CN113474639A - 照明系统、照明设备和照明控制方法 - Google Patents

照明系统、照明设备和照明控制方法 Download PDF

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Abstract

该照明系统设置有：照明设备，发射用于照明被检查对象的检查光；信息获取设备，用于获取与被检查对象有关的信息；以及控制设备，用于基于与被检查对象有关的信息来控制检查光。

Description

照明系统、照明设备和照明控制方法
相关申请的交叉引用
本申请要求日本专利申请No.2019-34774(2019年2月27日递交)的优先权，其公开内容通过引用整体并入本文中。
技术领域
本公开涉及一种照明系统、照明设备和照明控制方法。
背景技术
为了进行视觉检查，已知一种便于检测涂装表面上的外观缺陷的配置(例如，参见专利文献1)。
引用列表
专利文献
PTL 1：日本未审专利申请公开No.2016-142525。
发明内容
根据本公开的一个实施例的照明系统包括照明设备、信息获取设备和控制设备。照明设备发射第一检查光，用第一检查光照射检查目标。信息获取设备获取与检查目标有关的信息。控制设备基于与检查目标有关的信息来控制第一检查光。
根据本公开的一个实施例的照明设备包括发光设备、信息获取单元和控制单元。发光设备发射包括在检查光中的光，用检查光照射检查目标。控制单元基于与检查目标有关的信息来控制包括在检查光中的光。
根据本公开的一个实施例的照明控制方法包括：发射步骤，发射第一检查光，用第一检查光照射检查目标；信息获取步骤，获取与检查目标有关的信息；以及控制步骤，基于与检查目标有关的信息来控制第一检查光。
附图说明
[图1]图1是示出了根据一个实施例的照明系统的示例配置的框图。
[图2]图2是示出了包括发光设备的照明设备的示例配置的透视图。
[图3]图3是示出了照明设备的示例外观的透视图。
[图4]图4是示出了照明设备的示例外观的平面图。
[图5]图5是示出了明暗照明的示例的示图。
[图6]图6是示出了具有反射明暗照明的表面的示例检查目标的示意图。
[图7]图7是示出了发光设备的示例配置的外部透视图。
[图8]图8是沿图7中的A-A截取的横截面图。
[图9]图9是图8中的圆圈部分的放大图。
[图10]图10是示出了紫光的光谱的曲线图。
[图11]图11是示出了蓝色荧光、蓝绿色荧光、绿色荧光和红色荧光的光谱的曲线图。
[图12]图12是示出了近红外荧光的光谱的曲线图。
[图13]图13是示出了用于控制照明设备的示例过程的流程图。
[图14]图14是示出了根据另一实施例的照明设备的示例配置的框图。
具体实施方式
检查员视觉检查各种检查目标的外观。需要提高对于各种检查目标的检查精度。
根据本公开一个实施例的照明系统1和照明设备20(参见图1)可以提高对于各种检查目标的检查精度。
如图1中所示，根据一个实施例的照明系统1包括用光照射检查目标50的照明设备20、控制照明设备20的控制设备30、以及获取来自检查目标50的信息的信息获取设备40。照明设备20包括发射光的发光设备10。照射检查目标50的光也被称为检查光。在下文中，照明设备20用其照射检查目标50的检查光也被称为第一检查光。从发光设备10发射出的光也被称为第二检查光。此时，第一检查光和第二检查光可以相同也可以不同。第一检查光至少包括第二检查光。如下所述通过导光构件22的发光表面发射的光是第三检查光。第三检查光可以与第一检查光和/或第二检查光相同，或者可以与第一检查光和/或第二检查光不同。第一检查光至少包括第三检查光，并且第三检查光至少包括第二检查光。
假设根据本实施例的照明系统1安装在工业产品的生产线中，工业产品中的每个工业产品是用于检查处理的检查目标50。检查目标50例如可以是车辆，诸如汽车或飞机。检查目标50可以是例如车辆或飞机的涂装表面。检查目标50可以是例如车辆或飞机的内部。检查目标50可以是诸如沙发或桌子之类的家具。检查目标50不限于上述示例，并且可以包括各种工业产品。照明系统1不需要安装用于工业产品的检查处理，并且可以安装用于各种产品的检查处理，例如包括诸如蔬菜的农产品或诸如奶酪的乳制品。
在安装了根据本实施例的照明系统1的检查处理中，检查员8视觉检查由照明设备20照明的检查目标50的外观。检查员8可以将包括存在于检查目标50的表面上的不规则在内的缺陷或变形检测为外观缺陷。检查员8可以将附着到检查目标50的表面的异物(诸如垃圾或灰尘)检测为外观缺陷。检查员8可以例如将检查目标50的表面的与样品色相不同的色相检测为外观缺陷。除了上述示例以外，检查员8还可以检测各种形式的外观缺陷。期望的是照明系统1用使得检查员8容易地检测检查目标50中的外观缺陷的检查光照射检查目标50。
在视觉检查中，可能会发生被称作炫目的现象，其中，例如，由检查目标50的表面反射的检查光直接进入检查员8的眼睛，并且使检察员8目眩。炫目可能会使检查员8不舒服，损害检查员8的视力，或者加速检查员8的眼睛疲劳，并且可能会使得难以检测外观缺陷。结果是，炫目降低了视觉检查的质量。因此，期望用难以发生炫目的检查光进行照明。
如图2中所示，照明设备20包括发光设备10、导光构件22和壳体24。壳体24包括外围部分26。发光设备10安装在壳体24中并被导光构件22覆盖。发光设备10例如在Y轴方向上布置成列。发光设备10可以被布置成多条线。发光设备10可以以网格的形式布置，诸如正方形网格或斜方形网格。发光设备10不需要被布置为上述示例中那样，并且可以以各种形式布置。假设导光构件22是板的形式。具有板形式的导光构件22也被称为导光板。导光构件22具有面向照明设备20的外部的第一板面以及面向照明设备20的内部并面向发光设备10的第二板面。每个发光设备10的光通过其发射的表面可以与第二板表面接触。在每个发光设备10的光通过其发射的表面与第二板面接触的情况下，通过导光构件22传播的光与从发光设备10发射出的光的比率高于在每个发光设备10的光通过其发射的表面不与第二板表面接触的情况下。
每个发光设备10在Z轴的正方向上发射光(第二检查光)。从发光设备10发射出的光进入导光构件22的第二板面。导光构件22沿第一板面和第二板面透射进入的光并在与第一板表面交叉的方向上发射光作为检查光(第三检查光)。第二检查光通过其发射作为第三检查光的第一板面也被称为发光表面。通过发光表面发射的第三检查光在该表面内具有基本均匀的强度。当第三检查光通过发光表面发射时，可以将照明设备20视为以平面形式发射光的面光源。
