CN113920938B - 校准装置、显示芯片和显示器 - Google Patents

Abstract

一种校准装置、显示芯片和显示器，校准装置适于与至少一个像素单元耦接，所述像素单元适于接收选择信号和参考写入电压，并在所述选择信号为有效电平时，基于所述参考写入电压提供初始输出电压。所述校准装置包括：模数转换单元，适于获得基准电压与所述初始输出电压之间的第一电压差值，并对所述第一电压差值进行模数转换以获得差值量化值，所述差值量化值与提供所述初始输出电压的像素单元相对应。

Description

校准装置、显示芯片和显示器

技术领域

本发明涉及电路领域，尤其涉及一种校准装置、显示芯片和显示器。

背景技术

硅基有机发光显示屏(OLED on silicon)区别于传统的有机发光二极管(OrganicLight-Emitting Diode,OLED)显示器，它是基于硅片(芯片)进行设计的显示器。它的像素尺寸远小于传统的OLED，主要应用领域为VR、AR等领域。

在微显示(micro OLED)领域，即OLED on Silicon领域，保持每个像素单元的响应一致性是一项关键性的技术指标，良好的一致性会提升显示器的显示效果，所以业界对响应一致性有强制性的指标要求。

图1是一种传统的AM-OLED 2T1C(2个晶体管1个电容)驱动电路结构，用于驱动像素单元中的发光二极管D1。该结构包含开关管M1、驱动管Md和电容C。

当选择信号SCAN为高电平时，晶体管M1打开，发光二极管D1所在的像素单元被选中。图像信号VDATA通过晶体管M1写到电容C的上极板，即驱动管Md的栅极。当图像信号VDATA与驱动管Md源极之间的电压差值大于驱动管Md的阈值电压Vth时，发光二极管D1开始有电流流过，发光二极管D1开始发光，其发光强度与流经的电流成正比。

假设驱动管Md工作在饱和区，其流经的电流Id：

Id＝0.5*μ*Cox*W/L*(VDATA-VANODE-Vth)² 公式1

在公式1中，μ为驱动管Md的迁移率，Cox为驱动管Md单位面积的栅氧化层电容，W为驱动管Md的栅宽度，L为驱动管Md的栅长度，VDATA为图像信号VDATA的电压值，VANODE为驱动管Md源极的电压值，Vth为驱动管Md的阈值电压。

当选择信号SCAN为低电平时，晶体管M1断开，图像信号VDATA的电压保存在电容C上，发光二极管D1持续发光，直到晶体管M1再次打开，刷图像信号VDATA的电压值。

由公式1可以看出，流经发光二极管D1的电流值不仅与图像信号VDATA的大小有关，还与驱动管Md的阈值电压Vth有关，因此阈值电压Vth的偏移会造成发光二极管D1的亮度存在差异。

Sony公司提出一种OLED on Silicon显示器的像素结构，它采用了4T2C(4个晶体管2个电容)的结构，此结构具有一致性校准功能。目前，本领域基本都采用此类的像素级校准方式，即在像素单元内，通过改变结构达到校准目的。

然而，像素级校准方式的缺点是像素结构特别复杂，多数需要做到4T-6T，或者需要多个电容存储失配。在OLED的像素尺寸不断缩小的趋势下，如目前主流0.39inch显示器的像素尺寸为2.6um x 7.8um，越来越无法实现。

发明内容

本发明解决的问题是：现有像素级校准方式的像素结构特别复杂。

为解决上述问题，本发明提供一种校准装置，适于与至少一个像素单元耦接，所述像素单元适于接收选择信号和参考写入电压，并在所述选择信号为有效电平时，基于所述参考写入电压提供初始输出电压。

所述校准装置包括：模数转换单元，适于获得基准电压与所述初始输出电压之间的第一电压差值，并对所述第一电压差值进行模数转换以获得差值量化值，所述差值量化值与提供所述初始输出电压的像素单元相对应。

