CN113508189B - 一种用于GaN材料生长的线性喷头 - Google Patents

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Abstract

一种用于GaN材料生长的线性喷头，包括第一气座(1)、第二气座(2)和第三气座(3)，第一气座(1)的中部设置有第一中心气道(11)，相邻第一中心气道(11)之间设置有第一间隙(12)，第一中心气道(11)的底部设置有第一喷嘴(13)；第二气座(2)位于第一气座(1)的上方，第二气座(2)的中部设置有第二中心气道(21)，相邻第二中心气道(21)之间设置有第二间隙(22)，第二中心气道(21)的两侧设置有第二喷嘴(23)；第三气座(3)包括多个第三中心气道(31)，第三中心气道(31)贯穿第一间隙(12)和第二间隙(22)，第三中心气道(31)的底部设置有第三喷嘴(32)。该喷头在工艺过程中能够有效隔离反应气体，避免反应气体因提前混合而在喷嘴处出现预反应；同时能够在生长区域提供稳定的层流流场和均匀分布的反应气体浓度场。

Description

一种用于GaN材料生长的线性喷头
技术领域
本申请涉及GaN材料生长装置技术领域，具体涉及一种多气体隔离喷射的复合喷头，例如涉及一种用于GaN材料生长的线性喷头。
背景技术
氮化镓(以下简称GaN)作为最重要的第三代宽禁带半导体材料，被广泛应用于蓝光LED和高温高频大功率电子器件的制备。氢化物气相外延(Hydride vapor phaseepitaxy，HVPE)技术作为生长氮化镓(GaN)厚膜材料方法之一，以其生长速率高(最高可达800μm/h)，生产成本低，生长工艺简单的特点，非常适合氮化镓(GaN)厚膜生长技术的推广和应用。要推进GaN厚膜的产业化，大批量生产高质量GaN厚膜，其关键在于HVPE反应室内需要获得稳定的层流流场，并且可放置一片或一片以上2-8英寸蓝宝石、SiC、A1N或GaN等衬底的石墨托有效沉积区域上获得混合均匀的III-V族源气体浓度场，还需要尽可能避免喷头处发生预反应而形成沉积。如果喷头喷口存在预反应，将迅速产生大量GaN多晶在喷口处沉积，由于喷头材料与GaN多晶热膨胀系数不同，必将导致喷头碎裂而损毁，进而使整个设备无法继续生产。上述三点是直接影响GaN厚膜市场竞争力的关键因素，需要重点解决。
以GaN单晶为产品的公司或团队，一般会有自己独特设计的喷头，但这些喷头仅适用于实验室级别生产单片2时或3片2时GaN单晶的小机型，产能低，成本高，不适用于市场批量生产和推广；或能用于多片大机型，但预反应十分严重，且单晶均匀性差，落点多，导致晶片质量差，不能满足用户的质量需求。以上现状都是制约GaN单晶产业化的难题。
发明内容
本申请提供一种用于GaN材料生长的线性喷头，在工艺过程中能够有效隔离反应气体，避免反应气体因提前混合而在喷嘴处出现预反应。
本申请采用以下技术方案：
一种用于GaN材料生长的线性喷头，包括第一气座、第二气座和第三气座，所述第一气座的中部设置有多个第一中心气道，相邻所述第一中心气道之间设置有第一间隙，所述第一中心气道的底部沿自身的长度方向设置有第一喷嘴；所述第二气座位于所述第一气座的上方，所述第二气座的中部设置有多个第二中心气道，相邻所述第二中心气道之间设置有第二间隙，所述第二中心气道的两侧沿自身的长度方向设置有第二喷嘴，所述第一间隙与所述第二间隙对齐；所述第三气座包括多个第三中心气道，所述第三中心气道贯穿所述第一间隙和第二间隙，所述第三中心气道的底部设置有第三喷嘴。
在一些实施例中，所述第二气座用于流通隔离气体，隔离气体通过所述第二中心气道并从所述第二喷嘴进入所述第二间隙，并从所述第一间隙喷出；隔离气体例如氮气。
