CN113257335A - 高精密内存测试设备 - Google Patents

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Abstract

本发明涉及一种高精密内存测试设备，本发明能够完成对高精密内存批量化、高效率的测量，本发明的设备包括夹紧测试台以及旋转定位器，该夹紧测试台包括底台、固定测试针板以及活动测试针板，在该固定测试针板与该活动测试针板之间形成一测试腔，该旋转定位器包括转轴、转动臂以及推板，该测试腔具有打开状态以及夹紧测试状态，当该测试腔处于打开状态的时候，该活动测试针板横移，该测试腔的横向宽度增大，此刻，能够完成装料或者取料的动作，当该测试腔处于夹紧测试状态的时候，该旋转定位器转动顶推该活动测试针板，该测试腔的横向宽度缩小，内存条被夹设在该测试腔中，若干该测试针与内存条的接触引脚接触，以进行测试的动作。

Description

高精密内存测试设备
技术领域
本发明涉及一种测试设备，特别是指一种用以对高精密内存进行批量测试的设备。
背景技术
内存是计算机的重要部件之一，也称内存储器和主存储器，其用于暂时存放CPU中的运算数据，与硬盘等外部存储器交换的数据。它是外存与CPU进行沟通的桥梁，计算机中所有程序的运行都在内存中进行，内存性能的强弱影响计算机整体发挥的水平。只要计算机开始运行，操作系统就会把需要运算的数据从内存调到CPU中进行运算，当运算完成，CPU将结果传送出来。
随着计算机技术的发展，内存不断向着大容量高精密度方向发展，如图1所示，内存1的长度一般远大于其宽度，同时其下方设置有数量众多的引脚2，传统对内存进行测试的方法一般都是通过半自动化设备或者通过手工进行，工作的时候，测试探针逐个接触引脚2，同时还需要辅助其它的治具才能够进行测试，传统的方式不但效率低下，同时非常容易损伤引脚2，而此是为传统技术的主要缺点。
发明内容
本发明所采用的技术方案为：高精密内存测试设备，其包括夹紧测试台以及旋转定位器，该旋转定位器设置在该夹紧测试台中，工作的时候，内存条设置在该夹紧测试台中，而后，由该旋转定位器定位固定后进行测试。
该夹紧测试台包括底台、固定测试针板以及活动测试针板，其中，该固定测试针板固定设置在该底台上，该活动测试针板滑动设置在该底台上，在该固定测试针板与该活动测试针板之间形成一测试腔，该固定测试针板以及该活动测试针板上都设置有若干测试针，该固定测试针板以及该活动测试针板的若干该测试针都位于测试腔中。
该旋转定位器包括转轴、转动臂以及推板，其中，该转轴转动枢接在该底台上，该转动臂连接在该转轴与该推板之间，该推板与该活动测试针板相对应。
该测试腔具有打开状态以及夹紧测试状态，当该测试腔处于打开状态的时候，该活动测试针板横移，该测试腔的横向宽度增大，使内存条能够被放置在该测试腔中以完成装料动作，或者，使内存条能够从该测试腔中取出以完成取料动作，当该测试腔处于夹紧测试状态的时候，该旋转定位器转动，该推板顶推该活动测试针板，使该活动测试针板横移，该测试腔的横向宽度缩小，内存条被夹设在该测试腔中，同时，该固定测试针板以及该活动测试针板的若干该测试针与内存条的接触引脚接触，以进行测试的动作。
本发明的有益效果为：本发明的该测试腔具有打开状态以及夹紧测试状态，当该测试腔处于打开状态的时候，该活动测试针板横移，该测试腔的横向宽度增大，使内存条能够被放置在该测试腔中以完成装料动作，或者，使内存条能够从该测试腔中取出以完成取料动作，当该测试腔处于夹紧测试状态的时候，该旋转定位器转动，该推板顶推该活动测试针板，使该活动测试针板横移，该测试腔的横向宽度缩小，内存条被夹设在该测试腔中，同时，该固定测试针板以及该活动测试针板的若干该测试针与内存条的接触引脚接触，以进行测试的动作，本发明能够完成对高精密内存批量化、高效率的测量，能够显著提升测试效率，同时提升产品的优良率。
附图说明
图1为内存条的结构示意图。
图2为本发明的剖面结构示意图。
图3为本发明的部分剖面结构示意图。
图4为本发明旋转定位器的示意图。
图5为本发明活动测试针板的示意图。
图6为本发明的工作示意图。
图7为本发明同时对多个内存条进行测试的示意图。
具体实施方式
如图2至图7所示，高精密内存测试设备，如图2至图3所示，其包括夹紧测试台100以及旋转定位器200，该旋转定位器200设置在该夹紧测试台100中，工作的时候，内存条1设置在该夹紧测试台100中，而后，由该旋转定位器200定位固定后进行测试。
