CN110515788B - 一种数据接口的测试装置 - Google Patents
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- 238000012360 testing method Methods 0.000 title claims abstract description 60
- 238000005259 measurement Methods 0.000 claims description 4
- 238000000034 method Methods 0.000 abstract description 13
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 4
- 230000006978 adaptation Effects 0.000 description 2
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 2
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 2
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 description 1
- 238000004891 communication Methods 0.000 description 1
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 1
- 230000000750 progressive effect Effects 0.000 description 1
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Abstract
本发明公开了一种数据接口的测试装置，包括具有脉冲触发装置的用于接入第一数据接口的第一治具，用于接入第二数据接口的第二治具和示波器；其中，第二治具的触发信号接收端与第一治具的触发信号输出端连接，第二治具的时钟信号输出端和第二治具的数据输出端分别与示波器连接。通过具有脉冲触发装置的第一治具给第二治具提供脉冲触发信号，在第二治具没有脉冲触发装置时，也可以实现通过第一治具的脉冲触发装置一并进行测试过程中的信号速率切换，从而可以一并进行不同类型的数据接口的测试，不受到没有脉冲触发装置的限制。因此本发明提供的数据接口的测试装置方便了对整机的数据接口的测试过程，提高了整机的数据接口测试的效率。
Description
技术领域
本发明涉及计算机技术领域，特别是涉及一种数据接口的测试装置。
背景技术
目前基于计算机串行数据接口的物理层测试，需要通过测试用的治具连接数据接口，并将数据接口输出的信号输送至示波器进行显示与分析。不同的数据接口对应的传输速率不同，在对不同类型的数据接口进行测试时，需要进行信号速率的切换。而对于像PCIE3.0这样的数据接口来说，由于其向下兼容PCIE 1.0/PCIE 2.0，因此在进行一个数据接口的测试时也需要进行速率切换。
对PCIE接口的测试中，主要是通过PCI-SIG协会发布的测试夹具CLB(ComplianceLoad Board)来进行PCIE TX物理层测试。在测试时的信号速率切换的方式主要有三种：通过信号发生器，输出一个100M、1ms的脉冲信号给接入被测PCIE接口的CLB夹具上的lane0RX+接口进行信号速率的切换；利用示波器上用来校准的Fast Edge脉冲信号进行信号速率的切换；利用PCIE自身的COMP MODE SEL模块所发出的信号进行信号速率的切换。
但对于像M.2接口这样既无法连接CLB夹具，其对应的测试治具又不具有脉冲触发装置的数据接口来说，只能采用前两种方式进行信号速率的切换，即要么对被测M.2接口单独设置信号发生器，要么利用示波器上用来校准的Fast Edge脉冲信号进行信号速率的切换，而后者由于不能提供规定的100M、1ms的脉冲信号，经常会发生切换失败的问题，不适于投入使用。
可以看到，现有技术中在对数据接口进行物理层测试时，不同类型的数据接口需要匹配不同的测试装置，对应不同的操作程序，导致对整机数据接口的测试操作繁琐，效率较低。
发明内容
本发明的目的是提供一种数据接口的测试装置，相较于现有技术，便于对整机的数据接口进行测试，提高了整机的数据接口测试的效率。
为解决上述技术问题，本发明提供一种数据接口的测试装置，包括具有脉冲触发装置的用于接入第一数据接口的第一治具，用于接入第二数据接口的第二治具和示波器；
其中，所述第二治具的触发信号接收端与所述第一治具的触发信号输出端连接，所述第二治具的时钟信号输出端和所述第二治具的数据输出端分别与所述示波器连接。