在一些实施例中，所述第一气座和第三气座均用于流通反应气体和载气，其中一种反应气体通过所述第一中心气道并从所述第一喷嘴射出，另一种反应气体通过所述第三中心气道并从所述第三喷嘴射出，所述第一气座和第三气座内的反应气体可以切换；反应气体例如氯化镓、NH3。
需要说明的是，通过设置三个相互独立的相互组合的气座，第一方面，能够有效隔离反应气体，避免反应气体因提前混合而在喷嘴处出现预反应；第二方面，能够简化每个气座的结构，降低生产难度，为实际生产与推广提供更大的可行性；第三方面，这种组合结构能够实现喷头的体积增大设计，能够满足一次生产多片2-8英寸GaN厚膜，提高了该喷头设计的通用性，使喷头能够满足不同尺寸的HVPE设备的需求，从而利于大批量生产；第四方面，这种不同反应气体同向平行喷出的设计能够使反应室内的流场均匀稳定，III-V族反应气体分布更加均匀，减少产物在喷头的沉积。
在氢化物气相外延(以下简称HVPE)生长GaN厚膜时，该喷头的主要作用在于隔离和传输生长过程中需要的各种反应气体。在此过程中，喷头喷嘴处的结构直接影响各源气体进入HVPE反应室后形成的流场及浓度场，还有喷嘴处寄生反应的发生。另外，HVPE设备生长GaN时，为防止晶片开裂，温度通常不能低于1000℃；同时，生长GaN过程中含有HCl气体，不能与金属接触。因此，本方案的HVPE设备选择石英或陶瓷作为制作喷头的材料。石英和陶瓷属于易碎材料，不论加工、运输或使用过程中都存在极大损坏风险，本方案的喷头采用分体组合式设计，结构简单易于加工，且使不同的反应气体的喷出方向一致，从而使反应室内流场稳定、下方的石墨托有效沉积区域反应气体混合均匀、喷头的喷嘴位置的产物沉积少，本方案的喷头能够稳定持续大批量生产高质量GaN单晶，利于推进GaN单晶的产业化。
在一些实施例中，所述第一间隙、第二间隙和第三中心气道的数量相等，每组对齐的所述第一间隙和第二间隙中插设有一个所述第三中心气道。
在一些实施例中，所述第三中心气道的厚度小于所述第一间隙和第二间隙。
在一些实施例中，所述第一喷嘴与所述第三喷嘴位于同一水平面。
在一些实施例中，所述第一喷嘴、第二喷嘴和第三喷嘴均是长条状线性喷嘴，或所述第一喷嘴、第二喷嘴和第三喷嘴分别是三个线性间隔分布的喷孔。
在一些实施例中，该线性喷头的全部结构均采用石英或陶瓷制成。
在一些实施例中，所述第一中心气道是直线管道，多个所述第一中心气道平行；所述第二中心气道是直线管道，多个所述第二中心气道平行；所述第三中心气道是片状管道，多个所述第三中心气道平行。
需要说明的是，设置直线状的气道，利于气流的稳定性，协助提高射出气体的均匀性。
在一些实施例中，所述第三中心气道贯穿所述第一间隙和第二间隙的整个长度方向。通过设置贯穿第一间隙和第二间隙整个长度的第三中心气道，能够提高反应气体的覆盖区域和分布均匀性，进而提高GaN生产效率。
在一些实施例中，所述第一中心气道、第二中心气道和第三中心气道相互平行。
需要说明的是，设置三组相互平行的中心气道，有利于降低三个气座的组装难度，也有利于第一间隙和第二间隙形成的气流通道的规整性，从而有助于提高气流的稳定性。
在一些实施例中，全部所述第一间隙的宽度相等，全部所述第二间隙的宽度相等，所述第一间隙的宽度等于所述第二间隙的宽度，所述第三中心气道位于所述第一间隙和第二间隙的中心。
需要说明的是，通过设置宽度相等的第一间隙和第二间隙，以及将第三中心气道安装在间隙的中心位置，能够使该喷头内部的气体流道更加规整和大小一致，进而使各个位置喷出的气流更加均匀和稳定。
在一些实施例中，所述第一中心气道的形状是圆形或椭圆形或平行四边形或三角形或梯形或五边形；
