CN113358672A - 检测设备与检测方法 - Google Patents

检测设备与检测方法 Download PDF

Info

Publication number
CN113358672A
CN113358672A CN202110738510.9A CN202110738510A CN113358672A CN 113358672 A CN113358672 A CN 113358672A CN 202110738510 A CN202110738510 A CN 202110738510A CN 113358672 A CN113358672 A CN 113358672A
Authority
CN
China
Prior art keywords
darkroom
assembly
detection
sample
opening
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
CN202110738510.9A
Other languages
English (en)
Inventor
王盼
王琴
宋凯南
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Shenzhen Furuikang Technology Co ltd
Original Assignee
Shenzhen Furuikang Technology Co ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Shenzhen Furuikang Technology Co ltd filed Critical Shenzhen Furuikang Technology Co ltd
Priority to CN202110738510.9A priority Critical patent/CN113358672A/zh
Publication of CN113358672A publication Critical patent/CN113358672A/zh
Pending legal-status Critical Current

Links

Images

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N23/00Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00
    • G01N23/02Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by transmitting the radiation through the material
    • G01N23/04Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by transmitting the radiation through the material and forming images of the material

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Health & Medical Sciences (AREA)
  • Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • Biochemistry (AREA)
  • General Health & Medical Sciences (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Immunology (AREA)
  • Pathology (AREA)
  • Investigating Or Analysing Materials By The Use Of Chemical Reactions (AREA)

Abstract

本发明提供一种检测设备与检测方法,检测设备包括:多个独立工作的暗室组件,暗室组件包括暗室主体、检测装置与第一遮光门,暗室主体具有腔体与第一开口,第一开口供样本容器进出腔体;第一遮光门连接于第一开口,能够受控地打开或者关闭第一开口;检测装置连接于暗室主体,用于对腔体内的样本进行检测;进样组件,包括用于从腔体中取放样本容器的取样机构;控制组件,分别与进样组件和各暗室组件通讯连接,以控制第一遮光门的开闭、检测装置的检测以及取样机构对各暗室组件执行的取放操作。各暗室组件独立工作,工作进程相互独立,互不影响,因此可以在控制组件的控制下配合进样组件实现多样本检测,有助于降低样本的等待时间,提升检测效率。

