CN113868064A - 自动测量pcie眼图的方法、装置、计算机设备及存储介质 - Google Patents

自动测量pcie眼图的方法、装置、计算机设备及存储介质 Download PDF

Info

Publication number
CN113868064A
CN113868064A CN202111161069.9A CN202111161069A CN113868064A CN 113868064 A CN113868064 A CN 113868064A CN 202111161069 A CN202111161069 A CN 202111161069A CN 113868064 A CN113868064 A CN 113868064A
Authority
CN
China
Prior art keywords
eye
eye pattern
pcie
command
height
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
CN202111161069.9A
Other languages
English (en)
Inventor
刘金雷
韩道静
付东松
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Shenzhen Union Memory Information System Co Ltd
Original Assignee
Shenzhen Union Memory Information System Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Shenzhen Union Memory Information System Co Ltd filed Critical Shenzhen Union Memory Information System Co Ltd
Priority to CN202111161069.9A priority Critical patent/CN113868064A/zh
Publication of CN113868064A publication Critical patent/CN113868064A/zh
Priority to PCT/CN2022/117582 priority patent/WO2023051208A1/zh
Pending legal-status Critical Current

Links

Images

Classifications

    • G—PHYSICS
    • G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06F—ELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
    • G06F11/00—Error detection; Error correction; Monitoring
    • G06F11/22—Detection or location of defective computer hardware by testing during standby operation or during idle time, e.g. start-up testing
    • G06F11/2205—Detection or location of defective computer hardware by testing during standby operation or during idle time, e.g. start-up testing using arrangements specific to the hardware being tested
    • G06F11/221—Detection or location of defective computer hardware by testing during standby operation or during idle time, e.g. start-up testing using arrangements specific to the hardware being tested to test buses, lines or interfaces, e.g. stuck-at or open line faults

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • General Engineering & Computer Science (AREA)
  • Theoretical Computer Science (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Quality & Reliability (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Dc Digital Transmission (AREA)

Abstract

本发明涉及自动测量PCIE眼图的方法、装置、计算机设备及存储介质，该方法，包括：获取主机下发的读命令；解析读命令，得到命令参数；根据命令参数启动眼图测试电路，然后获取眼图数据；根据眼图数据计算出眼高眼宽数据，并将眼高眼宽数据返回至主机。本发明通过在SSD固件实现眼图测量分析，为产线测试及客户端的失效分析，提供了方便快捷的眼图分析工具，能够更好地满足需求。

