CN113267736A - 充电测试装置和方法 - Google Patents

Abstract

本申请实施例提供了一种充电测试装置和方法，充电测试装置包括：第一USB接口、与第一USB接口匹配的第二USB接口、多个导电通路和控制模块；第一USB接口用于连接电子设备，第二USB接口用于连接充电器；第一USB接口包括多个第一引脚，第二USB接口包括多个第二引脚，多个第一引脚与多个第二引脚一一匹配形成多组引脚对；多个导电通路分别与多组引脚对一一对应电连接；控制模块与各个导电通路分别电连接，用于根据预设通断时间参数控制各个导电通路的导通与断开，预设通断时间参数用于确定每个导电通路的导通起始时刻。本申请提供的充电测试装置能够提高充电测试效率。

Description

充电测试装置和方法

技术领域

本申请涉及电子技术领域，具体涉及一种充电测试装置和方法。

背景技术

随着科技的进步，便携式的电子设备随处可见，例如手机、平板电脑(Portableandroid device，Pad)或可穿戴设备等。便携式电子设备需要通过充电器进行充电，目前绝大多数的便携式电子设备通过通用串行总线(Universal Serial Bus，USB)接口与充电器连接进行充电。

然而，当电子设备或者充电器的充电功能存在问题时，一些特殊的插拔行为可能导致充电异常，例如，将充电器的USB接口快速插入电子设备的USB接口(简称快速插拔)，以及将充电器的USB接口慢速插入电子设备的USB接口(简称慢速插拔)。因此，电子设备在出厂前或返厂维修时，均需要进行各种插拔行为下的充电测试。

相关技术中，对于各种插拔行为下电子设备的充电测试均是由人工手动执行，测试效率低。

发明内容

本申请提供了一种充电测试装置和方法，能够提高充电测试效率。

第一方面，本申请提供一种充电测试装置，包括：第一USB接口、与第一USB接口匹配的第二USB接口、多个导电通路和控制模块；第一USB接口用于连接电子设备，第二USB接口用于连接充电器；第一USB接口包括多个第一引脚，第二USB接口包括多个第二引脚，多个第一引脚与多个第二引脚一一匹配形成多组引脚对；多个导电通路分别与多组引脚对一一对应电连接；控制模块与各个导电通路分别电连接，用于根据预设通断时间参数控制各个导电通路的导通与断开，预设通断时间参数用于确定每个导电通路的导通起始时刻。

第一方面提供的充电测试装置，控制模块能够根据预设通断时间参数控制各个导电通路的导通与断开，从而模拟电子设备和充电器之间的各种插拔行为，便于实现对电子设备充电功能的测试。该充电测试装置无需人工执行插拔行为，提高了充电测试效率。同时，该充电测试装置模拟各种插拔行为时，由控制模块根据预设通断时间参数控制导电通路的导通与断开，实现了测试参数和测试结果的量化，相较于人工执行插拔行为，更能够客观、真实的模拟插拔行为，从而使得测试结果更加准确。

一种可能的实现方式中，多个导电通路的导通起始时刻不同。控制模块根据预设通断时间参数控制各个导电通路的导通与断开，使得各个导电通路的导通起始时刻不同，从而模拟不同的插拔行为。

一种可能的实现方式中，每个导电通路中电连接有开关，开关与控制模块电连接；控制模块具体用于根据预设通断时间参数控制每个开关的闭合与断开，以控制各个导电通路的导通与断开。

该实现方式中，控制模块通过控制开关实现对各个导电通路通断的控制，电路连接方式简单，易于实现，且开关对导电通路中电流、电压影响较小，便于更真实的模拟各种插拔行为，使得充电测试结果更加准确。

可选的，开关可以为电子开关。电子开关能够进一步的减小对导电通路中电流和电压的影响，进一步提高插拔行为模拟的真实性，从而进一步提高充电测试的准确性。

一种可能的实现方式中，装置还包括检测模块，检测模块与控制模块电连接，用于检测第一USB接口和第二USB接口之间的充电参数；控制模块还用于根据充电参数确定电子设备的充电功能是否正常。

该实现方式中，通过检测模块检测充电参数，控制模块根据充电参数确定电子设备的充电功能是否正常，进一步实现了充电功能的自动测试，无需人工进行充电功能测试，进一步提高充电测试的效率。

一种可能的实现方式中，充电参数包括充电电流和/或充电电压，控制模块具体用于：将充电电流与预设标准电流进行比较，将充电电压与预设标准电压进行比较；若充电电流与预设标准电流的差值小于预设电流差阈值，且充电电压与预设标准电压的差值小于预设电压差阈值，则确定充电功能正常。

该实现方式中，通过充电电流和/或充电电压确定充电功能是否正常，判断方法简单，易于实现，且不易出错。

一种可能的实现方式中，多个第一引脚中包括第一电源引脚，多个第二引脚中包括第二电源引脚，检测模块与第一电源引脚对应的电源导电通路电连接；检测模块具体用于检测流经电源导电通路的电流得到充电电流，检测电源导电通路中的电压得到充电电压。

该实现方式中，将检测模块与电源导电通路连接，能够直接、准确的检测得到充电电流和充电电压。

一种可能的实现方式中，检测模块包括：电压检测电路，与电源导电通路及控制模块分别电连接，用于检测电源导电通路中的电压，得到充电电压；电流检测电路，与电源导电通路及控制模块分别电连接，用于检测流经电源导电通路的电流，得到充电电流。

一种可能的实现方式中，电流检测电路包括：第一检测电阻，串联于电源导电通路中；电压检测单元，并联于第一检测电阻两端，用于检测第一检测电阻两端的电压；计算单元，与电压检测单元和控制模块分别电连接，用于根据第一检测电阻两端的电压和第一检测电阻的阻值计算充电电流。

该实现方式中，对于充电电流的检测方法简单、易于实现。

一种可能的实现方式中，第一检测电阻的阻值小于100mΩ。

该实现方式中，第一检测电阻的阻值小于100mΩ能够有效控制第一检测电阻对电源导电通路中电流和电压的影响，提高充电电流和充电电压检测的准确性。

一种可能的实现方式中，检测模块包括：第二检测电阻，串联于电源导电通路中；

模数转换器，与电源导电通路电连接，且与第二检测电阻的两端均连接，用于采集电源导电通路中的第一模拟电压信号，并将第一模拟电压信号转换为第一数字电压信号，得到充电电压；模数转换器还用于采集第二检测电阻两端的第二模拟电压信号，并将第二模拟电压信号转换为第二数字电压信号，得到第二电压；控制模块还用于根据第二电压和第二检测电阻的阻值计算充电电流。