Description

检测设备与检测方法
技术领域
本发明涉及医疗设备领域,尤其是涉及一种检测设备与检测方法。
背景技术
尿素呼气试验是临床检测幽门螺杆菌的首选方法,其工作原理是幽门螺旋杆菌会分泌一种人体内原本不存在的尿素酶,当受检者口服含有14C核素标记的尿素药品后,幽门螺杆菌分泌的尿素酶会将此尿素分解,产生带14C标记的二氧化碳并经血液循环后从肺部呼出。二氧化碳与集气卡中的吸收药剂反应形成含14C核素的化合物,从而将14C核素收集在集气卡上,然后将集气卡移送至检测设备处捕捉14C核素衰变产生的β射线,并将β射线转换形成输出电流脉冲,通过记录脉冲的数量便能判断人体内幽门螺杆菌的感染情况。样本检测需要在暗室中进行,从暗室中取放样本的步骤以及检测步骤均需要消耗一定的时间,相关技术中,检测设备通常只能逐一地对样本进行检测,样本的等待时间较长,检测效率低。
发明内容
本发明旨在至少解决现有技术中存在的技术问题之一。为此,本发明提出一种检测设备,能够降低样本的等待时间,提升检测效率。
本发明还公开了基于上述检测设备实施的检测方法。
本发明所采用的的方案是:
检测设备,用于对样本容器内的样本进行检测,包括:
多个独立工作的暗室组件,所述暗室组件包括暗室主体、检测装置与第一遮光门,所述暗室主体具有腔体与第一开口,所述第一开口供所述样本容器进出所述腔体;所述第一遮光门连接于所述第一开口,能够受控地打开或者关闭所述第一开口;所述检测装置连接于所述暗室主体,用于对所述腔体内的样本进行检测;
进样组件,包括用于从所述腔体中取放所述样本容器的取样机构;
控制组件,分别与所述进样组件和各所述暗室组件通讯连接,以控制所述第一遮光门的开闭、所述检测装置的检测以及所述取样机构对各所述暗室组件执行的取放操作。
进一步地,多个所述暗室组件沿水平的第一方向排列,且所述第一开口位于所述暗室主体的顶部。
进一步地,所述进样组件还包括:
第一驱动机构,用于驱动所述取样机构在所述暗室组件上方沿所述第一方向移动;
第二驱动机构,用于驱动所述取样机构沿竖直方向移动。
进一步地,所述暗室组件还包括:
第一传感器,连接于所述暗室主体,能够被转动至关闭位置的所述第一遮光门触发;
第二传感器,连接于所述暗室主体,能够被转动至打开位置的所述第一遮光门触发;
其中,所述控制组件分别与所述第一传感器及所述第二传感器通讯连接。
进一步地,所述暗室组件还包括第五传感器,所述第五传感器连接于所述暗室主体,能够被位于所述暗室主体内且位于检测位置的所述样本容器触发;
所述控制组件与所述第五传感器通讯连接。
进一步地,所述暗室主体还具有第二开口,所述检测装置连接于所述暗室主体的外侧,能够通过所述第二开口对所述腔体内的样本进行检测;
所述暗室组件还包括第二遮光门,第二遮光门与所述暗室主体连接,并能够相对所述暗室主体移动以关闭或者打开所述第二开口。
进一步地,所述暗室组件还包括第三传感器与第四传感器,所述第三传感器能够被移动至打开位置的所述第二遮光门触发;所述第四传感器能够被移动至关闭位置的所述第二遮光门触发;
所述控制组件分别与所述第三传感器及所述第四传感器通讯连接。
本发明还公开了一种检测方法,应用于所述的检测设备,包括以下步骤:
判断所述暗室组件的状态信息,如果为空闲状态,则控制所述进样组件将所述样本容器放入所述腔体内;
判断所述暗室组件的状态信息,如果为准备检测状态,则控制所述第一遮光门关闭所述第一开口,并控制所述检测装置对样本进行检测;
判断所述暗室组件的状态信息,如果为检测完成状态,则控制所述第一遮光门打开所述第一开口,然后控制所述进样组件将所述样本容器从所述腔体内取出。
进一步地在控制所述进样组件将所述样本容器从所述腔体内取出之后,还包括:控制所述第一遮光门关闭所述第一开口。
本发明还公开了另一种检测方法,应用于所述的检测设备,包括以下步骤:
判断所述暗室组件的状态信息,如果为空闲状态,则控制所述进样组件将所述样本容器放入所述腔体内;
判断所述暗室组件的状态信息,如果为准备检测状态,则先控制所述第一遮光门关闭所述第一开口,然后控制所述第二遮光门打开所述第二开口,最后控制所述检测装置对样本进行检测;
判断所述暗室组件的状态信息,如果为检测完成状态,则控制所述第一遮光门打开所述第一开口,然后控制所述进样组件将所述样本容器从所述腔体内取出。
进一步地,在判断所述暗室组件的状态信息为检测完成状态之后、并在所述第一遮光门打开所述第一开口之前,还包括:控制所述第二遮光门关闭所述第二开口。
进一步地,在控制所述进样组件将所述样本容器从所述腔体内取出之后,还包括:控制所述第一遮光门关闭所述第一开口。
有益效果:
各暗室组件独立工作,工作进程相互独立,互不影响,因此可以在控制组件的控制下配合进样组件实现多样本检测,有助于降低样本的等待时间,提升检测效率。
本发明的附加方面和优点将在下面的描述中部分给出,部分将从下面的描述中变得明显,或通过本发明的实践了解到。
附图说明
本发明的上述和/或附加的方面和优点从结合下面附图对实施例的描述中将变得明显和容易理解,其中:
图1是本发明第一实施例检测出设备的正视图;
图2是图1检测设备的侧视图;
图3是图1检测设备的立体示意图;
图4是图1检测设备中暗室组件的分解示意图,样本容器处于分解状态;
图5是图1检测设备中进样组件的立体示意图;
图6是图1检测设备中暗室组件的立体示意图,第一遮光门处于完全打开状态;
图7是图1检测设备中暗室组件的立体示意图,第一遮光门处于部分打开状态;
图8是图1检测设备的剖视图,第二遮光门处于关闭状态;
图9是图1检测设备的立体示意图,隐藏部分暗室主体,且第二遮光门处于打开状态;
图10是图1检测设备的立体示意图,隐藏部分暗室主体,且第二遮光门处于关闭状态;
图11是图1检测设备中暗室主体与第三传感器、第四传感器连接的示意图;
图12是图1检测设备中暗室主体与第三传感器、第四传感器连接的剖视图。
具体实施方式
以下将结合实施例对本发明的构思及产生的技术效果进行清楚、完整地描述,以充分地理解本发明的目的、特征和效果。显然,所描述的实施例只是本发明的一部分实施例,而不是全部实施例,基于本发明的实施例,本领域的技术人员在不付出创造性劳动的前提下所获得的其他实施例,均属于本发明保护的范围。
在本发明实施例的描述中,如果涉及到方位描述,例如“上”、“下”、“前”、“后”、“左”、“右”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系,仅是为了便于描述本发明和简化描述,而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作,因此不能理解为对本发明的限制。