外围部分26位于导光构件22的边缘(外边缘的外部)上。外围部分26可以部分地覆盖导光构件22的发光表面的边缘。外围部分26不允许光通过其发射。在外围部分26部分地覆盖导光构件22的发光表面的边缘的情况下，外围部分26阻挡或减少通过发光表面发射的光。由于由照明设备20发射的平面光在检查目标50上反射而形成的图像在发光表面与外围部分26之间的边界上具有高对比度。发光表面是延伸到与外围部分26的边界的平坦表面，并因此，进一步提高了边界上的对比度。作为比较示例，其中管状荧光灯被平坦的漫射罩覆盖的配置是可能的。在这种情况下，荧光灯具有管状形式，并因此，难以使发光表面为平坦表面。因此，漫射罩的边缘部分中的光的强度可能变低。在本实施例的照明设备20中，可以通过包括与外围部分26的边界的发光表面发射强度大致均匀的光。结果是，发光表面与外围部分26的边界的对比度可以高于比较示例的配置中的对比度。外围部分26的表面可以由黑色材料或例如具有低反射率的抗反射膜形成。当外围部分26的表面的反射率较低时，可以进一步提高发光表面与外围部分26之间的边界上的对比度。
照明设备20可以具有例如图3和图4中所示的外观。假设导光构件22具有在从第一板面观察时具有长度方向和宽度方向的矩形形状。在这种情况下，照明设备20可以发射矩形平面光。长度方向和宽度方向分别对应于Y轴方向和X轴方向。照明系统1可以包括多个照明设备20。照明设备20可以在导光构件22的宽度方向上布置。当多个照明设备20在导光构件22的宽度方向上排列时，如例如图5中所示地那样形成发光区域E和非发光区域B以条纹的形式布置的照明。发光区B和非发光区B以条纹的形式布置的照明也被称为明暗照明。例如，在检查目标50是汽车的情况下，在如图6中所示的汽车的车身表面上反射明暗照明的发光区域E和非发光区域B。
如图1中所示，控制设备30包括控制单元32和存储单元34。控制单元32向照明系统1的组成单元输出控制指令并从该组成单元获取各种类型的信息。例如，控制单元32控制由发光设备10发射的作为第二检查光的光的光谱和强度。发光设备10可以发射用如下所述的各种光谱标识的光线。控制单元32可以包括至少一个处理器以便提供用于执行各种功能的控制和处理能力。处理器可以执行用于实现控制单元32的各种功能的程序。处理器可以被实现为单个集成电路。集成电路也被称为IC。处理器可以被实现为彼此可通信地连接的多个集成电路和分立电路。处理器可以基于其他各种已知技术来实现。
控制单元32可以包括接口。控制单元32可以经由接口通过有线或无线方式可通信地连接到照明系统1的组成单元。接口可以包括用于例如LAN(局域网)的通信接口。接口可以实现符合各种通信方法中的任何通信方法的通信，诸如4G(第4代)或5G(第5代)或LTE(长期演进)。接口可以包括用于非接触式通信的通信接口，诸如红外通信或NFC(近场通信)。接口可以包括端口，经由该端口可以输入和输出基于串行通信标准(诸如，RS232C或RS485)的信号。
存储单元34可以包括诸如磁盘的电磁存储介质，或者可以包括诸如半导体存储器或磁存储器的存储器。存储单元34存储例如各种类型的信息和由控制单元32执行的程序。存储单元34可以用作控制单元32的工作存储器。控制单元32中可以包括存储单元34的至少一部分。
信息获取设备40可以包括用于确定例如检查目标50的颜色或外形的传感器。信息获取设备40可以包括用于检测检查目标50颜色的颜色传感器。信息获取设备40可以包括用于检测检查目标50的外形的形状测量传感器，诸如位移传感器。信息获取设备40可以包括用于检测相距检查目标50的距离的范围传感器。信息获取设备40可以例如包括诸如捕获检查目标50的图像相机之类的图像捕获设备，以及分析所捕获的图像以确定检查目标50的颜色或外形的图像处理装置。
信息获取设备40可以获取与检查目标50相关联的信息。与检查目标50相关联的信息可以包括与例如检查目标50的颜色或外形有关的信息。信息获取设备40可以包括用于从例如外部传感器获取信息的接口。在为了用于汽车的检查处理而安装了照明系统1的情况下，作为检查目标50的进行检查处理的每辆汽车例如可以通过存储诸如型号、级别或颜色之类的信息的IC标签识别。信息获取设备40可以从例如IC标签获取与作为检查目标50的汽车有关的信息。
照明系统1还可以包括驱动照明设备20的驱动设备70。驱动设备70可以在平移方向上移动照明设备20以确定照明设备20的位置。驱动设备70可以绕作为中心轴的预定轴旋转照明设备20，以确定照明设备20的导光构件22的发光表面的朝向。控制设备30可以通过控制驱动设备70来控制照明设备20的位置以及照明设备20的导光构件22的发光表面的朝向。
如图7、图8和图9中所示，发光设备10包括发光元件3和波长转换构件6。发光设备10还可以包括元件衬底2、框体4和密封部件5。
发光元件3反射在360nm至430nm的波长范围内具有峰值波长的光。发光元件3可以发射例如具有如图10中的曲线所示光谱的光。在图10中的曲线图中，横轴和纵轴分别代表由发光元件3发射的光的波长和相对强度。相对强度被表示为强度与峰值波长处的强度之比。根据图10中的曲线图，发光元件3发射具有由λx表示的波长作为其峰值波长的光。由λx表示的波长包括在360nm至430nm的波长范围内。也就是说，发光元件3发射出在360nm至430nm的波长范围内具有峰值波长的光。在360nm至430nm的波长范围内具有峰值波长的光也被称为紫光。360nm至430nm的波长范围也被称为紫光范围。
波长转换构件6将从发光元件3进入波长转换构件6的光转换为在可见光范围内具有峰值波长的光并发射所转换的光。假设可见光包括紫光。假设可见光范围包括紫光范围。
发光设备10可以包括多个波长转换构件6。多个波长转换构件6可以分别发射具有不同峰值波长的光线。发光设备10可以通过控制由每个波长转换构件6发射的光线的强度来发射具有各种光谱的光线。
元件衬底2可以由例如绝缘材料形成。元件衬底2可以由例如如下材料形成：陶瓷材料，诸如氧化铝、莫来石；玻璃陶瓷材料；或者将上述材料之中的多种材料混合而获取的复合材料。元件衬底2可以由例如其中分散有可以调节热膨胀的金属氧化物颗粒的聚合树脂材料形成。
