CN113333312A - 一种dfn微型器件测试分选设备 - Google Patents

Abstract

本发明公开了一种DFN微型器件测试分选设备，具体包括底座和安装于底座的分度装置；底座上沿分度装置的旋转方向依次安装有上料装置、引脚位置检测装置、转向装置、测试装置、NG下料装置和封装装置；分度装置用于流转DFN微型器件；引脚位置检测装置包括引脚检测第一工位、引脚检测第二工位、引脚检测第三工位、传送组件、阻光带组件、透光带组件和感光组件。具体地，通过令DFN微型器件、阻光带、透光带相叠合，令阻光带上的不透光涂料粘在透光带上，而DFN微型器件表面上的前序加工时留下的文字刻痕则会使透光带上保留有对应的透光区域；最终通过判断透光带的透光区域位置，判断DFN微型器件的引脚分布，提高了检测精度，从而提高了检测效率。

Description

一种DFN微型器件测试分选设备

技术领域

本发明涉及DFN微型器件分选领域，尤其涉及一种DFN微型器件测试分选设备。

背景技术

随着电子产品的发展，例如笔记本电脑、手机、迷你CD、掌上电脑、CPU、数码照相机等消费类电子产品越来越向小型化方向发展。其中，作为核心的DFN微型器件等芯片起到关键的作用，其中，DFN微型器件在成品工序中包括一道分选工序，分选工序的作用是将不合格的DFN微型器件筛除。

现有技术中主要采用振动盘将DFN微型器件输向分选设备中，其中，振动盘虽然能够保证DFN微型器件的第一面朝上且引脚方位统一，但对于引脚对称分布的DFN微型器件而言，容易出现其中一个DFN微型器件与其他DFN微型器件的引脚分布不同的现象(即视觉上引脚位置是正确的，但是实际上是引脚错误的情况)，接着由分选设备的检测装置和拨位装置将DFN微型器件的引脚分布统一，便于分选设备中的检测装置对DFN微型器件进行检测，从而避免出现因为DFN微型器件的引脚分布混乱引起的检测装置检测错误的现象。

其中，现有技术中的检测装置主要采用两个形式，一种是利用CCD检测DFN微型器件的形状从而判断DFN微型器件的位置，但是对于引脚对称分布的DFN微型器件而言，无法判断其引脚是否错位；另一种是电性检测，其通过提前检测对DFN微型器件进行接电，通过判断是否导通来确定DFN微型器件的引脚是否错位。采用电性检测的方式虽然可以针对引脚对称的DFN微型器件进行引脚位置检测，但其在检测过程中容易出现接触不良的现象，不利于对DFN微型器件的引脚检测，降低了分选设备的分选精度，并且采用电性检测的方式需要确保DFN微型器件的与检测装置的检测头接触才能判断，效率低下，即需要研发一种分选设备能够高精度地、高效地完成对DFN微型器件的引脚位置检测。

发明内容

本发明的目的在于提供一种DFN微型器件测试分选设备，来解决目前分选设备分选精度低、效率低下的问题。

为达此目的，本发明采用以下技术方案：

一种DFN微型器件测试分选设备，包括底座和安装于所述底座的分度装置；

所述底座上沿所述分度装置的旋转方向依次安装有上料装置、引脚位置检测装置、转向装置、测试装置、NG下料装置和封装装置；所述分度装置用于流转DFN微型器件；

所述引脚位置检测装置包括引脚检测第一工位、引脚检测第二工位和引脚检测第三工位；

所述引脚检测第一工位和所述引脚检测第二工位之间设置有用于传送DFN微型器件的传送组件；所述传送组件能在所述引脚检测第一工位和所述引脚检测第二工位之间移动；

所述引脚检测第二工位上设置有阻光带组件，所述阻光带组件内设置有涂有不透光涂料的阻光带；

所述引脚检测第二工位和所述引脚检测第三工位之间设置有用于透光带组件，所述透光带组件内设置有透光的透光带且所述透光带组件能在所述引脚检测第二工位和所述引脚检测第三工位之间移动；

