CN113990968A - 一种低增益三维插入式SiC探测器芯片及其制备方法 - Google Patents
一种低增益三维插入式SiC探测器芯片及其制备方法 Download PDFInfo
- Publication number
- CN113990968A CN113990968A CN202111248022.6A CN202111248022A CN113990968A CN 113990968 A CN113990968 A CN 113990968A CN 202111248022 A CN202111248022 A CN 202111248022A CN 113990968 A CN113990968 A CN 113990968A
- Authority
- CN
- China
- Prior art keywords
- ohmic contact
- sic
- contact layer
- type ohmic
- layer
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
- 238000002360 preparation method Methods 0.000 title abstract description 10
- 239000000758 substrate Substances 0.000 claims abstract description 48
- 238000002161 passivation Methods 0.000 claims abstract description 18
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 claims description 30
- 239000000463 material Substances 0.000 claims description 26
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 claims description 18
- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims description 10
- 238000003780 insertion Methods 0.000 claims description 9
- 230000037431 insertion Effects 0.000 claims description 9
- 238000000034 method Methods 0.000 claims description 7
- 238000003466 welding Methods 0.000 claims description 7
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 claims description 6
- 238000004140 cleaning Methods 0.000 claims description 6
- 238000009826 distribution Methods 0.000 claims description 6
- 239000011159 matrix material Substances 0.000 claims description 6
- 238000004806 packaging method and process Methods 0.000 claims description 6
- 238000001035 drying Methods 0.000 claims description 5
- 230000004044 response Effects 0.000 abstract description 9
- HBMJWWWQQXIZIP-UHFFFAOYSA-N silicon carbide Chemical compound [Si+]#[C-] HBMJWWWQQXIZIP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 82
- 229910010271 silicon carbide Inorganic materials 0.000 description 82
- 150000002500 ions Chemical class 0.000 description 10
- 230000006872 improvement Effects 0.000 description 9
- 238000005530 etching Methods 0.000 description 7
- 239000002184 metal Substances 0.000 description 6
- 239000002245 particle Substances 0.000 description 6
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 4
- 230000008569 process Effects 0.000 description 4
- 239000000126 substance Substances 0.000 description 4
- 239000011248 coating agent Substances 0.000 description 3
- 238000000576 coating method Methods 0.000 description 3
- 238000000151 deposition Methods 0.000 description 3