元件衬底2可以在元件衬底2的主表面2A上或元件衬底2内部包括布线导体，该布线导体允许包括安装在元件衬底2上的发光元件3在内的组件的电传导。布线导体可以由例如导电材料构成，诸如钨、钼、锰或铜。布线导体可以通过在形成元件衬底2的陶瓷生片上印刷具有金属浆料的预定图案并堆叠和烧结多个陶瓷生片来形成，所述金属浆料由添加有有机溶剂的钨粉制成。在布线导体的表面上，例如，可以形成由例如镍或金制成的镀层以防止氧化。
元件衬底2可以包括与布线导体和镀层间隔开的金属反射层，以将由发光元件3发射的光有效地释放到外部。金属反射层可以由例如金属材料构成，该金属材料例如是铝、银、金、铜或铂。
本实施例假设发光元件3是LED(发光二极管)。LED具有PN结，P型半导体和N型半导体在该PN结处结合，并且电子和空穴在该PN结处重新耦合，从而向外发射光。发光元件3不限于LED，并且可以是另一种类型的发光元件，诸如LD(激光二极管)。
发光元件3安装在元件衬底2的主表面2A上。发光元件3可以电连接到镀层上，该镀层经由例如钎焊材料或焊料附于设置在元件衬底2上或元件衬底2中的布线导体的表面。安装在元件衬底2的主表面2A上的发光元件3的数量没有特别限制。
发光元件3可以包括半透明基础基底和形成在半透明基础衬底上的光学半导体层。半透明基础衬底包括例如允许使用化学气相沉积(例如，金属有机化学气相沉积或分子束外延沉积)在其上沉积光学半导体层的材料。半透明基础基底可以由例如蓝宝石、氮化镓、氮化铝、氧化锌、硒化锌、碳化硅、硅或二硼化锆制成。半透明衬底的厚度例如可以是50μm以上且1000μm以下。
光学半导体层可以包括形成在半透明基础衬底上的第一半导体层、形成在第一半导体层上形成的发光层、以及形成在发光层上的第二半导体层。第一半导体层、发光层和第二半导体层可以由例如III族氮化物半导体、诸如磷化镓或砷化镓之类的III-V族半导体、或者诸如氮化镓、氮化铝或氮化铟之类的III族氮化物半导体构成。
第一半导体层的厚度可以是例如1μm以上且印m以下。发光层的厚度可以是例如25nm以上且150nm以下。第二半导体层的厚度可以是例如50nm以上且600nm以下。
框体4可以由例如陶瓷材料形成，诸如氧化铝、氧化钛、氧化锆、氧化钇。框体4可以由多孔材料形成。框体4可以由将包含诸如氧化铝、氧化钛、氧化锆、氧化钇之类的金属氧化物的粉末混合到其中的树脂材料形成。框体4不必由上述材料形成，并且可以由各种材料形成。
框体4经由例如树脂、钎料或焊料连接到元件衬底2的主表面2A。框体4设置在元件衬底2的主表面2A上，从而与发光元件3间隔开并围绕发光元件3。框体4被设置为使得其内壁表面随着其部分远离元件衬底2的主表面2A而逐渐倾斜从而向外延伸。内壁表面用作反射由发光元件3发射的光的反射表面。内壁表面可以包括例如由金属材料(诸如钨、钼或锰)形成的金属层，以及覆盖金属层并由金属材料(诸如镍或金)形成的镀层。镀层反射由发光元件3发射的光。
框体4的内壁表面的形状在平面图中可以为圆形。当内壁表面的形状为圆形时，框体4可以将由发光元件3发射的光大致均匀地向外反射。框体4的内壁表面的倾斜角度可以被设定为例如相对于元件衬底2的主表面2A为55度以上且70度以下的角度。
除了被框体4围绕的内部空间的上部的一部分以外，被元件衬底2和框体4围绕的内部空间填充有密封部件5。密封部件5密封发光元件3并且允许由发光元件3发射的光从中穿过其中。密封部件5可以由例如具有光学透明性的材料形成。密封部件5可以由例如具有光学透明性的绝缘树脂材料(诸如硅树脂、丙烯酸树脂、环氧树脂)或具有光学透明性的玻璃材料形成。密封部件5的折射率可以被设定为例如1.4以上且1.6以下。
在发光设备10包括密封部件5的情况下，从发光元件3发射的紫光穿过密封部件5并进入波长转换构件6。如上所述，波长转换构件6将来自发光元件3的光转换为具有包括在可见光范围内的各种峰值波长的光线。发光元件3的被定位为使得所发射的紫光进入波长转换构件6。换言之，波长转换构件6被定位为使得从发光元件3发射的光进入波长转换构件6。在图7至图9中所示的结构中，波长转换构件6沿密封部件5的上表面位于被元件衬底2和框体4围绕的内部空间的上部的部分中。波长转换构件6不必如上述例子中那样定位，并且可以被定位为例如从被元件衬底2和框体4围绕的内部空间的上部伸出。
如图9中所示，波长转换构件6可以包括具有光学透明性的半透明构件60、第一荧光物质61、第二荧光物质62、第三荧光物质63、第四荧光物质64和第五荧光物质65。第一荧光物质61、第二荧光物质62、第三荧光物质63、第四荧光物质64和第五荧光物质65也被简称为荧光物质。假设荧光物质包含在半透明构件60中。荧光物质可以基本上均匀地分散在半透明构件60中。荧光物质将进入波长转换构件6的紫光转换为在360nm至780nm的波长范围具有峰值波长的光线，并且发射转换后的光线。
半透明构件60可以由例如具有光学透明性的绝缘树脂(诸如氟树脂、硅树脂、丙烯酸树脂、环氧树脂)或具有光学透明性的玻璃材料形成。
荧光物质将进入的紫光转换为具有各种峰值波长的光线。在图11和图7中的曲线图中，示出了荧光物质的示例荧光光谱。在图11和图7中的曲线图中，横轴和纵轴分别表示由每种荧光物质发射的光的波长和相对强度。
第一荧光物质61可以具有由图11中的曲线图中的λ1表示的第一峰值波长。假设第一峰值波长是400nm至500nm的波长范围内的波长。第一荧光物质61发射例如蓝光。作为第一荧光物质61，例如，可以使用BaMgAl10O17：Eu或(Sr，Ca，Ba)10(PO4)6Cl2：Eu、(Sr，Ba)10(PO4)6Cl2：Eu。
第二荧光物质62可以具有由图11中的曲线图中的λ2表示的第二峰值波长。假设第二峰值波长是450nm至550nm的波长范围内的波长。第二荧光物质62发射例如蓝绿光。作为第二荧光物质62，例如可以使用(Sr，Ba，Ca)5(PO4)3Cl：Eu、Sr4Al14O25：Eu。
第三荧光物质63可以具有由图11中的曲线图中的λ3表示的第三峰值波长。假设第三峰值波长是500nm至600nm的波长范围内的波长。第三荧光物质63发射例如绿光。作为第三荧光物质63，例如可以使用SrSi2(O，Cl)2N2：Eu、(Sr，Ba，Mg)2SiO4：Eu2+或ZnS：Cu，Al、Zn2SiO4：Mn。