所述引脚检测第三工位上设置有感光组件，所述感光组件用于检测所述透光带的透光率。

可选地，所述传送装置包括安装于底座上的第一导轨；所述第一导轨上滑动连接有传送座；所述传送座的内部设置有伸缩装置；所述伸缩装置的伸缩端安装有凸台，所述凸台上嵌设有用于吸附固定DFN微型器件的负压装置。

可选地，所述阻光带组件包括安装于所述第一导轨上的阻光底座；

所述阻光底座的一端安装有阻光带出料辊，所述阻光底座的另一端安装有阻光带回收辊，所述阻光带的一端缠绕于所述阻光带出料辊上，所述阻光带的另一端缠绕于所述阻光带回收辊上，所述不透光涂料涂设在所述阻光带远离所述阻光底座的一端。

可选地，所述阻光带回收辊连接有驱动装置，所述驱动装置用于驱动所述阻光带回收辊转动。

可选地，所述透光带组件包括第二导轨；

所述第二导轨上安装有透光带底座，所述透光带底座能在所述第二导轨上滑动，所述透光带底座的一端安装有透光带出料辊，所述透光带底座的另一端安装有透光带回收辊，所述透光带的一端缠绕于所述透光带出料辊上，所述透光带的另一端缠绕于所述透光带回收辊上。

可选地，所述透光带底座开设有安装槽，所述透光带出料辊与所述透光带回收辊之间的透光带位于所述安装槽内；所述安装槽的槽底与所述透光带之间设置有抵接座，所述抵接座用于支撑所述透光带与所述阻光带抵接。

可选地，所述透光底座与所述第二导轨可拆卸地连接；所述透光底座的另一端设置有电机；所述电机套设于透光带回收辊内，且所述电机的内圈定子与所述透光底座固定连接，所述电机的外圈定子与所述透光带回收辊固定连接。

可选地，所述感光组件包括呈四角分布的四个感光元件。

可选地，所述感光组件包括一感光元件，所述感光元件上套设有挡块，所述挡块上开设有透光槽，所述透光槽与DFN微型器件上的刻槽形状相匹配。

可选地，在所述NG下料装置和所述封装装置之间还依次设置有镭射装置和CCD检测装置。

与现有技术相比，本发明具有以下有益效果：

本发明提供的DFN微型器件测试分选设备，在上料装置将DFN微型器件上料后，分度装置将DFN微型器件夹取至引脚位置检测装置的引脚检测第一工位，传送组件将DFN微型器件从引脚检测第一工位夹取至引脚检测第二工位，接着传送装置使得DFN微型器件、阻光带、透光带相叠合，令阻光带上的不透光涂料粘在透光带上，而DFN微型器件表面上的前序加工时留下的文字凹痕则会使透光带上保留有对应的透光区域；最终，透光带组件带动透光带移动至感光组件处，通过判断透光带的透光区域位置，判断DFN微型器件的引脚分布；即本DFN微型器件测试分选设备通过上述方式实现了引脚分布的判断，无需电性检测也能实现对引脚对称分布的DFN微型器件的引脚位置检测，避免了接触不良的问题，提高了检测精度，从而提高了检测效率。

附图说明

为了更清楚地说明本发明实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动性的前提下，还可以根据这些附图获得其它的附图。

本说明书附图所绘示的结构、比例、大小等，均仅用以配合说明书所揭示的内容，以供熟悉此技术的人士了解与阅读，并非用以限定本发明可实施的限定条件，故不具技术上的实质意义，任何结构的修饰、比例关系的改变或大小的调整，在不影响本发明所能产生的功效及所能达成的目的下，均应仍落在本发明所揭示的技术内容得能涵盖的范围内。

