CN113466654A - 一种线性光隔离放大器的隔离电压的检测方法 - Google Patents
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Abstract
本发明公开了隔离电压检测领域的一种线性光隔离放大器的隔离电压的检测方法，包括S1：提供线性光耦，将线性光耦发光管的阴极连接输入电路的输入地，阳极连接输入电路的输出端；反馈管的阴极、阳极分别连接输入电路的两个输入端，传输管的阴极连接输出电路的输出地，阳极连接输出电路的输入端，线性光耦与输入地、输出地连接的导带走线不交叉；S2：提供隔离电压测试仪，在输入电路的输入地、输出电路的输出地之间加压，通过击穿电压测试仪检测在改变至少一个影响因素下的线性光耦的隔离电压，所述影响因素包括线性光耦的输入地与输出地之间的导带间距。本发明提供的测试方法可以研究线性光耦的击穿电压与影响因素本身的联系，有利于生产厂商进一步地改进线性光耦的性能，为其提供借鉴。
Description
技术领域
本发明涉及隔离电压检测领域，具体是一种线性光隔离放大器的隔离电压的检测方法。
背景技术
隔离放大器要求被测对象和数据采集系统予以隔离，从而提高共模抑制比，同时保护电子仪器设备和人身安全。一般采用变压器、线性光耦或电容进行隔离并通过外接电阻进行不同倍数的放大，根据系统的隔离程度不同以及输入信号幅度的不同，可选取不同隔离方式的隔离放大器进行系统隔离，起到抑制干扰的作用，以提高系统的安全性和可靠性。
对于线性光耦来说，一般用于实现输入输出部分之间的电气隔离，通过薄膜电阻激光调阻补偿线性光耦传递系数误差。目前，对于线性光耦而言，其隔离电压性能与具体的影响因素的关系尚不明确，申请人对此提出改进。
发明内容
本发明的目的在于提供一种线性光隔离放大器的隔离电压的检测方法，以解决上述背景技术中提出的问题。
为实现上述目的，本发明提供如下技术方案：
一种线性光隔离放大器的隔离电压的检测方法，方法包括：
S1：提供线性光耦，将线性光耦发光管的阴极连接输入电路的输入地，阳极连接输入电路的输出端；反馈管的阴极、阳极分别连接输入电路的两个输入端，传输管的阴极连接输出电路的输出地，阳极连接输出电路的输入端，线性光耦与输入地、输出地连接的导带走线不交叉；
S2：提供隔离电压测试仪，在输入电路的输入地、输出电路的输出地之间加压，通过击穿电压测试仪检测在改变至少一个影响因素下的线性光耦的隔离电压，所述影响因素包括线性光耦的输入地与输出地之间的导带间距。
作为本发明的改进方案，所述影响因素还包括线性光耦的输入地与输出地之间的导带的平滑度。
作为本发明的改进方案，所述影响因素还包括线性光耦所处的封装的内部气体介质。
作为本发明的改进方案，所述影响因素还包括线性光耦内部发光元件与受光元件之间的介质。
有益效果：本发明提供的测试方法可以研究线性光耦的击穿电压与影响因素本身的联系，有利于生产厂商进一步地改进线性光耦的性能，为其提供借鉴。
附图说明
图1为本发明的连接示意图；
图2为本发明线性光隔离放大器的具体测试电路图；
图3为本发明检测的导带间距与击穿电压的关系曲线图；
图4为本发明检测的导带平滑度与击穿电压的关系曲线图；
图5为本发明检测的线性光耦在不同环境介质下击穿电压的曲线图。
具体实施方式
下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。
一种线性光隔离放大器的隔离电压的检测方法，方法包括：
S1：提供线性光耦，如图1-2所示，将线性光耦发光管(D1)的阴极(1脚)连接输入电路的输入地，阳极(2脚)连接输入电路的输出端；反馈管(D2)的阴极(3脚)、阳极(4脚)分别连接输入电路的两个输入端，传输管(D3)的阴极(6脚)连接输出电路的输出地，阳极(5脚)连接输出电路的输入端，线性光耦与输入地、输出地连接的导带走线不交叉；
