CN113391143B - 自动测试系统和自动测试方法 - Google Patents

Abstract

本申请公开了一种自动测试系统和自动测试方法，该自动测试系统包括：采集板、处理芯片、电源模块和目标芯片，通过采集板采集待测试控制信号，并对待测试控制信号进行预处理，以得到中间信号，通过处理芯片从中间信号中提取与目标测试对象的目标测试信号类型匹配的目标控制信号，并进行测试处理，其中，目标芯片是目标测试对象对应的芯片，通过电源模块，为采集板、处理芯片和目标芯片进行供电，使得目标芯片在接收到电源后，通过标准接口输出对应的待测试控制信号。本申请实施例通过简单的几个装置实现了对目标测试对象的待测试控制信号的采集和处理，进而提高对待测试控制信号的测试效率，以及提高对待测试控制信号的测试准确性。

Description

自动测试系统和自动测试方法

技术领域

本申请涉及通信技术领域，尤其涉及一种自动测试系统和自动测试方法。

背景技术

目前电视产品大部分采用P2P(pointtopoint)接口或VBO(V-By-One)接口来进行控制信号的传输。在对P2P接口或VBO接口传输的控制信号进行生产适应性测试(也可称为DFM测试)时，需要花费大量时间测试P2P接口或VBO接口的控制信号的电压(包括电压频率、占空比等)，以及时序等。现有的进行生产适应性测试时是由测试人员来人工完成的，测试人员在测试的过程中很容易受个人情绪、疲劳度等因素影响，对测试结果的影响较大，对产品的一致性会产生不利，测试的效率也非常低。

发明内容

本申请实施例提供一种自动测试系统和自动测试方法，能对待测试控制信号进行自动化测试，提高待测试控制信号的测试效率。

本申请实施例提供了一种自动测试系统，包括：

采集板，与目标芯片连接，用于采集通过所述目标芯片的标准接口输出的待测试控制信号，以及对所述待测试控制信号进行第一预处理，以得到处理后的中间信号；

处理芯片，与所述采集板连接，用于获取待测试的目标测试对象和待测试的目标测试信号类型，从所述中间信号中提取与所述目标测试对象的目标测试信号类型匹配的目标控制信号，并对所述目标控制信号进行测试处理，其中，所述目标芯片是所述目标测试对象对应的芯片；

电源模块，与所述采集板、所述处理芯片连接，用于为所述采集板、所述处理芯片进行供电，且通过所述采集板为所述目标芯片供电；

所述目标芯片，用于在供电后，通过所述标准接口输出对应的待测试控制信号。

本申请实施例还提供了一种自动测试方法，包括：

通过标准接口输出目标芯片的待测试控制信号；

采集所述待测试控制信号，并对所述待测试控制信号进行第一预处理，以得到处理后的中间信号；

获取待测试的目标测试对象和待测试的目标测试信号类型，其中，所述目标芯片是所述目标测试对象对应的芯片；

从所述中间信号中提取与所述目标测试对象的目标测试信号类型匹配的目标控制信号，并对所述目标控制信号进行测试处理。

本申请提供的自动测试系统和自动测试方法，通过采集板采集待测试控制信号，并对待测试控制信号进行预处理，以得到中间信号；通过处理芯片从中间信号中提取与目标测试对象的目标测试信号类型匹配的目标控制信号，并对目标控制信号进行测试处理，其中，目标芯片是目标测试对象对应的芯片；通过电源模块，为采集板、处理芯片和目标芯片进行供电，使得目标芯片在接收到电源后，通过标准接口输出对应的待测试控制信号。本申请实施例通过采集板、处理芯片、电源模块、目标芯片等简单的几个装置实现了对目标测试对象的待测试控制信号的采集和处理，进而提高对待测试控制信号的测试效率，以及提高对待测试控制信号的测试准确性。

附图说明

下面结合附图，通过对本申请的具体实施方式详细描述，将使本申请的技术方案及其它有益效果显而易见。

图1为本申请实施例提供的自动测试系统的示意图。

图2为本申请实施例提供的自动测试系统的另一示例图。

图3为本申请实施例提供的数模转换器件的接口示意图。

图4为本申请实施例提供的处理芯片的接口示意图。

图5为本申请实施例提供的第二转换电路的示意图。

图6为本申请实施例提供的按键模块的电路示意图。

图7为本申请实施例提供的自动测试方法的流程示意图。

具体实施方式

下面将结合本申请实施例中的附图，对本申请实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本申请一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本申请中的实施例，本领域技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本申请保护的范围。

