CN114008573A - 位置检测用传感器及电子设备 - Google Patents

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Abstract

使得在位置检测用传感器的背侧能够设置需要来自表侧的访问的部件。位置检测用传感器在绝缘基板上配设多个位置检测用电极，配设有该多个位置检测用电极的区域被设为检测位置指示体的指示位置的有效检测区域。在绝缘基板中，在有效检测区域内形成有规定的形状的贯通孔。位置检测用电极在跨过贯通孔的部分处以沿着贯通孔的形状绕过该贯通孔的方式配设。

Description

位置检测用传感器及电子设备
技术领域
本发明涉及位置检测用传感器及使用了位置检测用传感器的电子设备。
背景技术
例如在便携型的电子设备中，作为操作输入单元而使用了位置检测用传感器，构成为能够将壳体的表面面板设为输入面而检测由电子笔等指示体指示的位置。在这种便携型的电子设备中，已知有在透明的表面面板的正下方配置例如由LCD(Liquid CrystalDisplay；液晶显示器)构成的显示装置且在该显示装置的背侧以相对于该显示装置的显示画面重叠的方式配设例如电磁感应方式的位置检测用传感器而构成的电子设备(例如参照专利文献1)。
最近，通过将直到便携型的电子设备的壳体的外周端的区域设为显示画面的显示区域，即使是小型的壳体，也能够实现大的显示画面。并且，位置检测用传感器也构成为将显示画面的显示区域的大致全域设为检测指示体的指示位置的有效区域。在该情况下，与位置检测用传感器的有效区域对应的显示画面的全域构成电子笔等指示体的操作输入面。
现有技术文献
专利文献
专利文献1：日本特开2015-38714号公报
发明内容
发明所要解决的课题
在如上所述的便携型的电子设备的情况下，电子电路部通常配设于位置检测用传感器的更背侧的空间。
近年来，便携型的电子设备的高功能化进展，在电子电路部搭载各种部件。并且，在这些部件中，也使用从显示画面侧观察应该不被遮蔽而光学地露出的部件(例如LED(Light Emitting Diode：发光二极管)等显示元件)、读取从显示画面侧输入的生物信息等信息的部件(例如读取手指的指纹的指纹传感器等)。
以往，这样的部件配设于电子设备的壳体的表面面板的下方端、上方端等端区域，并且位置检测用传感器、LCD等的显示画面以不遮挡该部件的上部的方式避开配设。因而，显示画面的大小变小，并且位置检测用传感器的有效区域也与此配合而变小。
但是，最近，也出现了即使设置于作为显示装置的例子的LCD的背侧也不被LCD妨碍而相对于来自LCD的表面侧的操作、访问的功能有效地发挥的部件。例如作为指纹传感器，已知有超声波式的指纹传感器，在使用了该超声波式的指纹传感器的情况下，即使设置于LCD的背侧，也能够不被LCD影响而检测放置于表面面板的手指的指纹。因而，在使用该超声波式的指纹传感器的情况下，能够在显示装置的显示画面内的区域配置指纹传感器，LCD的显示画面中的图像显示在配设于该指纹传感器的区域中也能够保持原样。
然而，在LCD的背侧配设如上所述的位置检测用传感器而能够实现电子笔等指示体的指示输入的电子设备的情况下，在LCD的背侧配设位置检测用传感器，进一步在位置检测用传感器的背侧配设供指纹传感器等配设的电子电路。在这样的结构的电子设备的情况下，因位置检测用传感器的存在，即使是超声波式的指纹传感器，也可能会无法检测放置于表面面板的手指的指纹。
尤其是，在电磁感应方式的位置检测用传感器的情况下，除了传感器基板之外，还设置有磁屏蔽件、电磁屏蔽件，因此，因它们妨碍，在设置于位置检测用传感器的背侧的电子电路配设的部件的相对于来自表面面板侧的操作、访问的功能可能会不有效地发挥。
考虑这一点，以往，即使是能够在LCD的显示画面的显示区域内的背侧配设的部件，位置检测用传感器也以不覆盖该部件的上部的方式配设。因而，位置检测用传感器的有效检测区域需要比LCD的显示区域小，或者需要与以往同样地构成为将所述部件配设于不与LCD、位置检测用传感器重叠的区域。
本发明的目的在于提供能够解决以上的问题点的位置检测用传感器。
用于解决课题的手段
为了解决上述的课题，提供一种位置检测用传感器，在绝缘基板上配设多个位置检测用电极，配设有所述多个位置检测用电极的区域被设为检测位置指示体的指示位置的有效检测区域，其特征在于，
在所述绝缘基板中，在所述有效检测区域内形成有规定的形状的贯通孔，
所述位置检测用电极在跨过所述贯通孔的部分处，以沿着所述贯通孔的形状绕过所述贯通孔的方式配设。
上述的结构的位置检测用传感器在有效检测区域内形成有规定的形状的贯通孔。并且，在位置检测用传感器中，位置检测用电极以沿着贯通孔的形状绕过贯通孔的方式形成，因此位置检测用传感器的有效检测区域构成为也包括贯通孔的部分。
因此，在位置检测用传感器的有效检测区域的背侧配设会因被位置检测用传感器遮蔽而产生阻碍的部件的情况下，通过将该部件配置于与贯通孔的位置对应的位置，能够丝毫不产生阻碍地使其发挥功能。
附图说明
图1是示出具备本发明的位置检测用传感器及位置检测电路的电子设备的例子的图。
图2是用于说明图1的例子的电子设备的结构例的分解立体图。
图3是用于说明本发明的位置检测用传感器及位置检测电路的实施方式的电路结构例的图。
图4是用于说明本发明的位置检测用传感器的第一实施方式的要部的图。
图5是用于说明本发明的位置检测用传感器的第一实施方式的要部的图。
图6是用于说明本发明的位置检测用传感器的第二实施方式的要部的图。
图7是用于说明本发明的位置检测用传感器的第三实施方式的要部的图。
图8是用于说明本发明的位置检测用传感器的第四实施方式的要部的图。
图9是用于说明与本发明的位置检测用传感器的实施方式连接的位置检测电路的实施方式的要部的图。
图10是用于说明本发明的位置检测用传感器及位置检测电路的其他的实施方式的电路结构例的图。
具体实施方式
以下，一边参照图一边说明本发明的位置检测用传感器及电子设备的实施方式。
[第一实施方式]
图1示出具备位置检测用传感器的一实施方式的电子设备的一例。该例子的电子设备1是具备显示装置(在该例子中是LCD(Liquid Crystal Display：液晶显示器)11)的显示画面11D的高功能便携电话终端，在LCD11的下部(背侧)具备该实施方式的位置检测用传感器2，并且在位置检测用传感器2的更背侧具备后述的电子电路(在图1中省略图示)。电子电路包括连接于位置检测用传感器2的位置检测电路。
并且，在该例子的电子设备1中，作为对位置检测用传感器2进行位置指示输入的指示体的例子而附带有电子笔3。在该实施方式中，通过在电子笔3与位置检测用传感器2之间进行基于电磁感应耦合的信号的授受，利用位置检测电路来检测由电子笔3指示的位置检测用传感器2的位置检测的有效区域内的位置。在该例子中，构成为LCD11的显示画面11D的全部显示区域成为位置检测用传感器2的位置检测的有效区域。因此，显示画面11D的全部显示区域构成位置检测用传感器2的输入面，使用者能够使用电子笔3将显示画面11D的全部显示区域作为输入面而进行位置指示操作。
在电子设备1中，若在显示画面11D上由电子笔3进行位置指示输入操作，则在设置于显示画面11D的背侧的位置检测用传感器2与电子笔3之间进行基于电磁感应耦合的信号的交互，在位置检测电路中检测由电子笔3指示输入的位置，与电子设备1的位置检测电路连接的计算机实施与显示画面11D中的操作位置对应的显示处理。
图2是用于说明该实施方式的电子设备1的结构例的分解立体图。如图2所示，该实施方式的电子设备1在壳体10内的最下层收纳主板12，在其上方配设位置检测用传感器2，进一步在其上方以使显示画面11D成为上侧的方式配设LCD11。
