CN113495172A - 探测装置、测试座、电路结构、测试装置和终端 - Google Patents

探测装置、测试座、电路结构、测试装置和终端 Download PDF

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Abstract

本公开提供一种探测装置、测试座、电路结构、测试装置和终端。本公开提供的探测装置，包括：探测件，具有探测端；外壳，套在所述探测件的外周并与所述探测件相连接，所述外壳的第一端具有与所述探测端对应的开口；其中，所述探测端在所述外壳的横截面的投影，与所述横截面的几何中心不重叠。本公开提供的探测装置通过能够以第一插入状态和第二插入状态插入与其适配的测试座，从而无需将测试座取下并转向就可以对第一导电件连接的电路以及第二导电件连接的电路进行测试。

Description

探测装置、测试座、电路结构、测试装置和终端
技术领域
本公开涉及测试装置技术领域，尤其涉及一种探测装置、测试座、电路结构、测试装置和终端。
背景技术
射频测试座是一种安装在印刷电路板上的测试元件，作为射频信号的传输媒介，请参看图1，射频电路和天线之间设有射频测试座，探针没有插入测试座时，射频电路和天线连通，从天线收发信号，在使用探针时，用探针插入射频测试座，请参看图2，在探针插入后，探针将射频测试座内的两个连接元件断开，探针与射频电路通信，从而通过探针对射频电路进行调试。当需要对天线进行测试的时候，则需要将测试座取下并转向，重新连接后对天线进行测试。
发明内容
为解决现有问题，本公开提供一种探测装置、测试座、电路结构、测试装置和终端。
本公开采用以下的技术方案。
在一些实施例中，本公开提供一种探测装置，包括：
探测件，具有探测端；
外壳，套在所述探测件的外周并与所述探测件相连接，所述外壳的第一端具有与所述探测端对应的开口；
其中，所述探测端在所述外壳的横截面的投影，与所述横截面的几何中心不重叠。
在一些实施例中，本公开提供一种测试座，与上述任一所述的探测装置相适配，包括：
基座，具有插口；
连接件，设置在所述基座内；
第一导电件，所述第一导电件的第一端与所述连接件的第一端相接触；
第二导电件，所述第二导电件的第一端与所述连接件的第二端相接触；
所述探测装置能够插入所述插口，并根据插入时所述外壳沿所述外壳的周向转动的角度不同，具有第一插入状态和第二插入状态；
在所述第一插入状态下，所述探测端与所述第一导电件相接触，且所述第一导电件与所述连接件相分离；
在所述第二插入状态下，所述探测端与所述第二导电件相接触，且所述第二导电件与所述连接件相分离。
在一些实施例中，本公开提供一种电路结构，包括：上述任一项所述的测试座；
第一电阻，所述第一电阻的第一端与电源电连接，所述第一电阻的另一端与所述第一导电件第二端电连接；
第二电阻，所述第二电阻的第一端与所述第二导电件的第二端电连接，所述第二电阻的第二端接地。
在一些实施例中，本公开提供一种测试装置，包括：
上述任一所述的探测装置；
上述任一项所述的测试座。
在一些实施例中，本公开提供一种终端，包括：上述任一项所述的测试座，或者，包括上述任一项所述的电路结构。
本公开实施例提供的探测装置通过能够以第一插入状态和第二插入状态插入与其适配的测试座，从而无需将测试座取下并转向就可以对第一导电件连接的电路以及第二导电件连接的电路进行测试。
附图说明
结合附图并参考以下具体实施方式，本公开各实施例的上述和其他特征、优点及方面将变得更加明显。贯穿附图中，相同或相似的附图标记表示相同或相似的元素。应当理解附图是示意性的，元件和元素不一定按照比例绘制。
图1是现有技术中射频测试座的连接结构示意图。
