CN113470731A - Apst功能的测试方法、装置、可读存储介质及电子设备 - Google Patents

Apst功能的测试方法、装置、可读存储介质及电子设备 Download PDF

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Abstract

本发明公开一种APST功能的测试方法、装置、可读存储介质及电子设备，接收待测盘片的APST功能测试请求，所述APST功能测试请求包括修改信息；根据所述APST功能测试请求获取与所述待测盘片对应的第一当前APST策略，并根据所述修改信息对所述第一当前APST策略进行修改，得到修改后的APST策略；根据所述修改后的APST策略对所述待测盘片的APST功能进行测试，得到测试结果，不再像现有技术中，使用高成本、无法自定义的测试工具，而是使测试人员能够根据测试需要自定义修改APST策略，再根据自定义修改后的APST策略进行测试，实现了测试步骤的自定义，从而提高了APST功能测试的灵活性，并降低成本。

Description

APST功能的测试方法、装置、可读存储介质及电子设备
技术领域
本发明涉及固态硬盘技术领域，尤其涉及一种APST功能的测试方法、装置、可读存储介质及电子设备。
背景技术
NVMe(Non-Volatile Memory express，非易失性存储器标准)SSD(Solid StateDisk，固态硬盘)基于节约功耗的考虑设计了电源状态跳转(Autonomous Power StateTransitions，APST)功能，这个功能指的是在设置好电源状态跳转策略之后不需要主机软件控制，盘片可在空闲时自动进入非工作状态(低功耗的电源状态)，在有业务处理时又能自动唤醒到工作状态(高功耗的电源状态)。目前的NVMe SSD一般都支持多个工作状态和非工作状态，这其中的电源状态有一套复杂的跳转机制，目前各厂商都是参考NVMe协议规范来实现APST功能。NVMe SSD的APST功能是一个不论企业级用户还是普通消费者都比较关注的功能，因此，对于这个功能是否能够准确的实现，是SSD生产厂商和消费者都普遍关心的问题，目前对于NVMe SSD的APST功能的测试方法就是使用IOL和ULink的测试工具，这两个工具都有如下特点：
1)收费较高；
2)测试过程加密不可见；
3)无法根据使用需要自定义测试步骤。
发明内容
本发明所要解决的技术问题是：提供了一种APST功能的测试方法、装置、可读存储介质及电子设备，能够提高APST功能测试的灵活性，并降低成本。
为了解决上述技术问题，本发明采用的一种技术方案为：
一种APST功能的测试方法，包括步骤：
接收待测盘片的APST功能测试请求，所述APST功能测试请求包括修改信息；
根据所述APST功能测试请求获取与所述待测盘片对应的第一当前APST策略，并根据所述修改信息对所述第一当前APST策略进行修改，得到修改后的APST策略；
根据所述修改后的APST策略对所述待测盘片的APST功能进行测试，得到测试结果。
为了解决上述技术问题，本发明采用的另一种技术方案为：
一种APST功能的测试装置，包括：
请求接收模块，用于接收待测盘片的APST功能测试请求，所述APST功能测试请求包括修改信息；
测试模块，用于根据所述APST功能测试请求获取与所述待测盘片对应的第一当前APST策略，并根据所述修改信息对所述第一当前APST策略进行修改，得到修改后的APST策略；并根据所述修改后的APST策略对所述待测盘片的APST功能进行测试，得到测试结果。
为了解决上述技术问题，本发明采用的另一种技术方案为：
一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，所述计算机程序被处理器执行时实现上述一种APST功能的测试方法中的各个步骤。
为了解决上述技术问题，本发明采用的另一种技术方案为：
一种电子设备，包括存储器、处理器及存储在存储器上并可在处理器上运行的计算机程序，所述处理器执行所述计算机程序时实现上述一种APST功能的测试方法中的各个步骤。