在本发明实施例的描述中,如果某一特征被称为“设置”、“固定”、“连接”、“安装”在另一个特征,它可以直接设置、固定、连接在另一个特征上,也可以间接地设置、固定、连接、安装在另一个特征上。在本发明实施例的描述中,如果涉及到“若干”,其含义是一个以上,如果涉及到“多个”,其含义是两个以上,如果涉及到“大于”、“小于”、“超过”,均应理解为不包括本数,如果涉及到“以上”、“以下”、“以内”,均应理解为包括本数。如果涉及到“第一”、“第二”,应当理解为用于区分技术特征,而不能理解为指示或暗示相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量或者隐含指明所指示的技术特征的先后关系。
本发明公开了一种检测设备,适用于呼吸检测等需要样本频繁进出暗室的场景,能够通过控制组件与多个暗室组件的配合实现多通道检测,提升检测效率,以下结合附图对本发明进行具体说明。
参照图1至图3,本发明第一实施例的检测设备包括多个暗室组件100、进样组件200与控制组件,其中,多个暗室组件100能够独立工作,以对不同的样本进行单独检测。进样组件200用于将检测完成的样本从暗室组件100中移出,或者将待检测的样本送入暗室组件100。控制组件能够通过暗室组件100与取样组件200的状态信息对二者进行控制,以实现检测设备的自动化运行。
参照图4,暗室组件100包括暗室主体110,暗室主体110用于放置待检测的样本,其如图中所示可以是大致为矩形的盒体结构,暗室主体110内具有腔体111,样本可以放置于腔体111中进行检测。暗室主体110还具有用于供样本进出腔体111的第一开口112,第一开口112的形状与样本的形状相似,且略大于样本,便于样本的进出。能够理解的是,样本通常存放或者附着于样本容器300等载体中,例如图示的样本容器中,故第一开口112为相应形状的矩形开口,其长度方向(图4中的前后方向)的尺寸大于样本容器300宽度方向(图4中的前后方向)的尺寸,第一开口112的宽度方向(图4中的左右方向)的尺寸大于样本容器300厚度方向(图4中的左右方向)的尺寸,使得样本容器300能够不受阻碍的通过第一开口112。
暗室组件100还包括检测装置120,检测装置120可以是公知结构,例如光电倍增管,其与暗室主体110连接,并用于对暗室主体110内的样本进行检测。
暗室组件100还包括第一遮光门130与相应的第四驱动机构1000,第一遮光门130与暗室主体110转动连接,并能够相对暗室主体110转动以关闭或者打开第一开口112,从而配合暗室主体110形成检测所需的黑暗环境,或者实现样本容器300的进出。第一遮光门130的打开角度需不影响样本容器300的进出,即第一遮光门130处于正常的打开状态时,其在第一开口112所在平面上的投影不能位于第一开口112的范围之内,通常而言,第一遮光门130可以自关闭位置转动90°至180°后达到打开位置,既不影响样本容器300的进出,又可以避免因转动角度过大而延长开启、关闭时间。第一遮光门130集成在暗室主体110上,且能够通过转动的方式实现第一开口112的打开与关闭,第一遮光门130运动所需的空间较小,有助于减少暗室组件的空间占用,且第一遮光门130开闭灵活,能够实现快速响应。
能够理解的是,第一遮光门130的形状可以适应暗室主体110上相应位置的形状,例如,第一遮光门130的形状为适应暗室主体110上端面形状的矩形,且面积与上端面的面积相等,使得第一遮光门130处于关闭位置时不会超出暗室主体110之外,有助于减少暗室组件的空间占用。
第四驱动机构1000与暗室主体110及第一遮光门130连接,用于驱动第一遮光门130转动。第四驱动机构1000包括动力件,动力件可以是具有旋转轴的驱动机构,例如电机等,动力件可以直接与第一遮光门130的转轴800连接,从而直接驱动暗室门转动,也可以通过齿轮组、同步带机构、同步链机构等传动机构驱动暗室门转动。以图中所示为例,动力件为电机,第四驱动机构1000还包括主动轮、从动轮与同步带,主动轮与电机的旋转轴连接,从动轮与第一遮光门130的转轴连接,同步带绕设于主动轮与从动轮上。
进样组件200能够将待检测的样本容器300从存储位置移送至暗室组件100,或者将检测完成的样本容器300从暗室组件100内移出,从而实现样本容器300的转移。进样组件200包括用于从腔体111中取放样本容器300的取样机构210,其中,取样机构210可以是具有吸附功能的取样装置,例如具有负压吸盘的取样机构210,具体的,取样机构210可以包括沿竖直方向设置的基板,基板的侧面固定有至少一个(数量可以根据样本容器的重量与可吸附的表面调整)负压吸盘,负压吸盘用于从样本容器300的侧向吸附样本容器300。
能够理解的是,取样机构210还可以是具有电磁铁的取样装置,相应的,样本容器300由铁磁性材料制成,或者至少具有铁磁性的吸附件,电磁铁通电时吸附样本容器300,断电时释放样本容器300。具体的,取样机构210可以包括沿竖直方向设置的基板,基板的侧面固定有电磁铁,电磁铁用于从样本容器300的侧向吸附取样机构210。
取样机构210可以是图示具有夹持功能的取样装置,具体的,取样机构210包括夹爪,两个夹爪通过动力件(例如手指气缸)驱动以夹取或者释放样本容器300。
根据暗室组件100与待检测样本容器300的相对位置关系的不同,取样机构210能够带动样本容器发生平行于插入方向的移动(以下简称平行移动)、垂直于插入方向的移动(以下简称垂直移动)以及转动中的一种或者多种的组合,其中,平行移动通常用于样本容器300进出暗室组件100,垂直移动或者垂直移动与平行移动的组合通常用于样本容器300在不同位置间的切换,转动通常用于样本容器300的姿态调整。
控制组件用于实现上述组件的统一控制,从而实现进样组件200与各暗室组件100间的协同工作,具体地,控制组件可以接受进样组件200与各暗室组件100的状态信息,并法功发出控制信号控制各组件执行相应的操作,暗室组件的状态信息包括第一遮光门130的开闭状态,检测装置120的工作状态,暗室主体110内是否存在样本容器等,进样组件200的状态信息包括取样机构的位置信息、取样机构是否获取有样本容器等。
本实施例中,各暗室组件100独立工作,也即,各暗室组件100中的驱动结构1000可以独立地驱动各第一遮光门130开闭,检测装置120也可以独立的进行检测。由于各暗室组件100的工作进程相互独立,互不影响,因此可以在控制组件的控制下,配合进样组件200实现多样本检测,有助于提升检测效率。
参照图1、图3,作为上述第一实施例的改进,检测设备的多个暗室组件100沿水平的第一方向(例如图中的前后方向)排列,第一开口112位于暗室主体110的顶部,且各第一开口112的姿态保持一致,也即各第一开口112的长度方向均沿前后方向,宽度方向均沿左右方向,同侧的长边对齐,如此,取样机构210只需要沿上述第一方向移动即可实现与各暗室主体110的对接,结合沿竖直放线的运动即可实现样本容器300的进样与出样,有助于缩短取样机构210的移动轨迹,减少移送样本容器的时间,也有助于简化相应的驱动结构。此外,第一开口112可以设置于暗室主体110的顶部,使得样本容器300可以在重力的作用下沿竖直方向在腔体111内滑动,保证样本容器300能够自动到达预设的检测位置。