并且，在该实施方式中，在由矩形的壳体10的周围框包围的矩形的凹部10a内依次收纳主板12、位置检测用传感器2、LCD11，在LCD11的上侧配置例如由透明的树脂或透明的玻璃构成的表面面板13，通过该表面面板13的周围向壳体10粘着而构成电子设备1。表面面板13的与LCD11的显示画面11D对应的区域的表面成为电子笔3的操作输入面。
如图1及图2所示，在该实施方式的电子设备1中，壳体10的矩形的凹部10a的周围框的厚度薄，LCD11的显示画面11D占据凹部10a的大致全部区域。因此，位置检测用传感器2的位置检测的有效区域也与LCD11的显示区域对应地占据凹部10a的大致全部区域。
在此，在主板12形成有向通信电路、显示装置11用的显示控制电路及位置检测用传感器2供给信号并且接受通过位置检测用传感器2而接收的信号而检测由电子笔3指示的位置的位置检测电路。需要说明的是，虽然在图2中未图示，但显示装置11和位置检测用传感器2与主板12的对应的电路部分别连接。
并且，在该实施方式中，电子设备1构成为具备通过使用者的指纹认证而允许该电子设备1的使用开始的功能。作为该指纹认证用的部件，在主板12上配设有检测使用者的指纹的指纹传感器14，主板12的电子电路构成为包括被供给由指纹传感器14读取到的指纹的信息的指纹认证电路。
指纹传感器14是若被位置检测用传感器2遮蔽则可能会无法执行与表面面板13的操作输入面的区域中的操作、访问对应的功能的规定的部件的一例。在该实施方式中使用的指纹传感器14能够使用超声波来识别使用者的手指的指纹，如前所述，即使LCD11存在于该指纹传感器14与表面面板13之间，也不会在指纹的读取的功能中产生阻碍。但是，如前所述，在该指纹传感器14与表面面板之间存在位置检测用传感器2时，可能会在指纹的读取的功能中产生阻碍。
鉴于此，在该实施方式中，在重叠配设于主板12上的位置检测用传感器2的与主板12的指纹传感器14的上空对应的位置形成有贯通孔2H。在该实施方式中，如图1及图2所示，贯通孔2H被设为与指纹传感器14的形状及大小对应的矩形形状。需要说明的是，贯通孔2H的形状及大小只要是不妨碍指纹传感器14等配设于位置检测用传感器2的背侧的规定的部件可靠地执行其应该执行的功能的大小及形状即可，形状不限于矩形形状，例如也可以是圆形、椭圆形、六边形等多边形等。
这样，指纹传感器14在LCD11的显示画面11D的显示区域内及位置检测用传感器2的有效区域内配设于它们的背侧。
在该实施方式的电子设备1中，如上所述，在是否允许该电子设备1的使用开始的判断中使用指纹认证的情况下，使用者事先将手指放置于表面面板13的显示画面11D的显示区域内，由指纹传感器14读取其指纹而登记该手指的指纹。在该情况下，如图1所示，在显示画面11D的与指纹传感器14对应的位置显示有将是读取指纹的位置向使用者报告的图像14P。指纹传感器14将登记的手指的指纹的信息作为认证参照用信息而存储。并且，在作为认证参照用信息的手指的指纹的信息的登记后，电子设备1利用指纹认证应用来执行指纹认证。
众所周知，若要进行电子设备1的开始的使用者将手指放置于表面面板13的显示画面11D的显示区域内的图像14P上，则指纹认证应用利用指纹传感器14读取该手指的指纹，与登记并存储的手指的指纹对照，根据是否一致来确认是否取得了认证。并且，指纹认证应用以在成功确认了取得了认证的情况下允许该电子设备1的使用的开始的方式进行动作。基于该指纹认证应用的指纹认证处理仅在电子设备1的使用开始时进行。
如以上这样，在电子设备1的使用的开始被允许后，使用者通过与位置检测用传感器2的有效区域对应的显示画面11D的显示区域而利用电子笔3进行位置指示输入，从而能够使电子设备进行各种功能处理。
如后所述，该实施方式的位置检测用传感器2通过位置检测用电极(在该例子的情况下是环形线圈)在互相正交的X轴方向(例如电子设备1的显示画面11D的横向)及Y轴方向(例如电子设备1的显示画面11D的纵向)的各方向上各配设多个而构成。X轴方向及Y轴方向的多个环形线圈的排列间距一般被设为比较短，构成为能够精细地检测由电子笔3指示的位置。
在该实施方式的情况下，在位置检测用传感器2的贯通孔2H形成于有效区域内的情况下，在该贯通孔2H的部分无法形成位置检测用电极。在贯通孔2H的大小比环形线圈的配设间距小的情况下，通过将贯通孔2H设置于构成环形线圈的位置检测用电极间的空出的空间，能够避免在位置检测中产生阻碍。
但是，在贯通孔2H的大小比环形线圈的配设间距大的情况下，位置检测用电极必定会跨过贯通孔2H的部分。在该情况下，位置检测用电极跨过贯通孔2H的部分是指在将位置检测用电极与不存在贯通孔2H的区域同样地配设时构成位置检测用电极的导体的一部分跨越贯通孔2H的状态。
即，在该例子中，位置检测用电极的各自如后述那样由细长的矩形形状的环形线圈构成，具备直线状的4边，但在该4边中的长边的一方或双方是直线状的状态时以跨越贯通孔2H的方式跨过的情况下，该环形线圈即位置检测用电极会跨过贯通孔2H。需要说明的是，环形线圈的形状不限于矩形形状，只要在将位置检测用电极与不存在贯通孔2H的区域同样地配设时构成该环形线圈的导体的至少一部分会跨越贯通孔2H，则不管是何种形状都行。
在X轴方向及Y轴方向上配设各多个环形线圈而形成的位置检测用传感器2上从后侧挖出了贯通孔2H的情况下，跨过该贯通孔2H的部分的环形线圈被该贯通孔2H截断，跨过该贯通孔2H的环形线圈无法作为由电子笔3指示的位置的检测用来使用。
为了避免该问题，在该实施方式中，在绝缘基板预先形成贯通孔2H，对于该绝缘基板，在不存在贯通孔2H的区域中，与以往同样地形成环形线圈，并且在跨过贯通孔2H的部分中，以不被该贯通孔2H截断而沿着该贯通孔2H的形状绕过贯通孔2H的方式形成并配设环形线圈。
[位置检测用传感器2的结构例及位置检测电路及电子笔的电路结构例]
图3是示出作为位置检测用传感器2的位置检测用电极的环形线圈的配置的概要及与位置检测用传感器2连接的位置检测电路100和电子笔3的电子电路结构的图。如上所述，该实施方式的位置检测用传感器2以电磁感应方式与电子笔3的谐振电路RC进行信号的交换(交互)。
如图3所示，电子笔3的谐振电路RC通过线圈31、电容器32及由笔压检测部构成的可变容量电容器33并联连接而构成，该谐振电路RC与位置检测用传感器2电磁感应耦合。
如图3所示，位置检测用传感器2具备在X轴方向(例如横向)上以规定的间距配设有多个的X轴方向环形线圈21和在Y轴方向(例如纵向)上以规定的间距配设有多个的Y轴方向环形线圈22。在该情况下，多个X轴方向环形线圈21及Y轴方向环形线圈22分别以比环的宽度窄的间距配设，能够高精细地检测电子笔3的指示位置，并且以使构成这些环形线圈21、22的导体互相不在同一面上重叠的方式，使用绝缘基板(在图3中省略图示)的表背的双面并且使用通孔而形成。
即，若示出绝缘基板上的X轴方向环形线圈21及Y轴方向环形线圈22各自的各1个，则成为图4所示那样。图4(A)示出了在绝缘基板20中配置于不跨过贯通孔2H的位置的X轴方向环形线圈21及Y轴方向环形线圈22的1个，图4(B)示出了在绝缘基板20中配置于跨过贯通孔2H的位置的X轴方向环形线圈21及Y轴方向环形线圈22的1个。图4(A)及(B)示出了从绝缘基板20的表面侧观察时的状态，配设于绝缘基板20的表面侧的环形线圈的导体以实线示出，配设于绝缘基板20的背面侧的环形线圈的导体以虚线示出。
如图4(A)所示，在该例子中，X轴方向环形线圈21具备纵长的长方形的环形状，其长边的直线状的导体形成于绝缘基板20的表面，短边的直线状的导体通过通孔23而与长边的导体连接且形成于背面。另外，Y轴方向环形线圈22具备横长的长方形的环形状，其长边的直线状的导体形成于绝缘基板20的背面，短边的直线状的导体通过通孔23而与长边的导体连接且形成于表面。