Description

自动测量PCIE眼图的方法、装置、计算机设备及存储介质
技术领域
本发明涉及测量PCIE眼图的技术领域，尤其是指自动测量PCIE眼图的方法、装置、计算机设备及存储介质。
背景技术
基于PCIE接口的固态硬盘已经广泛应用于各种消费级PC及企业级服务器中，目前PCIE4.0已经开始全面普及其接口传输速率数据速率达到了16GT/s。随着数据传输速率的提升，在PCIE信号一致性及信号质量方面面临着挑战。
其中，现有的实验室中可以借助高采样示波器及适配治具完成PCIE信号采样并通过眼图工具生成对应眼图，实验室的测试设备可以准确的获取固定平台下的眼图数据，但受于资源限制，这种方法无法针对大量平台做相关信号测量，尤其是在存在大量失效现场的产线或者在客户端进行信号一致性测试；因此，无法满足需求。
发明内容
本发明的目的在于克服现有技术的不足，提供自动测量PCIE眼图的方法、装置、计算机设备及存储介质。
为了解决上述技术问题，本发明采用如下技术方案：
自动测量PCIE眼图的方法，包括以下步骤：
获取主机下发的读命令；
解析读命令，得到命令参数；
根据命令参数启动眼图测试电路，然后获取眼图数据；
根据眼图数据计算出眼高眼宽数据，并将眼高眼宽数据返回至主机。
其进一步技术方案为：所述命令参数为PCIE通道号。
其进一步技术方案为：所述根据命令参数启动眼图测试电路，然后获取眼图数据步骤中，根据命令参数启动对应PCIE通道号的眼图测试电路，通过调整眼图测试电路的电压偏移与相位偏移，然后眼图测试电路输出对应参数下的采样点个数及错误比特数。
其进一步技术方案为：所述根据眼图数据计算出眼高眼宽数据，并将眼高眼宽数据返回至主机步骤中，根据采样点个数及错误比特数计算出眼高眼宽数据。
自动测量PCIE眼图的装置，包括：获取单元，解析单元，启动获取单元及计算返回单元；
所述获取单元，用于获取主机下发的读命令；
所述解析单元，用于解析读命令，得到命令参数；
所述启动获取单元，用于根据命令参数启动眼图测试电路，然后获取眼图数据；
所述计算返回单元，用于根据眼图数据计算出眼高眼宽数据，并将眼高眼宽数据返回至主机。
其进一步技术方案为：所述命令参数为PCIE通道号。
其进一步技术方案为：所述启动获取单元中，根据命令参数启动对应PCIE通道号的眼图测试电路，通过调整眼图测试电路的电压偏移与相位偏移，然后眼图测试电路输出对应参数下的采样点个数及错误比特数。
其进一步技术方案为：所述计算返回单元中，根据采样点个数及错误比特数计算出眼高眼宽数据。
一种计算机设备，所述计算机设备包括存储器及处理器，所述存储器上存储有计算机程序，所述处理器执行所述计算机程序时实现如上述所述的自动测量PCIE眼图的方法。
一种存储介质，所述存储介质存储有计算机程序，所述计算机程序包括程序指令，所述程序指令当被处理器执行时可实现如上述所述的自动测量PCIE眼图的方法。
本发明与现有技术相比的有益效果是：通过在SSD固件实现眼图测量分析，为产线测试及客户端的失效分析，提供了方便快捷的眼图分析工具，能够更好地满足需求。
下面结合附图和具体实施例对本发明作进一步描述。
附图说明
为了更清楚地说明本发明实施例中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动性的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
图1为本发明实施例提供的自动测量PCIE眼图的方法的流程示意图；
图2为本发明实施例提供的自动测量PCIE眼图的方法的应用原理框架示意图；
图3为本发明实施例提供的自动测量PCIE眼图的方法的应用电路原理示意图；
图4为本发明实施例提供的自动测量PCIE眼图的方法的错误比特率的数字眼图的示意图；
图5为本发明实施例提供的自动测量PCIE眼图的装置的示意性框图；
图6为本发明实施例提供的计算机设备的示意性框图。
具体实施方式
下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。