该实现方式中，本实施例中，模数转换器既能够实现充电电压检测功能，又能够实现配合第一检测电阻和控制模块实现充电电流的检测功能，实现了模数转换器的功能复用，简化了充电测试装置的结构，有效节约装置成本。同时，通过控制模块计算充电电流，实现了控制模块的功能复用，进一步简化了充电测试装置的结构，有效节约装置成本。

一种可能的实现方式中，第二检测电阻的阻值小于100mΩ。

该实现方式中，第二检测电阻的阻值小于100mΩ能够有效控制第二检测电阻对电源导电通路中电流和电压的影响，提高充电电流和充电电压检测的准确性。

一种可能的实现方式中，装置包括多组接口模块，每组接口模块包括第一USB接口、第二USB接口和多个导电通路；每组接口模块中的多个导电通路均与控制模块电连接，控制模块用于控制各组接口模块中多个导电通路的导通与断开。

可选的，充电测试装置包括多组接口模块中的USB接口组，能够实现多组电子设备与匹配的充电器之间的充电插拔行为模拟，从而实现对多个电子设备充电功能的测试，提高测试效率，且能够节约成本。

一种可能的实现方式中，装置包括多组USB接口组，每组USB接口组包括第一USB接口和第二USB接口；每组USB接口组中的多组引脚对分别与多个导电通路一一对应电连接。

可选的，多组USB接口组的接口类型不同。通过设置多组接口类型不同的USB接口组，使得充电测试装置能够兼容不同接口类型的电子设备和充电器，从而提高使用灵活性。

第二方面，本申请提供一种充电测试方法，应用于充电测试装置，充电测试装置包括第一USB接口、与第一USB接口匹配的第二USB接口和多个导电通路，第一USB接口用于连接电子设备，第一USB接口包括多个第一引脚，第二USB接口用于连接充电器，第二USB接口包括多个第二引脚，多个第一引脚与多个第二引脚一一匹配形成多组引脚对，多个导电通路分别与多组引脚对一一对应电连接；方法包括：获取预设通断时间参数，预设通断时间参数用于确定每个导电通路的导通起始时刻；根据预设通断时间参数控制各个导电通路的导通与断开。

第二方面提供的充电测试方法，通过获取预设通断时间参数，根据预设通断时间参数控制各个导电通路的导通与断开，从而能够模拟电子设备和充电器之间的各种插拔行为，便于实现对电子设备充电功能的测试。该充电测试方法无需人工执行插拔行为，提高了充电测试效率。同时，该充电测试方法模拟各种插拔行为时，根据预设通断时间参数控制导电通路的导通与断开，实现了测试参数和测试结果的量化，相较于人工执行插拔行为，更能够客观、真实的模拟插拔行为，从而使得测试结果更加准确。

一种可能的实现方式中，预设通断时间参数包括多组时间参数组，每组时间参数组包括多个导电通路的时间参数，时间参数用于确定导电通路的导通起始时刻。

该实现方式中，通过设置多组导通时刻参数组，可以实现多个导电通路按照不同的导通顺序和/或不同的导通时间差导通，从而模拟多种不同的插拔行为，进而实现多种插拔行为下电子设备充电功能的测试，提高测试的全面性。

一种可能的实现方式中，每个导电通路中电连接有开关；根据预设通断时间参数控制各个导电通路的导通与断开，包括：根据多组时间参数组，生成对每个开关的时序控制信号；将时序控制信号发送至对应的开关，控制每个开关的闭合与断开，以控制各个导电通路在不同的导通起始时刻导通。

该实现方式中，根据多组时间参数组，生成对每个开关的时序控制信号，通过时序控制信号能够准确的控制开关导通，从而提高插拔行为模拟的准确性，进而提高充电测试的准确性。

一种可能的实现方式中，充电测试装置还包括检测模块，检测模块用于检测第一USB接口和第二USB接口之间的充电参数；方法还包括：根据充电参数确定电子设备的充电功能是否正常。

一种可能的实现方式中，充电参数包括充电电流和/或充电电压，根据充电参数确定电子设备和充电器的充电功能是否正常，包括：将充电电流与预设标准电流进行比较，将充电电压与预设标准电压进行比较；若充电电流与预设标准电流的差值小于预设电流差阈值，且充电电压与预设标准电压的差值小于预设电压差阈值，则确定充电功能正常。

该实现方式中，通过充电电流和充电电压确定充电功能是否正常，判断方法简单，易于实现，且不易出错。

一种可能的实现方式中，方法还包括：若充电功能异常，则记录充电功能异常时每个导电通路的导通起始时刻。

该实现方式中，记录充电功能异常时每个导电通路的导通起始时刻，便于后续根据导通起始时刻分析充电功能异常对应的插拔行为，进而便于对导致电子设备充电功能异常的原因进行分析。

附图说明

图1是本申请实施例提供的一例充电器USB接口和电子设备USB接口的结构示意图；

图2是本申请实施例提供的一例充电测试装置的结构及应用示意图；

图3是本申请实施例提供的另一例充电测试装置的结构示意图；

图4是本申请实施例提供的又一例充电测试装置的结构示意图；

图5是本申请实施例提供的又一例充电测试装置的结构示意图；

图6为本申请实施例提供的又一例充电测试装置的结构示意图；

图7为本申请实施例提供的又一例充电测试装置的结构示意图；

图8是本申请实施例提供的一例充电测试方法的流程示意图；

图9是本申请实施例提供的时序控制信号的示意图；

图10是本申请实施例提供的另一例充电测试方法的流程示意图。

具体实施方式

下面将结合本申请实施例中的附图，对本申请实施例中的技术方案进行描述。其中，在本申请实施例的描述中，除非另有说明，“/”表示或的意思，例如，A/B可以表示A或B；本文中的“和/或”仅仅是一种描述关联对象的关联关系，表示可以存在三种关系，例如，A和/或B，可以表示：单独存在A，同时存在A和B，单独存在B这三种情况。另外，在本申请实施例的描述中，“多个”是指两个或多于两个。

以下，术语“第一”、“第二”、“第三”仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量。由此，限定有“第一”、“第二”、“第三”的特征可以明示或者隐含地包括一个或者更多个该特征。