所述第二中心气道的形状是圆形或椭圆形或平行四边形或三角形或梯形或五边形。
在一些实施例中，所述第一中心气道的形状是圆形或矩形；所述第二中心气道的形状是圆形或矩形。
在一些实施例中，所述第一中心气道的底部设置有导流板，所述第一喷嘴设置在所述导流板的第一端，所述导流板的第二端与所述第一中心气道连接。
在一些实施例中，所述导流板为两片对称设置的内弧形挡片。
需要说明的是，通过设置导流板，使气体到达第一喷嘴时更加均匀稳定。
在一些实施例中，所述第一气座包括第一外周气道，所述第一中心气道位于所述第一外周气道内侧，所述第一中心气道的端部与所述第一外周气道连通；
所述第二气座包括第二外周气道，所述第二中心气道位于所述第二外周气道内侧，所述第二中心气道的端部与所述第二外周气道连通。
在一些实施例中，所述第一外周气道为圆环管道，所述第一中心气道固定在圆环管道的内侧壁；所述第二外周气道为圆环管道，所述第二中心气道固定在圆环管道的内侧壁。
在一些实施例中，所述第一中心气道的厚度与所述第一外周气道的厚度相等；所述第二中心气道的厚度与所述第二外周气道的厚度相等。
在一些实施例中，所述第一外周气道的内部通道的截面积大于所述第一中心气道的内部通道的截面积；所述第二外周气道的内部通道的截面积大于所述第二中心气道的内部通道的截面积。通过设置截面积较大的第一外周气道和第二外周气道，使气体从大腔体进入小腔体，从而使从所述第一喷嘴和第二喷嘴射出的气体压力更加均匀，利于形成均匀浓度场，进而提高结晶质量。
在一些实施例中，所述第一中心气道包括第一内管和第一外管，所述第一外管套设在所述第一内管的外侧，所述第一内管的两端与所述第一外周气道连通，所述第一内管的顶部设置有第一连通孔，所述第一喷嘴设置于所述第一外管的底部；
和/或，所述第二中心气道包括第二内管和第二外管，所述第二外管套设在所述第二内管的外侧，所述第二内管的两端与所述第二外周气道连通，所述第二内管的顶部和底部均设置有第二连通孔，所述第二喷嘴设置于所述第二外管的两侧。
在一些实施例中，所述第一内管和第一外管的轴心线重合；所述第二内管和第二外管的轴心线重合。
需要说明的是，通过设置内、外管的复合气道结构，气体从外周气道进入内管，再从内管经所述连通孔进入外管，从外管上的喷嘴喷出，这种设计能够使气流更加均匀稳定。
在一些实施例中，所述第一外周气道上的侧壁设置有第一进气管，所述第一进气管垂直于所述第一中心气道；
所述第二外周气道的侧壁或顶部设置有第二进气管，所述第二进气管垂直于所述第二中心气道，且所述第二进气管位于远离所述第二中心气道与第二外周气道连通处的位置。
需要说明的是，将进气管设置在远离中心气道与外周气道连通处的位置，能够使进入各个中心气道的气流更加均匀和稳定。
在一些实施例中，所述第三气座还包括匀气腔，所述匀气腔的第一端与所述第三中心气道连通，所述匀气腔的第二端设置有第三进气管。
在一些实施例中，所述第三进气管与所述第三中心气道位于所述匀气腔相对的两侧。
在一些实施例中，所述第三进气管的数量是一个。
在一些实施例中，所述第三中心气道位于所述匀气腔的底部，所述第三进气管设置在所述匀气腔的侧壁。
在一些实施例中，所述第三进气管的数量是两个，分别位于所述匀气腔的两侧。
需要说明的是，通过设置所述匀气腔，使气体从小腔体进入大腔体再进入小腔体，从而使从所述第三喷嘴射出的气体压力更加均匀，利于形成均匀浓度场，进而提高结晶质量。
在一些实施例中，所述匀气腔的底部覆盖所述第二间隙的顶部。
需要说明的是，通过匀气腔覆盖所述第二间隙的顶部，能够避免从第二喷嘴喷出的气体从第二间隙的顶部排出，同时能够省略外部的密封结构，从而简化装置的整体结构。