可选的，所述第一数据接口具体为PCIE接口。
可选的，所述第一治具具体为CLB夹具。
可选的，所述第一治具的触发信号输出端具体为J5连接器。
可选的，所述CLB夹具还包括插槽带宽切换开关、量测状态切换开关和模式状态切换开关。
可选的，所述第二数据接口具体为M.2接口。
所述第二数据接口具体为NVMe接口。
本发明所提供的数据接口的测试装置，包括具有脉冲触发装置的用于接入第一数据接口的第一治具，用于接入第二数据接口的第二治具和示波器；其中，第二治具的触发信号接收端与第一治具的触发信号输出端连接，第二治具的时钟信号输出端和第二治具的数据输出端分别与示波器连接。通过具有脉冲触发装置的第一治具给第二治具提供脉冲触发信号，在第二治具没有脉冲触发装置时，也可以实现通过第一治具的脉冲触发装置一并进行测试过程中的信号速率切换，从而可以一并进行不同类型的数据接口的测试，不受到没有脉冲触发装置的限制。因此本发明提供的数据接口的测试装置方便了对整机的数据接口的测试过程，提高了整机的数据接口测试的效率。
附图说明
为了更清楚的说明本发明实施例或现有技术的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单的介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
图1为本发明实施例提供的一种数据接口的测试装置的结构示意图；
图2为本发明实施例提供的另一种数据接口的测试装置的结构示意图。
具体实施方式
本发明的核心是提供一种数据接口的测试装置，相较于现有技术，便于对整机的数据接口进行测试，提高了整机的数据接口测试的效率。
下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。
图1为本发明实施例提供的一种数据接口的测试装置的结构示意图。
如图1所示，本发明实施例提供的数据接口的测试装置包括具有脉冲触发装置的用于接入第一数据接口的第一治具101，用于接入第二数据接口的第二治具102和示波器103；
其中，第二治具102的触发信号接收端与第一治具101的触发信号输出端连接，第二治具102的时钟信号输出端和第二治具102的数据输出端分别与示波器103连接。
在具体实施中，本发明实施例提供的数据接口的测试装置适用于一切支持PCIE协议的产品。
第一治具101和第二治具102的数量均可以为一个，也均可以为多个，以一个第一治具101作为连通起点，各治具通过触发信号输出端与触发信号接收端首位相连，最后一个治具连接示波器103即可实现多个数据接口的顺次测试。第一数据接口具体可以为PCIE接口，其对应的第一治具101常采用CLB治具，具有脉冲触发装置。第二数据接口具体可以为M.2接口、NVMe接口等，其对应的第二治具102不具有脉冲触发装置。此外，第二治具102也可以为具有脉冲触发装置的测试治具。
在进行测试时，第一数据接口和第二数据接口的信号源均为系统处理器。将第一治具101接入第一数据接口，将第二治具102接入第二数据接口，按下第一治具101的脉冲触发装置向第一数据接口和第二数据接口输入一个100M、1ms的脉冲信号以进行码型的切换，实现在示波器103上依次显示不同数据接口不同信号速率下输出的信号。
本发明实施例提供的数据接口的测试装置，包括具有脉冲触发装置的用于接入第一数据接口的第一治具，用于接入第二数据接口的第二治具和示波器；其中，第二治具的触发信号接收端与第一治具的触发信号输出端连接，第二治具的时钟信号输出端和第二治具的数据输出端分别与示波器连接。通过具有脉冲触发装置的第一治具给第二治具提供脉冲触发信号，在第二治具没有脉冲触发装置时，也可以实现通过第一治具的脉冲触发装置一并进行测试过程中的信号速率切换，从而可以一并进行不同类型的数据接口的测试，不受到没有脉冲触发装置的限制。因此本发明实施例提供的数据接口的测试装置方便了对整机的数据接口的测试过程，提高了整机的数据接口测试的效率。
图2为本发明实施例提供的另一种数据接口的测试装置的结构示意图。
为进一步说明，在上述实施例的基础上，在本发明实施例提供的数据接口的测试装置中，以第一数据接口具体为PCIE接口(如PCIE 3.0接口)，第二数据接口具体为M.2接口为例。
如图2所示，第一治具101可以采用CLB夹具，其上设有脉冲触发装置，通过模式触发按钮(Pattern Trigger Button)，每按压一次可以输出一次100M、1ms的触发脉冲，从而达到切换测试码型的目的。
CLB夹具的触发信号输出端具体为J5连接器，CLB夹具还包括插槽带宽切换开关(可包括X8、X4)、量测状态切换开关(REF CLK MEAS)和模式状态切换开关(COMP MODE SEL)等。