本申请实施例提供的充电测试装置和方法，可以用于对电子设备进行各种插拔行为下充电功能的测试。其中，电子设备可以为手机、平板电脑、可穿戴设备、车载设备、增强现实(augmented reality，AR)/虚拟现实(virtual reality，VR)设备、笔记本电脑、超级移动个人计算机(ultra-mobile personal computer，UMPC)、上网本、个人数字助理(personal digital assistant，PDA)等充电接口为USB接口的设备，本申请实施例对电子设备的具体类型不作任何限制。

电子设备通过USB接口与充电器连接进行充电。根据协议标准版本的不同，USB接口分为USB1.0接口、USB2.0接口和USB3.0接口等。同时，作为一种连接器，USB接口分为USB插头(Plug)和USB插座(Receptacle)。根据接口外观和引脚设置的不同，USB接口分为A型USB接口(Type-A)、B型(Type-B)USB接口、C型(Type-C)USB接口、迷你型(Mini)USB接口、微型(Micro)USB接口。但是，无论哪一种USB接口，都至少包括4个引脚：电源(VCC)引脚，数据线负极(D-)引脚，数据线正极(D+)引脚和接地(GND)引脚。其中，VCC引脚也称为VCC+引脚或VBUS引脚等。VCC引脚和地GND引脚用于传输充电电压信号。D-引脚和D+引脚用于传输充电数据信号，包括充电协议数据等。

示例性的，以Type-A USB2.0接口为例，图1为一充电器的USB接口和电子设备的USB接口的结构示意图。如图1所示，充电器101的USB接口102为USB插头，为了方便说明，可以称为USB插头102。电子设备103的USB接口104为USB插座，为了方便说明，可以称为USB插座104。USB插头102包括VCC引脚1A，D-引脚2A，D+引脚3A和GND引脚4A。USB插座104包括VCC引脚1B，D-引脚2B，D+引脚3B和GND引脚4B。

使用时，USB插头102中的引脚与USB插座104的引脚一一匹配连接。为了便于说明，将相互匹配的两个引脚定义为一组引脚对。例如，VCC引脚1A与VCC引脚1B为一组引脚对。下述描述中，插头和插座中的VCC引脚形成的一组引脚对称为VCC引脚对，插头和插座中的D-引脚形成的一组引脚对称为D-引脚对，插头和插座中的D+引脚形成的一组引脚对称为D+引脚对，插头和插座中的GND引脚形成的一组引脚对称为GND引脚对。

当USB插头102插入USB插座104时，各组引脚对导通。具体的，VCC引脚1A与VCC引脚1B导通，D-引脚2A与D-引脚2B导通，D+引脚3A与D+引脚3B导通，GND引脚4A与GND引脚4B导通。电子设备103通过检测4组引脚上的电流或电压等信息，判断充电器101是否处于充电状态，并识别充电器的类型(例如，识别充电器是否为标准充电器等)，从而根据充电器的类型控制充电。理想情况下，无论何种插拔行为，只要各组引脚对均导通，充电器101均应按照额定电压和额定电流向电子设备103充电。

然而，实际应用中发现，当电子设备103和/或充电器101的充电功能存在异常时，一些特殊的插拔行为(如快速插拔、慢速插拔、倾斜插拔等)下，即使各组引脚对均导通，仍然可能存在电子设备103无法正确识别出充电器101，或者电子设备103对充电器101类型识别错误等情况，导致充电器101无法正常向电子设备103充电，出现无法充电或充电慢的情况。

因此，充电接口为USB接口的电子设备在出厂前或返厂维修时，一般都需要进行各种插拔行为下的充电功能测试，以确保电子设备在各种插拔场景下充电功能的正常。插拔行为包括但不限于快速插拔、慢速插拔、倾斜插拔等。相关技术中，充电测试过程中的插拔行为由人工手动执行，不仅测试效率低，而且测试过程中，对于快速、慢速、倾斜等无法准确衡量，影响测试的主观因素较多，因而不能客观、量化的进行测试，导致测试结果不够准确。本申请旨在提供一种测试效率高，能够客观、量化的进行测试，测试结果准确的充电测试装置和方法。

发明人经研究发现，快速插拔、慢速插拔、倾斜插拔等不同的插拔行为，实质是USB插头102与USB插座104的各组引脚对的导通顺序不同，和/或各组引脚对的导通时间差不同。换而言之，充电测试中，实质影响测试结果的是各组引脚对的导通时序。

例如，实际使用时，老人行动较为缓，将USB插头102缓慢插入USB插座104，则可能VCC引脚1A与VCC引脚1B，GND引脚4A与GND引脚4B两组引脚对同时导通，约1s(秒)后，D-引脚2A与D-引脚2B，D+引脚3A与D+引脚3B两组引脚对同时导通。也就是说，VCC引脚对和GND引脚对先导通，D-引脚对和D+引脚对后导通，VCC引脚对、GND引脚对的导通时刻与D-引脚对、D+引脚对的导通时刻之间的时间差为1s。

而年轻人行动较为迅速，将USB插头102快速插入USB插座104，则可能VCC引脚1A与VCC引脚1B、GND引脚4A与GND引脚4B引脚两组引脚对同时导通，约0.5s后，D-引脚2A与D-引脚2B，D+引脚3A与D+引脚3B两组引脚对同时导通。也就是说，VCC引脚对和GND引脚对先导通，D-引脚对和D+引脚对后导通，VCC引脚对、GND引脚对的导通时刻与D-引脚对、D+引脚对的导通时刻之间的时间差为0.5s。

再例如，实际使用时，若将USB插头102倾斜插入USB插座104，USB插头102的纵切面与USB插座104的纵切面之间存在一定的夹角，从而使VCC引脚1A与VCC引脚1B先接触导通，0.1s之后GND引脚4A与GND引脚4B接触导通，再0.2s之后，D-引脚2A与D-引脚2B接触导通，再0.1s之后，D+引脚3A与D+引脚3B接触导通。也就是说，四组引脚对的导通顺序为：VCC引脚对先导通，GND引脚对后导通，D-引脚对再导通，D+引脚对最后导通。VCC引脚对的导通时刻与GND引脚对的导通时刻的时间差为0.1s，D-引脚对的导通时刻与GND引脚对的导通时刻的时间差为0.2s，D+引脚对的导通时刻与D-引脚对的导通时刻的时间差为0.1s。