该夹紧测试台100包括底台110、固定测试针板120以及活动测试针板130，其中，该固定测试针板120固定设置在该底台110上，该活动测试针板130滑动设置在该底台110上，在该固定测试针板120与该活动测试针板130之间形成一测试腔300。
该固定测试针板120以及该活动测试针板130上都设置有若干测试针140，该固定测试针板120以及该活动测试针板130的若干该测试针140都位于测试腔300中。
该旋转定位器200包括转轴210、转动臂220以及推板230，其中，该转轴210转动枢接在该底台110上，该转动臂220连接在该转轴210与该推板230之间，该推板230与该活动测试针板130相对应。
该测试腔300具有打开状态以及夹紧测试状态，当该测试腔300处于打开状态的时候，该活动测试针板130横移，该测试腔300的横向宽度增大，使内存条1能够被放置在该测试腔300中以完成装料动作，或者，使内存条1能够从该测试腔300中取出以完成取料动作。
当该测试腔300处于夹紧测试状态的时候，该旋转定位器200转动，该推板230顶推该活动测试针板130，使该活动测试针板130横移，该测试腔300的横向宽度缩小，内存条1被夹设在该测试腔300中，同时，该固定测试针板120以及该活动测试针板130的若干该测试针140与内存条1的接触引脚2接触，以进行测试的动作。
在具体实施的时候，该底台110上开设有枢接孔111，该枢接孔111中设置有轴承112，该转轴210插设在该轴承112中。
在具体实施的时候，该转轴210上套设有配重块211，该配重块211能够使该转轴210转动的更为平稳，该转轴210顶部设置有传动结构212，实践中，该传动结构212可以为联轴器、齿轮、皮带轮等等，该传动结构212连接在马达与该转轴210之间，使该转轴210能够被驱动并转动。
在具体实施的时候，该转动臂220包括套环221、第一转臂222以及第二转臂223，其中，该套环221套设在该转轴210上，该第一转臂222以及该第二转臂223对称连接在该套环221两侧，实践中，该推板230分别连接在该第一转臂222以及该第二转臂223的端部。
如图4所示，另外一种实施方式中，该推板230连接在该第一转臂222的端部，配重块224连接在该第二转臂223的端部。
在具体实施的时候，该推板230为弧状板体，该推板230的厚度从其中央位置向两侧递减，也就是说，该推板230为中央厚两端薄的弧状板体。
在具体实施的时候，该测试针140的端部设置有接触台141，通过该接触台141能够提升该测试针140与内存条1的接触面积，以提升测试的稳定行。
在具体实施的时候，在该固定测试针板120以及该活动测试针板130的顶部分别设置有若干夹持球150，该固定测试针板120以及该活动测试针板130上的该测试针140处于该测试腔300的底部，该固定测试针板120以及该活动测试针板130上的该夹持球150处于该测试腔300的顶部，该夹持球150为弹性球体，实践中可以由硅胶或者其它材料制成，每一个该夹持球150中都嵌设有球弹簧151，通过该夹持球150以及该球弹簧151能够对内存条1进行夹持定位，同时不会损伤内存条1。
在具体实施的时候，该活动测试针板130底部设置有滑块131，与该滑块131相对应在该底台110上设置有滑道132，该滑块131滑动设置在该滑道132。
该活动测试针板130的前端面下方设置有若干弹簧孔133，每一个该弹簧孔133中设置有弹簧134，与该弹簧134相对应在该底台110上凸设有凸台135，该弹簧134处于该弹簧孔133与该凸台135之间。
该凸台135处于该测试腔300的正下方，该凸台135顶部设置有弹性垫136，该弹性垫136能够起到保护内存条1的作用。
如图6所示，该高精密内存测试设备工作的时候，首先，该测试腔300处于打开状态，上料，将内存条1置入该测试腔300中，而后，该旋转定位器200正转，该推板230顶推该活动测试针板130，使该活动测试针板130横移，该测试腔300的横向宽度缩小，内存条1被夹设在该测试腔300中，同时，该固定测试针板120以及该活动测试针板130的若干该测试针140与内存条1的接触引脚2接触，之后进行测试的动作，该测试腔300处于夹紧测试状态，最后，该旋转定位器200反转，该活动测试针板130反向横移并恢复其初始状态，该测试腔300的横向宽度增大，该测试腔300处于打开状态，取料，将内存条1从该测试腔300中取出。
上述过程中的上料、取料可以通过自动化设备进行，也可以通过手工完成。
实践中，如图7所示，该高精密内存测试设备可以同时对多个内存条进行测试工作以提高测试效率。
另外，如图4所示，本发明也可以采用单边测试的方式进行测试。

