CN113282427A - 一种产测系统数据反馈的方法、装置、设备及存储介质 - Google Patents
一种产测系统数据反馈的方法、装置、设备及存储介质 Download PDFInfo
- Publication number
- CN113282427A CN113282427A CN202110480255.2A CN202110480255A CN113282427A CN 113282427 A CN113282427 A CN 113282427A CN 202110480255 A CN202110480255 A CN 202110480255A CN 113282427 A CN113282427 A CN 113282427A
- Authority
- CN
- China
- Prior art keywords
- database
- test
- data
- test data
- program interface
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
- 238000000034 method Methods 0.000 title claims abstract description 24
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 title claims abstract description 8
- 238000003860 storage Methods 0.000 title claims description 27
- 238000005259 measurement Methods 0.000 title description 10
- 238000012360 testing method Methods 0.000 claims abstract description 92
- 238000004590 computer program Methods 0.000 claims description 14
- 238000004806 packaging method and process Methods 0.000 claims description 7
- 239000003086 colorant Substances 0.000 claims description 3
- 206010010356 Congenital anomaly Diseases 0.000 abstract description 2
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 4
- 230000006870 function Effects 0.000 description 4
- 230000002159 abnormal effect Effects 0.000 description 1
- 230000032683 aging Effects 0.000 description 1
- 230000009286 beneficial effect Effects 0.000 description 1
- 230000001680 brushing effect Effects 0.000 description 1
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 1
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 1
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 description 1
- 230000008439 repair process Effects 0.000 description 1
- 238000007711 solidification Methods 0.000 description 1
- 230000008023 solidification Effects 0.000 description 1
- 238000013112 stability test Methods 0.000 description 1
Images
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
- G06F—ELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
- G06F9/00—Arrangements for program control, e.g. control units
- G06F9/06—Arrangements for program control, e.g. control units using stored programs, i.e. using an internal store of processing equipment to receive or retain programs
- G06F9/46—Multiprogramming arrangements
- G06F9/54—Interprogram communication
-
- G—PHYSICS
- G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
- G06F—ELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
- G06F16/00—Information retrieval; Database structures therefor; File system structures therefor
- G06F16/20—Information retrieval; Database structures therefor; File system structures therefor of structured data, e.g. relational data
- G06F16/25—Integrating or interfacing systems involving database management systems