应当理解，当在本说明书和所附权利要求书中使用时，术语“包括”和“包含”指示所描述特征、整体、步骤、操作、元素和/或组件的存在，但并不排除一个或多个其它特征、整体、步骤、操作、元素、组件和/或其集合的存在或添加。
还应当理解，在此本发明说明书中所使用的术语仅仅是出于描述特定实施例的目的而并不意在限制本发明。如在本发明说明书和所附权利要求书中所使用的那样，除非上下文清楚地指明其它情况，否则单数形式的“一”、“一个”及“该”意在包括复数形式。
还应当进一步理解，在本发明说明书和所附权利要求书中使用的术语“和/或”是指相关联列出的项中的一个或多个的任何组合以及所有可能组合，并且包括这些组合。
请参阅图1到图6所示的具体实施例，其中，请参阅图1至图4所示，本发明公开了一种自动测量PCIE眼图的方法，包括以下步骤：
S1，获取主机下发的读命令；
其中，如图2所示，通过SSD的前端模块获取主机下发的读命令。
S2，解析读命令，得到命令参数；
其中，通过SSD的前端模块解析读命令，命令参数为PCIE通道号。
S3，根据命令参数启动眼图测试电路，然后获取眼图数据；
其中，在S3步骤中，根据命令参数启动对应PCIE通道号的眼图测试电路，通过调整眼图测试电路的电压偏移与相位偏移，然后眼图测试电路输出对应参数下的采样点个数及错误比特数。
其中，如图3所示，固件通过调整眼图测试电路中的电压偏移与相位偏移，获取对应位置的错误比特率(BER)。电压偏移的调整范围0-800mv，步长1mv；相位偏移的调整范围0-512UI，步长8UI。错误比特率(BER)＝错误比特数*10000/采样点个数。
S4，根据眼图数据计算出眼高眼宽数据，并将眼高眼宽数据返回至主机。
其中，如图4所示，获取收集完所有采样点的错误比特率数据(即眼图数据)后，得到一个维度分别为电压与相位的二维数组，然后将错误比特率数据分类，用符号‘#’代表错误比特率>0的点，符号‘.’代表错误比特率＝0的点，平铺到以电压与相位为坐标的二维区间，就可以得到如图4所示的基于错误比特率的数字眼图，然后固件中通过二维数组查表程序查询，即可获取错误比特率＝0的数组上下左右边界，即计算出眼宽眼高数据。
本发明通过在PCIE PHY内部DFE电路后端带有内嵌眼图测试电路，SSD固件通过调整眼图测试电路垂直方向上平移信号的幅度，水平方向上平移采样位置，计算每一个平移位置上的误码率错误比特率作为眼图生成的原始数据；然后由固件实现的基于错误比特率的眼图中心查找及眼宽眼高数据计算。
本发明通过在SSD固件实现眼图测量分析，为产线测试及客户端的失效分析，提供了方便快捷的眼图分析工具，能够更好地满足需求。
请参阅图5所示，本发明还公开了一种自动测量PCIE眼图的装置，包括：获取单元10，解析单元20，启动获取单元30及计算返回单元40；
所述获取单元10，用于获取主机下发的读命令；
所述解析单元20，用于解析读命令，得到命令参数；
所述启动获取单元30，用于根据命令参数启动眼图测试电路，然后获取眼图数据；
所述计算返回单元40，用于根据眼图数据计算出眼高眼宽数据，并将眼高眼宽数据返回至主机。
其中，所述命令参数为PCIE通道号。
其中，所述启动获取单元30中，根据命令参数启动对应PCIE通道号的眼图测试电路，通过调整眼图测试电路的电压偏移与相位偏移，然后眼图测试电路输出对应参数下的采样点个数及错误比特数。
其中，所述计算返回单元40中，根据采样点个数及错误比特数计算出眼高眼宽数据。
需要说明的是，所属领域的技术人员可以清楚地了解到，上述自动测量PCIE眼图的装置和各单元的具体实现过程，可以参考前述方法实施例中的相应描述，为了描述的方便和简洁，在此不再赘述。
上述自动测量PCIE眼图的装置可以实现为一种计算机程序的形式，该计算机程序可以在如图6所示的计算机设备上运行。
请参阅图6，图6是本申请实施例提供的一种计算机设备的示意性框图；该计算机设备500可以是终端，也可以是服务器，其中，终端可以是智能手机、平板电脑、笔记本电脑、台式电脑、个人数字助理和穿戴式设备等具有通信功能的电子设备。服务器可以是独立的服务器，也可以是多个服务器组成的服务器集群。