本申请提供一种用于GaN材料生长的线性喷头，通过设置三个相互独立的相互组合的气座，第一方面，能够有效隔离反应气体，避免反应气体因提前混合而在喷嘴处出现预反应；第二方面，能够简化每个气座的结构，降低生产难度，为实际生产与推广提供更大的可行性；第三方面，这种组合结构能够实现喷头的体积增大设计，能够满足一次生产多片2-8英寸GaN厚膜，提高了该喷头设计的通用性，使喷头能够满足不同尺寸的HVPE设备的需求，从而利于大批量生产和推进GaN单晶的产业化；第四方面，这种不同反应气体同向平行喷出的设计能够使反应室内的流场均匀稳定，作业托盘表面的有效沉积区域反应气体混合均匀，减少产物在喷头的沉积。
附图说明
下面根据附图和实施例对本申请作进一步详细说明。
图1为实施例一所述的喷头的结构示意图；
图2为实施例一所述的第一气座的结构示意图；
图3为实施例一所述的第一气座的全剖视图；
图4为实施例一所述的第二气座的结构示意图；
图5为实施例一所述的第二气座的全剖视图；
图6为实施例一所述的第三气座的结构示意图；
图7为实施例一所述的第三气座的全剖视图；
图8为实施例四所述的喷头的结构示意图；
图9为实施例四所述的第一气座的结构示意图；
图10为实施例四所述的第一气座的全剖视图；
图11为实施例四所述的第二气座的结构示意图；
图12为实施例四所述的第二气座的全剖视图；
图13为实施例五所述的喷头的结构示意图；
图14为实施例五所述的第一气座的结构示意图；
图15为实施例五所述的第一气座的全剖视图；
图16为实施例五所述的第一中心气道的全剖视图；
图17为实施例五所述的第二气座的结构示意图；
图18为实施例五所述的第二气座的全剖视图；
图19为实施例五所述的第二中心气道的全剖视图；
图20为实施例六所述的喷头的结构示意图；
图21为实施例六所述的第一气座的结构示意图；
图22为实施例六所述的第二气座的结构示意图；
图23为实施例六所述的第三气座的结构示意图；
图24为实施例六所述的第一、三中心气道的平面片状结构示意图；
图25为实施例六所述的第一、三中心气道的弧面片状结构示意图。
图1至图25中：
1、第一气座；11、第一中心气道；111、第一内管；112、第一外管；113、第一连通孔；12、第一间隙；13、第一喷嘴；14、第一外周气道；15、第一进气管；16、导流板；
2、第二气座；21、第二中心气道；211、第二内管；212、第二外管；213、第二连通孔；22、第二间隙；23、第二喷嘴；24、第二外周气道；25、第二进气管；
3、第三气座；31、第三中心气道；32、第三喷嘴；33、匀气腔；34、第三进气管。
具体实施方式
下面结合附图并通过具体实施方式来进一步说明本申请的技术方案。
实施例一：
如图1至7所示，一种用于GaN材料生长的线性喷头，该线性喷头的全部结构均采用石英或陶瓷制成，该线性喷头包括从下往上依次连接的第一气座1、第二气座2和第三气座3，第一气座1的顶部与第二气座2的底部贴合。第一气座1的中部设置有多个第一中心气道11，相邻第一中心气道11之间设置有第一间隙12，第一中心气道11的底部沿自身的长度方向设置有第一喷嘴13；第二气座2位于第一气座1的上方，第二气座2的中部设置有多个第二中心气道21，相邻第二中心气道21之间设置有第二间隙22，第二中心气道21的两侧沿自身的长度方向设置有第二喷嘴23，第一间隙12与第二间隙22对齐；第三气座3包括多个第三中心气道31，第三中心气道31贯穿第一间隙12和第二间隙22，第三中心气道31的底部设置有第三喷嘴32。第一喷嘴13与第三喷嘴32位于同一水平面，第一喷嘴13、第二喷嘴23和第三喷嘴32均是长条状线性喷嘴。当然，于其它实施例中，第一喷嘴13、第二喷嘴23和第三喷嘴32也可以分别是三个线性间隔分布的喷孔，或者，第一喷嘴13、第二喷嘴23和第三喷嘴32中的其中一个或两个是长条状线性喷嘴，剩下的两个或一个是喷孔。