本发明的有益效果在于：根据接收的待测盘片的APST功能测试请求获取与待测盘片对应的当前APST策略，并根据测试请求中的修改信息对其进行修改，然后根据修改后的APST策略对待测盘片的APST功能进行测试，不再像现有技术中，使用高成本、无法自定义的测试工具，而是使测试人员能够根据测试需要自定义修改APST策略，再根据自定义修改后的APST策略进行测试，实现了测试步骤的自定义，从而提高了APST功能测试的灵活性，并降低成本。
附图说明
图1为本发明实施例的一种APST功能的测试方法的步骤流程图；
图2为本发明实施例的一种APST功能的测试装置的结构示意图；
图3为本发明实施例的一种电子设备的结构示意图；
图4为本发明实施例的APST功能的测试方法中当前APST table的示意图；
图5为本发明实施例的APST功能的测试方法中当前APST table的每个电源状态对应的ITPS和ITPT的示意图；
图6为本发明实施例的APST功能的测试方法中打开当前二进制文件的示意图；
图7为本发明实施例的APST功能的测试方法中编辑当前二进制文件的示意图；
图8为本发明实施例的APST功能的测试方法中修改后的二进制文件的示意图；
图9为本发明实施例的APST功能的测试方法中检查修改后的二进制文件的示意图；
图10为本发明实施例的APST功能的测试方法中修改当前APST table的示意图；
图11为本发明实施例的APST功能的测试方法中检查修改后的APST table的示意图；
图12为本发明实施例的APST功能的测试方法中查询电源状态的示意图。
具体实施方式
为详细说明本发明的技术内容、所实现目的及效果，以下结合实施方式并配合附图予以说明。
请参照图1，本发明实施例提供了一种APST功能的测试方法，包括步骤：
接收待测盘片的APST功能测试请求，所述APST功能测试请求包括修改信息；
根据所述APST功能测试请求获取与所述待测盘片对应的第一当前APST策略，并根据所述修改信息对所述第一当前APST策略进行修改，得到修改后的APST策略；
根据所述修改后的APST策略对所述待测盘片的APST功能进行测试，得到测试结果。
从上述描述可知，本发明的有益效果在于：根据接收的待测盘片的APST功能测试请求获取与待测盘片对应的当前APST策略，并根据测试请求中的修改信息对其进行修改，然后根据修改后的APST策略对待测盘片的APST功能进行测试，不再像现有技术中，使用高成本、无法自定义的测试工具，而是使测试人员能够根据测试需要自定义修改APST策略，再根据自定义修改后的APST策略进行测试，实现了测试步骤的自定义，从而提高了APST功能测试的灵活性，并降低成本。
进一步地，所述根据所述修改信息对所述第一当前APST策略进行修改，得到修改后的APST策略包括：
接收输出重定向指令，根据所述输出重定向指令对所述第一当前APST策略进行输出重定向，得到与所述第一当前APST策略对应的当前二进制文件；
根据所述修改信息对所述当前二进制文件进行修改并保存，得到修改后的二进制文件；
将所述修改后的二进制文件替换所述第一当前APST策略，得到所述修改后的APST策略。
由上述描述可知，由于无法直接对APST策略进行修改，将当前APST策略重定向输出为二进制文件，对二进制文件进行修改，再将修改后的二进制文件替换当前APST策略，简单、方便地实现了APST策略的修改，有利于自定义测试步骤，提高测试的灵活性，并且便捷的修改方法可以使测试人员多次修改APST策略，并进行多次测试，提高了测试的有效性。
进一步地，所述当前二进制文件包括与预设原始电源状态对应的第一跳转时间以及第一目标电源状态；
所述根据所述修改信息对所述当前二进制文件进行修改并保存，得到修改后的二进制文件包括：
根据所述修改信息对所述第一跳转时间以及第一目标电源状态进行修改并保存，得到与预设原始电源状态对应的第二跳转时间以及第二目标电源状态。
由上述描述可知，根据修改信息对原来的跳转时间和目标电源状态进行修改，测试人员可以根据测试需求自定义修改APST策略，实现了对测试步骤的自定义，提高了测试的灵活性。
进一步地，所述根据所述修改信息对所述当前二进制文件进行修改并保存，得到修改后的二进制文件之后还包括步骤：