本申请实施例提供一种自动测试系统和自动测试方法，能实现对电视等类似产品的屏幕的控制信号的自动测试。其中，屏幕等的控制信号是由目标芯片(也可称为机芯)来提供的，因此，对目标芯片输出的控制信号进行测试，也即对屏幕的控制信号进行自动测试。

将目标芯片输出的控制信号称为待测试控制信号，目标芯片输出的待测试控制信号是通过标准接口，如P2P接口和/或VBO接口来传输/输出的。本申请实施例中将实现对P2P接口或VBO接口传输的待测试控制信号进行自动测试。

请参阅图1，图1是本申请实施例提供的自动测试系统的结构示意图，该自动测试系统包括目标芯片11、采集板12、处理芯片13和电源模块14。其中，目标芯片11和采集板12之间通过第一连接线连接，采集板12与处理芯片13通过第二连接线连接。其中，第一连接线和/或第二连接线可以是FFC(Flexible Flat Cable，柔性扁平电缆)/FPC连接线，还可以是其他类型的连接线，第一连接线和第二连接线可以相同，也可以不同。

其中，电源模块14，与采集板12和处理芯片13电连接，用于将接收到的市电转换为对应的电压，以分别为采集板12、处理芯片13进行供电。由于采集板12与目标芯片11连接，通过采集板12为目标芯片11进行供电，以使得目标芯片11输出待测试控制信号。需要注意的是，这里电源模块14不直接与目标芯片11进行连接，也可以理解为不直接为目标芯片11进行供电，以避免电源模块14通电后，立即为目标芯片11进行供电，可能会导致目标芯片中的某些器件损坏。

目标芯片11，用于在供电后，通过标准接口输出对应的待测试控制信号。

采集板12，用于采集通过目标芯片11的标准接口输出的待测试控制信号，以及对待测试控制信号进行第一预处理，以得到处理后的中间信号。其中，第一预处理包括对待测试控制信号进行信号缩放处理、数模转换处理等。

处理芯片13，用于获取待测试的目标测试对象和待测试的目标测试信号类型，从中间信号中提取与目标测试对象的目标测试信号类型匹配的目标控制信号，并对目标控制信号进行测试处理。其中，目标芯片即为目标测试对象如屏幕等对应的芯片/机芯。

其中，测试对象包括众多测试屏幕，其中，可以通过屏幕品牌来表示一个测试对象、或者通过屏幕品牌和屏幕类型一起来表示一个测试对象等；测试信号类型包括电压测试和/或时序测试等。其中，电压测试包括了电压幅值、电压频率、占空比等的测试；时序测试，包括两个信号波峰之间的时间差测试等。

目标测试对象是测试对象中的一个，目标测试信号类型可以是电压测试和/或时序测试。若目标测试信号类型为电压测试和时序测试，则意味着同时进行电压测试和时序测试，若目标测试信号类型为电压测试或时序测试，则意味着单独对电压进行测试，或者是单独对时序进行测试。

其中，待测试的目标测试对象和待测试的目标测试信号类型可以预先在处理芯片13中进行设定，处理芯片13通电初始化后，即对应的是要实现对目标测试对象的目标测试信号类型的待测试信号进行测试；也可以在处理芯片通电初始化之后，通过按键模块16/遥控器来实现对目标测试对象和目标测试信号类型的选择，将所选择的测试对象和测试信号类型作为目标测试对象和目标测试信号类型。

同时，在处理芯片13中保存有不同测试对象的不同测试信号类型(如电压测试和/或时序测试)所对应的测试处理程序，通过该测试处理程序确定需要采集哪些控制信号以及采集对应控制信号的采集顺序，以及采集了对应的控制信号后，如何进行测试处理等。对于测试处理程序的具体内容，本申请中将不会进行具体描述。可以理解地，采集板12中输出的中间信号可包括多种不同的电压信号等，而需要采集哪些电压信号是由处理芯片13来确定的，具体地，根据目标测试对象的目标测试信号类型来确定的。

在一些实施例中，电源模块14可集成在处理芯片13中，也可以集成在采集板12中，还可以一部分集成在采集板12中、一部分集成在处理芯片13中，还可以单独作为一个电源模块而存在等，具体不做限定。

本申请实施例通过采集板、处理芯片、电源模块、目标芯片等简单的几个装置实现了对目标测试对象的待测试控制信号的采集和处理，进而提高对待测试控制信号的测试效率，以及提高对待测试控制信号的测试准确性。

如图1所示，目标芯片11的标准接口111，即为P2P接口和/或VBO接口。目标芯片11的标准接口111包括至少一个，图1中以两个为例进行说明。每个标准接口111中包括多个标准接口引脚(也可称为标准接口端口)，通过第一连接线将标准接口引脚中的待测试控制信号进行输出。