本发明还提供一种显示芯片，包括至少一个像素单元和上述校准装置。

本发明还提供一种显示器，包括上述显示芯片。

与现有技术相比，本发明的技术方案具有以下优点：

使用本申请实施例提供的校准装置获得的第一电压差值与被选择像素单元中的驱动管阈值偏差相关，对第一电压差值进行量化获得的差值量化值，体现了驱动管阈值偏差的量化值，这为基于所述差值量化值而建立响应一致性校准提供了基础。这种校准方式属于系统级校准方式，与现有的像素级校准方式不同的是，其一致性校准并不是在单个像素单元内完成的，所以校准方案不受限于像素单元的结构，也无需将像素单元的结构做的特别复杂。

附图说明

图1是传统的驱动电路结构示意图；

图2是本发明实施例提供的校准装置结构示意图；

图3是本发明实施例提供的校准装置与像素阵列连接示意图；

图4是本发明实施例提供的模数转换单元结构示意图；

图5是本发明另一实施例提供的模数转换单元结构示意图；

图6是本发明实施例提供的数模转换单元结构示意图；

图7是本发明实施例提供的像素单元和参考像素结构示意图；

图8是本发明实施例提供的相关时序图。

具体实施方式

为使本发明的上述目的、特征和优点能够更为明显易懂，下面结合附图对本发明的具体实施例做详细的说明。

如图2所示，本发明实施例提供一种校准装置，适于与至少一个像素单元11耦接。所述像素单元11适于接收选择信号WR和参考写入电压Vw1，并在选择信号WR为有效电平时，基于参考写入电压Vw1提供初始输出电压Vout1。

所述校准装置包括：模数转换单元12。模数转换单元12可以获得基准电压Vref与初始输出电压Vout1之间的第一电压差值，并对所述第一电压差值进行模数转换以获得差值量化值，所述差值量化值与提供初始输出电压Vout1的像素单元11相对应。

所述像素单元11可以包括：开关管M1、驱动管Md、输出管M2、电容C和发光二极管D1。图2中像素单元11的结构仅为示意性说明，实际应用中，可以采用任一结构的像素单元。

开关管M1的源极连接电容C的第一端和驱动管Md的栅极，开关管M1的栅极适于输入行选择信号WR，当行选择信号WR控制开关管M1打开时，可以将数据写入像素单元。

驱动管Md的漏极适于输入电源电压Vdd，源极连接发光二极管D1阳极和输出管M2源极。电容C的第二端和发光二极管D1阴极均接地。输出管M2打开时，其漏极提供输出电压。

所述第一电压差值实际上与被选择像素单元中的驱动管Md阈值偏差相关，对第一电压差值进行量化获得的差值量化值，体现了驱动管Md阈值偏差的量化值，这为基于所述差值量化值而建立响应一致性补偿提供了基础。

本实施例提供的校准装置属于系统级校准方式，与现有的像素级校准方式不同的是，其一致性校准并不是在单个像素单元内完成的，不受限于像素单元的结构，也无需改变像素单元的结构。

此外，目前OLED on silicon芯片的生产可以划分为两大环节：先在芯片代工厂生产芯片，然后将芯片从芯片代工厂转移至OLED生产厂进行蒸镀生产。OLED on silicon芯片从芯片代工厂出货时还未进行蒸镀生产，不具备发光功能，因此，基于芯片无法进行良率测试(CP-Chip Probe)。这就导致无论芯片是否损坏，必须进行蒸镀生产后才能继续进行良率测试。造成了大量的浪费。

而本实施例校准装置获得的差值量化值可以体现OLED on silicon芯片的良率，因为驱动管的短路或开路时，差值量化值损失很大。通过读取该差值量化值即可在蒸镀生产之前获知芯片是否可以正常工作。