- 230000008021 deposition Effects 0.000 description 3
- 238000005553 drilling Methods 0.000 description 3
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 3
- 238000001259 photo etching Methods 0.000 description 3
- 229920002120 photoresistant polymer Polymers 0.000 description 3
- 238000004544 sputter deposition Methods 0.000 description 3
- IJGRMHOSHXDMSA-UHFFFAOYSA-N Atomic nitrogen Chemical compound N#N IJGRMHOSHXDMSA-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N Silicon Chemical compound [Si] XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 229910052681 coesite Inorganic materials 0.000 description 2
- 229910052906 cristobalite Inorganic materials 0.000 description 2
- 238000002347 injection Methods 0.000 description 2
- 239000007924 injection Substances 0.000 description 2
- 238000001755 magnetron sputter deposition Methods 0.000 description 2
- 239000007769 metal material Substances 0.000 description 2
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 2
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 2
- 230000005855 radiation Effects 0.000 description 2
- 229910052710 silicon Inorganic materials 0.000 description 2
- 239000010703 silicon Substances 0.000 description 2
- 239000000377 silicon dioxide Substances 0.000 description 2
- VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N silicon dioxide Inorganic materials O=[Si]=O VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 239000000243 solution Substances 0.000 description 2
- 229910052682 stishovite Inorganic materials 0.000 description 2
- 229910052905 tridymite Inorganic materials 0.000 description 2
- 229910052581 Si3N4 Inorganic materials 0.000 description 1
- 230000009286 beneficial effect Effects 0.000 description 1
- 238000007664 blowing Methods 0.000 description 1
- 230000015556 catabolic process Effects 0.000 description 1
- 238000006073 displacement reaction Methods 0.000 description 1
- 230000005684 electric field Effects 0.000 description 1
- 238000010438 heat treatment Methods 0.000 description 1
- 229910052757 nitrogen Inorganic materials 0.000 description 1
- 230000001737 promoting effect Effects 0.000 description 1
- 229920006395 saturated elastomer Polymers 0.000 description 1
Images
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L31/00—Semiconductor devices sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof
- H01L31/0248—Semiconductor devices sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof characterised by their semiconductor bodies