图2是现有技术中射频测试座的另一种连接结构示意图。
图3是本公开实施例的一种探测装置的立体图。
图4是本公开实施例的一种探测装置的正视图。
图5是本公开实施例的一种测试座的结构示意图。
图6是本公开实施例的一种在第一插入状态下探测装置与测试座的配合示意图。
图7是本公开实施例的一种在第二插入状态下探测装置与测试座的配合示意图。
图8是本公开实施例的一种电路结构的示意图。
附图标记：1、探测件；11、探测端；2、外壳；3、基座；4、连接件；5、第一导电件；6、第二导电件；R1、第一电阻；R2、第二电阻；C1、第一电容；C2、第二电容。
具体实施方式
下面将参照附图更详细地描述本公开的实施例。虽然附图中显示了本公开的某些实施例，然而应当理解的是，本公开可以通过各种形式来实现，而且不应该被解释为限于这里阐述的实施例，相反提供这些实施例是为了更加透彻和完整地理解本公开。应当理解的是，本公开的附图及实施例仅用于示例性作用，并非用于限制本公开的保护范围。
应当理解，本公开的方法实施方式中记载的各个步骤可以按和/或并行执行。此外，方法实施方式可以包括附加的步骤和/或省略执行示出的步骤。本公开的范围在此方面不受限制。
本文使用的术语“包括”及其变形是开放性包括，即“包括但不限于”。术语“基于”是“至少部分地基于”。术语“一个实施例”表示“至少一个实施例”；术语“另一实施例”表示“至少一个另外的实施例”；术语“一些实施例”表示“至少一些实施例”。其他术语的相关定义将在下文描述中给出。
需要注意，本公开中提及的“第一”、“第二”等概念仅用于对不同的装置、模块或单元进行区分，并非用于限定这些装置、模块或单元所执行的功能的顺序或者相互依存关系。
需要注意，本公开中提及的“一个”的修饰是示意性而非限制性的，本领域技术人员应当理解，除非在上下文另有明确指出，否则应该理解为“一个或多个”。
本公开实施方式中的多个装置之间所交互的消息或者信息的名称仅用于说明性的目的，而并不是用于对这些消息或信息的范围进行限制。
以下将结合附图，对本公开实施例提供的方案进行详细描述。请参看图2和图3，本公开的实施例中提供的一种探测装置，包括：探测件1和外壳2；探测件1，具有探测端11；外壳2，套在所述探测件1的外周并与所述探测件1相连接，所述外壳2的第一端具有与所述探测端11对应的开口；其中，所述探测端11在所述外壳2的横截面的投影，与所述横截面的几何中心不重叠。
在本公开的一些实施例中，探测件1可以是导电探针，探测端11是探测件1用于与其他装置接触的一端，用于采集其他装置的信号。在本公开的一些实施例中，外壳的横截面为旋转对称图形，例如：外壳的横截面可以为圆环形、长方形或正多边形。本实施例中，外壳2的内部形成中空的腔体，探测件1设置在外壳2的内部腔体中，外壳2对探测件1进行保护。在现有技术中，往往是探测件与外壳的中心轴同轴设置，将探测件设置在外壳的中心轴所在位置，但这样每次插入与探测件相配合的测试座时，探测件只会与测试座中固定的部件接触。在本实施例中，请参看图2，因为探测端11在横截面上的投影与横截面的几何中心不重叠，即当外壳2绕所述外壳的中心轴的自转时，探测件1随之转动并改变探测端11所在的位置，因此通过转动外壳2就能够使得探测装置在插入与其适配的测试座时，能够使得探测端11与测试座中不同的部件相接触，从而可以在不对测试座做任何操作的情况下对测试座中的多个部件进行测试。在本公开的一些实施例中，测试装置还包括测试仪，所述测试仪与所述探测件电连接，用于解析探测端11传递来的电信号，测试仪例如可以是综测仪。
在本公开的一些实施例中，可以参看图1和图2，外壳2可以为圆筒，探测件1的延伸方向与所述圆筒的轴向相同，但探测件1并未处在所述圆筒的中心轴上，因此当圆筒绕中心轴转动时，探测端11的位置会随之改变。
