CN113568199A - 一种goa面板静电损坏的分析方法、改善结构及改善方法 - Google Patents
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- 238000000034 method Methods 0.000 title claims abstract description 29
- 238000004458 analytical method Methods 0.000 title abstract description 9
- 230000002093 peripheral effect Effects 0.000 claims abstract description 22
- 230000003068 static effect Effects 0.000 claims description 21
- 239000002699 waste material Substances 0.000 claims description 10
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 claims description 8
- 230000007547 defect Effects 0.000 claims description 4
- 238000005520 cutting process Methods 0.000 claims description 3
- 230000002950 deficient Effects 0.000 claims description 3
- 238000007689 inspection Methods 0.000 claims description 3
- 230000005611 electricity Effects 0.000 description 12
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 6
- 238000010884 ion-beam technique Methods 0.000 description 5
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 2
- 230000009286 beneficial effect Effects 0.000 description 1
- 230000007812 deficiency Effects 0.000 description 1
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 1
- 238000003384 imaging method Methods 0.000 description 1
- 238000006467 substitution reaction Methods 0.000 description 1
- 239000000758 substrate Substances 0.000 description 1
- 230000009466 transformation Effects 0.000 description 1
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- G02—OPTICS
- G02F—OPTICAL DEVICES OR ARRANGEMENTS FOR THE CONTROL OF LIGHT BY MODIFICATION OF THE OPTICAL PROPERTIES OF THE MEDIA OF THE ELEMENTS INVOLVED THEREIN; NON-LINEAR OPTICS; FREQUENCY-CHANGING OF LIGHT; OPTICAL LOGIC ELEMENTS; OPTICAL ANALOGUE/DIGITAL CONVERTERS
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- G02F1/01—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour
- G02F1/13—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour based on liquid crystals, e.g. single liquid crystal display cells
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- G02F1/1309—Repairing; Testing
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- G02F1/00—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics
- G02F1/01—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour
- G02F1/13—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour based on liquid crystals, e.g. single liquid crystal display cells
- G02F1/133—Constructional arrangements; Operation of liquid crystal cells; Circuit arrangements
- G02F1/13306—Circuit arrangements or driving methods for the control of single liquid crystal cells
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- G—PHYSICS
- G02—OPTICS