所述校准装置还可以包括基于所述差值量化值而建立的一致性补偿结构。继续参考图2，所述校准装置还包括：数据处理单元13和数模转换单元14。

数据处理单元13可以根据原始驱动数据和所述差值量化值产生修正驱动数据，所述原始驱动数据与所述提供初始输出电压Vout1的像素单元11相对应，所述原始驱动数据为未校正前待写入像素单元11的驱动数据。

数模转换单元14对修正驱动数据进行数模转换以产生驱动电压Vw2，并将驱动电压Vw2输出至所述提供初始输出电压Vout1的像素单元11。提供所述初始输出电压Vout1的像素单元11在选择信号WR为有效电平时，基于驱动电压Vw2提供修正输出电压Vout2。

OLED发出的光信号是一种模拟信号，所以OLED显示器本质上的过程也是数字转模拟的过程，所以，OLED显示器领域有其特殊的性质。因此，本领域技术人员设计的补偿电路都是在模拟域进行，而本申请发明人打破了这种领域内的思维惯性，发明了本实施例所述的校准装置：先获得与像素单元对应的差值量化值，然后利用差值量化值补偿原始驱动数据，充分利用了数字域技术的优势。

如图3所示，校准装置还可以包括至少一条写入线WL和至少一条读出线RL。至少一个像素单元呈阵列排布，位于同一列的像素单元连接同一条读出线，位于同一列的像素单元连接同一写入读出线。原始驱动数据写入总线将原始驱动数据传输至锁存器，数据驱动单元从锁存器中获取原始驱动数据。

模数转换单元通过读出线获取像素单元11提供的初始输出电压Vout1或驱动电压Vout2。数模转换单元通过写入线将初始输出电压Vw1或驱动电压Vw2写入至像素单元11。

具体的，所述至少一个像素单元呈m行n列排布。

位于第1列的存储单元连接第1条读出线RL1和第1条写入线WL1，位于第2列的存储单元连接第2条读出线RL2和第2条写入线WL2，位于第3列的存储单元连接第3条读出线RL3和第3条写入线WL3……位于第n列的存储单元连接第n条读出线RLn和第n条写入线WLn。

在芯片正常工作显示之前，可以读出像素阵列中所有像素单元的差值量化值，将其作为失配数据，通过失配数据读出总线传输到芯片的数字与控制电路中。后续可以将差值量化值存储于芯片内的OTP(One Time Programming)存储器，或通过IO输出到片外进行存储。在片外存储的方式中，可以选择EEPROM或者FLASH进行存储。

如图4所示，所述模数转换单元12可以包括：比较器121和量化处理单元122。

所述比较器121的负相输入端输入所述基准电压Vref或初始输出电压Vout1。所述比较器121的正相输入端可以输入第一斜坡信号Ramp1。所述量化处理单元122根据比较器121的输出结果获得所述差值量化值。

模数转换单元12还可以包括：第一开关S1、第二开关S2和第一选择开关Ramp_selb。

第一开关S1的第一端输入基准电压Vref，第二端连接第二开关S2的第一端和比较器121的负相输入端。第二开关S2的第二端连接读出线RL，适于输入初始输出电压Vout1。第一选择开关Ramp_selb的第一端连接比较器121的正相输入端，第二端适于输入第一斜坡信号Ramp1。

当第一开关S1闭合且第二开关S2断开时，基准电压Vref通过第一开关S1输入至比较器121的负相输入端。当第一开关S1断开且第二开关S2闭合时，初始输出电压Vout1通过第二开关S2输入至比较器121的负相输入端。第一选择开关Ramp_selb闭合时，第一斜坡信号Ramp1通过第一选择开关Ramp_selb输入至比较器121的正相输入端。

量化处理单元122可以量化基准电压Vref以获得第三量化值，量化初始输出电压Vout1以获得第四量化值，根据所述第三量化值和第四量化值之间的差值获得所述差值量化值。

如图5所示，作为另一种可实现的方式，量化处理单元122可以先量化复位电平以获得第一量化值，再量化复位电平V1与第一电压差值之间的差值以获得第二量化值，然后根据第一量化值和第二量化值之间的差值获得所述差值量化值。

