CN113259000A - 一种光模块测试装置 - Google Patents

Abstract

本申请涉及一种光模块测试装置，涉及光纤通信技术领域，该装置包括：PRBS伪随机码产生电路模块、PRBS伪随机码检查校验模块和光模块接口电路模块；PRBS伪随机码产生电路模块用于产生PRBS伪随机数据包，向光模块接口电路模块提供PRBS伪随机数据包；光模块接口电路模块用于与光模块连接，并将PRBS伪随机数据包通过光模块传输给外部，并将光模块接收的光信号转换为PRBS伪随机码校验数据包，传输给PRBS伪随机码检查校验模块；PRBS伪随机码检查校验模块用于分析PRBS伪随机数据包与PRBS伪随机码校验数据包之间的差异，计算误码率。本申请能够降低光模块生产测试成本，并且能够提高光模块生产测试效率。

Description

一种光模块测试装置

技术领域

本申请涉及光纤通信技术领域，尤其涉及一种光模块测试装置。

背景技术

双密度四通道小型可插拔封装（Quad Small Form Factor Pluggable-DoubleDensity，QSFP-DD）光模块采用8通道电气接口，每通道速率可高达25Gb/s（NRZ调制）或50Gb/s（PAM4调制），提供高达200Gb/s或400Gb/s聚合的解决方案，如QSFPDD可在单个交换机插槽中实现高达14.4Tb/s的聚合带宽，使得数据中心能够根据需要有效地增长和扩展云容量。

在实际生产过程中，需要对QSFP-DD光模块进行测试。目前，主要是通过8通道高速误码仪对QSFP-DD光模块进行测试。具体的，8通道高速误码仪通过8对TX和8对RX射频线与QSFP-DD测试板连接，如在QSFP-DD TX眼图测试时，8通道高速误码仪可以通过8对TX高速射频线与QSFP-DD测试板连接，如图1所示，且该QSFP-DD测试板可以通过光纤与高速示波器连接；又如在测试QSFP-DD RX灵敏度时，8通道高速误码仪可以通过8对RX射频线与QSFP-DD光源板连接，以通过该QSFP-DD光源板与QSFP-DD测试板连接，如图2所示，该QSFP-DD测试板可以通过光纤分别与QSFP-DD光源板、光衰减器连接，以及光衰减器可以通过高速射频线与8通道高速误码仪连接，从而可以通过8通道高速误码仪可以对QSFP-DD测试板的RX灵敏度进行测试。

可见，现有QSFPDD测试需要接入8对TX和8对RX射频线，高速射频线的数量高达到32条，影响QSFPDD在生产测试过程中效率；并且高速射频线的价格和8通道高速误码仪设备的价格均比较昂贵，增加QSFPDD生产测试的成本。

发明内容

有鉴于此，本申请提供了一种光模块测试装置，以解决了现有技术采用高速误码仪和高速射频线进行光模块测试导致光模块生产测试成本高的问题，提高光模块生产测试效率。

第一方面，本申请实施例提供了一种光模块测试装置，包括：PRBS伪随机码产生电路模块、PRBS伪随机码检查校验模块和光模块接口电路模块；

所述PRBS伪随机码产生电路模块，用于产生PRBS伪随机数据包；

所述光模块接口电路模块，用于与光模块连接，并将所述PRBS伪随机码产生电路模块产生的PRBS伪随机数据包输出给光模块，以通过光模块将所述PRBS伪随机数据包转换为光信号，以及将所述光模块接收的光信号转换为PRBS伪随机码校验数据包，并传输给所述PRBS伪随机码检查校验模块；

所述PRBS伪随机码检查校验模块，用于分析所述PRBS伪随机数据包与所述PRBS伪随机码校验数据包之间的差异，计算误码率。

可选的，光模块测试装置还包括：MCU控制电路模块；

所述MCU控制电路模块，用于控制所述PRBS伪随机码产生电路模块输出所述PRBS伪随机数据包，以及控制所述PRBS伪随机码检查校验模块分析所述PRBS伪随机数据包与所述PRBS伪随机码校验数据包之间的差异。