- G06F16/252—Integrating or interfacing systems involving database management systems between a Database Management System and a front-end application
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Theoretical Computer Science (AREA)
- Databases & Information Systems (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Engineering & Computer Science (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Software Systems (AREA)
- Data Mining & Analysis (AREA)
- General Factory Administration (AREA)
Abstract
本发明适用计算机技术领域,提供了一种产测系统数据反馈的方法,该方法包括在嵌入式设备中定义一个刷机时不可擦除的空间,将出厂测试数据存入该空间,从而将出厂测试数据固化到嵌入式设备中,无论设备是否重新更换系统,重新烧录序列号或者重新返修,这个记录始终保留在设备内部,通过API软件接口可以通过获取测试数据来判断设备是否是正常出厂设备,并随时可以查看出厂测试记录,方便售后或者技术人员对一些异常进行判断,识别异常是后期产生还是先天产生。
Description
技术领域
本发明属于计算机技术领域,尤其涉及一种产测系统数据反馈的方法、装置、设备及存储介质。
背景技术
嵌入式设备在出厂的时候为了确保出厂产品的各个指标能够满足质量标准和降低售后成本需要进行各种测试,如硬件功能测试,系统压力测试,稳定性测试和老化测试等,但仍然无法避免设备在用户使用时发生异常,售后返修时需要技术人员进行技术定位,产生一定的成本。
目前大部分工厂采用工厂MES系统记录测试数据,通过序列号查询测试记录来判断产品出厂是否符合标准,但是这种方法流程繁琐,还可能存在数据与设备不匹配的问题,如果返修时重新烧录了序列号,就无法得到一个准确的出厂测试记录。
发明内容
本发明的目的在于提供一种产测系统数据反馈的方法、装置、设备及存储介质,旨在解决嵌入式设备在返修时无法获取准备的出厂测试记录的问题。
一方面,本发明提供了一种产侧系统数据反馈的方法,所述方法包括下述步骤:
在设备中预设一个刷机时不可擦除的存储空间;
在所述存储空间中定义一个用于存储测试数据的数据库,并将其封装成标准API程序接口;
测试应用软件通过所述标准API程序接口将出厂测试数据写入所述数据库中;
软件工具通过所述标准API程序接口从所述数据库中读取所述出厂测试数据。
进一步地,在所述存储空间中定义一个用于存储测试数据的数据库的步骤包括:
根据测试的项目定义数据访问接口;
根据测试的数据类型定义数据结构;
将所述数据库封装成标准API程序接口。
进一步地,所述测试应用软件通过所述标准API程序接口将出厂测试数据写入所述数据库中的步骤包括:
检测并判断所述数据库中是否存在测试数据记录;
若否,初始化存储空间,所述测试应用软件通过所述标准API程序接口将所述出厂测试数据写入所述数据库中;
若是,所述测试应用软件通过所述标准API程序接口将所述数据库中的测试数据更新为所述出厂测试数据。
进一步地,所述出厂测试数据包括测试的项目和所述项目的测试结果。
进一步地,所述测试结果包括未测,失败和通过三种类型。
进一步地,所述测试应用软件采用不同的数值区分不同的所述测试结果。
进一步地,所述软件工具采用不同的颜色区分不同的所述测试结果。
另一方面,本发明提供了一种产测系统数据反馈的装置,所述装置包括:
存储模块,用于在设备中预设一个刷机时不可擦除的存储空间;
数据库模块,用于在所述存储空间中定义一个用于存储测试数据的数据库,并将所述数据库封装成标准API程序接口;
写入模块,用于测试应用软件通过标准API程序接口将出厂测试数据写入所述数据库中;
读取模块,用于通过软件工具通过标准API程序接口从所述数据库中读取所述出厂测试数据。
另一方面,本发明还提供了一种产测系统数据反馈的设备,包括存储器、处理器以及存储在所述存储器中并可在所述处理器上运行的计算机程序,所述处理器执行所述计算机程序时实现产测系统数据反馈的方法所述的步骤。
另一方面,本发明还提供了一种可读存储介质,所述可读存储介质存储有计算机程序,所述计算机程序被处理器执行时实现产测系统数据反馈的方法中所述的步骤。
本发明的有益效果:通过在嵌入式设备中定义一个刷机时不可擦除的空间,并将出厂测试数据存入该空间,从而将出厂测试数据固化到嵌入式设备中,无论设备是否重新更换系统,重新烧录序列号或者重新返修,这个记录始终保留在设备内部,通过API软件接口可以通过获取测试数据来判断设备是否是正常出厂设备,并随时可以查看出厂测试记录,方便售后或者技术人员对一些异常进行判断,识别异常是后期产生还是先天产生。
附图说明
图1是本发明实施例提供的产测系统数据反馈的方法的流程图;
图2是本发明实施例提供的产测系统数据反馈的装置的结构示意图;
图3是本发明实施例提供的产测系统数据反馈的设备的结构示意图。
具体实施方式
为了使本发明的目的、技术方案及优点更加清楚明白,以下结合附图及实施例,对本发明进行进一步详细说明。应当理解,此处所描述的具体实施例仅仅用以解释本发明,并不用于限定本发明。
以下结合具体实施例对本发明的具体实现进行详细描述:
实施例一:
图1示出了本发明实施例一提供的产测系统数据反馈的方法的实现流程,为了便于说明,仅示出了与本发明实施例相关的部分,详述如下:
在步骤S101中,在设备中预设一个刷机时不可擦除的存储空间;
在步骤S102中,在存储空间中定义一个用于存储测试数据的数据库,并将其封装成标准API程序接口;
在步骤S103中,测试应用软件通过标准API程序接口将出厂测试数据写入数据库中;
在步骤S104中,软件工具通过标准API程序接口从数据库中读取出厂测试数据。
进一步地,步骤S102包括以下步骤:
步骤S1021:根据测试的项目定义数据访问接口;
步骤S1022:根据测试的数据类型定义数据结构;
步骤S1023:将数据库封装成标准API程序接口。
进一步地,步骤S103包括以下步骤:
步骤S1031:检测并判断数据库中是否存在测试数据记录;