本实施例的第二气座2用于流通隔离气体氮气，隔离气体通过第二中心气道21并从第二喷嘴23进入第二间隙22，并从第一间隙12喷出。第一气座1用于流通反应气体氯化镓和载气，反应气体通过第一中心气道11并从第一喷嘴13射出。第三气座3用于流通反应气体NH3和载气，反应气体通过第三中心气道31并从第三喷嘴32射出。于其它实施例中，第一气座1和第三气座3内的反应气体可以切换，即第一气座1用于流通反应气体NH3和载气，第三气座3用于流通反应气体氯化镓和载气。反应气体的流道切换后，氯化镓与NH3两种源气体相对出口发生变换，能够使反应室内流场、浓度场均发生变化，因此这种切换调整能够增加GaN生长工艺的调控范围。
于本实施例中，喷头通过设置三个相互独立的相互组合的气座，且每个气座内的气体可以单独控制，第一方面，能够有效隔离反应气体，避免反应气体因提前混合而在喷嘴处出现预反应；第二方面，能够简化每个气座的结构，降低生产难度，为实际生产与推广提供更大的可行性；第三方面，这种组合结构能够实现喷头的体积增大设计，能够满足一次生产多片2-8英寸GaN厚膜，提高了该喷头设计的通用性，使喷头能够满足不同尺寸的HVPE设备的需求，从而利于大批量生产；第四方面，这种不同反应气体同向平行喷出的设计能够使反应室内的流场均匀稳定，减少产物在喷头的沉积。
在氢化物气相外延(以下简称HVPE)生长GaN厚膜时，该喷头的主要作用在于隔离和传输生长过程中需要的各种反应气体。在此过程中，喷头喷嘴处的结构直接影响各源气体进入HVPE反应室后形成的流场及浓度场，还有喷嘴处寄生反应的发生。另外，HVPE设备生长GaN时，为防止晶片开裂，温度通常不能低于1000℃；同时，生长GaN过程中含有HCl气体，不能与金属接触。因此，本方案的HVPE设备选择石英或陶瓷作为制作喷头的材料。石英和陶瓷属于易碎材料，不论加工、运输或使用过程中都存在极大损坏风险，本方案的喷头采用分体组合式设计，结构简单易于加工，且使不同的反应气体的喷出方向一致，从而使反应室内流场稳定、下方的石墨托有效沉积区域反应气体混合均匀、喷头的喷嘴位置的沉积少，本方案的喷头能够稳定持续大批量生产高质量GaN单晶，利于推进GaN单晶的产业化。
于本实施例中，第一气座1包括第一外周气道14，第一中心气道11位于第一外周气道14内侧，第一中心气道11的端部与第一外周气道14连通。第二气座2包括第二外周气道24，第二中心气道21位于第二外周气道24内侧，第二中心气道21的端部与第二外周气道24连通。第一外周气道14为圆环管道，第一中心气道11固定在圆环管道的内侧壁；第二外周气道24为圆环管道，第二中心气道21固定在圆环管道的内侧壁。第一中心气道11的厚度与第一外周气道14的厚度相等；第二中心气道21的厚度与第二外周气道24的厚度相等。
第一外周气道14上的侧壁设置有第一进气管15，第一进气管15垂直于第一中心气道11。第二外周气道24的侧壁设置有第二进气管25，第二进气管25垂直于第二中心气道21，且第二进气管25位于远离第二中心气道21与第二外周气道24连通处的位置。将进气管设置在远离中心气道与外周气道连通处的位置，能够使进入各个中心气道的气流更加均匀和稳定。于其它实施例中，第二进气管25也可以设置在第二外周气道24的顶部。