可选的，所述光模块接口电路模块包括TX接口模块和RX接口模块；

所述TX接口模块的一端连接所述PRBS伪随机码产生电路模块，所述TX接口模块的另一端用于连接所述光模块；

所述RX接口模块的一端连接所述PRBS伪随机码检查校验模块，所述RX接口模块的另一端用于接收光模块的信号。

可选的，所述TX接口模块具体用于将所述PRBS伪随机码产生电路模块产生的PRBS伪随机数据包输出给光模块。

可选的，所述PRBS伪随机数据包包含所述PRBS伪随机码产生电路模块输出的8通道光信号；

所述TX接口模块包括：用于传输所述8通道光信号的8个TX接口。

可选的，所述RX接口模块具体用于将所述光模块接收的光信号转换为PRBS伪随机码校验数据包，并传输给所述PRBS伪随机码检查校验模块。

可选的，所述PRBS伪随机码校验数据包包含8通道数据包校验信号；

所述RX接口模块包括：用于传输所述8通道数据包校验信号的8个RX接口。

可选的，所述PRBS伪随机码检查校验模块包含8通道信号输入口，所述8通道信号输入口分别与所述8个RX接口一一对应连接。

可选的，所述PRBS伪随机码产生电路模块包含8通道信号输出口，所述8通道信号输出口分别与所述8个TX接口一一对应连接。

可选的额，所述的光模块测试装置还包括与所述MCU控制电路模块连接的通信电路模块；所述通信电路模块用于与上位机进行通信连接。

可选的，所述通信电路模块包括：通用串行总线接口和通信转换芯片；

所述通信转换芯片的一端与所述通用串行总线接口连接，所述通信转换芯片的另一端与MCU控制电路模块连接。

本申请实施例通过光模块接口电路模块与需要测试的光模块连接，并通过PRBS伪随机码型产生电路产生PRBS伪随机数据包，随后通过光模块将PRBS伪随机数据包转换为光信号，再通过将光模块接收的光信号转换为PRBS伪随机码校验数据包，最后可将RBS伪随机码检查校验模块传输到PRBS伪随机码检查校验模块进行分析，计算误码率，从而可以基于计算得到的误码率判断光模块是否合格，即判断待测的光模块是否OK. 从而解决了现有技术采用高速误码仪和高速射频线进行光模块测试导致光模块生产测试成本高的问题，提高光模块生产测试效率。

附图说明

此处的附图被并入说明书中并构成本说明书的一部分，示出了符合本发明的实施例，并与说明书一起用于解释本发明的原理。

为了更清楚地说明本发明实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，对于本领域普通技术人员而言，在不付出创造性劳动性的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。

图1为现有技术中QSFPDD TX眼图测试框图；

图2为现有技术中QSFPDD RX灵敏度测试框图；

图3为为本申请实施例提供的一种光模块测试装置的结构框图；

图4为本申请一个示例中的光模块接口电路模块的结构示意图；

图5为本申请一个示例中的PRBS伪随机码产生电路模块的连接示意图；

图6为本申请一个示例中的PRBS伪随机码产生电路模块的结构示意图；

图7为本申请一个示例中的PRBS伪随机码检查校验模块的结构示意图；

图8为本申请一个示例中的通信电路模块的结构示意图；

图9为本申请一个示例中的MCU控制电路模块的结构示意图；

图10为本申请一个示例中的检测QSFPDD 光模块的接收RX 灵敏度的示意图；

图11为本申请一个示例中的QSFPDD 光模块的TX眼图测试示意图。

具体实施方式

为使本申请实施例的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合本申请实施例中的附图，对本申请实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例是本申请的一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本申请中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动的前提下所获得的所有其他实施例，都属于本申请保护的范围。

图3为本申请实施例提供的一种光模块测试装置的结构框图。本申请提供的光模块测试装置，具体可以包括：PRBS伪随机码产生电路模块320、PRBS伪随机码检查校验模块330和光模块接口电路模块340。其中，所述PRBS伪随机码产生电路模块320，用于产生PRBS伪随机数据包。所述光模块接口电路模块340，用于与光模块连接，并将所述PRBS伪随机码产生电路模块320产生的PRBS伪随机数据包输出给光模块，以通过光模块将所述PRBS伪随机数据包转换为光信号，以及将所述光模块接收的光信号转换为PRBS伪随机码校验数据包，并传输给所述PRBS伪随机码检查校验模块330。所述PRBS伪随机码检查校验模块330，用于分析所述PRBS伪随机数据包与所述PRBS伪随机码校验数据包之间的差异，计算误码率。

可见，本申请实施例中的光模块测试装置包括：PRBS伪随机码产生电路模块320、PRBS伪随机码校验电路模块330和光模块接口电路模块340，该PRBS伪随机码产生电路模块320用于产生PRBS伪随机数据包，以向光模块接口电路模块340提供PRBS伪随机数据包，从而可以通过光模块接口电路模块340传输光信号；光模块接口电路模块340用于与光模块连接，并将PRBS伪随机数据包通过光模块传输给外部，即通过光模块转换光信号，以及将光模块接收的光信号转换为PRBS伪随机码校验数据包，传输给所述PRBS伪随机码检测校验模块330，进而使得PRBS伪随机码检测校验模块330可以通过分析发送的数据包与接收的数据包差异，计算误码率。其中，PRBS伪随机码检测校验模块330用于接收到数据包，分析数据包，计算误码率。

进一步的，本申请实施例提供的光模块测试装置光模块测试装置还可以包括：MCU控制电路模块310。MCU控制电路模块310，用于控制所述PRBS伪随机码产生电路模块320输出所述PRBS伪随机数据包，以及控制所述PRBS伪随机码检查校验模块330分析所述PRBS伪随机数据包与所述PRBS伪随机码校验数据包之间的差异。