- H01L31/0256—Semiconductor devices sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof characterised by their semiconductor bodies characterised by the material
- H01L31/0264—Inorganic materials
- H01L31/0312—Inorganic materials including, apart from doping materials or other impurities, only AIVBIV compounds, e.g. SiC
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L31/00—Semiconductor devices sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof
- H01L31/02—Details
- H01L31/0224—Electrodes
- H01L31/022408—Electrodes for devices characterised by at least one potential jump barrier or surface barrier
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L31/00—Semiconductor devices sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof
- H01L31/08—Semiconductor devices sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof in which radiation controls flow of current through the device, e.g. photoresistors
- H01L31/10—Semiconductor devices sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof in which radiation controls flow of current through the device, e.g. photoresistors characterised by potential barriers, e.g. phototransistors
- H01L31/101—Devices sensitive to infrared, visible or ultraviolet radiation
- H01L31/102—Devices sensitive to infrared, visible or ultraviolet radiation characterised by only one potential barrier
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L31/00—Semiconductor devices sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof
- H01L31/18—Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment of these devices or of parts thereof
- H01L31/1804—Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment of these devices or of parts thereof comprising only elements of Group IV of the Periodic Table
- H01L31/1812—Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment of these devices or of parts thereof comprising only elements of Group IV of the Periodic Table including only AIVBIV alloys, e.g. SiGe
-
- Y—GENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
- Y02—TECHNOLOGIES OR APPLICATIONS FOR MITIGATION OR ADAPTATION AGAINST CLIMATE CHANGE
- Y02P—CLIMATE CHANGE MITIGATION TECHNOLOGIES IN THE PRODUCTION OR PROCESSING OF GOODS
- Y02P70/00—Climate change mitigation technologies in the production process for final industrial or consumer products
- Y02P70/50—Manufacturing or production processes characterised by the final manufactured product