图2是本申请实施例提供的自动测试系统的另一结构示意图。结合图1和图2参看采集板12的具体结构。

采集板12中包括采集装置121、信号缩放装置122和数模转换装置123。

采集装置121上设置有与标准接口111一一对应的采集输入接口1211，采集输入接口1211用于采集目标芯片11输出的待测试控制信号。目标芯片11的标准接口111与采集板12中的采集输入接口1211通过第一连接线连接。

采集输入接口1211的数量与标准接口111的数量相同，如若标准接口111的数量为两个，则采集输入接口1211的数量也为两个。采集输入接口1211中包括多个采集输入引脚(也可称为采集输入端口)，每个采集输入接口1211的采集输入引脚的数量不小于每个标准接口111中的标准接口引脚的数量，如此采集装置可将每个标准接口引脚的信号都进行采集。

在一实施例中，标准接口引脚中的每个引脚不一定都可输出有效的待测试控制信号，如标准接口引脚的60个引脚中有2个引脚输出无效信号，该无效信号可以指不输出信号，也可以指与待测试控制信号无关的信号等。因此，采集装置121中能采集待测试控制信号的采集输入引脚的数量不小于目标芯片11中能提供待测试控制信号的标准接口引脚的数量。如采集装置121中能采集待测试控制信号的采集输入引脚的数量为58个，目标芯片11中能提供待测试控制信号的标准接口引脚的数量也为58个，意味着采集装置121中的采集输入引脚的数量最少为58个。

采集装置121通过两个采集输入接口1211将目标芯片11输出的待测试控制信号进行采集，并将采集输入接口1211对应的每个采集输入引脚采集到的控制信号进行去重处理，以得到去重处理后的多个控制信号。按照预设排布顺序，将去重处理后的多个控制信号进行重新排布，并将重新排布后的多个控制信号进行输出，发送至信号缩放装置122。其中，预设排布顺序可预先进行定义，通过将去重处理后的多个控制信号进行重新排布，可得到对应的每个控制信号的排布顺序，后续根据对应的排布顺序，对每个控制信号进行相应处理，方便对每个控制信号进行处理。

需要注意的是，排布前后，对应的每个控制信号并没有发生改变，只是每个控制信号的排布顺序发生了改变。

重新排布后的多个控制信号中包括第一数量的第一类控制信号和第二数量的第二类控制信号，其中，第一数量和第二数量之和与重新排布后的多个控制信号中的信号数量相同。第一类控制信号是多个控制信号中的负压信号和小电压信号，第二类控制信号是多个控制信号中的大电压信号。

信号缩放装置122用于将重新排布后的多个控制信号(待测试控制信号)中的第一类控制信号进行反压放大处理，第二类控制信号进行缩小处理，以得到处理后的多个控制信号，即得到处理后的待测试控制信号，并将处理后的待测试控制信号发送至数模转换装置123。处理后的待测试控制信号在处理芯片13所能处理的范围内。

其中，信号缩放装置122中包括多个不同的电压转换电路、至少一个运算放大电路。

多个不同的电压转换电路与来自于采集装置121中的第二数量的第二类控制信号一一对应，以将对应的每个第二类控制信号进行缩小处理。具体地，多个不同的电压转换电路可利用电阻分压的方式将不同的大电压信号处理为处理芯片13所能处理范围内的电压信号，如将还可以采用其他方式实现对应功能。由于之前已经将处理后的多个控制信号，即将处理后的待测试信号进行了重新排布，因此，可根据排布来对应设置多个不同的电压转换电路与第二数量的第二类控制信号的一一对应关系。

至少一个运算放大电路的放大输入端口(也可称为放大输入引脚)与来自于采集装置的第一数量的第一类控制信号一一对应，以将对应的每个第一类控制信号进行反压放大处理。

每个运算放大电路中有对应数量的放大输入引脚，可根据处理后的待测试控制信号中第一类控制信号的第一数量来确定运算放大电路的数量。如若每个运算放大电路中的放大输入引脚的数量为2个，意味着一个运算放大电路可同时对2个第一类控制信号进行反压放大处理；若第一数量为4个，意味着第一类控制信号需要4个引脚进行对应的处理，那么对应需要设置2个运算放大电路。2个运算放大电路并行实现对4个第一类控制信号进行反压放大处理。

运算放大电路可采用LM358P电路，还可以采用其他电路实现相应功能。

经过信号缩放装置122进行缩放处理后的多个控制信号(待测试控制信号)所对应的电压在处理芯片所能处理的电压范围内。

经过信号缩放装置122缩放处理后的待测试控制信号将发送至数模转换装置123。其中，数模转换装置123用于将来自于信号缩放装置122的处理后的待测试控制信号进行数模转换处理，以得到中间信号，并将处理芯片13所需提取的目标测试信号发送至处理芯片13。