可以理解，不同的插拔行为或插拔动作下，各组引脚对的导通时序均可能不同。

需要说明的是，以上仅为分析举例，并不造成对插拔行为含义的任何限定。另外，本申请实施例所述的插拔行为除了快速插拔、慢速插拔、倾斜插拔的插拔行为外，还可以包括任何可能造成引脚的导通顺序和导通时间差不同的插拔行为，本申请对此不作任何限定。

为了便于理解，以下将基于图1的应用场景，结合实施例和附图，对本申请实施例提供的充电测试装置和方法进行具体阐述。

图2为本申请实施例提供的一例充电测试装置的结构及应用示意图，如图2所示，充电测试装置200包括第一USB接口210、第二USB接口220、多个导电通路230和控制模块240。

其中，第一USB接口210与电子设备103的USB接口104匹配，用于连接电子设备103。第二USB接口220与充电器101的USB接口102匹配，用于连接充电器101。

第一USB接口210与第二USB接口220匹配，即，第一USB接口210和第二USB接口220的类型相同，能够相互插接。例如，第一USB接口210为Type-C USB2.0的USB插头，则，第二USB接口220为Type-C USB2.0的USB插座。

第一USB接口210和第二USB接口220均包括多个引脚。第一USB接口210中的引脚定义为第一引脚。第二USB接口220的引脚定义为第二引脚。第一USB接口210中的多个第一引脚与第二USB接口220中的多个第二引脚一一匹配形成多组引脚对。可以理解，第一USB接口210和第二USB接口220的类型不同，第一引脚和第二引脚的数量、引脚定义不同。

如图2所示，以Type-A USB2.0接口为例，多个第一引脚包括：第一VCC引脚1C、第一D-引脚2C、第一D+引脚3C和第一GND引脚4C。多个第二引脚包括：第二VCC引脚1D、第二D-引脚2D、第二D+引脚3D和第二GND引脚4D。第一VCC引脚1C与第二VCC引脚1D形成VCC引脚对。第一D-引脚2C与第二D-引脚2D形成D-引脚对。第一D+引脚3C和第二D+引脚3D形成D+引脚对。第一GND引脚4C和第二GND引脚4D形成GND引脚对。

每个引脚对中的两个引脚通过一个导电通路230电连接。导电通路230是指能够导通使电流通过的线路。可选的，导电通路230可以为导线，也可以为印制电路板(PrintedCircuit Board，PCB)或柔性电路板(Flexible Printed Circuit，FPC)中的可导电线路等。为了便于描述，连接VCC引脚对的导电通路230称为VCC导电通路，连接D-引脚对的导电通路230称为D-导电通路，连接D+引脚对的导电通路230称为D+导电通路，连接GND引脚对的导电通路230称为GND导电通路。

控制模块240与各个导电通路230分别电连接。控制模块240用于控制导电通路230的导通与断开。控制模块240可以为硬件电路，也可以为软件程序功能模块，还可以为硬件电路与软件程序的结合，本申请实施例对此不作任何限定。可选的，控制模块240可以为中央处理器、微控制单元(Microcontroller Unit，MCU)或可编程控制器(ProgrammableLogic Controller，PLC)等处理器，处理器通过执行计算机程序实现对导电通路230通断的控制。

具体的，控制模块240可以根据预设通断时间参数控制各个导电通路230的导通与断开。预设通断时间参数是指预先设置的时间参数，根据预设通断时间参数能够直接或者间接的确定每个导电通路230的导通起始时刻。控制模块240根据预设通断时间参数控制各个导电通路230的导通与断开的具体原理，将在下述充电测试方法相关实施例中进行详细说明。

可选的，控制模块240具体用于根据预设通断时间参数控制各个导电通路230的导通与断开，使得各个导电通路230的导通起始时刻不同，从而模拟不同的插拔行为。例如，通过控制模块240控制VCC导电通路与GND导电通路在A时刻同时导通，并控制D-导电通路和D+导电通路在A时刻之后1s导通，以模拟快速插拔，进而检测快速插拔时电子设备103的充电功能是否正常。

可以理解，根据需要，除上述模块之外，充电测试装置200还可以包括更多的模块。例如，充电测试装置200还可以包括电源模块、存储模块或计时模块等。

以下对充电测试装置200的使用过程和测试原理进行说明。

如图2所示，使用时，将第一USB接口210插入电子设备103的USB插座104。将充电器101的USB插头102插入第二USB接口220。由于第一USB接口210中的第一引脚与第二USB接口220中的第二引脚形成的多组引脚对，通过多个导电通路230一一对应连接导通，因此电子设备103的USB插座104与充电器101的USB插头102的各组引脚对导通。控制模块240根据预设通多时间参数控制各个导电通路230的导通与断开，从而模拟不同的插拔行为，并可以进一步确定各种插拔行为下，电子设备103的充电功能是否正常，确定是否出现充电慢、不能充电等异常情况。

本实施例提供的充电测试装置包括第一USB接口、与第一USB接口匹配的第二USB接口、多个导电通路和控制模块。第一USB接口的多个第一引脚与第二USB接口的多个第二引脚一一匹配形成多组引脚对，多个导电通路分别与多组引脚对一一对应电连接，且控制模块与各个导电通路分别电连接。本实施例中，控制模块能够根据预设通断时间参数控制各个导电通路的导通与断开，从而模拟电子设备和充电器之间的各种插拔行为，便于实现对电子设备充电功能的测试。本实施例提供的充电测试装置无需人工执行插拔行为，提高了充电测试效率。同时，本实施例提供的充电测试装置模拟各种插拔行为时，由控制模块根据预设通断时间参数控制导电通路的导通与断开，实现了测试参数和测试结果的量化，相较于人工执行插拔行为，更能够客观、真实的模拟插拔行为，从而使得测试结果更加准确。

图3为另一个实施例提供的充电测试装置的结构示意图。可选的，每个导电通路230中可以电连接有开关。如图3所示，GND导电通路中连接有开关K1，D+导电通路中连接有开关K2，D-导电通路中连接有开关K3，VCC导电通路中连接有开关K4。控制模块240与每个开关电连接，并通过控制开关的闭合与断开，实现对导电通路230通断的控制。具体的，控制模块240控制开关闭合，导电通路230导通；控制模块240控制开关断开，导电通路230断开。本实施例中，控制模块通过控制开关实现对各个导电通路通断的控制，电路连接方式简单，易于实现，且开关对导电通路中电流、电压影响较小，便于更真实的模拟各种插拔行为，使得充电测试结果更加准确。