于本实施例中，第三气座3还包括匀气腔33，匀气腔33的底部与第三中心气道31连通，匀气腔33的侧壁设置有两个第三进气管34。于其它实施例中，也可以将第三进气管34与第三中心气道31设置于匀气腔33相对的两侧，即第三进气管34位于匀气腔的顶部，第三中心气道31位于匀气腔的底部，且第三进气管34的数量是一个。于本实施例中，通过设置匀气腔33，使气体从小腔体进入大腔体再进入小腔体，从而使从第三喷嘴32射出的气体压力更加均匀，利于形成均匀浓度场，进而提高结晶质量。
匀气腔33的底部与第二气座2贴合，匀气腔33的底部覆盖第二间隙22的顶部，既能够避免从第二喷嘴23喷出的气体从第二间隙22的顶部排出，同时又能够省略外部的密封结构，从而简化装置的整体结构。
于本实施例中，第一中心气道11和第二中心气道21的数量均为四根，第一间隙12和第二间隙22的数量均为三个，第三中心气道31的数量也为三个。附图中使用双虚线隔离表示第一中心气道11、第二中心气道21和第三中心气道31等的数量，可以根据实际需求进行增加或删减。每一个第一间隙12与一个第二间隙22对齐，每组对齐的第一间隙12和第二间隙22中插设有一个第三中心气道31。第一中心气道11是直线管道，多个第一中心气道11平行；第二中心气道21是直线管道，多个第二中心气道21平行；第三中心气道31是片状管道，多个第三中心气道31平行，第三中心气道31的厚度小于第一间隙12和第二间隙22。设置直线状的气道，利于气流的稳定性，协助提高射出气体的均匀性。实施例的第三中心气道31贯穿第一间隙12和第二间隙22的整个长度方向，这种设计能够提高反应气体的覆盖区域和分布均匀性，进而提高GaN生产效率。
于本实施例中，第一中心气道11、第二中心气道21和第三中心气道31相互平行。相互平行的中心气道有利于降低三个气座的组装难度，也有利于第一间隙12和第二间隙22形成的气流通道的规整性，从而有助于提高气流的稳定性。三个第一间隙12的宽度相等，三个第二间隙22的宽度相等，第一间隙12的宽度等于第二间隙22的宽度，第三中心气道31位于第一间隙12和第二间隙22的中心。通过设置宽度相等的第一间隙12和第二间隙22，以及将第三中心气道31安装在间隙的中心位置，能够使该喷头内部的气体流道更加规整和大小一致，进而使各个位置喷出的气流更加均匀和稳定。
于本实施例中，第一中心气道11和第二中心气道21的形状均是矩形，第一中心气道11的底部设置有导流板16，第一喷嘴13设置在导流板16的第一端，导流板16的第二端与第一中心气道11连接。导流板16为两片对称设置的内弧形挡片，通过设置导流板16，使气体到达第一喷嘴13时更加均匀稳定。
可旋转的托盘安装在该喷头的下方，该喷头在托盘的表面形成反应气体的均匀浓度场，能够实现高质量结晶。
实施例二：
本实施例与实施例一的区别在于：
本实施例的第一外周气道14的内部通道的截面积大于第一中心气道11的内部通道的截面积；第二外周气道24的内部通道的截面积大于第二中心气道21的内部通道的截面积。通过设置截面积较大的第一外周气道14和第二外周气道24，使气体从大腔体进入小腔体，从而使从第一喷嘴13和第二喷嘴23射出的气体压力更加均匀，利于形成均匀浓度场，进而提高结晶质量。
实施例三：
本实施例与实施例一的区别在于：
第一中心气道11和第二中心气道21的数量均为五根，第一间隙12和第二间隙22的数量均为四个，第三中心气道31的数量也为四个。在其它实施例中，第一中心气道11和第二中心气道21的数量也可以两根或者三根或者六根以上。
实施例四：
本实施例与实施例一的区别在于：
如图8至12所示，第一中心气道11和第二中心气道21的形状均是圆形。附图中使用双虚线隔离表示第一中心气道11、第二中心气道21和第三中心气道31等的数量，可以根据实际需求进行增加或删减。于其它实施例中，第一中心气道11和第二中心气道21的形状也可以是椭圆形或平行四边形或三角形或梯形或五边形。于其它实施例中，第一中心气道11和第二中心气道21的形状也可以不同，如第一中心气道11的形状是矩形，第二中心气道21的形状是圆形。
