離して検出するイオン検出部と、
前記イオン検出部による検出結果に基づいてスペクトルデータを生成するスペクトルデータ生成部と
を備える。
また、別の一態様に係る質量分析装置は、
試料分子由来のプリカーサイオンが導入される反応室と、
前記反応室に衝突ガスを供給する衝突ガス供給部と、
前記反応室に水素ラジカル、酸素ラジカル、窒素ラジカル、及びヒドロキシルラジカルのうちのいずれかを供給するラジカル供給部と、
前記衝突ガス供給部及び前記ラジカル供給部の動作を制御することにより、前記反応室の内部で、前記プリカーサイオンを衝突誘起解離及びラジカル付着解離させてプロダクトイオンを生成する解離操作制御部と、
前記反応室から放出されるイオンを質量分離して検出するイオン検出部と、
前記イオン検出部による検出結果に基づいてスペクトルデータを生成するスペクトルデータ生成部と
を備える。
第１項に記載の質量分析方法及び第２項に記載の質量分析装置では、試料分子由来のプリカーサイオンに対して、衝突ガス分子との衝突により解離させる衝突誘起解離と、ラジカルの付着により解離させるラジカル付着解離の両方を実行する。ラジカル付着解離では、目的とする解離の態様に応じて、例えば水素ラジカル、酸素ラジカル、窒素ラジカル、及びヒドロキシルラジカルのうちのいずれかをプリカーサイオンに付着させる。ラジカル付着解離において使用するラジカル種は1種類に限らず、複数種類であってもよい。例えば原料ガスとして水蒸気を用いると酸素ラジカルとヒドロキシルラジカルの両方を同時に生成してプリカーサイオンに付着させることができる。第１項に記載の質量分析方法及び第２項に記載の質量分析装置では、プリカーサイオンの衝突誘起解離により生成されるプロダクトイオンとプリカーサイオンのラジカル付着解離により生成されるプロダクトイオンの両方が検出される。例えば、試料分子がリン脂質である場合、前者のプロダクトイオンからはヘッドグループの構造の推定に有用な情報が得られ、後者のプロダクトイオンからは脂肪酸の構造の推定に有用な情報が得られる。このように、第１項に記載の質量分析方法及び第２項に記載の質量分析装置では、衝突誘起解離とラジカル付着解離の両方を行うため、一度の質量分析で化合物の構造解析に有用な情報をより多く得ることができる。
また、第１項に記載の質量分析方法及び第２項に記載の質量分析装置では、上記のプロダクトイオンに加えて、プリカーサイオンの衝突誘起解離により生成されたプロダクトイオンがさらにラジカル付着解離して生成されるプロダクトイオン、及びプリカーサイオンのラジカル付着解離により生成されたプロダクトイオンがさらに衝突誘起解離して生成されるプロダクトイオンも検出されうる。これらのプロダクトイオンはいずれも、プリカーサイオンが2回解離して生成されるプロダクトイオンである。例えば、三連四重極型質量分析装置のように反応室としてコリジョンセルを使用する質量分析装置では、従来、プリカーサイオンを一度解離させてプロダクトイオンを生成し検出するMS/MS分析のみが実行可能とされていたが、第１項に記載の質量分析方法又は第２項に記載の質量分析装置を用いることにより、疑似的にMS3分析を実行することが可能になる。
（第３項）
第２項に記載の質量分析装置において、
前記ラジカル供給部が、水素ガス、酸素ガス、水蒸気、過酸化水素ガス、窒素ガス、及び空気のいずれかからラジカルを生成する。
第２項に記載の質量分析装置において、
前記ラジカル供給部が、水素ガス、酸素ガス、水蒸気、過酸化水素ガス、窒素ガス、及び空気のいずれかからラジカルを生成する。
第３項に記載の質量分析装置では、入手が容易な原料ガスを用いて簡便にラジカルを生成することができる。
（第４項）
第２項又は第３項に記載の質量分析装置において、
前記イオン検出部がイオンの質量を50ppm以上の精度で測定するものであり、
前記解離操作制御部が、前記試料分子から生成されたイオンを開裂させることなく前記イオン検出部で検出した強度に基づいてプリカーサイオンを決定し、
さらに、
前記プリカーサイオンの質量に基づいて、前記試料分子の組成式を推定し、該組成式に基づいて前記試料分子の候補構造を作成する候補構造作成部と、
前記候補構造の衝突誘起解離により生じるプロダクトイオンを推定する衝突誘起解離プロダクトイオン推定部と、
前記候補構造のラジカル付着解離により生じるプロダクトイオンを推定するラジカル付着解離プロダクトイオン推定部と、
前記衝突誘起解離プロダクトイオン推定部により推定されたプロダクトイオンの質量電荷比及び前記ラジカル付着解離プロダクトイオン推定部により推定されたプロダクトイオンの質量電荷比を前記プロダクトイオンスペクトルデータに含まれるマスピークの質量電荷比と比較することにより、前記試料分子の構造を推定する構造推定部と
を備える。
第２項又は第３項に記載の質量分析装置において、
前記イオン検出部がイオンの質量を50ppm以上の精度で測定するものであり、