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
- Electromagnetism (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Computer Hardware Design (AREA)
- Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
- Power Engineering (AREA)
- Manufacturing & Machinery (AREA)
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Inorganic Chemistry (AREA)
- Electrodes Of Semiconductors (AREA)
Abstract
本发明公开了一种低增益三维插入式SiC探测器芯片及其制备方法,包括:SiC衬底层;SiC衬底层中按预设布局垂直插设有N型欧姆接触层和P型欧姆接触层,SiC衬底层、P型欧姆接触层和N型欧姆接触层的上表面平齐;P型欧姆接触层的侧面与SiC衬底层之间设有增益层,SiC衬底层的顶部设有钝化层,P型欧姆接触层的顶部设有第一电极,N型欧姆接触层的顶部设有第二电极,第二电极与第一电极的极性相反。相较于传统的SiC探测器,本发明的SiC探测器可以增加响应信号,有效解决由于SiC本身较高的电子空穴电离能而导致的信号较小问题;同时,本发明的SiC探测器放大信号的强度远高于噪声,可以有效提高探测器的信噪比。
Description
技术领域
本发明涉及半导体探测器器件技术领域,具体涉及一种低增益三维插入式SiC探测器芯片及其制备方法。
背景技术
随着科技的发展,辐照强度的不断增加,对器件的抗辐照性能提出了更高的要求。第三代宽带隙半导体材料SiC与Si相比,具有较高的热导率和位移阈能,这意味着SiC材料可以应用在高温和高辐照环境中;同时,SiC材料较高的击穿电场和饱和电子漂移速度,使其具有更快的响应速度;极大促进其在空间探测、核电站、粒子对撞机、核反应堆等极端环境中的应用。
目前,SiC材料主要应用在粒子能量和强度探测领域,SiC材料高的禁带宽度导致的低响应信号,制约着其在时间和位置探测芯片方面的发展。在提高响应信号的同时提高SiC探测器芯片的信噪比,有利于提高SiC探测器对穿过粒子的时间和位置分辨能力,从而极大拓宽其应用领域。虽然SiC材料本身拥有良好的抗辐照性能,但是并不足以满足粒子对撞机、空间探测等领域未来的辐照的需求,限制了其发展和应用。
发明内容
针对现有技术中存在的上述问题,本发明提供一种低增益三维插入式SiC探测器芯片及其制备方法。
本发明公开了一种低增益三维插入式SiC探测器芯片,包括:SiC衬底层;
所述SiC衬底层中按预设布局垂直插设有N型欧姆接触层和P型欧姆接触层,所述SiC衬底层、P型欧姆接触层和N型欧姆接触层的上表面平齐;
所述P型欧姆接触层的侧面与所述SiC衬底层之间设有增益层,所述SiC衬底层的顶部设有钝化层,所述P型欧姆接触层的顶部设有第一电极,所述N型欧姆接触层的顶部设有第二电极,所述第二电极与所述第一电极的极性相反。
作为本发明的进一步改进,所述SiC衬底层为N型或者P型掺杂的SiC半导体衬底层。
作为本发明的进一步改进,所述N型欧姆接触层为三维柱状结构的N型欧姆接触层。
作为本发明的进一步改进,所述N型欧姆接触层为N型重掺杂SiC半导体材料,以实现N型欧姆接触和载流子传输。
作为本发明的进一步改进,所述P型欧姆接触层为三维柱状结构的P型欧姆接触层。
作为本发明的进一步改进,所述P型欧姆接触层为P型重掺杂SiC半导体材料,以实现P型欧姆接触和载流子传输。
作为本发明的进一步改进,所述增益层为三维结构的N型掺杂SiC半导体材料。
作为本发明的进一步改进,所述P型欧姆接触层或N型欧姆接触层贯穿或不贯穿所述SiC衬底层。
作为本发明的进一步改进,SiC激光器的探测面的欧姆接触层分布包括方形对称矩阵分布和六角形对称矩阵分布中的一种。
本发明还公开了一种低增益三维插入式SiC探测器芯片的制备方法,包括:
SiC外延片清洗干燥;
制作增益层;
制作P型欧姆接触层;
制作N型欧姆接触层;
制作第一电极;
制作第二电极;
制作钝化层和压焊点;
划片及封装。
与现有技术相比,本发明的有益效果为:
本发明的低增益三维插入式SiC探测器芯片,可以同时解决硅探测器较低的抗辐照性能和碳化硅探测器较低的响应信号问题,其可以作为良好的时间和位置分辨探测器应用在高辐照、高温等极端环境下;同时,由于三维插入式SiC探测器具有较快的响应速度,使其可以在高频粒子信号的探测中得到广泛应用。
附图说明
图1为本发明实施例1公开的低增益三维插入式SiC探测器芯片的结构示意图;
图2为本发明实施例1公开的低增益三维插入式SiC探测器芯片的结构示意图;
图3为图1中激光器探测面的结构示意图;
图4为图2中激光器探测面的结构示意图;
图5为本发明一种实施例公开的低增益三维插入式SiC探测器芯片的制备方法的流程图。
图中:
1、钝化层;2、第一电极;3、第二电极;4、N型欧姆接触层;5、P型欧姆接触层;6、增益层;7、SiC衬底层;
其中,第一电极与第二电极的极性相反。
具体实施方式
为使本发明实施例的目的、技术方案和优点更加清楚,下面将结合本发明实施例中的附图,对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述,显然,所描述的实施例是本发明的一部分实施例,而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例,本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动的前提下所获得的所有其他实施例,都属于本发明保护的范围。