实施例五：
本实施例与实施例四的区别在于：
如图13至19所示，第一中心气道11包括第一内管111和第一外管112，第一外管112套设在第一内管111的外侧，第一外管112与第一内管111为同心圆管，第一内管111的两端与第一外周气道14连通，第一内管111的顶部设置有第一连通孔113，第一喷嘴13设置于第一外管112的底部。第二中心气道21包括第二内管211和第二外管212，第二外管212套设在第二内管211的外侧，第二外管212与第二内管211为同心圆管，第二内管211的两端与第二外周气道24连通，第二内管211的顶部和底部均设置有第二连通孔213，第二喷嘴23设置于第二外管212的两侧。本实施例中的第一连通孔113是沿第一内管111的长度方向延伸的腰形孔，第二连通孔213是沿第二内管211的长度方向延伸的腰形孔。附图中使用双虚线隔离表示第一中心气道11、第二中心气道21和第三中心气道31等的数量，可以根据实际需求进行增加或删减。当然，于其它实施例中，第一连通孔113和第二连通孔213也可以分别是三个线性间隔分布的圆孔，或者，第一连通孔113和第二连通孔213中的其中一个是沿长度方向延伸的腰形孔，另一个是圆孔。本方案通过设置内、外管的复合气道结构，气体从外周气道进入内管，再从内管经连通孔进入外管，从外管上的喷嘴喷出，这种设计能够使气流更加均匀稳定。
实施例六：
本实施例与实施例一的区别在于：
如图20至图25所示，第一气座1包括第一中心气道11和第一外周气道14，第一中心气道11位于第一外周气道14内侧，第一中心气道11的端部与第一外周气道14连通。第一外周气道14为圆环管道，第一中心气道11的数量为三个，第一中心气道11的第一端固定在圆环管道的内侧壁，第一中心气道11的第二端悬空，三个第一中心气道11在圆周方向等角度分布在第一外周气道14的内部。在本实施例中，第一中心气道11是片状槽结构，可以是平面片状结构或弧面片状结构，如图24和图25所示。于其它实施例中，第一中心气道也可以是扇形或扇环块状槽结构，第一中心气道的数量也可以不为三个。
第二气座2包括第二中心气道21和第二外周气道24，第二外周气道24的内侧设置有六个通道槽，该通道槽的其中间隔设置的三个与第二外周气道24连通，这三个通道槽形成三个第二中心气道21。另外的三个通道槽穿插在三个第一中心气道21之间，形成第三中心气道31的让位通道。其中，第一中心气道11嵌装在第二中心气道21的内部的下端，第二中心气道21的上端与第二外周气道24连接。三个所述让位通道位于第一中心气道11的第一间隙12内。第二喷嘴设置在第二中心气道21的上端的两侧，隔离气体从第二外周气道24进入第二中心气道21后，由于第二中心气道21的下方被第一中心气道11阻塞，上方被第三气座3的匀气腔33阻塞，因此，隔离气体从第二喷嘴排出至第二间隙22，到达第一间隙12并实现隔离反应气体的效果。
第三气座3还包括匀气腔33和三个第三中心气道31，匀气腔33的底部与第三中心气道31连通。匀气腔33的底部与第二气座2贴合，匀气腔33的底部覆盖第二间隙22的顶部，既能够避免从第二喷嘴喷出的气体从第二间隙22的顶部排出，同时又能够省略外部的密封结构，从而简化装置的整体结构。在本实施例中，第三中心气道31是片状槽结构，可以是平面片状结构或弧面片状结构，如图24和图25所示。三个第二中心气道21的形状与第一中心气道11的形状相同，三个所述让位通道的形状与第三中心气道31的形状相同。于其它实施例中，第三中心气道也可以是扇形或扇环块状槽结构，当然，必须保证第三中心气道能够插入第一中心气道的第一间隙内。另外，第三中心气道的数量也不为三个。