接收与所述修改后的二进制文件对应的第一检查指令；
根据所述第一检查指令判断所述修改后的二进制文件是否符合所述修改信息，若是，则确定修改成功。
由上述描述可知，修改之后再次检查二进制文件是否符合修改信息，进一步确保了修改后的二进制文件的准确性，排除影响测试结果的外在因素，提高了测试的可靠性。
进一步地，所述将所述修改后的二进制文件替换所述第一当前APST策略，得到所述修改后的APST策略之后还包括步骤：
接收与所述修改后的APST策略对应的第二检查指令；
根据所述第二检查指令获取所述待测APST功能对应的第二当前APST策略；
判断所述第二当前APST策略是否与所述修改后的APST策略一致，若是，则确定修改成功。
由上述描述可知，判断修改之后的当前APST策略是否与修改后的APST策略一致，排除了影响测试结果的外在因素，提高了测试的可靠性。
进一步地，所述根据所述修改后的APST策略对所述待测盘片的APST功能进行测试，得到测试结果包括：
接收与所述待测盘片对应的初始化指令；
根据所述初始化指令设置所述待测盘片的电源状态为所述预设原始电源状态，并设置所述待测盘片的工作状态为空闲状态；
根据所述修改后的APST策略确定预设测试时间，并按照预设时间间隔在所述预设测试时间内循环发送电源状态查询指令至所述待测盘片，获取跳转时间点；
根据测试开始时间及所述跳转时间点得到测试跳转时间。
由上述描述可知，通过按照预设时间间隔在预设测试时间内循环发送电源状态查询指令至待测盘片，能够方便、有效地对APST功能进行测试，提高了测试的效率。
进一步地，在发送电源状态查询指令至所述待测盘片时，还获取测试目标电源状态；
所述根据所述修改后的APST策略对所述待测盘片的APST功能进行测试，得到测试结果之后还包括步骤：
判断所述测试跳转时间是否与所述第二跳转时间相同，及所述测试目标电源状态是否与所述第二目标电源状态相同，若是，则确定所述待测盘片的APST功能正常，若否，则确定所述待测盘片的APST功能异常。
由上述描述可知，根据测试获取的测试跳转时间以及测试目标电源状态判断是否符合修改后的APST策略，以此确定待测盘片的APST功能是否正常，提高了APST功能测试的有效性和准确性。
请参照图2，本发明另一实施例提供了一种APST功能的测试装置，包括：
请求接收模块，用于接收待测盘片的APST功能测试请求，所述APST功能测试请求包括修改信息；
测试模块，用于根据所述APST功能测试请求获取与所述待测盘片对应的第一当前APST策略，并根据所述修改信息对所述第一当前APST策略进行修改，得到修改后的APST策略；并根据所述修改后的APST策略对所述待测盘片的APST功能进行测试，得到测试结果。
本发明另一实施例提供了一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，所述计算机程序被处理器执行时实现上述一种APST功能的测试方法中的各个步骤。
请参照图3，本发明另一实施例提供了一种电子设备，包括存储器、处理器及存储在存储器上并可在处理器上运行的计算机程序，所述处理器执行所述计算机程序时实现上述一种APST功能的测试方法中的各个步骤。
本发明上述一种APST功能的测试方法、装置、可读存储介质及电子设备能够适用于具有APST功能的固态硬盘，比如NVMe SSD(Non-Volatile Memory express Solid StateDisk，拥有非易失性存储器标准固态硬盘)，以下通过具体实施方式进行说明：
实施例一
本实施例需使用NVMe-cli(一种开源测试工具)，通过NVMe-cli提供的NVMe命令执行功能，可执行NVMe协议规定的各种命令；其次，由于各厂商的SSD的电源状态跳转(Autonomous Power State Transitions，APST)功能也是依照NVMe协议来实现的，对于APST功能的各项指标需参考NVMe协议；
请参照图1及4-11，本实施例的一种APST功能的测试方法，包括步骤：
S1、接收待测盘片的APST功能测试请求，所述APST功能测试请求包括修改信息；