具体来说，模数转换单元12还包括：第一电容C1。

所述比较器121的负相输入端通过所述第一电容C1输入基准电压Vref或初始输出电压Vout1，其中，所述第一电容C1的第一端适于输入基准电压Vref或初始输出电压Vout1，所述第一电容C1的第二端连接所述比较器121的负相输入端。

第一开关S1的第一端适于输入基准电压Vref，第二端连接第二开关S2的第一端和第一电容C1的第一端，第一电容C1的第二端连接比较器121的负相输入端。

在所述比较器121的负相输入端通过所述第一电容C1输入所述基准电压Vref时，所述第一电容C1的第二端被施加复位电平V1，所述复位电平V1小于或等于所述第一斜坡信号Ramp1的最大值，且大于或等于所述第一斜坡信号Ramp1的最小值，即位于第一斜坡信号Ramp1的电压变化范围内。在所述比较器121的负相输入端通过所述第一电容C1输入初始输出电压Vout1时，所述第一电容C1的第二端停止被施加复位电平V1。

为了施加所述复位电平V1，所述模数转换单元12还可以包括：自动调零开关AZ(auto-zero)和复位开关Sref1。

所述比较器121的正相输入端连接复位开关Sref1的第一端和第一选择开关Ramp_selb的第一端，复位开关Sref1的第二端适于输入复位电平V1，所述复位电平V1可以与基准电压Vref的电压相等。第一选择开关Ramp_selb的第二端适于输入第一斜坡信号Ramp1。

所述自动调零开关AZ的第一端连接所述第一电容C1的第二端，所述自动调零开关AZ的第二端连接所述比较器121的输出端。在所述比较器121的负相输入端通过所述第一电容C1输入所述基准电压Vref时，所述比较器121的正相输入端输入所述复位电平V1，所述自动调零开关AZ处于闭合状态，此时复位电平V1通过比较器121和自动调零开关AZ施加至第一电容C1的第二端。在所述比较器121的负相输入端通过所述第一电容C1输入初始输出电压Vout1时，所述比较器的正相输入端输入所述第一斜坡信号Ramp1，所述自动调零开关AZ处于断开状态。

所述量化处理单元122可以包括：第一计数器。

所述比较器121的负相输入端输入所述基准电压Vref时，所述第一斜坡信号Ramp1由最高值或最低值开始变化，所述第一计数器从起始值开始进行正向计数，当所述比较器121的输出端提供的输出结果发生突变时，所述第一计数器停止计数以获得第一数值。本领域技术人员都知晓，比较器121比较正相输入端和负相输入端上的电压，当电压大小关系发生时，输出结果会发生突变。

所述比较器121的负相输入端输入所述像素单元提供的初始输出电压Vout1时，所述第一斜坡信号Ramp1重新由最高值或最低值开始变化，所述第一计数器从所述第一数值开始进行反向计数，当所述比较器121的输出端提供的输出结果发生突变时，所述第一计数器停止计数以获得所述差值量化值。

如图6所示，本实施例所述的数模转换单元14可以包括：第二计数器141和缓存单元，所述缓存单元适于输入第二斜坡信号Ramp2。

当第二计数器141开始进行计数时，所述第二斜坡信号Ramp2由最高值或最低值开始变化。当所述第二计数器141的计数值与所述修正驱动数据相关时，所述第二计数器141停止计数，且所述第二斜坡信号Ramp2停止变化，所述缓存单元将停止变化的第二斜坡信号Ramp2的电压作为所述驱动电压Vw2。

所述第二计数器141的计数值与所述修正驱动数据相关包括：计数过程遍历过的数值与修正驱动数据相等。例如，第二计数器141从0开始正向基数，当第二计数器141的计数值与修正驱动数据相等时，第二计数器141停止计数。或者，第二计数器141从较大数值开始反向基数，当第二计数器141的计数值与较大数值的差值等于修正驱动数据时，第二计数器141停止计数。