图1为本发明实施例提供的DFN微型器件测试分选设备的整体结构示意图；

图2为本发明实施例提供的DFN微型器件测试分选设备的第一过程图；

图3为本发明实施例提供的DFN微型器件测试分选设备的第二过程图；

图4为本发明实施例提供的DFN微型器件测试分选设备的第三过程图；

图5为本发明实施例的阻光带组件和透光带组件的剖面结构示意图；

图6为图5在A处的局部放大结构示意图；

图7为图5在B处的局部放大结构示意图；

图8为图5在C处的局部放大结构示意图；

图9为本发明实施例的透光带与感光组件的工作原理图；

图10为本发明实施例的DFN微型器件的示意图。

图示说明：10、底座；11、分度装置；20、上料装置；

30、引脚位置检测装置；301、引脚检测第一工位；302、引脚检测第二工位；303、引脚检测第三工位；

304、传送组件；3041、第一导轨；3042、传送座；3043、伸缩装置；3044、凸台；

305、阻光带组件；3051、阻光带；3052、阻光底座；3053、阻光带出料辊；3054、阻光带回收辊；

306、透光带组件；3061、透光带；3062、第二导轨；3063、透光带底座；3064、透光带出料辊；3065、透光带回收辊；3066、抵接座；

307、感光组件；3071、感光元件；

40、转向装置；50、测试装置；60、NG下料装置；70、封装装置；80、镭射装置；90、CCD检测装置；100、DFN微型器件。

具体实施方式

为使得本发明的发明目的、特征、优点能够更加的明显和易懂，下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，下面所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例，而非全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其它实施例，都属于本发明保护的范围。

在本发明的描述中，需要理解的是，术语“上”、“下”、“顶”、“底”、“内”、“外”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本发明和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本发明的限制。需要说明的是，当一个组件被认为是“连接”另一个组件，它可以是直接连接到另一个组件或者可能同时存在居中设置的组件。

下面结合附图并通过具体实施方式来进一步说明本发明的技术方案。

请参考图1至图10，图1为本发明实施例提供的DFN微型器件测试分选设备的整体结构示意图,图2为本发明实施例提供的DFN微型器件测试分选设备的第一过程图,图3为本发明实施例提供的DFN微型器件测试分选设备的第二过程图,图4为本发明实施例提供的DFN微型器件测试分选设备的第三过程图,图5为本发明实施例的阻光带组件和透光带组件的剖面结构示意图,图6为图5在A处的局部放大结构示意图,图7为图5在B处的局部放大结构示意图,图8为图5在C处的局部放大结构示意图,图9为本发明实施例的透光带与感光组件的工作原理图,图10为本发明实施例的DFN微型器件的示意图。

本实施例提供的DFN微型器件测试分选设备应用于DFN微型器件等芯片的分选工序中，能够高效、高精度地完成对DFN微型器件的分选，克服现有技术中CCD系统和电性检测的缺点。

如图1至图5所示，DFN微型器件测试分选设备包括底座10和安装于底座10的分度装置11。其中，分度装置11包括由电机驱动的转盘，转盘上安装有多个夹具，夹具用于抓取DFN微型器件。

底座10上沿分度装置11的旋转方向依次安装有上料装置20、引脚位置检测装置30、转向装置40、测试装置50、NG下料装置60和封装装置70；分度装置11用于流转DFN微型器件。其中，转向装置40用于在DFN微型器件100的引脚分布错误后进行调整，测试装置50包括但不限于对DFN微型器件的外观、功能测试，NG下料装置60用于将不合格的DFN微型器件下料，封装装置70用于将合格的DFN微型器件封装。其中，需要说明的是，上料装置20包括震动盘，其可以将DFN微型器件按顺序排列，且使DFN微型器件的引脚分布仅存在两个情况，一种是如图10中的正确分布，另一种是分布与图中呈对角对称，即视觉上引脚位置是正确的，但是实际上是引脚错误的情况。

引脚位置检测装置30包括引脚检测第一工位301、引脚检测第二工位302和引脚检测第三工位303。

引脚检测第一工位301和引脚检测第二工位302之间设置有用于传送DFN微型器件的传送组件304；传送组件304能在引脚检测第一工位301和引脚检测第二工位302之间移动。