第四荧光物质64可以具有由图11中的曲线图中的λ4表示的第四峰值波长。假设第四峰值波长是600nm至700nm的波长范围内的波长。第四荧光物质64发射例如红光。作为第四荧光物质64，例如可以使用Y2O2S：Eu、Y2O3：Eu、SrCaClAlSiN3：Eu2+、CaAlSiN3：Eu或CaAlSi(ON)3：Eu。
第五荧光物质65可以具有图12中的曲线图中的λ5表示的第五峰值波长和λ6表示的第六峰值波长。假设第五峰值波长和第六峰值波长是波长范围为680nm至800nm的波长。第五荧光物质65发射例如近红外光。近红外光可以包括680至2500nm的波长范围内的光。作为第五荧光物质65，例如可以使用3Ga5O12：Cr。
包含在波长转换构件6中的荧光物质的种类的组合没有特别限定。如图8和图9中的区域X所示，波长转换构件6可以具有第一荧光物质61、第二荧光物质62、第三荧光物质63、第四荧光物质64和第五荧光物质65。波长转换构件6可以具有其他类型的荧光物质。
发光设备10可以包括多个波长转换构件6。波长转换构件6可以具有荧光物质的不同组合。发光设备10可以包括向每个波长转换构件6发射紫光的发光元件3。发光设备10可以通过控制进入每个波长转换构件6的紫光的强度来发射具有各种光谱的光线。
根据本实施例的发光设备10包括波长转换构件6，并因此，可以发具有各种光谱的光线。例如，发光设备10可以发射具有例如来自太阳的直射阳光的光谱、到达海底预定深度的阳光的光谱、烛光的光谱、或者萤火虫的光谱的光。换言之，发光设备10可以发射各种颜色的光线。
光的颜色通过光的光谱识别，并且通过色温来表示。色温是与黑体温度相关联的参数。将由具有通过T表示的温度的黑体辐射的光的光谱的色温表示为T。例如，将由5000K(开尔文)的黑体辐射的光的光谱的色温表示为5000K。具有约4000K至5000K的色温的光的颜色也被称为白色。当光的色温低于白光的色温时，光的颜色可以包含更多的红色分量。也就是说，具有低色温的光看起来偏红。当光的色温高于白光的色温时，光的颜色可以包含更多的蓝色分量。也就是说，具有高色温的光看起来偏蓝。
不仅由黑体辐射的光的光谱、而且类似于由黑体辐射的光的光谱都可以通过色温表示。假设在特定光谱类似于由具有通过T表示的温度的黑体辐射的光的光谱的情况下，特定光谱的色温被表示为T。可以基于各种条件来确定两条光线的光谱是否具有类似关系。两条光线的光谱具有类似关系的条件可以包括这样的条件：例如，在将两条光线的相对强度针对它们的光谱中的每个波长彼此比较时，每个波长处的差异在预定的范围内。两条光线的光谱具有类似关系的条件可以包括如下条件：例如，包括在两条光线的光谱中的峰值波长之间的差值在预定范围内。两条光线的光谱具有类似关系的条件不限于上述示例，并且可以包括各种条件。
例如，正午左右的太阳光的光谱可以近似为由约5000K的黑体辐射的光谱。在这种情况下，正午左右的太阳光的色温被表示为约5000K。通过约5000K的色温表示的光也被称为中性白。通过比中性白的色温高的约6500K的色温表示的光的颜色也被称为日光色。日光色包括比白色分量多的蓝色分量，并且看起来偏蓝。
日出后经过约两小时之后的时间点的太阳光的色温可以被表示为约4200K。日出时或日落时的太阳光的色温可以被表示为约2000K。由白炽灯发射的光的色温可以被表示为约2500至2800K。由烛光发射的光的色温可以被表示为约2000K。通过约2000至3000K的色温表示的光的颜色也被称为白炽灯色。
发光设备10可以发射具有通过色温表示的光谱的光，并且也可以发射具有通过色温无法表示的光谱的光。本实施例假设控制设备30控制发光设备10以使得发光设备10发射具有通过色温表示的光谱的光。控制设备30可以控制发光设备10以使得发光设备10发射具有通过色温无法表示的光谱的光。
在照明系统1中，要由检查员8视觉检查的检查目标50由照明设备20用第一检查光照射。假设在照明系统1中，照明设备20被设置为使得检查光形成明暗照明。检查员8观察反射明暗照明的检查目标50，从而检查检查目标50的外观。检查员8可以基于在检查目标50的表面上反射的明暗照明的外观来检查检查目标50的外观。例如，在检查目标50是汽车的情况下，在如图6中所示的汽车的车身表面上反射明暗照明。检查员8观察汽车的车身表面上反射的明暗照明，并且基于外观来检查汽车的车身的外观。检查员8可以容易地发现在汽车的车身表面上反射的明暗照明的发光区域E与非发光区域B之间的边界上包括附着物(诸如，垃圾)或包括不规则的瑕疵或变形的检测目标52。例如，检查员8可以基于车身表面的形状来确定发光区域E与非发光区域B之间的边界是否形成平滑的线，或者该边界是否由于检测目标52的存在而变得不规则。在边界不规则的情况下，检查员8可以发现检测目标52存在于该位置处。在边界看起来是平滑的线的情况下，检查员8可以确定检测目标52不存在。在汽车的车身表面上反射的明暗照明的发光区域E中可以视觉确认的光量改变的部分中，检查员8可以检测检测目标52的存在。
在检查员8观察在检查目标50上反射的明暗照明的情况下，检查员8的外观取决于检查光的光谱与检查目标50的表面的颜色之间的关系而改变。检查目标50的表面的颜色可以通过光在检测目标50的表面上的反射光谱识别。取决于检测光的光谱与检测目标50的表面的颜色之间的关系，检查员8可能难以观看检查目标50。例如，在白色或接近白色的检查目标50的表面上反射中性白的检查光的情况下，检查员8难以将检查目标50的表面的颜色与检查光彼此区分。结果是，检查员8难以确定检测目标52的存在。在这种情况下，照明系统1使得照明设备20发射白炽灯色的光作为检查光，从而允许检查员8将检查目标50的表面的颜色与检查光容易地区分开。
例如，在黑色或接近黑色的暗色的检查目标50的表面上反射中性白的检查光的情况下，在检查目标50的表面上反射的发光区域E与非发光区域之间的边界上的对比度变高。结果是，检查员8可以容易地确定检测目标52的存在。也就是说，在检查目标50的表面的颜色具有低于或等于预定值的亮度的情况下，照明系统1可以使得照明设备20发射中性白的光作为第一检查光。