参阅图6，该计算机设备500包括通过系统总线501连接的处理器502、存储器和网络接口505，其中，存储器可以包括非易失性存储介质503和内存储器504。
该非易失性存储介质503可存储操作系统5031和计算机程序5032。该计算机程序5032包括程序指令，该程序指令被执行时，可使得处理器502执行一种自动测量PCIE眼图的方法。
该处理器502用于提供计算和控制能力，以支撑整个计算机设备500的运行。
该内存储器504为非易失性存储介质503中的计算机程序5032的运行提供环境，该计算机程序5032被处理器502执行时，可使得处理器502执行一种自动测量PCIE眼图的方法。
该网络接口505用于与其它设备进行网络通信。本领域技术人员可以理解，图6中示出的结构，仅仅是与本申请方案相关的部分结构的框图，并不构成对本申请方案所应用于其上的计算机设备500的限定，具体的计算机设备500可以包括比图中所示更多或更少的部件，或者组合某些部件，或者具有不同的部件布置。
应当理解，在本申请实施例中，处理器502可以是中央处理单元(CentralProcessing Unit，CPU)，该处理器502还可以是其他通用处理器、数字信号处理器(DigitalSignal Processor，DSP)、专用集成电路(Application Specific Integrated Circuit，ASIC)、现成可编程门阵列(Field-Programmable Gate Array，FPGA)或者其他可编程逻辑器件、分立门或者晶体管逻辑器件、分立硬件组件等。其中，通用处理器可以是微处理器或者该处理器也可以是任何常规的处理器等。
本领域普通技术人员可以理解的是实现上述实施例的方法中的全部或部分流程，是可以通过计算机程序来指令相关的硬件来完成。该计算机程序包括程序指令，计算机程序可存储于一存储介质中，该存储介质为计算机可读存储介质。该程序指令被该计算机系统中的至少一个处理器执行，以实现上述方法的实施例的流程步骤。
因此，本发明还提供一种存储介质。该存储介质可以为计算机可读存储介质。该存储介质存储有计算机程序，其中计算机程序包括程序指令，所述程序指令当被处理器执行时可实现上述的自动测量PCIE眼图的方法。
所述存储介质可以是U盘、移动硬盘、只读存储器(Read-Only Memory，ROM)、磁碟或者光盘等各种可以存储程序代码的计算机可读存储介质。
本领域普通技术人员可以意识到，结合本文中所公开的实施例描述的各示例的单元及算法步骤，能够以电子硬件、计算机软件或者二者的结合来实现，为了清楚地说明硬件和软件的可互换性，在上述说明中已经按照功能一般性地描述了各示例的组成及步骤。这些功能究竟以硬件还是软件方式来执行，取决于技术方案的特定应用和设计约束条件。专业技术人员可以对每个特定的应用来使用不同方法来实现所描述的功能，但是这种实现不应认为超出本发明的范围。
在本发明所提供的几个实施例中，应该理解到，所揭露的装置和方法，可以通过其它的方式实现。例如，以上所描述的装置实施例仅仅是示意性的。例如，各个单元的划分，仅仅为一种逻辑功能划分，实际实现时可以有另外的划分方式。例如多个单元或组件可以结合或者可以集成到另一个系统，或一些特征可以忽略，或不执行。
本发明实施例方法中的步骤可以根据实际需要进行顺序调整、合并和删减。本发明实施例装置中的单元可以根据实际需要进行合并、划分和删减。另外，在本发明各个实施例中的各功能单元可以集成在一个处理单元中，也可以是各个单元单独物理存在，也可以是两个或两个以上单元集成在一个单元中。
该集成的单元如果以软件功能单元的形式实现并作为独立的产品销售或使用时，可以存储在一个存储介质中。基于这样的理解，本发明的技术方案本质上或者说对现有技术做出贡献的部分，或者该技术方案的全部或部分可以以软件产品的形式体现出来，该计算机软件产品存储在一个存储介质中，包括若干指令用以使得一台计算机设备(可以是个人计算机，终端，或者网络设备等)执行本发明各个实施例所述方法的全部或部分步骤。
上述实施例为本发明较佳的实现方案，除此之外，本发明还可以其它方式实现，在不脱离本技术方案构思的前提下任何显而易见的替换均在本发明的保护范围之内。