- G02F—OPTICAL DEVICES OR ARRANGEMENTS FOR THE CONTROL OF LIGHT BY MODIFICATION OF THE OPTICAL PROPERTIES OF THE MEDIA OF THE ELEMENTS INVOLVED THEREIN; NON-LINEAR OPTICS; FREQUENCY-CHANGING OF LIGHT; OPTICAL LOGIC ELEMENTS; OPTICAL ANALOGUE/DIGITAL CONVERTERS
- G02F1/00—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics
- G02F1/01—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour
- G02F1/13—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour based on liquid crystals, e.g. single liquid crystal display cells
- G02F1/133—Constructional arrangements; Operation of liquid crystal cells; Circuit arrangements
- G02F1/1333—Constructional arrangements; Manufacturing methods
- G02F1/1345—Conductors connecting electrodes to cell terminals
- G02F1/13452—Conductors connecting driver circuitry and terminals of panels
-
- G—PHYSICS
- G09—EDUCATION; CRYPTOGRAPHY; DISPLAY; ADVERTISING; SEALS
- G09G—ARRANGEMENTS OR CIRCUITS FOR CONTROL OF INDICATING DEVICES USING STATIC MEANS TO PRESENT VARIABLE INFORMATION
- G09G3/00—Control arrangements or circuits, of interest only in connection with visual indicators other than cathode-ray tubes
- G09G3/006—Electronic inspection or testing of displays and display drivers, e.g. of LED or LCD displays
-
- G—PHYSICS
- G09—EDUCATION; CRYPTOGRAPHY; DISPLAY; ADVERTISING; SEALS
- G09G—ARRANGEMENTS OR CIRCUITS FOR CONTROL OF INDICATING DEVICES USING STATIC MEANS TO PRESENT VARIABLE INFORMATION
- G09G3/00—Control arrangements or circuits, of interest only in connection with visual indicators other than cathode-ray tubes
- G09G3/20—Control arrangements or circuits, of interest only in connection with visual indicators other than cathode-ray tubes for presentation of an assembly of a number of characters, e.g. a page, by composing the assembly by combination of individual elements arranged in a matrix no fixed position being assigned to or needed to be assigned to the individual characters or partial characters
- G09G3/34—Control arrangements or circuits, of interest only in connection with visual indicators other than cathode-ray tubes for presentation of an assembly of a number of characters, e.g. a page, by composing the assembly by combination of individual elements arranged in a matrix no fixed position being assigned to or needed to be assigned to the individual characters or partial characters by control of light from an independent source
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Abstract
本发明公开了一种GOA面板静电损坏的分析方法，包括：驱动点亮待检GOA面板；根据待检GOA面板上显示不良的情况，确定是否为外围区域上的栅驱动电路发生损坏，若是则进行步骤300；根据待检GOA面板上显示不良的位置，确定外围区域上的栅驱动电路损坏的大致区域；放大观察栅驱动电路损坏的大致区域，以确定栅驱动电路损坏的准确位置。该分析方法可提高在GOA面板上确定损坏位置的效率。本发明还公开了一种GOA面板改善结构和改善方法。
Description
技术领域
本发明涉及显示器生产技术，尤其涉及一种GOA面板静电损坏的分析方法、改善结构及改善方法。
背景技术
在LCD制造工艺中，静电是一个不可忽视的问题。目前TFT-LCD的线路越来越精细，200V左右的静电就可以将线路击伤。为了解决静电击伤，同行业各公司购买了大量的软X射线器、去离子风机等各种去静电设备。除了增加去静电设备去除静电之外，同行业各公司同时也在线路设计上进行优化，进一步增强产品的抗静电能力。