所述缓存单元包括：放大器142和第二选择开关Ramp_sel。

所述放大器142的正相输入端连接所述第二选择开关Ramp_sel的第一端。第二选择开关Ramp_sel的第二端适于输入所述第二斜坡信号Ramp2，所述第二选择开关Ramp_sel适于在所述第二斜坡信号Ramp2变化时处于断开状态，在所述第二斜坡信号Ramp2停止变化时处于闭合状态。

所述放大器142的负相输入端连接所述放大器142的输出端，所述放大器142的负相输入端适于输出所述驱动电压Vw2。

在本实施例中，模数转换单元12可以通过放大器142获得基准电压Vref。具体的，放大器142的正相输入端输入基准电压Vref，输出端连接模数转换单元12中的第一开关S1。当第一开关S1闭合时，基准电压Vref经过放大器142的放大后输入至模数转换单元12。

具体的，数模转换单元14还包括：基准开关Sref2。基准开关Sref2的第一端连接放大器142的正相输入端，第二端适于输入所述基准电压Vref。在所述基准开关Sref2闭合时，基准电压Vref输入至放大器142的正相输入端。

由于驱动电压Vw2是由放大器142输出的，其实际携带了放大器142的失调。在该情况下，通过放大器142提供基准电压Vref至模数转换单元12进行量化，可以将放大器142的失调一并量化进去并进行后续补偿，从而抵消驱动电压Vw2中携带的放大器142失调问题。

所述数模转换单元14还可以包括：第三开关S3和第四开关S4。

所述第三开关S3的第一端连接所述放大器142的输出端，第二端连接所述第四开关S4的第一端和写入线WL。第四开关S4的第二端适于输入参考写入电压Vw1。

当第三开关S3闭合而第四开关S4断开时，写入电压Vw1经过第三开关S3输入写入线WL，并提供至像素单元11的开关管M1漏极。在待选择信号WR的有效电平期间，开关管M1打开，将写入电压Vw1提供至驱动管Md的栅极，驱动管Md的源极产生初始输出电压Vout1。

当第三开关S3断开而第四开关S4闭合时，驱动电压Vw2经过第四开关S4输入写入线WL，并提供至像素单元11的开关管M1漏极。在待选择信号WR的有效电平期间，开关管M1打开，将驱动电压Vw2提供至驱动管Md的栅极，驱动管Md的源极产生修正输出电压Vout2。

基准电压Vref是所有像素单元的参考，它可以是某个参考像素的输出电压，也可以是一组参考像素的输出电压的均值。如图7所示，所述校准装置还与至少一个参考像素11ref耦接。

所述参考像素11ref可以接收参考选择信号WR_ref和参考写入电压Vw1，并在所述参考选择信号WR_ref为有效电平时，基于所述参考写入电压Vw1提供基准电压Vref。所述参考像素11ref与像素单元11的结构相同，此处不再赘述。

参考像素11ref中的参考驱动管Md_ref栅极与像素单元11中的驱动管Md栅极均输入参考写入电压Vw1时，驱动管Md与参考驱动管Md_ref均作为源级跟随器进行工作。在栅极电压相同的情况下，驱动管Md与参考驱动管Md_ref的源极电压之差体现为阈值电压之差。

依据上述特点，使用模数转换单元12获取参考像素单元提供的基准电压Vref和连接像素单元的读出线BL上的电压差值(第一电压差值)，并对差值进行量化，即可获得对应每个像素单元的差值量化值。

下面结合图6和图8进一步详细说明。

OLED的驱动数据是逐行进行写入的，假设芯片有800x600的分辨率，也就是800列600行。那么在选中其中一行的时候，将有800列电路同时对这一行的像素单元进行写入。同一行的像素单元输入同一个选择信号WR，当为选择信号WR有效电平时，即选择该行的像素单元，代表了此行时序的开始。在对此行的操作中，要完成量化和写入两个过程：量化是为了量化出像素单元之间的偏差。写入是将发光信息(驱动数据)与偏差相叠加后写入到像素单元的驱动。