在实际处理中，所述MCU控制电路模块310可以用于控制述PRBS伪随机码产生电路模块320输出数据包，并可依据所述述PRBS伪随机码产生电路模块320输出的数据包，控制PRBS伪随机码检查校验模块330校验数据包。具体而言，在测试光模块时，本申请实施例中的光模块测试装置可以通过光模块接口电路模块340与当前所需要测试的光模块连接，并可通过MCU控制电路模块310向PRBS伪随机码产生电路模块320输出信号，以控制PRBS伪随机码产生电路模块320产生PRBS伪随机数据包，随后可将该PRBS伪随机数据包传输给光模块接口电路模块340，从而可以通过光模块接口电路模块340将该PRBS伪随机数据包传输给光模块，以通过光模块转换光信号，即光模块可以依据该PRBS伪随机数据包转换为光信号，随后可将该光信号传输给外部，以检测光模块的发射性能；以及，可以通过光模块接口电路模块，将光模块接收的光信号，转换到PRBS伪随机码数据包传输给PRBS伪随机码检查校验模块330进行分析校验，即将光模块接收到的光信号转为PRBS伪随机码校验数据包，传输给PRBS伪随机码检查校验模块330，使得PRBS伪随机码检查校验模块330可以依据接收到的PRBS伪随机码校验数据包和PRBS伪随机码产生电路模块320产生的PRBS伪随机数据包进行对比，以分析所述PRBS伪随机数据包与所述PRBS伪随机码校验数据包之间的差异，即分析发送的数据包与接收的数据包差异,计算误码率，以检测光模块的接收性能，产生光模块对应的误码检测结果，达到检测光模块的接收灵敏度的目的。其中，误码检测结果可以用于确定光模块的接收灵敏度。

可见，本申请实施例提供的光模块测试装置通过光模块接口电路模块340与光模块连接，并可通过PRBS伪随机码产生电路模块320产生PRBS伪随机数据包，通过光模块接口电路模块340传输，从而可以通过光模块接口电路模块340连接的光模块，将PRBS伪随机数据包转换到光信号，传输给外部，以检测光模块的发射性能。

此外，本申请实施例提供的光模块测试装置可以通过光模块接口电路模块340与标准光模块连接，通过标准光模块将PRBS伪随机码产生电路模块320产生的PRBS伪随机数据包转换到光信号，再通过待测的光模块接收光信号，并转换到PRBS伪随机码校验数据包，传输给PRBS伪随机码检查校验模块330，以通过PRBS伪随机码检查校验模块330依据PRBS伪随机码校验数据包进行分析校验，计算误码率，判断待测模块是否OK，达到检测光模块的接收性能目的，从而解决了现有技术采用高速误码仪和高速射频线进行光模块测试导致的光模块生产测试成本高、生产测试效率低等问题，在降低光模块生产测试成本的同时，能够提高光模块生产测试效率。

在实际处理中，光模块可以包括发射TX部分和接收RX部分；TX部分可以用于接收信号，接收RX部分可以发射信号。进一步而言，如图4所示，本申请实例中的光模块接口电路模块340可以包括有：TX接口模块341和RX接口模块342。所述TX接口模块341的一端连接所述PRBS伪随机码产生电路模块，所述TX接口模块341的另一端用于连接所述光模块；所述RX接口模块342的一端连接所述PRBS伪随机码检查校验模块，所述RX接口模块342的另一端用于接收光模块的信号。

其中，TX接口模块341用于将所述PRBS伪随机码产生电路模块320产生的PRBS伪随机数据包传输给光模块的发射TX部分，使得光模块可以依据该PRBS伪随机数据包输出光信号，以实现光模块的发射测试。可见，所述TX接口模块341的一端连接所述PRBS伪随机码产生电路模块，以通过PRBS伪随机码产生电路模块产生数据包；所述TX接口模块341的另一端用于连接所述光模块，通过光模块对外传输光信号数据包。进一步而言，所述TX接口模块341具体可以用于将所述PRBS伪随机码产生电路模块320产生的PRBS伪随机数据包输出给光模块。

RX接口模块342可以用于与光模块的接收RX部分连接，将光模块接收的光信号转换为PRBS伪随机码校验数据包，传输给所述PRBS伪随机码检查校验模块330，使得PRBS伪随机码检查校验模块330可以依据PRBS伪随机码校验数据包和产生的PRBS伪随机数据包进行校验，以实现光模块的接收灵敏度测试。可见，所述RX接口模块的一端连接所述PRBS伪随机码检查校验模块330，用于分析收到的数据包；所述RX接口模块的另一端用于连接所述光模块，用于接收光信号的数据包。进一步而言，所述RX接口模块342具体可以用于将所述光模块接收的光信号转换为PRBS伪随机码校验数据包，并传输给所述PRBS伪随机码检查校验模块330。

具体的，所述TX接口模块341的一端可以连接所述PRBS伪随机码产生电路模块320，所述TX接口模块341的另一端可以用于连接所述光模块，从而可以通过TX接口模块341传输光信号。具体而言，TX接口模块341在接收PRBS伪随机码产生电路模块320输出的PRBS伪随机数据包后，可以将该PRBS伪随机数据包传输给光模块，使得光模块可以依据该PRBS伪随机数据包输出光信号并发送，进而使得与该光模块连接的示波器可以依据光模块发送的信号生成TX眼图，以完成光模块的TX眼图测试。所述RX接口模块342的一端可以连接所述PRBS伪随机码检查校验模块330，所述RX接口模块的另一端可以用于连接所述光模块，使得RX接口模块的另一端可以用于接收光模块信号。具体的，RX接口模块342在检测到光模块的接收信号后，可以将该接收信号转换为PRBS伪随机码校验数据包，传输给PRBS伪随机码检查校验模块330，使得PRBS伪随机码检查校验模块330可以依据PRBS伪随机码校验数据包进行分析，以检测光模块的误码数量，计算误码率，实现光模块接收灵敏度的测试。