S2、根据所述APST功能测试请求获取与所述待测盘片对应的第一当前APST策略，并根据所述修改信息对所述第一当前APST策略进行修改，得到修改后的APST策略；
其中，具有APST功能的SSD存在多个电源状态，比如PS0、PS1、PS2、和PS3等，每个支持电源状态自动跳转的电源状态都有对应的跳转时间(ITPT)和目标电源状态(ITPS)，本实施例中，待测SSD的电源状态包括PS0、PS1、PS2、和PS3；
具体的，根据APST功能测试请求执行get feature命令：nvme get-feature/dev/nvme0n1--namespace-id＝0--feature-id＝0x0C--sel＝0，以获取与待测SSD对应的第一当前APST策略，即当前APST table，如图4所示；
图4中的get-feature:0xc(Autonomous Power State Transition)表示getfeature命令是查询APST功能的当前APST table，Current value:0x000001表示该功能处于enable(开启)状态；若是为Current value:0x000000，则表示该功能当前处于关闭状态，需要执行set feature命令开启该功能，即nvme set-feature/dev/nvme0n1--namespace-id＝0xFFFFFFFF--feature-id＝0xc--value＝1；
图4中还显示了256byte(字节)的data buffer(数据缓存)待测SSD的当前APSTtable，如图5所示，byte0-byte7定义了待测SSD的PS0电源状态对应的跳转时间(ITPT)和目标电源状态(ITPS)，跳转时间为00 00 47，即71毫秒(47为16进制)，目标电源状态为18，即PS3电源状态(18为16进制)；
如图5所示，byte8-byte15定义了PS1电源状态对应的ITPS和ITPT，byte16-byte23定义了PS2电源状态的ITPS和ITPT，byte24-byte31定义了PS3电源状态的ITPS和ITPT，后面的byte全为0表示盘片不支持PS4及以后的电源状态再进行电源状态自动跳转；由此可知，PS1电源状态和PS2电源状态的默认ITPS以及ITPT和PS0电源状态是一样的，跳转的目标电源状态都是PS3，跳转时间，即需要盘片持续处于空闲状态的时间才会发生电源状态跳转的时间也都相同的；而PS3电源状态的ITPS以及ITPT和之前的不同，PS3的目标电源状态是PS4，跳转时间也比之前的更长；
其中，所述根据所述修改信息对所述第一当前APST策略进行修改，得到修改后的APST策略包括：
S21、接收输出重定向指令，根据所述输出重定向指令对所述第一当前APST策略进行输出重定向，得到与所述第一当前APST策略对应的当前二进制文件；
具体的，根据接收的输出重定向指令对当前APST table进行输出重定向，即执行命令：nvme get-feature/dev/nvme0n1--namespace-id＝0 -f 0x0C -s 0 -b>data.bin，得到二进制文件data.bin；
S22、根据所述修改信息对所述当前二进制文件进行修改并保存，得到修改后的二进制文件；
所述当前二进制文件包括与预设原始电源状态对应的第一跳转时间以及第一目标电源状态；
根据所述修改信息对所述第一跳转时间以及第一目标电源状态进行修改并保存，得到与预设原始电源状态对应的第二跳转时间以及第二目标电源状态；
具体的，使用vim–b data.bin命令打开data.bin文件并按i进入编辑模式，打开后如图6所示，再按Esc退出键，随后输入％！xxd就能正常打开并编辑data.bin文件，如图7所示；
假设修改信息为将待测SSD的PS0电源状态对应的ITPT改为30秒，ITPS改为PS4，则根据修改信息将待测SSD的PS0电源状态对应的ITPT从00 00 47改为00 75 30，ITPS从18改为20，如图8所示；
修改完成后再按Esc退出键，随后依次输入％！xxd空格r键，Esc退出键，wq保存退出，得到修改后的data.bin文件；