所述量化阶段包括两次量化，第一次量化过程如下：

参考选择信号为有效电平(图8未示出)，参考像素基于参考写入电压Vw1输出基准电压Vref，Vref＝Vdd-Vth0，Vth0为参考像素中的参考驱动管Md_ref的阈值电压；

选择信号WR为高电平(有效电平)，第四开关S4闭合(高电平)，参考写入电压Vw1通过写入线WL写入像素单元11，像素单元11基于参考写入电压Vw1输出初始输出电压Vout1至读出线RL；

第二选择开关Ramp_sel断开(低电平)，基准开关Sref2闭合，第一开关闭合(高电平)，放大器142正相输入端输入基准电压Vref，并经过放大器142的增益到达第一电容C1的第一端；

第一选择开关Ramp_selb先断开再闭合；

第一选择开关Ramp_selb断开期间复位开关Sref1闭合，自动调零开关AZ闭合(高电平)，复位电平V1被施压至第一电容C1第二端；

第一选择开关Ramp_selb闭合期间复位开关Sref1断开，自动调零开关AZ断开(低电平)，第一斜坡信号Ramp1开始从最低值向最高值变化，量化处理单元122中的第一计数器从0开始计数，当第一斜坡信号Ramp1的电压等于复位电平V1的电压时，比较器121的输出值发生突变，第一计数器停止计数，此时计数值为复位电平V1的量化值。

第二次量化过程如下：

第一开关S1断开(低电平)，第二开关S2闭合(高电平)，由于第一电容C1两端压差固定，所以第一电容C1的第一端电压变化等于第二端电压变化，第一电容C1的第一端从基准电压Vref变化为初始输出电压Vout1＝Vdd-Vth，Vth为像素单元中的驱动管Md的阈值电压，第一电容C1的第二端由复位电平V1变化为V2＝V1-(Vref-Vout1)＝V1-(Vref-(Vdd-Vth))；

第一选择开关Ramp_selb闭合而复位开关Sref1断开，自动调零开关AZ断开(低电平)，第一斜坡信号Ramp1重新开始从最低值向最高值变化，量化处理单元122中的第一计数器开始反向计数，当第一斜坡信号Ramp1的电压等于第一电容C1的第二端电压V2时，比较器121的输出值发生突变，第一计数器停止计数，此时计数值为差值量化值

Vd＝V2-V1＝(Vdd-Vth)-Vref＝Vth0-Vth；

所述差值量化值呈现了参考驱动管Md_ref和驱动管Md的阈值电压之差。

所述写入过程包括：

数据处理单元13原始驱动数据和差值量化值输出修正驱动数据至数模转换单元14中的第二计数器141，第二计数器141将计数初始值设置为与修正驱动数据相同；

第二计数器141从计数初始值开始反向计数时，第二斜坡信号Ramp2由最高值或最低值开始变化，在所述第二计数器141的计数值变为0时，第二计数器141停止计数，且第二斜坡信号Ramp2停止变化，此后，第二选择开关Ramp_sel闭合，基准开关Sref2断开，第三开关S3闭合，放大器142提供驱动电压Vout2至写入线WR。

使用模数转换单元获取所有像素单元和参考像素的输出电压对应的数字量后，将所有像素单元对应的数字量均与参考像素对应的数字量做差，即可获得每个像素单元的偏差量。为了便于集成，所述模数转换单元可以采用列DAC，数模转换单元可以采用列ADC。

本实施例校准方案的核心是使用模数转换单元将每个像素单元中的驱动管阈值偏差量化出来，而后使用量化后的数据进行一定的数字信号处理，从而获得校准后的驱动数据，以此来保证像素阵列的一致性。驱动管的阈值电压偏差，可以通过获取读取线RL电压与基准电压Vref之差来获取。