前記解離操作制御部が、前記試料分子から生成されたイオンを開裂させることなく前記イオン検出部で検出した強度に基づいてプリカーサイオンを決定し、
さらに、
前記プリカーサイオンの質量に基づいて、前記試料分子の組成式を推定し、該組成式に基づいて前記試料分子の候補構造を作成する候補構造作成部と、
前記候補構造の衝突誘起解離により生じるプロダクトイオンを推定する衝突誘起解離プロダクトイオン推定部と、
前記候補構造のラジカル付着解離により生じるプロダクトイオンを推定するラジカル付着解離プロダクトイオン推定部と、
前記衝突誘起解離プロダクトイオン推定部により推定されたプロダクトイオンの質量電荷比及び前記ラジカル付着解離プロダクトイオン推定部により推定されたプロダクトイオンの質量電荷比を前記プロダクトイオンスペクトルデータに含まれるマスピークの質量電荷比と比較することにより、前記試料分子の構造を推定する構造推定部と
を備える。
第４項に記載の質量分析装置では、50ppm以上の高い精度でプリカーサイオンの質量を求めることにより試料分子の組成式を絞り込む。そして、該組成式に対応する候補構造について衝突誘起解離とラジカル付着解離のそれぞれにより生じうるプロダクトイオンを推定する。そして、実際の測定で取得したプロダクトイオンのマスピークと、シミュレーションにより作成した各候補構造に対応するプロダクトイオンスペクトルのマスピークを比較することにより、試料成分が候補構造のいずれであるかを推定することができる。
（第５項）
第２項又は第３項に記載の質量分析装置において、
前記解離操作制御部が、さらに、前記反応室の内部で、前記衝突誘起解離と前記ラジカル付着解離のうちの一方の解離操作のみにより前記プリカーサイオンを解離させてプロダクトイオンを生成するものであり、
さらに、
前記一方の解離操作により生成されたプロダクトイオンの検出結果に基づいて作成されたプロダクトイオンスペクトルデータに含まれるマスピークの強度と、前記衝突誘起解離及びラジカル付着解離により生成されたプロダクトイオンの検出結果に基づいて作成されたプロダクトイオンスペクトルデータに含まれるマスピークの強度とを比較するマスピーク強度比較部
を備える。
第２項又は第３項に記載の質量分析装置において、
前記解離操作制御部が、さらに、前記反応室の内部で、前記衝突誘起解離と前記ラジカル付着解離のうちの一方の解離操作のみにより前記プリカーサイオンを解離させてプロダクトイオンを生成するものであり、
さらに、
前記一方の解離操作により生成されたプロダクトイオンの検出結果に基づいて作成されたプロダクトイオンスペクトルデータに含まれるマスピークの強度と、前記衝突誘起解離及びラジカル付着解離により生成されたプロダクトイオンの検出結果に基づいて作成されたプロダクトイオンスペクトルデータに含まれるマスピークの強度とを比較するマスピーク強度比較部
を備える。
第５項に記載の質量分析装置では、衝突誘起解離とラジカル付着解離のうちの一方の解離操作のみにより生成したプロダクトイオンのスペクトルデータと、衝突誘起解離とラジカル付着解離の両方により生成したプロダクトイオンのスペクトルデータを比較することで、後者のプロダクトイオンのスペクトルに現れるマスピークがいずれの解離に起因するものであるかを推定することができる。
（第６項）
第２項から第５項のいずれかに記載の質量分析装置において、
前記解離操作制御部が、前記衝突誘起解離と前記ラジカル付着解離を同時に実行する。
第２項から第５項のいずれかに記載の質量分析装置において、
前記解離操作制御部が、前記衝突誘起解離と前記ラジカル付着解離を同時に実行する。
第６項に記載の質量分析装置では、プリカーサイオンの衝突誘起解離により生成されたプロダクトイオンが更にラジカル付着解離して生成されたプロダクトイオン、あるいは、プリカーサイオンのラジカル付着解離により生成されたプロダクトイオンが更に衝突誘起解離して生成されたプロダクトイオンを測定することができる。つまり、一度の質量分析によりMS3相当のプロダクトイオンを測定することができる。
（第７項）
第６項に記載の質量分析装置において、
前記反応室がコリジョンセルである。
第６項に記載の質量分析装置において、
前記反応室がコリジョンセルである。
第６項に記載の質量分析装置を、反応室としてコリジョンセルを使用する第７項に記載の質量分析装置とすることで、従来得られなかったようなMS3相当のプロダクトイオンスペクトルを取得することができる。
（第８項）
第２項から第５項のいずれかに記載の質量分析装置において、
前記解離操作制御部が、前記衝突誘起解離と前記ラジカル付着解離のうちの一方を実行し、続いて他方を実行することにより前記プリカーサイオンを衝突誘起解離及びラジカル付着解離させる。
第２項から第５項のいずれかに記載の質量分析装置において、
前記解離操作制御部が、前記衝突誘起解離と前記ラジカル付着解離のうちの一方を実行し、続いて他方を実行することにより前記プリカーサイオンを衝突誘起解離及びラジカル付着解離させる。