以取样结构210沿前后方向与上下方向移动为例,参照图5,进样组件200还包括第一驱动机构220与第二驱动机构230,第一驱动机构220用于驱动取样机构210在暗室组件100的上方沿第一方向移动;第二驱动机构230用于驱动取样机构210沿竖直方向移动。具体地,第一驱动机构220包括电机,电机通过同步带驱动第二驱动机构230的移动,类似的,第二驱动机构230也包括电机,电机通过丝杆与丝杆螺母驱动取样机构210移动,当第二驱动机构230与取样机构210向前移动至图示的前端时,第二驱动机构230能够驱动取样机构210沿上下方向移动以将检测完成的样本容器300转移至相关存储位置或者存储器具中,或者将获取待检测的样本容器300;当第二驱动机构230与取样机构210向后移动至对应各暗室组件100的上方时,第二驱动机构230能够驱动取样机构210沿上下方向移动以从暗室组件100中获取检测完成的样本容器300,或者将待检测的样本容器300放入暗室组件100内。
本实施例中,第二驱动机构230的初始位置可以位于第一驱动机构220的行程中点(或者存在一定的偏移),第二驱动机构230可以向前或者向后运动以到达不同的工作位置,能够减少第二驱动机构230的空载行程时间。
参照图1、图3,作为上述第一实施例的另一改进,暗室组件100还包括第一传感器140与第二传感器150,第一传感器140与第二传感器150均与控制组件通讯连接,用于第一遮光门130的转动控制。具体的,第一传感器140连接于暗室主体110,能够被转动至关闭位置的第一遮光门130触发;第二传感器150连接于暗室主体110,能够被转动至打开位置的第一遮光门130触发。如图中所示,第一遮光门130的转动角度为180°,则第一传感器140与第二传感器150分别位于暗室主体200的相对两侧。
第一传感器140与第二传感器150均可以采用公知的传感器,例如,光电传感器、机械式触发传感器、磁感应传感器等。以图示为例,第一传感器140为具有触点141的机械式触发传感器,触点141超出暗室主体110与第一遮光门130配合的上端面,具体的,第一传感器140安装于暗室主体110靠近第一开口112的一端(例如上端),触点141位于第一传感器140的上部,且从向上超出上端面,且超出的长度大于第一遮光门130的内端面处于关闭位置时距离上端面之间的距离,如此,当第一遮光门130处于关闭位置时,第一遮光门130将按压触点141以触发第一传感器140,控制组件基于触发信号控制第四驱动机构1000停止动作,第一遮光门130保持在关闭位置。由于第一传感器140可以通过第一遮光门130既有的端面进行触发,无需在第一遮光门130上设置额外的触发件,有助于简化结构。第二传感器150可以采用与第一传感器140相似的结构与安装方式,在此不做详述。
第一传感器140的触点141被按下的状态为触发状态,控制组件可以基于第一传感器140的状态信息判断第一遮光门130处于关闭位置,类似的,第二传感器150的触点被按下的状态为触发状态,控制组件可以基于第二传感器150的状态信息判断第一遮光门130处于打开位置。
能够理解的是,第一传感器140采用光电传感器、磁感应传感器等时,也可以在第一遮光门130的内端面上设置相应的触发元件例如触发片、磁铁等。
参照图6至图8,作为上述第一实施例的另一改进,暗室组件100还包括第五传感器190,第五传感器190连接于暗室主体110,能够被进入暗室主体110内且位于检测位置的样本容器300触发,触发后的信号能够发送至控制组件。具体地,第五传感器190包括信号发射端191与信号接收端192,信号发射端191用于发出信号,信号接收端192用于接收从信号发射端191发出的信号,二者安装于样本容器300的相对两侧,以图中所示为例,信号发射端191位于暗室主体110的左侧,信号接收端192位于暗室主体110的右侧,当样本容器300位于图示的检测位置时,其能够遮挡信号发射端191发出的信号,信号接收端192接收不到信号的状态则为触发状态,控制组件可以基于该状态判断暗室主体110内存在样本容器300,相反,当信号接收端192能够接收到信号的状态为非触发状态,控制组件可以基于该状态判断暗室主体110不存在样本容器300。由于第一开口112设置于暗室主体110的顶部,因此样本容器300通常可以在重力的作用下自动到达预设的检测位置,因此可以根据样本容器300的检测位置设置第五传感器190的安装位置,保证位于检测位置的样本容器300必定能够触发,本实施例中,第五传感器190靠近于样本容器300的顶端,且低于样本容器300顶端设定高度。
能够理解的是,可以在暗室主体110上设置贯通的第一安装槽114,信号发射端191与信号接收端192安装在对应的第一安装槽114内,第一安装槽114的外侧开口可以通过第一遮光板1100进行遮挡,以避免光线泄漏。
参照图9、图10,公开了本发明的第二实施例,第二实施例为第一实施例的改进。光电倍增管等检测装置120通常包括主体结构与连接于主体结构一端的检测端121,检测端121通常具有对强光敏感的检测元件,例如光阴极等,因此应当尽量使检测端121处于弱光或者黑暗的环境中。基于此,暗室主体110还具有与腔体111连通的检测通道115,检测通道115在暗室主体110的内壁面形成第二开口113,其中,检测通道115对应于检测装置120的检测端121设置,其形状与检测端121的形状相似,例如图中所示,当检测端121为圆柱体时,检测通道115相应的圆形通道。检测通道115可以稍大于检测端121,以便检测端121能够穿设于检测通道115内,当检测端121伸入在检测通道115内时,检测端121的远端端面可以与暗室主体110具有第二开口113的内壁面平齐,也可以低于内壁面,但通常不会伸出内壁面,以便第二遮光门160实现更好的遮蔽效果。
通常而言,第一开口112与检测通道115设置在暗室主体110的不同侧,例如,第一开口112设置于暗室主体110的顶部,检测通道115设置于暗室主体110的侧部,使样本容器300能够因重力自动落入腔体111的底部,便于样本容器300上的样本承载区域对准检测装置120的检测端121。
暗室组件还包括第二遮光门160与第三驱动机构1200(标记于图6、图7中),第二遮光门160位于腔体111内并与暗室主体110连接,第三驱动机构1200驱动第二遮光门160移动以关闭或者打开第二开口113,从而关闭或者打开检测通道115。当第二遮光门160关闭第二开口113时,可以避免第一遮光门130打开后外部的强光损伤检测端121中的敏感器件;当第二遮光门160打开第二开口113时,检测端121与样本之间不存在遮挡物,检测装置120可以对样本进行检测。本申请所称的“第二遮光门160关闭或者打开第二开口113”应该以较为宽泛的含义进行理解,既可以是第二遮光门160完全遮蔽第二开口113,也即第二遮光门160与具有第二开口113的内壁面完全贴合,也可以是第二遮光门160与上述内壁面之间存在一定的间隙,其原因在于检测端121位于暗室主体110的腔体111内,暗室主体110的箱壁本身就能够起到一定的遮光作用,即使第一遮光门130处于打开状态,光线也仅能从第一开口112进入,进入量相对较少,当第二遮光门160处于图9所示的关闭位置时,又能够遮挡大部分的光线,因此即使第二遮光门160与内壁面未贴合而在二者之间存在一定间隙,也不会对检测端121中的敏感器件造成实质性的不利影响。