并且，如图4(B)所示，在跨过贯通孔2H的X轴方向环形线圈21及Y轴方向环形线圈22中，在该例子中，分别长边的一边的直线状的导体在跨过贯通孔2H的部分处以绕过贯通孔2H的周围的方式变形，形成绕行部分21a及22a。
环形线圈产生与与由该环形线圈包围的面积部分交链的磁通对应的电动势，因此，若环形线圈的环形状变形，则由该环形线圈包围的面积改变，电动势也会变化。因而，在跨过贯通孔2H的环形线圈和不跨过贯通孔2H的环形线圈中，在基于电磁感应耦合的来自电子笔3的信号的接收信号电平上会产生差。
在该实施方式中，X轴方向环形线圈21及Y轴方向环形线圈22的绕行部分21a及22a以沿着贯通孔2H的形状描绘最短路径的方式形成。在图4(B)的例子中，由于贯通孔2H是矩形形状，所以绕行部分21a及22a形成为长边的直线状的导体沿着贯通孔2H的形状被折弯成直角的伸出部。
在该实施方式中，由于如该例子这样将绕行部分21a及22a以沿着贯通孔2H的形状描绘最短路径的方式形成，所以能够使X轴方向环形线圈21及Y轴方向环形线圈22的环形状的变形最小。由此，在跨过贯通孔2H的环形线圈和不跨过贯通孔2H的环形线圈中，能够将基于电磁感应耦合的来自电子笔3的信号的接收信号电平的差抑制为最小限度。
图4(B)示出了跨过贯通孔2H的X轴方向环形线圈21及Y轴方向环形线圈22的1个的状态，但在形成间距的大小比贯通孔2H小的情况下，成为X轴方向环形线圈21及Y轴方向环形线圈22的多个跨过贯通孔2H的状态。在该情况下，这些跨过贯通孔2H的多个X轴方向环形线圈21及Y轴方向环形线圈22也使得因绕过贯通孔2H而产生的环形状的变形尽量小。
在图5中示出跨过贯通孔2H的多个X轴方向环形线圈21及Y轴方向环形线圈22的导体的配设图案的例子。
如图5所示，在该例子中，在位置检测用传感器2的绝缘基板20上，X轴方向环形线圈21以比矩形的贯通孔2H的X轴方向的开口幅度Lx小的排列间距τx依次在X轴方向上配设，Y轴方向环形线圈22以比矩形的贯通孔2H的Y轴方向的开口幅度Ly小的排列间距τy依次在Y轴方向上配设。
在图5的例子中，示出了4个X轴方向环形线圈21(在图5中示为X轴方向环形线圈211、212、213、214)的长边的一方跨过贯通孔2H并且2个Y轴方向环形线圈22(在图5中示为Y轴方向环形线圈221、222)的长边的一方跨过贯通孔2H的情况下的导体的绕行图案的例子。
在图5的例子中，在4个X轴方向环形线圈211～214中的靠左的2个X轴方向环形线圈211及212的长边的一边的直线状的导体形成以绕过贯通孔2H的左侧的方式向左侧伸出的绕行部分211a及212a，另外，在靠右的2个X轴方向环形线圈213及214的长边的一边的直线状的导体形成以绕过贯通孔2H的右侧的方式向右侧伸出的绕行部分213a及214a。
在该情况下，绕行部分211a及212a和绕行部分213a及214a为了使各X轴方向环形线圈211～214的环形状的变形最小而互相接近形成，以不考虑排列间距τx的方式配设。不过，绕行部分211a及212a和绕行部分213a及214a当然互相被绝缘。
另外，在图5的例子中，在2个Y轴方向环形线圈221及222中的靠上的Y轴方向环形线圈221的长边的一边的直线状的导体形成以绕过贯通孔2H的上侧的方式向上侧伸出的绕行部分221a，另外，在靠下的Y轴方向环形线圈222的长边的一边的直线状的导体形成以绕过贯通孔2H的下侧的方式向下侧伸出的绕行部分222a。
对如以上这样构成的位置检测用传感器2如图3所示那样连接位置检测电路100，在该位置检测电路100中，检测由电子笔3指示的位置检测用传感器2的有效区域内的位置。在该例子中，位置检测电路100通过位置检测用传感器2而对电子笔3的谐振电路RC利用电磁耦合来发送信号，电子笔3将从位置检测用传感器2接收到的信号经由谐振电路RC而向位置检测用传感器2反馈。
然后，在位置检测电路100中，将来自电子笔3的谐振电路RC的反馈信号通过位置检测用传感器2而接收，根据检测该接收到的信号的位置检测用传感器2的X轴方向环形线圈21及Y轴方向环形线圈22的位置来检测由电子笔3指示的位置检测用传感器2的有效区域内的位置，并且，在该例子中，通过检测从电子笔3的谐振电路RC通过电磁耦合而接收的信号的相位变化来检测谐振电路RC的谐振频率的变化，检测施加于电子笔3的笔压。
在位置检测电路100设置有与位置检测用传感器2的X轴方向环形线圈21及Y轴方向环形线圈22连接的选择电路101。另外，在位置检测电路100设置有例如由计算机构成的处理控制电路110。
选择电路101依次选择X轴方向环形线圈21及Y轴方向环形线圈22，使其对电子笔3的谐振电路RC发送信号，并且使其接收从谐振电路RC反馈的信号。
对选择电路101连接由处理控制电路110切换控制的切换电路102。在该切换电路102与发送侧端子T连接时，从振荡器103通过放大器104而向选择电路101供给交流信号，在该切换电路102与接收侧端子R连接时，来自选择电路101的接收信号通过放大器105而向指示位置检测用电路106和笔压检测用电路107供给。
指示位置检测用电路106对在X轴方向环形线圈21及Y轴方向环形线圈22产生的感应电压即接收信号进行检波，将其检波输出信号变换为数字信号并向处理控制电路110输出。处理控制电路110基于来自指示位置检测用电路106的数字信号即在各X轴方向环形线圈21及Y轴方向环形线圈22产生的感应电压的电压值的电平来算出电子笔3的X轴方向及Y轴方向的指示位置的坐标值。
在该情况下，在该实施方式中，处理控制电路110具备与位置检测用传感器2在有效区域内具备贯通孔2H对应的修正电路111。
该修正电路111具有在电子笔3的指示位置是贯通孔2H内的区域时使得能够尽量准确地算出该指示位置的坐标值的处理功能(贯通孔内指示位置算出功能)和在电子笔3的指示位置是贯通孔2H外的区域但需要根据跨过贯通孔2H的X轴方向环形线圈21及Y轴方向环形线圈22处的来自电子笔3的谐振电路的反馈信号的接收信号来检测坐标位置的情况下以更准确地算出指示位置的坐标值的方式进行修正的功能(贯通孔外指示位置修正功能)。
前者的贯通孔内指示位置算出功能中的电子笔3的指示位置是贯通孔2H内的区域时的指示位置的算出的方法例如设为以下这样。
首先，预先在位置检测用传感器2的贯通孔2H内的区域中利用电子笔3指示与检测精度对应的多个位置，在该各指示位置处，取得关于从跨过贯通孔2H的1～多个X轴方向环形线圈21及1～多个Y轴方向环形线圈22得到的信号的指示位置检测用电路106的输出信号电平。然后，将电子笔3的指示位置的信息和关于从1～多个X轴方向环形线圈21及1～多个Y轴方向环形线圈22得到的信号的指示位置检测用电路106的输出信号电平建立对应，作为第一表信息而向第一表存储器112存储。需要说明的是，作为第一表信息，当然也可以不仅是跨过贯通孔2H的X轴方向环形线圈21及Y轴方向环形线圈22，也包括其周边的X轴方向环形线圈21及Y轴方向环形线圈22的输出信号电平。
然后，处理控制电路110在由电子笔3指示的位置的检测时，在判别为该指示的位置是贯通孔2H内的区域时，比较第一表存储器112的第一表信息的输出信号电平和此时的指示位置检测用电路106的输出信号电平，将一致或近似的指示位置从第一表存储器112的第一表信息取得，检测贯通孔2H内的区域的指示位置。需要说明的是，在第一表存储器112的第一表信息的输出信号电平的多个和此时的指示位置检测用电路106的输出信号电平近似时，也可以根据第一表信息的近似的多个输出信号电平进行插值运算而算出更准确的指示位置。
需要说明的是，在该情况下，跨过贯通孔2H的X轴方向环形线圈21及Y轴方向环形线圈22在位置检测用传感器2中是已知的。于是，由电子笔3指示的位置是否是贯通孔2H的区域内的判别能够根据从指示位置检测用电路106得到规定电平以上的输出信号的X轴方向环形线圈21及Y轴方向环形线圈22中的呈现峰值的X轴方向环形线圈21及Y轴方向环形线圈22是否是跨过贯通孔2H的X轴方向环形线圈21及Y轴方向环形线圈22来进行。