第二治具102具体为M.2治具，其触发信号接收端与数据接收端为一体(均采用lane0RX+端子)，其数据输出端(TX+、TX-)分别与示波器103的CH1通道、CH3通道连接，第二治具102的时钟信号端(CLK+、CLK-)分别与示波器103的CH2通道、CH4通道连接，用于信号同步。
在CLB夹具与M.2治具之间，将J5连接器引出的脉冲信号通过SMP转SMP cable连接在M.2治具的触发信号接收端(lane0RX+)上，既用于CLB夹具向M.2治具发送切换信号速率的脉冲信号，又用于CLB夹具通过M.2治具输出数据。
利用图2所示的数据接口的测试装置，在主板的PCIE接口上插上一张CLB夹具，把CLB夹具用于“切换量测状态切换开关(REF CLK MEAS)和模式状态切换开关(COMP MODESEL)”的切换开关置于“COMP MODE SEL”，把插槽带宽切换开关切换至与当前CLB夹具接入PCIE slot槽的端子对应的带宽(如果插的是X8的拨到X8，如果插的是X4的拨到X4)。在待测的M.2接口上接上M.2治具，并把CLB夹具的J5connector引出的脉冲信号通过SMP转SMPcable接到M.2治具上的触发信号接收端(lane0RX+)上。通过按压CLB夹具上的模式触发按钮(Pattern Trigger Button)，可以达到给出100M 1ms触发脉冲从而达到切换测试码型的目的。码型切换顺序可以为PCIE/Gen1→Gen2/-3.5dB→Gen2/-6dB→Gen3/P0→Gen3/P1→…→Gen3/P10Gen4/P0→Gen4/P1→…→Gen4/P10→Gen1依次循环。
以上对本发明所提供的一种数据接口的测试装置进行了详细介绍。说明书中各个实施例采用递进的方式描述，每个实施例重点说明的都是与其他实施例的不同之处，各个实施例之间相同相似部分互相参见即可。应当指出，对于本技术领域的普通技术人员来说，在不脱离本发明原理的前提下，还可以对本发明进行若干改进和修饰，这些改进和修饰也落入本发明权利要求的保护范围内。
还需要说明的是，在本说明书中，诸如第一和第二等之类的关系术语仅仅用来将一个实体或者操作与另一个实体或操作区分开来，而不一定要求或者暗示这些实体或操作之间存在任何这种实际的关系或者顺序。而且，术语“包括”、“包含”或者其任何其他变体意在涵盖非排他性的包含，从而使得包括一系列要素的过程、方法、物品或者设备不仅包括那些要素，而且还包括没有明确列出的其他要素，或者是还包括为这种过程、方法、物品或者设备所固有的要素。在没有更多限制的情况下，由语句“包括一个……”限定的要素，并不排除在包括所述要素的过程、方法、物品或者设备中还存在另外的相同要素。
Claims (4)
1.一种数据接口的测试装置，其特征在于，包括具有脉冲触发装置的用于接入第一数据接口的第一治具，用于接入第二数据接口的第二治具和示波器；
其中，所述第二治具的触发信号接收端与所述第一治具的触发信号输出端连接，所述第二治具的时钟信号输出端和所述第二治具的数据输出端分别与所述示波器连接；
所述第一数据接口的信号源和所述第二数据接口的信号源均为系统处理器；所述第一数据接口具体为PCIE接口；所述第二数据接口为M.2接口或NVMe接口；
所述第一治具用于在测试时当所述脉冲触发装置被按下时向所述第一数据接口和所述第二数据接口输入脉冲信号进行码型的切换，以在所述示波器上依次显示不同数据接口不同信号速率下输出的信号。
2.根据权利要求1所述的测试装置，其特征在于，所述第一治具具体为CLB夹具。
3.根据权利要求2所述的测试装置，其特征在于，所述第一治具的触发信号输出端具体为J5连接器。
4.根据权利要求2所述的测试装置，其特征在于，所述CLB夹具还包括插槽带宽切换开关、量测状态切换开关和模式状态切换开关。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| CN201910935685.1A CN110515788B (zh) | 2019-09-29 | 2019-09-29 | 一种数据接口的测试装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| CN201910935685.1A CN110515788B (zh) | 2019-09-29 | 2019-09-29 | 一种数据接口的测试装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| CN110515788A CN110515788A (zh) | 2019-11-29 |
| CN110515788B true CN110515788B (zh) | 2023-12-29 |
Family
ID=68634052
