CN113847861A - 一种花键轴叉中心孔对称度检测检具及方法 - Google Patents

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Abstract

本发明涉及一种花键轴叉中心孔对称度检测检具及方法,检测检具包括底板、第一顶尖座、第二顶尖座和高度检测装置;第一顶尖座和第二顶尖座均安装在底板上,且第一顶尖座靠近第二顶尖座的一侧设置有第一顶尖,第二顶尖座靠近第一顶尖座的一侧设置有第二顶尖;第一顶尖的轴心线和第二顶尖的轴心线共线,用于夹持花键轴叉中心孔的两端;本发明通过第一顶尖和第二顶尖锁紧花键轴叉的中心孔两端,再转动花键轴叉,并通过高度检测装置多次测量花键轴叉顶部高度,通过计算即可快速简便地测出花键轴叉的中心孔对称度;并且还可选用高度尺作为高度检测装置测量花键轴叉顶部高度,并压紧花键轴叉的耳孔端的顶部,能够保证花键轴叉的耳孔轴向水平或竖直。

Description

一种花键轴叉中心孔对称度检测检具及方法
技术领域
本发明涉及传动轴检测的技术领域,具体涉及一种花键轴叉中心孔对称度检测检具及方法。
背景技术
随着人们经济生活水平的提高,汽车产业高速发展,汽车传动轴的需求大幅增加。汽车工业协会的统计结果指出,我国2011年汽车用花键轴零件的需求量已达55 000万件。传动轴花键轴又是汽车传动轴总成的重要组成部分,工作状态下,既要完成准确的啮合动作,又要重复传递交变载荷。它是传动轴中的关键零部件之一,其加工质量的好坏直接影响了传动轴总成的精度的大小。
传统的传动轴花键轴叉金加工多采用普通单机设备进行.产品加工尺寸精度不高,导致总成装配后剩余不平衡量值过大,设计精度不易保证。目前加工花键轴叉最好的方式是采用中心孔定位,这样才能保证花键轴叉的定位基准和设计基准统一,便于提高花键轴叉的加工质量。但是在实际生产中,花键轴叉加工中心孔后往往没有合适的方法来检测中心孔的对称度,只能仅靠操作人员目视来判断其对称度,此方法没有标准,且对操作人员技能水平要求很高。若花键轴叉中心孔对称度过大,则会导致花键整体偏移,影响花键轴叉的强度及后道工序无法加工从而产生废品。
发明内容
基于上述表述,本发明提供了一种花键轴叉中心孔对称度检测检具及方法,通过设置两个顶尖分别锁紧花键轴叉的中心孔两端,并在转动花键轴叉时多次通过高度检测装置检测花键轴叉的顶部高度,能够快速简单地算出花键轴叉的中心孔对称度。
本发明解决上述技术问题的技术方案如下:一种花键轴叉中心孔对称度检测检具,包括底板、第一顶尖座、第二顶尖座和高度检测装置;所述第一顶尖座和所述第二顶尖座均安装在所述底板上,且所述第一顶尖座靠近所述第二顶尖座的一侧设置有第一顶尖,所述第二顶尖座靠近所述第一顶尖座的一侧设置有第二顶尖;所述第一顶尖的轴心线和所述第二顶尖的轴心线共线,用于夹持花键轴叉中心孔的两端;所述高度检测装置用于检测所述花键轴叉的顶部高度。
在上述技术方案的基础上,本发明还可以做如下改进。
进一步的,所述高度检测装置是高度尺,所述高度尺的量爪与所述花键轴叉的叉头相适配。
进一步的,所述量爪上可滑动地设置有两个竖直向下伸出的夹爪,所述夹爪分别位于所述花键轴叉的两侧。
进一步的,所述底板的顶部设置有导轨,所述导轨的延伸方向平行于所述第一顶尖和所述第二顶尖的轴向;所述第一顶尖座通过第一定位螺栓可滑动地安装在所述导轨上,所述第二顶尖座通过第二定位螺栓可滑动地安装在所述导轨上。
进一步的,所述第二顶尖座远离所述第一顶尖座的一侧设置有把手。