取决于检查光的光谱与检查目标50的表面的颜色之间的关系，检查员8可能会目眩或可能会感到紧张。例如，在具有高反射率的表面的检查目标物50上反射中性白的检查光的情况下，检查员8可能由于检查光的反射而目眩。也就是说，容易发生炫目。在这种情况下，照明系统1可以通过使得照明设备20发射白炽灯色的光作为第一检查光来创造一种检查员8不太可能目眩或感到例如紧张的环境。
控制设备30可以控制照明设备20使得第一检查光的色温具有2000K至6500K范围内的值。具有2000K至6500K范围内的色温的光是人们通常可以视觉识别的光。当第一检查光的色温具在2000K至6500K范围内的值时，检查员8不太可能感到困难。
本实施例的照明系统1可以通过控制第一检查光的光谱和强度来创造检查员8可以容易地检查检查目标50的环境。
照明系统1通过信息获取设备40获取与检查目标50有关的信息。与检查目标50有关的信息也被称为检查目标信息。信息获取设备40可以获取与检查目标50的表面的颜色有关的信息。信息获取设备40可以获取检查目标50的表面的反射光谱。信息获取设备40可以获取检查目标50的表面的宏观形状。信息获取设备40可以获取从照明设备20到检测目标50的距离。
照明系统1通过控制设备30控制由照明设备20发射的检查光(第一检查光)的光谱。控制设备30从信息获取设备40获取检查目标信息并基于该信息来控制由照明设备20发射的检查光(第一检查光)的光谱。
在例如检查目标50的表面的颜色是接近白光的颜色的亮色的情况下，控制设备30可以控制检查光(第一检查光)的光谱，使得检查光(第一检查光)是白炽灯色。在例如检查目标50的表面的颜色是接近黑色的暗色的情况下，控制设备30可以控制检查光(第一检查光)的光谱，使得检查光(第一检查光)是中性白。
信息获取设备40可以获取亮度作为与检查目标50的表面的颜色有关的信息。在检查目标50的表面的颜色是亮度高于或等于预定值的颜色的情况下，控制设备30可以控制检查光(第一检查光)的光谱，使得检查光(第一检查光)是白炽灯色。在检查目标50的表面的颜色是亮度低于或等于预定值的颜色的情况下，控制设备30可以控制检查光(第一检查光)的光谱，使得检查光(第一次检查光)是日光色或中性白。可以适当地设置预定值。在使检查光(第一检查光)的颜色为白炽灯色的情况下和使检查光(第一检查光)的颜色为日光色或中性白的情况下，可以设置不同的预定值。
控制设备30可以基于检查目标50的表面的颜色的亮度来控制第一检查光的光谱，使得检查光(第一检查光)具有特定色温。例如，控制设备30可以基于颜色的亮度将检查目标50的表面的颜色分类为包括黑色、灰色和白色在内的三个级别。在检查目标50的表面的颜色被分类为黑色的情况下，控制设备30可以控制检查光(第一检查光)的光谱，使得检查光的色温等于6500K。在检查目标50的表面的颜色被分类为白色的情况下，控制设备30可以控制检查光(第一检查光)的光谱，使得检查光的色温等于2000K。在检测对象50的表面的颜色被分类为灰色的情况下，控制设备30可以控制检测光的光谱，使得检测光的色温等于3500K。检查目标50的表面的颜色与检查光(第一检查光)的色温之间的关系不限于上述示例，并且可以包括各种关系。
在以相同的强度发射光的情况下，具有低色温的光的照度低于具有高色温的光的照度。当控制设备30使得第一检查光的色温降低时，控制设备30可以增加第一检查光的强度。因此，检查光的照度不太可能改变。结果是，即使当检查光(第一检查光)由于检查目标50的不同而改变时，检查员8也不太可能感到困难。
控制设备30可以基于检查目标50的表面的颜色的色调来控制检查光(第一检查光)的光谱。在这种情况下，控制设备30可以控制发光设备10以使得发光设备10发射具有通过色温无法表示的光谱的光(第二检查光)。例如，在检查目标50的表面的颜色包括更多的红色分量的情况下，控制设备30可以控制检查光(第一检查光)的光谱，使得检查光(第一检查光)包括较少的绿色分量(绿色是红色的互补色)。例如，控制设备30可以控制检查光(第一检查光)的光谱，使得检查光(第一检查光)包括与检查目标50的表面的颜色相似的颜色的许多分量。因此，在检查目标50的表面上反射的明暗照明的发光区域E与非发光区域B之间的对比度变大。结果是，检查员8可以容易地发现外观缺陷。
检查员8可以检查表面的色相作为检查目标50的外观。检查员8对表面的色相的感知取决于检查员8而不同，并且基于检查光的光谱而改变。控制设备30可以控制检查光(第一检查光)的光谱，使得每个检查员8对检查目标50的表面的色调的感知差异变小。检查员8可以对在检查目标50的表面上反射的明暗照明的发光区域E中的检查目标50的表面的色相进行检查。
为了在各种环境的光下对检查目标50的色相进行检查，控制设备30可以使得照明设备20再现各种环境中的光作为检查光(第一检查光)。控制设备30可以基于用于识别各种环境中的光的光谱的信息，使得照明设备20再现各种环境中的光。例如，在世界各地销售汽车的情况下，控制设备30可以使得照明设备20再现不同位置处的太阳光作为第一检查光，从而允许检查员8检查对车身在不同位置处的阳光下的色相的感知。因此，无需将检查目标50移动到现场，就可以检查对现场处的环境中的色相的感知。因此，可以降低检查成本。
可能存在这样的情况：检查员8可以通过以具有特定光谱的第一检查光照射检查目标50容易地发现特定的外观缺陷。控制设备30可以使得照明设备20发出具有特定光谱的第一检查光。该特定光谱可以与检查目标信息相关联。在特定光谱与检查目标50相关联的情况下，控制设备30可以基于检查目标信息来使得照明设备20再现具有特定光谱的光。
在特定环境中使用检查目标50的情况下，需要在用其照射特定环境的光下检查色相。检查目标信息可以包括与使用检查目标50的环境有关的信息。控制设备30可以基于与使用检查目标50的环境有关的信息来使得照明设备20再现用其照射环境的光。检查目标信息可以包括与检查目标50的运送目的地有关的信息。
在照明系统1中，控制设备30可以基于其中将检查目标信息与光谱彼此相关联的数据库来控制第一检查光的光谱。控制设备30可以将数据库存储在存储单元34中。控制设备30可以从数据库中提取与检查目标信息相关联的光谱，并且基于提取到的光谱来使得照明设备20发射第一检查光。
在数据库中，例如可以将作为检查目标信息的与检查目标50的表面的颜色或检查目标50的外形有关的信息与光谱相关联。作为检查目标信息，可以将从照明设备20到检查目标50的距离与光谱相关联。作为检查目标信息，可以将与使用检查目标50的环境有关的信息或与检查目标50的运送目的地有关的信息与光谱相关联。