使用本实施例所述的校准装置，可以获取全部像素单元的差值量化值，然后将其存储在存储器中，驱动像素单元时从存储器读取全部的差值量化值。这样可以借助存储器，例如FLASH或OTP等，驱动像素单元时也不必读逐帧读取，提高了帧率。

所述校准装置也可以逐行校准，即每获得一行像素单元的差值量化值，就依据该差值量化值修正这一行像素单元的驱动电压。这样可以省略FLASH或OTP这样的存储器，减小芯片面积，也可以避免因存储器老花造成的校准误差。使用本实施例所述的系统级校准方案进行像素单元的一致性校准有如下优点：

1，保持像素单元的结构简单性，使得更小尺寸的像素设计成为可能；

2，校准的效果由于进行了精细的量化，校准效果远超传统的像素级校准方案；

3，可以将像素的失配信息读出并存储与外部，后续可以加入更多的算法进行处理，增加了显示芯片的灵活性与可操作性；

4，将每个像素的驱动管信息进行读出，可以在OLED蒸镀之前获取芯片的良率信息，节省了大量的成本。

虽然本发明披露如上，但本发明并非限定于此。任何本领域技术人员，在不脱离本发明的精神和范围内，均可作各种更动与修改，因此本发明的保护范围应当以权利要求所限定的范围为准。

Claims (14)

1.一种校准装置，适于与至少一个像素单元耦接，所述像素单元适于接收选择信号和参考写入电压，并在所述选择信号为有效电平时，基于所述参考写入电压提供初始输出电压，其特征在于，所述校准装置包括：

模数转换单元，适于获得基准电压与所述初始输出电压之间的第一电压差值，并对所述第一电压差值进行模数转换以获得差值量化值，所述差值量化值与提供所述初始输出电压的像素单元相对应；

所述模数转换单元包括：比较器和量化处理单元；

所述比较器的负相输入端适于输入所述基准电压或所述初始输出电压，所述比较器的正相输入端适于输入第一斜坡信号；

所述量化处理单元适于根据所述比较器的输出结果获得所述差值量化值；

所述模数转换单元还包括：第一电容；

所述比较器的负相输入端通过所述第一电容输入所述基准电压或所述初始输出电压，其中，所述第一电容的第一端适于输入所述基准电压或所述初始输出电压，所述第一电容的第二端连接所述比较器的负相输入端；

在所述比较器的负相输入端通过所述第一电容输入所述基准电压时，所述第一电容的第二端被施加复位电平，所述复位电平小于或等于所述第一斜坡信号的最大值，且大于或等于所述第一斜坡信号的最小值；

在所述比较器的负相输入端通过所述第一电容输入所述初始输出电压时，所述第一电容的第二端停止被施加复位电平。

2.如权利要求1所述的校准装置，其特征在于，所述模数转换单元还包括：第一电容和自动调零开关；

所述比较器的正相输入端还适于输入复位电平，所述复位电平小于或等于所述第一斜坡信号的最大值，且大于或等于所述第一斜坡信号的最小值；

所述比较器的负相输入端通过所述第一电容输入所述基准电压或所述初始输出电压，其中，所述第一电容的第一端适于输入所述基准电压或所述初始输出电压，所述第一电容的第二端连接所述比较器的负相输入端；

所述自动调零开关的第一端连接所述第一电容的第二端，所述自动调零开关的第二端连接所述比较器的输出端；

在所述比较器的负相输入端通过所述第一电容输入所述基准电压时，所述比较器的正相输入端输入所述复位电平，所述自动调零开关处于闭合状态；

在所述比较器的负相输入端通过所述第一电容输入所述初始输出电压时，所述比较器的正相输入端输入所述第一斜坡信号，所述自动调零开关处于断开状态。

3.如权利要求1或2所述的校准装置，其特征在于，所述量化处理单元适于量化所述复位电平以获得第一量化值，量化所述复位电平与第一电压差值之间的差值以获得第二量化值，根据所述第一量化值和第二量化值之间的差值获得所述差值量化值。