下面结合附图对本发明做进一步的详细描述:
如图1、3所示,本发明提供一种低增益三维插入式SiC探测器芯片,包括:钝化层1、第一电极2、第二电极3、N型欧姆接触层4、P型欧姆接触层5、增益层6和SiC衬底层7,第一电极2与第二电极3的极性相反;其中,
本发明的SiC衬底层7中按预设布局垂直插设有N型欧姆接触层4和P型欧姆接触层5,SiC衬底层7、P型欧姆接触层5和N型欧姆接触层4的上表面平齐,如图1、3所示;P型欧姆接触层5的侧面与SiC衬底层7之间设有增益层6,SiC衬底层7的顶部设有钝化层1,P型欧姆接触层5的顶部设有第一电极2,N型欧姆接触层4的顶部设有第二电极3。
在上述方案中,SiC衬底层7为N型或者P型掺杂的SiC半导体衬底层;N型欧姆接触层4为三维柱状结构的N型欧姆接触层,优选N型欧姆接触层4为N型重掺杂SiC半导体材料,以实现N型欧姆接触和载流子传输;P型欧姆接触层5为三维柱状结构的P型欧姆接触层,优选P型欧姆接触层为P型重掺杂SiC半导体材料,以实现P型欧姆接触和载流子传输;增益层6为三维结构的N型掺杂SiC半导体材料,P型欧姆接触层5或N型欧姆接触层4贯穿或不贯穿SiC衬底层7。
如图5所示,本发明提供一种低增益三维插入式SiC探测器芯片的制备方法,包括:
SiC外延片清洗干燥;
制作增益层;
制作P型欧姆接触层;
制作N型欧姆接触层;
制作第一电极;
制作第二电极;
制作钝化层和压焊点;
划片及封装。
具体制备方法,包括:
步骤一、SiC外延片(SiC衬底层7)清洗干燥:
将待清洗的SiC按照RCA标准清洗,清洗完毕后将芯片用高纯度氮气保护吹干,确保干净以后将待加工外延片加热烘干,待用。
步骤二、制作增益层6:
首先,在待加工外延片通过激光打孔或者是刻蚀方式刻出增益层区域;其次,通过沉积或者溅射方式生长增益层区域;最后,CMP磨片去除表面多余的增益层得到光滑的外延片。
步骤三、制作P型欧姆接触层5:
首先,在待加工外延片通过激光打孔或者是刻蚀方式刻出P型欧姆接触层区域;其次,通过沉积或者溅射方式生长P型欧姆接触层;然后,通过离子注入方式注入掺杂离子,使得欧姆接触层的掺杂浓度能达到欧姆接触标准;最后,CMP磨片去除表面P型欧姆接触层得到光滑的外延片。
步骤四、制作N型欧姆接触层4:
首先,在待加工外延片通过激光打孔或者是刻蚀方式刻出N型欧姆接触层区域;其次,通过沉积或者溅射方式生长N型欧姆接触层;然后,通过离子注入方式注入掺杂离子,使得欧姆接触层的掺杂浓度能达到欧姆接触标准;最后,CMP磨片去除表面N型欧姆接触层得到光滑的外延片。
步骤五、制作第一电极2:
在待加工外延片涂上SU-8等负性剥离光刻胶,通过光刻显影,制作电极图形。然后,磁控溅射技术溅射等金属工艺,生长电极金属材料。最后,进行金属剥离工艺,制作金属第一电极。
步骤六、制作第二电极3:
在待加工外延片涂上SU-8等负性剥离光刻胶,通过光刻显影,制作电极图形。然后,磁控溅射技术溅射等金属工艺,生长电极金属材料。最后,进行金属剥离工艺,制作金属第二电极。
步骤七、制作钝化层1和压焊点:
首先,在待加工外延片上沉积或者溅射一定厚度SiO2、AlN以及Si3N4等绝缘物质作为钝化层;其次,待加工外延片涂上AZ5214等光刻胶,光刻显影第一电极与欧姆接触层的掏孔,腐蚀或者刻蚀钝化层,制作出电极与欧姆接触层的掏孔,等待打线封装使用。
步骤八、划片及封装:
制作好的芯片用划片机划片,采用热压焊等方式完成外界供电系统电极与焊接点的焊接,并完成芯片封装。
实施例1:
如图1所示,本发明提供一种低增益三维插入式SiC探测器芯片及其制备方法,包括:钝化层1、第一电极2、第二电极3、N型欧姆接触层4、P型欧姆接触层5、增益层6和SiC衬底层7,第一电极2与第二电极3的极性相反;SiC衬底层7中垂直插设有N型欧姆接触层4和P型欧姆接触层5,SiC衬底层7、P型欧姆接触层5和N型欧姆接触层4的上表面平齐;P型欧姆接触层5的侧面与SiC衬底层7之间设有增益层6,SiC衬底层7的顶部设有钝化层1,P型欧姆接触层5的顶部设有第一电极2,N型欧姆接触层4的顶部设有第二电极3。其中,
本发明的增益层6为三维结构的N型掺杂SiC半导体材料,掺杂离子为N3-,掺杂浓度约为1×1016-1×1017cm-3;P型欧姆接触层5为三维柱状结构的P型重掺杂欧姆接触层,掺杂离子为B3+,掺杂浓度约为5×1018-5×1020cm-3;N型欧姆接触层4为三维柱状结构的N型重掺杂欧姆接触层,掺杂离子为N3-,掺杂浓度约为5×1018-5×1020cm-3;SiC衬底层7为N型或者P型半绝缘掺杂的SiC半导体衬底层,掺杂浓度为1×1012-1×1014cm-3;钝化层1的材料为SiO2,厚度为300nm-500nm之间,第一电极2的材料为Al/Ti/Au=30/70/100nm,第二电极3的材料为Ni=500nm;P型欧姆接触层5和N型欧姆接触层4不贯穿SiC衬底。
本本发明的低增益三维插入式SiC探测器芯片的P型欧姆接触层5和N型欧姆接触层4插入分布如图3所示,呈现方形对称矩阵分布。
实施例2:
如图2所示,本发明提供一种低增益三维插入式SiC探测器芯片及其制备方法,包括:钝化层1、第一电极2、第二电极3、N型欧姆接触层4、P型欧姆接触层5、增益层6和SiC衬底层7,第一电极2与第二电极3的极性相反;SiC衬底层7中垂直插设有N型欧姆接触层4和P型欧姆接触层5,SiC衬底层7、P型欧姆接触层5和N型欧姆接触层4的上表面平齐;P型欧姆接触层5的侧面与SiC衬底层7之间设有增益层6,SiC衬底层7的顶部设有钝化层1,P型欧姆接触层5的顶部设有第一电极2,N型欧姆接触层4的顶部设有第二电极3。其中,