引脚检测第二工位302上设置有阻光带组件305，阻光带组件305内设置有涂有不透光涂料的阻光带3051。

引脚检测第二工位302和引脚检测第三工位303之间设置有用于转印不透光涂料的透光带组件306，透光带组件306内设置有透光的透光带3061且透光带组件306能在引脚检测第二工位302和引脚检测第三工位303之间移动。

当传送组件304及透光带组件306均位于引脚检测第二工位302时，传送组件304还用于使DFN微型器件、阻光带3051及透光带3061相叠合。

引脚检测第三工位303上设置有感光组件307，感光组件307用于检测透光带3061的透光率。

具体地，在上料装置20将DFN微型器件100上料后，分度装置11将DFN微型器件100夹取至引脚位置检测装置30的引脚检测第一工位301，传送组件304将DFN微型器件100从引脚检测第一工位301夹取至引脚检测第二工位302，接着传送装置304使得DFN微型器件100、阻光带3051、透光带3061相叠合，令阻光带3051上的不透光涂料粘在透光带3061上，而DFN微型器件100表面上的前序加工时留下的文字的刻槽则会使透光带3061上保留有对应的透光区域；最终，透光带组件306带动透光带306移动至感光组件307处，通过判断透光带的透光区域位置，判断DFN微型器件100的引脚分布；即本DFN微型器件测试分选设备通过上述方式实现了引脚分布的判断，无需电性检测也能实现对引脚对称分布的DFN微型器件的引脚位置检测，避免了接触不良的问题，提高了检测精度，从而提高了检测效率。

进一步地，如图5至图8所示，传送装置304包括安装于底座10上的第一导轨3041；第一导轨3041上滑动连接有传送座3042；传送座3042的内部设置有伸缩装置3043；伸缩装置3043的伸缩端安装有凸台3044，凸台3044上嵌设有用于吸附固定DFN微型器件的负压装置。其中，当伸缩端伸出时，凸台3044能沿远离传送座3042的方向向外移动。

进一步地，如图5至图8所示，阻光带组件305包括安装于第一导轨3041上的阻光底座3052。

阻光底座3052的一端安装有阻光带出料辊3053，阻光底座3053的另一端安装有阻光带回收辊3054，阻光带3051的一端缠绕于阻光带出料辊3053上，阻光带3051的另一端缠绕于阻光带回收辊3054上，不透光涂料涂设在阻光带3051远离阻光底座3052的一端。

在一个具体的实施方式中，阻光带回收辊3054连接有驱动装置，驱动装置用于驱动阻光带回收辊3054转动。

进一步地，透光带组件306包括第二导轨3062。

第二导轨3062上安装有透光带底座3063，透光带底座3063能在第二导轨3062上滑动，透光带底座3063的一端安装有透光带出料辊3064，透光带底座3063的另一端安装有透光带回收辊3065，透光带3061的一端缠绕于透光带出料辊3064上，透光带3061的另一端缠绕于透光带回收辊3065上。

进一步地，透光带底座3063开设有安装槽，透光带出料辊3064与透光带回收辊3065之间的透光带3061位于安装槽内；安装槽的槽底与透光带3061之间设置有抵接座3066，抵接座3066用于支撑透光带3061与阻光带3051抵接。其中，抵接座3066内嵌设有发光源。

进一步地，透光底座3063与第二导轨3062可拆卸地连接；透光底座3063的另一端设置有电机；电机套设于透光带回收辊3065内，且电机的内圈定子与透光底座3063固定连接，电机的外圈定子与透光带回收辊3065固定连接。其中，透光带组件306采用与第二导轨3062可拆，其电机可以选用无刷轮毂电机，便于透光带组件306的整体拆下，便于工作人员更换透光带3061。