当预先准备了其中将检查目标信息与光谱相关联的数据库时，可以基于根据检查目标信息容易地控制第一检查光的光谱。
根据本实施例的发光设备10用紫光激励荧光物质并将紫光转换为多种颜色的光线，从而发射具有各种光谱的光线。根据比较示例的装置用蓝光激励荧光物质，蓝光是用在450nm至470nm范围内具有峰值波长的光谱识别的，根据比较示例的装置通过荧光物质将蓝光转换为在570nm至590nm范围内具有峰值波长的光谱的黄光，从而发射类似于白光的光。在检查者8长时间观察由检查目标50反射的检查光或检查光本身的情况下，包括在检查光中的蓝光分量可能比紫光分量对视网膜的影响程度更大。在包括根据本实施例的发光设备10的照明设备20以及照明系统1照射检查目标50的情况下，可以降低对检查员8的视网膜的影响。
根据一个实施例的照明设备20可以包括多个发光设备10。控制设备30可以彼此独立地控制由各个发光设备10发射的光线的光谱。控制设备30可以彼此相关联地控制由各个发光设备10发射的光线的光谱。控制设备30可以彼此相关联地控制各个发光设备10发射的光线的光谱，从而控制通过将由各个发光设备10发射的光线进行组合而获取的光的光谱。将各个发光设备10发射的光线进行组合而获取的光也被称为组合光。照明设备20可以发射组合光作为第一检查光的至少一部分。
发光设备10可以包括第一发光设备和第二发光设备。控制设备30可以相互独立地或彼此相关联地控制由第一发光设备发射的光的光谱和由第二发光设备发射的光的强度和光谱。控制设备30可以控制通过将由第一发光设备发射的光与由第二发光设备发射的光进行组合而获取的组合光的光谱。由第一发光设备发射的光的光谱和强度可以不同于由第二发光设备发射的光的光谱和强度。控制设备30可以基于检查目标信息来控制包括在检查光(第一检查光)中的至少一部分的组合光的光谱。
每个发光设备10可以发射在360nm至430nm的波长范围内具有峰值波长的光，并且可以发射在360nm至780nm的波长范围内具有峰值波长的光。每个发光设备10可以发射在360nm到780nm的波长范围内具有峰值波长的光，使得组合光在360nm到780nm的波长范围内具有峰值波长。
取决于检查光的入射角，反射检查光的检查目标50的表面看起来不同。在根据比较示例的系统中，假设照明设备20不移动。在比较示例中，当检查员8自身移动时，检查员8可以改变检查光(第一检查光)的入射角。在根据本实施例的照明系统1中，控制设备30可以通过基于与检查目标50的外形有关的信息控制驱动设备70，来控制检查光(第一检查光)相对于检查目标50的入射角。因此，即使在检查员8不移动的情况下，检查光(第一检查光)的入射状态也发生变化，使得检查员8可以容易地执行检查。结果是，提高了检查员8的外观检查的精度。
取决于从检查光通过其发射的发光表面到检查目标50的表面的距离，检查目标50的反射检查光的表面看起来不同。在根据比较示例的系统中，检查目标50沿特定路线移动。另一方面，照明设备20不移动。也就是说，在根据比较例的系统中，不能按照需要改变从发光表面到检查目标50的距离。在根据本实施例的照明系统1中，控制设备30可以根据照明设备20到检查目标50的距离来控制驱动设备70，从而移动照明设备20的位置并控制从照明设备20到检查目标50的距离。因此，检查光(第一检查光)的入射状态改变，使得检查员8可以容易地执行检查。因此，提高了检查员8的外观检查的精度。
照明系统1可以根据图13中的流程图所示的过程来控制第一检查光。
控制设备30获取检查目标信息(步骤S1)。
控制设备30基于检查目标信息来确定由照明设备20发射的第一检查光的光谱(步骤S2)。控制设备30可以基于检查目标50的表面的颜色来确定第一检查光的光谱。
控制设备30基于检查目标信息来使得驱动设备70移动照明设备20(步骤S3)。控制设备30可以基于检查目标50的外形来移动照明设备20。控制设备30可以基于从照明设备20到检查目标50的距离来移动照明设备20。在为了检查处理而自动传送检查目标50的情况下，控制设备30可以根据检查目标50的传送操作来移动照明设备20。
在控制设备30执行步骤S3中的过程之后，图13中的流程图可以结束。
根据本实施例的照明系统1通过基于检查目标信息来控制照明设备20，可以提高检查员8的外观检查的精度。照明系统1基于检查目标50的表面的颜色来控制第一检查光的光谱，从而便于检查员8对检查目标50的外观缺陷的检查。照明系统1基于检查目标50的外形来移动照明设备20，从而便于检查员8对检查目标50的外观缺陷的检测。照明系统1基于从照明设备20到检查目标50的距离来移动照明设备20，从而便于检查员8对检查目标50中的外观缺陷的检测。
根据图14中所示的另一实施例的照明设备20可以包括发光设备10和控制单元28。照明设备20还可以包括存储单元29。控制单元28和存储单元29可以具有分别与图1中所示的控制设备30的控制单元32和存储单元34的配置相同或相似的配置。
照明设备20还可以包括信息获取单元27。在照明设备20包括信息获取单元27的情况下，照明设备20通过信息获取单元27获取检查目标信息。在照明设备20不包括信息获取单元27的情况下，照明设备20可以经由控制单元28的接口从外部装置获取检查目标信息。信息获取单元27可以具有与图1中所示的信息获取设备40的配置相同或相似的配合。
当照明设备20包括控制单元28时，照明设备20可以自行控制第一检查光的光谱。因此，可以容易地安装用于控制第一检查光的光谱的配置。
用于描述本发明的实施例的示图是示意图。例如，图中的尺寸和比例不必与实际尺寸相对应或成比例。
尽管已参考附图和示例对本公开的实施例进行了描述，但是应理解的是本领域技术人员可以在本公开的基础上容易地进行各种修改或修正。因此，应注意的是这样的修改或修正包括在本公开的范围内。例如，可以重新配置包括在例如构成单元中的功能以不引起任何逻辑矛盾，例如可以将多个构成单元组合以形成一个构成单元或者可以划分一个构成单元。