本发明的增益层6为三维结构的N型掺杂SiC半导体材料,掺杂离子为N3-,掺杂浓度约为1×1016-1×1017cm-3;P型欧姆接触层5为三维柱状结构的P型重掺杂欧姆接触层,掺杂离子为B3+,掺杂浓度约为5×1018-5×1020cm-3;N型欧姆接触层4为三维柱状结构的N型重掺杂欧姆接触层,掺杂离子为N3-,掺杂浓度约为5×1018-5×1020cm-3;SiC衬底层7为N型或者P型半绝缘掺杂的SiC半导体衬底层,掺杂浓度为1×1012-1×1014cm-3;钝化层1的材料为SiO2,厚度为300nm-500nm之间,第一电极2的材料为Al/Ti/Au=30/70/100nm,第二电极3的材料为Ni=500nm,P型欧姆接触层5和N型欧姆接触层4不贯穿SiC衬底。
本发明的低增益三维插入式SiC探测器芯片的P型欧姆接触层5和N型欧姆接触层4插入分布如图4所示,呈现六角形对称矩阵分布。
本发明的优点为:
本发明的SiC探测器可以增加响应信号且提高信噪比,可以同时解决硅探测器较低的抗辐照性能和碳化硅探测器较低的响应信号问题,其可以作为良好的时间和位置分辨探测器应用在高辐照、高温等极端;同时,由于三维插入式SiC探测器具有较快的响应速度,使其可以在高频粒子信号的探测中得到广泛应用。
以上仅为本发明的优选实施例而已,并不用于限制本发明,对于本领域的技术人员来说,本发明可以有各种更改和变化。凡在本发明的精神和原则之内,所作的任何修改、等同替换、改进等,均应包含在本发明的保护范围之内。
Claims (10)
1.一种低增益三维插入式SiC探测器芯片,其特征在于,包括:SiC衬底层;
所述SiC衬底层中按预设布局垂直插设有N型欧姆接触层和P型欧姆接触层,所述SiC衬底层、P型欧姆接触层和N型欧姆接触层的上表面平齐;
所述P型欧姆接触层的侧面与所述SiC衬底层之间设有增益层,所述SiC衬底层的顶部设有钝化层,所述P型欧姆接触层的顶部设有第一电极,所述N型欧姆接触层的顶部设有第二电极,所述第二电极与所述第一电极的极性相反。
2.如权利要求1所述的低增益三维插入式SiC探测器芯片,其特征在于,所述SiC衬底层为N型或者P型掺杂的SiC半导体衬底层。
3.如权利要求1所述的低增益三维插入式SiC探测器芯片,其特征在于,所述N型欧姆接触层为三维柱状结构的N型欧姆接触层。
4.如权利要求3所述的低增益三维插入式SiC探测器芯片,其特征在于,所述N型欧姆接触层为N型重掺杂SiC半导体材料,以实现N型欧姆接触和载流子传输。
5.如权利要求1所述的低增益三维插入式SiC探测器芯片,其特征在于,所述P型欧姆接触层为三维柱状结构的P型欧姆接触层。
6.如权利要求5所述的低增益三维插入式SiC探测器芯片,其特征在于,所述P型欧姆接触层为P型重掺杂SiC半导体材料,以实现P型欧姆接触和载流子传输。
7.如权利要求1所述的低增益三维插入式SiC探测器芯片,其特征在于,所述增益层为三维结构的N型掺杂SiC半导体材料。
8.如权利要求1~7中任一项所述的低增益三维插入式SiC探测器芯片,其特征在于,所述P型欧姆接触层或N型欧姆接触层贯穿或不贯穿所述SiC衬底层。
9.如权利要求1~7中任一项所述的低增益三维插入式SiC探测器芯片,其特征在于,SiC激光器的探测面的欧姆接触层分布包括方形对称矩阵分布和六角形对称矩阵分布中的一种。
10.一种如权利要求1~9中任一项所述的低增益三维插入式SiC探测器芯片的制备方法,其特征在于,包括:
SiC外延片清洗干燥;
制作增益层;
制作P型欧姆接触层;
制作N型欧姆接触层;
制作第一电极;
制作第二电极;
制作钝化层和压焊点;
划片及封装。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
CN202111248022.6A CN113990968A (zh) | 2021-10-26 | 2021-10-26 | 一种低增益三维插入式SiC探测器芯片及其制备方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
CN202111248022.6A CN113990968A (zh) | 2021-10-26 | 2021-10-26 | 一种低增益三维插入式SiC探测器芯片及其制备方法 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
CN113990968A true CN113990968A (zh) | 2022-01-28 |
Family
ID=79741653
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
CN202111248022.6A Pending CN113990968A (zh) | 2021-10-26 | 2021-10-26 | 一种低增益三维插入式SiC探测器芯片及其制备方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
CN (1) | CN113990968A (zh) |
Citations (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US20130059429A1 (en) * | 2011-09-07 | 2013-03-07 | Katsunori Danno | Method of production of sic semiconductor device |
CN103400872A (zh) * | 2013-06-30 | 2013-11-20 | 北京工业大学 | 表面电场增强的pin光电探测器的结构及其制备方法 |
JP2019110226A (ja) * | 2017-12-19 | 2019-07-04 | 三菱電機株式会社 | SiC半導体装置、電力変換装置およびSiC半導体装置の製造方法 |
CN111463308A (zh) * | 2020-05-13 | 2020-07-28 | 厦门大学 | 一种碳化硅同轴紫外光电探测器及其制备方法 |