其中，需要注意的是，修改信息可以根据实际测试需求灵活设置，不仅仅限于本实施例中只对PS0电源状态对应的ITPT和ITPS进行修改，可以对一个或多个的电源状态对应的ITPT和ITPS进行修改；
S23、接收与所述修改后的二进制文件对应的第一检查指令；
根据所述第一检查指令判断所述修改后的二进制文件是否符合所述自定义修改信息，若是，则确定修改成功；
具体的，根据接收的data.bin文件的检查指令执行hexdump data.bin命令，判断修改后的data.bin文件是否符合修改信息，若是，则修改成功，如图9所示；
S24、将所述修改后的二进制文件替换所述第一当前APST策略，得到所述修改后的APST策略；
具体的，执行set feature命令设置APST功能将修改后的data.bin文件写到待测SSD上，得到修改后的APST table，如图10所示；
S25、接收与所述修改后的APST策略对应的第二检查指令；
根据所述第二检查指令获取所述待测APST功能对应的第二当前APST策略；
判断所述第二当前APST策略是否与所述修改后的APST策略一致，若是，则确定修改成功；
具体的，根据接收的修改后的APST table的检查指令执行get feature命令，查看修改后待测SSD的当前APST table，判断当前APST table是否与修改后的APST table一致，若是，则修改成功，如图11所示；
S3、根据所述修改后的APST策略对所述待测盘片的APST功能进行测试，得到测试结果。
实施例二
请参照图12，本实施例在实施例一的基础上进一步限定了如何根据修改后的APST策略对APST功能进行测试，具体为：
S31、接收与所述待测盘片对应的初始化指令；
S32、根据所述初始化指令设置所述待测盘片的电源状态为所述预设原始电源状态，并设置所述待测盘片的工作状态为空闲状态；
具体的，执行set feature命令将待测SSD的电源状态设置为PS0，然后设置待测SSD的工作状态持续处于空闲状态；
S33、根据所述修改后的APST策略确定预设测试时间，并按照预设时间间隔在所述预设测试时间内循环发送电源状态查询指令至所述待测盘片，获取跳转时间点和测试目标电源状态；
其中，预设时间间隔可以根据实际情况进行灵活设置，比如1秒或0.1秒等，本实施例中，预设时间间隔为1秒；
具体的，修改后的APST table的PS0电源状态对应的ITPS为30秒，ITPT为PS4，那么可以将预设测试时间确定为31秒，在31秒的预设测试时间内每隔1秒发送一次电源状态查询指令至待测SSD，如图12所示，获取跳转时间点和测试目标电源状态；
S34、根据测试开始时间及所述跳转时间点得到测试跳转时间；
S35、判断所述测试跳转时间是否与所述第二跳转时间相同，及所述测试目标电源状态是否与所述第二目标电源状态相同，若是，则确定所述待测盘片的APST功能正常，若否，则确定所述待测盘片的APST功能异常；
具体的，假设测试开始时间为13时43分20秒，跳转时间点13时43分50秒，测试目标电源状态为PS4，则可以得到测试跳转时间为30秒；
该测试跳转时间与修改后的APST table的PS0电源状态对应的ITPT相同，都为30秒，且该测试目标电源状态与修改后的APST table的PS0电源状态对应的ITPS也相同，都为PS4，则确定待测盘片的APST功能正常。
实施例三
请参照图2，一种APST功能的测试装置，包括：
请求接收模块，用于接收待测盘片的APST功能测试请求，所述APST功能测试请求包括修改信息；
测试模块，用于根据所述APST功能测试请求获取与所述待测盘片对应的第一当前APST策略，并根据所述修改信息对所述第一当前APST策略进行修改，得到修改后的APST策略；并根据所述修改后的APST策略对所述待测盘片的APST功能进行测试，得到测试结果。
实施例四
一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，所述计算机程序被处理器执行时可实现实施例一或实施例二中APST功能的测试方法的各个步骤。