数模转换装置123中包括多个数模转换器件，每个数模转换器件中包括多个能采集处理后的待测试控制信号的转换输入端口(也可称为转换输入引脚)、转换输出端口(也可称为转换输出引脚)和至少一个通道选择端口(也可称为通道选择引脚)。数模转换器件可以是CD4051器件，还可以是其他可实现相同功能的器件。

其中，数模转换装置123中能采集处理后的待测试控制信号的转换输入引脚的数量不小于信号缩放装置122中能输出的处理后的待测试控制信号中的多个控制信号的信号数量。如每个数模转换器件的转换输入引脚为8个，信号缩放装置122中能输出的处理后的多个控制信号的控制数量为40个，则对应至少需要5个数模转换器件，以使得通过至少5个数模转换器件可接收信号缩放装置122中输出的所有的控制信号。

在一些实施例中，信号缩放装置122中能输出的多个控制信号中的一些控制信号可不经过数模转换装置123，而直接输入至处理芯片13中。

如图3所示，为本申请实施例提供的数模转换器件CD4051的端口示意图。该数模转换器件包括16个端口(引脚)。

该数模转换器件的转换输入引脚为8个，分别包括引脚1、引脚2、引脚4、引脚5、引脚12、引脚13、引脚14和引脚15，该8个引脚用于接收信号缩放装置122中输出的8个控制信号。其中，每个数模转换器件的转换输入引脚所输入的控制信号各不相同，图3中所示的数模转换器件的所输入的控制信号只是其中的一些控制信号而已。

该数模转换器件的输出引脚为1个，即引脚3。

通道选择引脚包括3个，分别为引脚9、引脚10、引脚11，即对应CD4051-A1、CD4051-A2和CD4051-A3。其中，通道选择引脚中所对应的通道选择信号由处理芯片13发出，功能为一次选择一个转换输入引脚。数模转换器件将所选择的转换输入引脚中的控制信号进行数模转换处理，以得到对应的中间信号，并将对应的中间信号通过转换输出引脚输出，以发送至处理芯片13。

该数模转换器件还包括使能信号引脚，该使能信号引脚中所对应的使能信号由处理芯片13发出，用于使得处理芯片13选择对应的数模转换器件，使对应的数模转换器件输出对应的中间信号至处理芯片13。

假设当前数模转换器件为5个，将信号缩放装置122中输出的多个控制信号分为5组，5组控制信号分别输入至5个数模转换器件的转换输入引脚。通过使能信号引脚的使能信号选择5个数模转换器件，通过通道选择引脚的通道选择信号(通道选择信号有效的通道选择引脚)选择每个数模转换器件中的其中一个转换输入引脚所对应的控制信号，最后通过对应的数模转换器件中的输出引脚输出。如此，每次选择之后将由5个控制信号输出至处理芯片13。

其中，通道选择引脚的选择是通过处理芯片13中的测试处理程序控制的。

如图4所示，为本申请实施例提供的处理芯片的端口示意图，该处理芯片以STM32为例进行说明。需要说明的是，其他处理芯片的端口也可以实现如下文中所示的功能。

在处理芯片13中，通过引脚26、引脚27、引脚28、引脚29和引脚44可采集数模转换装置123中输出的控制信号(电压)。通过引脚126向数模转换装置123中的使能信号引脚发出使能信号，通过引脚127、引脚128和引脚129向数模转换装置123中的通道选择引脚发出的通道选择信号，分别对应选择数模转换装置123的CD4051-A1、CD4051-A2和CD4051-A3所对应的引脚。

其中，引脚34-37、引脚40-41、引脚45-47、引脚60-67、引脚96-98、引脚103-104、引脚136-137、引脚139-140等都用于接收所对应的控制信号，即用于接收对应接口输入的电压。

其中，引脚80-93、引脚124对应的连接按键模块16所对应的按键电路的接口，引脚10-15、引脚18-22对应的是连接显示装置的接口，按键模块16、显示装置15在后文中将会详细描述。

通过按键模块16选择对应的待测试的目标测试对象以及待测试的目标测试信号类型，处理芯片接收所选择的目标测试对象和目标测试信号类型，调取目标测试对象的目标测试信号类型所对应的目标测试处理程序，该目标测试处理程序需要采集什么目标控制信号，就从处理芯片的对应接口来采集对应的目标控制信号。即处理芯片从中间信号中提取与目标测试对象的目标测试信号类型匹配的目标控制信号，并对目标控制信号进行测试处理，以得到处理结果。将处理结果可发送至显示装置进行显示。