CN111509078A (zh) * | 2020-01-20 | 2020-08-07 | 中国科学院微电子研究所 | 硅基光电探测器及其制造方法 |
CN112687758A (zh) * | 2020-12-29 | 2021-04-20 | 电子科技大学 | 一种碳化硅-硅异质结结构的光电探测器及其制备方法 |
-
2021
- 2021-10-26 CN CN202111248022.6A patent/CN113990968A/zh active Pending
Patent Citations (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US20130059429A1 (en) * | 2011-09-07 | 2013-03-07 | Katsunori Danno | Method of production of sic semiconductor device |
CN103400872A (zh) * | 2013-06-30 | 2013-11-20 | 北京工业大学 | 表面电场增强的pin光电探测器的结构及其制备方法 |
JP2019110226A (ja) * | 2017-12-19 | 2019-07-04 | 三菱電機株式会社 | SiC半導体装置、電力変換装置およびSiC半導体装置の製造方法 |
CN111509078A (zh) * | 2020-01-20 | 2020-08-07 | 中国科学院微电子研究所 | 硅基光电探测器及其制造方法 |
CN111463308A (zh) * | 2020-05-13 | 2020-07-28 | 厦门大学 | 一种碳化硅同轴紫外光电探测器及其制备方法 |
CN112687758A (zh) * | 2020-12-29 | 2021-04-20 | 电子科技大学 | 一种碳化硅-硅异质结结构的光电探测器及其制备方法 |
Non-Patent Citations (1)
Title |
---|
ALI ALDALBAHI 等: ""A new approach for fabrications of SiC based photodetectors"", 《SCIENTIFIC REPORTS》, vol. 6 * |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
CN106129166B (zh) | 一种GaN‑MoS2分波段探测器及其制备方法 | |
CN107369720B (zh) | 一种p型金刚石高低势垒肖特基二极管及其制备方法 | |
CN110112215A (zh) | 兼具栅极电介质和刻蚀阻挡层功能结构的常关型功率器件及其制备方法 | |
CN103578978A (zh) | 一种基于硅基键合材料的高压快恢复二极管制造方法 | |
CN109686812B (zh) | 基于隧穿氧化层的键合硅pin辐射响应探测器及制备方法 | |
WO2023061235A1 (zh) | 基于选区离子注入的新型碳化硅基横向pn结极紫外探测器及制备方法 | |
CN106601826A (zh) | 一种快恢复二极管及其制作方法 | |
JPS59184565A (ja) | パワ−半導体構造素子およびその製法 | |
CA1096052A (en) | Method of manufacturing a gate turn-off thyristor | |
WO2019090880A1 (zh) | 一种快速软恢复二极管芯片的制造方法 | |
CN113990968A (zh) | 一种低增益三维插入式SiC探测器芯片及其制备方法 | |
CN101527331A (zh) | 金刚石薄膜场效应光电探测器的制备方法 | |
CN106711273A (zh) | 一种变掺杂变组分AlGaAsGaAs核辐射探测器 | |
KR20140140200A (ko) | 태양 전지 및 이의 제조 방법 | |
JP2020161774A (ja) | アバランシェフォトダイオードおよびその製造方法 | |
CN219959011U (zh) | 一种含透明电极的碳化硅探测器芯片 | |
CN114551617A (zh) | 一种单行载流子光探测器及其制备方法 | |
CN113380876A (zh) | 一种氮化镓功率器件结构及制备方法 | |
WO2020103770A1 (zh) | 快恢复二极管及其制备方法 | |
CN116705869A (zh) | 一种含透明电极的碳化硅探测器芯片的制备方法及其应用 | |
CN111697092A (zh) | 具有非穿透沟槽的窄边缘电流型硅pin辐射探测器及其制备方法 | |
CN104701405A (zh) | 碳化硅嵌入式电极异面型光导开关及其制作方法 | |
CN115274436B (zh) | 一种快恢复二极管及其制备方法 | |
CN114597273B (zh) | 一种双面碳化硅pin结构微条辐射探测器及其制备方法 | |
CN113644114B (zh) | 芯片、芯片制备方法及电子器件 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
PB01 | Publication | ||
PB01 | Publication | ||
SE01 | Entry into force of request for substantive examination | ||
SE01 | Entry into force of request for substantive examination |