作为一种可选的实施方式，上述开关可以为电子开关。电子开关能够进一步的减小对导电通路中电流和电压的影响，进一步提高插拔行为模拟的真实性，从而进一步提高充电测试的准确性。

图4为又一个实施例提供的充电测试装置的结构示意图。如图4所示，充电测试装置200还可以包括检测模块250。检测模块250与控制模块240电连接。检测模块250用于检测第一USB接口210与第二USB接口220之间的充电参数。控制模块240还用于根据检测模块250检测得到的充电参数确定电子设备的充电功能是否正常。

可选的，充电参数包括充电电流和充电电压中的至少一种。则，控制模块240根据充电电流和充电电压中的至少一种确定电子设备的充电功能是否正常。

作为一种可选的实施方式，控制模块240将充电电流与预设标准电流进行比较，并将充电电压与预设标准电压进行比较，根据比较结果确定电子设备的充电功能是否正常。可选的，预设标准电流可以为充电器的额定输出电流，预设标准电压可以为充电器的额定输出电压。例如，充电器输出为5V，2A，则预设标准电流可以为2A，预设标准电压可以为5V。

具体的，控制模块240可以将充电电流与预设标准电流作差，并将充电电压与预设标准电压作差，若充电电流与预设标准电流的差值小于预设电流差阈值，且充电电压与预设标准电压的差值小于预设电压差阈值，则确定充电功能正常；否则确定充电功能异常。

具体的，检测模块250可以与VCC通路连接，通过检测VCC通路上的电流和电压，得到充电电流，得到充电电压。

检测模块250可以有多种实现方式，以下对检测模块250的具体结构进行说明。

作为一种可选的实施方式，如图4所示，检测模块250可以包括电压检测电路251和电流检测电路252。电压检测电路251和电流检测电路252均与VCC通路连接，且与控制模块240电连接。具体的，电压检测电路251用于检测VCC通路中的电压，得到充电电压。电流检测电路252用于检测流经VCC通路上的电流，得到充电电流。本申请实施例对于电压检测电路251和电流检测电路252的具体结构不做任何限定，只要能够实现其功能即可。

可选的，电流检测电路252可以包括第一检测电阻、电压检测单元和计算单元。第一检测电阻可以串联于VCC导电通路中。电压检测单元并联于第一检测电阻两端，用于检测第一检测电阻两端的电压。计算单元与电压检测单元和控制模块240分别电连接，用于根据第一检测电阻两端的电压和第一检测电阻的阻值计算充电电流。具体的，充电电流＝第一检测电阻两端的电压/第一检测电阻的阻值。

可选的，第一检测电阻的阻值可以小于100mΩ。例如，第一检测电阻的阻值可以为10mΩ。可以理解，第一检测电阻的阻值越小，对VCC导电通路的影响越小，检测得到的充电电流和充电电压越准确。因此，第一检测电阻的阻值小于100mΩ能够有效控制第一检测电阻对VCC导电通路中电流和电压的影响，提高充电电流和充电电压检测的准确性。

作为另一种可选的实时方式，示例性的，图5为充电测试装置的另一种结构示意图。本实施例中，充电测试装置200采用与图4实施例不同的实现方案实现充电电压和充电电流的检测。如图5所示，检测模块250可以包括第二检测电阻R2和模数转换器(Analog-to-Digital Converter，ADC)253。第二检测电阻R2串联于VCC导电通路中。ADC 253可以包括第一组输入端和第二组输入端，其中，第一组输入端包括一个输入端口IN1，第二组输入端包括两个输入端口IN2A和IN2B。第一组输入端的输入端口IN1与VCC导电通路电连接。ADC 253通过输入端口IN1采集VCC导电通路中的第一模拟电压信号，并将第一模拟电压信号转换为第一数字电压信号，从而得到充电电压。第二组输入端的两个输入端口IN2A和IN2B分别与第二检测电阻R2的两端电连接。ADC 253通过输入端口IN2A和IN2B采集第二检测电阻R2两端的第二模拟电压信号，并将第二模拟电压信号转换为第二数字电压信号，进而得到第二电压。可选的，ADC 253可以将输入端口IN2A和IN2B输入的信号进行差分放大后采集第二模拟电压信号。

ADC 253的输出端与控制模块240电连接。ADC 253将充电电压和第二电压发送至控制模块240。控制模块240根据第二电压和第二检测电阻R2的阻值计算充电电流，并进一步根据充电电流和充电电压判断电子设备的充电功能是否正常。

本实施例中，ADC既能够实现充电电压检测功能，又能够实现配合第二检测电阻R2和控制模块实现充电电流的检测功能，实现了ADC的功能复用，简化了充电测试装置的结构，有效节约装置成本。同时，通过控制模块计算充电电流，实现了控制模块的功能复用，进一步简化了充电测试装置的结构，有效节约装置成本。

与第一检测电阻原理类似，第二检测电阻R2的阻值也可以小于100mΩ，从而有效控制第二检测电阻R2对VCC导电通路中电流和电压的影响，提高充电电流和充电电压检测的准确性。

在一些实施例中，可以对上述实施例提供的充电测试装置200进行进一步的扩展，以实现更多功能。可选的，第一USB接口210和第二USB接口220可以为多个，以便同时连接多个充电器和电子设备。以下结合实施例及附图，对几种扩展后的充电测试装置200进行进一步说明。

为了便于描述，下述实施例中，将一个第一USB接口210和与该第一USB接口210匹配的第二USB接口220总称为USB接口组201。将每组USB接口组201及连接该USB接口组201的多个导电通路230总称为接口模块202。将一个VCC导电通路、一个D-导电通路、一个D+导电通路和一个GND导电通路总称为一组导电通路。

示例性的，图6为又一个实施例提供的充电测试装置的结构示意图。如图6所示，充电测试装置200可以包括多组USB接口组201。每组USB接口组201包括一个第一USB接口210和与该第一USB接口210匹配的第二USB接口220。充电测试装置200可以包括一组导电通路，每组USB接口组201中的多组引脚对分别与该组导电通路中的多个导电通路230一一对应电连接。换句话说，多组USB接口组201共用一组导电通路。