进一步的,所述第一顶尖可滑动地插装于所述第一顶尖座内,且所述第一顶尖座上设置有第一固定螺钉,所述第一固定螺钉的端部抵接所述第一顶尖的侧壁。
进一步的,所述第二顶尖可滑动地插装于所述第二顶尖座内,且所述第二顶尖座上设置有第二固定螺钉,所述第二固定螺钉的端部抵接所述第二顶尖的侧壁。
本发明还提出了一种花键轴叉中心孔对称度检测方法,使用上述的花键轴叉中心孔对称度检测检具,包括如下步骤:
(a)将所述花键轴叉安装在所述第一顶尖和所述第二顶尖之间,并且所述第一顶尖和所述第二顶尖分别锁紧所述花键轴叉的中心孔两端;
(b)沿所述第一顶尖和所述第二顶尖的轴心线转动所述花键轴叉;在所述花键轴叉的耳孔轴向水平时,测出此时花键轴叉顶部的高度L1,并在所述花键轴叉转动180°后测出此时花键轴叉顶部的高度L2;在所述花键轴叉的耳孔轴向竖直时,测出花键轴叉顶部的高度L3,并在所述花键轴叉转动180°后测出此时花键轴叉顶部的高度L4;
(c)计算所述花键轴叉的中心孔对称度,其中横向对称度为L2-L1,纵向对称度为L4-L3。
进一步的,所述高度检测装置是高度尺,在步骤(b)中,所述花键轴叉的耳孔轴向水平时,所述高度尺的量爪压紧所述花键轴叉的两个叉头,保证所述花键轴叉的耳孔轴向水平。
进一步的,所述高度尺的量爪上可滑动的设置有两个竖直向下伸出的夹爪,在步骤(b)中,所述花键轴叉的耳孔轴向竖直时,两个所述夹爪从两端夹紧所述花键轴叉的两个叉头,保证所述花键轴叉的耳孔轴向竖直。
与现有技术相比,本申请的技术方案具有以下有益技术效果:
1、本发明通过第一顶尖和第二顶尖锁紧花键轴叉的中心孔两端,再转动花键轴叉,多次测量花键轴叉顶部高度,通过计算即可快速简便地测出花键轴叉的中心孔对称度;
2、通过高度尺作为高度检测装置测量花键轴叉顶部高度,并压紧花键轴叉的耳孔端的顶部,能够保证花键轴叉的耳孔轴向水平或竖直。
附图说明
图1为本发明实施例提供的一种花键轴叉中心孔对称度检测检具的结构示意图;
图2为图1的俯视图;
图3为本发明实施例中检测检具检测横向对称度的使用状态示意图;
图4为本发明实施例中检测检具检测横向对称度的使用状态示意图;
图5为本发明中花键轴叉的耳孔轴向水平时,高度尺测量花键轴叉顶部高度的状态示意图;
图6为本发明中花键轴叉的耳孔轴向竖直时,高度尺测量花键轴叉顶部高度的状态示意图;
附图中,各标号所代表的部件列表如下:
1、底板;2、导轨;3、第一顶尖座;31、第一定位螺栓;32、第一固定螺钉;4、第一顶尖;5、第二顶尖座;51、第二定位螺栓;52、第二固定螺钉;6、第二顶尖;7、把手;8、花键轴叉;9、高度尺;91、量爪;92、夹爪。
具体实施方式
为了便于理解本申请,下面将参照相关附图对本申请进行更全面的描述。附图中给出了本申请的实施例。但是,本申请可以以许多不同的形式来实现,并不限于本文所描述的实施例。相反地,提供这些实施例的目的是使本申请的公开内容更加透彻全面。
除非另有定义,本文所使用的所有的技术和科学术语与属于本申请的技术领域的技术人员通常理解的含义相同。本文中在本申请的说明书中所使用的术语只是为了描述具体的实施例的目的,不是旨在于限制本申请。
需要说明的是,当一个元件被认为是“连接”另一个元件时,它可以是直接连接到另一个元件,或者通过居中元件连接另一个元件。以下实施例中的“连接”,如果被连接的电路、模块、单元等相互之间具有电信号或数据的传递,则应理解为“电连接”、“通信连接”等。