接着，对后者的贯通孔外指示位置修正功能进行说明。如前所述，由于跨过贯通孔2H，所以X轴方向环形线圈21及Y轴方向环形线圈22具有绕行部分21a及22a，因此环形状相对于不跨过贯通孔2H的其他的X轴方向环形线圈21及Y轴方向环形线圈22变形。
因而，即使在电子笔3的指示位置不是贯通孔2H内的区域而是其外侧的区域的情况下，在从电子笔3的谐振电路RC反馈的信号由跨过该贯通孔2H的X轴方向环形线圈21及Y轴方向环形线圈22接收的情况下，其输出信号电平有时也会与其他的不跨过贯通孔2H的X轴方向环形线圈21及Y轴方向环形线圈22不同。
在该实施方式中，位置检测用传感器2的X轴方向环形线圈21及Y轴方向环形线圈22是细长的矩形形状，而且，电子笔3是细型，由从电子笔3反馈的电磁能引起的磁通向由电子笔3指示的位置的周边集中而与环形线圈21、22交链。因此，在贯通孔2H的大小(X轴方向的长度及Y轴方向的长度)比环形线圈21、22的长边方向的长度小的情况下，在X轴方向环形线圈21及Y轴方向环形线圈22处由从电子笔3反馈的电磁能引起的磁通交链的面积变化的是由电子笔3指示的位置是贯通孔2H的周围的规定的范围(贯通孔内除外)的区域。该贯通孔2H的周围的规定的范围(以下，称作需要修正范围)能够通过“检查因由从电子笔3反馈的电磁能引起的磁通而从跨过贯通孔2H的X轴方向环形线圈21及Y轴方向环形线圈22得到的输出信号，判别是否需要修正的位置范围”而合适地设定。
根据以上，在该实施方式中，关于将从电子笔3的谐振电路RC反馈的信号利用跨过该贯通孔2H的X轴方向环形线圈21及Y轴方向环形线圈22接收到时的来自指示位置检测用电路106的检测输出电平，在由电子笔3指示的位置是上述需要修正范围内时进行修正，使得能够与没有由贯通孔2H的绕行部分引起的面积变化的情况同样地处理。处理控制电路110具备存储将为此的修正信号与跨过贯通孔2H的X轴方向环形线圈21及Y轴方向环形线圈22各自的为上述需要修正范围内的各位置建立了对应的第二表信息的第二表存储器113。
处理控制电路110在由电子笔3指示的位置是需要修正范围时，关于将从电子笔3的谐振电路RC反馈的信号利用跨过该贯通孔2H的X轴方向环形线圈21及Y轴方向环形线圈22接收到时的来自指示位置检测用电路106的检测输出电平，使用第二表存储器113的第二表信息的修正信号，根据由电子笔3指示的位置而进行修正，在坐标位置的检测处理中使用。
需要说明的是，在位置检测用传感器2中形成例如矩形的X轴方向环形线圈21及Y轴方向环形线圈22的长度方向的大小大的贯通孔的情况下，与该X轴方向环形线圈21及Y轴方向环形线圈22内的由电子笔3指示的位置无关，由从电子笔3反馈的电磁能引起的磁通交链的面积受到因具备绕过贯通孔的绕行部分而变化的面积的影响。
在这样的情况下，关于利用跨过贯通孔2H的X轴方向环形线圈21及Y轴方向环形线圈22接收到时的来自指示位置检测用电路106的检测输出电平，与电子笔3的指示位置无关地进行修正。
笔压检测用电路107将接收放大器105的输出信号利用来自振荡器103的交流信号进行同步检波，得到与它们之间的相位差(频率偏移)对应的电平的信号，将与该相位差(频率偏移)对应的信号变换为数字信号并向处理控制电路110输出。处理控制电路110基于来自笔压检测用电路107的数字信号即与发送出的电波和接收到的电波的相位差(频率偏移)对应的信号的电平来检测施加于电子笔3的笔压。
处理控制电路110接受由笔压检测用电路107检测到的笔压的信息，将该信息与根据来自指示位置检测用电路106的输出信号而检测到的电子笔3的指示位置的坐标信息建立对应并保持，并且根据需要而向外部电路输出。
如以上说明那样，该实施方式的位置检测用传感器2与配设于该位置检测的有效区域的背侧的指纹传感器14对应地在有效区域内设置贯通孔2H，因此能够将在表面面板13上载置的手指的指纹利用配设于位置检测用传感器2的背侧的指纹传感器14来读取，不会产生阻碍。
并且，在位置检测用传感器2中，在贯通孔2H的部分处，跨过该贯通孔2H的X轴方向环形线圈21及Y轴方向环形线圈22的导体以沿着该贯通孔2H的形状绕行的方式配设，因此不会产生由于是位置检测用传感器2的贯通孔2H的部分所以无法进行有效区域内的电子笔3的指示位置的检测这一问题。
并且，在该实施方式的位置检测用传感器2中，跨过贯通孔2H的X轴方向环形线圈21及Y轴方向环形线圈22的该贯通孔2H的绕行部分以将贯通孔2H以最短的路径绕过的方式形成，因此能够使由绕行部分引起的X轴方向环形线圈21及Y轴方向环形线圈22的环形状的变化所引起的由环包围的面积变化最小，能够减小由交链的磁通引起的电动势的变化。另外，在跨过贯通孔2H的X轴方向环形线圈21及Y轴方向环形线圈22存在多个的情况下，这多个X轴方向环形线圈21及Y轴方向环形线圈22的绕行部分以互相接近的方式配设，因此关于这多个X轴方向环形线圈21及Y轴方向环形线圈22的各自，也能够减小由绕行部分引起的X轴方向环形线圈21及Y轴方向环形线圈22的变形所引起的环的面积变化，能够减小由交链的磁通引起的电动势的变化。
并且，在上述的实施方式的位置检测电路中，在贯通孔2H的周围的需要修正范围中，将从跨过该贯通孔2H的X轴方向环形线圈21及Y轴方向环形线圈22得到的接收信号的信号电平利用由第二表存储器133的第二表信息构成的修正信号以与从没有由绕过贯通孔2H的绕行部分引起的变化的X轴方向环形线圈21及Y轴方向环形线圈22得到的接收信号的信号电平成为同等的方式进行修正，因此，即使在有效区域内设置贯通孔2H，也能够将由电子笔3指示的位置的坐标的精度的劣化抑制为最小限度。
另外，在上述的实施方式的位置检测电路中，X轴方向环形线圈21及Y轴方向环形线圈22具备绕过贯通孔2H的绕行部分，并且存储有用于算出该贯通孔2H内的区域中的指示位置的第一表信息，因此，即使在贯通孔2H内的区域中由电子笔3进行了位置指示，也能够如上述那样检测电子笔3的指示位置。
需要说明的是，X轴方向环形线圈21及Y轴方向环形线圈22不限于1次卷绕，也可以设为多次卷绕。
[位置检测用传感器的第二实施方式]
在上述的第一实施方式中，如上所述，跨过贯通孔2H的环形线圈构成为利用直线状的导体形成以描绘最短路径的方式绕过贯通孔2H的绕行部分，因此由环包围的面积与不跨过贯通孔2H的其他的环形线圈不同。因而，在跨过贯通孔2H的环形线圈和不跨过贯通孔2H的环形线圈中，将基于电磁感应耦合的来自电子笔3的信号的接收信号电平的差使用第二表信息进行修正，从而将位置检测用传感器2的有效区域内的由电子笔3指示的位置的检测精度的不均抑制为最小限度。
但是，在跨过贯通孔2H的环形线圈和不跨过贯通孔2H的其他的环形线圈中，若由环包围的面积的差为零，则不需要基于第二表信息的修正。另外，在跨过贯通孔2H的环形线圈和不跨过贯通孔2H的其他的环形线圈中，若能够使由环包围的面积的差更小，则基于第二表信息的修正成为与该小的差对应的修正，因此位置检测的精度提高。
在以下所示的第二实施方式中，是以下的例子：通过设计跨过位置检测用传感器2的贯通孔2H的环形线圈的形状，能够抵消或削减由贯通孔2H的绕行部分引起的面积变化量，不需要上述的基于第二表信息的修正，或者，使基于第二表信息的修正成为最小限度，更使位置检测的精度提高。
图6(A)为了说明该第二实施方式的位置检测用传感器2A的要部而示出了跨过形成于绝缘基板20的贯通孔2H的X轴方向环形线圈21A的1个。
如图6(A)所示，在该第二实施方式的位置检测用传感器2A中，关于X轴方向环形线圈21A，形成该X轴方向环形线圈21A的导体的贯通孔2H的周围的形状形成为弥补由与第一实施方式的位置检测用传感器2中的绕行部分21a对应的绕行部分21Aa引起的由环包围的面积的增减(在图6(A)的情况下是面积减小)的形状。