在一个可选的实施方式中，如图9所示，感光组件307包括呈四角分布的四个感光元件3071。

在另一个可选的实施方式中，感光组件307包括一感光元件3071，感光元件3071上套设有挡块，挡块上开设有透光槽，透光槽与DFN微型器件上的刻槽形状相匹配。示例性的，只有当发光源透过透光带3061和透光槽才能令感光组件307接收到光信号，当DFN微型器件100位置放错时，则透光带3061和透光槽位置不匹配，感光组件307接收不到光信号，则可以判断DFN微型器件100的引脚位置错误(需要说明的是，通过上料装置20的振动盘上料后，DFN微型器件100的位置仅有两种情况，一种如图10中的分布，另一种分布与图中呈对角对称，即视觉上引脚位置是正确的，但是实际上是引脚错误的情况)。

需要补充的是，在NG下料装置60和封装装置70之间还依次设置有镭射装置80和CCD检测装置90。

接下来，具体说明DFN微型器件测试分选设备的工作流程；S1、上料装置20将DFN微型器件100输送上料，分度装置11的转盘上的吸盘吸取DFN微型器件100至引脚检测第一工位301，此时引脚位置检测装置30的分布如图2所示；S2、分度装置11的转盘上的吸盘吸取DFN微型器件100松开DFN微型器件100，凸台3044上的负压装置产生负压吸紧DFN微型器件100；S3、如图3所示，传送组件304的驱动电机通过传动机构驱动传送座3042向引脚检测第二工位302移动；随后，伸缩装置3043带动凸台3044向靠近透光带3061的方向移动，使得DFN微型器件100、透光带3061、阻光带3052和抵接座3066相互挤压，令阻光带3052上的不透光涂料粘附于透光带3061中，其中，DFN微型器件100(如图10中的“DFN”字样的刻槽)的刻槽由于高度差不会与阻光带3052接触，使得透光带3061形成涂料层，涂料层仍保留又对应刻槽的位置的透光区域；S4、接着，如图4所示，传送座304带动DFN微型器件100回到引脚检测第一工位301，分度装置20夹取DFN微型器件100，在这个期间，透光带组件306的驱动装置驱动透光带底座3063向引脚检测第三工位303移动，其中，抵接座3066中的发光源发光，光透过透光区域触发感光组件307，从而完成对DFN微型器件100的引脚位置的判断；其中，需要理解的是，检测步骤和分度装置20夹取DFN微型器件100至下一个工位是同时进行的，能够极大地提高工作效率。

综上所述，本实施例提供的DFN微型器件测试分选设备，具有精度高、工作效率高的优点。

以上所述，以上实施例仅用以说明本发明的技术方案，而非对其限制；尽管参照前述实施例对本发明进行了详细的说明，本领域的普通技术人员应当理解：其依然可以对前述各实施例所记载的技术方案进行修改，或者对其中部分技术特征进行等同替换；而这些修改或者替换，并不使相应技术方案的本质脱离本发明各实施例技术方案的精神和范围。

Claims (10)

1.一种DFN微型器件测试分选设备，其特征在于，包括底座(10)和安装于所述底座(10)的分度装置(11)；

所述底座(10)上沿所述分度装置(11)的旋转方向依次安装有上料装置(20)、引脚位置检测装置(30)、转向装置(40)、测试装置(50)、NG下料装置(60)和封装装置(70)；所述分度装置(11)用于流转DFN微型器件；

所述引脚位置检测装置(30)包括引脚检测第一工位(301)、引脚检测第二工位(302)和引脚检测第三工位(303)；

所述引脚检测第一工位(301)和所述引脚检测第二工位(302)之间设置有用于传送DFN微型器件的传送组件(304)；所述传送组件(304)能在所述引脚检测第一工位(301)和所述引脚检测第二工位(302)之间移动；

所述引脚检测第二工位(302)上设置有阻光带组件(305)，所述阻光带组件(305)内设置有涂有不透光涂料的阻光带(3051)；

所述引脚检测第二工位(302)和所述引脚检测第三工位(303)之间设置有透光带组件(306)，所述透光带组件(306)内设置有透光的透光带(3061)且所述透光带组件(306)能在所述引脚检测第二工位(302)和所述引脚检测第三工位(303)之间移动；