实施例五
请参照图3，一种电子设备，包括存储器、处理器及存储在存储器上并可在处理器上运行的计算机程序，所述处理器执行所述计算机程序时实现实施例一或实施例二中APST功能的测试方法的各个步骤。
综上所述，本发明提供的一种APST功能的测试方法、装置、可读存储介质及电子设备，根据接收的待测盘片的APST功能测试请求获取与待测盘片对应的第一当前APST策略，将第一当前APST策略重定向输出，得到当前二进制文件，并根据测试请求中的修改信息对其进行修改，得到修改后的二进制文件，将修改后的二进制文件替换第一当前APST策略，得到修改后的APST策略，修改二进制文件之后还检查其是否符合修改信息，修改第一当前APST策略之后还检查其是否符合修改后的APST策略，排除了影响测试结果的外在因素，提高了测试的可靠性，然后根据修改后的APST策略对待测盘片的APST功能进行测试，获取测试跳转时间和测试目标电源状态，判断测试跳转时间和测试目标电源状态是否和修改后的APST策略相同，以此确定待测盘片的APST功能是否正常，提高了测试的有效性和全面性，不再像现有技术中，使用高成本、无法自定义的测试工具，而是使测试人员能够根据测试需要自定义修改APST策略，再根据自定义修改后的APST策略进行测试，实现了测试步骤的自定义，从而提高了APST功能测试的灵活性，并降低成本。
在本申请所提供的上述实施例中，应该理解到，所揭露的方法、装置、计算机可读存储介质以及电子设备，可以通过其它的方式实现。例如，以上所描述的装置实施例仅仅是示意性的，例如，所述模块的划分，仅仅为一种逻辑功能划分，实际实现时可以有另外的划分方式，例如多个组件或模块可以结合或者可以集成到另一个装置，或一些特征可以忽略，或不执行。另一点，所显示或讨论的相互之间的耦合或直接耦合或通信连接可以是通过一些接口，装置或组件或模块的间接耦合或通信连接，可以是电性，机械或其它的形式。
所述作为分离部件说明的组件可以是或者也可以不是物理上分开的，作为组件显示的部件可以是或者也可以不是物理模块，即可以位于一个地方，或者也可以分布到多个网络模块上。可以根据实际的需要选择其中的部分或者全部组件来实现本实施例方案的目的。
另外，在本发明各个实施例中的各功能模块可以集成在一个处理模块中，也可以是各个组件单独物理存在，也可以两个或两个以上模块集成在一个模块中。上述集成的模块既可以采用硬件的形式实现，也可以采用软件功能模块的形式实现。
所述集成的模块如果以软件功能模块的形式实现并作为独立的产品销售或使用时，可以存储在一个计算机可读取存储介质中。基于这样的理解，本发明的技术方案本质上或者说对现有技术做出贡献的部分或者该技术方案的全部或部分可以以软件产品的形式体现出来，该计算机软件产品存储在一个存储介质中，包括若干指令用以使得一台计算机设备(可以是个人计算机，服务器，或者网络设备等)执行本发明各个实施例所述方法的全部或部分步骤。而前述的存储介质包括：U盘、移动硬盘、只读存储器(ROM，Read-OnlyMemory)、随机存取存储器(RAM，Random Access Memory)、磁碟或者光盘等各种可以存储程序代码的介质。
需要说明的是，对于前述的各方法实施例，为了简便描述，故将其都表述为一系列的动作组合，但是本领域技术人员应该知悉，本发明并不受所描述的动作顺序的限制，因为依据本发明，某些步骤可以采用其它顺序或者同时进行。其次，本领域技术人员也应该知悉，说明书中所描述的实施例均属于优选实施例，所涉及的动作和模块并不一定都是本发明所必须的。
在上述实施例中，对各个实施例的描述都各有侧重，某个实施例中没有详述的部分，可以参见其它实施例的相关描述。
以上所述仅为本发明的实施例，并非因此限制本发明的专利范围，凡是利用本发明说明书及附图内容所作的等同变换，或直接或间接运用在相关的技术领域，均同理包括在本发明的专利保护范围内。

Claims (10)

1.一种APST功能的测试方法，其特征在于，包括步骤：
接收待测盘片的APST功能测试请求，所述APST功能测试请求包括修改信息；
根据所述APST功能测试请求获取与所述待测盘片对应的第一当前APST策略，并根据所述修改信息对所述第一当前APST策略进行修改，得到修改后的APST策略；