在本公开中，例如“第一”和“第二”的表述是用于将构成要素彼此区分的标识符。对于通过例如本公开中的“第一”和“第二”的表述而彼此区分的构成要素，可以交换赋予构成要素的编号。例如，对于第一发光设备，其标识“第一”可以与作为第二发光设备的标识的“第二”互换。标识符同时交换。即使在交换标识符之后，构成元素也彼此区分。可以移除标识符。去除了其标识符的构成元素用附图标记来区分。本公开中的“第一”、“第二”等标识的表述，不应用于解释构成要素的顺序，也不能作为存在编号较小的标识的依据。
参考符号列表
1 照明系统
8 检验员
10 发光设备(2：元件衬底，2A：主表面，3：发光元件，4：壳体，5：密封部件，6：波长转换构件，60：半透明构件，61至65：第一荧光物质至第五荧光物质)
20 照明设备(27：信息获取单元，28：控制单元，29：存储单元)
30 控制设备(32：控制单元，34：存储单元)
40 信息获取设备
50 检查目标
70 驱动设备。

Claims (20)

1.一种照明系统，包括：
照明设备，发射第一检查光，用所述第一检查光照射检查目标；
信息获取设备，获取与所述检查目标有关的信息；以及
控制设备，基于与所述检查目标有关的信息来控制所述第一检查光。
2.根据权利要求1所述的照明系统，其中，与所述检查目标有关的信息是与所述检查目标的表面的颜色有关的信息。
3.根据权利要求1或2所述的照明系统，其中，所述信息获取设备包括颜色传感器，所述颜色传感器用于检测所述检查目标的表面的颜色。
4.根据权利要求1所述的照明系统，其中，与所述检查目标有关的信息是与所述检查目标的表面上的反射光谱有关的信息。
5.根据权利要求1至4中的任一项所述的照明系统，其中，所述控制设备控制所述第一检查光的光谱。
6.根据权利要求1至5中的任一项所述的照明系统，其中，所述控制设备控制所述第一检查光的色温。
7.根据权利要求1至6中的任一项所述的照明系统，其中，
所述照明设备包括：发光设备，发射第二检查光；导光构件，具有发光表面，所述第二检查光通过所述发光表面发射，作为第三检查光；以及外围部分，位于所述发光表面的外部并减少所述第三检查光，以及
所述导光构件使从所述发光设备进入的光沿所述发光表面传播，并且沿与所述发光表面交叉的方向发射所述光作为所述第一检查光。
8.根据权利要求7所述的照明系统，其中，
所述发光设备包括第一发光设备和第二发光设备，以及
所述照明设备发射通过将由所述第一发光设备发射的光与由所述第二发光设备发射的光进行组合而获取的光，作为所述第一检查光。
9.根据权利要求7或8所述的照明系统，其中，
所述发光设备包括：
发光元件，发射在360nm至430nm的波长范围内具有峰值波长的光，以及
波长转换构件，将由所述发光元件发射的光转换为在360nm至780nm的波长范围内具有峰值波长的光。
10.根据权利要求9所述的照明系统，其中，
所述波长转换构件包括：
荧光物质，所述荧光物质包括如下荧光物质中的至少一种荧光物质：第一荧光物质，在400nm至500nm的波长范围内具有第一峰值波长；第二荧光物质，在450nm至550nm的波长范围内具有第二峰值波长；第三荧光物质，在500nm至600nm的波长范围内具有第三峰值波长；第四荧光物质，在600nm至700nm的波长范围内具有第四峰值波长；或者第五荧光物质，在680nm至800nm的波长范围内具有第五峰值波长和第六峰值波长。
11.根据权利要求1至10中的任一项所述的照明系统，其中，所述控制设备将所述第一检查光的色温控制在2000K至6500K的范围内。
12.根据权利要求1至11中的任一项所述的照明系统，还包括：
驱动设备，所述驱动设备移动所述照明设备，其中，
所述控制设备基于与所述检查目标有关的信息来控制所述驱动设备。
13.一种照明设备，包括：
发光设备，所述发光设备发射包括在第一检查光中的第二检查光，用所述第一检查光照射检查目标；
信息获取单元，获取与所述检查目标有关的信息；以及
控制单元，基于与所述检查目标有关的信息来控制所述第一检查光。
14.根据权利要求13所述的照明设备，其中，所述信息获取单元包括用于检测所述检查目标的表面的颜色的颜色传感器。
15.根据权利要求13或14所述的照明设备，还包括：
导光构件，具有发光表面，从所述发光设备进入的所述第二检查光通过所述发光表面发射，作为第三检查光；以及
外围部分，位于所述发光表面的外部并减少所述第三检查光，其中，
所述导光构件使从所述发光设备进入的光沿所述发光表面传播，并沿与所述发光表面交叉的方向发射所述光作为所述第一检查光。
16.根据权利要求13至15中的任一项所述的照明设备，其中，所述发光设备包括第一发光设备和第二发光设备，并且所述照明设备发射通过将由所述第一发光设备发射的光与由所述第二发光设备发射的光进行组合而获取的光，作为所述第一检查光的至少一部分。
17.根据权利要求13至16中的任一项所述的照明设备，其中，
所述发光设备包括：
发光元件，发射在360nm至430nm的波长范围内具有峰值波长的光，以及
波长转换构件，将由所述发光元件发射的光转换为在360nm至780nm的波长范围内具有峰值波长的光。
18.根据权利要求17所述的照明设备，其中，
所述波长转换构件包括：
荧光物质，所述荧光物质包括如下荧光物质中的至少一种荧光物质：第一荧光物质，在400nm至500nm的波长范围内具有第一峰值波长；第二荧光物质，在450nm至550nm的波长范围内具有第二峰值波长；第三荧光物质，在500nm至600nm的波长范围内具有第三峰值波长；第四荧光物质，在600nm至700nm的波长范围内具有第四峰值波长；或者第五荧光物质，在680nm至800nm的波长范围内具有第五峰值波长和第六峰值波长。
19.根据权利要求13至18中的任一项所述的照明设备，其中，所述控制单元将所述第一检查光的色温控制在2000K至6500K的范围内。
20.一种照明控制方法，包括：
发射步骤，发射第一检查光，用第一检查光照射检查目标；
信息获取步骤，获取与所述检查目标有关的信息；以及
控制步骤，基于与所述检查目标有关的信息来控制所述第一检查光。
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CN (1) CN113474639A (zh)
WO (1) WO2020175576A1 (zh)

Citations (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN101578477A (zh) * 2006-12-20 2009-11-11 皇家飞利浦电子股份有限公司 照明设备