在实际处理中，光模块可以采用多个通道传输信号，如QSFPDD光模块可以采用8个通道传输信号。因此，在本申请的一个可选实施方式中，PRBS伪随机数据包可以包含所述PRBS伪随机码产生电路模块320输出的8通道光信号。所述TX接口模块341包括：用于传输所述8通道光信号的8个TX接口。

具体的，本申请实施例中的PRBS伪随机码产生电路模块320可以包含8通道（如1~8通道）信号输出。进一步而言，所述PRBS伪随机码产生电路模块320包含8通道信号输出口，所述8通道信号输出口分别与所述8个TX接口一一对应连接，即一个通道信号输出口与一个TX接口对应连接。例如，PRBS伪随机码产生电路模块320的第一个通道信号输出口与TX接口模块341的第一个TX接口对应连接，PRBS伪随机码产生电路模块320的第二个通道信号输出口与TX接口模块341的第二个TX接口对应连接，PRBS伪随机码产生电路模块320的第三个通道信号输出口与TX接口模块341的第三个TX接口对应连接……如此类推，PRBS伪随机码产生电路模块320的第八个通道信号输出口与TX接口模块341的第八个TX接口对应连接。

同理，本申请实施例中的PRBS伪随机码校验数据包可以包含8通道数据包校验信号；所述RX接口模块342包括：用于传输所述8通道数据包校验信号的8个RX接口。具体的，本申请实施例中的PRBS伪随机码检查校验模块330可以包含8通道（如1~8通道）信号输入。进一步而言，所述PRBS伪随机码检查校验模块330包含8通道信号输入口，所述8通道信号输入口分别与所述8个RX接口一一对应连接，即一个通道信号输入口与一个RX接口对应连接。例如，PRBS伪随机码检查校验模块330的第一个通道信号输入口与RX接口模块342的第一个RX接口对应连接，PRBS伪随机码检查校验模块330的第二个通道信号输入口与RX接口模块342的第二个RX接口对应连接，PRBS伪随机码检查校验模块330的第三个通道信号输入口与RX接口模块342的第三个RX接口对应连接……如此类推，PRBS伪随机码检查校验模块330的第八个通道信号输入口与RX接口模块342的第八个RX接口对应连接。

在实际处理中，PRBS伪随机数据包可以通过所述TX接口模块341的第一组发射接口J4-A和第二组发射接口J4-B传输给光模块。例如，第一组发射接口J4-A，可以用于将所述PRBS伪随机码产生电路模块320输出的8通道光信号中的4通道光信号传输给光模块；第二组发射接口J4-B，用于将所述PRBS伪随机码产生电路模块320输出的8通道光信号中的剩余的4通道光信号传输给光模块。

作为本申请的一个示例，如图4所示，第一组发射接口J4-A在接收到PRBS伪随机码产生电路模块320输出的第一组发射信号后，可以将第一组发射信号传输给光模块的发射端，使得光模块的发射端可以依据该第一组发射信号通过4个通道接口进行信号发射。其中，第一组发射信号包括通过端口TX1+、端口TX1-、端口TX2+、端口TX2-、端口TX3+、端口TX3-、端口TX4+、端口TX4-这8个端口传输的信号。同理，第二组发射接口J4-B在接收到PRBS伪随机码产生电路模块320输出的第二组发射信号后，可以将第二组发射信号传输给光模块的发射端，使得光模块的发射端可以依据该第二组发射信号通过另外的4个通道接口进行信号发射。其中，第二组发射信号包括通过端口TX5+、端口TX5-、端口TX6+、端口TX6-、端口TX7+、端口TX7-、端口TX8+、端口TX8-这8个端口传输的信号。

在上述实施例的基础上，可选的，MCU控制电路模块310输出的检测控制信号可以包含第一发射检测控制信号LP-MODE-T1和第二发射检测控制信号LP-MODE-T2；所述PRBS伪随机码产生电路模块320可以包含第一组码型产生电路321和第二组码型产生电路322。具体的，MCU控制电路模块310输出的第一发射检测控制信号LP-MODE-T1传输给第一组码型产生电路321，使得第一组码型产生电路321可以依据第一发射检测控制信号LP-MODE-T1向第一组发射接口输出第一组发射信号；其中，所述第一组码型产生电路321用于依据所述第一发射检测控制信号LP-MODE-T1向所述第一组发射接口输出第一组发射信号，且该第一组发射信号可以由第一组码型产生电路321产生。MCU控制电路模块310输出的第二发射检测控制信号LP-MODE-T2传输给第二组码型产生电路322，使得第二组码型产生电路322可以依据第二发射检测控制信号LP-MODE-T2向第二组发射接口输出第二组发射信号；其中，所述第二组码型产生电路322用于依据所述第二发射检测控制信号LP-MODE-T2向所述第二组发射接口输出第二组发射信号，且该第二组发射信号可以由第二组码型产生电路322产生。