处理芯片13中的引脚88用于输出指示控制信号Panelon，该指示控制信号Panelon控制采集板12上的指示灯的亮灭。

处理芯片13中的引脚101、引脚102用于串口输入，用于与上位机19进行通信。其中，上位机19可以是移动终端、PC端等计算机设备，如可通过上位机19将测试处理程序发送至处理芯片13中，或者处理芯片13将测试处理的处理结果发送至上位机19中，以供对处理结果进行进一步地处理。

处理芯片13中的引脚73-76、引脚59用于连接Flash IC(Flash集成电路)，FlashIC可用于处理芯片13的存储，例如，存储测试处理程序等。

以上对处理芯片13的功能进行了介绍，下文中将描述电源模块14的功能。

电源模块14用于将接入的市电适配转换为自动测试系统的输入电压。其中，输入电压可以为24V。电源模块14还用于将输入电压经过第一转换电路进行转换以得到第一预设电压，将第一预设电压经过第二转换电路进行转换以得到第二预设电压，该输入电压、第一预设电压和第二预设电压输入至采集板12中，以进行供电。其中，第一预设电压可以为12V、第二预设电压可以为5V。第一转换电路用于将输入电压24V转为第一预设电压12V，第二转换电路用于将第一预设电压12V转换为第二预设电压5V。

电源模块14还用于将输入电压经过第三转换电路进行转换，以得到第三预设电压，该第二预设电压和第三预设电压用于为处理芯片13进行供电。其中，第三预设电压为3.3V，第三转换电路用于将输入电压24V转换为第三预设电压3.3V。

第一转换电路、第二转换电路、第三转换电路主要包括电压转化IC(电压转化集成电路)和外围电路。其中，外围电路包括滤波电容、滤波电感、反馈电阻和使能反压电阻等。滤波电容、滤波电感都用于较少纹波；反馈电阻用于根据电压转化集成电路规格要求，将输出电压反馈给电压转化集成电路确认是否输出正确电压；使能分压电阻，用于将较高的电压缩小为电压转化集成电路要求的使能电压，控制电压转化集成电路是否工作。

如图5所示，为本申请实施例提供的第二转换电路的示意图。该第二转换电路包括电压转化集成电路141、第一滤波电容142、第二滤波电容143、滤波电感144、反馈电阻145、使能反压电阻146。其中，电压转化集成电路141与第一滤波电容142、使能分压电阻146、滤波电感144、反馈电阻145分别连接，滤波电感144与第二滤波电容143连接。

该第二转换电路用于将12V的电压以5.7:1的比例缩小为2.1V，高于使能电压EN的1.6V，即可使电压转化集成电路工作，低于0.8V，电压转化集成电路不工作。输入该第二转换电路的电压为第一预设电压12V，经过该第二转换电路处理后的的电压为第二预设电压5V。

本申请实施例以第二转换电路为例进行说明。其他的第一预设电路和第三预设电路可参看第二转换电路的原理来实现。

在一实施例中，采集板12上还设置有指示灯。在电源模块14为处理芯片13供电后，处理芯片13进行初始化并进行第二预处理。其中，第二预处理包括设定/获取目标测试对象和目标测试信号类型、加载目标测试对象的目标测试信号类型所对应的目标测试处理程序等。第二预处理完成后，可简单理解为，处理芯片13已经做好了接收待测试控制信号的一切准确。

处理芯片在第二预处理完成后，拉高指示控制信号，即设置指示控制信号Panelon处于有效状态。在Panelon处于有效状态下，控制指示灯处于亮的状态。指示灯处于亮的状态，表示处理芯片13已经做好了准备接收待测试控制信号，另一方面，通过指示灯指示可以开始进行测试。

在指示灯处于亮的状态时，接收用户的控制选择操作，并根据控制选择操作将所选择的来自于采集板12的电压输出至目标芯片11，以使得目标芯片11向采集板12输出待测试控制信号。

在一实施例中，采集板12上的指示灯包括第一指示灯和第二指示灯，采集板12上还设置有供电控制开关、第一开关和第二开关。处理芯片11在第二预处理完成后，拉高供电控制开关的指示控制信号，即设置指示控制信号Panelon处于有效状态，通过供电控制开关输出第一输出电压和第二输出电压。其中，第一输出电压为24V，第二输出电压为12V。第一输出电压控制第一指示灯处于亮的状态，第二输出电压控制第二指示灯处于亮的状态。

在第一指示灯和第二控制灯处于亮的状态时，接收用户的控制选择操作，并根据控制选择操作将与第一指示灯连接的第一开关接通和/或将与第二指示灯连接的第二开关接通，以向目标芯片11输出第一输出电压和/或输出第二输出电压，该第一输出电压和/或第二输出电压用于为目标芯片11进行供电，以使目标芯片11向采集板12输出待测试控制信号。