第８項に記載の質量分析装置では、衝突誘起解離とラジカル付着解離のうちの一方を実行し、続いて他方を実行する。それぞれの解離操作を行った時点でプロダクトイオンの強度を測定することにより、衝突誘起解離とラジカル付着解離に起因するマスピークを簡便に帰属させることができる。
（第９項）
第２項から第５項のいずれかに記載の質量分析装置において、
前記解離操作制御部が、前記衝突誘起解離と前記ラジカル付着解離の相対的な強度が異なる複数の条件で前記プリカーサイオンからプロダクトイオンを生成し、
前記スペクトルデータ生成部が、前記複数の条件のそれぞれについてプロダクトイオンスペクトルデータを生成する。
第２項から第５項のいずれかに記載の質量分析装置において、
前記解離操作制御部が、前記衝突誘起解離と前記ラジカル付着解離の相対的な強度が異なる複数の条件で前記プリカーサイオンからプロダクトイオンを生成し、
前記スペクトルデータ生成部が、前記複数の条件のそれぞれについてプロダクトイオンスペクトルデータを生成する。
第９項に記載の質量分析装置では、前記衝突誘起解離と前記ラジカル付着解離の相対的な強度が異なる複数の条件で取得したプロダクトイオンスペクトルのマスピークの強度を比較することで、衝突誘起解離により生成されたプロダクトイオンに対応するマスピーク、ラジカル付着解離により生成されたプロダクトイオンに対応するマスピーク、及び衝突誘起解離とラジカル付着解離の２段階の解離により生成されたプロダクトイオンに対応するマスピークをそれぞれ同定することができる。
（第１０項）
第２項から第６項、第８項、及び第９項のいずれかに記載の質量分析装置において、
前記反応室がイオントラップである。
第２項から第６項、第８項、及び第９項のいずれかに記載の質量分析装置において、
前記反応室がイオントラップである。
第９項に記載の構成は、第１０項に記載のように、イオントラップを反応室として備えた質量分析装置において実施することができる。
１、２…質量分析装置
１０…イオン化室
１０１…ESIプローブ
１１…第１中間真空室
１１１…イオンレンズ
１２…第２中間真空室
１２１…イオンガイド
１３…第３中間真空室
１３１…四重極マスフィルタ
１３２…コリジョンセル
１３３…多重極イオンガイド
１３４…イオンガイド
１４…分析室
１４１…イオン輸送電極
１４２…直交加速電極
１４３…加速電極
１４４…リフレクトロン電極
１４５…イオン検出器
１４６…フライトチューブ
２０１…イオン源
２２…イオントラップ
２２１…リング電極
２２２…入口側エンドキャップ電極
２２４…出口側エンドキャップ電極
２４…飛行時間型質量分離部
２４５…イオン検出器
４…衝突ガス供給部
４１…衝突ガス源
４２…ガス導入流路
４３…バルブ
５…ラジカル供給部
５１…ラジカル生成室
５２…ガス供給源
５３…高周波電源
５４…ノズル
５５…スキマーコーン
５６…原料ガス源
５６１…バルブ
５７…真空ポンプ
５８…輸送管
５８１…ヘッド部
６…制御・処理部
６１…記憶部
６２…分析モード選択部
６３…解離操作制御部
６４…スペクトルデータ生成部
６５…候補構造作成部
６６…衝突誘起解離プロダクトイオン推定部
６７…ラジカル付着解離プロダクトイオン推定部
６８…構造推定部
６９…マスピーク強度比較部
７…入力部
８…表示部
１０…イオン化室
１０１…ESIプローブ
１１…第１中間真空室
１１１…イオンレンズ
１２…第２中間真空室
１２１…イオンガイド
１３…第３中間真空室
１３１…四重極マスフィルタ
１３２…コリジョンセル
１３３…多重極イオンガイド
１３４…イオンガイド
１４…分析室
１４１…イオン輸送電極
１４２…直交加速電極
１４３…加速電極
１４４…リフレクトロン電極
１４５…イオン検出器
１４６…フライトチューブ
２０１…イオン源
２２…イオントラップ
２２１…リング電極
２２２…入口側エンドキャップ電極
２２４…出口側エンドキャップ電極
２４…飛行時間型質量分離部
２４５…イオン検出器
４…衝突ガス供給部
４１…衝突ガス源
４２…ガス導入流路
４３…バルブ
５…ラジカル供給部
５１…ラジカル生成室
５２…ガス供給源
５３…高周波電源
５４…ノズル
５５…スキマーコーン
５６…原料ガス源
５６１…バルブ
５７…真空ポンプ
５８…輸送管
５８１…ヘッド部
６…制御・処理部
６１…記憶部
６２…分析モード選択部
６３…解離操作制御部
６４…スペクトルデータ生成部
６５…候補構造作成部
６６…衝突誘起解離プロダクトイオン推定部
６７…ラジカル付着解離プロダクトイオン推定部
６８…構造推定部
６９…マスピーク強度比較部
７…入力部
８…表示部
Claims (6)