Claims (9)

1.高精密内存测试设备，其特征在于：包括夹紧测试台以及旋转定位器，该旋转定位器设置在该夹紧测试台中，工作的时候，内存条设置在该夹紧测试台中，而后，由该旋转定位器定位固定后进行测试，
该夹紧测试台包括底台、固定测试针板以及活动测试针板，其中，该固定测试针板固定设置在该底台上，该活动测试针板滑动设置在该底台上，在该固定测试针板与该活动测试针板之间形成一测试腔，该固定测试针板以及该活动测试针板上都设置有若干测试针，该固定测试针板以及该活动测试针板的若干该测试针都位于测试腔中，
该旋转定位器包括转轴、转动臂以及推板，其中，该转轴转动枢接在该底台上，该转动臂连接在该转轴与该推板之间，该推板与该活动测试针板相对应，
该测试腔具有打开状态以及夹紧测试状态，当该测试腔处于打开状态的时候，该活动测试针板横移，该测试腔的横向宽度增大，此刻，使内存条能够被放置在该测试腔中以完成装料动作，或者，使内存条能够从该测试腔中取出以完成取料动作，
当该测试腔处于夹紧测试状态的时候，该旋转定位器转动，该推板顶推该活动测试针板，使该活动测试针板横移，该测试腔的横向宽度缩小，此刻，内存条被夹设在该测试腔中，同时，该固定测试针板以及该活动测试针板的若干该测试针与内存条的接触引脚接触，以进行测试的动作。
2.如权利要求1所述的高精密内存测试设备，其特征在于：该底台上开设有枢接孔，该枢接孔中设置有轴承，该转轴插设在该轴承中，该转轴上套设有配重块， 该转轴顶部设置有传动结构。
3.如权利要求1所述的高精密内存测试设备，其特征在于：该转动臂包括套环、第一转臂以及第二转臂，其中，该套环套设在该转轴上，该第一转臂以及该第二转臂对称连接在该套环两侧，该推板分别连接在该第一转臂以及该第二转臂的端部。
4.如权利要求3所述的高精密内存测试设备，其特征在于：该推板为弧状板体，该推板的厚度从其中央位置向两侧递减。
5.如权利要求1所述的高精密内存测试设备，其特征在于：该测试针的端部设置有接触台。
6.如权利要求1或4所述的高精密内存测试设备，其特征在于：在该固定测试针板以及该活动测试针板的顶部分别设置有若干夹持球，该固定测试针板以及该活动测试针板上的该测试针处于该测试腔的底部，该固定测试针板以及该活动测试针板上的该夹持球处于该测试腔的顶部，该夹持球为弹性球体，每一个该夹持球中都嵌设有球弹簧，通过该夹持球以及该球弹簧能够对内存条进行夹持定位。
7.如权利要求6所述的高精密内存测试设备，其特征在于：该活动测试针板底部设置有滑块，与该滑块相对应在该底台上设置有滑道，该滑块滑动设置在该滑道。
8.如权利要求7所述的高精密内存测试设备，其特征在于：该活动测试针板的前端面下方设置有若干弹簧孔，每一个该弹簧孔中设置有弹簧，与该弹簧相对应在该底台上凸设有凸台，该弹簧处于该弹簧孔与该凸台之间。
9.如权利要求8所述的高精密内存测试设备，其特征在于：该高精密内存测试设备工作的时候，首先，该测试腔处于打开状态，上料，将内存条置入该测试腔中，而后，该旋转定位器正转，该推板顶推该活动测试针板，使该活动测试针板横移，该测试腔的横向宽度缩小，内存条被夹设在该测试腔中，同时，该固定测试针板以及该活动测试针板的若干该测试针与内存条的接触引脚接触，之后进行测试的动作，该测试腔处于夹紧测试状态，最后，该旋转定位器反转，该活动测试针板反向横移并恢复其初始状态，该测试腔的横向宽度增大，该测试腔处于打开状态，取料，将内存条从该测试腔中取出。
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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN113410728A (zh) * 2021-08-20 2021-09-17 深圳泰思特半导体有限公司 一种精密内存的安装系统