Claims (10)

1.自动测量PCIE眼图的方法，其特征在于，包括以下步骤：
获取主机下发的读命令；
解析读命令，得到命令参数；
根据命令参数启动眼图测试电路，然后获取眼图数据；
根据眼图数据计算出眼高眼宽数据，并将眼高眼宽数据返回至主机。
2.根据权利要求1所述的自动测量PCIE眼图的方法，其特征在于，所述命令参数为PCIE通道号。
3.根据权利要求2所述的自动测量PCIE眼图的方法，其特征在于，所述根据命令参数启动眼图测试电路，然后获取眼图数据步骤中，根据命令参数启动对应PCIE通道号的眼图测试电路，通过调整眼图测试电路的电压偏移与相位偏移，然后眼图测试电路输出对应参数下的采样点个数及错误比特数。
4.根据权利要求3所述的自动测量PCIE眼图的方法，其特征在于，所述根据眼图数据计算出眼高眼宽数据，并将眼高眼宽数据返回至主机步骤中，根据采样点个数及错误比特数计算出眼高眼宽数据。
5.自动测量PCIE眼图的装置，其特征在于，包括：获取单元，解析单元，启动获取单元及计算返回单元；
所述获取单元，用于获取主机下发的读命令；
所述解析单元，用于解析读命令，得到命令参数；
所述启动获取单元，用于根据命令参数启动眼图测试电路，然后获取眼图数据；
所述计算返回单元，用于根据眼图数据计算出眼高眼宽数据，并将眼高眼宽数据返回至主机。
6.根据权利要求5所述的自动测量PCIE眼图的装置，其特征在于，所述命令参数为PCIE通道号。
7.根据权利要求6所述的自动测量PCIE眼图的装置，其特征在于，所述启动获取单元中，根据命令参数启动对应PCIE通道号的眼图测试电路，通过调整眼图测试电路的电压偏移与相位偏移，然后眼图测试电路输出对应参数下的采样点个数及错误比特数。
8.根据权利要求7所述的自动测量PCIE眼图的装置，其特征在于，所述计算返回单元中，根据采样点个数及错误比特数计算出眼高眼宽数据。
9.一种计算机设备，其特征在于，所述计算机设备包括存储器及处理器，所述存储器上存储有计算机程序，所述处理器执行所述计算机程序时实现如权利要求1-4中任一项所述的自动测量PCIE眼图的方法。
10.一种存储介质，其特征在于，所述存储介质存储有计算机程序，所述计算机程序包括程序指令，所述程序指令当被处理器执行时可实现如权利要求1-4中任一项所述的自动测量PCIE眼图的方法。
CN202111161069.9A 2021-09-30 2021-09-30 自动测量pcie眼图的方法、装置、计算机设备及存储介质 Pending CN113868064A (zh)

Priority Applications (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN202111161069.9A CN113868064A (zh) 2021-09-30 2021-09-30 自动测量pcie眼图的方法、装置、计算机设备及存储介质
PCT/CN2022/117582 WO2023051208A1 (zh) 2021-09-30 2022-09-07 自动测量pcie眼图的方法、装置、计算机设备及存储介质

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN202111161069.9A CN113868064A (zh) 2021-09-30 2021-09-30 自动测量pcie眼图的方法、装置、计算机设备及存储介质

Publications (1)

Publication Number Publication Date
CN113868064A true CN113868064A (zh) 2021-12-31

Family

ID=79001226

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
CN202111161069.9A Pending CN113868064A (zh) 2021-09-30 2021-09-30 自动测量pcie眼图的方法、装置、计算机设备及存储介质

Country Status (2)

Country Link
CN (1) CN113868064A (zh)
WO (1) WO2023051208A1 (zh)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2023051208A1 (zh) * 2021-09-30 2023-04-06 深圳忆联信息系统有限公司 自动测量pcie眼图的方法、装置、计算机设备及存储介质

Families Citing this family (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN116148643B (zh) * 2023-04-21 2023-09-15 长鑫存储技术有限公司 眼图分析方法

Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN109766232A (zh) * 2019-01-15 2019-05-17 郑州云海信息技术有限公司 一种PCIe压力眼图测试校准方法
US20200257263A1 (en) * 2019-02-08 2020-08-13 Dell Products L.P. System and Method of Determining Coolant Leaks within Information Handling Systems
US20210270888A1 (en) * 2020-02-28 2021-09-02 Advantest Corporation Eye diagram capture test during production
CN115827344A (zh) * 2022-11-18 2023-03-21 山东云海国创云计算装备产业创新中心有限公司 一种基于眼图检测PCIe信号质量的方法、系统及终端

Family Cites Families (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP1460792A1 (en) * 2003-03-19 2004-09-22 Synthesys Research, Inc. Method and system for creating an eye diagram
CA2820066A1 (en) * 2013-07-04 2015-01-04 Utechzone Co., Ltd. In-car eye control method and an electronic device implementing the same
US10708011B2 (en) * 2018-03-28 2020-07-07 SK Hynix Inc. Eye opening hardware offloading
CN113868064A (zh) * 2021-09-30 2021-12-31 深圳忆联信息系统有限公司 自动测量pcie眼图的方法、装置、计算机设备及存储介质

Patent Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN109766232A (zh) * 2019-01-15 2019-05-17 郑州云海信息技术有限公司 一种PCIe压力眼图测试校准方法
US20200257263A1 (en) * 2019-02-08 2020-08-13 Dell Products L.P. System and Method of Determining Coolant Leaks within Information Handling Systems
US20210270888A1 (en) * 2020-02-28 2021-09-02 Advantest Corporation Eye diagram capture test during production
CN115827344A (zh) * 2022-11-18 2023-03-21 山东云海国创云计算装备产业创新中心有限公司 一种基于眼图检测PCIe信号质量的方法、系统及终端

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2023051208A1 (zh) * 2021-09-30 2023-04-06 深圳忆联信息系统有限公司 自动测量pcie眼图的方法、装置、计算机设备及存储介质

Also Published As

Publication number Publication date
WO2023051208A1 (zh) 2023-04-06

Similar Documents

Publication Publication Date Title
CN113868064A (zh) 自动测量pcie眼图的方法、装置、计算机设备及存储介质
US7925110B2 (en) System and method for filtering a point cloud
JP5114404B2 (ja) デバイスのテストデータ入手
CN101996117B (zh) 计算机测试系统及方法
TW201349169A (zh) 點雲拼接方法
WO2022116673A1 (zh) 色谱峰检测方法、装置、计算机设备和存储介质
CN110223722B (zh) 获取数据接口门限电压的方法及系统
TW201216048A (en) Test system
CN105022686A (zh) 安卓平台上进程的cpu占用率确定方法和装置
CN112486093A (zh) 平台精度的补偿方法、装置、设备和介质
CN111782529B (zh) 辅助诊断系统的测试方法、装置、计算机设备及存储介质
CN115048613A (zh) 一种指标同质化换算方法、装置、电子设备及存储介质
CN110580220A (zh) 测量代码段执行时间的方法及终端设备
CN109634826B (zh) 控制器极限性能分析方法、装置、计算机设备及存储介质
US20060126917A1 (en) Method and system for measuring geometrical characters of a figure
CN107483122B (zh) 功率测试系统、功率补偿方法及装置
US20160026756A1 (en) Method and apparatus for separating quality levels in sequence data and sequencing longer reads
CN115562916A (zh) 一种信号质量评估的方法、装置以及介质
CN117156120A (zh) 眼图测量方法、装置、电子设备及计算机可读存储介质
CN113608942B (zh) 一种测试lpc信号的方法、系统、设备及介质
CN102866308A (zh) Sas信号完整性分析系统及方法
CN111983338A (zh) 测试方法及测试系统
CN109145347A (zh) 一种提升主板信号仿真精度的方法及系统
CN117310454B (zh) 芯片测试方法及相关装置
CN114659477B (zh) 用于检测电极的方法、服务器和终端设备

Legal Events

Date Code Title Description
PB01 Publication
PB01 Publication
SE01 Entry into force of request for substantive examination
SE01 Entry into force of request for substantive examination