CN108804264A - 基于fct测试程序对单片机进行测试的方法 - Google Patents

基于fct测试程序对单片机进行测试的方法 Download PDF

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Abstract

本发明涉及一种基于FCT测试程序对单片机进行测试的方法，包括如下步骤：向所述单片机输入刷新请求；将FCT测试程序烧录到内存中；以及运行所述FCT测试程序对所述单片机进行测试。本发明将FCT测试程序烧录到内存中，且在烧录完成后直接运行FCT测试程序对单片机进行测试，该FCT测试程序运行完成后就完成了测试。省略了擦除出厂程序并进行反复烧录的步骤，避免了在FCT测试是频繁刷新程序，减少了对Flash的擦写次数，节省了擦写时间从而避免了对产线进度的影响，提高了单片机的生产效率。

Description

基于FCT测试程序对单片机进行测试的方法
技术领域
本发明涉及单片机测试领域，特指一种基于FCT测试程序对单片机进行测试的方法。
背景技术
单片机在生产过程中，需要进行FCT测试，现有的做法是：将FCT测试程序烧录到单片机的Flash中运行，这样就需要将Flash中的出厂程序擦除再烧录FCT测试程序，在FCT测试程序测试完成后，还需要将FCT测试程序擦除再重新烧录出厂程序。这样增加了对Flash的擦写次数，且每次擦写Flash时均需要一定时间，进而会影响产线进度。
发明内容
本发明的目的在于克服现有技术的缺陷，提供一种基于FCT测试程序对单片机进行测试的方法，解决现有的将FCT测试程序烧录到Flash中存在的擦写次数多和擦写时间长而影响产线进度的问题。
实现上述目的的技术方案是：
本发明提供了一种基于FCT测试程序对单片机进行测试的方法，包括如下步骤：
向所述单片机输入刷新请求；
将FCT测试程序烧录到内存中；以及
运行所述FCT测试程序对所述单片机进行测试。
本发明将FCT测试程序烧录到内存中，且在烧录完成后直接运行FCT测试程序对单片机进行测试，该FCT测试程序运行完成后就完成了测试。省略了擦除出厂程序并进行反复烧录的步骤，避免了在FCT测试是频繁刷新程序，减少了对Flash的擦写次数，节省了擦写时间从而避免了对产线进度的影响，提高了单片机的生产效率。
本发明FCT测试程序对单片机进行测试的方法的进一步改进在于，将FCT测试程序烧录到内存中的步骤包括：
通过所述单片机内的启动加载器将FCT测试程序烧录到内存中。
本发明FCT测试程序对单片机进行测试的方法的进一步改进在于，运行所述FCT测试程序对所述单片机进行测试的步骤包括：
在烧录完成后，通过所述启动加载器引导跳转至所述FCT测试程序以运行所述FCT测试程序对所述单片机进行测试。
本发明FCT测试程序对单片机进行测试的方法的进一步改进在于，在所述FCT测试程序运行完成后，重启所述单片机。
本发明FCT测试程序对单片机进行测试的方法的进一步改进在于，重启所述单片机后，所述单片机内的启动加载器引导跳转至烧录于PFlash内的出厂程序，以运行所述出厂程序。
本发明还提供了一种基于FCT测试程序对单片机进行测试的方法，包括如下步骤：
向所述单片机输入刷新请求；
在所述单片机刷新过程中，判断刷新程序的类型，若所述刷新程序的类型为FCT测试程序，则将所述FCT测试程序烧录到内存中；若所述刷新程序的类型为出厂程序，则将所述出厂程序烧录到PFlash内；
刷新完成后，运行所述刷新程序。
本发明的方法的进一步改进在于，判断刷新程序的类型时，通过所述单片机内的启动加载器进行判断，在判断好后通过所述启动加载器将所述刷新程序进行烧录。
本发明的方法的进一步改进在于，刷新完成后，运行所述刷新程序的步骤包括：
通过所述单片机内的启动加载器引导跳转至所述刷新程序以运行所述刷新程序。
本发明的方法的进一步改进在于，在所述FCT测试程序运行完成后，重启所述单片机。
本发明的方法的进一步改进在于，重启所述单片机后，所述单片机内的启动加载器引导跳转至烧录于PFlash内的出厂程序，以运行所述出厂程序。
附图说明
图1为PFlash区域分配的示意图。
图2为本发明中PFlash和SPRAM区域分配的示意图。
图3为本发明基于FCT测试程序对单片机进行测试的方法的第一实施例的流程图。
图4为本发明基于FCT测试程序对单片机进行测试的方法第二实施例的流程图。
具体实施方式
下面结合附图和具体实施例对本发明作进一步说明。
参阅图2，本发明提供了一种基于FCT测试程序对单片机进行测试的方法，用于避免在FCT测试时频繁刷新程序，减少对PFlash(Program Flash Memory，程序闪存)的擦写次数。本发明的测试方法将FCT测试程序烧录到内存(RAM，random access memory，又称随机存取存储器)中，避免了对PFlash内的出厂程序进行反复的擦除和烧录，减少了擦写次数，且将PCT测试程序烧录到内存内，无需将PCT测试程序进行擦除，在其运行结束后，单片机断电重启在内存内的PCT测试程序数据丢失，省去了擦除PCT测试程序的步骤。从而本发明的测试方法能够大大的减少对PFlash的擦写次数，能够节省擦写的时间，避免对产线进度产生影响，提高了单片机的生产效率。下面结合附图对本发明基于FCT测试程序对单片机进行测试的方法进行说明。
如图1所示，显示了单片机型号为TC1782的PFlash区域分配的示意图，在PFlash区域内从0x80000000至0x80007FFFF区域为BootLoader(启动加载器，又称引导程序)，从0x80008000至0x80000BFFFF区域为Parameter(系统参数配置信息)，从0x8000C000至0x8027FFFF区域为Appl(Application，应用程序)，从0x8FE00000至0x8FE1FFFF区域为XCP(Universal Measurement and Calibration Protocol，通用测量标定协议)。