Citations (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR20000049745A (ko) * 2000-04-27 2000-08-05 우상엽 반도체 메모리 테스트 장치
KR101193556B1 (ko) * 2011-11-22 2012-10-22 주식회사 세미콘테스트 피씨비 일체형 테스트 소켓
CN204374242U (zh) * 2015-01-15 2015-06-03 天津市英贝特航天科技有限公司 芯片测试夹具
CN208896016U (zh) * 2018-10-23 2019-05-24 凌云光技术集团有限责任公司 一种插针式感光芯片的拆卸装置
CN209880163U (zh) * 2019-06-05 2019-12-31 成都思科瑞微电子有限公司 一种通用串行内存测试装置
CN210489579U (zh) * 2019-06-05 2020-05-08 上海禾馥电子有限公司 一种用于芯片封装后的测试装置
CN213423238U (zh) * 2020-07-28 2021-06-11 苏州奥金斯电子有限公司 一种芯片检测夹具

Patent Citations (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR20000049745A (ko) * 2000-04-27 2000-08-05 우상엽 반도체 메모리 테스트 장치
KR101193556B1 (ko) * 2011-11-22 2012-10-22 주식회사 세미콘테스트 피씨비 일체형 테스트 소켓
CN204374242U (zh) * 2015-01-15 2015-06-03 天津市英贝特航天科技有限公司 芯片测试夹具
CN208896016U (zh) * 2018-10-23 2019-05-24 凌云光技术集团有限责任公司 一种插针式感光芯片的拆卸装置
CN209880163U (zh) * 2019-06-05 2019-12-31 成都思科瑞微电子有限公司 一种通用串行内存测试装置
CN210489579U (zh) * 2019-06-05 2020-05-08 上海禾馥电子有限公司 一种用于芯片封装后的测试装置
CN213423238U (zh) * 2020-07-28 2021-06-11 苏州奥金斯电子有限公司 一种芯片检测夹具

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN113410728A (zh) * 2021-08-20 2021-09-17 深圳泰思特半导体有限公司 一种精密内存的安装系统
CN113410728B (zh) * 2021-08-20 2021-11-16 深圳泰思特半导体有限公司 一种精密内存的安装系统

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