一种花键轴叉中心孔对称度检测检具,如图1和图2所示,包括底板1、第一顶尖座3和第二顶尖座5。底板1的顶部设置有直线延伸的导轨2,并且第一顶尖座3和第二顶尖座5均与导轨2滑动配合,使第一顶尖座3和第二顶尖座5分别可滑动地安装在底板1上。通过沿导轨2移动第一顶尖座3和第三顶尖座5,可调整第一顶尖座3和第二顶尖座5之间的间距。第二顶尖座5远离第一顶尖座3的一侧设置有把手7,便于移动第二顶尖座5。
优选的,第一顶尖座3的底部竖直设置有第一定位螺栓31,第一定位螺栓31贯穿第一顶尖座3。第二顶尖座5的底部竖直设置有第二定位螺栓52,第二定位螺栓51贯穿第二顶尖座5。并且第一定位螺栓31和第二定位螺栓51的底端均抵住底板1的顶部,通过拧紧第一定位螺栓31和第二定位螺栓51,即可固定第一顶尖座3和第二顶尖座5的位置;拧松第一定位螺栓31和第二定位螺栓51后,即可调整第一顶尖座3和第二顶尖座5的位置。
第一顶尖座3上设置第一顶尖4,第二顶尖座5上设置有第二顶尖6,第一顶尖4和第二顶尖6的直径向端部逐渐减小。其中,第一顶尖4为尖顶尖,即第一顶尖4的端部为尖端,用于抵住花键轴叉8靠近耳孔的一端。第二顶尖6可根据花键轴叉8中心孔的形式选用尖顶尖或大头顶尖,大头顶尖的端部为凸出的伞状,可依靠斜面顶紧较大的孔。第二顶尖6用于抵住花键轴叉8远离耳孔的一端。第一顶尖4和第二顶尖6从两端抵住花键轴叉8的中心孔的两端,并使花键轴叉8能够绕第一顶尖4和第二顶尖6的轴心线转动。
具体的,第一顶尖4从第一顶尖座3靠近第二顶尖座5的一端插入第一顶尖座3,并且第一顶尖座3上设置有第一固定螺钉32,第一固定螺钉32的端部抵接第一顶尖4的侧壁,用于将第一顶尖4固定在第一顶尖座3上。拧松第一固定螺钉32后,即可调整第一顶尖4插入第一顶尖座3的深度。
第二顶尖6从第二顶尖座5靠近第二顶尖座5的二端插入第二顶尖座5,并且第二顶尖座5上设置有第二固定螺钉52,第二固定螺钉52的端部抵接第二顶尖6的侧壁,用于将第二顶尖6固定在第二顶尖座5上。拧松第二固定螺钉52后,即可调整第二顶尖6插入第二顶尖座5的深度。
花键轴叉中心孔对称度检测检具还包括高度测量装置(图中未示出),本实施例中,高度测量装置为高度尺9,高度尺9的量爪91和花键轴叉8的叉头相适配。
优选的,高度尺9的量爪91上还可滑动地安装有两个夹爪92,两个夹爪92均竖直向下伸出,并且两个夹爪92分别位于花键轴叉8的两侧。
本实施例的花键轴叉中心孔对称度检测检具检测花键轴叉8的中心孔对称度的方法如下:
(a)将花键轴叉8安装在第一顶尖4和第二顶尖6之间,并且第一顶尖4和第二顶尖6分别锁紧花键轴叉8的中心孔两端。
(b)沿第一顶尖4和第二顶尖6的轴心线转动花键轴叉8,然后多次通过高度尺测量花键轴叉8的顶部高度。
具体的,如图3所示,在花键轴叉8的耳孔轴向水平时,测出此时花键轴叉8耳孔端的顶部的高度L1,并在花键轴叉转动180°后测出此时花键轴叉8耳孔端的顶部的高度L2。并且如图5所示,测量时,高度尺9的量爪91压紧花键轴叉8的两个叉头,保证花键轴叉8的耳孔轴向水平。
如图4所示,在花键轴叉8的耳孔轴向竖直时,测出花键轴叉8耳孔端的顶部的高度L3,并在花键轴叉8转动180°后测出此时花键轴叉8耳孔端的顶部的高度L4。测量时,量爪91压紧花键轴叉8耳孔端的毛坯面,并且如图6所示,两个夹爪92从两侧夹紧花键轴叉8的两个叉头,保证花键轴叉8的耳孔轴向竖直。
(c)计算花键轴叉的中心孔对称度,其中横向对称度为L2-L1,纵向对称度为L4-L3。
本发明通过第一顶尖4和第二顶尖6锁紧花键轴叉8的中心孔两端,再转动花键轴叉8,并通过高度检测装置多次测量花键轴叉8顶部高度,通过计算即可快速简便地测出花键轴叉8的中心孔对称度。并且本发明采用高度尺作为高度检测装置,只需通过量爪91压紧或者两个夹爪92夹紧花键轴叉8的两个叉头,即可保证花键轴叉8的耳孔轴向水平或竖直,操作简单,并且测量结果更加精确。