现有最常用的将FCT测试程序烧录到单片机的方法是通过BootLoader使用UDS(Unified Diagnostic Services，统一诊断服务)将FCT测试程序下载到Flash中运行，具体地，在进行FCT测试时需要将现有的出厂程序从Appl区域擦除，并在该Appl区域烧录FCT测试程序，当FCT测试完成后再重新于Appl区域烧录出厂程序。由于FCT测试程序和出厂程序都需要刷新到Appl区域,这样就造成需要频繁刷新0x8000C000至0x8027FFFF区域的Flash，现有的测试方法增加了对Flash的擦写次数，每次擦写均需要一定的时间，在生产时影响生产进度。
为解决上述问题，本发明提供了一种基于FCT测试程序对单片机进行测试的方法，下面对第一实施例进行说明，该方法包括如下步骤：
如图3所示，执行步骤S101，输入刷新请求，即向单片机输入刷新请求，接着执行步骤S102；
执行步骤S102，将FCT测试程序烧录到内存中，接着执行步骤S103；
执行步骤S103，运行FCT测试程序，以对单片机进行测试。
本发明将FCT测试程序烧录到内存(RAM)中，不需要擦除出厂程序，且在烧录完成后直接运行FCT测试程序对单片机进行测试，该FCT测试程序运行完成后就完成了测试。省略了擦除出厂程序并进行反复烧录的步骤，避免了在FCT测试是频繁刷新程序，减少了对Flash的擦写次数，节省了擦写时间从而避免了对产线进度的影响，提高了单片机的生产效率。
较佳地，将FCT测试程序烧录到SPRAM(Scratch-Pad random access memory，高速随机存储器)中。
作为本发明的一较佳实施方式，将FCT测试程序烧录到内存中的步骤包括：
通过单片机内的启动加载器将FCT测试程序烧录到内存中。
在刷新请求中包括有刷新指令和刷新程序，该刷新程序在第一实施例中为FCT测试程序，启动加载器收到刷新请求，通过刷新指令触发其读写功能，并将刷新请求中的刷新程序(也即FCT测试程序)写到内存中。
结合图2所示，从0xD4000000至0xD4005FFF区域为SPRAM，利用启动加载器将FCT测试程序写到SPRAM区域，这样就避免了改动PFlash区域内出厂程序，使得出厂程序能够不被破坏且不需要再次刷新。在图2中PFLASH区域，从0x80000000至0x80007FFFF区域为BootLoader，从0x80008000至0x80000BFFFF区域为Parameter，从0x8000C000至0x8027FFFF区域为Appl，在Appl区域存有出厂程序，从0x8FE00000至0x8FE1FFFF区域为XCP，在XCP区域存有标定数据。
作为本发明的另一较佳实施方式，运行FCT测试程序对单片机进行测试的步骤包括：
在烧录完成后，通过启动加载器引导跳转至FCT测试程序以运行FCT测试程序对单片机进行测试。
作为本发明的又一较佳实施方式，在FCT测试程序运行完成后，重启单片机。
进一步地，重启单片机后，单片机内的启动加载器引导跳转至烧录于PFlash内的出厂程序，以运行出厂程序。
单片机断电重启后，存于内存内的FCT测试程序数据自动丢失，省去了FCT测试程序擦除的步骤，实现了FCT测试程序运行结束后整个测试过程即结束的效果。
本发明还提供了一种基于FCT测试程序对单片机进行测试的方法。下面对该第二实施例进行说明。
如图3所示，该方法包括如下步骤：
执行步骤S201，刷新请求，即向所述单片机输入刷新请求，接着执行步骤S202；
执行步骤S202，判断刷新程序类型，在单片机刷新过程中，判断刷新程序的类型，若刷新程序的类型为FCT测试程序，则执行步骤S203；若刷新程序的类型为出厂程序，则执行步骤S204；
执行步骤S203，将FCT测试程序烧录到内存中，接着执行步骤S205；
执行步骤S204，将出厂程序烧录到PFlash内，接着执行步骤S205；
执行步骤S205，刷新完成后，跳转至当前刷新程序，以运行刷新程序。
在刷新请求中包括有刷新指令和刷新程序，该刷新程序在第二实施例中包括FCT测试程序和出厂程序，启动加载器收到刷新请求，通过刷新指令触发其读写功能，并将刷新请求中的刷新程序写到对应的存储区域内。
作为本发明的一较佳实施方式，判断刷新程序的类型时，通过单片机内的启动加载器进行判断，在判断好后通过启动加载器将刷新程序进行烧录。也即单片机的BootLoader(启动加载器)收到刷新请求后，对该刷新程序类型进行判断，若是FCT测试程序，则将该数据写入到SPRAM中，若是出厂程序则将该数据写入到PFlash内，实现了将不同类型的数据刷新到不同的存储区域。
进一步地，在刷新完成后，运行刷新程序的步骤包括：
通过单片机内的启动加载器引导跳转至刷新程序以运行刷新程序。
在刷新FCT测试程序时，启动加载器将FCT测试程序的数据写入到SPRAM中，刷新完直接跳转到FCT测试程序，以对单片机进行测试。
作为本发明的另一较佳实施方式，在FCT测试程序运行完成后，重启单片机。单片机断电复位后，写入到SPRAM内的FCT测试程序数据丢失，省略了FCT测试程序的擦除操作，实现了FCT测试程序运行完成即结束测试的效果。
进一步地，重启单片机后，单片机内的启动加载器引导跳转至烧录于PFlash内的出厂程序，以运行出厂程序。
以上结合附图实施例对本发明进行了详细说明，本领域中普通技术人员可根据上述说明对本发明做出种种变化例。因而，实施例中的某些细节不应构成对本发明的限定，本发明将以所附权利要求书界定的范围作为本发明的保护范围。