例如，在测试QSFPDD光模块时，PRBS伪随机码产生电路模块320可以作为TX - 8通道伪随机二进制序列（Pseudo-Random Binary Sequence，PRBS）码型产生电路，产生8通道光信号对应的PRBS，以作为PRBS伪随机数据包，通过光模块接口电路模块340，直接提供给QSFPDD光模块使用。具体的，如图5所示，PRBS伪随机码产生电路模块320中的第一组码型产生电路321可以作为TX - 8通道PRBS码型产生电路的TX1-4部分，产生4通道的PRBS，作为第一组发射信号，通过光模块接口电路模块340的第一组发射接口J4-A，直接提供给QSFPDD光模块使用。同理，PRBS伪随机码产生电路模块320中的第二组码型产生电路322可以作为TX- 8通道PRBS码型产生电路的TX5-8部分，产生4通道的PRBS，作为第二组发射信号，通过光模块接口电路模块340的第二组发射接口J4-B，直接提供给QSFPDD光模块使用。其中，光模块接口电路模块340可以作为QSFPDD光模块接口电路，将第一组码型产生电路321输出的第一组发射信号和第二组码型产生电路322输出的第二组发射信号，传输给QSFPDD光模块进行发射；MCU控制电路模块310可以作为QSFPDD信号控制&信号指示电路，将第一发射检测控制信号LP-MODE-T1输出给第一组码型产生电路321，并可将第二发射检测控制信号LP-MODE-T2输出给第二组码型产生电路322。

在实际处理中，第一组码型产生电路321作为TX - 8通道PRBS码型产生电路的TX1-4部分，可以包含有芯片U1，以通过芯片U1产生4通道的PRBS伪随机数据包，直接提供给QSFPDD光模块使用。具体，如图6所示，芯片U1可以通过端口TX1+、端口TX1-、端口TX2+、端口TX2-、端口TX3+、端口TX3-、端口TX4+、端口TX4-与光模块接口电路模块340的第一组发射接口J4-A连接，以将产生的4通道的PRBS直接提供给QSFPDD光模块使用。此外，芯片U1可以通过第一串行时钟线SCL1和第一串行数据线SDA1与MCU控制电路模块310连接，实现与MCU控制电路模块310之间的串行通信；并可通过端口LPMODE接收MCU控制电路模块310输出的第一发射检测控制信号LP-MODE-T1，以依据所述第一发射检测控制信号LP-MODE-T1进行输出。当然，芯片U1还可以与其他电器元件连接，如可以与电容C1、电容C2以及电感L1连接，以通过电容C1、电容C2以及电感L1进行滤波稳压，本示例对此不作具体限制。

同理，第二组码型产生电路322作为TX - 8通道PRBS码型产生电路的TX5-8部分，可以包含有芯片U2，以通过芯片U2产生4通道的PRBS，直接提供给QSFPDD光模块使用。具体，如图6所示，芯片U2可以通过端口TX5+、端口TX5-、端口TX6+、端口TX6-、端口TX7+、端口TX7-、端口TX8+、端口TX8-与光模块接口电路模块340的第二组发射接口J4-B连接，以将产生的4通道的PRBS直接提供给QSFPDD光模块使用。此外，芯片U2可以通过第二串行时钟线SCL2和第二串行数据线SDA2与MCU控制电路模块310连接，实现与MCU控制电路模块310之间的串行通信；并可通过端口LPMODE接收MCU控制电路模块310输出的第二发射检测控制信号LP-MODE-T2，以依据所述第二发射检测控制信号LP-MODE-T2进行输出。当然，芯片U2还可以与其他电器元件连接，如可以与电容C3、电容C4以及电感L2连接，以通过电容C3、电容C4以及电感L2进行滤波稳压，本示例对此不作具体限制。

在具体实现中，本申请实施例中的PRBS伪随机码校验数据包可以包含所述光模块输出的第一组接收信号和第二组接收信号；所述RX接口模块342可以包括第一组接收接口J5-A和第二组接收接口J5-B；所述第一组接收接口J5-A，用于将所述第一组接收信号传输给所述PRBS伪随机码检查校验模块330；所述第二组接收接口J5-B，用于将所述第二组接收信号传输给所述PRBS伪随机码检查校验模块330。

具体的，如图4所示，第一组接收接口J5-A在接收到光模块输出的第一组接收信号后，可以将第一组接收信号传输给PRBS伪随机码检查校验模块330，使得PRBS伪随机码检查校验模块330可以依据第二检查控制信号和第一组接收信号进行校验；其中，第一组接收信号包括通过端口RX1+、端口RX1-、端口RX2+、端口RX2-、端口RX3+、端口RX3-、端口RX4+、端口RX4-这8个端口接收到的信号。同理，第二组接收接口J5-B在接收到光模块输出的第二组接收信号后，可以将第二组接收信号传输给PRBS伪随机码检查校验模块330，使得PRBS伪随机码检查校验模块330可以依据第二检查控制信号和第二组接收信号进行校验；其中，第二组接收信号包括通过端口RX5+、端口RX5-、端口RX6+、端口RX6-、端口RX7+、端口RX7-、端口RX8+、端口RX8-这8个端口接收到的信号。PRBS伪随机码检查校验模块330在接收到第一组接收信号和第二组接收信号后，可以分别将第一组接收信号、第二组接收信号与自身产生的并提供给模块发射的PRBS进行对比，以确定误码数量，进而可以误码数量确定光模块的误码率，达到检测光模块的接收性灵敏度的目的。