即，如图6(A)所示，构成X轴方向环形线圈21A的导体在贯通孔2H的周围以形成相对于X轴方向环形线圈21A的直线状的长边向右侧伸出而绕过贯通孔2H的绕行部分21Aa的方式配设，并且以取消由该绕行部分21Aa引起的由环形线圈21A包围的部分的面积的增减的方式，在跨过贯通孔2H的即刻之前及即刻之后的部分处，以形成以相对于X轴方向环形线圈21A的直线状的长边向与绕行部分21Aa相反的方向即左侧伸出的方式变形的反向伸出部21Ab及21Ac的方式配设。
在该例子的情况下，构成为X轴方向环形线圈21A的跨过贯通孔2H的即刻之前及即刻之后的反向伸出部21Ab及21Ac相对于X轴方向环形线圈21A的直线状的长边向左侧伸出的部分的合计的面积与绕行部分21Aa相对于X轴方向环形线圈21A的直线状的长边向右侧伸出的部分的面积大致相等。
需要说明的是，在图6(A)中，X轴方向环形线圈21A的跨过贯通孔2H的即刻之前及即刻之后的反向伸出部21Ab及21Ac以成为同样的面积的方式形成。不过，反向伸出部21Ab及21Ac只要以使其面积的合计与绕行部分21Aa的的面积大致相等的方式形成即可，反向伸出部21Ab及21Ac无需以具有同样的面积的方式形成。另外，设置X轴方向环形线圈21A的跨过贯通孔2H的即刻之前及即刻之后的双方的反向伸出部21Ab及21Ac也不是必须的，也可以仅设置X轴方向环形线圈21A的跨过贯通孔2H的即刻之前的反向伸出部21Ab和即刻之后的反向伸出部21Ac中的一方。
在图6(A)中，仅示出第二实施方式中的X轴方向环形线圈21A的1个，关于第二实施方式中的Y轴方向环形线圈22A，省略了图示，但关于Y轴方向环形线圈22A，也以与其绕行部分22Aa(图示省略)的面积大致相等的方式，在跨过贯通孔2H的即刻之前和/或即刻之后设置反向伸出部，从而与X轴方向环形线圈21A同样地构成。
需要说明的是，在该第二实施方式的位置检测用传感器2A中也是，在X轴方向环形线圈21及Y轴方向环形线圈22的排列间距τx及τy比贯通孔2H的横的长度Lx及纵的长度Ly小的情况下，跨过贯通孔2H的X轴方向环形线圈21及Y轴方向环形线圈22成为多个。
在图6(B)中示出该第二实施方式的位置检测用传感器2A中的跨过贯通孔2H的多个X轴方向环形线圈21A及Y轴方向环形线圈22A的配设图案的例子。该图6(B)是与上述的第一实施方式的位置检测用传感器2的图5对应的图。在该图6(B)中，关于与图5所示的第一实施方式的位置检测用传感器2同样的部分，标注同一附图标记，省略其说明。
在该图6(B)的例子中，4个X轴方向环形线圈211A、212A、213A、214A的长边的一方跨过贯通孔2H，并且2个Y轴方向环形线圈221A、222A的长边的一方跨过贯通孔2H。
并且，在图6(B)的例子中，在4个X轴方向环形线圈211A～214A的各自中的靠左的2个X轴方向环形线圈211A及212A的长边的一边的直线状的导体形成以绕过贯通孔2H的左侧的方式向左侧伸出的绕行部分211Aa及212Aa，并且，在该例子中，在跨过贯通孔2H的即刻之前和/或即刻之后形成向右侧伸出的反向伸出部211Ab及212Ab。在该情况下，如图所示，反向伸出部211Ab与反向伸出部212Ab相比伸出量大。
另外，在靠右的2个X轴方向环形线圈213A及214A的长边的一边的直线状的导体形成以绕过贯通孔2H的右侧的方式向右侧伸出的绕行部分213Aa及214Aa，并且，在该例子中，在跨过贯通孔2H的即刻之前和/或即刻之后形成向左侧伸出的反向伸出部213Ab及214Ab。在该情况下，如图所示，反向伸出部214Ab与反向伸出部213Ab相比伸出量大。
另外，在该图6(B)的例子的情况下，在2个Y轴方向环形线圈221A及222A中的靠上的Y轴方向环形线圈221A的长边的一边的直线状的导体形成以绕过贯通孔2H的上侧的方式向上侧伸出的绕行部分221Aa，在该例子中，在跨过贯通孔2H的即刻之前和/或即刻之后形成向下侧伸出的反向伸出部221Ab。另外，在靠下的Y轴方向环形线圈222A的长边的一边的直线状的导体形成以绕过贯通孔2H的下侧的方式向下侧伸出的绕行部分222Aa，并且，在该例子中，在跨过贯通孔2H的即刻之前和/或即刻之后形成向上侧伸出的反向伸出部222Ab。
如图6(B)所示，在多个X轴方向环形线圈211A～214A及Y轴方向环形线圈221A、222A中，需要以使导体互相不接触的方式构成反向伸出部，因此各反向伸出部难以具有与各绕行部分21Aa及22Aa的面积同样的面积。因而，在这样的情况下，关于跨过贯通孔2H的多个X轴方向环形线圈21A(211A～214A)及Y轴方向环形线圈22A(221A、222A)的各自，一并使用基于前述的第二表信息的修正。不过，如前所述，该第二实施方式的位置检测用传感器2A的情况下的第二表信息的修正值的值能够比第一实施方式的该值小，位置检测的精度提高，这与上述一样。
如以上这样，在该第二实施方式的位置检测用传感器2A中，在跨过贯通孔2H的X轴方向环形线圈21A(211A～214A)及Y轴方向环形线圈22A(221A、222A)以弥补由绕过贯通孔的绕行部分包围的部分的面积的增减的方式形成反向伸出部，因此能够消除或减小跨过贯通孔2H的环形线圈与不跨过贯通孔2H的环形线圈的面积的差，因此存在能够省略基于第二表信息的修正或者能够减小基于第二表信息的修正值而更抑制位置检测精度的劣化这一效果。
需要说明的是，在该第二实施方式中，也生成并存储第一表信息，进行贯通孔2H内的区域由电子笔指示时的位置检测，这与在第一实施方式中说明的是同样的。
需要说明的是，X轴方向环形线圈21A及Y轴方向环形线圈22A不限于1次卷绕，也可以设为多次卷绕。
[位置检测用传感器的第三实施方式]
第三实施方式也是以下的例子：通过设计跨过位置检测用传感器2的贯通孔2H的环形线圈的形状，能够抵消或削减由贯通孔2H的绕行部分引起的面积变化量，不需要上述的基于第二表信息的修正，或者使基于第二表信息的修正成为最小限度，更使位置检测的精度提高。
在上述的第一实施方式及第二实施方式的位置检测用传感器2及2A中，X轴方向环形线圈21及21A以及Y轴方向环形线圈22及22A不限于1次卷绕，在多次卷绕的情况下，也以使全部的环导体部分向同样的方向伸出的方式形成贯通孔2H的绕行部分21a及21Aa以及绕行部分22a及22Aa。
然而，在X轴方向环形线圈及Y轴方向环形线圈的卷绕数是偶数的情况下，通过将该偶数次卷绕的各一半以伸出方向互相不同的方式形成绕行部分，在跨过贯通孔的环形线圈和不跨过贯通孔的环形线圈中，能够消除或减小环形状占据的面积的差。
图7(A)及(B)为了说明该第三实施方式的位置检测用传感器2B的要部而示出了跨过形成于绝缘基板20的贯通孔2HB的X轴方向环形线圈21B的1个。在图7(A)的例子的位置检测用传感器2B中，X轴方向环形线圈21B及Y轴方向环形线圈22B(图示省略)分别被设为2次卷绕的结构。并且，在该图7(A)的例子中，贯通孔2HB的形状被设为通过中心的直线成为线对称的对称轴的圆形状。
在图7(A)所示的例子中，直线状的X轴方向环形线圈21B以在不绕过贯通孔2HB时通过圆形状的贯通孔2HB的中心的状态以跨过贯通孔2HB的方式配设。
并且，该2次卷绕的X轴方向环形线圈21B中的一半的例如第一次卷绕部分21B1的导体如图7(A)所示样以在贯通孔2HB的左侧沿着该贯通孔2HB形成最短路径的绕行部分21B1a的方式配设，剩余的一半的第二次卷绕部分21B2的导体如图7(A)所示那样以在贯通孔2HB的右侧沿着该贯通孔2HB形成最短路径的绕行部分21B2a的方式配设。