可选的，多组USB接口组201的接口类型可以不同。例如，如图6所示，位于图6下方的第一组USB接口组201中的第一USB接口210和第二USB接口220可以为Type-AUSB2.0接口，位于图6上方的第二组USB接口组201中的第一USB接口210和第二USB接口220可以为MiniUSB2.0接口。具体的，第一组USB接口组201中的第一USB接口210包括4个引脚1C～4C，第一组USB接口组201中的第二USB接口220包括4个引脚1D～4D。引脚1C～4C与引脚1D～4D通过4个导电通路230一一对应电连接。第二组USB接口组201中的第一USB接口210包括5个引脚1E～5E，第二组USB接口组201中的第二USB接口220包括5个引脚1F～5F。引脚1E～5E中的4E为空，引脚1F～5F中的4F为空。引脚1E～5E中除4E外的其他引脚，与引脚1F～5F中除4F外的其他引脚通过4个导电通路230一一对应电连接。

该实现方式中，通过设置多组接口类型不同的USB接口组，使得充电测试装置能够兼容不同接口类型的电子设备和充电器，从而提高使用灵活性。

示例性的，图7为又一个实施例提供的充电测试装置的结构示意图。如图7所示，充电测试装置200可以包括多个接口模块202。每个接口模块202包括一组USB接口组201以及与该组USB接口组201连接的一组导电通路。每个接口模块202中的多个导电通路230均与控制模块240电连接。控制模块240用于控制每组接口模块202中的每个导电通路230的导通与断开。

可选的，本实施例中，检测模块250的数量也可以为多个，每个检测模块250分别与一个接口模块202中的VCC导电通路连接。同时，每个检测模块250均与控制模块240连接。控制模块240还用于通过每个检测模块250获取对应的接口模块202中第一USB接口210和第二USB接口220之间的充电电流和充电电压，进而判断该接口模块202连接的电子设备的充电功能是否正常。

可以理解，多个接口模块202中的USB接口组201可以相同，也可以不同。当多个接口模块202中的USB接口组201相同时，充电测试装置200能够实现多组同样接口类型的电子设备与匹配的充电器之间的充电插拔行为模拟，从而实现对多个电子设备充电功能的测试，提高测试效率，且能够节约成本。

当多个接口模块202中的USB接口组201不同时，充电测试装置200能够实现多组不同接口类型的电子设备与匹配的充电器之间的充电插拔行为模拟，提高测试效率，节约成本，且兼容性强。

本申请实施例还提供一种充电测试方法，该方法可以应用于如上实施例所述的充电测试装置中。示例性的，图8是本申请实施例提供的一例充电测试方法的流程示意图，如图8所示，该方法包括：

S801、获取预设通断时间参数，预设通断时间参数用于确定每个导电通路的导通起始时刻。

S802、根据预设通断时间参数控制各个导电通路的导通与断开。

预设通断时间参数可以根据实际使用需求设置。例如，可以根据待模拟的插拔行为设置匹配的预设通断时间。可选的，预设通断时间参数可以预先存储于充电测试装置的存储模块中，也可以通过服务器等获取。

可选的，当充电测试装置包括一组导电通路时，预设通断时间参数可以包括一组导电通路对应的参数。当充电测试装置包括多组导电通路时，预设通断时间参数可以包括多组导电通路中每组导电通路分别对应的参数。

可选的，预设通电时间参数可以为各个导电通路的导通时刻参数，也可以为各个导电通路之间的导通时间差参数。其中，导通时间差参数是指各个导电通路与其他导电通路的导通起始时刻的时间差值。导通时刻参数可以为导通绝对时刻参数，也可以为导通相对时刻参数。本申请实施例对于预设通断时间参数的具体类型不做任何限定，只要能够直接或间接的确定每个导电通路的导通起始时刻即可。

可选的，各个导电通路的导通起始时刻可以为系统时刻。系统时刻是指充电测试装置的计时模块所记录的时间。

在一个具体的实施例中，预设通断时刻参数为导通相对起始时刻。通过设定任一个导电通路导通的系统时刻，即可确定出其他各个导电通路的系统时刻。例如，将四个导电通路中第一个导通的导电通路的导通相对起始时刻定义为0：00：00时刻，相应的，其他导电通路的导通相对起始时刻分别为0：00：01时刻、0：00：02时刻和0：00：03时刻。导通相对起始时刻不仅能够反映出各个导电通路导通的先后顺序，而且能够反映出导通起始时刻的差值。在设定多个导电通路中任一个导电通路的导通相对起始时刻对应的系统时刻后，即可根据导通相对起始时刻确定出其他导电通路导通的系统时刻。

在另一个具体的实施例中，预设通断时刻参数为时间差参数。通过设定任一个导电通路导通的系统时刻，即可确定出其他各个导电通路导通的系统时刻。例如，假设VCC导电通路与GND导电通路的时间差值为0s，VCC导电通路与D-导电通路的时间差值为0.5s，VCC导电通路与D+导电通路的时间差值为0.5s。可以理解，时间差值可以为正值，也可以为负值。通过时间差值的正负可以反映出两个导电通路之间的导通先后顺序，通过时间差值的绝对值可以反映出两个导电通路之间导通起始时刻的差值。因此，在设定多个导电通路中任一个导电通路的绝对导通时刻值后，根据各个导电通路对应的时间差值即可确定出其他导电通路导通的系统时刻。

可选的，预设通断时间参数可以包括每个导电通路实现一次导通的时间参数，也可以包括每个导电通路实现多次导通的时间参数。为了便于描述，将用于分别控制各个导电通路实现一次导通的时间参数称为一组时间参数组。预设通断时间参数可以包括多组时间参数组，每组时间参数组中包括各个导电通路的时间参数。时间参数可以为上述时间差参数，也可以为上述导通起始时刻参数。

在一个具体的实施例中，预设通断时间参数包括每个导电通路实现多次导通的导通起始时刻参数，即，预设通断时间参数包括多组导通时刻参数组，每组导通时刻参数组包括各个导电通路的导通起始时刻参数。可选的，多组导通时刻参数组可以通过矩阵表示。例如，以USB接口包括4个引脚为例，多组导通时刻参数组表示为：

{[s11，s12，s13，s14]

[s21，s22，s23，s24]

……

[sn1，sn2，sn3，sn4]}

其中，[sn1，sn2，sn3，sn4]表示第n组导通时刻参数组，sn1表示第一导电通路的导通时刻参数，sn2表示第二导电通路的导通时刻参数，sn3表示第三导电通路的导通时刻参数，sn4表示第四导电通路的导通时刻参数。可选的，第一导电通路可以为GND导电通路，第二导电通路可以为D+导电通路，第三导电通路可以为D-导电通路，第四导电通路可以为VCC导电通路。