其中，若与第一指示灯连接的第一开关接通后，向目标芯片11输出第一输出电压；若与第二指示灯连接的第二开关接通后，向目标芯片11输出第二输出电压；若同时将第一开关和第二开关接通，则向目标芯片11同时输出第二输出电压和第一输出电压。

用户的控制选择操作用于选择接通第一开关和/或接通第二开关，具体选择接通第一开关和/或接通第二开关，根据待测试的目标芯片来确定。有的目标芯片可以用24V的电压进行供电，有的目标芯片可以用12V的电压进行供电，有的目标芯片同时需要24V和12V的电压进行供电。如果目标芯片同时需要24V和12V的电压进行供电，则用户的控制选择操作将会把第一开关和第二开关都接通。如果目标芯片可以用24V的电压进行供电，则选择接通第一开关。如果目标芯片可以用12V的电压进行供电，则选择接通第二开关。

其中，指示控制信号、供电控制开关等的作用，是为了在处理芯片13进行初始化和第二预处理完成后，根据指示控制信号的有效状态和供电控制开关，控制向目标芯片11进行供电，使得目标芯片11输出待测试控制信号，使得处理芯片13可以采集目标芯片11上电后的所有信号，便于对待测试控制信号进行测试处理。另外，进行时序测试时，需要在目标芯片11断电后的首次上电时才能进行测试。

在一实施例中，自动测试系统还包括按键模块16。该按键模块16用于响应用户的输入操作，根据输入操作生成选择信号，该选择信号用于选择待测试的目标测试对象和待测试的目标测试信号类型。

在一实施例中，如图1所示，自动测试系统还包括显示装置15，显示装置15与处理芯片13连接。显示装置15用于显示待测试的所有测试对象和待测试的所有测试信号类型。显示装置15可以是显示屏，如液晶显示屏，具体地，可以是LCD12864显示屏等。该显示装置15中的显示接口(每个显示引脚)与处理芯片13中的引脚10-15、引脚18-22分别对应连接。显示装置15中可以显示一个可视的操作窗口，配合按键模块16一起实现选择目标测试对象和目标测试信号类型。

按键模块16，包括方向键上、方向键下、方向键左、方向键右、方向键确认、方向键返回，用于响应用户的第一输入操作，生成第一选择信号，根据第一选择信号从所显示的待测试的所有测试对象中选择目标测试对象；以及用于响应用户的第二输入操作，生成第二选择信号，根据所述第二选择信号从所显示的待测试的所有测试信号类型中选择目标测试信号类型；以及还用于响应用户的第三输入操作(第三输入操作可以是对方向键确认的输入操作)，确定选择的目标测试对象和/或目标测试信号类型。

如图6所示，为按键模块16的按键电路示意图。其中，KEY-UP、KEY-DOWN、KEY-LEFT、KEY-RIGHT、KEY-ENTER、KEY-BACK分别对应方向键上、方向键下、方向键左、方向键右、方向键确认、方向键返回，该按键电路的每个方向键的另一端与处理芯片13的引脚89-93、引脚124一一对应连接。

在一实施例中，自动测试系统还包括红外模块，红外模块用于红外信号的发射与接收，使用遥控器可发射红外信号。红外模块包括红外发射模块17和红外接收模块18。该红外模块与按键模块16的功能相同。可通过红外模块和显示装置15配合使用，实现选择目标测试对象和目标测试信号类型。红外模块的红外端口与处理芯片13中的引脚111-112分别对应连接。

下面将对自动测试系统接上市电到测试完成的整个过程进行简单的描述，以方面理解自动测试系统的工作原理。

上述自动测试系统在电源模块14连接上市电后，经过适配转换为自动测试系统的24V的输入电压。将输入电压经过多个不同的转换电路，转换为12V、5V和3.3V，并利用转换后的电压向处理芯片13和采集板12进行供电。处理芯片13上电后，进行初始化并进行第二预处理。具体地，通过按键模块16/红外模块，并配合显示装置15来确定目标测试对象和目标测试信号类型，以及其他的一些预处理的操作。

在第二预处理完成后，通过处理芯片13的引脚88向采集板12发出指示控制信号，即设置Panelon为有效状态，使得供电控制开关分别输出24V的第一输出电压和12V的第二输出电压，该第一输出电压控制第一指示灯处于亮的状态，该第二输出电压控制第二指示灯处于亮的状态。

在第一指示灯/第二指示灯处于亮的状态时，接收用户的控制选择操作，并根据控制选择操作将与第一指示灯连接的第一开关接通和/或将与第二指示灯连接的第二开关接通，以向目标芯片11输出第一输出电压和/或输出第二输出电压，该第一输出电压和/或第二输出电压用于为目标芯片11进行供电。