- 試料分子由来のプリカーサイオンに対する衝突誘起解離操作とラジカル付着解離操作を同時に実行してプロダクトイオンを生成する第１操作と、前記プリカーサイオンに対する前記衝突誘起解離操作のみを実行して衝突誘起解離－ＭＳ ２ プロダクトイオンを生成する第２操作と、前記プリカーサイオンに対する前記ラジカル付着解離操作のみを実行してラジカル付着解離－ＭＳ ２ プロダクトイオンを生成する第３操作とを実行し、該第１操作、該第２操作、及び該第３操作のそれぞれの実行中に前記プロダクトイオンを質量分離して検出することによりそれぞれのプロダクトイオンスペクトルデータを取得し、
前記第１操作により得られたプロダクトイオンスペクトルデータに含まれるマスピークのうち、前記第２操作により得られたスペクトルデータにも共通して現れるマスピークを衝突誘起解離－ＭＳ ２ プロダクトイオンに帰属させ、前記第３操作により得られたプロダクトイオンスペクトルデータにも共通して現れるマスピークをラジカル付着解離－ＭＳ ２ プロダクトイオンに帰属させ、前記第２操作により得られたプロダクトイオンスペクトルデータと前記第３操作により得られたプロダクトイオンスペクトルデータのいずれにも現れないマスピークを衝突誘起解離及びラジカル付着解離－ＭＳ ３ プロダクトイオンに帰属させる
ものである、質量分析方法。 - 試料分子由来のプリカーサイオンが導入される反応室と、
前記反応室に衝突ガスを供給する衝突ガス供給部と、
前記反応室に水素ラジカル、酸素ラジカル、窒素ラジカル、及びヒドロキシルラジカルのうちのいずれかを供給するラジカル供給部と、
前記衝突ガス供給部及び前記ラジカル供給部の動作を制御することにより、前記反応室の内部で、前記プリカーサイオンに対する衝突誘起解離操作とラジカル付着解離操作を同時に実行してプロダクトイオンを生成する第１操作と、前記プリカーサイオンに対する前記衝突誘起解離操作のみを実行して衝突誘起解離－ＭＳ ２ プロダクトイオンを生成する第２操作と、前記プリカーサイオンに対する前記ラジカル付着解離操作のみを実行してラジカル付着解離－ＭＳ ２ プロダクトイオンを生成する第３操作とを実行する解離操作制御部と、
前記第１操作、前記第２操作、及び前記第３操作のそれぞれの実行中に前記反応室から放出されるイオンを質量分離して検出するイオン検出部と、
前記第１操作、前記第２操作、及び前記第３操作のそれぞれについて、前記イオン検出部による検出結果に基づいてスペクトルデータを生成するスペクトルデータ生成部と、
前記第１操作により得られたスペクトルデータに含まれるマスピークのうち、前記第２操作により得られたスペクトルデータにも共通して現れるマスピークを衝突誘起解離－ＭＳ ２ プロダクトイオンに帰属させ、前記第３操作により得られたスペクトルデータにも共通して現れるマスピークをラジカル付着解離－ＭＳ ２ プロダクトイオンに帰属させ、前記第２操作により得られたスペクトルデータと前記第３操作により得られたスペクトルデータのいずれにも現れないマスピークを衝突誘起解離及びラジカル付着解離－ＭＳ ３ プロダクトイオンに帰属させるマスピーク比較部と
を備える質量分析装置。 - 前記ラジカル供給部が、水素ガス、酸素ガス、水蒸気、過酸化水素ガス、窒素ガス、及び空気のいずれかからラジカルを生成する、請求項２に記載の質量分析装置。
- 前記反応室がコリジョンセルである、請求項２に記載の質量分析装置。
- 前記解離操作制御部が、前記衝突誘起解離と前記ラジカル付着解離の相対的な強度が異なる複数の条件で前記プリカーサイオンからプロダクトイオンを生成し、
前記スペクトルデータ生成部が、前記複数の条件のそれぞれについてプロダクトイオンスペクトルデータを生成する、請求項２に記載の質量分析装置。 - 前記反応室がイオントラップである、請求項２に記載の質量分析装置。
Applications Claiming Priority (3)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2020164534 | 2020-09-30 | ||
| JP2020164534 | 2020-09-30 | ||
| PCT/JP2021/028341 WO2022070584A1 (ja) | 2020-09-30 | 2021-07-30 | 質量分析方法及び質量分析装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPWO2022070584A1 JPWO2022070584A1 (ja) | 2022-04-07 |
| JP7435812B2 true JP7435812B2 (ja) | 2024-02-21 |
Family
ID=80951301
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2022553500A Active JP7435812B2 (ja) | 2020-09-30 | 2021-07-30 | 質量分析方法及び質量分析装置 |