本公开的实施例中还提供一种测试座，与本公开的任一的探测装置相适配。请参看图5，测试座包括：
基座3，具有插口；连接件4，设置在所述基座3内；第一导电件5，所述第一导电件5的第一端与所述连接件4的第一端相接触；第二导电件6，所述第二导电件6的第一端与所述连接件4的第二端相接触；在本公开的一些实施例中，插口与探测装置的形状相适配。基座3采用绝缘材料制备，连接件4起到导通第一导电件5和第二导电件6的作用，即第一导电件5和第二导电件6之间通过连接件4传递电信号。
所述探测装置能够插入所述插口，并根据插入时所述外壳沿外壳的周向转动的角度不同，具有第一插入状态和第二插入状态；在本公开的一些实施例中，外壳的中心轴垂直于外壳的横截面并与横截面相交于所述横截面的几何中心，外壳沿外壳的周向转动时即相当于外壳绕自身的中心轴自转，由于外壳与探测件连接，所以探测件也会随之转动，由于探测端在横截面的投影并未与横截面几何中心重叠，所以在外壳沿周向转动时探测端的位置随之改变。
请参看图6，在所述第一插入状态下，所述探测端11与所述第一导电件5相接触，且所述第一导电件5与所述连接件4相分离。请参看图7，在所述第二插入状态下，所述探测端11与所述第二导电件6相接触，且所述第二导电件6与所述连接件4相分离。
在本实施例中，探测装置能够插入基座3上的插口，并能够根据需要选择进入第一插入状态和第二插入状态，在第一插入状态下，探测件1能够探测第一导电件5上传输的信号，在第二插入状态下，探测件1能够探测第二导电件6上传输的信号，因此，能够根据需要选择第一插入状态和第二插入状态，在不改变测试座的及其连接关系的情况下对不同的部件进行探测。在一些可选的实施例中，第一导电件5的第二端与射频模块连接，在第一插入状态下，探测件1能够探测射频模块的信号。在本公开的一些实施例中，第二导电件6的第二端与天线模块连接，在第二插入状态下探测件1能够探测天线模块的信号。
在本公开的一些实施例中，探测装置的外壳的横截面为旋转对称图形，所以转动外壳后，仍然能够插口入插口，而不会出现无法插入的问题，根据外壳沿外壳的周向转动的角度不同，从而选择进入第一插入状态或第二插入状态。
在本公开的一些实施例中，外壳的外壁上凸出设置有限位块，插口上开设有与所述限位块适配的第一限位缺口和第二限位缺口，在第一插入状态下，限位块插入所述第一限位缺口，在第二插入状态下，限位块插入第二限位插口，这样可以通过限位块对插入件的位置进行定位。
在本公开的一些实施例中，所述第一导电件5的第一端为金属簧片；和/或，所述第二导电件6的第一端为金属簧片。请参看图5，金属簧片与连接件4形成常闭开关，在探测件插入后被探测件顶开，在探测件移出后自动与连接件4恢复到闭合状态。
在本公开的一些实施例中，所述外壳2的横截面为圆环形；所述测试装置在所述第一插入状态下，通过绕所述横截面的旋转轴转动第一角度切换至所述第二插入状态。在本实施例中，因为外壳2的横截面为圆环形，因此在从第一插入状态转换到第二插入状态时，无需将探测装置从插口中取出就可以直接切换，从而提高了探测效率。
在现有技术中，射频测试座在反复使用的过程中，簧片会逐渐变形导致无法闭合，或者因为异物进入导致簧片无法闭合，此时射频测试座将不能正常工作，由于射频测试座的尺寸很小，通常尺寸为2.5mm×2.5mm左右，因此难以通过肉眼辨别射频测试座的簧片是否闭合。
本公开的实施例中还提供了一种电路结构，请参看图8(测试座的基座未显示)，电路结构包括：上述任一项所述的测试座；第一电阻R1，所述第一电阻R1的第一端与电源VC电连接，所述第一电阻R1的另一端与所述第一导电件5第二端电连接；第二电阻R2，所述第二电阻R2的第一端与所述第二导电件6的第二端电连接，所述第二电阻的第二端接地。