在该图7(A)的情况下，X轴方向环形线圈21B以在不绕行的情况下其直线状的导体通过圆形状的贯通孔2HB的中心位置的状态跨过贯通孔2HB，因此，绕行部分21B1a及绕行部分21B2a相对于X轴方向环形线圈21B的直线状的导体左右对称地绕过贯通孔2HB的半圆周量。因而，绕行部分21B1a及绕行部分21B2a的各自相对于X轴方向环形线圈21B的直线状的导体向左右伸出的面积与贯通孔2HB的半圆的区域的面积大致相等。并且，通过绕行部分21B1a，第一次卷绕部分21B1的面积增加，另外，通过绕行部分21B2a，第二次卷绕部分21B2的面积减小，互相抵消面积的增减。
如前所述，在该实施方式中，在跨过贯通孔2HB而形成有绕行部分21B1a及绕行部分21B2a的2次卷绕的X轴方向环形线圈21B中，在贯通孔2HB的周围区域(与前述的需要修正范围的区域对应)的外侧的区域中，因基于来自电子笔3的电磁能的电磁感应而产生的电动势成为图7(B)的曲线E0所示那样。
并且，在需要修正范围内中，关于因基于来自电子笔3的电磁能的电磁感应而产生的电动势，在2次卷绕的X轴方向环形线圈21B中的具有绕行部分21B1a的第一次卷绕部分21B1因电磁感应而产生的电动势成为图7(C)的曲线E1所示那样，另外，在具有绕行部分21B2a的第二次卷绕部分21B2因电磁感应而产生的电动势成为图7(C)的曲线E2所示那样。
因此，在由第一次卷绕部分21B1和第二次卷绕部分21B2构成的跨过贯通孔2HB的X轴方向环形线圈21B因电磁感应而产生的电动势成为在图7(C)中将由曲线E1表示的电动势和由曲线E2所示的电动势合成而得到的虚线E3所示的电动势，与在图7(B)所示的贯通孔2HB的周围区域(与前述的需要修正范围的区域对应)的外侧的区域中在2次卷绕的X轴方向环形线圈21B因电磁感应而产生的曲线E0(图7(B)所示的电动势大致相等。
因此，在2次卷绕的X轴方向环形线圈21B以如图7(A)所示的状态跨过贯通孔2HB的情况下，相对于在该X轴方向环形线圈21B感应的电动势的基于第一表信息的修正不需要。
不过，在X轴方向环形线圈21B在从其直线状的导体的延长方向通过圆形的贯通孔2HB的中心位置的状态偏离的位置处跨过贯通孔2HB的情况下，会在绕行部分21B1a的伸出部的面积和绕行部分21B2a的伸出部的面积产生差，因此，在该情况下，相对于在该X轴方向环形线圈21B感应的电动势的基于第一表信息的修正最好执行。
关于Y轴方向环形线圈22B，虽然图示及说明省略，但也是同样的。
需要说明的是，通过在2次卷绕的环形线圈的第一次卷绕部分和第二次卷绕部分中使绕过贯通孔的绕行部分的伸出方向不同而伸出部分的面积的增减的抵消效果大的是环形线圈在贯通孔的中央附近跨过的情况。在贯通孔的形状的周边部分处跨过该贯通孔的环形线圈中，如上述的第一实施方式或第二实施方式那样以沿着贯通孔的形状绕过最短路径的方式配设反而能够减小相对于不跨过贯通孔的环形线圈的面积的变化。
例如，以在2次卷绕的X轴方向环形线圈21B以配设间距τx配设的情况下如图7(D)所示那样3个X轴方向环形线圈21B(在图7(D)中区分表示为211B、212B、213B)跨过贯通孔2HB的情况为例进行说明。
在该图7(D)的例子中，跨过贯通孔2HB的3个X轴方向环形线圈211B、212B、213B中的中央的X轴方向环形线圈212B成为了其直线状的导体的延长方向通过圆形的贯通孔2HB的中心位置的状态。并且，其他的X轴方向环形线圈211B及213B成为了以下状态：其直线状的导体的延长方向不通过圆形的贯通孔2HB的中心位置，且配设于以下位置：关于X轴方向环形线圈211B及213B的跨过贯通孔2HB的情况和不跨过贯通孔2HB的情况的面积的变化，与在2次卷绕的X轴方向环形线圈211B及213B的第一次卷绕部分和第二次卷绕部分中使绕过贯通孔2HB的绕行部分的伸出方向不同的情况下的X轴方向环形线圈211B及213B的面积的变化相比，在设置了沿着贯通孔2HB的形状绕过最短路径的绕行部分时变小。
考虑3个X轴方向环形线圈211B、212B、213B以以上这样的位置关系跨过贯通孔2HB，在图7(D)的例子中，中央的X轴方向环形线圈212B的第一次卷绕部分212B1以向左侧伸出的方式形成绕行部分212B1a而配设，第二次卷绕部分212B2以向右侧伸出的方式形成绕行部分212B1a而配设，绕过贯通孔2HB的绕行部分的伸出方向不同。
另外，在图7(D)的例子中，左侧的X轴方向环形线圈211B的第一次卷绕部分211B1及第二次卷绕部分211B2形成沿着贯通孔2HB的圆形状将左侧以最短路径绕过的绕行部分211B1a及211B2a而配设。而且，在图7(D)的例子中，右侧的X轴方向环形线圈213B的第一次卷绕部分213B1及第二次卷绕部分213B2形成沿着贯通孔2HB的圆形状将右侧以最短路径绕过的绕行部分213B1a及213B2a而配设。
需要说明的是，关于X轴方向环形线圈211B的第一次卷绕部分211B1及第二次卷绕部分211B2和X轴方向环形线圈213B的第一次卷绕部分213B1及第二次卷绕部分213B2，当然也可以如上述的第二实施方式那样构成为形成抵消作为伸出部的绕行部分的面积变化的反向伸出部。
在与该图7(D)的例子的位置检测用传感器2B对应的位置检测电路中，关于跨过贯通孔2HB的3个X轴方向环形线圈211B、212B、213B中的中央的X轴方向环形线圈212B，不需要第二表信息(也可以设置第二表信息)，另外，关于不是中央的X轴方向环形线圈211B、213B，准备第二表信息，修正其电动势。
需要说明的是，在图7的例子中，是贯通孔2HB为圆形状的情况，但在第三实施方式的位置检测用传感器2B形成的贯通孔2HB的形状不管是何种形状都行。不过，在贯通孔2HB的形状是具有线对称的对称轴的形状的情况下，在环形线圈的直线状的导体的延长方向与贯通孔2HB的对称轴重叠的情况下，能够利用由在左右或上下伸出方向不同的绕行部分的各自形成的伸出部分的面积相等。但是，即使是不具有这样的线对称的对称轴的形状的贯通孔2HB，只要通过在左右(X轴方向环形线圈的排列间距方向)或上下(Y轴方向环形线圈的排列间距方向)使伸出方向不同而能够抵消面积的增减，则不管是何种形状都行。
需要说明的是，在如图7(D)的例子那样多个环形线圈跨过贯通孔2HB的情况下，在关于这多个环形线圈的各自如图7(A)所示那样关于第一次卷绕部分以面积增加的方式形成绕行部分且关于第二次卷绕部分以面积减小的方式形成绕行部分的情况下，若将绕行部分形成于绝缘基板的同一面上，则成为互相的绕行部分的一部分交叉的状态。因而，为了避免该绕行部分的公差，在绕行部分处，也利用通孔而在绝缘基板的表面和背面的双面设置导体。
以上说明的图7的例子是2次卷绕的环形线圈的情况，但在第三实施方式的位置检测用传感器2B形成的环形线圈的卷绕数只要是能够以能够在左右(X轴方向环形线圈的排列间距方向)或上下(Y轴方向环形线圈的排列间距方向)使伸出方向不同的方式分成两部分的偶数即可，当然也可以是2以上。
需要说明的是，在该第三实施方式中，生成并存储第一表信息，进行贯通孔2HB内的区域由电子笔指示时的位置检测，这与在第一实施方式中说明的是同样的。
[位置检测用传感器的第四实施方式]
第四实施方式是以下例子：通过设计跨过位置检测用传感器2的贯通孔2H的环形线圈，能够使由贯通孔2H的绕行部分引起的面积变化量尽量小，使基于第一表信息的修正成为最小限度，更使位置检测的精度提高。
在该例子的位置检测用传感器中，X轴方向环形线圈及Y轴方向环形线圈通过如前述那样在绝缘基板的上使规定宽度的直线状的导体例如攀爬成矩形形状而配设。这样，构成环形线圈的导体具有规定的宽度，因此该宽度量的区域在绕过贯通孔时需要。尤其是，在环形线圈形成为多次卷绕的线圈的情况下，一边互相保持电绝缘一边在绕行部分处也近接配设，但导体的宽度越大，则因绕行部分而变化的面积越大。