Country Status (5)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US20240030016A1 (ja) |
| EP (1) | EP4224158A4 (ja) |
| JP (1) | JP7435812B2 (ja) |
| CN (1) | CN116097090A (ja) |
| WO (1) | WO2022070584A1 (ja) |
Citations (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2015133259A1 (ja) | 2014-03-04 | 2015-09-11 | 株式会社島津製作所 | イオン分析装置 |
| WO2017126006A1 (ja) | 2016-01-18 | 2017-07-27 | 株式会社島津製作所 | イオントラップ質量分析装置及び該装置を用いた質量分析方法 |
| JP2019009058A (ja) | 2017-06-28 | 2019-01-17 | 株式会社島津製作所 | 質量分析を用いた脂質解析方法及び質量分析装置 |
| WO2019155725A1 (ja) | 2018-02-06 | 2019-08-15 | 株式会社島津製作所 | 質量分析方法及び質量分析装置 |
Family Cites Families (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US9594074B2 (en) * | 2012-12-26 | 2017-03-14 | Quest Diagnostics Investments Incorporated | C peptide detection by mass spectrometry |
| JP6713646B2 (ja) | 2017-04-04 | 2020-06-24 | 株式会社島津製作所 | イオン分析装置 |
-
2021
- 2021-07-30 US US18/028,931 patent/US20240030016A1/en active Pending
- 2021-07-30 CN CN202180062144.8A patent/CN116097090A/zh active Pending
- 2021-07-30 JP JP2022553500A patent/JP7435812B2/ja active Active
- 2021-07-30 WO PCT/JP2021/028341 patent/WO2022070584A1/ja active Application Filing
- 2021-07-30 EP EP21874887.9A patent/EP4224158A4/en active Pending
Patent Citations (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2015133259A1 (ja) | 2014-03-04 | 2015-09-11 | 株式会社島津製作所 | イオン分析装置 |
| WO2017126006A1 (ja) | 2016-01-18 | 2017-07-27 | 株式会社島津製作所 | イオントラップ質量分析装置及び該装置を用いた質量分析方法 |
| JP2019009058A (ja) | 2017-06-28 | 2019-01-17 | 株式会社島津製作所 | 質量分析を用いた脂質解析方法及び質量分析装置 |
| WO2019155725A1 (ja) | 2018-02-06 | 2019-08-15 | 株式会社島津製作所 | 質量分析方法及び質量分析装置 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| WO2022070584A1 (ja) | 2022-04-07 |
| EP4224158A4 (en) | 2024-04-24 |
| US20240030016A1 (en) | 2024-01-25 |
| EP4224158A1 (en) | 2023-08-09 |
| CN116097090A (zh) | 2023-05-09 |
| JPWO2022070584A1 (ja) | 2022-04-07 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| US7170051B2 (en) | Method and apparatus for ion fragmentation in mass spectrometry | |
| US9048074B2 (en) | Multinotch isolation for MS3 mass analysis | |
| US6924478B1 (en) | Tandem mass spectrometry method | |