可选的，本申请实施例中的PRBS伪随机码检查校验模块330可以包含第一组码型检查电路331和第二组码型检查电路332。具体而言，MCU控制电路模块310输出的第一接收检测控制信号LP-MODE-R1可以传输给第一组码型检查电路331，使得第一组码型检查电路331可以依据第一接收检测控制信号LP-MODE-R1对第一组接收信号进行校验，以检测光模块的接收性能；其中，所述第一组码型检查电路331用于依据所述第一接收检测控制信号LP-MODE-R1对所述第一组接收信号进行校验，且该第一组接收信号可以是由第一组接收接口J5-A传输的。同理，MCU控制电路模块310输出的第二接收检测控制信号LP-MODE-R2可以传输给第二组码型检查电路332，使得第二组码型检查电路332可以依据第二接收检测控制信号LP-MODE-R2对第二组接收信号进行校验，以检测光模块的接收性能；其中，所述第二组码型检查电路332用于依据所述第二接收检测控制信号LP-MODE-R2对所述第二组接收信号进行校验，且该第二组接收信号可以是由第二组接收接口J5-B传输的。

例如，结合上述示例，在要测试QSFPDD的接收灵敏度时，在J4部分接上标准的QSFPDD光模块，即在通过第一组发射接口J4-A和第二发射接口J4-B连接光模块后，可以通过PRBS伪随机码产生电路模块320产生PRBS伪随机数据包，并通过第一组发射接口J4-A和第二发射接口J4-B直接提供给光模块使用，使得光模块产生光源信号，该光源信号通过光路的衰减后，再由光模块的接收RX部分接入到J5部分（即第一组接收接口J5-A和第二组接收接口J5-B），从而可以通过J5部分传输的接收信号检测待测QSFPDD光模块的接收灵敏度。

具体的，PRBS伪随机码检查校验模块330中的第一组码型检查电路331可以作为8通道的RX1-4部分，以将第一组接收信号作为对传送过来的PRBS流量包进行对比，检查误码数量并计算误码率；同理，第二组码型检查电路332可以作为8通道的RX5-8部分，以将第二组接收信号作为对传送过来的PRBS流量包进行对比，检查误码数量并计算误码率，从而可以基于计算到的误码率生成光模块对应的误码检测结果。

在实际处理中，第一组码型检查电路331作为8通道的RX1-4部分，可以包含有芯片U6，以通过芯片U6对传送过来的PRBS流量包对比，如果一致则无误码，不同则产生误码，从而可以检查误码数量并计算误码率。具体的，如图7所示，芯片U6可以通过端口RX1+、端口RX1-、端口RX2+、端口RX2-、端口RX3+、端口RX3-、端口RX4+、端口RX4-与光模块接口电路模块340的第一组接收接口J5-A连接，以将接收到的第一组接收信号作为对传送过来的PRBS流量包进行对比，检查误码数量并计算误码率。此外，芯片U6可以通过第三串行时钟线SCL3和第三串行数据线SDA3与MCU控制电路模块310连接，实现与MCU控制电路模块310之间的串行通信；并可通过端口LPMODE接收MCU控制电路模块310输出的第一接收检测控制信号LP-MODE-R1，以依据所述第一接收检测控制信号LP-MODE-R1进行校验。当然，芯片U6还可以与其他电器元件连接，如可以与电容C5、电容C6以及电感L3连接，以通过电容C5、电容C6以及电感L3进行滤波稳压，本示例对此不作具体限制。

第二组码型检查电路332作为8通道的RX5-8部分，可以包含有芯片U7，以通过芯片U7对传送过来的PRBS流量包对比，如果一致则无误码，不同则产生误码，从而可以检查误码数量并计算误码率。具体的，如图7所示，芯片U6可以通过端口RX5+、端口RX5-、端口RX6+、端口RX6-、端口RX7+、端口RX7-、端口RX8+、端口RX8-与光模块接口电路模块340的第二组接收接口J5-B连接，以将接收到的第二组接收信号作为对传送过来的PRBS流量包进行对比，检查误码数量并计算误码率。此外，芯片U7可以通过第四串行时钟线SCL4和第四串行数据线SDA4与MCU控制电路模块310连接，实现与MCU控制电路模块310之间的串行通信；并可通过端口LPMODE接收MCU控制电路模块310输出的第二接收检测控制信号LP-MODE-R2，以依据所述第二接收检测控制信号LP-MODE-R2进行校验。当然，芯片U6还可以与其他电器元件连接，如可以与电容C5、电容C6以及电感L3连接，以通过电容C5、电容C6以及电感L3进行滤波稳压，本示例对此不作具体限制。

当然，本申请实施例中的MCU控制电路模块310除了可以输出第一检测控制信号和第二检测控制信号外，还可以输出其他信号，如还可以基于PRBS伪随机码检查校验模块330、PRBS伪随机码产生电路模块320传输串行信号，以实现串行通信。该串行信号可以包含串行时钟信号和串行数据信号等，本申请实施例对此不作具体限制。