鉴于这一点，在第四实施方式中，通过使跨过贯通孔的环形线圈的贯通孔的绕行部分处的导体的宽度比其他的部分的导体的宽度小，尽量抑制因绕行部分而变化的面积的大小。
图8是用于说明在跨过在该第四实施方式的位置检测用传感器2C的绝缘基板的有效区域形成的贯通孔2HC的X轴方向环形线圈21C形成的绕行部分的图。在该例子中，X轴方向环形线圈21C被设为2次卷绕的环形线圈，由第一次部分21C1和第二次卷绕部分21C2构成。另外，贯通孔2HC与第三实施方式同样地具有圆形形状。需要说明的是，贯通孔2HC的形状不限于圆形形状，不管是何种形状都行，这与前述的例子是同样的。
如图8所示，在该第四实施方式中，在X轴方向环形线圈21C的第一次部分21C1和第二次卷绕部分21C2形成以最短路径绕过贯通孔2HC的绕行部分21C1a及21C2a。并且，在该实施方式中，X轴方向环形线圈21C的第一次部分21C1及第二次卷绕部分21C2的除了绕行部分21C1a及21C2a之外的部分中的导体的宽度被设为规定的宽度d0，并且绕行部分21C1a及21C2a的导体的宽度比宽度d0小，为了形成X轴方向环形线圈21C而被设为最小限度的宽度d1(<d0)。
由此，绕行部分21C1a及21C2a与X轴方向环形线圈21C的导体的宽度是宽度d0的情况相比，能够设为更接近贯通孔2HC的周缘的位置，因而，绕行部分21C1a及21C2a伸出的长度变小，由伸出部分引起的面积也变小。因此，能够减小跨过贯通孔2HC的环形线圈与不跨过贯通孔2HC的环形线圈之间的面积的差，能够减小基于第二表信息的修正值，因此存在更能够抑制位置检测精度的劣化这一效果。
需要说明的是，在该第四实施方式的位置检测用传感器2C中，也能够应用上述的第二实施方式、第三实施方式。即，在对第四实施方式应用了第二实施方式的情况下，使反向伸出部及绕行部分的导体的宽度变细，或者，不改变反向伸出部的导体的宽度而使绕行部分的导体的宽度变细。另外，在对第四实施方式应用了第三实施方式的情况下，在环形线圈是2次卷绕的情况下，使第一次部分的绕行部分及第二次卷绕部分的绕行部分的导体的宽度变细。
需要说明的是，在上述的说明中，对多次卷绕的环形线圈的例子进行了说明，但这是因为可更大地得到图8的例子的效果，自不必说，关于1次卷绕的环形线圈也可得到能够减小面积的变化的大小这一效果。
需要说明的是，在该第四实施方式中，生成并存储第一表信息，进行贯通孔2HC内的区域由电子笔指示时的位置检测，这也与在第一实施方式中说明的是同样的。
[其他的实施方式及变形性]
<关于位置检测的修正用的第一表信息及第二表信息>
在上述的第一实施方式～第四实施方式中的设置于位置检测电路的第二表存储器及第二表存储器的各自中存储的第一表信息及第二表信息一般设想电子笔3相对于位置检测用传感器的输入面(表面面板13的上表面)垂直的情况而形成。
但是，在通常的使用形态下，如图9(A)所示，电子笔3以相对于位置检测用传感器的输入面(表面面板13的表面)以规定的角度θ的倾斜角倾斜的状态使用。并且，在这样倾斜的使用状态下，根据电子笔3向哪个方向倾斜，在位置检测用传感器中为了电子笔3的指示位置的检测用而利用输出信号的环形线圈变化。
因而，第一表信息及第二表信息分别根据电子笔3的倾斜角θ及其倾斜方向
Figure BDA0003385811240000301
而准备可实现位置检测的精度的提高。于是，例如，确定电子笔3的预先确定的多个倾斜角θ和多个倾斜方向
Figure BDA0003385811240000309
生成与各倾斜角θ及倾斜方向
Figure BDA0003385811240000303
的各自对应的第一表信息及第二表信息，与各倾斜角θ及倾斜方向
Figure BDA0003385811240000304
建立对应并向第一表存储器及第二表存储器存储。
图9(B)是作为某一个倾斜角θ1下的多个倾斜方向
Figure BDA0003385811240000305
而示出4种情况的图。即，如图9(B)的箭头所示，在位置检测用传感器的输入面(表面面板13的表面)中，将从下方去往上方向的方向设为0度的方向。并且，相对于该0度的方向，将向右侧偏移的角度设为+角度，将向左侧偏移的角度设为-角度，如图9(B)所示，在该例子中，确定
Figure BDA0003385811240000306
Figure BDA0003385811240000307
这4个方向。并且，生成各倾斜方向角度
Figure BDA0003385811240000308
时的第一表信息及第二表信息，与倾斜角θ1建立对应并向第一表存储器及第二表存储器存储。
并且，关于电子笔3的倾斜角θ，也如θ1、θ2、θ3…这样设定多种，在各倾斜角θ1、θ2、θ3…的状态下，生成各倾斜方向角度
Figure BDA0003385811240000311
Figure BDA0003385811240000312
时的第一表信息及第二表信息，与各倾斜角θ1、θ2、θ3…建立对应并向第一表存储器及第二表存储器存储。需要说明的是，在倾斜角θ＝90度时，无需考虑倾斜方向角度
Figure BDA0003385811240000313
因此，第一表信息及第二表信息可以是一个，关于倾斜方向角度
Figure BDA0003385811240000314
Figure BDA0003385811240000315
的第一表信息及第二表信息不需要。
另一方面，在电子笔3设置用于检测倾斜角θ及倾斜方向
Figure BDA0003385811240000316
的单元，并且在位置检测电路设置电子笔3的倾斜角θ及倾斜方向
Figure BDA0003385811240000317
的检测功能。用于检测该电子笔3的倾斜角θ及倾斜方向
Figure BDA0003385811240000318
的单元和位置检测电路的电子笔3的倾斜角θ及倾斜方向
Figure BDA0003385811240000319
的检测功能能够使用周知的技术，因此，在此省略关于其结构的说明。
并且，在实际的使用时，在位置检测电路中，检测电子笔3的倾斜角θ及倾斜方向
Figure BDA00033858112400003113
使用与该检测到的倾斜角θ及倾斜方向
Figure BDA00033858112400003111
对应的第一表信息及第二表信息来进行修正处理。在该情况下，在由位置检测电路检测到的电子笔3的倾斜角θ及倾斜方向
Figure BDA00033858112400003112
是预先准备了第一表信息及第二表信息的角度的中间时，通过使用以该检测到的角度为中间的2个角度的第一表信息及第二表信息根据检测到的角度进行插值处理，能够进行修正。
<静电耦合方式的情况的例子>
以上的实施方式是电磁感应方式的电子笔、位置检测用传感器及位置检测电路的情况，但本发明不限于电磁感应方式，也能够应用于静电耦合方式的电子笔、位置检测用传感器及位置检测电路的情况。
图10是用于说明该例子的情况的静电耦合方式的电子笔3D、位置检测用传感器2D及位置检测电路100D的结构例的图。
电子笔3D具备发送规定的信号的信号发送电路30S，并且具备导电性的芯体34，具有来自信号发送电路30S的信号从芯体34通过静电耦合而向位置检测用传感器2D供给的结构。
在该例子中，位置检测用传感器2D通过在具备贯通孔2HD的绝缘基板20D的背侧形成第一导体群24且在表面侧形成第二导体群25而构成。贯通孔2HD设置于由第一导体群24及第二导体群25形成的位置检测的有效区域内。需要说明的是，第一导体群24例如将在横向(X轴方向)上延伸的多个第一直线状导体24Y1、24Y2、…、24Ym(m是1以上的整数)互相隔开规定间隔而并列地在纵向(Y轴方向)上配置。并且，跨过贯通孔2HD的第一直线状导体24Y以通过上述的第一实施方式～第四实施方式的任一者或它们的组合而形成绕过贯通孔2HD的绕行部分的方式配设。