可以理解，上述预设通断时间参数的矩阵中，每两组导通时刻参数组相比，至少存在一个导通时刻参数不同。通过设置多组导通时刻参数组，可以实现多个导电通路按照不同的导通顺序和/或不同的导通时间差导通，从而模拟多种不同的插拔行为，进而实现多种插拔行为下电子设备充电功能的测试，提高测试的全面性。

在另一个具体的实施例中，预设通断时间参数包括每个导电通路实现多次导通的时间差参数，即，预设通断时间参数包括多组时间差参数组，每组时间差参数组包括各个导电通路的导通起始时刻之间的时间差参数。可选的，多组时间差参数组可以通过参数矩阵表示。例如，以USB接口包括4个引脚为例，多组导通时刻参数组表示为：

{[δ11，δ12，δ13]

[δ21，δ22，δ23]

……

[δn1，δn2，δn3]}

其中，[δn1，δn2，δn3]表示第n组时间差参数组，δn1表示第二导电通路的导通起始时刻与第一导电通路的导通起始时刻之间的时间差参数，δn2表示第三导电通路的导通起始时刻与第一导电通路的导通起始时刻之间的时间差参数，δn3表示第四导电通路的导通起始时刻与第一导电通路的导通起始时刻之间的时间差参数。可选的，第一导电通路可以为GND导电通路，第二导电通路可以为D+导电通路，第三导电通路可以为D-导电通路，第四导电通路可以为VCC导电通路。

可以理解，上述预设通断时间参数的矩阵中，每两组时间差参数组相比，至少存在一个时间差参数不同。通过设置多组时间差参数组，可以实现多个导电通路按照不同的导通顺序和/或不同的导通时间差导通，从而模拟多种不同的插拔行为。

可选的，可以根据预设通断时间参数生成对各个导电通路中开关的时序控制信号，通过时序控制信号控制各个开关的闭合与断开，从而实现各个导电通路的导通与断开。

作为一种可选的实现方式，步骤S802、根据预设通断时间参数控制各个导电通路的导通与断开，可以包括：

根据多组时间参数组，生成对每个开关的时序控制信号。将时序控制信号发送至对应的开关，控制每个开关的闭合与断开，以控制各个导电通路在不同的导通起始时刻导通。

示例性的，图9为一个实施例中根据多组时间参数组生成的时序控制信号(简称控制信号)的示意图。以GND导电通路中连接开关K1，D+导电通路中连接开关K2，D-导电通路中连接开关K3，VCC导电通路中连接开关K4为例进行说明。假设开关K1-K4均在控制信号为高电平时闭合，在控制信号为低电平时断开。

如图9所示，时间段S1，开关K1的控制信号控制开关K1在t1时刻闭合，在t3时刻断开；开关K2的控制信号控制开关K2在t2时刻闭合，在t3时刻断开；开关K3的控制信号控制开关K3在t2时刻闭合，在t3时刻断开；开关K4的控制信号控制开关K4在t1时刻闭合，在t3时刻断开。时间段S1能够模拟VCC导电通路和GND导电通路先导通，D-导电通路和D+导电通路后导通，且D-导电通路与VCC导电通路导通起始时刻差值为T1的插拔行为。当T1较小时，时间段S1能够模拟快速插拔行为。

类似的，时间段S2能够模拟VCC导电通路和GND导电通路先导通，D-导电通路和D+导电通路后导通，且D-导电通路与VCC导电通路导通起始时刻差值为T2的插拔行为。当T2较大时，时间段S2能够模拟慢速插拔行为。

时间段S3，开关K1的控制信号控制开关K1在t7时刻闭合，在t11时刻断开；开关K2的控制信号控制开关K2在t9时刻闭合，在t11时刻断开；开关K3的控制信号控制开关K3在t10时刻闭合，在t11时刻断开；开关K4的控制信号控制开关K4在t8时刻闭合，在t11时刻断开。时间段S3能够模拟GND导电通路先导通，VCC导电通路后导通，D-导电通路，D+导电通路再导通，D-导电通路最后导通的插拔行为。时间段S3能够模拟倾斜插拔行为。

本实施例提供的充电测试方法，通过获取预设通断时间参数，根据预设通断时间参数控制各个导电通路的导通与断开，从而能够模拟电子设备和充电器之间的各种插拔行为，便于实现对电子设备充电功能的测试。本实施例提供的充电测试方法无需人工执行插拔行为，提高了充电测试效率。同时，本实施例提供的充电测试方法模拟各种插拔行为时，根据预设通断时间参数控制导电通路的导通与断开，实现了测试参数和测试结果的量化，相较于人工执行插拔行为，更能够客观、真实的模拟插拔行为，从而使得测试结果更加准确。

在一个实施例中，充电测试装置还包括上述检测模块。检测模块的具体结构、功能即连接关系等参照上述实施例，在此不再赘述。示例性的，图10是本申请实施例提供的一例充电测试方法的流程示意图，如图10所示，所述充电测试方法还包括：

S1001、根据充电参数确定电子设备的充电功能是否正常。

可选的，充电参数可以包括充电电流和充电电压中的至少一种。

可选的，可以将充电电流与预设标准电流进行比较，并将所述充电电压与预设标准电压进行比较。若所述充电电流与所述预设标准电流的差值小于预设电流差阈值，且所述充电电压与所述预设标准电压的差值小于预设电压差阈值，则确定所述充电功能正常。否则，确定充电功能异常。

可选的，在充电功能异常时，可以进一步记录此时每个导电通路的导通起始时刻，从而便于后续根据导通起始时刻分析充电功能异常对应的插拔行为，进而便于对导致电子设备充电功能异常的原因进行分析。

以上内容，仅为本申请的具体实施方式，但本申请的保护范围并不局限于此，任何熟悉本技术领域的技术人员在本申请揭露的技术范围内，可轻易想到变化或替换，都应涵盖在本申请的保护范围之内。因此，本申请的保护范围应以权利要求的保护范围为准。

Claims (19)

1.一种充电测试装置，其特征在于，包括：

第一USB接口，包括多个第一引脚，所述第一USB接口用于连接电子设备；

第二USB接口，包括多个第二引脚，所述第二USB接口用于连接充电器；所述第二USB接口与所述第一USB接口匹配，所述多个第一引脚与所述多个第二引脚一一匹配形成多组引脚对；