能够理解的是,第二遮光门160与第一遮光门130可以通过控制组件进行控制,也即,当第一遮光门130需要开启之前,控制组件控制第二遮光门160从开启位置移动至关闭位置;当第一遮光门130完全关闭之后且需要进行检测之前,控制组件控制第二遮光门160从关闭位置移动至开启位置,从而实现自动化操作,避免人工操作而带来的失误。
基于上述,本实施例的暗室组件利用可以移动的第二遮光门160实现检测通道115的打开与关闭,既不会阻碍检测装置120的检测,又能够在第一遮光门130打开时保护检测装置120中的敏感器件,有助于延长检测装置120的使用寿命。
参照图11、图12,暗室组件100还包括第三传感器170与第四传感器180,二者沿第二遮光门160的移动方向与暗室主体110连接,能够分别被移动至不同位置的第二遮光门160触发,从而实现对第二遮光门160的位置控制。具体地,第三传感器170与第四传感器180均安装在暗室主体110的同一侧(例如左侧),且第三传感器170位于第四传感器180的正上方,二者之间的距离等于第二遮光门160的工作行程。参照图9、图10,第二遮光门160上具有触发件161,具体是连接于第二遮光门160的表面且朝第二壳体180的方向伸出的触发片,第三传感器170与第四传感器180均采用相应的光电传感器,能够被经过的触发片触发,具体的,当第二遮光门160移动至图9所示的打开位置时,第三传感器170被触发片触发而处于触发状态,控制组件基于第三传感器170的状态信息判断第二遮光门160处于打开位置;当第二遮光门160移动至图5所示的关闭位置时,第四传感器180被触发片触发而处于触发状态,控制组件基于第四传感器180的状态信息判断第二遮光门160处于关闭位置。通过第三传感器170与第四传感器180的配合,能够较为精确地控制第二遮光门160的位置。能够理解的是,传感器也可以采用其他类型的传感器,例如机械触发式、磁感应式等,触发件161的结构、材质等可以根据传感器的类型进行调整。
能够理解的是,可以在暗室主体110上设置贯通的第二安装槽116,第三传感器170与第四传感器180安装在对应的第二安装槽116内,第二安装槽116的外侧开口可以通过第二遮光板1300(标记于图4、图7中)进行遮挡,以避免光线泄漏。
本发明第三实施例还公开了一种检测方法,应用于上述第一实施例及相关改进方案中的检测设备。本实施例的检测方法中,控制组件实时或者间隔的获取各工作组件的工作状态,并基于各工作组件的工作状态实现对各工作组件的控制。
模式一:
如果暗室组件100被控制组件判断为空闲状态,则控制组件控制进样组件200将样本容器300放入腔体111内。具体地,当第五传感器190处于未触发状态(暗室主体110内不存在样本容器300)时,暗室组件100可被判定为空闲状态。
能够理解的是,进样组件200在执行进样操作之前,控制组件还可以判断第一遮光门130的状态,如果第一传感器140处于触发状态,则意味着第一遮光门130处于关闭状态,此时控制组件需要先控制第四驱动机构1000工作,使得第一遮光门130转动以打开第一开口112,直至第二传感器150处于触发状态后第四驱动机构1000停止工作,第一遮光门130停留在打开位置;如果第一传感器140处于未触发状态,而第二传感器150处于触发状态,则意味着第一遮光门130处于打开状态,进样组件200可以直接执行进样操作。
模式二:
如果暗室组件100被控制组件判断为准备检测状态,则控制组件控制第一遮光门130关闭第一开口112,然后控制检测装置120对样本进行检测。具体地,当第五传感器190处于触发状态(暗室主体110内存在样本容器300),且检测装置120未执行检测操作,暗室组件100可被判定为准备检测状态。
模式三:
如果暗室组件100被控制组件判断为检测完成状态,则控制组件控制第一遮光门130打开第一开口112,然后控制进样组件200将样本容器300从腔体111内取出。具体地,当第五传感器190处于触发状态(暗室主体110内存在样本容器300),且检测装置120已经执行检测操作,暗室组件100可被判定为检测完成状态。
能够理解的是,对于检测装置120已经执行检测操作的判断,可以是检测装置120在完成检测后给控制组件发送相应的信号,也可以是以控制组件控制检测装置120开始检测的时刻为起点,经过设定时间后则拟定已经完成检测,其中,前者适用于样本间检测时间相距较大的情况,后面适应于样本间检测时间比较接近的情况,本实施例采用前者,能够精确地判断完成检测的时刻,减少空置时间,提升效率。
通常而言,单次检测时间的远大于进样组件200移入或者移出样本容器300的时间,因此通过单个进样组件200即可满足多个暗室组件100的物料移送需求,如果暗室组件100的数量较多,则可以是需求增加进样组件200的数量。
作为上述实施例的改进,在模式三中,当进样组件200将样本容器300从腔体111内取出之后,控制组件可以控制第一遮光门130关闭第一开口112,一方面可以避免杂物落入腔体111内,另一方面也可以减少外界强光对检测装置120的伤害。能够理解的是,当检测装置120对于外界光线耐受性较强时,第一遮光门130在再次检测之前可以一直处于打开状态,减少进样时间,提升进样效率。
以下结合图1至图8中的检测设备详细说明检测设备的检测方法,其中,当第一驱动机构220处于初始状态时,第二驱动机构230位于第一驱动机构220的行程中点处。当第二驱动机构230处于初始状态时,取样机构210处于第二驱动机构230行程的顶点处。第一遮光门130与第二遮光门160均以关闭位置为初始状态。检测装置120以未检测的状态为初始状态。
基于上述,当暗室组件100处于模式一,且第一遮光门130已经处于打开状态时,控制组件控制第一驱动机构220工作,第二驱动机构230与取样机构210向前运动至设定位置,然后第二驱动机构230驱动取样机构210向下运动获取未检测的样本容器300,获取后取样机构210向上复位,第一驱动机构220驱动第二驱动机构230与取样机构210向后运动至某一暗室组件110的正上方,第二驱动机构230再次驱动取样机构210向下运动,待样本容器300靠近第一开口112或者部分进入腔体111后释放样本容器300,样本容器300在重力的作用下滑入腔体111内的检测位置,第二驱动机构230与取样机构210复位至初始状态。
当暗室组件100处于模式二时,控制组件控制第四驱动机构1000工作以关闭第一遮光门130,然后控制组件控制检测装置120进行检测。