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| CN201910935685.1A Active CN110515788B (zh) | 2019-09-29 | 2019-09-29 | 一种数据接口的测试装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| CN (1) | CN110515788B (zh) |
Families Citing this family (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN111812373A (zh) * | 2020-06-28 | 2020-10-23 | 浪潮电子信息产业股份有限公司 | 一种PCIe主板信号自动测试装置 |
| CN112731020A (zh) * | 2020-12-21 | 2021-04-30 | 南昌华勤电子科技有限公司 | 转接电路、信号测试系统和方法 |
| CN113190387A (zh) * | 2021-04-13 | 2021-07-30 | 山东英信计算机技术有限公司 | 一种补偿码型切换方法及触发设备 |
| CN113295946A (zh) * | 2021-05-11 | 2021-08-24 | 深圳市精泰达科技有限公司 | PCIe测试治具码型自动切换方法及其装置 |
| CN113868050A (zh) * | 2021-09-17 | 2021-12-31 | 浪潮(山东)计算机科技有限公司 | 一种信号测试系统 |
| CN114116359B (zh) * | 2021-12-03 | 2023-11-03 | 苏州浪潮智能科技有限公司 | 一种PCIe芯片信号测试装置及方法 |
Citations (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN102521097A (zh) * | 2011-12-31 | 2012-06-27 | 曙光信息产业股份有限公司 | 一种usb信号测试方法 |
| CN102915267A (zh) * | 2011-08-01 | 2013-02-06 | 鸿富锦精密工业（深圳）有限公司 | Sas端口测试系统及方法 |
| CN108153630A (zh) * | 2017-12-21 | 2018-06-12 | 曙光信息产业股份有限公司 | 一种信号测试装置 |
| CN109828872A (zh) * | 2018-12-28 | 2019-05-31 | 曙光信息产业(北京)有限公司 | 信号测试装置及方法 |
-
2019
- 2019-09-29 CN CN201910935685.1A patent/CN110515788B/zh active Active
Patent Citations (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN102915267A (zh) * | 2011-08-01 | 2013-02-06 | 鸿富锦精密工业（深圳）有限公司 | Sas端口测试系统及方法 |
| CN102521097A (zh) * | 2011-12-31 | 2012-06-27 | 曙光信息产业股份有限公司 | 一种usb信号测试方法 |
| CN108153630A (zh) * | 2017-12-21 | 2018-06-12 | 曙光信息产业股份有限公司 | 一种信号测试装置 |
| CN109828872A (zh) * | 2018-12-28 | 2019-05-31 | 曙光信息产业(北京)有限公司 | 信号测试装置及方法 |
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|---|---|
| CN110515788A (zh) | 2019-11-29 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| PB01 | Publication | ||
| PB01 | Publication | ||
| SE01 | Entry into force of request for substantive examination | ||
| SE01 | Entry into force of request for substantive examination | ||
| GR01 | Patent grant | ||
| GR01 | Patent grant |