CN113358068A - 一种落地式脚手架的校正方法及装置 - Google Patents

一种落地式脚手架的校正方法及装置 Download PDF

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Abstract

本发明提供的一种落地式脚手架的校正方法及装置，通过根据脚手架的大小建立包围盒，并设置激光测距设备，所述包围盒内设有若干个采样点；通过所述激光测距设备对每个采样点进行测距，得到相应的测量值；通过勾股定理计算得到理论值，并根据所述测量值和理论值对所述脚手架进行校正，利用几何学来解决建筑工程领域中的落地式脚手架的安全检验和校正问题，对落地式脚手架的搭建过程中地面平整性检测及扫地杆规范性检测进行自动化检验，降低了人工检测可能导致的错漏风险。

Description

一种落地式脚手架的校正方法及装置
技术领域
本发明涉及计算机技术领域，特别涉及一种落地式脚手架的校正方法及装置。
背景技术
现有技术中通常采用人工测量的方式对落地式脚手架进行校正，效率低且准确度较低，而且通过人工检测可能导致错漏风险，从而引发安全事故。
因此，需要一种落地式脚手架的校正方法及装置，能够实现对落地式脚手架的搭建过程中地面平整性检测及扫地杆规范性检测进行自动化检验，降低人工检测可能导致的错漏风险。
发明内容
(一)要解决的技术问题
为了解决现有技术的上述问题，本发明提供一种落地式脚手架的校正方法及装置，能够实现对落地式脚手架的搭建过程中地面平整性检测及扫地杆规范性检测进行自动化检验，降低人工检测可能导致的错漏风险。
(二)技术方案
为了达到上述目的，本发明采用的一种技术方案为：
一种落地式脚手架的校正方法,包括步骤：
S1、根据脚手架的大小建立包围盒，并设置激光测距设备，所述包围盒内设有若干个采样点；
S2、通过所述激光测距设备对每个采样点进行测距，得到相应的测量值；
S3、通过勾股定理计算得到理论值，并根据所述测量值和理论值对所述脚手架进行校正。
为了达到上述目的，本发明采用的另一种技术方案为：
一种落地式脚手架的校正装置，包括存储器、处理器及存储在存储器上并可在处理器上运行的计算机程序，所述处理器执行所述程序时实现以下步骤：
S1、根据脚手架的大小建立包围盒，并设置激光测距设备，所述包围盒内设有若干个采样点；
S2、通过所述激光测距设备对每个采样点进行测距，得到相应的测量值；
S3、通过勾股定理计算得到理论值，并根据所述测量值和理论值对所述脚手架进行校正。
(三)有益效果
本发明的有益效果在于：通过根据脚手架的大小建立包围盒，并设置激光测距设备，所述包围盒内设有若干个采样点；通过所述激光测距设备对每个采样点进行测距，得到相应的测量值；通过勾股定理计算得到理论值，并根据所述测量值和理论值对所述脚手架进行校正，利用几何学来解决建筑工程领域中的落地式脚手架的安全检验和校正问题，对落地式脚手架的搭建过程中地面平整性检测及扫地杆规范性检测进行自动化检验，降低了人工检测可能导致的错漏风险。
附图说明
图1为本发明实施例的落地式脚手架的校正方法的流程图；
图2为本发明实施例的落地式脚手架的校正装置的整体结构示意图；
图3为本发明实施例的理论值原理示意图的俯视图；
图4为本发明实施例的理论值原理示意图的右视图；
图5为本发明实施例的扫地杆扣件原理示意图。
【附图标记说明】
1：落地式脚手架的校正装置；
2：存储器；
3：处理器。
具体实施方式
为了更好的解释本发明，以便于理解，下面结合附图，通过具体实施方式，对本发明作详细描述。
请参照图1-5，一种落地式脚手架的校正方法,包括步骤：
S1、根据脚手架的大小建立包围盒，并设置激光测距设备，所述包围盒内设有若干个采样点；
步骤S1具体为：
根据所述脚手架的大小建立长方形包围盒，并将激光测距设备放置于所述长方形包围盒长边的中点处，所述包围盒内均匀设有若干个采样点。
具体地，例如包围盒内间隔10厘米设置一个采样点。
S2、通过所述激光测距设备对每个采样点进行测距，得到相应的测量值；
S3、通过勾股定理计算得到理论值，并根据所述测量值和理论值对所述脚手架进行校正。
步骤S3包括：
通过勾股定理计算得到理论值，并判断所述测量值和理论值的差值是否小于第一预设值，若否，则对所述脚手架进行校正。
具体地，请参照图3和4，其中O点为工地包围盒长边的中心点，A点为某一个采样点，B点为A点在长方形包围盒长边上的投影，那么AB长已知，BO长也已知，可用勾股定理求AO长度；
在上一步骤中求得AO，CO的长度即为测距仪的高度，通过勾股定理，可求得理论值AC。
步骤S3还包括：
根据所述测距设备转动的角度和余弦定理计算得到所述脚手架中扫地杆扣件距离地面的高度，并判断所述高度是否小于第二预设值，若否，则对所述脚手架进行校正。
具体地，请参照图5，将底部扣件D和接地处E作为采样点，在工地包围盒点长边上移动测距仪使其与DE点距离最短，测得距离DC与EC，记录两次测距时测距仪转动的夹角a，根据余弦定理可求得DE，即为扫地杆扣件距离地面的高度；
Figure BDA0003039283430000041
按上述方法依次测量所有的扣件离地高度，所有扣件离地高度均小于200mm时测试通过。
实施例二
请参照图2，一种落地式脚手架的校正装置1，包括存储器2、处理器3及存储在存储器2上并可在处理器3上运行的计算机程序，所述处理器3执行所述程序时实现实施例一中的各个步骤。
以上所述仅为本发明的实施例，并非因此限制本发明的专利范围，凡是利用本发明说明书及附图内容所作的等同变换，或直接或间接运用在相关的技术领域，均同理包括在本发明的专利保护范围内。