当暗室组件100处于模式三时,控制组件控制第四驱动机构1000工作以打开第一遮光门130,控制组件控制第一驱动机构220工作,第二驱动机构230与取样机构210向后运动至该暗室主体110的正上方,然后第二驱动机构230驱动取样机构210向下运动获取检测完成的样本容器300,获取后取样机构210向上复位,第一遮光门130复位至关闭状态,第一驱动机构220驱动第二驱动机构230与取样机构210向前运动至设定位置,第二驱动机构230再次驱动取样机构210向下运动,将完成检测的样本容器300释放至存储位置或者存储器具中,第二驱动机构230与取样机构210复位至初始状态。
本发明第四实施例同样公开了一种检测方法,应用于上述第二实施例及相关改进方案中的检测设备。本实施例的检测方法中,控制组件实时或者间隔的获取各工作组件的工作状态,并基于各工作组件的工作状态实现对各工作组件的控制。
模式一:
如果暗室组件100被控制组件判断为空闲状态,则控制组件控制进样组件200将样本容器300放入腔体111内。具体地,当第五传感器190处于未触发状态(暗室主体110内不存在样本容器300)时,暗室组件100可被判定为空闲状态。
能够理解的是,进样组件200在执行进样操作之前,控制组件还可以判断第一遮光门130的状态,如果第一传感器140处于触发状态,则意味着第一遮光门130处于关闭状态,此时控制组件需要先控制第四驱动机构1000工作,使得第一遮光门130转动以打开第一开口112,直至第二传感器150处于触发状态后第四驱动机构1000停止工作,第一遮光门130停留在打开位置;如果第一传感器140处于未触发状态,而第二传感器150处于触发状态,则意味着第一遮光门130处于打开状态,进样组件200可以直接执行进样操作。
模式二:
如果暗室组件100被控制组件判断为准备检测状态,则控制组件控制第一遮光门130关闭第一开口112,然后控制第二遮光门160打开第二开口112,最后控制检测装置120对样本进行检测。具体地,当第五传感器190处于触发状态(暗室主体110内存在样本容器300),且检测装置120未执行检测操作,暗室组件100可被判定为准备检测状态。
能够理解的是,检测装置120在执行检测操作之前,控制组件还可以判断第二遮光门160的状态,如果第三传感器170处于触发状态,则意味着第二遮光门160处于打开状态,此时检测装置120在第一遮光门130处于关闭状态的前提下可以直接执行检测操作;当第四传感器180处于触发状态,则意味着第二遮光门160处于关闭状态,此时控制组件需要控制第三驱动机构1200工作,使得第二遮光门160移动以打开第二开口113,直至第四传感器180处于触发状态后第三驱动机构1200停止工作,第二遮光门160停留在打开位置,检测装置12再执行检测操作。
模式三:
如果暗室组件100被控制组件判断为检测完成状态,则控制组件控制第一遮光门130打开第一开口112,然后控制进样组件200将样本容器300从腔体111内取出。具体地,当第五传感器190处于触发状态(暗室主体110内存在样本容器300),且检测装置120已经执行检测操作,暗室组件100可被判定为检测完成状态。
能够理解的是,对于检测装置120已经执行检测操作的判断,可以是检测装置120在完成检测后给控制组件发送相应的信号,也可以是以控制组件控制检测装置120开始检测的时刻为起点,经过设定时间后则拟定已经完成检测,其中,前者适用于样本间检测时间相距较大的情况,后面适应于样本间检测时间比较接近的情况,本实施例采用前者,能够精确地判断完成检测的时刻,减少空置时间,提升效率。
作为上述实施例的改进,在模式三中,当进样组件200将样本容器300从腔体111内取出之后,控制组件可以控制第一遮光门130关闭第一开口112,一方面可以避免杂物落入腔体111内,另一方面也可以减少外界强光对检测装置120的伤害。能够理解的是,当检测装置120对于外界光线耐受性较强时,第一遮光门130在再次检测之前可以一直处于打开状态,减少进样时间,提升进样效率。
作为上述实施例的另一改进,在模式三中,在判断暗室组件100的状态信息为检测完成状态之后,并在第一遮光门130打开第一开口112之前,先控制第二遮光门160关闭第二开口113,然后再控制进样组件200将样本容器300从腔体111内取出,如此可以极大地的减少外界强光对检测装置120的伤害。能够理解的是,在本实施例中,即使检测装置120对于外界光线耐受性较弱,第一遮光门130在再次检测之前也可以一直处于打开状态,从而减少进样时间,提升进样效率。
以下结合图9至图12中的检测设备详细说明检测设备的检测方法,其中,当第一驱动机构220处于初始状态时,第二驱动机构230位于第一驱动机构220的行程中点处。当第二驱动机构230处于初始状态时,取样机构210处于第二驱动机构230行程的顶点处。检测装置120以未检测的状态为初始状态。第一遮光门130与第二遮光门160均以关闭位置为初始状态。检测装置120以未检测的状态为初始状态。
基于上述,当暗室组件100处于模式一,且第一遮光门130已经处于打开状态时,控制组件控制第一驱动机构220工作,第二驱动机构230与取样机构210向前运动至设定位置,然后第二驱动机构230驱动取样机构210向下运动获取未检测的样本容器300,获取后取样机构210向上复位,第一驱动机构220驱动第二驱动机构230与取样机构210向后运动至某一暗室组件110的正上方,第二驱动机构230再次驱动取样机构210向下运动,待样本容器300靠近第一开口112或者部分进入腔体111后释放样本容器300,样本容器300在重力的作用下滑入腔体111内的检测位置,第二驱动机构230与取样机构210复位至初始状态。
当暗室组件100处于模式二时,控制组件首先控制第四驱动机构1000工作以关闭第一遮光门130,然后控制第三驱动机构1200工作以打开第二遮光门160,最后控制组件控制检测装置120进行检测。
当暗室组件100处于模式三时,控制组件首先控制第三驱动机构1200工作以关闭第二遮光门160,然后控制第四驱动机构1000工作以打开第一遮光门130,第一驱动机构220随后驱动第二驱动机构230与取样机构210向后运动至该暗室主体110的正上方,然后第二驱动机构230驱动取样机构210向下运动获取检测完成的样本容器300,获取后取样机构210向上复位,第一遮光门130复位至关闭状态,第二遮光门160保持在关闭状态,第一驱动机构220驱动第二驱动机构230与取样机构210向前运动至设定位置,第二驱动机构230再次驱动取样机构210向下运动,将完成检测的样本容器300释放至存储位置或者存储器具中,第二驱动机构230与取样机构210复位至初始状态。
上面结合附图对本发明实施例作了详细说明,但是本发明不限于上述实施例,在所属技术领域普通技术人员所具备的知识范围内,还可以在不脱离本发明宗旨的前提下作出各种变化。此外,在不冲突的情况下,本发明的实施例及实施例中的特征可以相互组合。