| US11075067B2 (en) | Ion analysis device and ion dissociation method | |
| US7397029B2 (en) | Method and apparatus for ion fragmentation in mass spectrometry | |
| US6781117B1 (en) | Efficient direct current collision and reaction cell | |
| CA2656565A1 (en) | Neutral/ion reactor in adiabatic supersonic gas flow for ion mobility time-of-flight mass spectrometry | |
| US20050189487A1 (en) | Mass spectrometer | |
| Wells et al. | “Dueling” ESI: Instrumentation to study ion/ion reactions of electrospray-generated cations and anions | |
| JP5362009B2 (ja) | 質量分析方法 | |
| JP7435812B2 (ja) | 質量分析方法及び質量分析装置 | |
| WO2020152806A1 (ja) | イオン分析装置 | |
| US9123514B2 (en) | In situ generation of ozone for mass spectrometers | |
| RU2754084C1 (ru) | Способ масс-спектрометрического определения компонентного состава газовой смеси | |
| JP7259985B2 (ja) | 質量分析方法及び質量分析装置 | |
| US20210166928A1 (en) | Mass spectrometry data analysis device, mass spectrometry device, method for analyzing data obtained by mass spectrometry and analysis program | |
| US11908671B2 (en) | Ion analyzer | |
| US20240038515A1 (en) | Mass Spectrometer and Mass Spectrometry Method | |
| EP4317961A1 (en) | Mass spectrometry device and mass spectrometry method | |
| JP7142867B2 (ja) | イオン分析装置 | |
| WO2022201705A1 (ja) | 質量分析装置及び質量分析方法 | |
| Le Vot et al. | Implementation of a Penning ionization source on a FTICR instrument with ion funnel optics |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20221122 |
|
| A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20230808 |
|
| A601 | Written request for extension of time |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A601 Effective date: 20231004 |
|
| A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20231130 |
|
| TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
| A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20240109 |
|
| A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20240122 |
|
| R151 | Written notification of patent or utility model registration |
Ref document number: 7435812 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R151 |