Claims (8)

1.一种落地式脚手架的校正方法,其特征在于,包括步骤：
S1、根据脚手架的大小建立包围盒，并设置激光测距设备，所述包围盒内设有若干个采样点；
S2、通过所述激光测距设备对每个采样点进行测距，得到相应的测量值；
S3、通过勾股定理计算得到理论值，并根据所述测量值和理论值对所述脚手架进行校正。
2.根据权利要求1所述的落地式脚手架的校正方法，其特征在于，步骤S1具体为：
根据所述脚手架的大小建立长方形包围盒，并将激光测距设备放置于所述长方形包围盒长边的中点处，所述包围盒内均匀设有若干个采样点。
3.根据权利要求1所述的落地式脚手架的校正方法，其特征在于，步骤S3包括：
通过勾股定理计算得到理论值，并判断所述测量值和理论值的差值是否小于第一预设值，若否，则对所述脚手架进行校正。
4.根据权利要求1所述的落地式脚手架的校正方法，其特征在于，步骤S3还包括：
根据所述测距设备转动的角度和余弦定理计算得到所述脚手架中扫地杆扣件距离地面的高度，并判断所述高度是否小于第二预设值，若否，则对所述脚手架进行校正。
5.一种落地式脚手架的校正装置，包括存储器、处理器及存储在存储器上并可在处理器上运行的计算机程序，其特征在于，所述处理器执行所述程序时实现以下步骤：
S1、根据脚手架的大小建立包围盒，并设置激光测距设备，所述包围盒内设有若干个采样点；
S2、通过所述激光测距设备对每个采样点进行测距，得到相应的测量值；
S3、通过勾股定理计算得到理论值，并根据所述测量值和理论值对所述脚手架进行校正。
6.根据权利要求5所述的落地式脚手架的校正装置，其特征在于，步骤S1具体为：
根据所述脚手架的大小建立长方形包围盒，并将激光测距设备放置于所述长方形包围盒长边的中点处，所述包围盒内均匀设有若干个采样点。
7.根据权利要求5所述的落地式脚手架的校正装置，其特征在于，步骤S3包括：
通过勾股定理计算得到理论值，并判断所述测量值和理论值的差值是否小于第一预设值，若否，则对所述脚手架进行校正。
8.根据权利要求5所述的落地式脚手架的校正装置，其特征在于，步骤S3还包括：
根据所述测距设备转动的角度和余弦定理计算得到所述脚手架中扫地杆扣件距离地面的高度，并判断所述高度是否小于第二预设值，若否，则对所述脚手架进行校正。
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