另外，第二导体群25将在相对于第一直线状导体24Y1、24Y2、…、24Ym的延伸方向交叉的方向(在该例子中是正交的纵向(Y轴方向))上延伸的多个第二直线状导体25X1、25X2、…、25Xn(n是1以上的整数)互相隔开规定间隔而并列地在X轴方向上配置。并且，跨过贯通孔2HD的第二直线状导体25X以通过上述的第一实施方式～第四实施方式的任一者或它们的组合而形成绕过贯通孔2HD的绕行部分的方式配设。
该例子的位置检测用传感器2D构成为在电子设备的由LCD等构成的显示装置的显示画面上将与显示画面的显示区域的大小对应的大小的有效区域设为指示输入面，第一导体群211和第二导体群212以具有光透过性的方式形成。需要说明的是，第一直线状导体24Y及第二直线状导体25X构成位置检测用电极。
需要说明的是，第一导体群24和第二导体群25也可以是分别配置于绝缘基板20D的同一面侧的结构。
位置检测电路100D由被设为与位置检测用传感器2D的输入输出接口的选择电路121、放大电路122、带通滤波器123、检波电路124、采样保持电路125、AD(Analog toDigital：模拟到数字)变换电路126及处理控制电路130构成。
选择电路121基于来自处理控制电路130的控制信号而从第一导体群24及第二导体群25中分别选择1条导体。由选择电路121选择出的导体与放大电路122连接，来自电子笔3D的信号由选择出的导体检测并由放大电路122放大。该放大电路122的输出向带通滤波器123供给，仅从电子笔3D发送的信号的频率的成分被提取。
带通滤波器123的输出信号由检波电路124检波。该检波电路124的输出信号向采样保持电路125供给，由来自处理控制电路130的采样信号在规定的定时下采样保持后，由AD变换电路126变换为数字值，向处理控制电路130供给。
处理控制电路130向采样保持电路125、AD变换电路126及选择电路121分别送出控制信号，并且根据来自AD变换电路226的数字数据来算出由电子笔3D指示的位置检测用传感器2D上的位置坐标，将该位置坐标的数据向例如其他的处理器等输出。
并且，在该例子中，处理控制电路130也具备修正来自跨过贯通孔2HD的第一直线状导体24Y及第二直线状导体25X的输出并且在贯通孔2HD内的区域由电子笔3D指示时进行用于检测该指示位置的处理的修正电路131。并且，存储用于对该修正电路131进行来自跨过贯通孔2HD的第一直线状导体24Y及第二直线状导体25X的输出的修正处理的第一表信息的第一表存储器132和存储用于检测贯通孔2HD内的区域的指示位置的第二表信息的第二表存储器133设置于处理控制电路130。
通过该结构，在处理控制电路130中，与上述的第一实施方式～第四实施方式中的处理控制电路110同样，在使用具备贯通孔2HD的图10的例子的位置检测用传感器2D的情况下，也能够无障碍地检测包括贯通孔2HD的有效区域内的电子笔3D的指示位置。
[其他的变形例]
需要说明的是，在上述的实施方式中，对由直线状的导体形成位置检测用电极的情况进行了说明，但本发明也能够应用于例如绝缘基板具有圆形、椭圆形且位置检测用电极形成为曲线状且在该圆形、椭圆形的绝缘基板的有效区域内形成贯通孔的情况。
标号说明
1…电子设备，2、2A、2B、2C、2D…位置检测用传感器，2H、2HB、2HC、2HD…贯通孔，3、3D…电子笔，23…通孔，21a、22a…绕行部分

Claims (15)

1.一种位置检测用传感器，在绝缘基板上配设多个位置检测用电极，配设有所述多个位置检测用电极的区域被设为检测位置指示体的指示位置的有效检测区域，其特征在于，
在所述绝缘基板中，在所述有效检测区域内形成有规定的形状的贯通孔，
所述位置检测用电极在跨过所述贯通孔的部分处以沿着所述贯通孔的形状绕过所述贯通孔的方式配设。
2.根据权利要求1所述的位置检测用传感器，其特征在于，
所述多个位置检测用电极以规定的排列间距在规定的方向上配设，
所述贯通孔的大小比所述规定的排列间距大。
3.根据权利要求1所述的位置检测用传感器，其特征在于，
所述位置检测用电极绕过所述贯通孔的部分构成为绕行路径的长度成为最短。
4.根据权利要求2所述的位置检测用传感器，其特征在于，
互相相邻的所述位置检测用电极的多个在以同样的绕行路径绕过所述贯通孔的部分处，与所述排列间距无关地以互相接近的方式配设。
5.根据权利要求1所述的位置检测用传感器，其特征在于，
所述位置检测用传感器在所述有效区域中检测第一方向的坐标位置和与所述第一方向正交的第二方向的坐标位置，
所述位置检测用电极由在所述第二方向上配设多个的用于检测所述第一方向的坐标位置的第一方向电极和在所述第一方向上配设多个的用于检测所述第二方向的坐标位置的第二方向电极构成，
所述第一方向电极及所述第二方向电极通过在所述绝缘基板的双面配设导体而形成。
6.根据权利要求1所述的位置检测用传感器，其特征在于，
所述多个位置检测用电极的各自是环形线圈的结构。
7.根据权利要求6所述的位置检测用传感器，其特征在于，
跨过所述贯通孔的所述位置检测用电极以弥补由所述导体绕过所述贯通孔引起的由所述环形线圈包围的部分的面积的增减的方式使所述导体的所述贯通孔的周围的形状变形而形成。
8.根据权利要求6所述的位置检测用传感器，其特征在于，
跨过所述贯通孔的所述位置检测用电极在跨过所述贯通孔的即刻之前和/或即刻之后的部分处，以减少由所述导体绕过所述贯通孔引起的变形所引起的由所述环形线圈包围的部分的面积的变化的方式变形而形成。
9.根据权利要求1所述的位置检测用传感器，其特征在于，
所述位置检测用电极通过直线状的所述导体以绕过所述贯通孔的方式攀爬而构成相对于所述直线状的导体的伸出部。
10.根据权利要求1所述的位置检测用传感器，其特征在于，
所述位置检测用电极的各自是偶数次卷绕的环形线圈的结构，在所述偶数次卷绕的各1/2的卷绕数的一方和另一方中，沿着所述贯通孔的形状绕行的方向互相不同。
11.根据权利要求7所述的位置检测用传感器，其特征在于，
在所述位置检测用电极的各自中，沿着所述贯通孔的形状绕行的部分的导体的线宽比其他的部分细。
12.根据权利要求1所述的位置检测用传感器，其特征在于，
所述位置检测用电极由直线状的电极构成，在与所述直线状的电极交叉的方向上排列有多个。
13.一种电子设备，在壳体内配设位置检测用传感器，在所述位置检测用传感器的上方具备相对于所述位置检测用传感器的操作输入面，并且在所述位置检测用传感器的下方配置规定的部件，其特征在于，
所述位置检测用传感器在绝缘基板上配设多个位置检测用电极，配设有所述多个位置检测用电极的区域被设为对检测位置指示体的位置的所述操作输入面上的输入指示进行检测的有效检测区域，
在所述绝缘基板中，在所述有效检测区域内的与所述规定的部件的位置对应的位置处，形成有与所述规定的部件对应的规定的形状的贯通孔，
所述位置检测用电极在跨过所述贯通孔的部分处以沿着所述贯通孔的形状绕过所述贯通孔的方式配设。
14.根据权利要求13所述的电子设备，其特征在于，
具备位置检测装置部，该位置检测装置部基于来自所述位置检测用传感器的所述多个位置检测用电极的信号来检测由所述位置指示体通过所述操作输入面而指示的位置，
所述位置检测装置部具备修正来自跨过所述贯通孔的所述位置检测用电极的信号的修正电路。
15.根据权利要求13所述的电子设备，其特征在于，
具备位置检测装置部，该位置检测装置部基于来自所述位置检测用传感器的所述多个位置检测用电极的信号来检测由所述位置指示体通过所述操作输入面而指示的位置，
所述位置检测装置部具备用于检测在所述贯通孔的附近及所述贯通孔内由所述位置指示体通过所述操作输入面而指示的位置的位置修正电路。
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