当所述传送组件(304)及所述透光带组件(306)均位于所述引脚检测第二工位(302)时，所述传送组件(304)还用于使DFN微型器件、阻光带(3051)及透光带(3061)相叠合；

所述引脚检测第三工位(303)上设置有感光组件(307)，所述感光组件(307)用于检测所述透光带(3061)的透光率。

2.根据权利要求1所述的DFN微型器件测试分选设备，其特征在于，所述传送装置(304)包括安装于底座(10)上的第一导轨(3041)；所述第一导轨(3041)上滑动连接有传送座(3042)；所述传送座(3042)的内部设置有伸缩装置(3043)；所述伸缩装置(3043)的伸缩端安装有凸台(3044)，所述凸台(3044)上嵌设有用于吸附固定DFN微型器件的负压装置。

3.根据权利要求2所述的DFN微型器件测试分选设备，其特征在于，所述阻光带组件(305)包括安装于所述第一导轨(3041)上的阻光底座(3052)；

所述阻光底座(3052)的一端安装有阻光带出料辊(3053)，所述阻光底座(3053)的另一端安装有阻光带回收辊(3054)，所述阻光带(3051)的一端缠绕于所述阻光带出料辊(3053)上，所述阻光带(3051)的另一端缠绕于所述阻光带回收辊(3054)上，所述不透光涂料涂设在所述阻光带(3051)远离所述阻光底座(3052)的一端。

4.根据权利要求3所述的DFN微型器件测试分选设备，其特征在于，所述阻光带回收辊(3054)连接有驱动装置，所述驱动装置用于驱动所述阻光带回收辊(3054)转动。

5.根据权利要求1所述的DFN微型器件测试分选设备，其特征在于，所述透光带组件(306)包括第二导轨(3062)；

所述第二导轨(3062)上安装有透光带底座(3063)，所述透光带底座(3063)能在所述第二导轨(3062)上滑动，所述透光带底座(3063)的一端安装有透光带出料辊(3064)，所述透光带底座(3063)的另一端安装有透光带回收辊(3065)，所述透光带(3061)的一端缠绕于所述透光带出料辊(3064)上，所述透光带(3061)的另一端缠绕于所述透光带回收辊(3065)上。

6.根据权利要求4所述的DFN微型器件测试分选设备，其特征在于，所述透光带底座(3063)开设有安装槽，所述透光带出料辊(3064)与所述透光带回收辊(3065)之间的透光带(3061)位于所述安装槽内；所述安装槽的槽底与所述透光带(3061)之间设置有抵接座(3066)，所述抵接座(3066)用于支撑所述透光带(3061)与所述阻光带(3051)抵接，且所述抵接座(3066)嵌设有发光源。

7.根据权利要求6所述的DFN微型器件测试分选设备，其特征在于，所述透光底座(3063)与所述第二导轨(3062)可拆卸地连接；所述透光底座(3063)的另一端设置有电机；所述电机套设于透光带回收辊(3065)内，且所述电机的内圈定子与所述透光底座(3063)固定连接，所述电机的外圈定子与所述透光带回收辊(3065)固定连接。

8.根据权利要求1所述的DFN微型器件测试分选设备，其特征在于，所述感光组件(307)包括呈四角分布的四个感光元件(3071)。

9.根据权利要求1所述的DFN微型器件测试分选设备，其特征在于，所述感光组件(307)包括一感光元件(3071)，所述感光元件(3071)上套设有挡块，所述挡块上开设有透光槽，所述透光槽与DFN微型器件上的刻槽形状相匹配。

10.根据权利要求1所述的DFN微型器件测试分选设备，其特征在于，在所述NG下料装置(60)和所述封装装置(70)之间还依次设置有镭射装置(80)和CCD检测装置(90)。

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