目标芯片11供电后，通过标准接口111向采集板12输出待测试控制信号，采集板12中的采集装置121将待测试控制信号进行去重、重新排布处理后，得到处理后的待测试控制信号，并将处理后的待测试控制信号发送至信号缩放装置122。信号缩放装置122将处理后的待测试控制信号中的第一类控制信号通过运算放大电路进行反压放大处理，将处理后的待测试控制信号中的第二类控制信号通过电阻分压进行缩小处理，并将信号缩放装置122处理后的待测试控制信号通过数模转换装置123进行数模转换，以得到中间信号。

处理芯片13根据目标测试对象的目标测试信号类型，从中间信号中提取出需要的目标控制信号，并对目标控制信号进行测试处理，以得到处理结果。并将处理结果发送至显示装置15上进行显示，且同时可将处理结果通过处理芯片上的串口发送至上位机19中，以对处理结果进行进一步的查看和处理等。

上述自动测试系统实现了对目标测试对象的待测试控制信号的采集和处理，进而提高对待测试控制信号的测试效率，以及提高对待测试控制信号的测试准确性。

下面将结合上述自动测试系统，介绍本申请实施例提供的自动测试方法。

图7是本申请实施例提供的自动测试方法的流程示意图。该自动测试方法包括如下步骤。

201，通过标准接口输出目标芯片的待测试控制信号。

202，采集所述待测试控制信号，并对所述待测试控制信号进行第一预处理，以得到处理后的中间信号。

其中，步骤202是在采集板上完成的，具体详细内容请参看上文中采集板中描述的详细内容，在此不再赘述。

203，获取待测试的目标测试对象和待测试的目标测试信号类型，目标芯片是目标测试对象对应的芯片。

204，从中间信号中提取与目标测试对象的目标测试信号类型匹配的目标控制信号，并对目标控制信号进行测试处理。

步骤203-204是在处理芯片中完成中，具体详细内容请参看上文中处理芯片对应的详细内容，在此不再赘述。

所述自动测试方法，还包括：显示待测试的所有测试对象和待测试的所有测试信号类型；响应用户的输入操作，根据所述输入操作生成选择信号，以从所有测试对象和所有测试信号类型中选择待测试的目标测试对象和待测试的目标测试信号类型。

具体地，自动测试方法的实现内容和达到的有益效果与自动测试系统中的内容和所能达到的有益效果一致，具体请参看自动测试系统中的相应内容，在此不再赘述。

以上对本申请实施例所提供的一种自动测试系统和自动测试方法进行了详细介绍，本文中应用了具体个例对本申请的原理及实施方式进行了阐述，以上实施例的说明只是用于帮助理解本申请的方法及其核心思想；同时，对于本领域的技术人员，依据本申请的思想，在具体实施方式及应用范围上均会有改变之处，综上所述，本说明书内容不应理解为对本申请的限制。

Claims (10)

1.一种自动测试系统，其特征在于，包括：

采集板，与目标芯片连接，用于采集通过所述目标芯片的标准接口输出的待测试控制信号，以及对所述待测试控制信号进行第一预处理，以得到处理后的中间信号；

处理芯片，与所述采集板连接，用于获取待测试的目标测试对象和待测试的目标测试信号类型，从所述中间信号中提取与所述目标测试对象的目标测试信号类型匹配的目标控制信号，并对所述目标控制信号进行测试处理，其中，所述目标芯片是所述目标测试对象对应的芯片，所述目标测试信号类型为电压测试和/或时序测试；

电源模块，与所述采集板、所述处理芯片连接，用于为所述采集板、所述处理芯片进行供电，且通过所述采集板为所述目标芯片供电；

所述目标芯片，用于在供电后，通过所述标准接口输出对应的待测试控制信号；

其中，所述采集板中包括采集装置，所述采集装置，用于采集通过所述目标芯片的标准接口输出的待测试控制信号；

所述采集装置通过采集输入端口将所述目标芯片输出的待测试控制信号进行采集，并将每个采集输入端口采集到的控制信号进行去重处理，以及按照预设排布顺序，将去重处理后的多个控制信号进行重新排布，并将重新排布后的多个控制信号进行输出。

2.根据权利要求1所述的自动测试系统，其特征在于，所述采集板中还包括信号缩放装置和数模转换装置；

所述采集装置，用于将重新排布后的多个控制信号发送至所述信号缩放装置；

所述信号缩放装置，用于将所述待测试控制信号中的第一类控制信号进行反压放大处理、第二类控制信号进行缩小处理，以得到处理后的待测试控制信号，并将所述处理后的待测试控制信号发送至所述数模转换装置，其中，所述处理后的待测试控制信号在所述处理芯片所能处理的范围内；