在本实施例中，在第一导电件5和第二导电件6都和连接件相接触时，电源VC与第二电阻R2之间电连通，因此第一电阻R1和第二电阻R2形成分压电路，所以第二电阻R2的第一端的电位等于VC*R2/(R1+R2)，而当第一导电件或第二导电件中的任一与连接件断开时，则第二电阻的第一端的电位等于零。因此本实施例中，通过检测第二电阻R2的第一端的电位就可以确定在没有探测装置插入的情况下测试座中的第一导电件和第二导电件是否与连接件相断开。
在本公开的一些实施例中的电路结构，还包括：第一电容C1，所述第一电容C1的第一端与所述第一导电件5的第二端电连接。通过设置第一电容C1能够起到过滤直流信号保留交流信号的作用，从而过滤杂波。在本公开的一些实施例中，电路结构，还包括：第二电容C2，所述第二电容C2的第一端与所述第二导电件6的第二端电连接。
在本公开的一些实施例中，第一电容C1的第二端与射频模块连接，在本公开的一些实施例中，第二电容C2的第二端与天线模块连接。
本公开的实施例还提供了一种测试装置，包括：上述所述的探测装置；上述任一项所述的测试座。
本公开的一种终端，包括：如上述任一项所述的测试座，或者，包括上述任一项所述的电路结构。
根据本公开的一个或多个实施例，提供了一种探测装置，包括：
探测件，具有探测端；
外壳，套在所述探测件的外周并与所述探测件相连接，所述外壳的第一端具有与所述探测端对应的开口；
其中，所述探测端在所述外壳的横截面的投影，与所述横截面的几何中心不重叠。
根据本公开的一个或多个实施例，提供了一种探测装置，，所述横截面为圆环形、长方形或正多边形。
根据本公开的一个或多个实施例，提供了一种测试座，与上述任一所述的探测装置相适配，包括：
基座，具有插口；
连接件，设置在所述基座内；
第一导电件，所述第一导电件的第一端与所述连接件的第一端相接触；
第二导电件，所述第二导电件的第一端与所述连接件的第二端相接触；
所述探测装置能够插入所述插口，并根据插入时所述外壳沿所述外壳的周向转动的角度不同，具有第一插入状态和第二插入状态；
在所述第一插入状态下，所述探测端与所述第一导电件相接触，且所述第一导电件与所述连接件相分离；
在所述第二插入状态下，所述探测端与所述第二导电件相接触，且所述第二导电件与所述连接件相分离。
根据本公开的一个或多个实施例，提供了一种测试座，所述第一导电件的第一端为金属簧片；和/或，所述第二导电件的第一端为金属簧片。
根据本公开的一个或多个实施例，提供了一种测试座，所述外壳的横截面为圆环形；
所述测试装置在所述第一插入状态下，通过绕所述横截面的旋转轴转动第一角度切换至所述第二插入状态。
根据本公开的一个或多个实施例，提供了一种电路结构，包括：
上述任一项所述的测试座；
第一电阻R1，所述第一电阻R1的第一端与电源电连接，所述第一电阻的另一端与所述第一导电件第二端电连接；
第二电阻，所述第二电阻的第一端与所述第二导电件的第二端电连接，所述第二电阻的第二端接地。
根据本公开的一个或多个实施例，提供了一种测试座，还包括：
第一电容C1，所述第一电容C1的第一端与所述第一导电件的第二端电连接。
根据本公开的一个或多个实施例，提供了一种测试座，还包括：
第二电容C2，所述第二电容C2的第一端与所述第二导电件的第二端电连接。
根据本公开的一个或多个实施例，提供了一种测试装置，包括：
上述任一所述的探测装置；
上述任一项所述的测试座。
根据本公开的一个或多个实施例，提供了一种终端，包括：上述任一项所述的测试座，或者，包括上述任一项所述的电路结构。