4.如权利要求1所述的校准装置，其特征在于，所述量化处理单元适于量化所述基准电压以获得第三量化值，量化所述初始输出电压以获得第四量化值，根据所述第三量化值和第四量化值之间的差值获得所述差值量化值。

5.如权利要求1所述的校准装置，其特征在于，所述量化处理单元包括：第一计数器；

所述比较器的负相输入端输入所述基准电压时，所述第一斜坡信号由最高值或最低值开始变化，所述第一计数器从起始值开始进行正向计数，当所述比较器的输出端提供的输出结果发生突变时，所述第一计数器停止计数以获得第一数值；

所述比较器的负相输入端输入所述初始输出电压时，所述第一斜坡信号重新由最高值或最低值开始变化，所述第一计数器从所述第一数值开始进行反向计数，当所述比较器的输出端提供的输出结果发生突变时，所述第一计数器停止计数以获得所述差值量化值。

6.如权利要求1所述的校准装置，其特征在于，还包括：

数据处理单元，适于根据原始驱动数据和所述差值量化值产生修正驱动数据，所述原始驱动数据与提供所述初始输出电压的像素单元相对应；

数模转换单元，适于对所述修正驱动数据进行数模转换以产生驱动电压，并将所述驱动电压输出至提供所述初始输出电压的像素单元；

提供所述初始输出电压的像素单元适于接收所述选择信号和所述驱动电压，并在所述选择信号为有效电平时，基于所述驱动电压提供修正输出电压。

7.如权利要求6所述的校准装置，其特征在于，还包括：至少一条读出线；

所述模数转换单元适于通过读出线获取所述初始输出电压或所述修正输出电压，所述至少一个像素单元呈阵列排布，位于同一列的像素单元连接同一条读出线。

8.如权利要求6所述的校准装置，其特征在于，还包括：至少一条写入线；

所述数模转换单元适于通过写入线将所述参考写入电压或驱动电压输出至提供所述初始输出电压的像素单元，所述至少一个像素单元呈阵列排布，位于同一列的像素单元连接同一写入读出线。

9.如权利要求6所述的校准装置，其特征在于，所述数模转换单元包括：第二计数器和缓存单元，所述缓存单元适于输入第二斜坡信号；

当所述第二计数器开始进行计数时，所述第二斜坡信号由最高值或最低值开始变化；

当所述第二计数器的计数值与所述修正驱动数据相关时，所述第二计数器停止计数，且所述第二斜坡信号停止变化，所述缓存单元将停止变化的第二斜坡信号的电压作为所述驱动电压。

10.如权利要求9所述的校准装置，其特征在于，所述缓存单元包括：放大器和第二选择开关；

所述放大器的正相输入端连接所述第二选择开关的第一端；

所述第二选择开关的第二端适于输入所述第二斜坡信号，所述第二选择开关适于在所述第二斜坡信号变化时处于断开状态，在所述第二斜坡信号停止变化时处于闭合状态；

所述放大器的负相输入端连接所述放大器的输出端，所述放大器的负相输入端适于输出所述驱动电压。

11.如权利要求10所述的校准装置，其特征在于，所述模数转换单元适于通过所述放大器获得所述基准电压，其中，所述放大器的正相输入端还适于输入所述基准电压，所述放大器的输出端连接所述模数转换单元。

12.如权利要求1所述的校准装置，其特征在于，

所述校准装置还适于与至少一个参考像素耦接，所述参考像素适于接收参考选择信号和所述参考写入电压，并在所述参考选择信号为有效电平时，基于所述参考写入电压提供所述基准电压。

13.一种显示芯片，其特征在于，包括至少一个像素单元和权利要求1至12所述的任意一项权利要求所述的校准装置。

14.一种显示器，其特征在于，包括权利要求13所述的显示芯片。

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