以上所述仅为本发明的较佳实施例,并不用以限制本发明,凡在本发明的精神和原则之内,所作的任何修改、等同替换、改进等,均应包含在本发明的保护范围之内。

Claims (10)

1.一种花键轴叉中心孔对称度检测检具,其特征在于,包括底板、第一顶尖座、第二顶尖座和高度检测装置;所述第一顶尖座和所述第二顶尖座均安装在所述底板上,且所述第一顶尖座靠近所述第二顶尖座的一侧设置有第一顶尖,所述第二顶尖座靠近所述第一顶尖座的一侧设置有第二顶尖;所述第一顶尖的轴心线和所述第二顶尖的轴心线共线,用于夹持花键轴叉中心孔的两端;所述高度检测装置用于检测所述花键轴叉的顶部高度。
2.根据权利要求1所述的一种花键轴叉中心孔对称度检测检具,其特征在于,所述高度检测装置是高度尺,所述高度尺的量爪与所述花键轴叉的叉头相适配。
3.根据权利要求2所述的一种花键轴叉中心孔对称度检测检具,其特征在于,所述量爪上可滑动地设置有两个竖直向下伸出的夹爪,所述夹爪分别位于所述花键轴叉的两侧。
4.根据权利要求1所述的一种花键轴叉中心孔对称度检测检具,其特征在于,所述底板的顶部设置有导轨,所述导轨的延伸方向平行于所述第一顶尖和所述第二顶尖的轴向;所述第一顶尖座通过第一定位螺栓可滑动地安装在所述导轨上,所述第二顶尖座通过第二定位螺栓可滑动地安装在所述导轨上。
5.根据权利要求4所述的一种花键轴叉中心孔对称度检测检具,其特征在于,所述第二顶尖座远离所述第一顶尖座的一侧设置有把手。
6.根据权利要求1所述的一种花键轴叉中心孔对称度检测检具,其特征在于,所述第一顶尖可滑动地插装于所述第一顶尖座内,且所述第一顶尖座上设置有第一固定螺钉,所述第一固定螺钉的端部抵接所述第一顶尖的侧壁。
7.根据权利要求1所述的一种花键轴叉中心孔对称度检测检具,其特征在于,所述第二顶尖可滑动地插装于所述第二顶尖座内,且所述第二顶尖座上设置有第二固定螺钉,所述第二固定螺钉的端部抵接所述第二顶尖的侧壁。
8.一种花键轴叉中心孔对称度检测方法,其特征在于,使用权利要求1中所述的花键轴叉中心孔对称度检测检具,包括如下步骤:
(a)将所述花键轴叉安装在所述第一顶尖和所述第二顶尖之间,并且所述第一顶尖和所述第二顶尖分别锁紧所述花键轴叉的中心孔两端;
(b)沿所述第一顶尖和所述第二顶尖的轴心线转动所述花键轴叉;在所述花键轴叉的耳孔轴向水平时,测出此时花键轴叉顶部的高度L1,并在所述花键轴叉转动180°后测出此时花键轴叉顶部的高度L2;在所述花键轴叉的耳孔轴向竖直时,测出花键轴叉顶部的高度L3,并在所述花键轴叉转动180°后测出此时花键轴叉顶部的高度L4;
(c)计算所述花键轴叉的中心孔对称度,其中横向对称度为L2-L1,纵向对称度为L4-L3。
9.根据权利要求8所述的一种花键轴叉中心孔对称度检测方法,其特征在于,所述高度检测装置是高度尺,在步骤(b)中,所述花键轴叉的耳孔轴向水平时,所述高度尺的量爪压紧所述花键轴叉的两个叉头,保证所述花键轴叉的耳孔轴向水平。
10.根据权利要求9所述的一种花键轴叉中心孔对称度检测方法,其特征在于,所述高度尺的量爪上可滑动的设置有两个竖直向下伸出的夹爪,在步骤(b)中,所述花键轴叉的耳孔轴向竖直时,两个所述夹爪从两端夹紧所述花键轴叉的两个叉头,保证所述花键轴叉的耳孔轴向竖直。
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