以上描述仅为本公开的较佳实施例以及对所运用技术原理的说明。本领域技术人员应当理解，本公开中所涉及的公开范围，并不限于上述技术特征的特定组合而成的技术方案，同时也应涵盖在不脱离上述公开构思的情况下，由上述技术特征或其等同特征进行任意组合而形成的其它技术方案。例如上述特征与本公开中公开的(但不限于)具有类似功能的技术特征进行互相替换而形成的技术方案。
此外，虽然采用特定次序描绘了各操作，但是这不应当理解为要求这些操作以所示出的特定次序或以顺序次序执行来执行。在一定环境下，多任务和并行处理可能是有利的。同样地，虽然在上面论述中包含了若干具体实现细节，但是这些不应当被解释为对本公开的范围的限制。在单独的实施例的上下文中描述的某些特征还可以组合地实现在单个实施例中。相反地，在单个实施例的上下文中描述的各种特征也可以单独地或以任何合适的子组合的方式实现在多个实施例中。
尽管已经采用特定于结构特征和/或方法逻辑动作的语言描述了本主题，但是应当理解所附权利要求书中所限定的主题未必局限于上面描述的特定特征或动作。相反，上面所描述的特定特征和动作仅仅是实现权利要求书的示例形式。

Claims (10)

1.一种探测装置，其特征在于，包括：
探测件(1)，具有探测端(11)；
外壳(2)，套在所述探测件(1)的外周并与所述探测件(1)相连接，所述外壳(2)的第一端具有与所述探测端(11)对应的开口；
其中，所述探测端(11)在所述外壳(2)的横截面的投影，与所述横截面的几何中心不重叠。
2.根据权利要求1所述的探测装置，其特征在于，所述横截面为圆环形、长方形或正多边形。
3.一种测试座，其特征在于，与权利要求1或2所述的探测装置相适配，包括：
基座(3)，具有插口；
连接件(4)，设置在所述基座(3)内；
第一导电件(5)，所述第一导电件(5)的第一端与所述连接件(4)的第一端相接触；
第二导电件(6)，所述第二导电件(6)的第一端与所述连接件(4)的第二端相接触；
所述探测装置能够插入所述插口，并根据插入时所述外壳沿所述外壳的周向转动的角度不同，具有第一插入状态和第二插入状态；
在所述第一插入状态下，所述探测端(11)与所述第一导电件(5)相接触，且所述第一导电件(5)与所述连接件(4)相分离；
在所述第二插入状态下，所述探测端(11)与所述第二导电件(6)相接触，且所述第二导电件(6)与所述连接件(4)相分离。
4.根据权利要求3所述的测试座，其特征在于，
所述第一导电件(5)的第一端为金属簧片；
和/或，所述第二导电件(6)的第一端为金属簧片。
5.根据权利要求3所述的测试座，其特征在于，
所述外壳(2)的横截面为圆环形；
所述测试装置在所述第一插入状态下，通过绕所述横截面的旋转轴转动第一角度切换至所述第二插入状态。
6.一种电路结构，其特征在于，包括：
如权利要求3-5任一项所述的测试座；
第一电阻(R1)，所述第一电阻(R1)的第一端与电源电连接，所述第一电阻(R1)的另一端与所述第一导电件(5)第二端电连接；
第二电阻(R2)，所述第二电阻(R2)的第一端与所述第二导电件(6)的第二端电连接，所述第二电阻的第二端接地。
7.根据权利要求6所述的电路结构，其特征在于，还包括：
第一电容(C1)，所述第一电容(C1)的第一端与所述第一导电件(5)的第二端电连接。
8.根据权利要求5或6所述的电路结构，其特征在于，还包括：
第二电容(C2)，所述第二电容(C2)的第一端与所述第二导电件(6)的第二端电连接。
9.一种测试装置，包括：
如权利要求1-2任一项所述的探测装置；
如权利要求3-5任一项所述的测试座。
10.一种终端，包括：如权利要求3-5任一项所述的测试座，或者，包括如权利要求6-8任一项所述的电路结构。
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