CN101726499A (zh) * 2008-10-10 2010-06-09 丰田自动车株式会社 表面检查装置
CN102256876A (zh) * 2008-12-17 2011-11-23 佛克有限及两合公司 检验在生产和/或包装香烟过程中待检验对象的方法和设备
JP2013101003A (ja) * 2011-11-07 2013-05-23 Adc Technology Inc 物体検知装置
CN104488357A (zh) * 2012-07-27 2015-04-01 皇家飞利浦有限公司 使用反射光谱对对象的颜色突出和保护
JP2016142525A (ja) * 2015-01-29 2016-08-08 京セラ株式会社 塗装面検査用光源および塗装面検査用照明装置
US20180195972A1 (en) * 2015-07-02 2018-07-12 Eisenmann Se Installation for the optical inspection of surface regions of objects
US20180330490A1 (en) * 2017-05-09 2018-11-15 Keyence Corporation Image Inspection Device

Family Cites Families (16)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH08184567A (ja) * 1994-10-05 1996-07-16 Musco Corp 鏡面反射性又は半鏡面反射性表面を点検するための装置及び方法
JP2002236100A (ja) * 2001-02-09 2002-08-23 Hitachi Ltd 非破壊検査方法およびその装置
JP2004014924A (ja) * 2002-06-10 2004-01-15 Olympus Corp 光モニタ
JP2005091049A (ja) * 2003-09-12 2005-04-07 Ccs Inc 画像処理用光照射装置及び画像処理用光照射方法
JP5323320B2 (ja) * 2006-07-19 2013-10-23 有限会社シマテック 表面検査装置
JP2010249993A (ja) * 2009-04-14 2010-11-04 Sumitomo Bakelite Co Ltd 導光板の製造方法および導光板
JP2012014853A (ja) * 2010-06-29 2012-01-19 Nakakyu:Kk Ｌｅｄ照明装置
JP6052590B2 (ja) * 2012-09-27 2016-12-27 日産自動車株式会社 自動車車体の表面検査装置および表面検査方法
US9838612B2 (en) * 2015-07-13 2017-12-05 Test Research, Inc. Inspecting device and method for inspecting inspection target
JP2017198612A (ja) * 2016-04-28 2017-11-02 キヤノン株式会社 検査装置、検査システム、および物品製造方法
JP6209650B1 (ja) * 2016-06-13 2017-10-04 Ｎｔｔエレクトロニクス株式会社 光モジュール
JP2019203691A (ja) * 2016-11-11 2019-11-28 オムロン株式会社 照明装置
JP6857079B2 (ja) * 2017-05-09 2021-04-14 株式会社キーエンス 画像検査装置
EP3648183B1 (en) * 2017-06-28 2022-08-24 KYOCERA Corporation Light emitting device and illumination device
JP6969439B2 (ja) * 2018-02-23 2021-11-24 オムロン株式会社 外観検査装置、及び外観検査装置の照明条件設定方法
US11680909B2 (en) * 2020-05-14 2023-06-20 The Boeing Company Automated inspection of foreign materials, cracks and other surface anomalies

Patent Citations (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN101578477A (zh) * 2006-12-20 2009-11-11 皇家飞利浦电子股份有限公司 照明设备
CN101726499A (zh) * 2008-10-10 2010-06-09 丰田自动车株式会社 表面检查装置
CN102256876A (zh) * 2008-12-17 2011-11-23 佛克有限及两合公司 检验在生产和/或包装香烟过程中待检验对象的方法和设备
JP2013101003A (ja) * 2011-11-07 2013-05-23 Adc Technology Inc 物体検知装置
CN104488357A (zh) * 2012-07-27 2015-04-01 皇家飞利浦有限公司 使用反射光谱对对象的颜色突出和保护
JP2016142525A (ja) * 2015-01-29 2016-08-08 京セラ株式会社 塗装面検査用光源および塗装面検査用照明装置
US20180195972A1 (en) * 2015-07-02 2018-07-12 Eisenmann Se Installation for the optical inspection of surface regions of objects
US20180330490A1 (en) * 2017-05-09 2018-11-15 Keyence Corporation Image Inspection Device

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