步骤S1032:若否,初始化存储空间,测试应用软件通过标准API程序接口将出厂测试数据写入数据库中;
步骤S1033:若是,测试应用软件通过标准API程序接口将数据库中的测试数据更新为出厂测试数据。
进一步地,出厂测试数据包括测试的项目和项目的测试结果。
进一步地,测试结果包括未测,失败和通过三种类型。
进一步地,测试应用软件采用不同的数值区分不同的测试结果。
进一步地,软件工具采用不同的颜色区分不同的测试结果。
实施例二:
图2示出了本发明实施例提供的产测系统数据反馈的装置的结构示意图,为了便于说明,仅示出了与本发明实施例相关的部分,其中包括:
存储模块201,用于在设备中预设一个刷机时不可擦除的存储空间;
数据库模块202,用于在存储空间中定义一个用于存储测试数据的数据库,并将数据库封装成标准API程序接口;
写入模块203,用于测试应用软件通过标准API程序接口将出厂测试数据写入数据库中;
读取模块204,用于通过软件工具通过标准API程序接口从数据库中读取出厂测试数据。
在本发明实施例中,产测系统数据反馈的装置的各模块可由相应的硬件或软件模块实现,各模块可以为独立的软、硬件模块,也可以集成为一个软、硬件模块,在此不用以限制本发明。
实施例三:
图3示出了本发明实施例提供的产测系统数据反馈的设备的结构示意图,为了便于说明,仅示出了与本发明实施例相关的部分,其中包括:
在本发明实施例中,提供了一种设备,包括存储器301、处理器302以及存储在存储器中并可在处理器上运行的计算机程序303,该计算机程序被处理器执行时实现上述产测系统数据反馈的方法实施例中的步骤,例如,图1所示的步骤S101至S104。或者,该计算机程序被处理器执行时实现上述产测系统数据反馈的装置中各模块的功能,例如,图3所示的模块201至204。
实施例四:
在本发明实施例中,提供了一种可读存储介质,该可读存储介质存储有计算机程序,该计算机程序被处理器执行时实现上述产测系统数据反馈的方法实施例中的步骤,例如,图1所示的步骤S101至S104。或者,该计算机程序被处理器执行时实现上述各装置实施例中各模块的功能,例如图3所示的各个模块的功能。
本发明实施例的计算机可读存储介质可以包括能够携带计算机程序代码的任何实体或装置、记录介质,例如,ROM/RAM、磁盘、光盘、闪存等存储器。
以上所述仅为本发明的较佳实施例而已,并不用以限制本发明,凡在本发明的精神和原则之内所作的任何修改、等同替换和改进等,均应包含在本发明的保护范围之内。
Claims (10)
1.一种产测系统数据反馈的方法,其特征在于,所述方法包括下述步骤:
在设备中预设一个刷机时不可擦除的存储空间;
在所述存储空间中定义一个用于存储测试数据的数据库,并将其封装成标准API程序接口;
测试应用软件通过所述标准API程序接口将出厂测试数据写入所述数据库中;
软件工具通过所述标准API程序接口从所述数据库中读取所述出厂测试数据。
2.根据权利要求1所述的产测系统数据反馈的方法,其特征在于,所述在所述存储空间中定义一个用于存储测试数据的数据库,并将其封装成标准API程序接口的步骤包括:
根据测试的项目定义数据访问接口;
根据测试的数据类型定义数据结构;
将所述数据库封装成标准API程序接口。
3.根据权利要求1所述的产测系统数据反馈的方法,其特征在于,所述测试应用软件通过所述标准API程序接口将出厂测试数据写入所述数据库中的步骤包括:
检测并判断所述数据库中是否存在测试数据记录;
若否,初始化存储空间,所述测试应用软件通过所述标准API程序接口将所述出厂测试数据写入所述数据库中;
若是,所述测试应用软件通过所述标准API程序接口将所述数据库中的测试数据更新为所述出厂测试数据。
4.根据权利要求1所述的产测系统数据反馈的方法,其特征在于,所述出厂测试数据包括测试的项目和所述项目的测试结果。
5.根据权利要求4所述的产测系统数据反馈的方法,其特征在于,所述测试结果包括未测,失败和通过三种类型。
6.根据权利要求5所述的产测系统数据反馈的方法,其特征在于,所述测试应用软件采用不同的数值区分不同的所述测试结果。
7.根据权利要求5所述的产测系统数据反馈的方法,其特征在于,所述软件工具采用不同的颜色区分不同的所述测试结果。
8.一种产测系统数据反馈的装置,其特征在于,所述装置包括:
存储模块,用于在设备中预设一个刷机时不可擦除的存储空间;
数据库模块,用于在所述存储空间中定义一个用于存储测试数据的数据库,并将所述数据库封装成标准API程序接口;
写入模块,用于测试应用软件通过标准API程序接口将出厂测试数据写入所述数据库中;
读取模块,用于通过软件工具通过标准API程序接口从所述数据库中读取所述出厂测试数据。
9.一种设备,包括存储器、处理器以及存储在所述存储器中并可在所述处理器上运行的计算机程序,其特征在于,所述处理器执行所述计算机程序时实现如权利要求1至7任一项所述方法的步骤。
10.一种可读存储介质,所述计算机可读存储介质存储有计算机程序,其特征在于,所述计算机程序被处理器执行时实现如权利要求1至7任一项所述方法的步骤。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
CN202110480255.2A CN113282427A (zh) | 2021-04-30 | 2021-04-30 | 一种产测系统数据反馈的方法、装置、设备及存储介质 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
CN202110480255.2A CN113282427A (zh) | 2021-04-30 | 2021-04-30 | 一种产测系统数据反馈的方法、装置、设备及存储介质 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
CN113282427A true CN113282427A (zh) | 2021-08-20 |
Family
ID=77277852
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
CN202110480255.2A Pending CN113282427A (zh) | 2021-04-30 | 2021-04-30 | 一种产测系统数据反馈的方法、装置、设备及存储介质 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
CN (1) | CN113282427A (zh) |