Claims (10)

1.一种基于FCT测试程序对单片机进行测试的方法，其特征在于，包括如下步骤：
向所述单片机输入刷新请求；
将FCT测试程序烧录到内存中；以及
运行所述FCT测试程序对所述单片机进行测试。
2.如权利要求1所述的FCT测试程序对单片机进行测试的方法，其特征在于，将FCT测试程序烧录到内存中的步骤包括：
通过所述单片机内的启动加载器将FCT测试程序烧录到内存中。
3.如权利要求1所述的FCT测试程序对单片机进行测试的方法，其特征在于，运行所述FCT测试程序对所述单片机进行测试的步骤包括：
在烧录完成后，通过所述启动加载器引导跳转至所述FCT测试程序以运行所述FCT测试程序对所述单片机进行测试。
4.如权利要求1所述的FCT测试程序对单片机进行测试的方法，其特征在于，在所述FCT测试程序运行完成后，重启所述单片机。
5.如权利要求4所述的FCT测试程序对单片机进行测试的方法，其特征在于，重启所述单片机后，所述单片机内的启动加载器引导跳转至烧录于PFlash内的出厂程序，以运行所述出厂程序。
6.一种基于FCT测试程序对单片机进行测试的方法，其特征在，包括如下步骤：
向所述单片机输入刷新请求；
在所述单片机刷新过程中，判断刷新程序的类型，若所述刷新程序的类型为FCT测试程序，则将所述FCT测试程序烧录到内存中；若所述刷新程序的类型为出厂程序，则将所述出厂程序烧录到PFlash内；
刷新完成后，运行所述刷新程序。
7.如权利要求6所述的方法，其特征在于，判断刷新程序的类型时，通过所述单片机内的启动加载器进行判断，在判断好后通过所述启动加载器将所述刷新程序进行烧录。
8.如权利要求6所述的方法，其特征在于，刷新完成后，运行所述刷新程序的步骤包括：
通过所述单片机内的启动加载器引导跳转至所述刷新程序以运行所述刷新程序。
9.如权利要求6所述的方法，其特征在于，在所述FCT测试程序运行完成后，重启所述单片机。
10.如权利要求9所述的方法，其特征在于，重启所述单片机后，所述单片机内的启动加载器引导跳转至烧录于PFlash内的出厂程序，以运行所述出厂程序。
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