本文中的“第一”、“第二”、“第三”仅仅是为了在描述上加以区分，并没有特殊的含义。

Claims (10)

1.一种用于GaN材料生长的线性喷头，包括第一气座、第二气座和第三气座，所述第一气座的中部设置有多个第一中心气道，相邻所述第一中心气道之间设置有第一间隙，所述第一中心气道的底部沿自身的长度方向设置有第一喷嘴；所述第二气座位于所述第一气座的上方，所述第二气座的中部设置有多个第二中心气道，相邻所述第二中心气道之间设置有第二间隙，所述第二中心气道的两侧沿自身的长度方向设置有第二喷嘴，所述第一间隙与所述第二间隙对齐；所述第二气座用于流通隔离气体，隔离气体通过第二中心气道并从第二喷嘴进入第二间隙，并从第一间隙喷出；所述第三气座包括多个第三中心气道，所述第三中心气道贯穿所述第一间隙和第二间隙，所述第三中心气道的底部设置有第三喷嘴，所述第三中心气道位于所述第一间隙和第二间隙的中心。
2.根据权利要求1所述的用于GaN材料生长的线性喷头，其中，所述第一中心气道是直线管道，多个所述第一中心气道平行；所述第二中心气道是直线管道，多个所述第二中心气道平行；所述第三中心气道是片状管道，多个所述第三中心气道平行。
3.根据权利要求2所述的用于GaN材料生长的线性喷头，其中，全部所述第一间隙的宽度相等，全部所述第二间隙的宽度相等，所述第一间隙的宽度等于所述第二间隙的宽度。
4.根据权利要求1所述的一种用于GaN材料生长的线性喷头，其中，所述第一中心气道的形状是圆形或椭圆形或平行四边形或三角形或梯形或五边形；
所述第二中心气道的形状是圆形或椭圆形或平行四边形或三角形或梯形或五边形。
5.根据权利要求1所述的用于GaN材料生长的线性喷头，其中，所述第一中心气道的底部设置有导流板，所述第一喷嘴设置在所述导流板的第一端，所述导流板的第二端与所述第一中心气道连接。
6.根据权利要求1所述的用于GaN材料生长的线性喷头，其中，所述第一气座包括第一外周气道，所述第一中心气道位于所述第一外周气道内侧，所述第一中心气道的端部与所述第一外周气道连通；
所述第二气座包括第二外周气道，所述第二中心气道位于所述第二外周气道内侧，所述第二中心气道的端部与所述第二外周气道连通。
7.根据权利要求6所述的用于GaN材料生长的线性喷头，其中，所述第一中心气道包括第一内管和第一外管，所述第一外管套设在所述第一内管的外侧，所述第一内管的两端与所述第一外周气道连通，所述第一内管的顶部设置有第一连通孔，所述第一喷嘴设置于所述第一外管的底部；
和/或，所述第二中心气道包括第二内管和第二外管，所述第二外管套设在所述第二内管的外侧，所述第二内管的两端与所述第二外周气道连通，所述第二内管的顶部和底部均设置有第二连通孔，所述第二喷嘴设置于所述第二外管的两侧。
8.根据权利要求6所述的用于GaN材料生长的线性喷头，其中，所述第一外周气道上的侧壁设置有第一进气管，所述第一进气管垂直于所述第一中心气道；
所述第二外周气道的侧壁或顶部设置有第二进气管，所述第二进气管垂直于所述第二中心气道，且所述第二进气管位于远离所述第二中心气道与第二外周气道连通处的位置。
9.根据权利要求1所述的用于GaN材料生长的线性喷头，其中，所述第三气座还包括匀气腔，所述匀气腔的第一端与所述第三中心气道连通，所述匀气腔的第二端设置有第三进气管。
10.根据权利要求9所述的用于GaN材料生长的线性喷头，其中，所述匀气腔的底部覆盖所述第二间隙的顶部。
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