Claims (12)

1.检测设备,用于对样本容器内的样本进行检测,其特征在于,包括:
多个独立工作的暗室组件,所述暗室组件包括暗室主体、检测装置与第一遮光门,所述暗室主体具有腔体与第一开口,所述第一开口供所述样本容器进出所述腔体;所述第一遮光门连接于所述第一开口,能够受控地打开或者关闭所述第一开口;所述检测装置连接于所述暗室主体,用于对所述腔体内的样本进行检测;
进样组件,包括用于从所述腔体中取放所述样本容器的取样机构;
控制组件,分别与所述进样组件和各所述暗室组件通讯连接,以控制所述第一遮光门的开闭、所述检测装置的检测以及所述取样机构对各所述暗室组件执行的取放操作。
2.根据权利要求1所述的检测设备,其特征在于,多个所述暗室组件沿水平的第一方向排列,且所述第一开口位于所述暗室主体的顶部。
3.根据权利要求2所述的检测设备,其特征在于,所述进样组件还包括:
第一驱动机构,用于驱动所述取样机构在所述暗室组件上方沿所述第一方向移动;
第二驱动机构,用于驱动所述取样机构沿竖直方向移动。
4.根据权利要求1所述的检测设备,其特征在于,所述暗室组件还包括:
第一传感器,连接于所述暗室主体,能够被转动至关闭位置的所述第一遮光门触发;
第二传感器,连接于所述暗室主体,能够被转动至打开位置的所述第一遮光门触发;
其中,所述控制组件分别与所述第一传感器及所述第二传感器通讯连接。
5.根据权利要求1所述的检测设备,其特征在于,所述暗室组件还包括第五传感器,所述第五传感器连接于所述暗室主体,能够被位于所述暗室主体内且位于检测位置的所述样本容器触发;
所述控制组件与所述第五传感器通讯连接。
6.根据权利要求1所述的检测设备,其特征在于,所述暗室主体还具有第二开口,所述检测装置连接于所述暗室主体的外侧,能够通过所述第二开口对所述腔体内的样本进行检测;
所述暗室组件还包括第二遮光门,第二遮光门与所述暗室主体连接,并能够相对所述暗室主体移动以关闭或者打开所述第二开口。
7.根据权利要求6所述的检测设备,其特征在于,所述暗室组件还包括第三传感器与第四传感器,所述第三传感器能够被移动至打开位置的所述第二遮光门触发;所述第四传感器能够被移动至关闭位置的所述第二遮光门触发;
所述控制组件分别与所述第三传感器及所述第四传感器通讯连接。
8.检测方法,应用于如权利要求1至5任一项所述的检测设备,其特征在于,包括以下步骤:
判断所述暗室组件的状态信息,如果为空闲状态,则控制所述进样组件将所述样本容器放入所述腔体内;
判断所述暗室组件的状态信息,如果为准备检测状态,则控制所述第一遮光门关闭所述第一开口,并控制所述检测装置对样本进行检测;
判断所述暗室组件的状态信息,如果为检测完成状态,则控制所述第一遮光门打开所述第一开口,然后控制所述进样组件将所述样本容器从所述腔体内取出。
9.根据权利要求8所述的检测方法,其特征在于,在控制所述进样组件将所述样本容器从所述腔体内取出之后,还包括:控制所述第一遮光门关闭所述第一开口。
10.检测方法,应用于如权利要求6或7所述的检测设备,其特征在于,包括以下步骤:
判断所述暗室组件的状态信息,如果为空闲状态,则控制所述进样组件将所述样本容器放入所述腔体内;
判断所述暗室组件的状态信息,如果为准备检测状态,则先控制所述第一遮光门关闭所述第一开口,然后控制所述第二遮光门打开所述第二开口,最后控制所述检测装置对样本进行检测;
判断所述暗室组件的状态信息,如果为检测完成状态,则控制所述第一遮光门打开所述第一开口,然后控制所述进样组件将所述样本容器从所述腔体内取出。
11.根据权利要求10所述的检测方法,其特征在于,在判断所述暗室组件的状态信息为检测完成状态之后、并在所述第一遮光门打开所述第一开口之前,还包括:控制所述第二遮光门关闭所述第二开口。
12.根据权利要求10所述的检测方法,其特征在于,在控制所述进样组件将所述样本容器从所述腔体内取出之后,还包括:控制所述第一遮光门关闭所述第一开口。
CN202110738510.9A 2021-06-30 2021-06-30 检测设备与检测方法 Pending CN113358672A (zh)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN202110738510.9A CN113358672A (zh) 2021-06-30 2021-06-30 检测设备与检测方法