根据所述修改后的APST策略对所述待测盘片的APST功能进行测试，得到测试结果。
2.根据权利要求1所述的一种APST功能的测试方法，其特征在于，所述根据所述修改信息对所述第一当前APST策略进行修改，得到修改后的APST策略包括：
接收输出重定向指令，根据所述输出重定向指令对所述第一当前APST策略进行输出重定向，得到与所述第一当前APST策略对应的当前二进制文件；
根据所述修改信息对所述当前二进制文件进行修改并保存，得到修改后的二进制文件；
将所述修改后的二进制文件替换所述第一当前APST策略，得到所述修改后的APST策略。
3.根据权利要求2所述的一种APST功能的测试方法，其特征在于，所述当前二进制文件包括与预设原始电源状态对应的第一跳转时间以及第一目标电源状态；
所述根据所述修改信息对所述当前二进制文件进行修改并保存，得到修改后的二进制文件包括：
根据所述修改信息对所述第一跳转时间以及第一目标电源状态进行修改并保存，得到与预设原始电源状态对应的第二跳转时间以及第二目标电源状态。
4.根据权利要求2所述的一种APST功能的测试方法，其特征在于，所述根据所述修改信息对所述当前二进制文件进行修改并保存，得到修改后的二进制文件之后还包括步骤：
接收与所述修改后的二进制文件对应的第一检查指令；
根据所述第一检查指令判断所述修改后的二进制文件是否符合所述自定义修改信息，若是，则确定修改成功。
5.根据权利要求2所述的一种APST功能的测试方法，其特征在于，所述将所述修改后的二进制文件替换所述第一当前APST策略，得到所述修改后的APST策略之后还包括步骤：
接收与所述修改后的APST策略对应的第二检查指令；
根据所述第二检查指令获取所述待测APST功能对应的第二当前APST策略；
判断所述第二当前APST策略是否与所述修改后的APST策略一致，若是，则确定修改成功。
6.根据权利要求3所述的一种APST功能的测试方法，其特征在于，所述根据所述修改后的APST策略对所述待测盘片的APST功能进行测试，得到测试结果包括：
接收与所述待测盘片对应的初始化指令；
根据所述初始化指令设置所述待测盘片的电源状态为所述预设原始电源状态，并设置所述待测盘片的工作状态为空闲状态；
根据所述修改后的APST策略确定预设测试时间，并按照预设时间间隔在所述预设测试时间内循环发送电源状态查询指令至所述待测盘片，获取跳转时间点；
根据测试开始时间及所述跳转时间点得到测试跳转时间。
7.根据权利要求6所述的一种APST功能的测试方法，其特征在于，在发送电源状态查询指令至所述待测盘片时，还获取测试目标电源状态；
所述根据所述修改后的APST策略对所述待测盘片的APST功能进行测试，得到测试结果之后还包括步骤：
判断所述测试跳转时间是否与所述第二跳转时间相同，及所述测试目标电源状态是否与所述第二目标电源状态相同，若是，则确定所述待测盘片的APST功能正常，若否，则确定所述待测盘片的APST功能异常。
8.一种APST功能的测试装置，其特征在于，包括：
请求接收模块，用于接收待测盘片的APST功能测试请求，所述APST功能测试请求包括修改信息；
测试模块，用于根据所述APST功能测试请求获取与所述待测盘片对应的第一当前APST策略，并根据所述修改信息对所述第一当前APST策略进行修改，得到修改后的APST策略；并根据所述修改后的APST策略对所述待测盘片的APST功能进行测试，得到测试结果。
9.一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，其特征在于，所述计算机程序被处理器执行时实现如权利要求1至7任一项所述的一种APST功能的测试方法中的各个步骤。
10.一种电子设备，包括存储器、处理器及存储在存储器上并可在处理器上运行的计算机程序，其特征在于，所述处理器执行所述计算机程序时实现如权利要求1至7任一项所述的一种APST功能的测试方法中的各个步骤。
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