多个导电通路，分别与所述多组引脚对一一对应电连接；

控制模块，与各个所述导电通路分别电连接，用于根据预设通断时间参数控制各个所述导电通路的导通与断开，所述预设通断时间参数用于确定每个所述导电通路的导通起始时刻。

2.根据权利要求1所述的装置，其特征在于，所述多个导电通路的导通起始时刻不同。

3.根据权利要求1或2所述的装置，其特征在于，每个所述导电通路中电连接有开关，所述开关与所述控制模块电连接；

所述控制模块具体用于根据所述预设通断时间参数控制每个所述开关的闭合与断开，以控制各个所述导电通路的导通与断开。

4.根据权利要求1至3任一项所述的装置，其特征在于，所述装置还包括检测模块，所述检测模块与所述控制模块电连接，用于检测所述第一USB接口和所述第二USB接口之间的充电参数；

所述控制模块还用于根据所述充电参数确定所述电子设备的充电功能是否正常。

5.根据权利要求4所述的装置，其特征在于，所述充电参数包括充电电流和/或充电电压，所述控制模块具体用于：

将所述充电电流与预设标准电流进行比较，将所述充电电压与预设标准电压进行比较；

若所述充电电流与所述预设标准电流的差值小于预设电流差阈值，且所述充电电压与所述预设标准电压的差值小于预设电压差阈值，则确定所述充电功能正常。

6.根据权利要求5所述的装置，其特征在于，所述多个第一引脚中包括第一电源引脚，所述多个第二引脚中包括第二电源引脚，所述检测模块与所述第一电源引脚对应的电源导电通路电连接；所述检测模块具体用于：

检测流经所述电源导电通路的电流得到所述充电电流，检测所述电源导电通路中的电压得到所述充电电压。

7.根据权利要求6所述的装置，其特征在于，所述检测模块包括：

电压检测电路，与所述电源导电通路及所述控制模块分别电连接，用于检测所述电源导电通路中的电压，得到所述充电电压；

电流检测电路，与所述电源导电通路及所述控制模块分别电连接，用于检测流经所述电源导电通路的电流，得到所述充电电流。

8.根据权利要求7所述的装置，其特征在于，所述电流检测电路包括：

第一检测电阻，串联于所述电源导电通路中；

电压检测单元，并联于所述第一检测电阻两端，用于检测所述第一检测电阻两端的电压；

计算单元，与电压检测单元和控制模块分别电连接，用于根据所述第一检测电阻两端的电压和所述第一检测电阻的阻值计算所述充电电流。

9.根据权利要求8所述的装置，其特征在于，所述第一检测电阻的阻值小于100mΩ。

10.根据权利要求6所述的装置，其特征在于，所述检测模块包括：

第二检测电阻，串联于所述电源导电通路中；

模数转换器，与所述电源导电通路电连接，且与所述第二检测电阻的两端均连接，用于采集所述电源导电通路中的第一模拟电压信号，并将所述第一模拟电压信号转换为第一数字电压信号，得到所述充电电压；所述模数转换器还用于采集所述第二检测电阻两端的第二模拟电压信号，并将所述第二模拟电压信号转换为第二数字电压信号，得到第二电压；

所述控制模块还用于根据所述第二电压和所述第二检测电阻的阻值计算所述充电电流。

11.根据权利要求10所述的装置，其特征在于，所述第二检测电阻的阻值小于100mΩ。

12.根据权利要求1至10任一项所述的装置，其特征在于，所述装置包括多组接口模块，每组所述接口模块包括所述第一USB接口、所述第二USB接口和所述多个导电通路；每组所述接口模块中的所述多个导电通路均与所述控制模块电连接，所述控制模块用于控制各组所述接口模块中所述多个导电通路的导通与断开。

13.根据权利要求1至10任一项所述的装置，其特征在于，所述装置包括多组USB接口组，每组所述USB接口组包括所述第一USB接口和所述第二USB接口；每组所述USB接口组中的所述多组引脚对分别与所述多个导电通路一一对应电连接。

14.一种充电测试方法，其特征在于，应用于充电测试装置，所述充电测试装置包括第一USB接口、与所述第一USB接口匹配的第二USB接口和多个导电通路，所述第一USB接口用于连接电子设备，所述第一USB接口包括多个第一引脚，所述第二USB接口用于连接充电器，所述第二USB接口包括多个第二引脚，所述多个第一引脚与所述多个第二引脚一一匹配形成多组引脚对，所述多个导电通路分别与所述多组引脚对一一对应电连接；所述方法包括：

获取预设通断时间参数，所述预设通断时间参数用于确定每个所述导电通路的导通起始时刻；

根据所述预设通断时间参数控制各个所述导电通路的导通与断开。

15.根据权利要求14所述的方法，其特征在于，所述预设通断时间参数包括多组时间参数组，每组所述时间参数组包括所述多个导电通路的时间参数，所述时间参数用于确定导电通路的导通起始时刻。

16.根据权利要求15所述的方法，其特征在于，每个所述导电通路中电连接有开关；

所述根据所述预设通断时间参数控制各个所述导电通路的导通与断开，包括：

根据所述多组时间参数组，生成对每个所述开关的时序控制信号；

将所述时序控制信号发送至对应的开关，控制每个所述开关的闭合与断开，以控制各个所述导电通路在不同的导通起始时刻导通。

17.根据权利要求14至16中任一项所述的方法，其特征在于，所述充电测试装置还包括检测模块，所述检测模块用于检测所述第一USB接口和所述第二USB接口之间的充电参数；所述方法还包括：

根据所述充电参数确定所述电子设备的充电功能是否正常。

18.根据权利要求17所述的方法，其特征在于，所述充电参数包括充电电流和/或充电电压，所述根据所述充电参数确定所述电子设备和所述充电器的充电功能是否正常，包括：

将所述充电电流与预设标准电流进行比较，将所述充电电压与预设标准电压进行比较；

若所述充电电流与所述预设标准电流的差值小于预设电流差阈值，且所述充电电压与所述预设标准电压的差值小于预设电压差阈值，则确定所述充电功能正常。

19.根据权利要求17或18所述的方法，其特征在于，所述方法还包括：

若所述充电功能异常，则记录充电功能异常时每个所述导电通路的导通起始时刻。

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