尤其是GOA面板，GOA面板在阵列基板的外围区域上制作有栅驱动电路，这在LCD工艺的PI摩擦制程中更容易导致栅驱动电路因摩擦静电而损坏。现有技术中，GOA面板的栅驱动电路若损坏，只能通过光学显微镜观察的方式来一点一点去寻找损坏点，效率极其低下。
发明内容
为了解决上述现有技术的不足，本发明提供一种GOA面板静电损坏的分析方法，可提高在GOA面板上确定损坏位置的效率。
本发明还提供一种GOA面板的改善结构和改善方法，可提高GOA面板在制程中的抗静电能力。
本发明所要解决的技术问题通过以下技术方案予以实现：
一种GOA面板静电损坏的分析方法，包括如下步骤：
步骤100：驱动点亮待检GOA面板；
步骤200：根据待检GOA面板上显示不良的情况，确定是否为外围区域上的栅驱动电路发生损坏，若是则进行步骤300；
步骤300：根据待检GOA面板上显示不良的位置，确定外围区域上的栅驱动电路损坏的大致区域；
步骤400：放大观察栅驱动电路损坏的大致区域，以确定栅驱动电路损坏的准确位置。
一种GOA面板的改善结构，包括大板面板，所述大板面板包括多个面板区域以及设置于相邻面板区域之间废料区域，每个面板区域对应于一个GOA面板并制作有栅驱动电路；所述废料区上设置有至少一条静电引导线，每条静电引导线均与至少两个面板区域中的栅驱动电路相连接。
一种GOA面板的改善方法，包括如下步骤：
步骤一：制作权利要求8或9中所述的GOA面板的改善结构；
步骤二：对所述大板面板进行切割，将各个面板区域与所述废料区域剥离，以形成GOA面板。
本发明具有如下有益效果：
该分析方法通过先确定栅驱动电路损坏的大致区域，再在大致区域中观察确定栅驱动电路损坏的准确位置，大大缩小了所需观察的栅驱动电路的范围，无需对整个外围区域上的栅驱动电路进行观察，极大地提高了效率；
该改善结构和改善方法通过增设静电引导线来连接各个面板区域中的栅驱动电路，当某一栅驱动电路在GOA面板的制程中产生静电时，该栅驱动电路可通过所述静电引导线将静电分流至其他栅驱动电路上，以与其他栅驱动电路平摊静电，增强抗静电能力。
附图说明
图1为本发明提供的GOA面板静电损坏的分析方法的步骤框图；
图2为本发明提供的GOA面板的改善结构的示意图；
图3为本发明提供的GOA面板的改善方法的步骤框图。
具体实施方式
下面结合附图和实施例对本发明进行详细的说明。
实施例一
如图1所示，一种GOA面板静电损坏的分析方法，包括如下步骤：
步骤100：驱动点亮待检GOA面板。
在该步骤100中，将待检GOA面板放置于一背光源上，然后点亮所述背光源，接着驱动待检GOA面板上的所有子像素打开，使待检GOA面板显示一白色画面。
步骤200：根据待检GOA面板上显示不良的情况，确定是否为外围区域上的栅驱动电路发生损坏，若是则进行步骤300。
在该步骤200中，若是栅驱动电路中的某一驱动单元损坏的话，则连接至与该损坏驱动单元对应的Gate线上的所有子像素都无法打开或打开不良，对应的，待检GOA面板上会出现黑色横线、局部偏暗或局部色偏等情况。
具体的，根据待检GOA面板上显示不良的情况，确定是否为外围区域上的栅驱动电路发生损坏的步骤如下：
步骤201：根据待检GOA面板的宏观显示情况，确定显示不良区域。
在该步骤201中，上述提到的待检GOA面板上会出现黑色横线、局部偏暗或局部色偏等情况则为栅驱动电路发生损坏时的宏观显示情况，这些情况一般出现在待检GOA面板某一行上或由多行组成的的局部区域上，比如待检GOA面板的下侧出现横向覆盖的黑色横线、偏暗区域或色偏区域等，而待检GOA面板的上侧则显示正常。
步骤202：放大观察显示不良区域的微观显示情况，确定显示不良子像素。
在该步骤202中，通过光学显微镜放大观察待检GOA面板上显示不良区域中的子像素。
步骤203：根据显示不良子像素的情况，确定是否为外围区域上的栅驱动电路发生损坏。
待检GOA线板的栅驱动电路是由多个栅驱动单元组成的，每个栅驱动单元通过一条或多条Gate线连接驱动一行或多行子像素开关。在该步骤203中，若同一条Gate线上的所有子像素均显示不良，则可确定为外围区域上的栅驱动电路发生损坏，否则，则可排除初步栅驱动电路损坏的可能性，并通过其他方式进一步验证发生损坏的是栅驱动电路还是其他地方的电路。
步骤300：根据待检GOA面板上显示不良的位置，确定外围区域上的栅驱动电路损坏的大致区域。
在该步骤300中，由于栅驱动电路一般位于待检GOA面板外围区域的左右两侧上，栅驱动电路损坏的大致区域与待检GOA面板上显示不良的位置横向对应。
当然，若栅驱动电路不是位于待检GOA面板外围区域的左右两侧上的话，比如设置于外围区域的下侧上，然后通过引线延伸至外围区域的左右两侧上，则可通过连接的引线来找到损坏的大致区域。
步骤400：放大观察栅驱动电路损坏的大致区域，以确定栅驱动电路损坏的准确位置。
在该步骤400中，通过光学显微镜和FIB设备（聚焦离子束显微镜）相结合来放大观察栅驱动电路损坏的大致区域。由于在上述步骤300中先确定了栅驱动电路损坏的大致区域，此时大大缩小了光学显微镜和FIB设备所需观察的栅驱动电路的范围，无需对整个外围区域上的栅驱动电路进行观察，极大地提高了效率。
具体的，栅驱动电路损坏的准确位置包括损坏点和损坏膜层，其中放大观察栅驱动电路损坏的大致区域，以确定栅驱动电路损坏的准确位置的具体步骤如下：
步骤401：放大观察栅驱动电路损坏的大致区域，以确定栅驱动电路的损坏点。
在该步骤401中，通过光学显微镜来放大观察栅驱动电路损坏的大致区域，以找到栅驱动电路的损坏点。在分析过程中，发明人发现大部分损坏点均位于栅驱动电路中用于连接上下电路膜层的导通孔。
步骤402：继续放大观察栅驱动电路的损坏点，并逐层剥离观察损坏点的功能膜层，以确定栅驱动电路的损坏膜层。
在该步骤402中，通过FIB设备来继续放大观察栅驱动电路的损坏点，与光学显微镜不同，FIB设备的放大倍数更大，可清楚地看到各功能膜层的表面结构，以确定各功能膜层是否损坏，而且FIB设备具有离子束扫描功能和离子束剥离功能，离子束扫描功能可对各功能膜层的表面结构进行三维成像，离子束剥离功能可对各功能膜层进行剥离。在分析过程中，发明人发现大部分损坏膜层均为导通孔中的ITO层。
步骤403：对栅驱动电路的损坏膜层进行切片，以确定栅驱动电路的损坏原因是否为静电损伤。
在该步骤403中，通过对损坏膜层进行切片可以清楚看到损坏膜层的内部及上下表面。损坏膜层如果是被静电击穿的话，其上下表面都有一定程度的损伤，有时内部也会有损伤，严重的话会因膜层局部被击穿而出现膜层局部缺失的情况，如果是普通划伤的话，一般仅上表面有损坏。
该分析方法通过先确定栅驱动电路损坏的大致区域，再在大致区域中观察确定栅驱动电路损坏的准确位置，大大缩小了所需观察的栅驱动电路的范围，无需对整个外围区域上的栅驱动电路进行观察，极大地提高了效率。