可选的，本申请实施例中的MCU控制电路模块310可以用于依据第一串行信号向所述第一组码型检查电路331传输第三串行信号，并依据第二串行信号向所述第二组码型检查电路332传输第四串行信号；其中，所述第一串行信号为所述第一组码型产生电路321针对所述第一组发射信号发送的串行信号，如第一串行信号可以包括通过第一串行时钟线SCL1传输的串行时钟信号和通过第一串行数据线SDA1传输的串行数据信号；第二串行信号为所述第二组码型产生电路322针对所述第二组发射信号发送的串行信号，如第二串行信号可以包括通过第二串行时钟线SCL2传输的串行时钟信号和通过第二串行数据线SDA2传输的串行数据信号；所述第三串行信号用于对所述第一组接收信号进行误码校验，如第三串行信号可以包括通过第三串行时钟线SCL3传输的串行时钟信号和通过第三串行数据线SDA3传输的串行数据信号；所述第四串行信号用于对所述第二组接收信号进行误码校验，如第四串行信号可以包括通过第四串行时钟线SCL4传输的串行时钟信号和通过第四串行数据线SDA4传输的串行数据信号。

当然在具体实现中，本申请实施例中的MCU控制电路模块310除了可以与PRBS伪随机码检查校验模块330、PRBS伪随机码产生电路模块320连接之外，还可以与其他装置模块连接，如可以与光模块测试装置中的通信电路模块连接，本申请实施例对此不作具体限制。进一步而言，如图5所示，本申请实施例中的光模块测试装置还可以包括与MCU控制电路模块310连接的通信电路模块350；所述通信电路模块350用于与上位机进行通信连接。

在实际处理中，通信电路模块350可以采用通信转换芯片U4，实现与上位机的通信。在一个可选实施方式中，通信电路模块350可以包括：通用串行总线接口J2和通信转换芯片U4；如图8所示，所述通用串行总线接口J2的一端与所述通信转换芯片的数据传输端连接，所述通用串行总线接口的一端用于连接所述上位机，且所述通信转换芯片U4的串行信号端与所述MCU控制电路模块310连接。可见，通信转换芯片U4的一端与所述通用串行总线接口J2连接，所述通信转换芯片U4的另一端与MCU控制电路模块310连接。其中，通用串行总线接口J2可以是USB的接口；通信转换芯片U4可以实现通信转换，如可以采用CP2112芯片作为通信电路模块中的通信转换芯片U4，实现USB与I2C的转换，本申请实施例对此不作具体限制。

具体的，通信转换芯片U4可以将通用串行总线接口J2输出的USB信号转为串行时钟信号SCL和串行数据信号SCL，传输给MCU控制电路模块310；也可以将MCU控制电路模块310输出的串行时钟信号SCL和串行数据信号SCL转换为USB信号，并输出给通用串行总线接口J2，以通过通用串行总线接口J2传输给与该通用串行总线接口J2连接的上位机，实现与上位机通信。当然，通信电路模块350还可以包括其他器件，如还可以包括与通信转换芯片U4连接的二极管D3，该二极管D3可以用于防雷击作用。

作为本申请的一个可选示例，MCU控制电路模块310可以采用单片机U3控制。如图9所示，单片机U3的端口P0.0设置为传输串行数据线所传输的串行数据信号SDA, 单片机U3的端口 P0.1可以设置为传输串行时钟线所传输的串行时钟信号SCL，通过这两个I/O端口可以与上述通信电路模块350的通信转换芯片U4通信；单片机U3还可以生成4组I2C接口信号，以控制PRBS码型的产生和校验，如图9所示，可以生成通过第一串行时钟线SCL1传输的串行时钟信号和通过第一串行数据线SDA1传输的串行数据信号、通过第二串行时钟线SCL2传输的串行时钟信号和通过第二串行数据线SDA2传输的串行数据信号、通过第三串行时钟线SCL3传输的串行时钟信号和通过第三串行数据线SDA3传输的串行数据信号、通过第四串行时钟线SCL4传输的串行时钟信号和通过第四串行数据线SDA4传输的串行数据信号；同时，单片机U3的P2.4 ~ P2.7 I/O端口可以分别输出第一发射检测控制信号LP-MODE-T1、第二发射检测控制信号LP-MODE-T2、第一接收检测控制信号LP-MODE-R1和第二接收检测控制信号LP-MODE-R2，以通过第一发射检测控制信号LP-MODE-T1、第二发射检测控制信号LP-MODE-T2、第一接收检测控制信号LP-MODE-R1和第二接收检测控制信号LP-MODE-R2控制QSFPDD的信号状态和指示状态。

当然，本申请实施例中的MCU控制电路模块310还可以包括与单片机U3连接的其他器件，如图9所示，还可以包括与单片机U3连接的接口J1，以通过接口J1与其他器件模块连接，本申请实施例对此不作具体限制。

在上述实施例的基础上，本申请实施例还可以提供一种光模块测试系统。该光模块测试系统可以包括有光衰减器和如上述任一实例例所述的光模块测试装置，所述光衰减器通过光纤与所述光模块测试装置的光模块接口电路模块340连接。