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN202110738510.9A CN113358672A (zh) 2021-06-30 2021-06-30 检测设备与检测方法

Publications (1)

Publication Number Publication Date
CN113358672A true CN113358672A (zh) 2021-09-07

Family

ID=77537534

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
CN202110738510.9A Pending CN113358672A (zh) 2021-06-30 2021-06-30 检测设备与检测方法

Country Status (1)

Country Link
CN (1) CN113358672A (zh)

Similar Documents

Publication Publication Date Title
EP0209660B1 (en) Apparatus and method for automated cassette handling
CN208689063U (zh) 一种样本分析系统
JPH10332709A (ja) 試料を自動的に移送し混合し吸引する方法及び装置と試料管支持用ラック
JP6538905B2 (ja) 試薬カード分析装置
CN215339583U (zh) 检测设备
CN111637675A (zh) 一种样本低温自动储存设备及方法
JPH11145244A (ja) 基板処理装置
JP2019102753A (ja) ロードポート
CN110398591A (zh) 一种样本分析系统和一种样本分析系统控制方法
CN113358672A (zh) 检测设备与检测方法
US4984111A (en) Magnetic tape recorder with capstan cassette transport
CN114200155A (zh) 辅助进样装置、检测设备与进样方法
CN215263213U (zh) 暗室组件与检测设备
CN208621630U (zh) 一种样本分析系统
JP2752271B2 (ja) X線フィルムカセットの移送装置
CN110133315B (zh) 样本分析设备以及样本分析设备的样本转运控制方法
CN215263212U (zh) 暗室组件与检测设备
CN111239381A (zh) 一种微流控化学发光免疫分析仪
CN212845100U (zh) 检测设备
CN212845121U (zh) 暗室组件与检测设备
CN110398602A (zh) 一种样本分析系统和一种样本分析系统控制方法
WO2022174512A1 (zh) 一种避光检测系统及其实施方法
CN215339584U (zh) 暗室组件与检测设备
JPS62146850A (ja) カセツテレスx線撮影装置
CN220323684U (zh) 一种自反馈快门

Legal Events

Date Code Title Description
PB01 Publication
PB01 Publication
SE01 Entry into force of request for substantive examination
SE01 Entry into force of request for substantive examination