所述数模转换装置，用于将接收的所述处理后的待测试控制信号进行数模转换处理，以得到中间信号，并将所述处理芯片所需提取的所述目标测试信号发送至所述处理芯片。

3.根据权利要求2所述的自动测试系统，其特征在于，所述采集装置中能采集所述待测试控制信号的采集输入端口的数量不小于所述目标芯片中能提供所述待测试控制信号的标准接口端口的数量。

4.根据权利要求3所述的自动测试系统，其特征在于，所述重新排布后的多个控制信号中包括第一数量的第一类控制信号和第二数量的第二类控制信号，所述信号缩放装置中包括多个不同的电压转换电路、至少一个运算放大电路；

所述至少一个运算放大电路的放大输入端口与来自于采集装置的第一数量的第一类控制信号一一对应，以将对应的每个第一类控制信号进行反压放大处理；

所述多个不同的电压转换电路与来自于采集装置的第二数量的第二类控制信号一一对应，以将对应的每个第二类控制信号进行缩小处理。

5.根据权利要求3所述的自动测试系统，其特征在于，所述数模转换装置中包括多个数模转换器件，每个数模转换器件中包括多个能采集所述处理后的控制信号的转换输入端口、转换输出端口和至少一个通道选择端口；

当每个数据转换器件的所述通道选择端口接收到所述处理芯片发送的通道选择信号时，控制至少一个转换输入端口将所接收的对应的处理后的控制信号经过数模转换处理以得到对应的中间信号，并将对应的中间信号通过所述转换输出端口输出，以发送至所述处理芯片。

6.根据权利要求1所述的自动测试系统，其特征在于，所述电源模块用于将市电适配转换为所述自动测试系统的输入电压；

还用于将所述输入电压经过第一转换电路进行转换以得到第一预设电压，将第一预设电压经过第二转换电路进行转换以得到第二预设电压，所述输入电压、所述第一预设电压和所述第二预设电压用于为所述采集板进行供电；

所述电源模块还用于将所述输入电压经过第三转换电路进行转换，以得到第三预设电压，所述第二预设电压和第三预设电压用于为所述处理芯片进行供电。

7.根据权利要求6所述的自动测试系统，其特征在于，所述采集板上还设置有指示灯；

在所述电源模块为所述处理芯片供电后，所述处理芯片进行初始化并进行第二预处理，并在第二预处理完成后，拉高指示控制信号，通过所述指示控制信号控制所述指示灯处于亮的状态；

在所述指示灯处于亮的状态时，接收用户的控制选择操作，并根据所述控制选择操作将所选择的来自于所述采集板的电压输出至所述目标芯片，以使得所述目标芯片向所述采集板输出待测试控制信号。

8.根据权利要求1所述的自动测试系统，其特征在于，所述自动测试系统还包括：按键模块；

所述按键模块用于响应用户的输入操作，以根据所述输入操作生成选择信号，所述选择信号用于选择待测试的目标测试对象和待测试的目标测试信号类型。

9.根据权利要求8所述的自动测试系统，其特征在于，所述自动测试系统还包括：显示装置，所述显示装置与所述处理芯片连接；

所述显示装置用于显示待测试的所有测试对象和待测试的所有测试信号类型；

所述按键模块用于响应用户的第一输入操作，生成第一选择信号，根据所述第一选择信号从所显示的待测试的所有测试对象中选择目标测试对象；以及用于响应用户的第二输入操作，生成第二选择信号，根据所述第二选择信号从所显示的待测试的所有测试信号类型中选择目标测试信号类型；以及还用于响应用户的第三输入操作，确定选择的目标测试对象和/或目标测试信号类型。

10.一种自动测试方法，其特征在于，包括：

通过标准接口输出目标芯片的待测试控制信号；

采集所述待测试控制信号，并对所述待测试控制信号进行第一预处理，以得到处理后的中间信号；

获取待测试的目标测试对象和待测试的目标测试信号类型，其中，所述目标芯片是所述目标测试对象对应的芯片，所述目标测试信号类型为电压测试和/或时序测试；

从所述中间信号中提取与所述目标测试对象的目标测试信号类型匹配的目标控制信号，并对所述目标控制信号进行测试处理；

所述采集所述待测试控制信号，并对所述待测试控制信号进行第一预处理的步骤，包括：通过采集输入端口将所述目标芯片输出的待测试控制信号进行采集，并将每个采集输入端口采集到的控制信号进行去重处理，以及按照预设排布顺序，将去重处理后的多个控制信号进行重新排布，并将重新排布后的多个控制信号进行输出。

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