进一步的，本申请实施例中的光模块测试系统可以还包括有示波器。该示波器可以通过光纤与光模块测试装置所安装的光模块连接，以实现光模块的TX眼图测试。

例如，在测试QSFPDD光模块时，光模块测试装置可以作为QSFPDD测试板，通过光纤与光衰减器连接，如图10所示，以检测QSFPDD 光模块的接收RX 灵敏度；并且可以通过光纤与高速示波器连接，如图11所示，以实现QSFPDD 光模块的TX眼图测试。

需要说明的是，对于系统实施例而言，由于其与装置实施例基本相似，所以描述的比较简单，相关之处参见装置实施例的部分说明即可。

在本文中，诸如“第一”和“第二”等之类的关系术语仅仅用来将一个实体或者操作与另一个实体或操作区分开来，而不一定要求或者暗示这些实体或操作之间存在任何这种实际的关系或者顺序。而且，术语“包括”、“包含”或者其任何其他变体意在涵盖非排他性的包含，从而使得包括一系列要素的过程、方法、物品或者设备不仅包括那些要素，而且还包括没有明确列出的其他要素，或者是还包括为这种过程、方法、物品或者设备所固有的要素。在没有更多限制的情况下，由语句“包括一个……”限定的要素，并不排除在包括所述要素的过程、方法、物品或者设备中还存在另外的相同要素。

以上所述仅是本发明的具体实施方式，使本领域技术人员能够理解或实现本发明。对这些实施例的多种修改对本领域的技术人员来说将是显而易见的，本文中所定义的一般原理可以在不脱离本发明的精神或范围的情况下，在其它实施例中实现。因此，本发明将不会被限制于本文所示的这些实施例，而是要符合与本文所申请的原理和新颖特点相一致的最宽的范围。

Claims (11)

1.一种光模块测试装置，其特征在于，包括：PRBS伪随机码产生电路模块、PRBS伪随机码检查校验模块和光模块接口电路模块；

所述PRBS伪随机码产生电路模块，用于产生PRBS伪随机数据包；

所述光模块接口电路模块，用于与光模块连接，并将所述PRBS伪随机码产生电路模块产生的PRBS伪随机数据包输出给光模块，以通过所述光模块将所述PRBS伪随机数据包转换为光信号，以及将所述光模块接收的光信号转换为PRBS伪随机码校验数据包，并传输给所述PRBS伪随机码检查校验模块；

所述PRBS伪随机码检查校验模块，用于分析所述PRBS伪随机数据包与所述PRBS伪随机码校验数据包之间的差异，计算误码率。

2.根据权利要求1所述的光模块测试装置，其特征在于，还包括：MCU控制电路模块；

所述MCU控制电路模块，用于控制所述PRBS伪随机码产生电路模块输出所述PRBS伪随机数据包，以及控制所述PRBS伪随机码检查校验模块分析所述PRBS伪随机数据包与所述PRBS伪随机码校验数据包之间的差异。

3.根据权利要求2所述的光模块测试装置，其特征在于，所述光模块接口电路模块包括TX接口模块和RX接口模块；

所述TX接口模块的一端连接所述PRBS伪随机码产生电路模块，所述TX接口模块的另一端用于连接所述光模块；

所述RX接口模块的一端连接所述PRBS伪随机码检查校验模块，所述RX接口模块的另一端用于接收光模块的信号。

4.根据权利要求3所述的光模块测试装置，其特征在于，所述TX接口模块具体用于将所述PRBS伪随机码产生电路模块产生的PRBS伪随机数据包输出给光模块。

5.根据权利要求4所述的光模块测试装置，其特征在于，所述PRBS伪随机数据包包含所述PRBS伪随机码产生电路模块输出的8通道光信号；

所述TX接口模块包括：用于传输所述8通道光信号的8个TX接口。

6.根据权利要求3所述的光模块测试装置，其特征在于，所述RX接口模块具体用于将所述光模块接收的光信号转换为PRBS伪随机码校验数据包，并传输给所述PRBS伪随机码检查校验模块。

7.根据权利要求6所述的光模块测试装置，其特征在于，所述PRBS伪随机码校验数据包包含8通道数据包校验信号；

所述RX接口模块包括：用于传输所述8通道数据包校验信号的8个RX接口。

8.根据权利要求7所述的光模块测试装置，其特征在于，所述PRBS伪随机码检查校验模块包含8通道信号输入口，所述8通道信号输入口分别与所述8个RX接口一一对应连接。

9.根据权利要求5所述的光模块测试装置，其特征在于，所述PRBS伪随机码产生电路模块包含8通道信号输出口，所述8通道信号输出口分别与所述8个TX接口一一对应连接。

10.根据权利要求2至9任一所述的光模块测试装置，其特征在于，还包括与所述MCU控制电路模块连接的通信电路模块；

所述通信电路模块用于与上位机进行通信连接。

11.根据权利要求10所述的光模块测试装置，其特征在于，所述通信电路模块包括：通用串行总线接口和通信转换芯片；

所述通信转换芯片的一端与所述通用串行总线接口连接，所述通信转换芯片的另一端与MCU控制电路模块连接。

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