Citations (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US20050246584A1 (en) * | 2004-04-16 | 2005-11-03 | Hon Hai Precision Industry Co., Ltd. | Test data managing system and method |
CN105975370A (zh) * | 2015-07-23 | 2016-09-28 | 乐视致新电子科技(天津)有限公司 | 测试方法与装置 |
CN107295142A (zh) * | 2017-07-25 | 2017-10-24 | 北京小米移动软件有限公司 | 终端处理方法、装置及服务器 |
CN107957954A (zh) * | 2017-12-19 | 2018-04-24 | 郑州云海信息技术有限公司 | 一种Linux系统下提高测试数据安全性的方法和系统 |
CN108170568A (zh) * | 2017-12-26 | 2018-06-15 | 深圳市奇虎智能科技有限公司 | 智能设备的出厂测试方法、装置和刷机包生成方法、装置 |
CN108804264A (zh) * | 2018-05-15 | 2018-11-13 | 上海金脉电子科技有限公司 | 基于fct测试程序对单片机进行测试的方法 |
-
2021
- 2021-04-30 CN CN202110480255.2A patent/CN113282427A/zh active Pending
Patent Citations (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US20050246584A1 (en) * | 2004-04-16 | 2005-11-03 | Hon Hai Precision Industry Co., Ltd. | Test data managing system and method |
CN105975370A (zh) * | 2015-07-23 | 2016-09-28 | 乐视致新电子科技(天津)有限公司 | 测试方法与装置 |
CN107295142A (zh) * | 2017-07-25 | 2017-10-24 | 北京小米移动软件有限公司 | 终端处理方法、装置及服务器 |
CN107957954A (zh) * | 2017-12-19 | 2018-04-24 | 郑州云海信息技术有限公司 | 一种Linux系统下提高测试数据安全性的方法和系统 |
CN108170568A (zh) * | 2017-12-26 | 2018-06-15 | 深圳市奇虎智能科技有限公司 | 智能设备的出厂测试方法、装置和刷机包生成方法、装置 |
CN108804264A (zh) * | 2018-05-15 | 2018-11-13 | 上海金脉电子科技有限公司 | 基于fct测试程序对单片机进行测试的方法 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
CN106951364B (zh) | 测试方法及装置 | |
CN102831052B (zh) | 测试用例自动化生成装置及方法 | |
CN103164328B (zh) | 一种业务功能的回归测试方法、装置及系统 | |
US8140911B2 (en) | Dynamic software tracing | |
CN112306855B (zh) | 接口自动化测试方法、装置、终端和存储介质 | |
CN111209206B (zh) | 一种软件产品的自动测试方法及系统 | |
CN111078459B (zh) | 半导体芯片的测试方法、装置及系统 | |
US11347619B2 (en) | Log record analysis based on log record templates | |
CN106021118B (zh) | 测试代码生成方法及装置、测试框架代码执行方法及装置 | |
US10169218B2 (en) | Method for automatically validating data against a predefined data specification | |
CN113282513B (zh) | 接口测试案例的生成方法、装置、计算机设备及存储介质 | |
CN110082666B (zh) | 芯片测试分析方法、装置、设备及存储介质 | |
KR20210004656A (ko) | 차량 기능 테스트 장치 및 그 제어 방법 | |
CA2811617C (en) | Commit sensitive tests | |
CN111552475B (zh) | 一种半导体存储器老化测试的Workload测试文件编译方法、测试方法及系统 | |
CN113049939A (zh) | 一种芯片老化自测试方法及系统 | |
CN112527312B (zh) | 一种嵌入式系统的测试方法和测试装置 | |
CN110069414A (zh) | 回归测试方法及系统 | |
CN111444093B (zh) | 项目开发过程质量的确定方法、装置、计算机设备 | |
CN113282427A (zh) | 一种产测系统数据反馈的方法、装置、设备及存储介质 | |
CN113220568A (zh) | Usim卡文件系统的测试方法、装置及介质 | |
CN112486841A (zh) | 埋点采集数据校验的方法及装置 | |
CN100468327C (zh) | 量测程序生成系统及方法 | |
CN115168179A (zh) | 一种诊断did自动测试方法、系统及存储介质 | |
CN113591147A (zh) | 一种数据抽取的方法、装置、计算机设备及存储介质 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
PB01 | Publication | ||
PB01 | Publication | ||
SE01 | Entry into force of request for substantive examination | ||
SE01 | Entry into force of request for substantive examination |