S2：提供隔离电压测试仪，将一个指定的高电压加在输入电路的输入地、输出电路的输出地之间，持续加压一段规定的时间，如果在规定的时间内，线性光耦的漏电电流依然保持在规定的规范内，就可以确定线性光耦承受的绝缘电压。
通过击穿电压测试仪检测在改变至少一个影响因素下的线性光耦的隔离电压。
影响因素包括线性光耦的输入地与输出地之间的导带间距，导带间距具体指相邻两条导带之间的垂直距离，在电路版图设计时要考虑，根据隔离电压指标的需要考虑相邻导带的距离是否满足绝缘指标要求，而经测试，导带的范围和击穿电压大小有关。如图3所示，只改变导带间距，总体上来说，导带间距越大，线性光耦的击穿电压越大。
除此影响因素还包括线性光耦的输入地与输出地之间的导带的平滑度，如图4所示，隔离电压与输入地和输出地导带之间的平滑度均有关系，测试可得，如果导线有毛刺，则线性光耦的击穿电压性能下降，当导线平滑度达到一定程度的时候，击穿电压值接近恒定。导带的光滑度和版图制作选取的材料有关，可以选取光滑度好的印刷制作。实际制作中可在混合集成电路导带表面镀金，除预留键合空间以外的区域全部被玻璃覆盖，玻璃覆盖后导带光滑，绝缘性能更好。
当同时改变上述两个影响因素时，可得测试结论：若隔离电压需满足2000V要求，导带间距必须要求≥0.65mm，且导带的平滑度要达到5级以上。隔离电压满足1000V要求时，导带间距要求≥0.45mm，且导带的平滑度要达到2级以上。
影响因素还包括线性光耦封装的内部气体介质，譬如在空气中、氮气中线性光耦的击穿电压不同。具体地，选一组同批次的混合集成电路产品在封口前进行烘烤并冲氮气，封口后的产品内部气体介质是氮气，测试线性光耦的击穿电压。另选一组未封口的产品放置于空气中，内部的气体介质为空气，同样测试线性光耦的击穿电压。如图5所示，同样的线性光耦，在同样的导带间距下，氮气中的击穿电压要比空气中低50V～100V左右。
影响因素还包括线性光耦内部发光元件与受光元件之间的介质，譬如在线性光耦内部发光元件与受光元件之间点上绝缘胶，则线性光耦的击穿电压会增大。
本发明提供的测试方法可以研究线性光耦的击穿电压与影响因素本身的联系，有利于生产厂商进一步地改进线性光耦的性能，为其提供借鉴。
虽然本说明书按照实施方式加以描述，但并非每个实施方式仅包含一个独立的技术方案，说明书的这种叙述方式仅仅是为清楚起见，本领域技术人员应当将说明书作为一个整体，各实施例中的技术方案也可以经适当组合，形成本领域技术人员可以理解的其他实施方式。
故以上所述仅为本申请的较佳实施例，并非用来限定本申请的实施范围；即凡依本申请的权利要求范围所做的各种等同变换，均为本申请权利要求的保护范围。
Claims (4)
1.一种线性光隔离放大器的隔离电压的检测方法，其特征在于，方法包括：
S1：提供线性光耦，将线性光耦发光管的阴极连接输入电路的输入地，阳极连接输入电路的输出端；反馈管的阴极、阳极分别连接输入电路的两个输入端，传输管的阴极连接输出电路的输出地，阳极连接输出电路的输入端，线性光耦与输入地、输出地连接的导带走线不交叉；
S2：提供隔离电压测试仪，在输入电路的输入地、输出电路的输出地之间加压，通过击穿电压测试仪检测在改变至少一个影响因素下的线性光耦的隔离电压，所述影响因素包括线性光耦的输入地与输出地之间的导带间距。
2.根据权利要求1所述的一种线性光隔离放大器的隔离电压的检测方法，其特征在于，所述影响因素还包括线性光耦的输入地与输出地之间的导带的平滑度。
3.根据权利要求1所述的一种线性光隔离放大器的隔离电压的检测方法，其特征在于，所述影响因素还包括线性光耦所处封装的内部气体介质。
4.根据权利要求1所述的一种线性光隔离放大器的隔离电压的检测方法，其特征在于，所述影响因素还包括线性光耦内部发光元件与受光元件之间的介质。
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