实施例二
如图2所示，一种GOA面板的改善结构，包括大板面板，所述大板面板包括多个面板区域11以及设置于相邻面板区域11之间废料区域12，每个面板区域11对应于一个GOA面板并制作有栅驱动电路110；所述废料区上设置有至少一条静电引导线120，每条静电引导线120均与至少两个面板区域11中的栅驱动电路110相连接。
该改善结构通过增设静电引导线120来连接各个面板区域11中的栅驱动电路110，当某一栅驱动电路110在GOA面板的制程中产生静电时，该栅驱动电路110可通过所述静电引导线120将静电分流至其他栅驱动电路110上，以与其他栅驱动电路110平摊静电，增强抗静电能力。
所述静电引导线120为ITO线，与所述栅驱动电路110中导通孔内的ITO层同步制作，且与所述ITO层连接。
多个面板区域11呈N行M列阵列分布，其中N、M均为正整数且N大于M。
实施例三
如图3所示，一种GOA面板的改善方法，包括如下步骤：
步骤一：制作实施例二中所述的GOA面板的改善结构；
步骤二：对所述大板面板进行切割，将各个面板区域11与所述废料区域12剥离，以形成GOA面板。
在剥离之后，所述静电引导线120留在所述废料区域12上，各个GOA面板中的栅驱动电路110间不再互相连接。
以上所述实施例仅表达了本发明的实施方式，其描述较为具体和详细，但并不能因此而理解为对本发明专利范围的限制，但凡采用等同替换或等效变换的形式所获得的技术方案，均应落在本发明的保护范围之内。
Claims (10)
1.一种GOA面板静电损坏的分析方法，其特征在于，包括如下步骤：
步骤100：驱动点亮待检GOA面板；
步骤200：根据待检GOA面板上显示不良的情况，确定是否为外围区域上的栅驱动电路发生损坏，若是则进行步骤300；
步骤300：根据待检GOA面板上显示不良的位置，确定外围区域上的栅驱动电路损坏的大致区域；
步骤400：放大观察栅驱动电路损坏的大致区域，以确定栅驱动电路损坏的准确位置。
2.根据权利要求1所述的GOA面板静电损坏的分析方法，其特征在于，在步骤200中，根据待检GOA面板上显示不良的情况，确定是否为外围区域上的栅驱动电路发生损坏的步骤如下：
步骤201：根据待检GOA面板的宏观显示情况，确定显示不良区域；
步骤202：放大观察显示不良区域的微观显示情况，确定显示不良子像素；
步骤203：根据显示不良子像素的情况，确定是否为外围区域上的栅驱动电路发生损坏。
3.根据权利要求2所述的GOA面板静电损坏的分析方法，其特征在于，在步骤202中，通过光学显微镜放大观察显示不良区域的微观显示情况。
4.根据权利要求2所述的GOA面板静电损坏的分析方法，其特征在于，在步骤203中，若同一条Gate线上的所有子像素均显示不良，则可确定为外围区域上的栅驱动电路发生损坏。
5.根据权利要求1所述的GOA面板静电损坏的分析方法，其特征在于，在步骤400中，栅驱动电路损坏的准确位置包括损坏点和损坏膜层，其中放大观察栅驱动电路损坏的大致区域，以确定栅驱动电路损坏的准确位置的具体步骤如下：
步骤401：放大观察栅驱动电路损坏的大致区域，以确定栅驱动电路的损坏点；
步骤402：继续放大观察栅驱动电路的损坏点，并逐层剥离观察损坏点的功能膜层，以确定栅驱动电路的损坏膜层；
步骤403：对栅驱动电路的损坏膜层进行切片，以确定栅驱动电路的损坏原因是否为静电损伤。
6.根据权利要求5所述的GOA面板静电损坏的分析方法，其特征在于，在步骤401中，通过光学显微镜来放大观察栅驱动电路损坏的大致区域。
7.根据权利要求5所述的GOA面板静电损坏的分析方法，其特征在于，在步骤402中，通过FIB设备来继续放大观察栅驱动电路的损坏点，以及逐层剥离观察损坏点的功能膜层。
8.一种GOA面板的改善结构，包括大板面板，其特征在于，所述大板面板包括多个面板区域以及设置于相邻面板区域之间废料区域，每个面板区域对应于一个GOA面板并制作有栅驱动电路；所述废料区上设置有至少一条静电引导线，每条静电引导线均与至少两个面板区域中的栅驱动电路相连接。
9.根据权利要求8所述的GOA面板的改善结构，其特征在于，所述静电引导线与所述栅驱动电路中导通孔内的ITO层连接。
10.一种GOA面板的改善方法，其特征在于，包括如下步骤：
步骤一：制作权利要求8或9中所述的GOA面板的改善结构；
步骤二：对所述大板面板进行切割，将各个面板区域与所述废料区域剥离，以形成GOA面板。
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| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| CN202110786294.5A CN113568199A (zh) | 2021-07-12 | 2021-07-12 | 一种goa面板静电损坏的分析方法、改善结构及改善方法 |
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| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| CN202110786294.5A CN113568199A (zh) | 2021-07-12 | 2021-07-12 | 一种goa面板静电损坏的分析方法、改善结构及改善方法 |
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|---|---|
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Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| CN202110786294.5A Pending CN113568199A (zh) | 2021-07-12 | 2021-07-12 | 一种goa面板静电损坏的分析方法、改善结构及改善方法 |
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| PB01 | Publication | ||
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| SE01 | Entry into force of request for substantive examination | ||
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